JPH09289404A - リボンとボンディングワイヤとマイクロ波回路用パッケージ - Google Patents

リボンとボンディングワイヤとマイクロ波回路用パッケージ

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JPH09289404A
JPH09289404A JP8102814A JP10281496A JPH09289404A JP H09289404 A JPH09289404 A JP H09289404A JP 8102814 A JP8102814 A JP 8102814A JP 10281496 A JP10281496 A JP 10281496A JP H09289404 A JPH09289404 A JP H09289404A
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Japan
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ribbon
microwave circuit
bonding wire
width
high frequency
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Masahito Shingyouchi
誠仁 新行内
Shinsuke Takeuchi
伸介 武内
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Honda Motor Co Ltd
Original Assignee
Honda Motor Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 MMICの高周波特性を可変できるリボン、
ボンディングワイヤ、および、マイクロ波回路用パッケ
ージを提供する。 【解決手段】 マイクロ波回路内の高周波入出力間を接
続するリボンおよびボンディングワイヤにおいて、リボ
ンの幅またはボンディングワイヤの太さを接着部分以外
の部分で変化させた。金属製基板3を備え、この金属製
基板3上にモノリシックマイクロ波集積回路(MMI
C)11,12を取り付けて封止した構造のマイクロ波
回路用パッケージ10において、上記のリボン11E,
12Eを備えた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、モノリシックマイ
クロ波集積回路(MMIC)等を使用したマイクロ波回
路を封止するマイクロ波回路用パッケージ、および、マ
イクロ波回路用のリボンとボンディングワイヤに関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、高周波デバイス等の実装では、均
一な太さのボンディングワイヤまたは均一な厚さのリボ
ンが用いられてきた。あるいは、メッシュ状にしたリボ
ンが用いられてきた。
【0003】一方、特開平1−300546号公報で
は、金属製基板とバイアス供給用直流端子(DC端子)
間に誘電体層を形成することにより、MMICチップの
領域外に静電容量を形成したマイクロ波回路用パッケー
ジが開示されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】マイクロ波回路用パッ
ケージ内のリボンやボンディングワイヤは、マイクロ波
回路の中でインピーダンスの不連続を生じさせる箇所に
なっている。そのため、MMIC等の被実装物の裸特性
に対し、実装後の特性が変化して劣化することがある。
【0005】一方、金属製基板、MMIC、ボンディン
グワイヤ、リボン等の材料を変えてマイクロ波回路用パ
ッケージを製造した場合に、MMIC等の実装後の高周
波特性を変化させることで、これらの材料を変える前に
製造したマイクロ波回路用パッケージとの互換性を持た
せたいことがある。
【0006】ボンディングワイヤやリボンの長さを可変
することによってMMIC等の実装後の高周波特性を可
変することも考えられるが、ボンディングワイヤで接続
するにはゆるい適切なカーブが必要であり、また、マイ
クロ波回路用パッケージ内の空間からの制限によりボン
ディングワイヤの長さを可変することには限度がある。
MMIC等の被実装物の間隔を可変してリボンの長さを
可変することも考えられるが、この間隔を可変すること
にも限度がある。
【0007】そこで本発明は、マイクロ波回路内の高周
波入出力間を接続するリボンまたはボンディングワイヤ
において、マイクロ波回路の周波数特性を意図的に可変
できるようにしたリボンまたはボンディングワイヤを提
供することを目的とする。
【0008】また、金属製基板を備え、この金属製基板
上にMMIC等を取り付けて封止した構造のマイクロ波
回路用パッケージにおいて、回路または回路素子を意図
的に組み込んだリボンやボンディングワイヤを用いて、
マイクロ波回路の周波数特性を意図的に可変できるよう
にしたマイクロ波回路用パッケージを提供することを目
的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1に係るリボンお
よびボンディングワイヤは、リボンの幅またはボンディ
ングワイヤの太さを少なくとも接着部分以外の部分で変
化させたことを特徴とする。請求項2では、請求項1記
載のリボンおよびボンディングワイヤにおいて、リボン
の幅またはボンディングワイヤの太さを連続して変化さ
せたことを特徴とする。請求項3では、請求項1記載の
リボンおよびボンディングワイヤにおいて、リボンの幅
またはボンディングワイヤの太さを不連続に変化させた
ことを特徴とする。
【0010】請求項4に係るマイクロ波回路用パッケー
ジは、マイクロ波回路内の高周波入出力間を接続するリ
ボンまたはボンディングワイヤを備え、リボンの幅また
はボンディングワイヤの太さを少なくとも接着部分以外
の部分で変化させたことを特徴とする。
【0011】請求項1の構成または請求項4の構成に基
づく作用は、以下のように説明される。リボンやボンデ
ィングワイヤは抵抗RとリアクタンスXの各成分を有
し、それ自体でインピーダンスZを持っており、その抵
抗RとリアクタンスXを用いて、Z=(R2+X21/2
と表わされる。なお、リアクタンスXの大きさは、イン
ダクタンスLに対してはX=ωLと表わされ、キャパシ
タンスCに対してはX=1/ωCと表わされる。
【0012】リアクタンスXは周波数f(または角周波
数ω=2πf)の関数であり、マイクロ波回路等の高い
周波数(1〜100GHz)の回路では、リボンの幅ま
たはボンディングワイヤの太さを変化させてインダクタ
ンスLなどを少し変化させることで、リアクタンスXを
大きく変化させることができ、そのインピーダンスZを
変化させることができる。
【0013】従って、リボンの幅またはボンディングワ
イヤの太さを接着部分以外の部分で変化させることで、
マイクロ波回路の中でインピーダンスの不連続を意図的
に変化させることができ、マイクロ波回路の周波数特性
をリボンやボンディングワイヤで意図的に変化させるこ
とができる。
【0014】請求項5では、請求項4記載のマイクロ波
回路用パッケージにおいて、リボンの幅またはボンディ
ングワイヤの太さを連続して変化させたことを特徴とす
る。
【0015】請求項2の構成または請求項5の構成は、
リボンまたはボンディングワイヤの各微小部分における
インピーダンスを徐々に(あるいは連続的に)変化させ
る場合に有効である。
【0016】請求項6では、請求項4記載のマイクロ波
回路用パッケージにおいて、リボンの幅またはボンディ
ングワイヤの太さを不連続に変化させたことを特徴とす
る。
【0017】請求項3の構成または請求項6の構成は、
リボンまたはボンディングワイヤの各微小部分における
インピーダンスを急激に(あるいは段階的に)変化させ
る場合に有効である。
【0018】請求項7では、請求項4〜請求項6記載の
マイクロ波回路用パッケージにおいて、高周波入出力を
行うMMICに、リボンまたはボンディングワイヤの接
着箇所に近接する高周波補償回路を設けたことを特徴と
する。
【0019】リボンまたはボンディングワイヤによりマ
イクロ波回路の周波数特性を可変できるが、この高周波
補償回路を用いることでもインピーダンスを調整してマ
イクロ波回路の周波数特性を可変できる。従って、異な
る特性を有する高周波補償回路とリボンまたはボンディ
ングワイヤとにより、マイクロ波回路の周波数特性を微
妙に変化させることができる。
【0020】請求項8に係るマイクロ波回路用パッケー
ジは、マイクロ波回路内の高周波入出力間を接続するリ
ボンを備え、リボンの厚さを少なくとも接着部分以外の
部分で変化させたことを特徴とする。
【0021】請求項4〜請求項6ではリボンの幅を変化
させる場合を述べたが、この請求項ではリボンの厚さを
変化させる場合を述べたものである。リボンの厚さを接
着部分以外の部分で変化させることで、マイクロ波回路
の中でインピーダンスの不連続を意図的に変化させるこ
とができ、マイクロ波回路の周波数特性をリボンで意図
的に変化させることができる。
【0022】請求項9に係るマイクロ波回路用パッケー
ジでは、マイクロ波回路内の高周波入出力間を接続する
リボンを備え、リボンの幅を少なくとも接着部分以外の
部分で変化させると共に、リボンの両端における幅をリ
ボンが接着される高周波入出力端の幅より狭くしたこと
を特徴とする。
【0023】リボンの幅を接着部分以外の部分で変化さ
せることで、マイクロ波回路の中でインピーダンスの不
連続を意図的に変化させることができ、マイクロ波回路
の周波数特性をリボンで意図的に変化させることができ
る。
【0024】また、リボンの両端における幅をリボンが
接着される高周波入出力端の幅より狭くすることで、リ
ボンを接着する際の位置合わせが容易になり、ひいては
マイクロ波回路用パッケージの製品コストを下げること
ができる。
【0025】請求項10では、請求項8または請求項9
記載のマイクロ波回路用パッケージにおいて、リボンを
支持する台座を金属製基板上に設けたことを特徴とす
る。
【0026】請求項8ではリボンの厚さを少なくとも接
着部分以外の部分で変化させた場合を述べており、請求
項9ではリボンの両端における幅をリボンが接着される
高周波入出力端の幅より狭くした場合を述べており、こ
れらの場合について、リボンを支持する台座を金属製基
板上に設けることで、リボンの機械的強度を高めること
ができ、この点でマイクロ波回路の信頼性を高めること
ができる。
【0027】また、高周波入出力を行うMMIC等の間
に高度差がある場合は、この高度差に対応した斜面を台
座に設けることでリボンを斜面に沿って配置でき、この
高度差を補償することができる。
【0028】更に、台座の材質を変化させることでリボ
ンと金属製基板間のキャパシタンスを変化させることが
でき、これを利用してマイクロ波回路の周波数特性を変
化させることもできる。
【0029】請求項11に係るマイクロ波回路用パッケ
ージは、ストリップ導体を備えた誘電体基板を金属製基
板上に取り付けて封止すると共に、マイクロ波回路内の
高周波入出力間を接続するリボンを備え、リボンの両端
における幅をMMIC側ではMMICの高周波入出力端
の幅と略同一とし、誘電体基板側ではそのストリップ導
体の幅と略同一とし、リボンの幅をMMICの縁でスト
リップ導体の幅に広げたことを特徴とする。
【0030】リボンの幅を接着部分以外の部分で変化さ
せることで、マイクロ波回路の中でインピーダンスの不
連続を意図的に変化させることができ、マイクロ波回路
の周波数特性をリボンで意図的に変化させることができ
る。
【0031】特に、リボンの幅をMMICの縁でストリ
ップ導体の幅に広げることで、ストリップ導体がMMI
Cの高周波入出力端まで伸びている構成と類似させるこ
とができ、少なくともMMICの高周波入出力端の幅で
均一に構成したリボンで接続した場合よりもMMICの
実装後の高周波特性を向上させることができる。
【0032】請求項12では、請求項11記載のマイク
ロ波回路用パッケージにおいて、誘電体基板に、リボン
の接着箇所に近接する高周波補償回路を設けたことを特
徴とする。
【0033】リボンによりマイクロ波回路の周波数特性
を可変できるが、この高周波補償回路を用いることでも
インピーダンスを調整してマイクロ波回路の周波数特性
を可変できる。従って、異なる特性を有する高周波補償
回路とリボンとにより、マイクロ波回路の周波数特性を
微妙に変化させることができる。
【0034】請求項13では、請求項7または請求項1
2記載のマイクロ波回路用パッケージにおいて、高周波
補償回路はインピーダンス調整用スタブからなることを
特徴とする。
【0035】高周波補償回路をインピーダンス調整用ス
タブで構成し、リボンの接着箇所またはボンディングワ
イヤの接着箇所に近接して設けることで、高周波入出力
を行うMMIC側でも誘電体基板側でも容易にインピー
ダンス調整を行うことができる。
【0036】
【発明の実施の形態】以下、本発明を図面に示す実施形
態に基づいて説明する。
【0037】図1は、本発明のマイクロ波回路用パッケ
ージの説明的平面図である。図2は、本発明のマイクロ
波回路用パッケージの説明的断面図である。図2におい
てフレーム5と上蓋6を取り除いた場合の平面図が図1
に対応し、図1のA−A矢視断面図が図2に対応してい
る。図2では、DC端子34とボンディングワイヤ44
を省略して描いている。
【0038】図1と図2に示すマイクロ波回路用パッケ
ージ10は、金属製基板3を備え、この金属製基板3上
にMMIC11,12を取り付けて封止した構造をなし
ている。金属製基板3上に誘電体基板17を取り付けて
封止すると共に、この誘電体基板17上にストリップ導
体(不図示)を備え、金属製基板3と誘電体基板17と
ストリップ導体(不図示)とでマイクロストリップ線路
を構成している。
【0039】金属製基板3はコバール(kovar)等
で形成され、ヒートシンクとしても作用する。上蓋6
は、誘電体等で形成される。MMIC11,12はGa
As等で形成され、誘電体基板17はアルミナ磁器やセ
ラミック等で形成される。
【0040】MMIC11の一端には、金属製基板3を
絶縁して貫通し所定のバイアス電圧を供給するバイアス
供給用のDC端子34,35とボンディングワイヤ4
4,45によって接続されている。
【0041】MMIC12の一端には、金属製基板3を
絶縁して貫通し所定のバイアス電圧を供給するバイアス
供給用のDC端子36,37とボンディングワイヤ4
6,47によって接続されている。
【0042】MMIC11の高周波入力端は、誘電体基
板17上のストリップ導体(不図示)とリボン11Eに
よって接続されている。MMIC11の2つの高周波出
力端は、各々RF端子11F,11Gとボンディングワ
イヤによって接続されている。
【0043】MMIC12の高周波入力端は、誘電体基
板17上のストリップ導体(不図示)とリボン12Eに
よって接続されている。MMIC12の2つの高周波出
力端は、各々RF端子12F,12Gとボンディングワ
イヤによって接続されている。
【0044】また、誘電体基板17上のストリップ導体
(不図示)は、RF端子17Aとボンディングワイヤに
よって接続されている。このマイクロストリップ線路に
より種々の回路や回路素子を形成してもよいし、例え
ば、高周波信号を分配する分配器を形成して、RF端子
数を削減してもよい。
【0045】DC端子34〜37を金属製基板3面の垂
直方向に伸ばし、RF端子11F,11G,12F,1
2G,17Aを金属製基板3の対向する辺に設けて金属
製基板3面の水平方向または略水平方向に伸ばすこと
で、このマイクロ波回路用パッケージ10を隣接配置し
高密度実装できるようにしている。
【0046】図3は、本発明のマイクロ波回路用パッケ
ージの要部拡大図である。図3[A]は、MMIC11
の高周波入力端11Sと誘電体基板17上のストリップ
導体17Sとを接続するリボン11Eとその周辺の説明
的平面図である。図3[B]は、リボン11Eとその周
辺の説明的断面図である。
【0047】高周波入力端11Sを線路で形成してい
る。また、リボン11Eを支持する台座18を樹脂等で
形成し、これを金属製基板3上に設けている。リボン1
1Eの両端は、それぞれ高周波入力端11Sとストリッ
プ導体17Sとに熱圧着または超音波圧着されて接着さ
れている。
【0048】リボン11Eの両端における幅をMMIC
11側では高周波入力端11Sの幅と略同一とし、誘電
体基板17側ではそのストリップ導体17Sの幅と略同
一とし、リボン11Eの幅をMMIC11の縁でストリ
ップ導体17Sの幅に広げている。リボン11Eの幅を
接着部分以外の部分で変化させている。
【0049】リボン11Eの両端における幅をMMIC
11側では高周波入力端11Sの幅より狭くし、誘電体
基板17側ではそのストリップ導体17Sの幅より狭く
してもよい。つまり、リボン11Eの両端における幅
を、リボン11Eが接着される高周波入出力端の幅より
狭くしてもよい。
【0050】図4は、本発明のマイクロ波回路用パッケ
ージの要部拡大図である。図4[A]は、MMIC11
の高周波入力端11Sと誘電体基板17上のストリップ
導体17Sとを接続するリボン11Eとその周辺の説明
的平面図である。図4[B]は、リボン11Eとその周
辺の説明的断面図である。図3[A],[B]で示され
るマイクロ波回路用パッケージにおいて、誘電体基板1
7に高周波補償回路であるインピーダンス調整用スタブ
17Zを設けたものである。
【0051】高周波入出力を行うマイクロストリップ線
路17Mの誘電体基板17上に、リボン11Eの接着箇
所に近接する高周波補償回路を設けたものである。高周
波補償回路は、ボンディングパッドで形成してもよい。
また、MMIC11側に設けてもよい。
【0052】図5[A],[B],[C]は、本発明の
マイクロ波回路用リボンの説明的平面図である。図5
[D]は本発明のマイクロ波回路用リボンの説明的側面
図である。図5[A]は、図1〜図4で用いたリボン1
1E,12Eを示しており、リボンの幅を不連続に変化
させたものである。
【0053】図5[B]のリボンは、図5[A]のリボ
ンとその両端の幅が同一であるが、中央部の幅を広く
し、いわば翼(ウイング)を設けたものであり、リボン
の幅を不連続に変化させたものである。
【0054】図5[C]のリボンは、図5[A]のリボ
ンとその両端の幅が同一で台形とし、リボンの幅を連続
して変化させたものである。
【0055】図5[A],[B],[C]のリボンを、
図5[D]のように厚さを変化させて段差を設けてもよ
いし、均一な厚さとしてもよい。このように、リボンの
厚さを少なくとも接着部分以外の部分で変化させて段差
を設けることで、リボンの接着時におけるリボン長手方
向の位置合わせの容易化を図ってもよい。
【0056】図6は、本発明のマイクロ波回路用パッケ
ージの要部拡大図である。図6は、MMIC11の高周
波出力端とRF端子11Fとを接続するボンディングワ
イヤ40とその周辺の説明的側面図である。このよう
に、MMICの高周波入出力端とRF端子とを接続する
ことも、マイクロ波回路内の高周波入出力間を接続する
ことに含まれ、以下にボンディングワイヤで接続する場
合について述べる。
【0057】図6では、ボンディングワイヤ40の太さ
を接着部分以外の部分で徐々に変化させている。例え
ば、ボンディングワイヤ40を細いピンセットで挟ん
で、その箇所を偏平にし、または、その断面をほぼ楕円
にしたものである。
【0058】図7に示すように、ボンディングワイヤ4
0を2箇所挟んで、その形状を変化させてもよい。
【0059】図8に示すように、ボンディングワイヤ4
0のカーブをギザギザにしてその太さを変化させてもよ
い。例えば、ボンディングワイヤ40を細いピンセット
の鋸歯状の先端部で挟んで、その形状を変化させてもよ
い。ピンセットの先端部の片面を鋸歯状とし、他の片面
を平面状とし、このピンセットで挟むことで太さを不連
続に変化させてもよい(図10参照)。
【0060】また、図9に示すように、ボンディングワ
イヤ40を2箇所挟んで、図6と図8のボンディングワ
イヤ40の変形箇所を合わせた形状としてもよい。
【0061】MMIC11,12の高周波出力端とRF
端子11F,11G,12F,12Gとを金等のビーム
リードや本発明のリボンで接続してもよい。MMIC1
1,12の高周波出力端とストリップ導体とを本発明の
ボンディングワイヤで接続してもよい。RF端子11
G,11F,12G,11F,17Aは、DC端子34
〜37と同様に、金属製基板3面の垂直方向に伸ばして
もよい。
【0062】本発明を特願平7−239311号にて提
案しているレーダーモジュール及びアンテナ装置に適用
してもよい。例えば、MMIC中に4個の高周波数の電
界効果トランジスタ(FET)と2個のミキサーを備
え、このMMICをマイクロ波回路用パッケージに複数
取り付けてマルチチップ回路を構成してもよい。
【0063】なお、上記実施形態は本発明の一例であ
り、本発明は上記実施形態に限定されない。
【0064】
【発明の効果】請求項1に係るリボンおよびボンディン
グワイヤによれば、または、請求項4に係るマイクロ波
回路用パッケージによれば、リボンの幅またはボンディ
ングワイヤの太さを接着部分以外の部分で変化させるこ
とで、マイクロ波回路の中でインピーダンスの不連続を
意図的に変化させることができ、マイクロ波回路の周波
数特性をリボンやボンディングワイヤで意図的に変化さ
せることができる。
【0065】請求項2に係るリボンおよびボンディング
ワイヤによれば、または、請求項5に係るマイクロ波回
路用パッケージによれば、リボンまたはボンディングワ
イヤの各微小部分におけるインピーダンスを徐々に(あ
るいは連続的に)変化させる場合に有効である。
【0066】請求項3に係るリボンおよびボンディング
ワイヤによれば、または、請求項6に係るマイクロ波回
路用パッケージによれば、リボンまたはボンディングワ
イヤの各微小部分におけるインピーダンスを急激に(あ
るいは段階的に)変化させる場合に有効である。
【0067】請求項7に係るマイクロ波回路用パッケー
ジによれば、リボンまたはボンディングワイヤによりマ
イクロ波回路の周波数特性を可変できるが、この高周波
補償回路を用いることでもインピーダンスを調整してマ
イクロ波回路の周波数特性を可変できる。従って、異な
る特性を有する高周波補償回路とリボンまたはボンディ
ングワイヤとにより、マイクロ波回路の周波数特性を微
妙に変化させることができる。
【0068】請求項8に係るマイクロ波回路用パッケー
ジによれば、リボンの厚さを接着部分以外の部分で変化
させることで、マイクロ波回路の中でインピーダンスの
不連続を意図的に変化させることができ、マイクロ波回
路の周波数特性をリボンで意図的に変化させることがで
きる。
【0069】請求項9に係るマイクロ波回路用パッケー
ジによれば、リボンの幅を接着部分以外の部分で変化さ
せることで、マイクロ波回路の中でインピーダンスの不
連続を意図的に変化させることができ、マイクロ波回路
の周波数特性をリボンで意図的に変化させることができ
る。
【0070】また、リボンの両端における幅をリボンが
接着される高周波入出力端の幅より狭くすることで、リ
ボンを接着する際の位置合わせが容易になり、ひいては
マイクロ波回路用パッケージの製品コストを下げること
ができる。
【0071】請求項10に係るマイクロ波回路用パッケ
ージによれば、リボンを支持する台座を金属製基板上に
設けることで、リボンの機械的強度を高めることがで
き、この点でマイクロ波回路の信頼性を高めることがで
きる。
【0072】また、高周波入出力を行うMMIC等の間
に高度差がある場合は、この高度差に対応した斜面を台
座に設けることでリボンを斜面に沿って配置でき、この
高度差を補償することができる。
【0073】更に、台座の材質を変化させることでリボ
ンと金属製基板間のキャパシタンスを変化させることが
でき、これを利用してマイクロ波回路の周波数特性を変
化させることもできる。
【0074】請求項11に係るマイクロ波回路用パッケ
ージによれば、リボンの幅を接着部分以外の部分で変化
させることで、マイクロ波回路の中でインピーダンスの
不連続を意図的に変化させることができ、マイクロ波回
路の周波数特性をリボンで意図的に変化させることがで
きる。
【0075】特に、リボンの幅をMMICの縁でストリ
ップ導体の幅に広げることで、ストリップ導体がMMI
Cの高周波入出力端まで伸びている構成と類似させるこ
とができ、少なくともMMICの高周波入出力端の幅で
均一に構成したリボンで接続した場合よりもMMICの
実装後の高周波特性を向上させることができる。
【0076】請求項12に係るマイクロ波回路用パッケ
ージによれば、リボンによりマイクロ波回路の周波数特
性を可変できるが、この高周波補償回路を用いることで
もインピーダンスを調整してマイクロ波回路の周波数特
性を可変できる。従って、異なる特性を有する高周波補
償回路とリボンとにより、マイクロ波回路の周波数特性
を微妙に変化させることができる。
【0077】請求項13では、請求項7または請求項1
2記載のマイクロ波回路用パッケージにおいて、高周波
補償回路はインピーダンス調整用スタブからなることを
特徴とする。
【0078】高周波補償回路をインピーダンス調整用ス
タブで構成し、リボンの接着箇所またはボンディングワ
イヤの接着箇所に近接して設けることで、高周波入出力
を行うMMIC側でも誘電体基板側でも容易にインピー
ダンス調整を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のマイクロ波回路用パッケージの説明的
平面図
【図2】本発明のマイクロ波回路用パッケージの説明的
断面図
【図3】本発明のマイクロ波回路用パッケージの要部拡
大図
【図4】本発明のマイクロ波回路用パッケージの要部拡
大図
【図5】本発明のマイクロ波回路用リボン
【図6】本発明のマイクロ波回路用パッケージの要部拡
大図
【図7】本発明のマイクロ波回路用パッケージの要部拡
大図
【図8】本発明のマイクロ波回路用パッケージの要部拡
大図
【図9】本発明のマイクロ波回路用パッケージの要部拡
大図
【図10】本発明のマイクロ波回路用パッケージの要部
拡大図
【符号の説明】
3…金属製基板、5…フレーム、6…上蓋、10…マイ
クロ波回路用パッケージ、11…MMIC、11E…リ
ボン、11F,11G…高周波端子(RF端子)、11
S…高周波入力端、12…MMIC、12E…リボン、
12F,12G…高周波端子(RF端子)、17…誘電
体基板、17A…高周波端子(RF端子)、17M…マ
イクロストリップ線路、17S…ストリップ導体、17
Z…インピーダンス調整用スタブ、18…台座、19…
誘電体、34〜37…直流端子(DC端子)、40,4
4〜47…ボンディングワイヤ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01P 3/08 H01P 3/08

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 マイクロ波回路内の高周波入出力間を接
    続するリボンおよびボンディングワイヤにおいて、 リボンの幅またはボンディングワイヤの太さを少なくと
    も接着部分以外の部分で変化させたことを特徴とするリ
    ボンおよびボンディングワイヤ。
  2. 【請求項2】 リボンの幅またはボンディングワイヤの
    太さを連続して変化させたことを特徴とする請求項1記
    載のリボンおよびボンディングワイヤ。
  3. 【請求項3】 リボンの幅またはボンディングワイヤの
    太さを不連続に変化させたことを特徴とする請求項1記
    載のリボンおよびボンディングワイヤ。
  4. 【請求項4】 金属製基板を備え、この金属製基板上に
    MMICを取り付けて封止した構造のマイクロ波回路用
    パッケージにおいて、 マイクロ波回路内の高周波入出力間を接続するリボンま
    たはボンディングワイヤを備え、リボンの幅またはボン
    ディングワイヤの太さを少なくとも接着部分以外の部分
    で変化させたことを特徴とするマイクロ波回路用パッケ
    ージ。
  5. 【請求項5】 リボンの幅またはボンディングワイヤの
    太さを連続して変化させたことを特徴とする請求項4記
    載のマイクロ波回路用パッケージ。
  6. 【請求項6】 リボンの幅またはボンディングワイヤの
    太さを不連続に変化させたことを特徴とする請求項4記
    載のマイクロ波回路用パッケージ。
  7. 【請求項7】 高周波入出力を行うMMICに、リボン
    またはボンディングワイヤの接着箇所に近接する高周波
    補償回路を設けたことを特徴とする請求項4〜請求項6
    記載のマイクロ波回路用パッケージ。
  8. 【請求項8】 金属製基板を備え、この金属製基板上に
    MMICを取り付けて封止した構造のマイクロ波回路用
    パッケージにおいて、 マイクロ波回路内の高周波入出力間を接続するリボンを
    備え、リボンの厚さを少なくとも接着部分以外の部分で
    変化させたことを特徴とするマイクロ波回路用パッケー
    ジ。
  9. 【請求項9】 金属製基板を備え、この金属製基板上に
    MMICを取り付けて封止した構造のマイクロ波回路用
    パッケージにおいて、 マイクロ波回路内の高周波入出力間を接続するリボンを
    備え、リボンの幅を少なくとも接着部分以外の部分で変
    化させると共に、 リボンの両端における幅をリボンが接着される高周波入
    出力端の幅より狭くしたことを特徴とするマイクロ波回
    路用パッケージ。
  10. 【請求項10】 リボンを支持する台座を金属製基板上
    に設けたことを特徴とする請求項8または請求項9記載
    のマイクロ波回路用パッケージ。
  11. 【請求項11】 金属製基板を備え、この金属製基板上
    にMMICを取り付けて封止した構造のマイクロ波回路
    用パッケージにおいて、 ストリップ導体を備えた誘電体基板を金属製基板上に取
    り付けて封止すると共に、マイクロ波回路内の高周波入
    出力間を接続するリボンを備え、 リボンの両端における幅をMMIC側ではMMICの高
    周波入出力端の幅と略同一とし、誘電体基板側ではその
    ストリップ導体の幅と略同一とし、リボンの幅をMMI
    Cの縁でストリップ導体の幅に広げたことを特徴とする
    マイクロ波回路用パッケージ。
  12. 【請求項12】 誘電体基板に、リボンの接着箇所に近
    接する高周波補償回路を設けたことを特徴とする請求項
    11記載のマイクロ波回路用パッケージ。
  13. 【請求項13】 高周波補償回路はインピーダンス調整
    用スタブからなることを特徴とする請求項7または請求
    項12記載のマイクロ波回路用パッケージ。
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EP97105797A EP0803907B1 (en) 1996-04-24 1997-04-08 Method of regulating the impedance of a microwave circuit package
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150073116A (ko) * 2013-12-20 2015-06-30 탈레스 하이퍼주파수 상호접속 디바이스
KR102298517B1 (ko) * 2020-02-28 2021-09-06 주식회사 웨이브피아 임피던스 매칭 기능이 내장된 알에프 칩 패키지용 리드 프레임
KR102298516B1 (ko) * 2020-02-28 2021-09-27 주식회사 웨이브피아 임피던스 매칭 기능이 내장된 허매틱 알에프 칩 패키지용 리드 프레임

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3209183B2 (ja) * 1998-07-08 2001-09-17 日本電気株式会社 高周波信号用集積回路パッケージ及びその製造方法
SE515661C2 (sv) 1998-12-22 2001-09-17 Ericsson Telefon Ab L M Trådbondningskompensering
US6664630B2 (en) * 2001-10-16 2003-12-16 Hitachi Maxell, Ltd. Semiconductor device
JP3756129B2 (ja) * 2002-06-11 2006-03-15 Necトーキン株式会社 伝送線路型ノイズフィルタ
US6737931B2 (en) * 2002-07-19 2004-05-18 Agilent Technologies, Inc. Device interconnects and methods of making the same
TW550990B (en) * 2002-10-24 2003-09-01 Advanced Semiconductor Eng A printed circuit board
JP2005072031A (ja) * 2003-08-22 2005-03-17 Renesas Technology Corp 高周波用半導体装置および通信用電子部品並びに無線通信システム
US7388279B2 (en) * 2003-11-12 2008-06-17 Interconnect Portfolio, Llc Tapered dielectric and conductor structures and applications thereof
US20050248022A1 (en) * 2004-05-10 2005-11-10 Northern Microdesign, Inc. High data rate chip mounting
JP2008504717A (ja) * 2004-06-25 2008-02-14 コンティ テミック マイクロエレクトロニック ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 保護被覆を持つ電気装置
US7397329B2 (en) * 2004-11-02 2008-07-08 Du Toit Nicolaas D Compact tunable filter and method of operation and manufacture therefore
US7471520B2 (en) * 2005-03-10 2008-12-30 Avago Technologies Fiber Ip (Singapore) Pte. Ltd. Impedance matching external component connections with uncompensated leads
US7388451B2 (en) * 2005-08-15 2008-06-17 Northrop Grumman Corporation Thickness tapered substrate launch
US7295084B2 (en) * 2005-09-28 2007-11-13 Agilent Technologies, Inc. Electrical interconnection for coaxial line to slab line structure including a bead ring
US7443018B2 (en) * 2005-11-09 2008-10-28 Stats Chippac Ltd. Integrated circuit package system including ribbon bond interconnect
WO2008089418A1 (en) * 2007-01-18 2008-07-24 Miteq, Inc. Microwave surface mount hermetically sealed package and method of forming the same
DE102007008464B4 (de) * 2007-02-19 2012-01-05 Hottinger Baldwin Messtechnik Gmbh Optischer Dehnungsmessstreifen
JP4656212B2 (ja) 2008-06-13 2011-03-23 ソニー株式会社 接続方法
SG169241A1 (en) 2009-08-12 2011-03-30 Sony Corp An integrated circuit
TW201352092A (zh) 2012-03-28 2013-12-16 Fujikura Ltd 配線基板
US20130265734A1 (en) * 2012-04-04 2013-10-10 Texas Instruments Incorporated Interchip communication using embedded dielectric and metal waveguides
US20130265733A1 (en) * 2012-04-04 2013-10-10 Texas Instruments Incorporated Interchip communication using an embedded dielectric waveguide
CN102856302B (zh) * 2012-09-14 2014-11-05 中国科学院半导体研究所 光子集成芯片匹配电路的三维封装装置

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5575301A (en) * 1978-12-01 1980-06-06 Hitachi Denshi Ltd Amplitude frequency characteristics compensating circuit at microwave band
JPS5939055A (ja) * 1982-08-26 1984-03-03 Sanken Electric Co Ltd 半導体装置の製造方法
US4600907A (en) * 1985-03-07 1986-07-15 Tektronix, Inc. Coplanar microstrap waveguide interconnector and method of interconnection
JPS63131970A (ja) * 1986-11-21 1988-06-03 松下冷機株式会社 冷蔵庫の強制冷却装置
JPS6431567A (en) 1987-07-27 1989-02-01 Honda Motor Co Ltd Production of fiber reinforced metallic member
US4967261A (en) * 1987-07-30 1990-10-30 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Tape carrier for assembling an IC chip on a substrate
JPH01315167A (ja) * 1988-03-01 1989-12-20 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体装置
JPH01293001A (ja) * 1988-05-20 1989-11-27 Fujitsu Ltd マイクロストリップ線路の接続構造
JPH01300546A (ja) 1988-05-30 1989-12-05 Sharp Corp 半導体デバイスパッケージングステム
JPH02185047A (ja) * 1989-01-12 1990-07-19 Nec Corp 半導体装置
JPH02237301A (ja) * 1989-03-10 1990-09-19 Nec Corp 同軸―マイクロストリップ線路変換器
JPH03131102A (ja) * 1989-10-17 1991-06-04 Mitsubishi Materials Corp 半導体素子と回路基板又はキャリヤとの接続方法
JPH07105608B2 (ja) * 1990-03-01 1995-11-13 三菱電機株式会社 マイクロ波集積回路収納ケース
US5086335A (en) * 1990-07-31 1992-02-04 Hewlett-Packard Company Tape automated bonding system which facilitate repair
JPH04180401A (ja) * 1990-11-15 1992-06-26 Hitachi Ltd 高周波伝送線路
JPH04212501A (ja) * 1990-12-06 1992-08-04 Fujitsu Ltd マイクロストリップラインの接続方法
JPH04284661A (ja) * 1991-03-13 1992-10-09 Toshiba Corp 半導体装置
US5296744A (en) * 1991-07-12 1994-03-22 Vlsi Technology, Inc. Lead frame assembly and method for wiring same
US5438305A (en) * 1991-08-12 1995-08-01 Hitachi, Ltd. High frequency module including a flexible substrate
JPH06188603A (ja) * 1992-12-21 1994-07-08 Mitsubishi Electric Corp マイクロ波回路
US5395227A (en) 1993-08-20 1995-03-07 Westinghouse Electric Corporation Adjustable powder flow gate for a rotary pellet press
US5821457A (en) * 1994-03-11 1998-10-13 The Panda Project Semiconductor die carrier having a dielectric epoxy between adjacent leads
US5491302A (en) * 1994-09-19 1996-02-13 Tessera, Inc. Microelectronic bonding with lead motion
JP2782053B2 (ja) * 1995-03-23 1998-07-30 本田技研工業株式会社 レーダーモジュール及びアンテナ装置
US5736784A (en) * 1996-10-31 1998-04-07 Hewlett-Packard Co. Variable-width lead interconnection structure and method

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150073116A (ko) * 2013-12-20 2015-06-30 탈레스 하이퍼주파수 상호접속 디바이스
JP2015122495A (ja) * 2013-12-20 2015-07-02 タレス 高周波相互接続素子
KR102298517B1 (ko) * 2020-02-28 2021-09-06 주식회사 웨이브피아 임피던스 매칭 기능이 내장된 알에프 칩 패키지용 리드 프레임
KR102298516B1 (ko) * 2020-02-28 2021-09-27 주식회사 웨이브피아 임피던스 매칭 기능이 내장된 허매틱 알에프 칩 패키지용 리드 프레임

Also Published As

Publication number Publication date
EP0803907A3 (en) 1999-07-28
US6331806B1 (en) 2001-12-18
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US5936492A (en) 1999-08-10
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DE69738340D1 (de) 2008-01-17

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