JPH04180401A - 高周波伝送線路 - Google Patents

高周波伝送線路

Info

Publication number
JPH04180401A
JPH04180401A JP2309258A JP30925890A JPH04180401A JP H04180401 A JPH04180401 A JP H04180401A JP 2309258 A JP2309258 A JP 2309258A JP 30925890 A JP30925890 A JP 30925890A JP H04180401 A JPH04180401 A JP H04180401A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wiring
reference potential
package
high frequency
transmission line
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2309258A
Other languages
English (en)
Inventor
Chiyoshi Kamata
千代士 鎌田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP2309258A priority Critical patent/JPH04180401A/ja
Priority to US07/791,291 priority patent/US5294751A/en
Publication of JPH04180401A publication Critical patent/JPH04180401A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
    • H01L23/64Impedance arrangements
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0213Electrical arrangements not otherwise provided for
    • H05K1/0216Reduction of cross-talk, noise or electromagnetic interference
    • H05K1/0218Reduction of cross-talk, noise or electromagnetic interference by printed shielding conductors, ground planes or power plane
    • H05K1/0219Printed shielding conductors for shielding around or between signal conductors, e.g. coplanar or coaxial printed shielding conductors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554External layer
    • H01L2224/0555Shape
    • H01L2224/05552Shape in top view
    • H01L2224/05554Shape in top view being square
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32245Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/48463Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
    • H01L2224/48465Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49175Parallel arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L24/10, H01L24/18, H01L24/26, H01L24/34, H01L24/42, H01L24/50, H01L24/63, H01L24/71
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01079Gold [Au]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/013Alloys
    • H01L2924/0132Binary Alloys
    • H01L2924/01322Eutectic Alloys, i.e. obtained by a liquid transforming into two solid phases
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/14Integrated circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/1515Shape
    • H01L2924/15153Shape the die mounting substrate comprising a recess for hosting the device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/1517Multilayer substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16195Flat cap [not enclosing an internal cavity]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/30107Inductance
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3011Impedance
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3025Electromagnetic shielding
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/18Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
    • H05K1/182Printed circuits structurally associated with non-printed electric components associated with components mounted in the printed circuit board, e.g. insert mounted components [IMC]
    • H05K1/183Components mounted in and supported by recessed areas of the printed circuit board
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09209Shape and layout details of conductors
    • H05K2201/09218Conductive traces
    • H05K2201/09254Branched layout
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/04Soldering or other types of metallurgic bonding
    • H05K2203/049Wire bonding

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
  • Control Of Motors That Do Not Use Commutators (AREA)
  • Waveguides (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野) 本発明は、ICパッケージ、配線基板、半導体チップを
始めとする各種電子部品の配線技術に関し、特に高層波
信号の伝送に適用して育効な技術に関するものである。
〔従来の技術〕
特開昭63−155791号公報には、信号配線間のク
ロストークノイズの低減を目的とした多層配線基板が開
示されている。上記多層配線基板は、上下のグランド層
に挟まれた信号配線の両側にグランド配線を形成すると
ともに、上記グランド配線と上下のグランド層とを電気
的に接続し、これらのグランド配線およびグランド層で
それぞれの信号配線をシールドすることによって、信号
伝播に伴うクロストークノイズの低減゛を図っている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、本発明者の検討によれば、前記多層配線
基板は、信号配線とグランド配線との間に形成される相
互インダクタンスや、信号配線およびグランド配線の自
己インダクタンスに起因して信号配線とグランド配線と
の間に生じる共振についての配慮がなされていないため
、信号の周波数が数G七〜数十G&程度の高周波になる
と、その波形が劣化したり、伝送が不能になったりする
などの問題があった。
本発明は、上記した問題点に着目してなされたものであ
り、その目的は、高周波信号の伝送に好適な配線技術を
提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
〔課題を解決するための手段〕
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概
要を簡単に説明すれば、次のとおりである。
本願の一発明は、一端か互いに接続され、他端か基準電
位に接続された一対の配線成分によって構成された基準
電位配線を信号配線に沿って配置した高周波伝送線路で
ある。
〔作用〕
上記した手段によれば、基準電位配線を一端か互いに接
続され、他端がそれぞれ基準電位に接続された一対の配
線成分で構成することにより、信号配線を流れる信号電
流によって上記基準電位配線に誘起される電磁誘導電流
は、基準電位配線を構成する一方の配線成分と他方の配
線成分とでその向きが互いに逆になり、かつ信号電流の
流れる方向に対して正逆方向対となる。これにより、基
準電位配線の自己インダクタンスおよび信号配線と基準
電位配線との間の相互インダクタンスは、それぞれのイ
ンダクタンス成分か互いに打消し合って小さくなるので
、信号配線と基準電位配線との間に生じる共振の周波数
(fo)は、下記の弐f e = (1/ 2π!ロロ
) (式中、Lは配線間の相互インダクタンスまたは配線の
自己インダクタンス、Cは配線間の容量をそれぞれ表す
)により、大きくなる。
そこで、上記共振周波数を信号電流の周波数の帯域外に
シフトさせることにより、信号配線と基準電位配線との
間に生じる共振を抑制することが可能となる。
以下、本発明を実施例により詳述する。なお、実施例を
説明するための全図において、同一機能を有するものは
同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。
〔実施例〕
本発明の高周波伝送線路を適用したICパッケージを第
1図〜第4図に示す。第1図はこのICパッケージの要
部斜視図、第2図は同じく平面図、第3図は第2図の■
−■線における断面図、第4図は配線の配置を示す平面
図である。
本実施例のICパッケージlは、いわゆるセラミックパ
ッケージであり、パッケージ本体は、基板2、枠体3、
キャップ4および基準電位(GND)面5により構成さ
れている。上記基板2、枠体3およびキャップ4は、例
えばアルミナ、ムライト、窒化アルミニウムなとのセラ
ミックからなり、上記基準電位面5は、例えばコバール
、42アロイなどの導電体からなる。上記基板2、枠体
3、キャップ4および基準電位面5によって囲まれたキ
ャビティ6の内部には、例えば超高速でスイッチング動
作を行う論理集積回路を備えたGaAs(ガリウム・ヒ
素)からなる半導体チップ7か搭載されている。上記半
導体チップ7は、Au−3n共晶合金などのろう材8に
よって基準電位面5の上に接合されている。
上記基板2の主面には、例えばW(タングステン)なと
の高融点金属を厚膜印刷した所定本数のパッケージ配線
9が形成されている。上記パッケージ配線9は、半導体
チップ7内の論理集積回路を駆動する外部信号源のイン
ピーダンスと同一の値の特性インピーダンス(例えば5
oΩ)を有しており、所定の誘電率を有する基板2およ
びその下面に接合された基準電位面5とともに、いわゆ
るマイクロストリップラインを構成している。上記パッ
ケージ配線9の一端と半導体チップ7とは、例えばAu
などの導電体からなるボンディングワイヤ10を介して
電気的に接続されている。また、上記パッケージ配線9
の他端には、コバール、42アロイなどの導電体からな
る外部リード11がろう付けされている。
上記パッケージ配線9の両側には、パッケージ配線9と
平行して延在する基準電位配線12が形成されている。
上記基準電位配線12は、その−端が基準電位面5と電
気的に接続されている。すなわち、本実施例のICパッ
ケージlは、それぞれのパッケージ配線9を基準電位配
線12および基準電位面5でシールドすることによって
、信号伝播に伴うクロストークノイズの低減を図ってい
る。上記基準電位配線12は、例えばパッケージ配線9
と同一の工程で形成された同一の導電体からなる。なお
、上記クロストークノイズの低減効果を向上させるため
に、基板2の上方(例えば枠体3の内部)に第二の基準
電位面5を配置し、この基準電位面5と上記基準電位配
線12とを電気的に接続する構成を採用してもよい。
第1図に示すように、上記基準電位配線12は、一端が
互いに接続され、他端がぞれぞれ基準電位面5に接続さ
れた一対の配線成分G 、、 G 、からなるヘアピン
状のパターンを育している。そのため、パッケージ配線
9に信号電流が流れると、その両側の基準電位配線12
には、第5図に示すように、一方の配線成分(G1)と
他方の配線成分(G、)とでその向きが互いに逆となり
、かつ信号電流の流れる方向に対して正逆方向対となっ
た電磁誘導電流が流れる。これにより、基準電位配線1
2の自己インダクタンスは、一方の配線成分(G1)の
インダクタンスと、他方の配線成分(Gりのインダクタ
ンスとが互いに打消し合うため、基準電位配置s12を
一本の配線で構成した場合に比べて小さくなる。また、
パッケージ配線9と基準電位配線12との間の相互イン
ダクタンスも、それぞれのインダクタンス成分が互いに
打消し合うため、基準電位配線12を一本の配線で構成
した場合に比べて小さくなる。
上記基準電位配線12を一対の配線成分G、G、で構成
した場合(本実施例)と、−本の配線で構成した場合(
従来)とにおけるパッケージ配線9の自己インダクタン
ス(L、)、基準電位配線12の自己インダクタンス(
L6)およびパッケージ配線9と基準電位配線12との
相互インダクタンス(M、、)の実測値を下記の表に示
す。ここで、パッケージ配線9、基準電位配線12およ
び基準電位面5は、それぞれ第6図(本実施例)および
第7図(従来)に示す寸法を有しているものとする。
表            〔単位:nH)上記の表か
ら明らかなように、基準電位配線12を一対の配線成分
G、、G、で構成した本実施例のICパッケージlは、
基準電位配線12の自己インダクタンス(La)を従来
の28分の1に、またパッケージ配線9と基準電位配線
12との相互インダクタンス(M a−a)を従来の1
89分の1にそれぞれ低減することができた。すなわち
、パッケージ配線9と基準電位配線12との間に生じる
共振周波数(fo)は、下記の式 %式%) (式中、Lは配線9,12の自己または相互インダクタ
ンス、Cは配線9,12fllの容量)で示されるよう
に、自己(または相互)インダクタンスと反比例の関係
にあるため、本実施例のICパッケージlによれば、上
記共振周波数(f、)を従来よりも大きくすることがで
きる。従って、上記共振周波数(fo)をパッケージ配
線9を流れる信号電流の周波数の帯域外にシフトさせる
ことにより、パッケージ配線9と基準電位配線12との
間に生じる共振を抑制することが可能となる。
このように、一端が互いに接続され、他端がそれぞれ基
準電位に接続された一対の配線成分で構成された基準電
位配線を信号配線に沿って配置した本実施例のICパッ
ケージによれば、下記の効果を得ることができる。
(1)、パッケージ配線9と基準電位記線12との間に
生じる共振を抑制することができるので、信号の波形の
劣化や、伝送不能を改善することができる。
(2)、パッケージ配線9のインピーダンス整合を図っ
ているので、信号の反射や波形の劣化を改善することが
できる。
(3)、パッケージ配線9を基準電位配線12および基
準電位面5でシールドしているので、信号伝播に伴うク
ロストークノイズを低減することができる。
(4)、上記!11〜(3)により、数G七〜数十G翫
の高周波信号の伝送に好適なICパッケージを提供する
ことができる。
以上、本発明者によってなされた発明を実施例に基づき
具体的に説明したが、本発明は、前記実施例に限定され
るものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更
可能であることはいうまでもない。
前記実施例の基準電位配線は、ヘアピン状のパターンを
有していたか、例えば第8図に示すように、ループ状の
パターンを有するものであってもよい。
前記実施例の基準電位配線は、パッケージ配線と同一の
配線層(基板の主面)に配置したか、第9図に示すよう
に、パッケージ配線とは異なる配線層(例えば基板の内
層)に配置することもてきる。また、t7JIO図に示
すように、基準電位配線を二層化し、基板または枠体に
開孔したスルーホール13を通じて接続してもよい。
以上の説明では、主として本発明者によってなされた発
明をその背景となった利用分野であるICパッケージ内
の信号伝送線路に適用した場合について説明したか、本
発明はそれに限定されるものではなく、例えば超高速で
スイッチング動作を行う論理集積回路を備えた半導体チ
ップの内部配線や、高周波伝送用の配線基板を始めとす
る各種電子部品の配線構造に適用することができる。
〔発明の効果〕
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記の通りである
一端が互いに接続され、他端が基準電位に接続された一
対の配線成分で構成された基準電位配線を信号配線に沿
って配置することにより、信号配線と基準電位配線との
間に共振が生じない高周波伝送線路を提供することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例である高周波伝送線路を示
すICパッケージの要部破断斜視図、第2図は、このI
Cパッケージの平面図、第3図は、第2図の■−■線に
おける断面図、第4図は、このICパッケージの配線パ
ターンを示す平面図、 第5図は、パッケージ配線を流れる信号電流とこの信号
電流によって基準電位配線に誘起される電磁誘導電流の
それぞれの方向を示す図、第6図および第7図は、パッ
ケージ配線、基準電位配線および基準電位面の寸法をそ
れぞれ示す図、 第8図乃至第1θ図は、本発明の他の実施例である高周
波伝送線路の基準電位配線パターンをそれぞれ示す図で
ある。 】・・・ICパッケージ、2・・・基板、3・・・枠体
、4・・・キャップ、5・・・基準電位面、6・・・キ
ャビティ、7・・・半導体チップ、8・・・ろう材、9
・・・パッケージ配線、lO・・・ポンディングワイヤ
、11・・・外部リード、12・・・基準電位配線、1
3・・・スルーホール。 代理人 弁理士 筒 井 大 和

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.一端が互いに接続され、他端が基準電位に接続され
    た一対の配線成分からなる基準電位配線を信号配線に沿
    って配置したことを特徴とする高周波伝送線路。
  2. 2.前記基準電位配線は、前記信号配線と同一の配線層
    に設けられていることを特徴とする請求項1記載の高周
    波伝送線路。
  3. 3.前記基準電位配線は、前記信号配線とは異なる配線
    層に設けられていることを特徴とする請求項1記載の高
    周波伝送線路。
  4. 4.ICパッケージ内に設けられた配線であることを特
    徴とする請求項1,2または3記載の高周波伝送線路。
  5. 5.配線基板に設けられた配線であることを特徴とする
    請求項1,2または3記載の高周波伝送線路。
  6. 6.半導体チップ内に設けられた配線であることを特徴
    とする請求項1,2または3記載の高周波伝送線路。
JP2309258A 1990-11-15 1990-11-15 高周波伝送線路 Pending JPH04180401A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2309258A JPH04180401A (ja) 1990-11-15 1990-11-15 高周波伝送線路
US07/791,291 US5294751A (en) 1990-11-15 1991-11-13 High frequency signal transmission line structure having shielding conductor unit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2309258A JPH04180401A (ja) 1990-11-15 1990-11-15 高周波伝送線路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04180401A true JPH04180401A (ja) 1992-06-26

Family

ID=17990834

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2309258A Pending JPH04180401A (ja) 1990-11-15 1990-11-15 高周波伝送線路

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5294751A (ja)
JP (1) JPH04180401A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5376902A (en) * 1993-08-31 1994-12-27 Motorola, Inc. Interconnection structure for crosstalk reduction to improve off-chip selectivity

Families Citing this family (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5760452A (en) * 1991-08-22 1998-06-02 Nec Corporation Semiconductor memory and method of fabricating the same
JPH0685154A (ja) * 1992-09-07 1994-03-25 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置
US5436405A (en) * 1993-02-12 1995-07-25 Alcatel Network Systems, Inc. Electromagnetically shielded microstrip circuit and method of fabrication
US5536906A (en) * 1993-07-23 1996-07-16 Texas Instruments Incorporated Package for integrated circuits
US5761049A (en) * 1994-09-19 1998-06-02 Hitachi, Ltd. Inductance cancelled condenser implemented apparatus
US5672909A (en) * 1995-02-07 1997-09-30 Amkor Electronics, Inc. Interdigitated wirebond programmable fixed voltage planes
US5541453A (en) * 1995-04-14 1996-07-30 Abb Semiconductors, Ltd. Power semiconductor module
US5734307A (en) * 1996-04-04 1998-03-31 Ericsson Inc. Distributed device for differential circuit
JPH09289404A (ja) 1996-04-24 1997-11-04 Honda Motor Co Ltd リボンとボンディングワイヤとマイクロ波回路用パッケージ
US6143990A (en) * 1996-06-25 2000-11-07 Fuji Xerox Co., Ltd. Printed wiring board with two ground planes connected by resistor
US5729183A (en) * 1996-11-27 1998-03-17 Dell Usa, L.P. Tuned guard circuit for conductive transmission lines on a printed circuit board
US7321485B2 (en) 1997-04-08 2008-01-22 X2Y Attenuators, Llc Arrangement for energy conditioning
US7336468B2 (en) 1997-04-08 2008-02-26 X2Y Attenuators, Llc Arrangement for energy conditioning
US9054094B2 (en) 1997-04-08 2015-06-09 X2Y Attenuators, Llc Energy conditioning circuit arrangement for integrated circuit
JPH1174396A (ja) * 1997-08-28 1999-03-16 Kyocera Corp 高周波用入出力端子ならびに高周波用半導体素子収納用パッケージ
US7020958B1 (en) * 1998-09-15 2006-04-04 Intel Corporation Methods forming an integrated circuit package with a split cavity wall
US5994766A (en) * 1998-09-21 1999-11-30 Vlsi Technology, Inc. Flip chip circuit arrangement with redistribution layer that minimizes crosstalk
US6181004B1 (en) * 1999-01-22 2001-01-30 Jerry D. Koontz Digital signal processing assembly and test method
SE514425C2 (sv) * 1999-06-17 2001-02-19 Ericsson Telefon Ab L M Övergång mellan stripline och mikrostrip i kavitet i flerlagers mönsterkort
US6288344B1 (en) * 1999-08-20 2001-09-11 Cardiac Pacemakers, Inc. Integrated EMI shield utilizing a hybrid edge
TW434764B (en) * 1999-12-03 2001-05-16 Via Tech Inc Structure for reducing the mutual inductance between adjacent wires on a substrate
TW462212B (en) * 2000-01-12 2001-11-01 Via Tech Inc Structure and method for decreasing mutual inductance between the adjacent conduction wires on the substrate
US7884666B1 (en) 2000-10-11 2011-02-08 Silicon Laboratories Inc. Method and apparatus for reducing interference
US7186924B2 (en) * 2003-10-21 2007-03-06 International Business Machines Corporation Dielectric structure for printed circuit board traces
TW200404706A (en) * 2003-12-05 2004-04-01 Chung Shan Inst Of Science Composite material structure for rotary-wings and its producing method
US6992250B2 (en) * 2004-02-26 2006-01-31 Kyocera Corporation Electronic component housing package and electronic apparatus
DE102004035080A1 (de) * 2004-05-27 2005-12-29 Infineon Technologies Ag Anordnung zur Verringerung des elektrischen Übersprechens auf einem Chip
US7348666B2 (en) * 2004-06-30 2008-03-25 Endwave Corporation Chip-to-chip trench circuit structure
US7411279B2 (en) * 2004-06-30 2008-08-12 Endwave Corporation Component interconnect with substrate shielding
US7782587B2 (en) 2005-03-01 2010-08-24 X2Y Attenuators, Llc Internally overlapped conditioners
JP5309416B2 (ja) * 2005-07-19 2013-10-09 ソニー株式会社 光モジュール
US9214431B1 (en) * 2006-05-25 2015-12-15 Qualcomm Incorporated On-chip/off-chip magnetic shielding loop
JP5504712B2 (ja) * 2009-06-30 2014-05-28 日立金属株式会社 高速伝送用回路基板の接続構造
US9107325B1 (en) 2009-08-10 2015-08-11 The Boeing Company Systems and methods of coupling sensors to a structure
WO2012018471A1 (en) * 2010-08-05 2012-02-09 The Boeing Company Systems and methods of coupling digitizing sensors to a structure
WO2012043313A1 (ja) * 2010-09-28 2012-04-05 京セラ株式会社 素子収納用パッケージ、およびこれを用いた電子装置
WO2013015216A1 (ja) * 2011-07-26 2013-01-31 京セラ株式会社 半導体素子収納用パッケージ、これを備えた半導体装置および電子装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4396795A (en) * 1981-06-30 1983-08-02 Rca Corporation Non-contacting RF shielding gasket with molded stub members
US4925024A (en) * 1986-02-24 1990-05-15 Hewlett-Packard Company Hermetic high frequency surface mount microelectronic package
JPS63155791A (ja) * 1986-12-19 1988-06-28 日本電気株式会社 高密度多層配線基板

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5376902A (en) * 1993-08-31 1994-12-27 Motorola, Inc. Interconnection structure for crosstalk reduction to improve off-chip selectivity

Also Published As

Publication number Publication date
US5294751A (en) 1994-03-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH04180401A (ja) 高周波伝送線路
KR0156334B1 (ko) 차폐 본딩 와이어를 구비하는 고주파, 고밀도용 반도체 칩 패키지
KR900001273B1 (ko) 반도체 집적회로 장치
JP3859340B2 (ja) 半導体装置
US6300161B1 (en) Module and method for interconnecting integrated circuits that facilitates high speed signal propagation with reduced noise
US4551789A (en) Multilayer ceramic substrates with several metallization planes
JP2001110942A (ja) 高性能集積回路パッケージの一定インピーダンス配路
JP3357435B2 (ja) 半導体集積回路装置
JP2002252300A (ja) 基板および半導体チップパッケージ
JP3058898B2 (ja) 半導体装置及びその評価方法
JPH09172221A (ja) 光半導体素子の実装構造
JP2728322B2 (ja) 半導体装置
JP2674553B2 (ja) 半導体装置
US20050012123A1 (en) Semiconductor device having a flip-chip construction
JP3081786B2 (ja) 高周波半導体装置
JP3116782B2 (ja) 誘導相殺コンデンサを備えた回路基板
JP2002185201A (ja) 高周波用配線基板
US7091803B2 (en) Signal transmission structure
JP2006501682A (ja) 導電性電子部品およびその製造方法
JP2663178B2 (ja) 半導体装置
JPH05226498A (ja) 高周波伝送線路
JPH01143502A (ja) マイクロ波集積回路
JP2002231849A (ja) 高周波装置
JP2002190546A (ja) 多層高周波パッケージ基板
JP2000286364A (ja) 高周波用パッケージ