JP2000040014A - Ｅｃｕ機能検査装置の評価システム - Google Patents
Ｅｃｕ機能検査装置の評価システムInfo
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- JP2000040014A JP2000040014A JP10208935A JP20893598A JP2000040014A JP 2000040014 A JP2000040014 A JP 2000040014A JP 10208935 A JP10208935 A JP 10208935A JP 20893598 A JP20893598 A JP 20893598A JP 2000040014 A JP2000040014 A JP 2000040014A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ＥＣＵの機能検査装置の評価を効率的に行
う。 【解決手段】 コントローラ３２がリレーボックス２２
に不良モードを指示して、リレーをオンオフして、ＥＣ
Ｕボード１６とＣＰＵチップ２８の各ピン間における不
良状態を発生する。この状態で、機能検査装置１０によ
りＥＣＵボード１６およびＣＰＵチップ２８の検査を行
う。コントローラ３２は、リレーボックス２２により、
各種の不良状態を順次発生させて検査を行い、機能検査
装置１０の機能を評価する。
う。 【解決手段】 コントローラ３２がリレーボックス２２
に不良モードを指示して、リレーをオンオフして、ＥＣ
Ｕボード１６とＣＰＵチップ２８の各ピン間における不
良状態を発生する。この状態で、機能検査装置１０によ
りＥＣＵボード１６およびＣＰＵチップ２８の検査を行
う。コントローラ３２は、リレーボックス２２により、
各種の不良状態を順次発生させて検査を行い、機能検査
装置１０の機能を評価する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＩＣチップを搭載
するＥＣＵの機能検査を行う機能検査装置について、そ
の機能検査装置がエラーを検出できるかを評価するＥＣ
Ｕ機能検査装置の評価システムに関する。
するＥＣＵの機能検査を行う機能検査装置について、そ
の機能検査装置がエラーを検出できるかを評価するＥＣ
Ｕ機能検査装置の評価システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、各種装置には、ＥＣＵ（エレ
クトロニック・コントロール・ユニット）が搭載され、
その装置における各種の動作を制御している。自動車に
おいても、エンジンの制御や、ドアロックの制御など、
各種の機器の制御にＥＣＵが利用されており、多数のＥ
ＣＵが自動車に搭載されている。このようなＥＣＵによ
る制御対象は、ますます増えており、各ＥＣＵも高機能
化している。
クトロニック・コントロール・ユニット）が搭載され、
その装置における各種の動作を制御している。自動車に
おいても、エンジンの制御や、ドアロックの制御など、
各種の機器の制御にＥＣＵが利用されており、多数のＥ
ＣＵが自動車に搭載されている。このようなＥＣＵによ
る制御対象は、ますます増えており、各ＥＣＵも高機能
化している。
【０００３】ここで、このＥＣＵは、コンピュータと同
様の機能を有しており、ＣＰＵなどを内蔵するＩＣチッ
プを搭載して各種のデジタル処理を行う。また、各種の
信号を受け取り、動作制御用の信号を出力する。そこ
で、ＥＣＵのボード上にはＩＣチップが搭載され、ＩＣ
チップの各ピンとボード上のパッドが半田付けにより接
続されている。
様の機能を有しており、ＣＰＵなどを内蔵するＩＣチッ
プを搭載して各種のデジタル処理を行う。また、各種の
信号を受け取り、動作制御用の信号を出力する。そこ
で、ＥＣＵのボード上にはＩＣチップが搭載され、ＩＣ
チップの各ピンとボード上のパッドが半田付けにより接
続されている。
【０００４】また、ＥＣＵの製作時には、製作されたＥ
ＣＵが所望の機能を有しているかを検査する必要があ
る。この検査には、機能検査装置が利用される。この機
能検査装置は、ＥＣＵと接続してＥＣＵに所定のテスト
用信号を入力し、その応答をチェックすることでＥＣＵ
の機能を試験する。特に、ＥＣＵボードとＩＣチップと
の半田付けの不良チェックについては、機能検査装置に
おいて必ずチェックできなければならない。
ＣＵが所望の機能を有しているかを検査する必要があ
る。この検査には、機能検査装置が利用される。この機
能検査装置は、ＥＣＵと接続してＥＣＵに所定のテスト
用信号を入力し、その応答をチェックすることでＥＣＵ
の機能を試験する。特に、ＥＣＵボードとＩＣチップと
の半田付けの不良チェックについては、機能検査装置に
おいて必ずチェックできなければならない。
【０００５】そこで、機能検査装置の開発時には、半田
付け不良のチェックが十分に行えるか否かを検証するた
め、人手で半田付け不良のＥＣＵを作成し、機能検査装
置の判定結果を記録してチェックしていた。すなわち、
ＩＣチップの不良モードに応じた数だけそれぞれ不良の
細工をしたＥＣＵを作成し、これを順次検査していた。
付け不良のチェックが十分に行えるか否かを検証するた
め、人手で半田付け不良のＥＣＵを作成し、機能検査装
置の判定結果を記録してチェックしていた。すなわち、
ＩＣチップの不良モードに応じた数だけそれぞれ不良の
細工をしたＥＣＵを作成し、これを順次検査していた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】これによって、機能検
査装置の機能についての検証をすることができる。しか
し、近年のＥＣＵの高機能化に伴い、ＩＣチップのピン
数が増加し、またピン同士の間隔も狭くなってきてい
る。そこで、不良についての細工の作業工数が増大し、
また作業自体が難しくなってきている。
査装置の機能についての検証をすることができる。しか
し、近年のＥＣＵの高機能化に伴い、ＩＣチップのピン
数が増加し、またピン同士の間隔も狭くなってきてい
る。そこで、不良についての細工の作業工数が増大し、
また作業自体が難しくなってきている。
【０００７】本発明は、上記課題に鑑みなされたもので
あり、機能検査装置がエラーを検出できるかを容易に評
価できるＥＣＵ機能検査装置の評価システムを提供する
ことを目的とする。
あり、機能検査装置がエラーを検出できるかを容易に評
価できるＥＣＵ機能検査装置の評価システムを提供する
ことを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、ＩＣチップを
搭載するＥＣＵの機能検査を行う機能検査装置につい
て、その機能検査装置がエラーを検出できるかを評価す
るシステムであって、ＥＣＵボードとＩＣチップを切り
離し、ＥＣＵボードとＩＣチップ間の複数の接続関係を
制御する複数のリレーを内蔵するリレーボックスを介在
させ、リレーボックス内の各リレーのオンオフを制御す
ると共に、制御タイミングに同期して、機能検査装置と
ＥＣＵとの間で信号の送受信を行いＥＣＵの機能検査を
行い、機能検査装置による機能検査結果と、リレーボッ
クスにおけるリレーのオンオフ情報に基づいて、機能検
査装置のエラー検出能力を評価することを特徴とする。
搭載するＥＣＵの機能検査を行う機能検査装置につい
て、その機能検査装置がエラーを検出できるかを評価す
るシステムであって、ＥＣＵボードとＩＣチップを切り
離し、ＥＣＵボードとＩＣチップ間の複数の接続関係を
制御する複数のリレーを内蔵するリレーボックスを介在
させ、リレーボックス内の各リレーのオンオフを制御す
ると共に、制御タイミングに同期して、機能検査装置と
ＥＣＵとの間で信号の送受信を行いＥＣＵの機能検査を
行い、機能検査装置による機能検査結果と、リレーボッ
クスにおけるリレーのオンオフ情報に基づいて、機能検
査装置のエラー検出能力を評価することを特徴とする。
【０００９】このように、本発明によれば、リレーボッ
クス内のリレーをオンオフすることで、ＥＣＵボードと
ＩＣチップの接続関係を任意に設定することが可能であ
る。そこで、不良モードを順次変更して、機能検査装置
による検査を行うことができる。従って、いちいち不良
のＥＣＵを作成する必要がなく、作業工数を大幅に削減
できる。特に、ピン数が多くても、自動的に各不良モー
ドを実行できるため、短時間で、動作評価の処理を終了
することができる。また、リレーボックス内におけるリ
レーの切換は自動的に行われるため、作業は各装置の接
続だけでよく、その作業は非常に簡単である。
クス内のリレーをオンオフすることで、ＥＣＵボードと
ＩＣチップの接続関係を任意に設定することが可能であ
る。そこで、不良モードを順次変更して、機能検査装置
による検査を行うことができる。従って、いちいち不良
のＥＣＵを作成する必要がなく、作業工数を大幅に削減
できる。特に、ピン数が多くても、自動的に各不良モー
ドを実行できるため、短時間で、動作評価の処理を終了
することができる。また、リレーボックス内におけるリ
レーの切換は自動的に行われるため、作業は各装置の接
続だけでよく、その作業は非常に簡単である。
【００１０】また、前記リレーボックス内のリレーをオ
ンオフすることによって、ＥＣＵボードとＩＣチップ間
の接続のオープンおよびショートの状態を生起すること
を特徴とする。これによって、半田付け不良に基づく、
ピンのオープン、隣接ピン間のショートなどを模擬して
評価することができる。
ンオフすることによって、ＥＣＵボードとＩＣチップ間
の接続のオープンおよびショートの状態を生起すること
を特徴とする。これによって、半田付け不良に基づく、
ピンのオープン、隣接ピン間のショートなどを模擬して
評価することができる。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態（以下
実施形態という）について、図面に基づいて説明する。
実施形態という）について、図面に基づいて説明する。
【００１２】本発明に係るシステムの実施形態につい
て、図１に基づいて説明する。機能検査装置１０は、テ
スト用の信号を発生し、その応答からＥＣＵの機能を検
査する。この機能検査装置１０には、ケーブル１２、コ
ネクタ１４を介し、ＥＣＵボード１６が接続されてい
る。ケーブル１２は、例えばＲＣ２３２Ｃケーブルであ
り、各種の電気信号を伝達する。コネクタ１４は、ＥＣ
Ｕボード１６に設けられた接続用ピンと接続される。Ｅ
ＣＵボード１６は、所定の回路が搭載されているが、動
作に必要なＣＰＵを内蔵するＩＣチップ（以下ＣＰＵチ
ップという）の代わりに延長ハーネス２０が接続された
ＩＣソケット１８が搭載されている。このＩＣソケット
１８は、複数のピンを有し、このピンがＥＣＵボード１
６に設けられたパッドに半田付けで取り付けられてお
り、また各ピンに対応するワイヤの束である延長ハーネ
ス２０が接続されている。すなわち、通常のＥＣＵであ
れば、ＣＰＵチップの複数のピンがＥＣＵボード１６上
のパッドに直接（あるいはＩＣソケットを介し）半田付
けされて、両者の接続が行われるが、ＥＣＵボード１６
上の各パッドに延長ハーネス２０の各ワイヤが接続され
ている。
て、図１に基づいて説明する。機能検査装置１０は、テ
スト用の信号を発生し、その応答からＥＣＵの機能を検
査する。この機能検査装置１０には、ケーブル１２、コ
ネクタ１４を介し、ＥＣＵボード１６が接続されてい
る。ケーブル１２は、例えばＲＣ２３２Ｃケーブルであ
り、各種の電気信号を伝達する。コネクタ１４は、ＥＣ
Ｕボード１６に設けられた接続用ピンと接続される。Ｅ
ＣＵボード１６は、所定の回路が搭載されているが、動
作に必要なＣＰＵを内蔵するＩＣチップ（以下ＣＰＵチ
ップという）の代わりに延長ハーネス２０が接続された
ＩＣソケット１８が搭載されている。このＩＣソケット
１８は、複数のピンを有し、このピンがＥＣＵボード１
６に設けられたパッドに半田付けで取り付けられてお
り、また各ピンに対応するワイヤの束である延長ハーネ
ス２０が接続されている。すなわち、通常のＥＣＵであ
れば、ＣＰＵチップの複数のピンがＥＣＵボード１６上
のパッドに直接（あるいはＩＣソケットを介し）半田付
けされて、両者の接続が行われるが、ＥＣＵボード１６
上の各パッドに延長ハーネス２０の各ワイヤが接続され
ている。
【００１３】延長ハーネス２０は、リレーボックス２２
を介し延長ハーネス２４に接続されている。リレーボッ
クス２２は、延長ハーネス２０、２４の各ワイヤに対応
したリレーを内蔵しており、延長ハーネス２０、２４間
の接続を制御する。すなわち、リレーボックス２２内の
リレーを個別にオンオフすることで、延長ハーネス２
０、２４の各ワイヤ間の電気的接続を個別にオンオフす
ることができる。更に、このリレーボックス２２内に
は、各ワイヤ間をショートさせるリレーも内蔵されてお
り、ＩＣソケット１８の各ピン（少なくとも隣接ピン）
間をショートさせることができるようになっている。
を介し延長ハーネス２４に接続されている。リレーボッ
クス２２は、延長ハーネス２０、２４の各ワイヤに対応
したリレーを内蔵しており、延長ハーネス２０、２４間
の接続を制御する。すなわち、リレーボックス２２内の
リレーを個別にオンオフすることで、延長ハーネス２
０、２４の各ワイヤ間の電気的接続を個別にオンオフす
ることができる。更に、このリレーボックス２２内に
は、各ワイヤ間をショートさせるリレーも内蔵されてお
り、ＩＣソケット１８の各ピン（少なくとも隣接ピン）
間をショートさせることができるようになっている。
【００１４】延長ハーネス２４は、ＣＰＵボード２６が
接続されており、このＣＰＵボード２６上に、ＣＰＵチ
ップ２８がＩＣソケット３０を介し接続されるようにな
っている。従って、ＥＣＵボード１６に延長ハーネス２
０、リレーボックス２２、延長ハーネス２４、ＣＰＵボ
ード２６、ＩＣソケット３０を介し、ＣＰＵチップ２８
が接続される。従って、ＣＰＵチップ２８の各ピンと、
ＥＣＵボード１６の対応するパッドの間にリレーボック
ス２２の各リレーが位置し、両者の接続をオンオフした
り、隣接ピン間をショートさせたりすることができる。
接続されており、このＣＰＵボード２６上に、ＣＰＵチ
ップ２８がＩＣソケット３０を介し接続されるようにな
っている。従って、ＥＣＵボード１６に延長ハーネス２
０、リレーボックス２２、延長ハーネス２４、ＣＰＵボ
ード２６、ＩＣソケット３０を介し、ＣＰＵチップ２８
が接続される。従って、ＣＰＵチップ２８の各ピンと、
ＥＣＵボード１６の対応するパッドの間にリレーボック
ス２２の各リレーが位置し、両者の接続をオンオフした
り、隣接ピン間をショートさせたりすることができる。
【００１５】そして、機能検査装置１０には、コントロ
ーラ３２が接続されており、このコントローラ３２が機
能検査装置１０の計測のスタートを制御すると共に、機
能検査装置１０から検査結果を収集し、これを記録す
る。また、コントローラ３２は、リレーボックス２２に
おける各リレーのオンオフについての指示をリレーボッ
クス２２に供給することで、各リレーのオンオフを制御
する。
ーラ３２が接続されており、このコントローラ３２が機
能検査装置１０の計測のスタートを制御すると共に、機
能検査装置１０から検査結果を収集し、これを記録す
る。また、コントローラ３２は、リレーボックス２２に
おける各リレーのオンオフについての指示をリレーボッ
クス２２に供給することで、各リレーのオンオフを制御
する。
【００１６】従って、コントローラ３２がリレーボック
ス２２内のリレーの状態を決定した後、機能検査装置１
０により、所定の検査を行わせ、その結果を受信するこ
とで、決定した状態における検査の結果をコントローラ
３２において、収集することができる。そこで、各ピン
の接続不良によるオープンや、隣接ピンとのショートな
どの半田付け不良をこのリレーボックス２２内のリレー
のオンオフを制御することで模擬することができる。
ス２２内のリレーの状態を決定した後、機能検査装置１
０により、所定の検査を行わせ、その結果を受信するこ
とで、決定した状態における検査の結果をコントローラ
３２において、収集することができる。そこで、各ピン
の接続不良によるオープンや、隣接ピンとのショートな
どの半田付け不良をこのリレーボックス２２内のリレー
のオンオフを制御することで模擬することができる。
【００１７】ここで、動作の手順について、図２に基づ
いて、説明する。まず、コントローラ３２は、リレーボ
ックス２２に不良モードの指示を行う（Ｓ１１）。すな
わち、１ピンオープン、２ピンオープン、・・・等とい
う各ピンの半田付け不良と、１、２ピンショート、２、
３ピンショート、・・・等という隣接ピン間ショートの
中の１つを選択して不良モードとして指示する。これに
よって、リレーボックス２２において、対応するリレー
がオンオフされ、指示されたモードの不良状態が設定さ
れる。
いて、説明する。まず、コントローラ３２は、リレーボ
ックス２２に不良モードの指示を行う（Ｓ１１）。すな
わち、１ピンオープン、２ピンオープン、・・・等とい
う各ピンの半田付け不良と、１、２ピンショート、２、
３ピンショート、・・・等という隣接ピン間ショートの
中の１つを選択して不良モードとして指示する。これに
よって、リレーボックス２２において、対応するリレー
がオンオフされ、指示されたモードの不良状態が設定さ
れる。
【００１８】次に、コントローラ３２は、機能検査装置
１０に対し、計測スタートを指示する（Ｓ１２）。この
指示に応じて、機能検査装置１０は、所定の信号をＥＣ
Ｕボード１６に供給する。これによって、ＣＰＵチップ
２８がリレーボックス２２を介し接続されたＥＣＵボー
ド１６が対応する動作をし、応答が機能検査装置１０に
供給される。機能検査装置１０は、この応答から各検査
項目についての検査結果をコントローラ３２に送信す
る。コントローラ３２は、検査結果を受信して、記録す
る（Ｓ１３）。この検査結果は、不良モードに対応し
て、異常であったか否かの判定結果、異常であった項目
（例えば、電圧値が異常であったピンについての情報）
等を記録する。
１０に対し、計測スタートを指示する（Ｓ１２）。この
指示に応じて、機能検査装置１０は、所定の信号をＥＣ
Ｕボード１６に供給する。これによって、ＣＰＵチップ
２８がリレーボックス２２を介し接続されたＥＣＵボー
ド１６が対応する動作をし、応答が機能検査装置１０に
供給される。機能検査装置１０は、この応答から各検査
項目についての検査結果をコントローラ３２に送信す
る。コントローラ３２は、検査結果を受信して、記録す
る（Ｓ１３）。この検査結果は、不良モードに対応し
て、異常であったか否かの判定結果、異常であった項目
（例えば、電圧値が異常であったピンについての情報）
等を記録する。
【００１９】そして、１つのモードについての記録が終
わった場合には、すべての検査が終了したかを判定し
（Ｓ１４）、終了していなければ、次の不良モードの指
示に戻り、その検査を行う。このようにして、すべての
不良モードの検査を終了した場合には、すべての不良モ
ードに対し、対応する不良が検出されたか否かを判定し
（Ｓ１５）、ＹＥＳであれば、機能検査装置１０の検査
について問題無しの判定をし（Ｓ１６）、ＮＯであれば
問題ありとの判定をし（Ｓ１７）、どの不良が検出でき
なかったことについての情報をどの検出ができなかった
かの情報と共に出力する。なお、Ｓ１４をＳ１５のＹＥ
ＳとＳ１６の間に移動し、１つでも異常なしの判定があ
った場合に、処理を終了してもよい。
わった場合には、すべての検査が終了したかを判定し
（Ｓ１４）、終了していなければ、次の不良モードの指
示に戻り、その検査を行う。このようにして、すべての
不良モードの検査を終了した場合には、すべての不良モ
ードに対し、対応する不良が検出されたか否かを判定し
（Ｓ１５）、ＹＥＳであれば、機能検査装置１０の検査
について問題無しの判定をし（Ｓ１６）、ＮＯであれば
問題ありとの判定をし（Ｓ１７）、どの不良が検出でき
なかったことについての情報をどの検出ができなかった
かの情報と共に出力する。なお、Ｓ１４をＳ１５のＹＥ
ＳとＳ１６の間に移動し、１つでも異常なしの判定があ
った場合に、処理を終了してもよい。
【００２０】このようにして、本実施形態のシステムに
よれば、不良モードを順次変更して、機能検査装置によ
る検査を行うことができる。従って、いちいち不良のＥ
ＣＵを作成する必要がなく、作業工数を大幅に削減でき
る。特に、ピン数が多くても、自動的に各不良モードを
実行できるため、短時間で動作評価の処理を終了するこ
とができる。また、リレーボックス内におけるリレーの
切換でよいため、作業自体も非常に容易である。
よれば、不良モードを順次変更して、機能検査装置によ
る検査を行うことができる。従って、いちいち不良のＥ
ＣＵを作成する必要がなく、作業工数を大幅に削減でき
る。特に、ピン数が多くても、自動的に各不良モードを
実行できるため、短時間で動作評価の処理を終了するこ
とができる。また、リレーボックス内におけるリレーの
切換でよいため、作業自体も非常に容易である。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
リレーボックス内のリレーのオンオフにより、ＩＣチッ
プにおけるオープンや、隣接ピンショートを模擬するこ
とができる。そこで、半田付け不良の作成作業が不要で
あり、困難な作業が不要となり、機能検査装置の評価の
ための時間を大幅に削減することができる。
リレーボックス内のリレーのオンオフにより、ＩＣチッ
プにおけるオープンや、隣接ピンショートを模擬するこ
とができる。そこで、半田付け不良の作成作業が不要で
あり、困難な作業が不要となり、機能検査装置の評価の
ための時間を大幅に削減することができる。
【図１】 システムの全体構成を示す図である。
【図２】 動作を説明するためのフローチャートであ
る。
る。
１０ 機能検査装置、１６ ＥＣＵボード、２２ リレ
ーボックス、２８ ＣＰＵチップ、３２ コントロー
ラ。
ーボックス、２８ ＣＰＵチップ、３２ コントロー
ラ。
Claims (2)
- 【請求項１】 ＩＣチップを搭載するＥＣＵの機能検査
を行う機能検査装置について、その機能検査装置がエラ
ーを検出できるかを評価するシステムであって、 ＥＣＵボードとＩＣチップを切り離し、ＥＣＵボードと
ＩＣチップ間の複数の接続関係を制御する複数のリレー
を内蔵するリレーボックスを介在させ、 リレーボックス内の各リレーのオンオフを制御すると共
に、制御タイミングに同期して、機能検査装置とＥＣＵ
との間で信号の送受信を行いＥＣＵの機能検査を行い、 機能検査装置による機能検査結果と、リレーボックスに
おけるリレーのオンオフ情報に基づいて、機能検査装置
のエラー検出能力を評価することを特徴とするＥＣＵ機
能検査装置の評価システム。 - 【請求項２】 請求項１に記載のシステムにおいて、 前記リレーボックス内のリレーをオンオフすることによ
って、ＥＣＵボードとＩＣチップ間の接続のオープンお
よびショートの状態を生起することを特徴とするＥＣＵ
機能検査装置の評価システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10208935A JP2000040014A (ja) | 1998-07-24 | 1998-07-24 | Ｅｃｕ機能検査装置の評価システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10208935A JP2000040014A (ja) | 1998-07-24 | 1998-07-24 | Ｅｃｕ機能検査装置の評価システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000040014A true JP2000040014A (ja) | 2000-02-08 |
Family
ID=16564579
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10208935A Pending JP2000040014A (ja) | 1998-07-24 | 1998-07-24 | Ｅｃｕ機能検査装置の評価システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000040014A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100410107C (zh) * | 2005-06-01 | 2008-08-13 | 丰田自动车株式会社 | 车辆电子控制装置 |
| JP2008261793A (ja) * | 2007-04-13 | 2008-10-30 | Toyota Motor Corp | 電子制御ユニットの自動検査装置、および電子制御ユニットの自動検査方法 |
| KR100981339B1 (ko) * | 2009-10-28 | 2010-09-14 | (주) 퓨어텍이엔씨 | 완충장치를 갖는 차음벽 |
| JP2014219982A (ja) * | 2013-05-06 | 2014-11-20 | ディスペースデジタル シグナル プロセッシング アンド コントロールエンジニアリング ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングｄｓｐａｃｅ ｄｉｇｉｔａｌ ｓｉｇｎａｌ ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ ａｎｄ ｃｏｎｔｒｏｌ ｅｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ ＧｍｂＨ | 仮想制御装置をテストするためのテスト装置 |
| WO2017143790A1 (zh) * | 2016-02-24 | 2017-08-31 | 王志欣 | 汽车电控***测试仪及其测试方法 |
-
1998
- 1998-07-24 JP JP10208935A patent/JP2000040014A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100410107C (zh) * | 2005-06-01 | 2008-08-13 | 丰田自动车株式会社 | 车辆电子控制装置 |
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| KR100981339B1 (ko) * | 2009-10-28 | 2010-09-14 | (주) 퓨어텍이엔씨 | 완충장치를 갖는 차음벽 |
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| US9864355B2 (en) | 2013-05-06 | 2018-01-09 | Dspace Digital Signal Processing And Control Engineering Gmbh | Test device for testing a virtual electronic control unit |
| WO2017143790A1 (zh) * | 2016-02-24 | 2017-08-31 | 王志欣 | 汽车电控***测试仪及其测试方法 |
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