JP7159700B2 - X線分析装置 - Google Patents
X線分析装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7159700B2 JP7159700B2 JP2018161218A JP2018161218A JP7159700B2 JP 7159700 B2 JP7159700 B2 JP 7159700B2 JP 2018161218 A JP2018161218 A JP 2018161218A JP 2018161218 A JP2018161218 A JP 2018161218A JP 7159700 B2 JP7159700 B2 JP 7159700B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- analysis
- electron beam
- characteristic
- ray
- scanning speed
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/207—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
- G01N23/2076—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions for spectrometry, i.e. using an analysing crystal, e.g. for measuring X-ray fluorescence spectrum of a sample with wavelength-dispersion, i.e. WDXFS
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
図1は、本開示の実施の形態に従うX線分析装置の一例であるEPMAの全体構成図である。図1を参照して、EPMA100は、電子銃1と、偏向コイル2と、対物レンズ3と、試料ステージ4と、試料ステージ駆動部5と、複数の分光器6a,6bを備える。また、EPMA100は、制御部10と、データ処理部11と、偏向コイル制御部12と、操作部13と、表示部14とをさらに備える。電子銃1、偏向コイル2、対物レンズ3、試料ステージ4、及び分光器6a,6bは、図示しない計測室内に設けられ、X線の計測中は、計測室内は排気されて真空に近い状態とされる。
EPMA100では、試料S上の微小領域(たとえばμmオーダーの領域)における含有元素の分布状況の詳細な分析が可能である(マッピング分析や線分析)。所望の分析結果を得るためには、適切な「視野探し作業」が重要である。この視野探し作業は、試料ステージの位置や倍率等を調整して視野を所望の分析位置に設定することのほか、分析対象の元素毎(特性X線の波長毎)に適切な分光器(分光結晶)を設定することや、分析対象元素の分布が観察できるように電子線Eの走査速度及び/又はビーム電流を適切に調整することを含む。
Claims (4)
- 電子線が照射された試料から発生する特性X線を計測することによって前記試料を分析するX線分析装置であって、
前記試料上の分析対象領域において前記電子線を所定の走査速度で走査させるように構成された走査装置と、
前記特性X線を検出するように構成された検出装置と、
前記検出装置により検出される前記特性X線に基づいて前記分析対象領域の分析を行なうように構成された制御装置とを備え、
前記制御装置は、
前記検出装置により検出される特性X線に基づいて定性分析を実行し、
前記定性分析の結果から分析対象の各元素の分析に用いる特性X線のピーク強度を取得し、
電子線が照射された前記試料から発生する特性X線の強度と、前記分析対象領域の分析を可能とする前記走査速度との予め準備された関係を用いて、前記各元素のピーク強度のうち最低のピーク強度を有する特性X線の強度に基づいて前記走査速度を決定し、
決定された走査速度で前記走査装置により前記電子線を走査させて、前記定性分析により同定された含有元素について詳細分析を実行するように構成され、
前記定性分析は、前記含有元素の同定とともに、同定された含有元素のピーク強度の検出を含み、
前記制御装置は、
前記定性分析の実行時は、前記電子線を照射するためのビーム電流を第1のビーム電流に設定し、
前記詳細分析の実行時は、前記ビーム電流を前記第1のビーム電流よりも小さい第2のビーム電流に設定し、
前記定性分析において検出されるピーク強度のうち最低のピーク強度を前記第2のビーム電流での強度に換算し、その換算された強度に基づいて、前記詳細分析における走査速度を決定するように構成される、X線分析装置。 - 前記電子線を発生するように構成された電子線発生装置をさらに備え、
前記制御装置は、前記関係を用いて前記走査速度を決定できない場合には、前記電子線のビーム電流の大きさを変更するように前記電子線発生装置を制御する、請求項1に記載のX線分析装置。 - 前記制御装置は、前記分析対象領域の分析を可能とする前記走査速度のうち最も速度の高い走査速度を選択する、請求項1又は請求項2に記載のX線分析装置。
- 前記特性X線の波長毎に設けられ、前記特性X線を波長毎に分光する複数の分光器をさらに備え、
前記検出装置は、前記複数の分光器に対応して設けられる複数の検出器を含む、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載のX線分析装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018161218A JP7159700B2 (ja) | 2018-08-30 | 2018-08-30 | X線分析装置 |
CN201910817032.3A CN110873725B (zh) | 2018-08-30 | 2019-08-30 | X射线分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018161218A JP7159700B2 (ja) | 2018-08-30 | 2018-08-30 | X線分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020034420A JP2020034420A (ja) | 2020-03-05 |
JP7159700B2 true JP7159700B2 (ja) | 2022-10-25 |
Family
ID=69667809
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018161218A Active JP7159700B2 (ja) | 2018-08-30 | 2018-08-30 | X線分析装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7159700B2 (ja) |
CN (1) | CN110873725B (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7268620B2 (ja) * | 2020-02-28 | 2023-05-08 | 株式会社三洋物産 | 遊技機 |
JP7268621B2 (ja) * | 2020-02-28 | 2023-05-08 | 株式会社三洋物産 | 遊技機 |
JP7268625B2 (ja) * | 2020-02-28 | 2023-05-08 | 株式会社三洋物産 | 遊技機 |
JP7268624B2 (ja) * | 2020-02-28 | 2023-05-08 | 株式会社三洋物産 | 遊技機 |
JP7268623B2 (ja) * | 2020-02-28 | 2023-05-08 | 株式会社三洋物産 | 遊技機 |
JP7200193B2 (ja) * | 2020-11-09 | 2023-01-06 | 日本電子株式会社 | X線測定装置、x線測定方法及び機械学習方法 |
CN112730495A (zh) * | 2020-12-04 | 2021-04-30 | 中国地质大学(武汉) | 一种提高特征x射线强度值的测试方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000214111A (ja) | 1999-01-21 | 2000-08-04 | Jeol Ltd | 電子プロ―ブマイクロアナライザ |
JP2005326253A (ja) | 2004-05-14 | 2005-11-24 | Jeol Ltd | 元素濃度測定装置 |
JP2006105792A (ja) | 2004-10-05 | 2006-04-20 | Niigata Tlo:Kk | 生体組織中の微量元素分析装置、試料台及びこれを用いた分析方法 |
JP2008026251A (ja) | 2006-07-25 | 2008-02-07 | Shimadzu Corp | X線分析装置 |
US20180033589A1 (en) | 2016-07-31 | 2018-02-01 | Fei Company | Electron microscope with multipe types of integrated x-ray detectors arranged in an array |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5224585A (en) * | 1975-08-20 | 1977-02-24 | Hitachi Ltd | X-ray analysis apparatus |
JP2674010B2 (ja) * | 1986-09-29 | 1997-11-05 | 株式会社島津製作所 | 電子線照射装置 |
JPH03154855A (ja) * | 1989-11-13 | 1991-07-02 | Shimadzu Corp | X線回折装置 |
JPH0712762A (ja) * | 1993-06-25 | 1995-01-17 | Shimadzu Corp | 電子線照射による試料表面の面分析法 |
JPH10189414A (ja) * | 1996-12-26 | 1998-07-21 | Nikon Corp | X線投影露光装置及びx線投影露光方法 |
JP3759524B2 (ja) * | 2003-10-17 | 2006-03-29 | 株式会社リガク | X線分析装置 |
EP2198783B1 (en) * | 2008-12-19 | 2016-10-12 | Cefla S.C. | Apparatus and method for digital X-ray scanning |
WO2011070519A1 (en) * | 2009-12-10 | 2011-06-16 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Scanning system for differential phase contrast imaging |
US8989348B2 (en) * | 2011-11-18 | 2015-03-24 | Visuum, Llc | Multi-linear X-ray scanning systems and methods for X-ray scanning |
DE112015000841T5 (de) * | 2014-02-18 | 2016-11-03 | Horiba, Ltd. | Röntgenanalysegerät und Computerprogramm |
JP6709377B2 (ja) * | 2016-03-30 | 2020-06-17 | 株式会社リガク | 蛍光x線分析装置および蛍光x線分析方法 |
-
2018
- 2018-08-30 JP JP2018161218A patent/JP7159700B2/ja active Active
-
2019
- 2019-08-30 CN CN201910817032.3A patent/CN110873725B/zh active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000214111A (ja) | 1999-01-21 | 2000-08-04 | Jeol Ltd | 電子プロ―ブマイクロアナライザ |
JP2005326253A (ja) | 2004-05-14 | 2005-11-24 | Jeol Ltd | 元素濃度測定装置 |
JP2006105792A (ja) | 2004-10-05 | 2006-04-20 | Niigata Tlo:Kk | 生体組織中の微量元素分析装置、試料台及びこれを用いた分析方法 |
JP2008026251A (ja) | 2006-07-25 | 2008-02-07 | Shimadzu Corp | X線分析装置 |
US20180033589A1 (en) | 2016-07-31 | 2018-02-01 | Fei Company | Electron microscope with multipe types of integrated x-ray detectors arranged in an array |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
日本工業規格 JIS K 0190:2010 マイクロビーム分析-電子プローブマイクロ分析- 波長分散X線分光法による点分析における定性分析のための指針,2010年,https://www.kikakurui.com/k0/K0190-2010-01.html |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2020034420A (ja) | 2020-03-05 |
CN110873725B (zh) | 2022-11-25 |
CN110873725A (zh) | 2020-03-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7159700B2 (ja) | X線分析装置 | |
JP4874697B2 (ja) | 電子プローブx線分析装置及びその動作方法 | |
KR101399505B1 (ko) | 에너지 분산형 형광 분석기의 프레임 누적 스캔 방법 | |
JP2010048727A (ja) | X線分析装置及びx線分析方法 | |
JP2014182123A (ja) | 複数画像の計測 | |
JP3980856B2 (ja) | 電子顕微鏡における分析方法 | |
US8279225B2 (en) | Element mapping apparatus and element mapping image display method | |
US11609191B2 (en) | Analyzer | |
JP6851283B2 (ja) | 画像処理装置、分析装置、および画像処理方法 | |
JP6010547B2 (ja) | X線分析装置 | |
JP2005188933A (ja) | Tftアレイ検査装置 | |
CN112394079A (zh) | 电子束微区分析仪 | |
JP2008089325A (ja) | 電子プローブマイクロアナライザによる地質年代測定法 | |
JP7153324B2 (ja) | 元素分析方法 | |
CN112534248B (zh) | 荧光x射线分析装置 | |
JP4349146B2 (ja) | X線分析装置 | |
JP6809356B2 (ja) | X線画像表示装置、x線画像表示方法及びx線画像表示プログラム | |
JP4788512B2 (ja) | X線分析装置 | |
JP2009047450A (ja) | 試料分析方法及び試料分析装置 | |
WO2023223777A1 (ja) | 補正方法、分析装置およびプログラム | |
JP7472512B2 (ja) | 分析装置および分析装置の制御方法 | |
JPH09178680A (ja) | X線マイクロアナライザ等におけるスペクトル表示装置 | |
JP2022148891A (ja) | X線像の表示方法およびx線分析装置 | |
US20230083479A1 (en) | Scatter Diagram Display Device, Scatter Diagram Display Method, and Analyzer | |
JP5359681B2 (ja) | X線スペクトル表示処理装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20181018 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20201202 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210830 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210914 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20211112 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220412 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220609 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220913 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220926 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 7159700 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |