JPH05341006A - プリント回路板診断装置 - Google Patents

プリント回路板診断装置

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JPH05341006A
JPH05341006A JP4149654A JP14965492A JPH05341006A JP H05341006 A JPH05341006 A JP H05341006A JP 4149654 A JP4149654 A JP 4149654A JP 14965492 A JP14965492 A JP 14965492A JP H05341006 A JPH05341006 A JP H05341006A
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JP
Japan
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circuit board
printed circuit
power supply
board
pattern
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Application number
JP4149654A
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English (en)
Inventor
Ryosaku Taniguchi
良作 谷口
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 プリント回路板の診断時間を短縮し良否判別
を簡略化する。 【構成】 ROM、RAM、及びCPUを備えた演算装
置1と、プリント回路板70へ電源を供給する電源部5
1とを有するプリント回路板診断装置において、消費電
流を時系列的に観測するために電源部51とプリント回
路板70の電源供給端子間にシャント抵抗33を挿入す
る。このシャント抵抗33の端子間電圧を差動アンプ3
1で増幅した後、AD変換器32でAD変換した信号を
演算装置1で処理し、ROM内の理想の消費電流変化パ
ターンと比較することにより、良否判定を行う。プリン
ト回路板70の消費電流の変化を顕著にするため電源制
御部により電源電圧のスローアップとスローダウン等の
制御を行う。 【効果】 プリント回路板の高密度化や大規模化に対し
て、診断時間の節約と良否判断を簡略化でき、微細ピッ
チにも適用できる。特にマイクロプロセッサ搭載の回路
板に有効である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、各種電子機器に用い
られるプリント回路板の検査を行うための診断装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】プリント基板に多くの電気部品を半田付
けした実装プリント回路板の良否の判定には、それらの
部品の電気的特性の測定を行うため、一般にはインサー
キットテストやファンクションテストが多用されてい
る。このような従来技術に関しては、例えば、特開平2
−12075号公報や、特開平2−87082号公報、
あるいは特開平2−221875号公報などに記載され
ている。
【0003】特開平2−12075号公報には、各種の
アイソレーション技法を利用して回路基板上の個々の部
品についてピンチェックおよび総合機能試験を行って、
特定のピットパターンで入力ポートを刺激し、応答を測
定してこの出力を予想値と比較するプリント回路板の試
験方法について記載されている。また特開平2−870
82号公報には、被検査実装基板に装着されている各部
品の良否に関する検査結果のうち不良判定があると、そ
れが部品自体の不良によるものか、プローブピンの接触
不良によるものかを自動的に判断する装置について記載
されている。更には特開平2−221875号公報に
は、テストポイントの位置を指定し、指定されたテスト
ポイントからの出力信号の波形または電圧を測定し、テ
ストポイントに対応したメッセージを表示することによ
り、容易に検査を可能とした測定装置について記載され
ている。
【0004】さて上記のうち、特開平2−87082号
公報に記載されている従来技術について図面を用いて詳
細に説明する。図3は、従来のインサーキットテスタの
構成を示すブロック線図であり、図4は、フィックスチ
ャー上に被検査用のプリント回路基板をプレス法により
固定した状態を示す断面配置図である。
【0005】図3において、演算装置1は、プログラム
の命令に従って装置全体の制御を行うCPU10と、制
御プログラムが格納されているROM11、および測定
した入力データやCPU10の演算データを記憶するR
AM12と、入出力ポート13を有し、更にこれらを機
能的に接続しているバスライン14より構成されてい
る。マルチプレクサ2は、測定端子としてのプローブピ
ン20よりの信号20bを入力し、本体計測部である演
算装置1の入出力ポート13へ信号2aを出力してい
る。入出力ポート13からは、表示装置4や記録装置5
に信号13a、13bを出力している。記録装置5は、
測定演算されたデータ信号13bをそれぞれ記録するも
のであるが、更に許容範囲を越えた被測定ポイントの印
字やシステムの異常状況をも印字するためのものであ
る。表示装置4は、測定演算されたデータ信号13aを
それぞれ表示するもので、許容範囲を越えたものや異常
状況を表示することもできる。
【0006】ところでインサーキットテスタには、測定
時におけるプリント回路板のテスタに対する固定の方式
の違いから、プレス方式とバキューム方式とがある。図
4は、このうちプレス方式の一例を示すものである。プ
リント回路板21には多くの電気部品22(簡略化のた
め1個のみ記載)が搭載されている。電気部品22はそ
の本体からソード23が突出し、プリント回路板21と
の間で半田付けされることにより電気的導通を取ってい
る。フィックスチャー24は回路板に対応する検査治具
であり、測定個所に応じた複数のプローブピン20が立
設されている。ガイドピン25は、装置基台26に植設
され装置基台26から垂直方向に突出していて、プリン
ト回路板21とフィックスチャー24の各4隅に設けた
ガイド穴21a、24aに挿通してこれらを位置決めす
るものである。プローブピン20の下方にある導電部2
0aにはリード線27が巻かれている。リード線27
は、プローブピン20と本体の計測部であるマルチプレ
クサ2を介して入出力ポート13とを電気的に接続し、
測定した情報を信号20bとして伝達する。プリント回
路板21をプローブピン20に圧接するために、図示し
ないプレス板に下向きに突設させた複数の押え棒28が
プリント回路板21を押圧する。
【0007】次に図3と図4を用いて動作を説明する。
初めに、プローブピン20が立設したフィックスチャー
24をガイドピン25に位置決め固定する。このフィッ
クスチャー24の上にプリント回路板21をセットし、
押え棒28を上方から下降させてプローブピン20とで
挟持固定する。これによって、プリント回路板21がプ
ローブピン20に圧接され、各プローブピン20の先端
は電気部品22のソード23に接触して電気的に導通す
る。
【0008】ここで実際に、プリント回路板21上の抵
抗器やコンデンサ、コイルなどの各電気部品22に対し
てその電気的特性の測定を行うには、インサーキットテ
スタに備えた演算装置1の入出力ポート13からマルチ
プレクサ2を介し、各プローブピン20に接続されてい
るそれぞれのチャンネルを通じて、各電気部品22に測
定電流を流すかまたは測定電圧を印加して、測定対象の
抵抗(R)や静電容量(C)あるいはインダクタンス
(L)などの測定値を得ることとなる。これによって、
プリント回路板21の測定情報はリード線27からマル
チプレクサ2を通して入出力ポート13に入力される。
【0009】演算装置1では、ROM11のプログラム
にしたがってCPU10が回路を制御し、上記の測定情
報を演算処理してプリント回路板21の良否を判断しR
AM12に記憶する。RAM12に記憶された測定情報
は、許容範囲を越えたものや異常状況を含めて、表示装
置4に呼び出し表示したり、記録装置5に記録されたり
する。
【0010】ここで、被測定物は一般の電気部品のみな
らず、電圧が現れるものであれば良く、これは独立パタ
ーン間のショート、オープン状態など一般のテスターと
同一である。異なる点は、測定プログラムを登録するこ
とのできるROM11に測定プログラムを登録し、マル
チプレクサ2を通して入出力ポート13より順次測定プ
ログラムで規定された測定ポイントをRAM12で読み
込み蓄積し、測定プログラムで規定された、通常最大値
と最小値で許容範囲が指定される値の中にあるかどうか
を診断する方式を採用する点である。換言すれば、CP
Uを備えた演算装置1で多点ポイント測定のためのプロ
グラム登録や、演算や統計的処理のような計測処理を行
うこととなる。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】従来のプリント回路板
の診断装置は以上のように構成されているので、機械的
接触ポイントが多く、搭載部品の高密度化や微細ピッチ
化にともない、機械的接触が不可能となってきた。解決
策として、測定ポイントを電子ビームや電磁現象を利用
して接触に相当させるものも開発されているが、装置が
高価であるなどまだまだ実用の域には達していない。
【0012】一方、ファンクションテストによる診断装
置においては、論理回路の大規模化にともない、診断時
間が長くなったり論理回路内の故障を検出して特定する
ことが困難になってきている。
【0013】この発明は、上記のような問題点を解消す
るためになされたもので、プリント回路板の高密度化や
大規模化に対しても、診断時間を短くするとともに良否
判別を簡素化することを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明に係るプリント回
路板診断装置は、(i) 出力電圧を任意に調整可能に構成
された電源と、(ii)被測定対象たるプリント回路板の消
費電流を測定する消費電流測定手段と、(iii) 電源電圧
の時系列的変化に対するプリント回路板の消費電流の理
想的な時系列的変化パターンを記憶するパターン記憶手
段と、(iv)電源の出力電圧の変化に伴って前記消費電流
測定手段により測定される消費電流の時系列的変化パタ
ーンを、前記パターン記憶手段に記憶されたパターンと
比較して、前記プリント回路板の良否を判定する判定手
段と、を有するものである。
【0015】
【作用】本発明に係るプリント回路板診断装置では、プ
リント回路板に供給される電源電圧の変化に伴う消費電
流の変化パターンが測定され、予め設定された理想的な
時系列的変化パターンと比較することにより、プリント
回路板の良否が判定される。
【0016】
【実施例】以下、この発明の実施例を図面に基づいて説
明する。図1は、本発明の一実施例によるプリント回路
板の診断装置の回路構成図であり、図2はプリント回路
板の診断装置を表すブロック線図である。
【0017】図2において、CPU10、ROM11、
RAM12、入出力ポート13を備えた演算装置1は、
従来の構成と同じであるので詳細の説明は省略する。但
し、本実施例では、ROM11には、理想の消費電流変
化パターンが格納されているものとする。
【0018】入出力ポート13には、差動アンプ31や
アナログ・ディジタル(以下ADと略記する)変換器3
2,38を有し電源電圧と消費電流などの測定情報30
aを入力する入力部30が接続されている。また入出力
ポート13は、パターン発生部40と電源電圧制御部5
0に接続され、各々に対して制御信号45,46を出力
する。表示部60は、入出力ポート13から出力される
測定演算データや許容範囲外を示す異常表示信号13c
に応じた表示を行うとともに、表示部60に設けられて
いる操作パネル61から入力された操作信号61aを入
出力ポート13に出力する。
【0019】図1は回路構成図であり、被検査用のプリ
ント回路板70は検査装置の上に載置され、コネクタな
どにより電気的信号を取り入れる。外付回路80は、プ
リント回路板70に供給する検査用の消費電流を変化さ
せるためのものである。電源部51は電源電圧制御部5
0の制御により、その出力電圧が可変の電源であり、被
検査用のプリント回路板70や外付回路80への電源供
給を行う。シャント抵抗33は電源部51と、被検査対
象のプリント回路板70の供給端子との間に直列に接続
されている。差動アンプ31はシャント抵抗33の端子
間電圧を増幅するものであり、増幅された電圧はAD変
換器32によりAD変換され演算装置1に入力される。
また、電源部51の出力電圧は、AD変換器38により
直接AD変換され、演算装置1に入力される。パターン
発生部40は、プリント回路板70に対して所定のテス
トパターンを与えるためのものである。
【0020】次に本発明の診断装置の動作について説明
する。まず、被検査用のプリント回路板70を検査装置
の上に取り付け電気的導通を取る。CPU10は、操作
パネル61から診断開始のための操作信号61aが入力
されると、電源電圧制御部50に対し測定開始を指示す
る。これにより、被検査プリント回路板70に電源部5
1より電源が供給され、測定が開始される。シャント抵
抗33の端子間の電圧は差動アンプ31で増幅され、A
D変換器32でAD変換されたのち、入出力ポート13
を介してRAM12に時系列的に書き込まれる。
【0021】消費電流の変化幅を広げるための手段とし
て電源電圧制御部50を備えており、この電源電圧制御
部50の制御により電源部51の電圧をスローアップや
スローダウンさせることによって消費電流の変化を顕著
にするよう構成されている。これは消費電流の変化を激
しくすることで、論理回路の動作に変化を持たせるよう
にしたものである。
【0022】このようにしてRAM12に書き込まれた
測定データは、あらかじめROM11に格納された理想
の消費電流変化パターンと比較され、プリント回路板7
0の良否が判断される。この結果としての判定データは
RAM12に記憶されるとともに、表示部60へ表示信
号13cとして出力され、判定結果が表示される。
【0023】このように、本実施例では、電源電圧制御
部50を設けて、電源部51の出力電圧をスローアップ
/スローダウンさせることにより消費電流の変化幅を広
げることが可能である。これはマイクロプロセッサ搭載
のプリント回路板の診断に特に有効である。これは、電
源投入によりプリント回路板70自身がパワーオンリセ
ットによるイニシャル処理などの自動動作を行うため、
消費電流が大きく変化するためである。
【0024】また、パターン発生部40よりプリント回
路板70にテストパターンを与えて消費電流を変化させ
たり、外付回路80により変化させることもできる。
【0025】以上のように、電源電圧の変化に応じて消
費電流の変化を時系列的に読み込むことにより、プリン
ト回路板の良否判断を行うことができる。
【0026】なお、演算装置1の中のディジタル信号処
理方式としては時間の関数として行う方式と、周波数の
関数として行う方式とがある。時間の関数として行う方
式には実時間処理やバッチ処理があり、これは被検査用
のプリント回路板70の特徴をうまく利用するものであ
る。
【0027】また、上記実施例では単独の診断装置とし
て説明したが、従来のインサーキットテスタやファンク
ションテスタなどと並用しても良い。
【0028】また、診断装置と被検査用のプリント回路
板70、パターン発生部40、シャント抵抗33、ある
いは外付回路80との接続方式としては、コネクタや接
栓方式などによる接続を利用すると良く、あるいはピン
接触方式でも良い。
【0029】更に、外付回路80により消費電流を変化
させる方法としては、例えば次の2つの方法がある。1
つは、図5(A)に示すようにオープンコレクタなどの
パスインタフェース回路を用いて外付け抵抗を付加する
方法であり、2つめは、図5(B)に示すようにファン
アウトを増加させる方法である。
【0030】
【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、被検査
用のプリント回路板の電源電圧および消費電流を時系列
的に取り込んで、信号処理により良否判断するように構
成したので、プリント回路板が高密度化あるいは大規模
化しても、診断を迅速に行うことができ、良否判断の方
法を簡素化することができる。また、機械的な接触を無
くすこともできるので、微細ピッチのものにも適用でき
る効果を有している。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例によるプリント回路板診断装
置の回路構成図である。
【図2】本発明によるプリント回路板診断装置を表すブ
ロック線図である。
【図3】従来のインサーキットテスタを示すブロック線
図である。
【図4】従来のインサーキットテスタにおいてフィック
スチャー上に被検査プリント回路板をプレス法により固
定した状態を示す配置図である。
【図5】外付回路により消費電流を変化させる方法を示
す説明図である。
【符号の説明】
1 演算装置 10 CPU 11 ROM 12 RAM 13 入出力ポート 30 入力部 31 差動アンプ 32,38 AD変換器 33 シャント抵抗 40 パターン発生部 50 電源電圧制御部 51 電源部 60 表示部 61 操作パネル 70 被検査対象のプリント回路板 80 外付回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 出力電圧を任意に調整可能に構成された
    電源と、 被測定対象たるプリント回路板の消費電流を測定する消
    費電流測定手段と、 電源電圧の時系列的変化に対するプリント回路板の消費
    電流の理想的な時系列的変化パターンを記憶するパター
    ン記憶手段と、 前記電源の出力電圧の変化に伴って前記消費電流測定手
    段により測定される消費電流の時系列的変化パターン
    を、前記パターン記憶手段に記憶されたパターンと比較
    して、前記プリント回路板の良否を判定する判定手段
    と、 を具備することを特徴とするプリント回路板診断装置。
JP4149654A 1992-06-09 1992-06-09 プリント回路板診断装置 Pending JPH05341006A (ja)

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JP4149654A JPH05341006A (ja) 1992-06-09 1992-06-09 プリント回路板診断装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011027578A (ja) * 2009-07-27 2011-02-10 Hioki Ee Corp 回路基板検査方法および回路基板検査装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011027578A (ja) * 2009-07-27 2011-02-10 Hioki Ee Corp 回路基板検査方法および回路基板検査装置

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