JP4882455B2 - 半導体集積回路のユニットセルおよびユニットセルを使用した配線方法および配線プログラム - Google Patents

半導体集積回路のユニットセルおよびユニットセルを使用した配線方法および配線プログラム Download PDF

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Description

本発明は、半導体集積回路装置のレイアウトにおける基本単位を構成するユニットセル、更にこのユニットセルを使用した配線方法および配線プログラムに関するものであり、特に、ゲートアレイ方式やスタンダードセル方式の半導体集積回路装置に使用されるユニットセル、そしてこのユニットセルを使用した配線方法および配線プログラムに関するものである。
従来より、ユニットセルをマトリクス状に配置して構成した機能回路ブロックを、配置するゲートアレイ方式やスタンダードセル方式等の半導体集積回路装置がある。スタンダードセル方式では図5に示すように、各種のユニットセル(図5における矩形形状の各領域)をマトリクス状に配置することで、機能回路ブロック120が構成される。
各ユニットセルの最下層の第1メタル配線層には、ユニットセルをX方向に貫いて帯状の電源配線が形成されている。よってユニットセルの配置が行われ、機能回路ブロック120が構成されると、隣接するユニットセル間で互いに電源端子が接触して、いわゆるパワーレールと呼ばれるX方向の帯状の電源配線103が第1メタル配線層に配線される。また図5の機能回路ブロック120では、第2メタル配線層はY方向、第3メタル配線層はX方向、第4メタル配線層はY方向にそれぞれ配線が行われるとする。
ここで、電源配線103に電流が集中することを防止するための補助電源配線を配線する場合を説明する。補助電源配線は、機能回路ブロック120をY方向に貫いて電源配線103の上層に配線され、電源配線103と接続される。
ここで例えば、ユニットセルのセル枠上には、第1メタル配線層の信号端子が形成されない場合には、Y方向のセル枠上の第2メタル配線層に、補助電源配線を配線する方法が考えられる。第2メタル配線層の補助電源配線によって、第1メタル配線層の信号端子が隠されてしまう事態が生じないためである。しかし、機能回路ブロック120を構成する各々のユニットセルのX方向の幅は、互いに相関を有しない値である。すると、セル枠のX座標を揃えてユニットセルを敷き詰めることができない。よって、機能回路ブロック120をY方向へ貫いて、セル枠を配置することができない。すると、セル枠を用いて、機能回路ブロック120をY方向へ貫く補助電源配線を第2メタル配線層に形成することができない。
また図5の補助電源配線104に示すように、Y方向のセル枠以外の部分に、機能回路ブロック120をY方向に貫く補助電源配線を形成する方法が考えられる。しかしこの場合には、補助電源配線104を第2メタル配線層には配線せずに、さらに上層の第4メタル配線層へ迂回させて配線する必要があった。補助電源配線104を第2メタル配線層に形成すると、第1メタル配線層の信号端子が隠されてしまう結果、信号端子から信号配線を引き出せなくなる事態が生じうるためである。
尚、上記の関連技術として特許文献1および2が開示されている。
特開2004−71878号公報 特開昭61−207031号公報
第1メタル配線層に配線される電源配線103と、第4メタル配線層に配線される補助電源配線104との交差部には、第2メタル配線層、第3メタル配線層および各メタル配線層をつなぐビアが積み上がるスタックビアが存在する。そして、当該スタックビアを有する各ユニットセルにおいては、ユニットセル内のランダムなX座標の位置に、スタックビアが形成されることになる。すると、第2メタル配線層に形成される信号配線や、第3メタル配線層に形成される各種配線が、スタックビアにより阻害されることにより、配線効率が低下するため問題である。また、補助電源配線104が第2メタル配線層に配線される場合には、補助電源配線104によって信号配線が阻害されるため論理セルの配線が行えず、その結果集積度が低下するので問題である。
また、スタックビアによる信号配線の妨害を少なくするために、補助電源配線104を減少させることが考えられる。しかし補助電源配線104を減少させると、補助電源配線4同士のピッチが広がることにより、電源配線103の集中電流を緩和することが出来なくなる。するとエレクトロマイグレーションや、電圧降下などの特性劣化が生じるため問題である。
また補助電源配線104同士のピッチを広げるためには、電源配線103の許容電流量を増加させるために電源配線103の配線幅を太くする必要がある。すると配線幅の増加に伴ってユニットセルのY方向の高さが高くなる結果、集積度の低下を招くため問題である。
本発明は前記背景技術の課題の少なくとも1つを解消するためになされたものであり、ユニットセルを利用して機能回路ブロックあるいは半導体集積回路装置をレイアウトする際に、配線効率の向上を図ることが可能な半導体集積回路のユニットセル、およびユニットセルを使用した配線方法および配線プログラムを提供することを目的とする。
前記目的を達成するために、本発明におけるユニットセルでは、半導体集積回路装置のレイアウトにおける矩形状の基本単位を構成し、第1方向に第1電源配線が配線されるユニットセルにおいて、第1電源配線と同じ第1配線層に形成される信号配線と、信号配線と上層の配線層とを接続可能とする配線接続部とを備える入出力端子と、第1方向と直交する第2方向のユニットセルのセル辺から、第1方向へユニットセルの基本のセル幅と同等な距離離れた位置に、第2方向にユニットセルを貫いて第1配線層の直上の第2配線層に形成される上層配線用領域とを備え、入出力端子は、少なくとも一つの配線接続部が上層配線用領域の領域外に存在するように配置されることを特徴とする。
ユニットセルは、半導体集積回路装置のレイアウトにおける矩形状の基本単位である。ユニットセルは、各種の論理回路ごとに複数種類が存在する。ユニットセルには、ユニットセルを第1方向に貫いてなる帯状の電源端子が形成されている。よってユニットセルのレイアウト配置を行うことにより、電源端子同士が接続することで、第1方向に第1電源配線が形成される。
入出力端子は、配線接続部を備える。配線接続部は、第1電源配線と同じ第1配線層に形成される信号配線と上層の配線層との接続を可能とする部分である。上層配線用領域は、第1方向と直交する第2方向のユニットセルのセル辺から、第1方向へユニットセルの基本のセル幅と同等な距離離れた位置に、第2方向にユニットセルを貫いて形成される。上層配線用領域は、第1配線層の直上の第2配線層に形成される。入出力端子は、少なくとも一つの配線接続部が上層配線用領域の領域外に存在するように配置される。
また本発明における自動配置配線方法では、半導体集積回路装置のレイアウトにおける矩形状の基本単位を構成し、第1方向に第1電源配線が配線されるユニットセルを用いた自動配置配線方法において、第1方向と直交する第2方向のユニットセルのセル辺から、第1方向へユニットセルの基本のセル幅と同等な距離離れた位置に、第2方向にユニットセルを貫いて第1配線層の直上の第2配線層に上層配線用領域を形成、入出力端子に備えられる、第1電源配線と同じ第1配線層に形成される信号配線と接続可能な配線接続部の少なくとも一つが、上層配線用領域の領域外に存在するように、入出力端子を配置することを特徴とする。
また本発明におけるプログラムでは、半導体集積回路装置のレイアウトにおける矩形状の基本単位を構成し、第1方向に第1電源配線が配線されるユニットセルを用いてコンピュータに自動配置配線を行わせるプログラムであって、第1方向と直交する第2方向のユニットセルのセル辺から、第1方向へユニットセルの基本のセル幅と同等な距離離れた位置に、第2方向にユニットセルを貫いて第1配線層の直上の第2配線層に上層配線用領域を形成、入出力端子に備えられる、第1電源配線と同じ第1配線層に形成される信号配線と接続可能な配線接続部の少なくとも一つが、上層配線用領域の領域外に存在するように、入出力端子を配置する処理をコンピュータに実行させるプログラムである。
上層配線用領域を形成するステップでは、第1方向と直交する第2方向のユニットセルのセル辺から、第1方向へユニットセルの基本のセル幅と同等な距離離れた位置に、第2方向にユニットセルを貫いて第1配線層の直上の第2配線層に上層配線用領域が形成される。入出力端子を配置するステップでは、入出力端子に備えられる、第1電源配線と同じ第1配線層に形成される信号配線と接続可能な配線接続部の少なくとも一つが、上層配線用領域の領域外に存在するように、入出力端子が配置される。
作用を説明する。入出力端子の各々は、上層配線用領域の領域外に、少なくとも一つの配線接続部を備えている。すると、上層配線用領域の領域外の配線接続部から、必ず信号配線を引き出すことが可能となる。これにより、上層配線用領域に信号配線を配線する必要がなくなるため、上層配線用領域に信号配線以外の配線を配線することが可能となる。すなわち上層配線用領域は、信号配線の必要の無い領域である。
また上層配線用領域は、第1方向と直交する第2方向のユニットセルのセル辺から、第1方向へユニットセルの基本のセル幅と同等な距離離れた位置に、第2方向にユニットセルを貫いて第1配線層の直上の第2配線層に形成される。よって、複数のユニットセルを配置して機能ブロックを構成する場合に、第2方向に互いに接するユニットセル間では、上層配線用領域が同一の第2方向の配線グリッド上に位置し、上層配線用領域同士が互いに接することになる。すると、機能ブロックを第2方向に貫いて、帯状の上層配線用領域が形成されることになる。よって、信号配線の必要の無い領域が一定間隔で発生する。すると、信号配線とその他の配線とが分離されるため、信号配線を妨げる事無く、その他の配線を配線することが可能になる。これにより、信号配線が阻害され、配線効率が低下する事態が発生することを防止することができる。
本発明によれば、信号配線の必要がなく信号配線以外の配線を形成することが可能な領域を、所定のピッチでユニットセルに発生させることができる。よって、信号配線とその他の配線とが分離されるため、信号配線を妨げる事無く、その他の配線を配線することが可能になる。これにより、信号配線が阻害され、配線効率が低下する事態が発生することを防止することができる。
半導体集積回路装置は、計算機等を用いた自動配置配線装置によって設計されることが行われている。自動配置配線方式については、代表的なものとしてスタンダードセル(標準セル)方式がある。スタンダードセル方式では、まず基本ゲートや使用頻度の高い論理回路のパターンを予めユニットセルとしてセルライブラリに登録する。そして、半導体集積回路装置のネットリストに基づき、ユニットセルの配置とセル間の多層配線が行われることで、自動配置設計が完了する。
本発明の実施形態を、図1ないし図4を用いて説明する。本実施形態に係るユニットセルでは、セルライブラリに登録される全てのユニットセルのセル幅が、基本セル幅BCWの整数倍に統一されていることを特徴とする。ここで例えば、基本セル幅BCWよりも狭いセル幅で構成可能なユニットセル(例えばインバータなどの簡略な論理回路)は、基本セル幅BCWに合わせてセル幅を広げて構成される。また基本セル幅BCWの値は、Y方向の配線の配線幅と配線間隔により定まるピッチであるグリッド幅を基本として、グリッド幅の整数倍の値とされる。
図1は本発明に基づいた2入力NAND回路のユニットセル1のレイアウト図である。ユニットセル1は、1組のP型拡散領域34とN型拡散領域35を2本のポリシリコンゲート36、37が分割することにより、2本のポリシリコンゲート36、37で挟まれた領域を共通のソースあるいはドレイン領域として、2つのPMOSトランジスタ及びNMOSトランジスタを構成している。
入力信号端子AT1およびBT1、出力信号端子YT1、電源端子VDD1およびVSS1が、第1メタル配線層M1によって形成される。電源端子VDD1、VSS1は、N型及びP型ウェル領域への電源電位および接地電位を供給するための接続端子である。そして後述するように、ユニットセル1がマトリクス状に配置されたときに、隣接するユニットセル間において電源端子VDD1およびVSS1が互いに接触することにより、帯状の電源配線が形成される。そして図示していないが、Y方向の配線が第2メタル配線層M2および第4メタル配線層M4で行われ、X方向の配線が第3メタル配線層M3で行われる。そして第1メタル配線層M1によって形成される入力信号端子AT1などの各種端子は、これらの上層の配線層とビアを介して接続される。
ユニットセル1には、X軸と平行に伸びるグリッドである水平グリッドX1ないしX5が、グリッド幅GWXで配置されている。グリッド幅GWXは、Y方向の配線の配線幅と配線間隔により定まるピッチである。またユニットセル1のセル幅CW1は、基本セル幅BCWとされる。ここで基本セル幅BCWは、グリッド幅GWXの整数倍(4倍)の値を有する。
また水平グリッドX1ないしX5によって、ユニットセル1のセル枠を構成するセル辺の位置が定められる。セル辺CE1aは水平グリッドX1の位置とされ、セル辺CE1bは水平グリッドX5の位置とされる。また水平グリッドX1ないしX5によって、入力信号端子AT1およびBT1、出力信号端子YT1のX軸方向の位置が定められる。
また、X軸と平行に伸びるグリッドである垂直グリッドY1ないしY10が、グリッド幅GWYで配置されている。グリッド幅GWYは、X方向の配線の配線幅と配線間隔により定まるピッチである。そして垂直グリッドY1ないしY10によって、ユニットセル1のY軸方向の寸法であるセル高さCH、および各種端子のY軸方向の位置が定められる。ここでセル高さCHは、グリッド幅GWYの整数倍(9倍)の値とされる。そしてX軸方向に配置される他の全てのユニットセルのセル高さも、同一のセル高さCHに統一される。
また本実施形態に係るユニットセルでは、セル辺を基準として、X方向へ基本セル幅BCWごとに、補助電源配線用領域を備えることを特徴とする。各入出力信号端子は、各入出力信号端子の配線接続部の少なくとも1つが補助電源配線用領域の領域外に存在するような位置に配置される。すなわち補助電源配線用領域によって、入出力信号端子の配置位置が制限される。また補助電源配線用領域は、後述するように、信号配線の必要の無い領域である。よって補助電源配線用領域には、補助電源配線を配線することが可能である。
図2に、ユニットセル1の第1メタル配線層M1を表示した図を示す。ユニットセル1には、補助電源配線用領域TA1aおよびTA1bが備えられる。補助電源配線用領域TA1aは、ユニットセル1のY方向のセル辺CE1aに接するように、Y方向にユニットセル1を貫いて形成される。また補助電源配線用領域TA1bは、セル辺CE1aからX方向へ基本セル幅BCWのピッチで移動した位置であるセル辺CE2aに接するように形成される。補助電源配線用領域TA1aおよびTA1bは、共に、配線幅と配線間隔とによって定まる配線通過が可能な幅の1/2の値の幅TW1を有して、Y方向に帯状に形成される。
配線接続部は、上層配線とのビアが形成される部位である。入力信号端子AT1は、水平グリッドX4と垂直グリッドY4との交点に配線接続部を一つ備える。また入力信号端子BT1は、水平グリッドX2と垂直グリッドY5との交点に配線接続部を一つ備える。また出力信号端子YT1は、水平グリッドX3と垂直グリッドY3ないしY7との交点、および水平グリッドX4と垂直グリッドY3との交点に、配線接続部を合計6つ備える。ここで、入力信号端子AT1、BT1および出力信号端子YT1は、補助電源配線用領域TA1aおよびTA1bの領域外に、配線接続部を少なくとも一つ備えている。
図3は、本発明に基づいた4入力NAND回路のユニットセル2における、第1メタル配線層M1を表示したレイアウト図である。ユニットセル2のセル幅CW2は、基本セル幅BCWの整数倍(2倍)の値である。ユニットセル2には、水平グリッドX1ないしX9が、グリッド幅GWXで配置されている。またユニットセル2のセル高さは、ユニットセル1と同等のセル高さCHとされる。
ユニットセル2には、補助電源配線用領域TA2aないしTA2cが備えられる。補助電源配線用領域TA2aは、ユニットセル2のセル辺CE2aに接するように形成される。また補助電源配線用領域TA2cは、セル辺CE2aからX方向へ基本セル幅BCWのピッチで移動した位置である水平グリッドX5を中心線として形成される。また補助電源配線用領域TA2bは、水平グリッドX5からX方向へ基本セル幅BCWのピッチで移動した位置であるセル辺CE2bに接するように形成される。このように補助電源配線用領域は、セル辺を基準として、X方向へ基本セル幅BCWごとに存在するグリッドを基準として形成される。また補助電源配線用領域TA2cの幅は、グリッド幅GWXと等しくされる。
入力信号端子AT2は、水平グリッドX8と垂直グリッドY4との交点に配線接続部を一つ備える。入力信号端子BT2は、水平グリッドX6と垂直グリッドY5との交点に配線接続部を一つ備える。入力信号端子CT2は、水平グリッドX4と垂直グリッドY4との交点に配線接続部を一つ備える。入力信号端子DT2は、水平グリッドX2と垂直グリッドY5との交点に配線接続部を一つ備える。これらの入力信号端子AT2ないしDT2は、配線接続部を1つしか有さないため、補助電源配線用領域TA2aないしTA2cの領域外に配置される。これにより入力信号端子AT2ないしDT2は、補助電源配線用領域TA2aないしTA2c外に、配線接続部を少なくとも一つ備えることが可能となる。
また出力信号端子YT2は、水平グリッドX8と垂直グリッドY3との交点、水平グリッドX7と垂直グリッドY3ないしY7との交点、垂直グリッドY7と水平グリッドX3ないしX6との交点に、配線接続部を10個備える。ここで、水平グリッドX5と垂直グリッドY7との交点に存在する配線接続部は、補助電源配線用領域TA2cの領域内に存在する。しかし、出力信号端子YT2の残りの9個の配線接続部は、補助電源配線用領域TA2cの領域外に存在している。よって、これら9個の配線接続部の何れか一つを用いることで、補助電源配線用領域TA2cに信号配線を形成することなく、出力信号端子YT2から信号配線を引き出すことができる。これにより、補助電源配線用領域TA2cに信号配線を配線する必要がなくなるため、補助電源配線用領域TA2cに信号配線以外の配線を配線することが可能となる。
本発明に係るユニットセルの作用を、図4を用いて説明する。図4に、6つのユニットセル1Aないし1Fをマトリクス状に配置して構成した、機能回路ブロック20のレイアウト図を示す。ユニットセル1Aないし1Fは、前述したように、ユニットセルをX方向に貫く帯状の電源端子を第1メタル配線層M1に備える。よってユニットセルの配置が行われ、機能回路ブロック20が構成されると、隣接するユニットセル間で互いに電源端子が接触して、X方向の帯状の電源配線11が第1メタル配線層に配線される。
ユニットセル1Aないし1Dのセル幅は基本セル幅BCWであり、ユニットセル1Eのセル幅は基本セル幅BCWの2倍であり、ユニットセル1Fのセル幅は基本セル幅BCWの3倍であるとする。またユニットセル1Aないし1Fのセル高さは全て同一である。前述したようにユニットセル1Aないし1Fの各々は、Y方向のセル辺を基準として、基本セル幅BCWのピッチで、補助電源配線用領域を備えている。よって、ユニットセルをマトリクス状に配置して機能回路ブロック20を構成すると、補助電源配線用領域が同一の水平グリッドBX1ないしBX4上に位置し、補助電源配線用領域同士が互いに接することになる。これにより、水平グリッドBX1ないしBX4上に、機能回路ブロック20をY方向に貫いて、帯状の補助電源配線用領域TA20aないしTA20dが形成される。すなわち、機能回路ブロック20をY方向に貫いてなる信号配線の必要のない領域が、第2メタル配線層M2に、基本セル幅BCWのピッチで形成される。
補助電源配線用領域TA20bおよびTA20cと電源配線11との交点には、接地電位を供給する電源配線11同士が接続されるようにビアが形成される。また、電源電位を供給する電源配線11同士が接続されるようにビアが形成される。そして第2メタル配線層M2では、補助電源配線用領域TA20bおよびTA20cの領域内には補助電源配線PW1aおよびPW1bが配線され、当該領域外には各種信号配線が配線される。
これにより、第2メタル配線層M2の補助電源配線用領域に補助電源配線が形成され、補助電源配線用領域以外の領域に信号配線が形成される。すなわち、水平グリッドBX1ないしBX4に補助電源配線が配線され、その他の水平グリッドに各種信号配線が配線されることで、補助電源配線と信号配線とが分離されることになるため、信号配線を妨げる事無く補助電源配線を配線することが可能になる。
ここで補助電源配線PW1aおよびPW1bは、電源配線11に電流が集中することを防止するための配線である。すなわち、ユニットセルが連続して配置されると、その配置されたユニットセルで消費する電流の総和が電源配線11に流れる。この電流が多いと、エレクトロマイグレーションや電圧降下の原因になる。よってY方向に補助電源配線PW1aおよびPW1bを形成する事により、電源配線11に流れる電流を補助電源配線間に存在する回路の消費電流に限ることができ、電流が集中することを防止できる。
以上説明したように本実施形態に係るユニットセル2では、第2メタル配線層M2に、信号配線の必要の無い領域、すなわち補助電源配線が可能な領域を基本セル幅BCWのピッチで形成することができる。すると、補助電源配線と信号配線とが分離されるため、信号配線を妨げる事無く、補助電源配線を配線することが可能になる。よって配線効率が低下する事態が発生することを防止できる。
またこれにより、Y方向に配線が行われる配線層であって、入出力端子が形成される配線層の直近上位の配線層である第2メタル配線層M2に、補助電源配線を配線することが可能となる。すると、補助電源配線を上層の第4メタル配線層M4へ迂回させて配線する場合に比して、補助電源配線のスタックビアを減らすことができるため、第3メタル配線層M3での信号配線を阻害することが無くなり、配線効率を上げることができる。
またこれにより、補助電源配線を、ユニットセルのセル幅である基本セル幅BCWごとに配線することが可能となる。よって、電源配線11に電流が集中し、エレクトロマイグレーションによる不良発生や電圧降下などの特性劣化が生じるおそれを防止できる。 また電源配線11に電流が集中することを防止できるため、第1電源配線の配線幅を太くする必要がない。するとユニットセル1Aないし1FのY方向のセル高さCHを高くする必要がなくなるため、各ユニットセルの小型化を図ることができる。
また補助電源配線を、ユニットセルのセル幅である基本セル幅BCWごとに配線することにより、ユニットセルのセル辺上に補助電源配線を配線することが可能となる。すると、セル辺上に信号配線を配線しない領域がある場合においては、当該領域に補助電源配線を配線することで、当該領域を有効活用することができる。よって、回路面積の増大を防止することが可能となる。
尚、本発明は前記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内で種々の改良、変形が可能であることは言うまでもない。図1および図2のユニットセル1では、セル辺のグリッドと入出力信号端子のグリッドとは共通の水平グリッドX1ないしX5が用いられるとしたが、この形態に限られない。セル辺のグリッドと入出力信号端子のグリッドとが、X方向に1/2グリッド分オフセットした形態であってもよい。図1および図2のユニットセル1では、セル辺と入出力信号端子とのグリッドが同一であるため、セル辺CE1aおよびCE1bの上に入出力信号端子を形成すると、当該入出力信号端子がセル辺を超えて外側へ存在することになる。よってセル辺CE1aおよびCE1bの上の入出力信号端子のグリッドには、入出力信号端子を形成する事が出来ない。しかしセル辺と入出力信号端子とのグリッドに1/2グリッド分のオフセットがある場合には、全ての入出力信号端子のグリッドに、信号端子を形成する事が出来る。そしてこの場合においても、基本セル幅BCWのピッチで補助電源配線用領域を作ることで、信号配線を妨げる事無く、補助電源配線を第2メタル配線層M2に配線することが可能になる。
また本実施形態では、電源配線11を第1メタル配線層M1を用いて配線し、Y方向の配線が偶数目のメタル配線層(第2メタル配線層M2および第4メタル配線層M4)で行われ、X方向の配線が奇数目のメタル配線層(第3メタル配線層M3)で行われる構造で説明したが、この形態に限られない。Y方向の配線を奇数目のメタル配線層で行い、X方向の配線を偶数目のメタル配線層で行ってもよいことは言うまでもない。また電源配線11を、第2メタル配線層M2やその他のメタル配線層に形成してもよいことは言うまでもない。例えば、X方向の電源配線11を第2メタル配線層M2を用いて配線し、Y方向の補助電源配線を第3メタル配線層M3を用いて配線する形態としてもよい。
またユニットセルを6つマトリクス状に配置して構成した機能回路ブロック20について説明したが、この形態に限られない。より多数のユニットセルをマトリクス状に配置する場合においても、本発明を適用することができることは言うまでもない。
なお、補助電源配線用領域TA1a、TA1b、TA2aないしTA2c、TA20aないしTA20dは上層配線用領域の一例、補助電源配線PW1aおよびPW1bは第2電源配線の一例、グリッド幅GWXは配線ピッチの一例、X方向は第1方向の一例、Y方向は第2方向のそれぞれ一例である。
ここで、本発明の技術思想により、背景技術における課題を解決するための手段を以下
に列記する。
(付記1)
半導体集積回路装置のレイアウトにおける矩形状の基本単位を構成し、レイアウト配置により第1方向に第1電源配線が配線されるユニットセルにおいて、上位の配線層に配線される信号配線と接続可能な配線接続部を少なくとも一つ備える入出力端子と、前記第1方向と直交する第2方向に前記ユニットセルを貫いて、前記第1方向の所定位置に少なくとも一つ形成される上層配線用領域とを備え、前記入出力端子は、少なくとも一つの前記配線接続部が前記上層配線用領域の領域外に存在するように配置されることを特徴とするユニットセル。
(付記2)
前記上層配線用領域は、前記入出力端子が形成される配線層の上位の配線層における、該上層配線用領域の範囲内に、前記第1電源配線と接続される第2電源配線が配線される領域であることを特徴とする付記1に記載のユニットセル。
(付記3)
前記上層配線用領域が生成される配線層は、前記第2方向に配線が行われる配線層であって、前記入出力端子が形成される配線層の直近上位の配線層であることを特徴とする付記2に記載のユニットセル。
(付記4)
前記配線接続部は、前記第1方向の前記信号配線の配線幅と配線間隔とによって定まる配線ピッチと、前記第2方向の前記信号配線の前記配線ピッチとの交点であって、配線層間を接続するビアを形成することが可能な部位であることを特徴とする付記1に記載のユニットセル。
(付記5)
前記所定位置は、前記ユニットセルの前記第2方向のセル辺を基準として、前記第1方向へ所定ピッチごとに存在する位置であることを特徴とする付記1に記載のユニットセル。
(付記6)
前記所定ピッチの値は、予め定められる基本セル幅と同等とされることを特徴とする付記5に記載のユニットセル。
(付記7)
前記ユニットセルの前記第1方向のセル幅は、前記基本セル幅の整数倍の値とされることを特徴とする付記6に記載のユニットセル。
(付記8)
前記基本セル幅は、前記信号配線の配線幅と配線間隔とによって定まる配線ピッチの整数倍の値であることを特徴する付記6に記載のユニットセル。
(付記9)
前記第2方向の前記セル辺に接して配置される前記上層配線用領域の有する幅は、前記第2方向の前記セル辺に接さない前記上層配線用領域の有する幅の半分であることを特徴とする付記5に記載のユニットセル。
(付記10)
前記第2方向の前記セル辺と接しないで配置される前記上層配線用領域の幅は、前記信号配線の配線幅と配線間隔とによって定まる配線ピッチ以上の値であることを特徴とする付記5に記載のユニットセル。
(付記11)
前記第2方向の前記セル辺に接して配置される前記上層配線用領域の幅は、前記信号配線の配線幅と配線間隔とによって定まる配線ピッチの1/2以上の値であることを特徴とする付記5に記載のユニットセル。
(付記12)
半導体集積回路装置のレイアウトにおける矩形状の基本単位を構成し、レイアウト配置により第1方向に第1電源配線が配線されるユニットセルを用いた自動配置配線方法において、前記第1方向と直交する第2方向に前記ユニットセルを貫いて、前記第1方向の所定位置に少なくとも一つ備えられる上層配線用領域を形成するステップと、入出力端子に備えられる、上位の配線層に配線される信号配線と接続可能な配線接続部の少なくとも一つが、前記上層配線用領域の領域外に存在するように、前記入出力端子を配置するステップとを備えることを特徴とする自動配置配線方法。
(付記13)
半導体集積回路装置のレイアウトにおける矩形状の基本単位を構成し、レイアウト配置により第1方向に第1電源配線が配線されるユニットセルを用いた自動配置配線プログラムにおいて、前記第1方向と直交する第2方向に前記ユニットセルを貫いて、前記第1方向の所定位置に少なくとも一つ備えられる上層配線用領域を形成するステップと、入出力端子に備えられる、上位の配線層に配線される信号配線と接続可能な配線接続部の少なくとも一つが、前記上層配線用領域の領域外に存在するように、前記入出力端子を配置するステップとを備えることを特徴とする自動配置配線プログラム。
ユニットセル1のレイアウト図 ユニットセル1の第1メタル配線層M1を表示した図 ユニットセル2の第1メタル配線層M1を表示した図 機能回路ブロック20のレイアウト図 従来技術における機能回路ブロック120のレイアウト図
1、2、1Aないし1F ユニットセル
AT1、BT1、AT2ないしDT2 入力信号端子
BCW 基本セル幅
CE1a、CE1b、CE2a、CE2b セル辺
CH セル高さ
GWX、GWY グリッド幅
M1 第1メタル配線層
M2 第2メタル配線層
M4 第4メタル配線層
PW1aおよびPW1b 補助電源配線
TA1a、TA1b、TA2aないしTA2c、TA20aないしTA20d 補助電源配線用領域
X1ないしX9 水平グリッド
Y1ないしY10 垂直グリッド
YT1、YT2 出力信号端子

Claims (7)

  1. 半導体集積回路装置のレイアウトにおける矩形状の基本単位を構成し、第1方向に第1電源配線が配線されるユニットセルにおいて、
    前記第1電源配線と同じ第1配線層に形成される信号配線と、前記信号配線と上層の配線層とを接続可能とする配線接続部とを備える入出力端子と、
    前記第1方向と直交する第2方向の前記ユニットセルのセル辺から、前記第1方向へ前記ユニットセルの基本のセル幅と同等な距離離れた位置に、前記第2方向に前記ユニットセルを貫いて前記第1配線層の直上の第2配線層に形成される上層配線用領域とを備え、
    前記入出力端子は、少なくとも一つの前記配線接続部が前記上層配線用領域の領域外に存在するように配置されることを特徴とするユニットセル。
  2. 前記上層配線用領域は、
    記第1電源配線と接続される第2電源配線が配線される領域であることを特徴とする請求項1に記載のユニットセル。
  3. 前記配線接続部は、
    前記第1方向の配線の配線幅と配線間隔とによって定まる第1方向配線ピッチと、前記第2方向の配線の配線幅と配線間隔とによって定まる第2方向配線ピッチとの交点であって、配線層間を接続するビアを形成することが可能な部位であることを特徴とする請求項1または2に記載のユニットセル。
  4. 前記基本セル幅は、前記第1方向配線ピッチの整数倍の値であることを特徴する請求項に記載のユニットセル。
  5. 前記ユニットセルの前記第1方向のセル幅は、前記基本セル幅の整数倍の値であることを特徴とする請求項1ないし4の何れか1項に記載のユニットセル。
  6. 半導体集積回路装置のレイアウトにおける矩形状の基本単位を構成し、第1方向に第1電源配線が配線されるユニットセルを用いた自動配置配線方法において、
    前記第1方向と直交する第2方向の前記ユニットセルのセル辺から、前記第1方向へ前記ユニットセルの基本のセル幅と同等な距離離れた位置に、前記第2方向に前記ユニットセルを貫いて前記第1配線層の直上の第2配線層に上層配線用領域を形成
    入出力端子に備えられる、前記第1電源配線と同じ第1配線層に形成される信号配線と接続可能な配線接続部の少なくとも一つが、前記上層配線用領域の領域外に存在するように、前記入出力端子を配置す
    とを特徴とする自動配置配線方法。
  7. 半導体集積回路装置のレイアウトにおける矩形状の基本単位を構成し、第1方向に第1電源配線が配線されるユニットセルを用いてコンピュータに自動配置配線を行わせるプログラムであって
    前記第1方向と直交する第2方向の前記ユニットセルのセル辺から、前記第1方向へ前記ユニットセルの基本のセル幅と同等な距離離れた位置に、前記第2方向に前記ユニットセルを貫いて前記第1配線層の直上の第2配線層に上層配線用領域を形成
    入出力端子に備えられる、前記第1電源配線と同じ第1配線層に形成される信号配線と接続可能な配線接続部の少なくとも一つが、前記上層配線用領域の領域外に存在するように、前記入出力端子を配置す
    処理を前記コンピュータに実行させるプログラム。
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