JP4256977B2 - 両面研磨装置システム - Google Patents

両面研磨装置システム Download PDF

Info

Publication number
JP4256977B2
JP4256977B2 JP10540799A JP10540799A JP4256977B2 JP 4256977 B2 JP4256977 B2 JP 4256977B2 JP 10540799 A JP10540799 A JP 10540799A JP 10540799 A JP10540799 A JP 10540799A JP 4256977 B2 JP4256977 B2 JP 4256977B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
carrier
wafer
hole
surface plate
workpiece
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP10540799A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2000296463A (ja
JP2000296463A5 (ja
Inventor
安雄 稲田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
FUJIKOSHI MACHINE INDUSTRY CO.,LTD.
Original Assignee
FUJIKOSHI MACHINE INDUSTRY CO.,LTD.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP10540799A priority Critical patent/JP4256977B2/ja
Application filed by FUJIKOSHI MACHINE INDUSTRY CO.,LTD. filed Critical FUJIKOSHI MACHINE INDUSTRY CO.,LTD.
Priority to US09/547,659 priority patent/US6361418B1/en
Priority to DE60040943T priority patent/DE60040943D1/de
Priority to EP00303063A priority patent/EP1044765B1/en
Priority to MYPI20001553A priority patent/MY116804A/en
Priority to TW089106784A priority patent/TW470681B/zh
Publication of JP2000296463A publication Critical patent/JP2000296463A/ja
Publication of JP2000296463A5 publication Critical patent/JP2000296463A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4256977B2 publication Critical patent/JP4256977B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/04Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces
    • B24B37/07Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces characterised by the movement of the work or lapping tool
    • B24B37/08Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces characterised by the movement of the work or lapping tool for double side lapping
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/34Accessories
    • B24B37/345Feeding, loading or unloading work specially adapted to lapping
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B49/00Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation
    • B24B49/12Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation involving optical means

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は両面研磨装置システムに関する。
【0002】
本願出願人は、背景技術として、特開平10−202511号に開示された次のような両面研磨装置を既に提案してある。
その両面研磨装置によれば、薄平板に透孔が設けられて成るキャリヤと、そのキャリヤの透孔内に配された板状のワークであるウェーハを、上下から挟むと共にそのウェーハに対して相対的に移動して研磨する上定盤及び下定盤と、前記キャリヤを、キャリヤホルダーを介してキャリヤの面と平行な面内で自転しない円運動をさせ、前記透孔内で上定盤と下定盤の間に保持されたウェーハを旋回移動させるキャリヤ旋回運動機構とを備える。なお、上定盤及び下定盤は、各々回転(自転)運動するように設けられている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記背景技術の自転しない円運動をするキャリヤを備える両面研磨装置では、ワークであるウェーハの給排を自動的に行うことについて、検討がなされていないという課題がある。
すなわち、人手によって、ウェーハをキャリヤの透孔内に供給したり、ウェーハをキャリヤの透孔内から排出する場合は、ウェーハを汚染したり、破損してしまう危険が大きい。また、当然ながら人手の省力化ができない。このため、ウェーハの給排を自動的に行うことが要望されている。
これに対し、キャリヤの透孔内にウェーハが好適に配されて研磨されるように、例えば、キャリヤの透孔の内周縁とウェーハの外周縁との間隔は1mm以下程度の小さな隙間に設定されている。キャリヤは、薄平板によって形成されているため若干ではあるが波打ち易く、キャリヤホルダーと連繋する連繋手段に遊びがあるなど、キャリヤの透孔の位置を正確に定めることが難しい。このため、ウェーハのキャリヤの透孔にかかる給排を精度良く自動的に行うことが難しいという課題がある。
【0004】
そこで、本発明の目的は、自転しない円運動をするキャリヤを備える両面研磨装置システムについて、ワークの給排を自動的且つ確実に効率良く行うことが可能になることにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するため、本発明は次の構成を備える。
すなわち、本発明にかかる両面研磨装置システムは、薄平板に複数の透孔が設けられて成るキャリヤと、該キャリヤの透孔内に配された板状の各ワークを上下から挟むと共に、回転軸を中心に相対的に回転してワークを研磨する上定盤及び下定盤と、前記キャリヤを、該キャリヤの面と平行な面内で自転しない円運動をさせ、前記透孔内で上定盤と下定盤との間に保持された前記ワークを旋回移動させるキャリヤ旋回運動機構とを備える両面研磨装置システムにおいて、前記キャリヤ旋回運動機構に設けられ、前記キャリヤを所定の位置に停止させるキャリヤ停止手段と、前記キャリヤ停止手段によって停止した前記キャリヤの透孔内に前記ワークを確実に供給すると共に前記キャリヤの透孔内から前記ワークを確実に排出するため、ワークの保持するワーク保持機構が先端部に設けられた、多関節ロボットからなるアームロボット、及びキャリヤの透孔及びワークにかかる形状及び位置を認識する画像処理装置を有するワーク給排手段と、前記キャリヤ旋回運動機構と共に、前記キャリヤを前記下定盤の回転軸を中心に回転させるキャリヤ回転機構とを備え、前記キャリヤ停止手段によって停止させられたキャリヤの、前記ワーク給排手段によってワークが供給もしくは排出される透孔の位置に、該キャリヤの他の透孔が、前記キャリヤ停止手段と前記キャリヤ回転機構とによって順次停止され、ワークの給排がなされることを特徴とする。
【0006】
また、前記キャリヤ停止手段は、前記キャリヤを駆動させる駆動装置としてのサーボモータと、該サーボモータを制御する制御装置から成るサーボ機構であることで、簡単な構成でキャリヤを所定の位置に好適に停止できる。
【0007】
また、前記キャリヤ回転機構は、前記キャリヤ旋回運動機構を支持すると共に、前記下定盤の回転軸を中心に回転するベース部と、該ベース部を回転駆動するキャリヤ回転用モータとを具備することを特徴とする。
【0008】
また、前記アームロボットは水平多関節ロボットであり、前記ワーク保持機構及び前記画像処理装置のカメラが水平多関節ロボットの先端部に設けられていることで、キャリヤの透孔及びワークにかかる形状及び位置を同時に好適に認識することができ、ワークのキャリヤの透孔にかかる給排を効率良く好適に行うことができる。
【0009】
また、ワーク保持用のカセットに縦置きされた前記ワークを取り出し、ワーク保持用のカセットに縦置きにワークを収納することが可能に、前記アームロボットは垂直多関節ロボットであることで、ワークを前記カセットから引き出す装置や、ワークを案内して前記カセットへ収納するシュータ装置という付帯装置を要せず、システムを簡略化且つコンパクト化できる。
【0010】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好適な実施例を添付図面に基づいて詳細に説明する。
先ず、従来技術の欄で記載した背景技術を基礎とする両面研磨装置について、図1〜3に基づいて詳細に説明する。図1は本発明にかかる両面研磨装置の基礎となる一実施例を模式的に示した斜視分解図であり、図2は図1の実施例が作動している際の各構成の位置関係を示す側断面図である。
本実施例は、板状のワークであるシリコンのウェーハ10を研磨する両面研磨装置であり、薄平板に複数の透孔12aが設けられて成るキャリヤ12と、そのキャリヤ12の透孔内に配された各ウェーハ10を、上下から挟むと共にウェーハ10に対して相対的に移動して研磨する上定盤14及び下定盤16とを備える。上定盤14及び下定盤16のそれぞれの表面には、クロスと呼ばれる研磨布14a、16aが付けられており、その研磨布14a、16aによって研磨面が形成されている。また、本実施例の上定盤14及び下定盤16は、キャリヤ12の面に直交する方向に平行な軸心を中心に自転駆動される。
ウェーハ10は、円形であり円形の透孔12a内に遊嵌されており、透孔12aの中ではフリーに自転可能なサイズになっている。
キャリヤ12は、例えば、ガラスエポキシ板で形成され、厚さ0、8mmのウェーハ10に対して厚さ0、7mm程度に設定されたものが一般的である。
【0011】
20はキャリヤ旋回運動機構であり、キャリヤ12を、そのキャリヤ12の面と平行な面内で運動をさせ、透孔12a内で上定盤14と下定盤16との間に保持されたウェーハ10を運動させる運動機構の一例である。
本実施例におけるキャリヤ旋回運動機構20は、キャリヤ12を、そのキャリヤ12の面と平行な面内で自転しない円運動をさせ、透孔12a内で保持されて上定盤14と下定盤16とによって挟持されたウェーハ10を旋回移動させる。すなわち、キャリヤ12の厚さを考えない場合に、キャリヤ12の面と同一の面内で、そのキャリヤ12に自転しない円運動をさせることになる。
このキャリヤ旋回運動機構20の具体的な構成について以下に説明する。
【0012】
22はキャリヤホルダーであり、リング状に形成されており、キャリヤ12を保持している。
ここで、キャリヤ12とキャリヤホルダー22とを連繋する連繋手段について説明する。
本実施例の連繋手段では、キャリヤホルダー22側に設けられたピン23と、ピン23に遊嵌すべくキャリヤ12にそのキャリヤ12の熱膨張による伸び方向(本実施例では円形のキャリヤ12の径方向)へクリアランスが設けられて形成された穴12b(図2参照)とを備える。穴12bのクリアランスは、少なくともキャリヤ12の熱膨張による伸びを吸収する方向に好適に設ければよく、例えば、長穴に形成されていればよい。これにより、キャリヤ12を、そのキャリヤ12が自転しないと共に、そのキャリヤ12の熱膨張による伸びを吸収するように、キャリヤホルダー22へ連繋させ、そのキャリヤホルダー22で保持できる。
【0013】
また、本実施例において、キャリヤ12は、その外周縁についても、熱膨張した際に好適にスライドできるように、キャリヤホルダー22の内周面22aとの間にクリアランスが生じるように形成されている。すなわち、内周面22aの内径よりもキャリヤ12の外径が、所定の寸法小径に形成されている。
そして、上述したようにキャリヤ12の熱膨張を考慮してクリアランスを設けておいたキャリヤ12の穴12bを、キャリヤホルダー22のピン23に嵌めることで直接的にセットしてある。
このようにキャリヤ12の熱膨張による伸びを吸収する連繋手段を備えることで、簡単な構成でキャリヤ12をキャリヤホルダー22に対して回り止めをした状態に好適に連繋させることができる。
これにより、キャリヤ12の伸びを好適に逃がして吸収することができ、キャリヤ12の変形を防止できる。また、キャリヤ12は、キャリヤホルダー22に嵌めることで装着する構成であるので、装着時における作業の簡素化がなされる。
【0014】
次に、キャリヤ旋回運動機構20にかかる実施例について説明する。
24はクランク部材であり、上定盤14及び下定盤16の軸線Lに軸心が平行であってキャリヤホルダー22に軸着されるホルダー側の軸24a、及びそのホルダー側の軸24aに軸心が平行であると共に所定の距離をおいて基体30(図2参照)に軸着される基体側の軸24bを備える。すなわち、クランク機構のクランクアームと同様な機能を備えるように形成されている。
このクランク部材24は、本実施例では基体30とキャリヤホルダー22との間の4ヶ所に配され、キャリヤホルダー22を支持すると共に、基体側の軸24bを中心にホルダー側の軸24aを旋回させることで、キャリヤホルダー22を基体30に対して自転しない円運動をさせる。ホルダー側の軸24aは、キャリヤホルダー22の外周面に突起して設けられた軸受け部22cに回転可能に挿入されて軸着されている。これにより、キャリヤ12は上定盤14及び下定盤16の軸線Lから偏心Mして旋回(自転しない円運動)する。その旋回円運動の半径は、ホルダー側の軸24aと基体側の軸24bとの間隔(偏心Mの距離)と同じであり、キャリヤ12の全ての点が同一の小円の軌跡を描く運動となる。
【0015】
また、28はタイミングチェーンであり、各クランク部材24の基体側の軸24bに同軸に固定されたスプロケット25(本実施例では4個)に掛け回されている。このタイミングチェーン28と4個のスプロケット25は、4個のクランク部材24が同期して円運動するよう、4個の基体側の軸24b同士を連繋して同期させる同期手段を構成している。この同期手段は、簡単な構成であり、キャリヤ12を好適且つ安定的に運動させることができる。これによって研磨精度を向上でき、ウェーハの平坦度を向上できる。なお、同期手段としては、本実施例に限られることはなく、タイミングベルト、またはギヤ等を用いてもよいのは勿論である。
32はモータ(例えば、ギャードモータ)であり、34は出力軸に固定された出力ギヤである。出力ギヤ34はクランク部材24の基体側の軸24bに同軸に固定されたギヤ26に噛合している。これにより、クランク部材24を基体側の軸24bを中心に回転させる回転駆動装置が構成されている。
【0016】
なお、回転駆動装置としては、各クランク部材24にそれぞれ対応して配された複数のモータ(例えば、電動モータ)を利用することもできる。電動モータであれば、電気的に同期を取ることで、複数のクランク部材24を同期運動させ、キャリヤ12をスムースに運動させることができる。
また、本実施例ではクランク部材24を4個配設した場合について説明したが、本発明はこれに限らず、クランク部材24は最低3個あれば、キャリヤホルダー22を好適に支持することができる。
さらに、直交する2軸の直線運動の合成によって2次元運動を得ることができるXYテーブルの移動体と、前記キャリヤホルダー22とを一体化して運動できるようにすれば、1個のクランク部材24の駆動によって、キャリヤホルダー22を自転しない円運動させることができる。すなわち、XYテーブルの直交する2軸に延びるガイドによって案内されることで、前記移動体は自転しない運動をするのであって、この移動体の運動をキャリヤホルダー22の運動(自転しない円運動)に好適に利用できる。
また、クランク部材24を全く用いず、XYテーブル自体に駆動手段を設けるようにしてもよい。すなわち、X軸及びY軸の部材をそれぞれ直接的に駆動させるサーボモータとボールネジ、又はサーボモータとタイミングチェーン等の組み合わせから成るX軸及びY軸の駆動機構を使用することで、前記移動体と一体化したキャリヤホルダー22を運動(自転しない円運動)させてもよい。この場合は、最低2個のモータを使用することになるが、モータを制御することで旋回円運動の他にも自転しない種々の2次元運動を得ることができ、その運動をウェーハ10の研磨に利用できる。
【0017】
36は下定盤回転用モータであり、下定盤16を自転させる動力装置である。例えば、本実施例のように、ギャードモータを用いることができ、その出力軸は下定盤16の回転軸に直結させてもよい。
38は上定盤回転用動力手段であり、上定盤14を自転させる。
下定盤回転用モータ36及び上定盤回転用動力手段38は、回転方向及び回転速度を自由に変更できるものとすれば、種々の研磨仕様に柔軟に対応できる。
また、この両面研磨装置では、キャリヤ12の透孔12a内に配されたウェーハ10を、図2に示すように上定盤14と下定盤16でサンドイッチにして、そのウェーハの研磨加工がなされる。この際、ウェーハ10が挟圧される力は、主に上定盤14側に設けられた加圧手段による。例えば、空気圧を利用し、最大加圧力が上定盤14の自重であり、空気圧を上昇させることで加圧力を低減させるように作用させるエアバック方式で上定盤14のウェーハ10への押圧力を調整するようにしてもよい。このエアバック方式では、空気圧を制御することで好適かつ容易に加圧力を調整できる。なお、上定盤14側には加圧手段の他に上定盤14を昇降動させる昇降装置40が設けられ、ウェーハ10の給排のときなどに作動する。
【0018】
次に、液状の研磨剤の供給手段について説明する。
上定盤14には、その上定盤14の研磨面14aとウェーハ10が接触して該ウェーハ10を研磨する研磨部へ、スラリー(液状の研磨剤)を供給する研磨剤供給用の孔14bが設けられている。
この研磨剤供給用の孔14bは、ウェーハ10の研磨部へ液状の研磨剤を十分且つ均一に供給でき、その研磨に悪影響を与えない大きさ等に適宜に設けられればよく、その形態或いはその数は特に限定されるものではない。なお、本実施例の研磨剤供給用の孔14bは、上定盤14に等密度に分布するようにマトリクス状に位置され、各々が小径に開けられて設けられている。また、本実施例の研磨剤供給用の孔14bは、上定盤14に上下方向に貫通して設けられている。
また、図示しないが、研磨剤供給用の孔14bの上端にはチューブ等が連結されており、ポンプ等によって汲み上げられた液状の研磨剤が、適宜分配されて供給されるように設けられている。
【0019】
そして、キャリヤ12には、研磨剤供給用の孔14bより供給された液状の研磨剤を通過させて下の定盤(下定盤16)の研磨面16aとウェーハ10が接触して該ウェーハ10を研磨する研磨部へ、液状の研磨液を供給する連通孔15が設けられている。
この連通孔15は、キャリヤ12の強度に影響を与えない位置に、適当な形態に設けられればよく、そのサイズ、形状或いはその数は限定されるものではない。なお、図1に示した実施例では、キャリヤ12の中央と、キャリヤ12の円周方向に隣合う透孔12a同士間とに、合計で6個の円形の連通孔15が開けられている。
【0020】
このキャリヤ12によれば、液状の研磨液を、研磨されるウェーハ10の両面に好適に供給することができ、好適に研磨することができる。すなわち、液状の研磨液が、キャリヤ12に開けた孔である連通孔15から流れ落ち、ウェーハ10の裏面(研磨面16aと接触する面)にも十分に流れ込むことができる。このため、研磨条件を均一に好適に維持でき、ウェーハ10の両面を精度よく研磨できる。
なお、研磨面16a上に供給された液状の研磨液は、従来の両面研磨装置の場合と同様に、順次その研磨面16aから外周方向へ溢れ出て排出され、さらに回収されて適宜循環される。
【0021】
また、図1に示すように、62はローラであって、上定盤14に当接し、その上定盤14のキャリヤ12の面に平行な方向への揺れを阻止する振動防止手段の一例である。このローラ62は、適宜に上定盤14の外周14cに当接するよう、基体30上の上定盤14近傍に設けられたガイドローラ本体(図示せず)に回転自在に装着されている。この複数のローラ62によって、研磨工程がなされる際に上定盤14を挟むことで、上定盤14のキャリヤ12の面に平行な方向への移動を規制し、振動を防止できるのである。
【0022】
次に、図3に基づいて、本発明にかかる両面研磨装置のキャリヤ停止手段の一実施例について説明する。なお、以上に説明した実施例と同一の構成については、同一の符号を付して説明を省略する。
43はキャリヤ停止手段であり、キャリヤ旋回運動機構20に設けられ、キャリヤ12を所定の位置に停止させる。ウェーハ10を供給する際には、キャリヤ12の透孔12aを所定の位置(定位置)に停止させ、ウェーハ10を排出する際には、キャリヤ12の透孔12a内に保持されたウェーハ10を所定の位置(定位置)に停止させる。
なお、その所定の位置とは、本実施例では所定の旋回角度位置である定位置のことで、常に同一の位置であってもよいし、場合によっては、所定の法則に従って、初期位置に対して移動するものであってもよい。すなわち、後述するウェーハ給排手段との関係で、所定の条件で特定される位置であればよい。
【0023】
また、本実施例のキャリヤ停止手段43は、キャリヤ12を保持したキャリヤホルダー22を駆動させる駆動装置としてのサーボモータ32aと、そのサーボモータ32aを制御する制御装置44から成るサーボ機構である。このように、サーボモータ32aを備える構成によれば、極めて簡単に好適な位置決め(停止)のできるキャリヤ停止手段43を得ることができる。装置が複雑化することなく、製造コストを低減できる。
なお、キャリヤ停止手段43は、これに限らず、例えば、キャリヤホルダー22の外周の所定の位置にマークを付け、そのマークを検出するセンサーを基体30に設けて構成してもよい。センサーがマークを検出することで、その信号によってキャリヤホルダー22の運動を停止させ、そのキャリヤホルダー22を介してキャリヤ12を所定の位置(旋回角度位置)に停止させることができる。
さらに、キャリヤ停止手段43としては、図に示すように平面形状が円形に形成されたクランク部材24の外周の所定の位置にマークを付け、そのマークを検出するセンサーを基体30に設けて構成しても、同様の効果を得ることができる。
【0024】
46はワーク供給手段であり、キャリヤ停止手段43によって停止したキャリヤ12の透孔12a内に、ウェーハ10を供給する。
また、48はワーク排出手段であり、キャリヤ停止手段43によって停止したキャリヤ12の透孔12a内から、ウェーハ10を排出する。
このワーク供給手段46及びワーク排出手段48は、キャリヤ12が定位置に停止されることで、キャリヤ12の透孔12aの位置を容易に特定でき、毎回同一の動作によってウェーハ10の給排を容易に行うことができる。従って、ワーク供給手段46及びワーク排出手段48自体の構成を簡素化でき、また、その制御に関しても簡素化できる。
なお、45はテンションローラであり、各クランク部材24が好適に同期して作動するように、タイミングチェーン28にテンションを与えている。
【0025】
次に、図4〜8に基づいて、本発明の特徴的な構成であるワーク給排手段(ウェーハ給排手段)の実施例について詳細に説明する。
図4はウェーハ給排手段を含む両面研磨装置システムの全体にかかる一実施例を説明する平面図である。また、図5はアームロボットの先端部を説明する側面図であり、図6はアームロボットの先端部を説明する底面図である。図7はキャリヤ自転機構を説明する断面図である。また、図8はウェーハ給排手段を含む両面研磨装置システムの全体にかかる他の実施例を説明する平面図である。図1〜3の両面研磨装置と同一の構成については、同一の符号を付して説明を省略する。
【0026】
11は両面研磨装置であり、上述したように、キャリヤ旋回運動機構20によって自転しない円運動をするキャリヤ12を備える。この両面研磨装置11は、前述したキャリヤ停止手段43(図3参照)を備えており、図7に示すようにサーボ機構を構成するサーボモータ32aが配設されている。なお、本実施例では、図1〜3のように1個のサーボモータ32aでチェーン28及び4個のクランク部材24を介してキャリヤホルダー22を旋回させるのではなく、3個のサーボモータ32aを同期させてキャリヤホルダー22を旋回させる構造としてある。このように3個のサーボモータ32aを同期させることで、よりバランスのとれたスムースな旋回運動を得ることができる。
50はウェーハ給排手段であり、キャリヤ停止手段43によって停止したキャリヤの透孔12a内にウェーハ10を確実に供給すると共にキャリヤの透孔12a内からウェーハ10を確実に排出するため、ウェーハ10の保持するウェーハ保持機構52が先端部53に設けられたアームロボット(水平多関節ロボット54)、及びキャリヤの透孔12a及びウェーハ10にかかる形状及び位置を認識する画像処理装置を有する。
【0027】
図4に示す実施例では、アームロボットは水平多関節ロボット54であり、ウェーハ保持機構52及び画像処理装置の小型のカメラ55が水平多関節ロボット54のアームの先端部53に設けられている。
本実施例のウェーハ保持機構52は、図5及び図6に示すように、複数のツメ56によってウェーハ10を保持するように、同一円周上に等間隔に3個が配設されている。このツメ56は、本実施例のように最低3個設けることによって、円形のウェーハ10を好適に保持できる。3個のツメ56は、根元部の開閉チャック58によって、半径方向に同期して開閉可能に設けられている。
なお、キャリヤの透孔12aのツメ56に対応する部位には、切り欠き(図示せず)を設けておけばよく、その切り欠きにツメ56を入れる状態で、ウェーハ10を供給したり、ウェーハ10を下定盤16の研磨面から剥がして掬い取るようにして排出する。また、キャリヤ12は自転しない旋回運動をするが、自転しないため位置を合わせ易く、上記の切り欠きの位置とツメ56の位置とを合わせることも容易に行うことができる。
なお、ウェーハ保持機構52としては、上記のようなツメ56によるものに限らず、吸着装置を利用してもよい。
【0028】
また、本実施例のカメラ55は、図6に示すように、円形のウェーハ10及びキャリヤの透孔12aを認識するため、本実施例では同一円周上に等間隔に3台が配設されている。また、本実施例のカメラ55の配列は、ウェーハ保持機構52のツメ56の配列と同心円になっている。
この画像処理装置によれば、ウェーハ10のキャリヤの透孔12aに対する位置を、図示しない演算処理装置によって数値解析し、その結果に基づいて水平多関節ロボット54を介してウェーハ10を保持したウェーハ保持材52の位置を微調整し、ウェーハ10をキャリヤの透孔12aに供給する。すなわち、画像処理によれば、ウェーハ10とキャリヤの透孔12aとの隙間を確認して、ウェーハ10がキャリヤの透孔12aの中に完全に入ったことを確認できる。従って、ウェーハ10のキャリヤの透孔12aへの給排を確実に行うことができる。
【0029】
また、カメラ55とウェーハ保持機構52の両方がアームの先端部53に設けられているから、キャリヤの透孔12a及びウェーハ10にかかる形状及び位置を同時に好適に認識することができ、ウェーハ10のキャリヤの透孔12aにかかる給排を効率良く行うことができる。
また、画像処理によれば、ウェーハ10の外周の一部に形成されるオリエンテーションフラット(オリフラ)やノッチの形状を認識することができ、そのオリフラやノッチを図示しない駆動手段で所望の位置に合わせることができる。従って、所定の同一条件でウェーハ10を順次研磨することができ、ウェーハ10の研磨加工にかかる管理を好適に行うことができる。
なお、カセット内に収納されているウェーハ10について、そのオリフラやノッチの位置を、予め公知の技術で所望の位置に合わせておいてもよい。これによれば、画像処理を用いた位置合わせは、予め位置合わせされたオリフラやノッチの確認を行うか、その位置の微調整を行うことで容易になされ、工程の効率を向上できる。
【0030】
本実施例によれば、キャリヤ停止手段43によって、予め、キャリヤ12が所定の位置に停止される。これにより、キャリヤの透孔12aを予め設定された位置へ、精度高く行うことはできないが、概略位置させることができる。なお、キャリヤ停止手段43としては、単純なサーボ機構に限らず、前述したようにセンサーを用いてもよいのは勿論である。
このようにキャリヤ12を概略所定の位置に停止した上で、アームロボット(水平多関節ロボット54)を作動させる。すなわち、アームの先端部53を、概略所定の位置に停止したキャリヤの透孔12a上に移動させる。この移動の際には、画像処理を行うことを要しないから、素早くアームの先端部53を移動できる。そして、画像処理装置による情報によって、水平多関節ロボット54を制御駆動してアームの先端部53の位置を微調整し、ウェーハ10をキャリヤの透孔12a内へ供給する。キャリヤの透孔12aは予め概略所定の位置に停止されているから、アームの先端部53の位置の微調整は僅かでよく、作業効率を向上できる。
【0031】
また、図4に示すように、70はローダーカセット部であり、ウェーハ10が収納されたカセットが載置される部分である。72はセンターリング装置であり、ここで中心が出されたウェーハ10が、ウェーハ保持機構52によって保持され、前述したようにキャリヤの透孔12a内へ供給される。74はコンベアーであり、ローダーカセット部72のカセットに収納されたウェーハ10をセンターリング装置72に供給する装置である。
また、76はウォーターシューターであり、78はアンローダーウォーターカセット部である。ウォーターシューター76は公知のもので、水が噴出して流れる斜面を有し、その斜面に沿って、ウェーハ10を所定の方向へ案内できるように設けられている。
水平多関節ロボット54によってキャリヤの透孔12a内から排出されたウェーハ10が、ウォーターシューター76に案内されて、アンローダーウォーターカセット部78に水没されたカセット内へ収納される。すなわち、ウェーハ保持機構52によるウェーハ10の保持をウォーターシューター76上で解除することで、ウェーハ10がウォーターシューター76の斜面に受けられて案内される。
【0032】
次に、図7に示すように、80はキャリヤ回転機構である。
81はホルダーベース部(ベース部)であり、キャリヤホルダー22を旋回させるキャリヤ旋回運動機構20(サーボモータ32a等)を支持し、下定盤16を自転可能に保持する基体30に、自転可能に装着されている。82はベアリングであり、基体30に、下定盤16及び上定盤14の回転(自転)軸心と同軸に設けられており、このベアリング82を介してホルダーベース部81が好適に自転できる。なお、86は下定盤の駆動源であり、減速機とモータから構成されている。
83は外周歯車であり、ホルダーベース部81の下部に固設されている。84はキャリヤ回転用モータであり、基体30に固定されている。また、85はピニオンギヤであり、キャリヤ回転用モータ84の出力軸に固定され、外周歯車83に噛合している。
【0033】
従って、キャリヤ回転用モータ84が駆動することで、ホルダーベース部81を自転回動させることができ、キャリヤホルダー22を含むキャリヤ旋回運動機構20を介してキャリヤ12を下定盤16の回転軸を中心として回転(具体的には公転)させることができる。各キャリヤの透孔12aについては、公転させることができる。また、このキャリヤ回転用モータ84に、サーボモータを用いることで、所定の位置にキャリヤ12を停止させることができる。
このようにキャリヤ12を回転させて所定の位置で停止させることで、複数のキャリヤの透孔12aを順に所定の角度位置に、移動(インデックス)させることができる。また、キャリヤ回転機構80をキャリヤ停止手段43と合わせて用いれば、複数のキャリヤの透孔12aを順次同一位置に停止させることができる。従って、水平方向のストロークが短いアームロボット(通常の垂直多関節ロボット)でも、ウェーハ10をキャリヤの透孔12a内に好適に給排できる。
【0034】
なお、水平多関節ロボット54のように、水平方向のストロークが長く、両面研磨装置11の全面をカバーできるような場合には、キャリヤ回転機構80を要しなくともよい。すなわち、アームの先端部53を所定の位置に停止された複数のキャリヤの透孔12aへ順次移動するように制御すれば、ウェーハ10を好適に複数のキャリヤの透孔12aに供給できる。
また、このキャリヤ回転機構80は連続回転しない機構としてもよい。すなわち、所定の角度、例えば360度一方に回転したら、360度他方に戻るようにしてもよい。これにより、コードが捩じ切れることを防止できる。
【0035】
次に、図8に基づいてウェーハ給排手段を含む両面研磨装置システムの全体にかかる他の実施例を説明する。図4の実施例と同一の構成については、同一の符号を付して説明を省略する。
90は垂直多関節ロボットであり、ウェーハ保持用のカセットに縦置きされたウェーハ10を取り出し、ウェーハ保持用のカセットに縦置きにウェーハ10を収納することが可能に設けられている。
70はローダーカセット部であり、ウェーハ10が収納されたカセットが載置される部分である。72はセンターリング装置であり、ここで中心が出されたウェーハ10が、ウェーハ保持機構52によって保持され、前述したようにキャリヤの透孔12a内へ供給される。
また、78はアンローダーウォーターカセット部であり、垂直多関節ロボット90によってキャリヤの透孔12a内から排出されたウェーハ10が、アンローダーウォーターカセット部78に水没されたカセット内へ収納される。92は洗浄装置であり、ウェーハ保持機構52を洗浄すると共に乾燥する。
【0036】
以上の構成にかかる両面研磨装置システムによれば、次のように作動する。先ず、ウェーハ保持機構52の3個のツメ56で、ウェーハ10をその外周に当接してチャックし、ローダーカセット部70のカセットから直接取り出す。次にセンターリング装置72でウェーハ10のセンタリングを行う。
そして、ウェーハ10をキャリヤの透孔12a内に仕込む(供給する)。キャリヤの透孔12aはキャリヤ回転機構80とキャリヤ停止手段43とによって所定の位置に停止され、画像処理装置によってアームの先端部53が微調整されて、ウェーハ10がキャリヤの透孔12a内へ供給される。
また、キャリヤの透孔12a内からウェーハ10を取り出す(排出する)には、ウェーハ保持機構52の3個のツメ56で、ウェーハ10をその外周に当接してチャックする。そして、アームの先端部53をアンローダーウォーターカセット部78へ移動させ、ウェーハ10を直接カセットに入れて、ウェーハ10を水没させる。
次にウェーハ保持機構52のツメ56或いは吸着盤を、洗浄装置92で洗浄する。
本実施例のようにアームロボットが垂直多関節ロボット90であることで、ウェーハをカセットから引き出す装置や、ウェーハを案内してカセットへ収納するシュータ装置という付帯装置を要せず、システムを簡略化且つコンパクト化できる。
【0037】
以上の実施例では、ワークの代表例であるシリコンのウェーハ10について説明したが、本発明はこれに限らず、他の薄板状のワークの研磨についても好適に適用できるのは勿論である。他の薄板状のワークとしては、例えば、材質がガラスであるもの、ワークの外形が円形でないものが含まれる。
また、以上の実施例ではポリシング装置について説明したが、本発明はラッピング装置にも好適に適用できるのは勿論である。
以上、本発明につき好適な実施例を挙げて種々説明してきたが、本発明はこの実施例に限定されるものではなく、発明の精神を逸脱しない範囲内で多くの改変を施し得るのは勿論のことである。
【0038】
【発明の効果】
本発明の両面研磨装置システムによれば、キャリヤ停止手段によって予め所定の位置に停止されたキャリヤの透孔に、ワークの位置を画像処理装置で微調整して合わせ、ワークをキャリヤの透孔内へ好適に供給でき、また、キャリヤの透孔内のワークにワーク保持機構の位置を画像処理装置で微調整して合わせ、ワークをキャリヤの透孔内から好適に排出できる。キャリヤの透孔は予め所定の位置に停止されているから、アームの先端部の位置の微調整は僅かでよい。
また、キャリヤ回転機構により、キャリヤを回転させて所定の位置で停止させることで、複数のキャリヤの透孔を順に所定の角度位置に、移動(インデックス)させることができる。また、キャリヤ回転機構をキャリヤ停止手段と合わせて用いれば、複数のキャリヤの透孔を順次同一位置に停止させることができる。従って、水平方向のストロークが短いアームロボットでも、ウェーハをキャリヤの透孔内に好適に給排できる。
従って、本発明によれば、自転しない円運動をするキャリヤを備える両面研磨装置について、ワークの給排を自動的且つ確実に、効率良く行うことが可能になるという著効を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明にかかる両面研磨装置の背景技術を説明する斜視分解図である。
【図2】 図1の背景技術の側断面図である。
【図3】 本発明にかかるワーク給排システムの背景技術を説明する平面図である。
【図4】 本発明にかかるウェーハ給排手段を含む両面研磨装置システムの全体にかかる一実施例を説明する平面図である。
【図5】 本発明にかかるアームロボットの先端部を説明する側面図である。
【図6】 図6はアームロボットの先端部を説明する底面図である。
【図7】 本発明にかかるキャリヤ回転機構を説明する断面図である。
【図8】 本発明にかかるウェーハ給排手段を含む両面研磨装置システムの全体にかかる他の実施例を説明する平面図である。
【符号の説明】
10 ウェーハ
11 両面研磨装置
12 キャリヤ
12a 透孔
12b 穴
14 上定盤
14a 研磨面
14b 研磨剤供給用の孔
15 連通孔
16 下定盤
16a 研磨面
20 キャリヤ旋回運動機構
22 キャリヤホルダー
23 ピン
24 クランク部材
24a ホルダー側の軸
24b 基体側の軸
28 タイミングチェーン
30 基体
32 モータ
32a サーボモータ
43 キャリヤ停止手段
44 制御装置
49 ワーク給排手段
50 ウェーハ給排手段
52 ウェーハ保持機構
53 アームの先端部
54 水平多関節ロボット
55 カメラ
56 ツメ
58 開閉チャック
80 キャリヤ回転機構
90 垂直多関節ロボット

Claims (5)

  1. 薄平板に複数の透孔が設けられて成るキャリヤと、
    該キャリヤの透孔内に配された板状の各ワークを上下から挟むと共に、回転軸を中心に相対的に回転してワークを研磨する上定盤及び下定盤と、
    前記キャリヤを、該キャリヤの面と平行な面内で自転しない円運動をさせ、前記透孔内で上定盤と下定盤との間に保持された前記ワークを旋回移動させるキャリヤ旋回運動機構とを備える両面研磨装置システムにおいて、
    前記キャリヤ旋回運動機構に設けられ、前記キャリヤを所定の位置に停止させるキャリヤ停止手段と、
    前記キャリヤ停止手段によって停止した前記キャリヤの透孔内に前記ワークを確実に供給すると共に前記キャリヤの透孔内から前記ワークを確実に排出するため、ワークの保持するワーク保持機構が先端部に設けられた、多関節ロボットからなるアームロボット、及びキャリヤの透孔及びワークにかかる形状及び位置を認識する画像処理装置を有するワーク給排手段と、
    前記キャリヤ旋回運動機構と共に、前記キャリヤを前記下定盤の回転軸を中心に回転させるキャリヤ回転機構とを備え、
    前記キャリヤ停止手段によって停止させられたキャリヤの、前記ワーク給排手段によってワークが供給もしくは排出される透孔の位置に、該キャリヤの他の透孔が、前記キャリヤ停止手段と前記キャリヤ回転機構とによって順次停止され、ワークの給排がなされることを特徴とする両面研磨装置システム。
  2. 前記キャリヤ停止手段は、前記キャリヤを駆動させる駆動装置としてのサーボモータと、該サーボモータを制御する制御装置から成るサーボ機構であることを特徴とする請求項1記載の両面研磨装置システム。
  3. 前記キャリヤ回転機構は、前記キャリヤ旋回運動機構を支持すると共に、前記下定盤の回転軸を中心に回転するベース部と、
    該ベース部を回転駆動するキャリヤ回転用モータとを具備することを特徴とする請求項1又は2記載の両面研磨装置システム。
  4. 前記アームロボットは水平多関節ロボットであり、前記ワーク保持機構及び前記画像処理装置のカメラが水平多関節ロボットの先端部に設けられていることを特徴とする請求項1、2又は3記載の両面研磨装置システム。
  5. ワーク保持用のカセットに縦置きされた前記ワークを取り出し、ワーク保持用のカセットに縦置きにワークを収納することが可能に、前記アームロボットは垂直多関節ロボットであることを特徴とする請求項1、2又は3記載の両面研磨装置システム。
JP10540799A 1999-04-13 1999-04-13 両面研磨装置システム Expired - Fee Related JP4256977B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10540799A JP4256977B2 (ja) 1999-04-13 1999-04-13 両面研磨装置システム
DE60040943T DE60040943D1 (de) 1999-04-13 2000-04-12 Doppelseitenpoliermaschine
EP00303063A EP1044765B1 (en) 1999-04-13 2000-04-12 Double side polishing device
MYPI20001553A MY116804A (en) 1999-04-13 2000-04-12 Abrasive system
US09/547,659 US6361418B1 (en) 1999-04-13 2000-04-12 Abrasive system
TW089106784A TW470681B (en) 1999-04-13 2000-04-12 Abrasive system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10540799A JP4256977B2 (ja) 1999-04-13 1999-04-13 両面研磨装置システム

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2000296463A JP2000296463A (ja) 2000-10-24
JP2000296463A5 JP2000296463A5 (ja) 2006-06-01
JP4256977B2 true JP4256977B2 (ja) 2009-04-22

Family

ID=14406771

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10540799A Expired - Fee Related JP4256977B2 (ja) 1999-04-13 1999-04-13 両面研磨装置システム

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6361418B1 (ja)
EP (1) EP1044765B1 (ja)
JP (1) JP4256977B2 (ja)
DE (1) DE60040943D1 (ja)
MY (1) MY116804A (ja)
TW (1) TW470681B (ja)

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10081456T1 (de) * 1999-05-17 2001-09-27 Kashiwara Machine Mfg Vefahren und Vorrichtung zum doppelseitigen Polieren
US6620257B1 (en) * 1999-06-30 2003-09-16 Hoya Corporation Scrub cleaning method for substrate and manufacturing method for information recording medium
JP3791302B2 (ja) * 2000-05-31 2006-06-28 株式会社Sumco 両面研磨装置を用いた半導体ウェーハの研磨方法
JP2002239895A (ja) * 2001-01-31 2002-08-28 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 研磨用保持部材、研磨方法および研磨装置
JP4620898B2 (ja) * 2001-04-23 2011-01-26 不二越機械工業株式会社 研磨装置システム
DE10228441B4 (de) * 2001-07-11 2005-09-08 Peter Wolters Werkzeugmaschinen Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum automatischen Beladen einer Doppelseiten-Poliermaschine mit Halbleiterscheiben
JP2003089046A (ja) * 2001-09-12 2003-03-25 Seiko Instruments Inc 端面研磨装置
KR100932741B1 (ko) * 2002-03-28 2009-12-21 신에쯔 한도타이 가부시키가이샤 웨이퍼의 양면연마장치 및 양면연마방법
JP2004106173A (ja) * 2002-08-29 2004-04-08 Fujikoshi Mach Corp 両面研磨装置
JP4343020B2 (ja) * 2003-12-22 2009-10-14 株式会社住友金属ファインテック 両面研磨方法及び装置
JP4492155B2 (ja) * 2004-02-27 2010-06-30 信越半導体株式会社 半導体ウエーハ用キャリアの保持孔検出装置及び検出方法並びに半導体ウエーハの研磨方法
JP4727218B2 (ja) * 2004-12-10 2011-07-20 株式会社住友金属ファインテック 両面研磨用キャリア
ATE507031T1 (de) * 2008-01-16 2011-05-15 Wendt Gmbh Planschleifmaschine
CN103537981B (zh) * 2013-07-26 2016-08-10 浙江工业大学 一种高精度圆柱形零件外圆的超精加工方法
CN108453598B (zh) * 2018-03-02 2020-12-22 泰州永林机械有限公司 一种机械铁质板材表面双层同步抛光设备
CN109531374A (zh) * 2018-11-20 2019-03-29 宁波中和汽配有限公司 滚针分选机用压块的研磨装置
DE102019208704A1 (de) 2019-06-14 2020-12-17 Siltronic Ag Einrichtung und Verfahren zum Polieren von Halbleiterscheiben
CN110340787B (zh) * 2019-08-09 2021-08-10 衢州学院 蓝宝石切片立式双面研磨设备
CN113829223B (zh) * 2021-11-30 2022-03-01 临沂安信电气有限公司 一种半导体生产用的基板加工装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58171255A (ja) * 1982-03-29 1983-10-07 Toshiba Corp 両面鏡面研摩装置
JPS62176755A (ja) * 1986-01-31 1987-08-03 Yasunori Taira 平面研磨装置
US5121572A (en) * 1990-11-06 1992-06-16 Timesavers, Inc. Opposed disc deburring system
JPH0615565A (ja) * 1991-12-18 1994-01-25 Shin Etsu Handotai Co Ltd ウエーハ自動ラッピング装置
JPH09252100A (ja) 1996-03-18 1997-09-22 Shin Etsu Handotai Co Ltd 結合ウェーハの製造方法及びこの方法により製造される結合ウェーハ
US5679055A (en) * 1996-05-31 1997-10-21 Memc Electronic Materials, Inc. Automated wafer lapping system
US5964651A (en) * 1996-10-28 1999-10-12 Hmt Technology Corporation Apparatus for polishing planar substrates through rotating plates
JPH10202511A (ja) 1997-01-21 1998-08-04 Fujikoshi Mach Corp 両面研磨装置
JPH11207611A (ja) * 1998-01-21 1999-08-03 Shin Etsu Handotai Co Ltd 両面研磨装置におけるワークの自動搬送装置
JPH11267964A (ja) * 1998-03-20 1999-10-05 Speedfam Co Ltd 平面研磨装置及びそれに用いるキャリヤ

Also Published As

Publication number Publication date
JP2000296463A (ja) 2000-10-24
EP1044765A2 (en) 2000-10-18
EP1044765A3 (en) 2003-03-26
TW470681B (en) 2002-01-01
US6361418B1 (en) 2002-03-26
EP1044765B1 (en) 2008-12-03
DE60040943D1 (de) 2009-01-15
MY116804A (en) 2004-03-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4256977B2 (ja) 両面研磨装置システム
US6773335B2 (en) Apparatus for polishing periphery of device wafer and polishing method
KR102322525B1 (ko) 기판의 표면을 처리하는 장치 및 방법
US6379221B1 (en) Method and apparatus for automatically changing a polishing pad in a chemical mechanical polishing system
US5893795A (en) Apparatus for moving a cassette
EP3476536B1 (en) Polishing apparatus
WO2000069597A1 (fr) Procede et dispositif de polissage double face
CN209831280U (zh) 晶圆多工位边缘抛光设备
CN209831279U (zh) 晶圆凹口抛光装置
CN209831278U (zh) 晶圆边缘抛光装置
JP5352216B2 (ja) ウェハ周辺部研磨装置
JP4037645B2 (ja) 両面研磨装置
JP2002036099A (ja) 両面研磨装置
CN209831181U (zh) 晶圆转移装置
JP4037532B2 (ja) 両面研磨装置
JP2000042913A (ja) 両面研磨装置のワーク給排システム
JP2000326207A (ja) 両面研摩装置
EP1291132A2 (en) Semiconductor wafer polishing apparatus and polishing method
JP2002321132A (ja) ワークの搬送装置
JPH065568A (ja) 半導体ウエハの全自動ポリッシング装置
KR100744101B1 (ko) 웨이퍼 표면연마장비의 플래튼 구동 시스템
JP2001093968A (ja) 円板状部材の保持装置
JP2000326222A (ja) 両面研摩方法及び装置
JPH08153771A (ja) ウェーハの供給・排出装置および供給・排出方法
TWI327092B (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060411

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060411

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20071214

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20071218

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080214

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090113

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090202

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120206

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees