JP2001110942A - 高性能集積回路パッケージの一定インピーダンス配路 - Google Patents

高性能集積回路パッケージの一定インピーダンス配路

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体パッケージ等の誘電体基板上に高性能
な信号線路を設ける。 【解決手段】 誘電体基板上に構成されていて、高周波
で動作可能な電気接続ウエブが、漸次変化する幅及び可
変の間隔を持つ全体的に平行な複数個の信号線路を有す
る。幅及び間隔が、信号線路の特性インピーダンスが前
記複数個の各々の線路に対して大体同じになり、各々の
信号線路の長さに亙って大体一定になるように、合わせ
て選ばれていて、この為、各々の信号線路に対する信号
の完全さが高まり、線路の間のクロス・トークが減る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は全般的に半導体デ
バイス及び製法の分野、更に具体的に言えば、集積回路
集成体用に設計された高性能のプラスチック・ボール・
グリッド・アレイ・パッケージの構造と材料に関する。
【0002】
【従来の技術及び課題】ボール・グリッド・アレイ(B
GA)パッケージは、入出力(I/O)数が多い集積回
路(IC)チップに対する優れたパッケージ策として出
現した。BGAパッケージは、クワッド・フラット・パ
ッケージ(QFP)、小輪郭パッケージ(SOP)又は
テープ・キャリア・パッケージ(TCP)に見られるよ
うな「外界」(典型的にはプラスチック配線板PCB)
のどちらかと言えば敏感なパッケージ・リード線に対す
る面取付け接続用の頑丈なはんだボールを使う。BGA
の利点としては、組立て易さ、面取付け方法を使うこ
と、PCBの取付けに於ける故障率が小さいこと、配線
板の面積が経済的に利用されること及び環境応力の下で
の頑丈さ等が挙げられる。これは、セラミックBGAパ
ッケージに対してのみ以前は言えることであったが、最
近数年の間に、プラスチックBGAにも言えるようにな
った。PCB取付けに於ける高い品質及び信頼性の観点
から、BGAパッケージは、はんだ付けするリード線を
持つ従来のデバイスよりも、6シグマ故障率製造方式に
一層適している。
【0003】一般的にBGAパッケージはICチップ、
多層基板及び熱分散装置を含む。一般的にチップは、エ
ポキシのような伝熱性接着剤を用いて、熱分散装置の上
に取付けられる。熱分散装置は、熱エネルギを散逸する
為の低抵抗熱通路となり、この為、一貫性を持つ良好な
電気的な性能に必要なデバイスの動作中の改良された熱
的な性能にとって不可欠である。更に、熱分散装置は、
強化材として作用して、BGAパッケージに頑丈さを持
たせることにより、構造的及び機械的な支持をし、この
為、熱分散装置/強化材と呼ばれることがある。基板の
1つの層が、信号「平面」を含み、これが種々の信号通
路を作り、これは一端ではワイヤ・ボンディングを使っ
て対応するチップ・ボンド・パッドに(又はフリップ・
チップはんだ接続を使って接点パッドに)結合すること
が出来る。信号線路の他端が一般的にPCBを通じて他
の回路に対するはんだ「ボール」に結合される。こうい
うはんだボールがBGAでその名前で呼ばれるアレイを
形成する。更に、基板の1つの層として一般的にアース
平面が含められて、インダクタンスを下げ、制御された
インピーダンスを持たせ、クロス・トークを減らすこと
により、デバイスの全体的な性能を改善する為の能動的
なアース平面として作用する。こういう特徴は、BGA
のピン数が多ければ多くなる程、一層重要になる。BG
Aパッケージの利点と対照的に、BGAパッケージの現
在の解決策は、電力消費並びに高速ディジタル信号プロ
セッサ(DSP)及びミックスド・シグナル製品(MS
P)のようなデバイスに必要な高速動作に於ける信号の
完全さを保つ能力というような性能特性の点で遅れてい
る。電気的な性能の要求から、多層の銅被覆の樹脂基板
(従来はセラミックであった)を使う必要が強まってい
る。半導体デバイスのクロック周波数及び電流レベルが
増加するにつれて、パッケージの設計にも、受入れられ
る信号伝送及び電力及びアースの源を設けるという問題
が起こっている。安定な電力を供給することは、互いに
並びに信号トレースに対して正しく結合された多重平面
をパッケージ内に使うことによって達成されているのが
普通である。多くのデバイスでは、コア動作及び出力バ
ッファ源に独立の電源が必要であるが、アース源は共通
である。一層高速の場合には、ワイヤ・ボンディングで
はなく、フリップ・チップ集成体が導入されている。同
じパッケージの輪郭内でワイヤ・ボンディングに比較す
ると、フリップ・チップ集成体は、シリコン・コア回路
に対するIR降下が大幅に減少し、電力及びアースのイ
ンダクタンスがかなり減少し、信号インダクタンスが中
位に改善され、ピーク雑音に中位の違いが見られ、パル
ス幅の劣化が中位に減少する。
【0004】このような全ての電気的及び熱的な性能条
件を満たす為に、8つの金属層までも持つパッケージが
導入されている。しかし、多数の層を必要とすること
は、半導体デバイス・パッケージの全体的なコストの切
り下げに対する市場の強い要求に反する。この要求が、
電気的、熱的及び機械的な性能が影響を受けるとして
も、ごく僅かにするという制約を勿論付けながら、構造
及び材料を簡単にすることに対して研究が続けられてい
る理由である。この発明が関係する、1999年8月6
日に出願された米国特許出願通し番号#60/147、
596には、高性能のI/O数の多いプラスチックBG
Aの構造と製造方法が説明されている。金属層は2つし
かなく、その内の1つは専らアース平面に用いられてい
る。この為、パッケージは厚さが薄く、コストが安い。
しかし、残りの金属層は、I/O数の多いデバイスの全
部の信号及び電力線路がこの1つの層を共通に使わなけ
ればならないので、配路(route)密度が込み合ってい
る。その為、Vccインダクタンスが高くなりすぎて、
高速プロセッサ・デバイスには使えない。インダクタン
スが高いことは、受入れることが出来ない電気雑音及び
クロス・トークの原因であり、デバイスの速度の重大な
制約になる。今日の半導体パッケージ基板にある信号線
路は、混雑した線路の配置内で、線路を隣り合う線路に
対して一様でない間隔で配路しなければならないという
事実故、その特性インピーダンスが一定でない為に、そ
の電気的な性能(例えば、信号の完全さ及びクロス・ト
ーク)に難点がある。そこで、この悪循環を断ち切っ
て、特にBGAパッケージ構造で、誘電体基板上の低コ
ストだが、高性能な電気接続部の着想が緊急に求められ
ている。この構造は、異なる半導体製品系列並びに設計
及び組立ての変動の広いスペクトルに亙って用いること
が出来る位の融通性のある基本的な設計概念に基づくこ
とが好ましい。これは、電気的及び熱的な高い性能条件
を満たすだけでなく、プロセスの歩留まりを高め、装置
の信頼性を高めるという目標に向かって改善を達成すべ
きである。こういう革新が、新しい製造機械の投資を必
要としないように、既に設置されている設備を基本とし
て達成されることが好ましい。
【0005】
【発明の要約】この発明では、誘電体基板上に構成され
ていて高周波で動作可能な電気接続ウエブが提供され
る。この電気接続ウエブは、漸次変化する幅及び可変の
間隔を持つ全体的に平行な複数個の信号線を有し、この
幅及び間隔は、前記信号線路の特性インピーダンスが前
記複数個の内の各々の線路に対して大体同じであると共
に、各々の信号線路の長さに亙って大体一定となるよう
に、合わせて選ばれており、この為、各々の信号線路に
対する信号の完全さが高まり、線路の間のクロス・トー
クが減少する。電磁理論により、角周波数ωの交流電流
のインピーダンスZは次の式で表される。 Z=(R2+X2)E1/2 この式で、抵抗Rは、高周波表皮効果を考慮に入れたオ
ーミック抵抗であり、リアクタンスXはインダクタンス
ωL及び静電容量1/ωCに対して次の関係にある。 X=ωL=1/ωC 周波数ωが高くなると、インダクタンスLのリアクタン
スX及びインピーダンスZに対する寄与が増加し、静電
容量Cの寄与が減少する。電流及び電圧の間の位相差は
普通φで表される。このとき次の関係が成立する。 sinφ=−X/Z cosφ=R/Z tgφ=−X/R 2つのインピーダンスZ1(抵抗R1、リアクタンスX
1及び位相差φ1を持つ)及びZ2(抵抗R2、リアク
タンスX2及び位相差φ2を持つ)が直列に入っている
とき、合計インピーダンスは次のようになる。Ztot
al=[Z12+Z22+2Z1Z2cos(φ1−φ
2)]E1/22つのインピーダンスZ1及びZ2が並列
になっているとき、合計インピーダンスZtotalは
次のようになる。 1/Ztotal=[1/Z12+1/Z22+2/(Z
1Z2)cos(φ1−φ2)]E1/2 ICパッケージ内に信号線路を設計するとき、個別の線
路を一様な幅及び向きを持つ幾つかのセグメントで構成
されているものと考えるのが役に立つ。このとき個別の
線路のインピーダンスZselfはセグメントのインピ
ーダンスを直列にした和である。
【0006】更に、複数個の線路を隣接する隣りに従属
する線路で構成されていると見なすのが役に立つ。この
とき、複数個のインピーダンスZmutualは、並列
になっている線路インピーダンスの和である。このと
き、パッケージ内にある信号線路の特性インピーダンス
Ztotalは、Zself及びZmutualの和で
ある。 Ztotal=Zself+Zmutual(ベクトル
加算) パッケージはZtotalの特定の値に対して設計する
のが普通である。信号線路に沿って進む信号は、Zse
lf及びZmutualの何れかの変化の為に、特性イ
ンピーダンスZtotalが一定に留まらないときに
は、歪みを受ける。複数個の導体の配置に対するインピ
ーダンスを計算する基本的な数学が、IBM J.Re
s.Develop.誌、第16巻、470−481ペ
ージ(1972年)所載のA.E.リューリの論文「複
雑な集積回路の環境に於けるインダクタンスの計算」に
述べられている。式の解はコンピュータ・プログラムで
求めるのが有利である。アース電位にある平面に対する
導体のインダクタンスを計算するとき、相対的な形状を
考慮しなければならない。この計算では、インダクタン
スは、導体の幅又は面積に反比例して表される。従っ
て、導体の面積を増加することにより、インダクタンス
を減らすことが出来る。
【0007】この発明の一面は、 *Zmutualの打ち消すような変化を通じたZse
lfの変化と *Zselfの打ち消すような変化を通じたZmutu
alの変化 を補償することにより、Ztotalを一定に保つこと
である。こういう打ち消すような変化が、信号線路の幅
及び間隔を合わせて選ぶことによって得られ、こうし
て、特性インピーダンスを大体一定に保つという目標に
向けて、Zself及びZmutualに対するオーミ
ック及び容量性の寄与を修正する。この発明の別の一面
は、線路の面積を増加することにより、アース電位に対
する信号線路のインダクタンスを下げる方法を提供する
ことである。この発明の別の一面は、現存の半導体製造
方法を利用し、取付けられている製造設備を使うことに
よって、設備の変更のコスト及び新しい資本投下をせず
に、電気デバイスの目標に到達することである。この発
明の別の一面は、相異なる高性能半導体デバイス系列、
並びに高速で大電力の設計及び組立ての変動の広いスペ
クトルに用いることが出来る位の融通性を持つような設
計及び製造の解決策を提供することである。これらの面
が、高速半導体デバイスに対する誘電体基板上の信号線
路の電気的な設計によって達成された。特に、この発明
による設計は、高性能集積回路に対するI/O数の多い
ボール・グリッド・アレイ・パッケージにある多層基板
の上の高速信号線路の配置に適用された。この発明が表
す技術的な進歩並びにその色々な面は、添付図面並びに
特許請求の範囲に記載される新規な特徴と共に考慮する
とき、この発明の好ましい実施例を以下説明するところ
から明らかになろう。
【0008】
【実施例】図1は、複数個の導電性信号線路101、1
02及び103がデポジットされ又は埋込まれた誘電体
基板100を示す。実際には、図1には信号線路の小さ
な一部分しか示していない。線路は一様な幅110で配
路されている。その為、これらの線路の自己インピーダ
ンスは、一様な幅を持つ長さに亙って一定である。検査
マーク120が示すように、複数個の信号線路内には、
1本の線路の他の隣りの線路に対する間隔121が一様
である領域がある。こういう領域では、信号線路が平行
に伸びている。この為、1本の線路から別の線路への相
互インピーダンスは一定であり、更にこの検査マーク領
域120内にある信号線路の特性インピーダンスが一定
である。こういう結果は、特性インピーダンスが、その
何れもオーミック、静電容量及びインダクタンスの寄与
の関数である自己インピーダンス及び相互インピーダン
スの(ベクトル)和であるという前に引用した関係式に
基づいている。検査マーク130が示すように、複数個
の信号線路には、1本の線路と他の隣りの線路との間隔
が一様ではない別の領域がある。間隔が場所に対して
「可変」である(しかし、時間に対してはそうではな
い)。従って、1本の線路から別の線路への相互インピ
ーダンスが一定ではなく、局部的に可変であり、更に、
この検査マーク領域130内にある信号線路の特性イン
ピーダンスが一定ではない。この結果も、特性インピー
ダンスは、その何れもオーミック、静電容量及びインダ
クタンスの寄与の関数である自己インピーダンス及び相
互インピーダンスの(ベクトル)和であるという前に引
用した関係に基づいている。インピーダンスが局部的に
可変であるという事実は、信号線路に沿って進む高周波
信号の完全さにとって、従って線路のクロス・トーク、
電気雑音並びに最終的にデバイスの速度にとって、有害
な結果を持つ。この発明の解決策が図2に示されてい
る。可変の線路間隔がある領域、従って相互インピーダ
ンスが可変である領域では、相互インピーダンス及び自
己インピーダンスの(ベクトル)和が大体一定に留まる
ように、自己インピーダンスを修正する。
【0009】図2は、複数個の導電性信号線路201、
202及び203をデポジットした又は埋込んだ誘電体
基板200を示している。実際には、図2に示すのは信
号線路の内の小さな一部分だけである。線路は、一様な
幅210又は211の領域、及び「漸次変化する」幅2
12、213、214の別の領域を持つように配路され
ている。この明細書でいう「漸次変化する」という言葉
は、滑らかであっても、突然であっても、局部的に可変
の変化をいう為に用いられており、具体的には、位置の
関数としての電気導体の幾何学的な幅を指す。漸次変化
する線路幅の結果として、各々の線路の自己インピーダ
ンスが一定ではなく、その代りに一様でない線路幅を持
つ長さに亙って局部的に可変である。検査マーク220
で示すように、複数個の信号線路の中には、1本の線路
と隣り合う別の線路との間隔221が一様である領域が
ある。こういう領域では、信号線路が平行に伸びる。そ
の為、1本の線路から別の線路への相互インピーダンス
が一定であり、更にこの検査マーク領域220にある信
号線路の特性インピーダンスが一定である。この結果
は、特性インピーダンスが自己インピーダンス及び相互
インピーダンスの(ベクトル)和であるという前に引用
した結果に基づいている。検査マーク230に示すよう
に、複数個の信号線路の中には、1本の線路と隣りの別
の線路との間隔が一様ではない別の領域がある。間隔が
位置に対して可変である。その為、1本の線路から別の
線路への相互インピーダンスが一定ではなく、局部的に
可変であり、更に、この検査マーク領域230内にある
信号線路の特性インピーダンスが一定ではない。図2に
示すように、自己インピーダンスの打ち消すような変化
により、相互インピーダンスの局部的な変動を補償する
ことがこの発明の重要な特長である。任意の選ばれた検
査マーク、例えば230のところで、各々の信号線路の
幅、従って各々の信号線路の自己インピーダンスを変更
して、それが(少なくとも大体は)相互インピーダンス
の変化を埋合わせ、こうして特性線路インピーダンスを
(少なくとも近似的に)一定に保つようにする。例とし
て、ICの設計で、60Ωの特性インピーダンスが要求
される場合、この発明は、平行な線路の配置を持つ信号
線路の領域でも、発散形の線路の配置を持つ領域でも、
必要に応じて各々の線路の幅を漸次変化させることによ
って、この値を達成する方法を提供する。減少する相互
インピーダンスを増加する自己インピーダンスに置き換
える。
【0010】この発明の方法は、逆の方式を取ることが
出来る。自己インピーダンスの任意の変化を、相互イン
ピーダンスのそれを打ち消すような変化によって補償す
ることにより、特性インピーダンスを一定に保つことが
出来る。可変の線路間隔は漸次変化する線路幅と合わせ
て設計する。更にこの発明の方法は、信号線路の幅21
0及び211が同一ではないとき(図2参照)、平行な
線路の配置を持つ領域内で、補償方式を取ることが出来
るようにする。この場合、線路間隔221を修正して、
予定の特性インピーダンスの値を達成することが出来
る。信号及び電力線路に接近してアース電位の平面を持
つパッケージでは、この発明の方法を用いて、各々の信
号線路のインダクタンスを減らすことが出来る。前に述
べたように、インダクタンスは、導体の面積又は幅に反
比例するので、導体の幅を増加することによって減らす
ことが出来る。図2は、一層広い信号線路の幅及び著し
く漸次変化する線路の幅の例を示している。このような
増大した線路面積に対し、インダクタンスが減少し、従
って特性インピーダンスが減少する。従って、パッケー
ジの高周波性能、特に動作速度を改善することが出来
る。この方法は任意の誘電体基板の信号の配置に用いる
ことが出来る。その例は、全般的に印刷配線板、集成体
のマザーボードであり、半導体デバイスでは、ボール・
グリッド・アレイ・パッケージの基板である。後に述べ
た例では、基板は典型的には2つの面を持つ絶縁層で構
成される。第1のパターンぎめ金属層が、アース電位に
しようとする一方の面に取付けられ、第2のパターンぎ
め金属層が、信号及び電力線路にしようとする他方の面
に取付けられる。この発明では、この第2の金属層は、
各々の線路に対して各々の信号線路の特性インピーダン
スを大体同じにすると共に、各々の信号線路に長さに亙
って大体一定に保つ為に、漸次変化する幅及び可変の間
隔を持つ複数個の信号線路を有する。更に、アース電位
層に対するこれらの信号線路のインダクタンスを最小に
する。その結果、各々の線路に対する信号の完全さが高
められ、線路の間のクロス・トーク及び全体的なパッケ
ージの雑音が減り、パッケージの速度が改善する。集積
回路チップを接着剤によって基板に取付け、ボンディン
グ・ワイヤによって電気的に接続してもよいし、或いは
はんだバンプを用いてフリップ式に取付けることが出来
る。最後に、基板が、基板に取付けられたはんだボール
又は簡単な締付け機構を使って、他のデバイスに電気的
に接続される。
【0011】図3は略正確な拡大率で描いているが、簡
単にしてある。この図は、基板302に取付けられたチ
ップ301を持つボール・グリッド・アレイ・パッケー
ジの一象限を示しており、これを全体として300で表
す。はんだボール303のアレイが信号線路の終点とな
る。僅かな信号線路しか示していない。電力線路は図に
示していない。全体を310で示した拡大図は、ワイヤ
・ボンディング312によってチップ313に接続され
た複数個の信号線路311を示している。信号線路は定
率で拡大され(はんだボールのピッチ320によって決
定される)て示されており、一定のインピーダンスで配
路されるように可変の間隔及び漸次変化する幅を持って
いる。特性(全体)インピーダンスが一定になるよう
に、前に引用した式を使って、各区間の自己インピーダ
ンス及び相互インピーダンスを計算する。例としていう
と、高い相互インピーダンスの領域にある縮小した線路
幅314又は低い相互インピーダンスの領域にある増大
した線路幅315に注意されたい。この発明を実施例に
ついて説明したが、この説明はこの発明を制約するもの
と解してはならない。以上の説明を読めば、当業者には
実施例の種々の変更や組合せ並びにその他の実施例が容
易に考えられよう。一例として、半導体チップの材料は
シリコン、シリコン・ゲルマニウム、砒化ガリウム又は
製造に使われているその他の任意の半導体材料で構成す
ることが出来る。別の一例として、パッケージはBGA
パッケージ又はその他の任意の半導体デバイス・パッケ
ージであってよい。更に別に一例として、信号(並びに
電力)線路は基板上にデポジットしてもよいし、或いは
基板上に埋込んでもよい。種々の金属又はその他の導電
材料を使うことが出来る。従って特許請求の範囲は、こ
のような変更又は実施例を含むことを承知されたい。
【0012】以上の説明に関し、更に以下の項目を開示
する。 (1) 誘電体基板上に構成されていて高周波で動作可
能な電気接続ウエブに於て、漸次変化する幅及び可変の
間隔を持つ全体的に平行な複数個の信号線路を含み、前
記幅及び間隔は、前記信号線路の特性インピーダンスが
前記複数個の各々の線路に対して大体同じになり、且つ
各々の信号線路の長さに亙って大体一定になるように、
合わせて選ばれており、この為、各々の信号線路に対す
る信号の完全さが高まり、前記線路の間のクロス・トー
クが減少する電気接続ウエブ。 (2) 第1項に記載の電気接続ウエブに於て、前記誘
電体基板が印刷配線板である電気接続ウエブ。 (3) 第1項に記載の電気接続ウエブに於て、前記誘
電体基板が集積回路パッケージの一部分である電気接続
ウエブ。
【0013】(4) 複数個の信号線路を含み、各々の
信号線路は、一様な幅を持つ少なくとも1つの第1のセ
グメント及び漸次変化する幅を持つ少なくとも1つの第
2のセグメントで構成される幾何学的な形を持ってお
り、各セグメントは前記線路の自己インピーダンスに寄
与し、各々の線路が前記複数個の特性インピーダンスに
寄与し、各々の信号線路はそれに隣接した線路に対し
て、前記第1の線路セグメントが前記隣接する線路の前
記第1のセグメントに対して一様な間隔であって、前記
特性インピーダンスに一定の相互インピーダンスを寄与
するように幾何学的に位置ぎめされており、更に各々の
信号線路はそれに隣接する線路に対して、前記第2のセ
グメントがそれに隣接する線路の前記第2のセグメント
に対して可変の間隔になって、前記特性インピーダンス
に可変の相互インピーダンスを寄与するように幾何学的
に位置ぎめされており、前記漸次変化する線路幅及び前
記可変の幾何学的な位置は各々の信号線路に対して、特
性インピーダンスが各々の信号線路の長さに亙って大体
一定であると共に、前記複数個の内の各々の線路に対し
て大体同じになるように、合わせて選ばれていて、この
為各々の線路に対する信号の完全さが高まると共に前記
線路の間のクロス・トークが減るようにした高性能集積
回路パッケージ基板。 (5) 第4項に記載の高性能集積回路パッケージ基板
に於て、前記集積回路パッケージがボール・グリッド・
アレイ・パッケージである高性能集積回路パッケージ基
板。 (6) アース平面及び信号兼電力平面を含む基板を有
する高性能集積回路パッケージに於て、前記信号兼電力
平面内に複数個の信号線路を含み、各々の線路は一様な
幅を持つ少なくとも1つの第1のセグメント及び漸次変
化する幅を持つ少なくとも1つの第1の第2のセグメン
トで構成される幾何学的な形を持っていて、各セグメン
トが前記アース平面に対する前記線路のインダクタンス
に寄与し、前記第2のセグメントは各々の線路のインダ
クタンスを減らすように構成され、その為、各々の線路
の特性インピーダンスが減少すると共にパッケージの性
能が高まるようにした高性能集積回路パッケージ。
【0014】(7) ボール・グリッド・アレイ・パッ
ケージとして組立てられた高性能のI/O数の多い集積
回路に於て、2つの面を持つ絶縁層及び各々の前記面に
取付けられたパターンぎめ層を持つ基板を有し、一方の
前記金属層はアース電位を持ち、他方の金属層は信号及
び電力線路となり、前記信号線路は漸次変化する幅及び
可変の間隔を持っていて、信号線路の特性インピーダン
スが各々の線路に対して大体同じになると共に、前記ア
ース電位層に対する前記線路のインダクタンスが最小に
なるように構成され、この為、信号の完全さが改善さ
れ、パッケージの雑音及びクロス・トークが減少し、更
に、前記基板に取付けられた集積回路チップと、前記基
板に取付けられたはんだボールとを含む高性能のI/O
数の多い集積回路。 (8) 誘電体基板上に構成されていて、高周波で動作
可能な電気接続ウエブが、漸次変化する幅及び可変の間
隔を持つ全体的に平行な複数個の信号線路を有する。幅
及び間隔が、信号線路の特性インピーダンスが前記複数
個の各々の線路に対して大体同じになり、各々の信号線
路の長さに亙って大体一定になるように、合わせて選ば
れていて、この為、各々の信号線路に対する信号の完全
さが高まり、線路の間のクロス・トークが減る。
【図面の簡単な説明】
【図1】半導体パッケージ用の誘電体基板上の配置とし
て用いられる高速信号線路の一部分の簡略斜視図。
【図2】この発明の考えを用いて修正された、半導体パ
ッケージ用の誘電体基板上にある高速信号線路の一部分
の簡略斜視図。
【図3】Aはボール・グリッド・アレイ・パッケージ基
板上にある複数個の信号線路の内の一部分の簡略断面
図。Bは図3Aの一部分の拡大図であって、ボール・グ
リッド・アレイ・パッケージ基板上にある複数個信号線
路の一部分の平面図であり、略正確な拡大率で描いてあ
る。
【符号の説明】
200 誘電体基板 201、202、203 導電性信号線路 212、213、214 「漸次変化する」幅 220、230 検査マーク 221 線路間隔

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 誘電体基板上に構成されていて高周波で
    動作可能な電気接続ウエブに於て、 漸次変化する幅及び可変の間隔を持つ全体的に平行な複
    数個の信号線路を含み、 前記幅及び間隔は、前記信号線路の特性インピーダンス
    が前記複数個の各々の線路に対して大体同じになり、且
    つ各々の信号線路の長さに亙って大体一定になるよう
    に、合わせて選ばれており、この為、各々の信号線路に
    対する信号の完全さが高まり、前記線路の間のクロス・
    トークが減少する電気接続ウエブ。
  2. 【請求項2】 アース平面及び信号兼電力平面を含む基
    板を有する高性能集積回路パッケージに於て、 前記信号兼電力平面内に複数個の信号線路を含み、各々
    の線路は一様な幅を持つ少なくとも1つの第1のセグメ
    ント及び漸次変化する幅を持つ少なくとも1つの第1の
    第2のセグメントで構成される幾何学的な形を持ってい
    て、各セグメントが前記アース平面に対する前記線路の
    インダクタンスに寄与し、 前記第2のセグメントは各々の線路のインダクタンスを
    減らすように構成され、その為、各々の線路の特性イン
    ピーダンスが減少すると共にパッケージの性能が高まる
    ようにした高性能集積回路パッケージ。
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