JP3139319B2 - テトラフェノール系化合物、その製法および用途 - Google Patents

テトラフェノール系化合物、その製法および用途

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、新規なテトラフェノー
ル系化合物、それの製造方法、およびそれの感光剤分野
への適用に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、フェノール性水酸基を有する化
合物をキノンジアジドスルホン酸エステル化して、半導
体微細加工用の感光性樹脂組成物における感光剤として
用いることは公知である。すなわち、キノンジアジド基
を有する化合物とノボラック樹脂からなる組成物を金属
基体上に塗布し、これに300〜500nmの光を照射す
ると、キノンジアジド基が分解してカルボキシル基を生
じ、アルカリ不溶の状態からアルカリ可溶の状態になる
ことを利用して、かかる組成物はポジ型レジストとして
用いられる。こうしたポジ型レジストは、ネガ型レジス
トに比べて解像力に優れるという特徴を有することか
ら、半導体用の各種集積回路の製作に利用されている。
【0003】そして、半導体産業における集積回路は近
年、高集積化に伴い、微細化の一途をたどっており、今
やサブミクロンのパターン形成が要求されるに至ってい
る。そのなかでも、リソグラフィープロセスは、集積回
路製造時の重要な地位を占めており、ポジ型レジストに
ついても、一層優れた解像度(高いγ値)が求められる
ようになっている。
【0004】キノンジアジド化合物およびノボラック樹
脂を含有するレジスト材料については、各成分の組合せ
について従来から数多くの提案がなされてきている。例
えば特開平 1-189644 号公報(=USP 5,153,096)には、フ
ェノール性水酸基を少なくとも2個有するトリフェニル
メタン系の化合物をキノンジアジドスルホン酸エステル
化したものを、感光剤として用いることが記載されてい
る。 しかしながら、こうした公知の感光剤を用いて
も、現在の超高集積回路作製のための超微細加工用、い
わゆるサブミクロンリソグラフィー用のレジストとして
は、γ値の向上に限界があった。そこで、感度、解像
度、耐熱性等のレジスト性能を向上させるための種々の
研究が行われている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、感光
性樹脂組成物の感光剤成分となりうる、あるいはその原
料となりうる新規なフェノール系化合物を製造し、提供
することにある。
【0006】本発明の別の目的は、かかる化合物を用い
て、高い感度、高い解像力、高い耐熱性、良好なプロフ
ァイル、良好なフォーカス許容性、少ない現像残渣な
ど、レジスト諸性能のバランスがとれた感光性樹脂組成
物を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】研究の結果、フェノール
性水酸基を4個有する特定構造のフェノール系化合物を
見いだし、そしてこの化合物をキノンジアジドスルホン
酸エステル化したものを感光剤として用いることによ
り、上記の目的が達成されることを見いだし、本発明を
完成した。
【0008】したがって、本発明は一つの見地から、次
式(I)で示されるテトラフェノール系化合物を提供す
るものである。
【0009】
【0010】式中、R1 、R2 、R3 およびR4 は互い
に独立に、水素または1,2−ナフトキノンジアジド−
4−もしくは−5−スルホニルを表す。ここでいう1,
2−ナフトキノンジアジド−4−または−5−スルホニ
ルとは、次のいずれかの式で示される基を意味する。
【0011】
【0012】また本発明は別の見地から、4,4′−メ
チレンビス(2−ヒドロキシメチル−3,6−ジメチル
フェノール)とパラクレゾールを反応させることによ
り、式(I)で示される化合物のうち、R1 、R2 、R
3 およびR4 がすべて水素であるもの、すなわち、4,
4′−メチレンビス〔2−(2−ヒドロキシ−5−メチ
ルベンジル)−3,6−ジメチルフェノール〕を製造す
る方法を提供する。さらに、この4,4′−メチレンビ
ス〔2−(2−ヒドロキシ−5−メチルベンジル)−3,
6−ジメチルフェノール〕を1,2−ナフトキノンジア
ジド−4−または−5−スルホニルハライドと反応させ
ることにより、式(I)で示され、R1 、R2 、R3
よびR4 のうちの少なくとも一つが1,2−ナフトキノ
ンジアジド−4−または−5−スルホニルとなった化合
物を製造する方法も提供される。
【0013】本発明はまた、もう一つ別の見地から、式
(I)において、R1 、R2 、R3およびR4 の一つ
が、1,2−ナフトキノンジアジド−4−または−5−
スルホニルであり、残りが互いに独立に、水素または
1,2−ナフトキノンジアジド−4−もしくは−5−ス
ルホニルである化合物を有効成分とする感光剤を提供
し、さらには、アルカリ可溶性ノボラック樹脂ととも
に、かかる感光剤を含有する感光性樹脂組成物をも提供
する。
【0014】式(I)において、R1 、R2 、R3 およ
びR4 のうち少なくとも一つが1,2−ナフトキノンジ
アジド−4−または−5−スルホニルである化合物は、
紫外線や遠紫外線(エキシマーレーザーなどを含む)の
ような放射線に感応する感光剤として有用である。ま
た、R1 、R2 、R3 およびR4 がすべて水素である化
合物は、かかる感光剤の前駆体として有用である。
【0015】R1 、R2 、R3 およびR4 がすべて水素
である化合物、すなわち、4,4′−メチレンビス〔2
−(2−ヒドロキシ−5−メチルベンジル)−3,6−
ジメチルフェノール〕は、例えば、4,4′−メチレン
ビス(2−ヒドロキシメチル−3,6−ジメチルフェノ
ール)とパラクレゾールを反応させることにより、製造
することができる。この反応において原料となる4,
4′−メチレンビス(2−ヒドロキシメチル−3,6−
ジメチルフェノール)は、例えば、2,5−キシレノー
ルとホルムアルデヒドをアルカリ触媒の存在下で縮合さ
せることにより、製造することができる。
【0016】4,4′−メチレンビス(2−ヒドロキシ
メチル−3,6−ジメチルフェノール)とパラクレゾー
ルの反応において、パラクレゾールは、4,4′−メチ
レンビス(2−ヒドロキシメチル−3,6−ジメチルフ
ェノール)に対し、一般的には5〜50のモル比、好ま
しくは8〜30、さらに好ましくは10〜25のモル比
で用いられる。この際、酸触媒を存在させるのが好まし
い。酸触媒は、塩酸、硫酸のような無機酸、蟻酸、酢
酸、プロピオン酸、パラトルエンスルホン酸のような有
機酸のいずれでもよいが、なかでも、塩酸や硫酸のよう
な鉱酸、とりわけ塩酸が好ましく用いられる。酸触媒
は、4,4′−メチレンビス(2−ヒドロキシメチル−
3,6−ジメチルフェノール)に対し、通常1当量以
下、好ましくは0.1〜0.5当量の範囲で用いられる。
【0017】この反応は溶媒中で行うのが好ましく、こ
の場合の反応溶媒は、芳香族溶媒、それも芳香族炭化水
素溶媒であるのが好ましい。芳香族炭化水素溶媒として
は、ベンゼン、トルエン、キシレンなどが挙げられ、な
かでもトルエンが好ましく用いられる。反応溶媒、例え
ば芳香族溶媒は、4,4′−メチレンビス(2−ヒドロ
キシメチル−3,6−ジメチルフェノール)とパラクレ
ゾールの合計量を基準に、一般的には0.25〜5重量倍
の範囲で、好ましくは0.25〜2重量倍、さらに好まし
くは0.25〜0.5重量倍の範囲で使用される。
【0018】反応は、通常30〜80℃の範囲、好まし
くは40〜60℃の範囲の温度で、2〜3時間程度行わ
れる。この反応は、通常大気圧下で進行する。
【0019】芳香族溶媒中、室温付近で反応を行った場
合は、反応の進行とともに、またそれより高い温度で反
応を行った場合は、反応終了後室温付近まで冷却するこ
とにより、目的物である4,4′−メチレンビス〔2−
(2−ヒドロキシ−5−メチルベンジル)−3,6−ジ
メチルフェノール〕の結晶が析出してくる。この結晶を
取り出すことにより、粗生成物が得られ、その後任意の
精製手段を施すことができる。例えば、この化合物は常
温で芳香族溶媒への溶解度が低いので、芳香族溶媒から
の晶析を行うことにより、あるいは必要によりそれを繰
り返すことにより、精製することができる。この際に用
いる晶析溶媒は、反応に用いたものと同じであっても異
なっていてもよい。
【0020】また、この化合物を、後述するようにキノ
ンジアジドスルホン酸エステル化して、半導体製造用の
感光性樹脂組成物における感光剤とする場合は、水への
溶解度が9g/100g以下である溶媒に上記粗生成物
を溶解したあと、水洗分液することにより、金属分を低
減させておくのが好ましい。ここで、水への溶解度が9
g/100g以下とは、20℃の水100gに溶ける最
大量が9g以下であることを意味する。またここで用い
る溶媒は、20℃において、4,4′−メチレンビス
〔2−(2−ヒドロキシ−5−メチルベンジル)−3,
6−ジメチルフェノール〕の溶解度が1g/100g以
上であるのが好ましい。かかる溶媒としては、酢酸エチ
ル、酢酸n−ブチル、酢酸イソアミルのような酢酸エス
テル類、メチルイソブチルケトン、2−ヘプタノンのよ
うなケトン類などが挙げられ、なかでも酢酸エチルが好
ましく用いられる。
【0021】こうして金属の低減化を図った4,4′−
メチレンビス〔2−(2−ヒドロキシ−5−メチルベン
ジル)−3,6−ジメチルフェノール〕を含む溶液は、
さらに芳香族溶媒を加えて、目的物を晶析させることが
できる。ここで用いる芳香族溶媒は、反応に用いたもの
と同じであっても異なっていてもよいが、好ましくはト
ルエンが用いられる。
【0022】かくして得られる4,4′−メチレンビス
〔2−(2−ヒドロキシ−5−メチルベンジル)−3,
6−ジメチルフェノール〕は、例えば、キノンジアジド
スルホン酸エステル化して、感光剤とすることができ
る。エステル化にあたっては、1,2−キノンジアジド
骨格を有する各種のスルホン酸誘導体を用いることがで
きるが、好ましくは、1,2−ナフトキノンジアジド−
4−または−5−スルホニルハライドが用いられる。
スルホニルハライドを構成するハロゲンは、例えば塩素
や臭素などであることができるが、通常は塩素であるの
が好ましく、したがって1,2−ナフトキノンジアジド
−4−または−5−スルホニルクロライドが、エステル
化剤として好ましく用いられる。また、1,2−ナフト
キノンジアジド−4−スルホニルハライドと1,2−ナ
フトキノンジアジド−5−スルホニルハライドの混合物
を用いることもできる。
【0023】エステル化反応において、1,2−ナフト
キノンジアジド−4−および/または−5−スルホニル
ハライドは、4,4′−メチレンビス〔2−(2−ヒド
ロキシ−5−メチルベンジル)−3,6−ジメチルフェ
ノール〕に対し、通常1.2〜4のモル比、好ましくは
1.4〜2.5のモル比で用いられる。
【0024】この反応は、通常、脱ハロゲン化水素剤の
存在下で行われる。脱ハロゲン化水素剤としては、一般
的に塩基性の化合物、例えば炭酸ナトリウム、炭酸水素
ナトリウムのような無機塩基、エチルアミン、エタノー
ルアミン、ジエチルアミン、ジエタノールアミン、トリ
エチルアミン、N,N−ジメチルアニリン、N,N−ジ
エチルアニリンのようなアミン類が挙げられる。脱ハロ
ゲン化水素剤は、1,2−ナフトキノンジアジド−4−
または−5−スルホニルハライドに対し、通常1.05〜
1.5のモル比、好ましくは1.05〜1.2、さらに好まし
くは1.1〜1.2のモル比で用いられる。
【0025】エステル化反応は通常、溶媒中で行われ
る。反応溶媒としては、エーテル類、ラクトン類、脂肪
族ケトン類などが挙げられ、なかでも、ジオキソラン、
1,4−ジオキサン、テトラヒドロフラン、γ−ブチロ
ラクトン、アセトンおよび2−ヘプタノンから選ぶのが
好ましい。これらをそれぞれ単独で、または2種以上組
み合わせて用いることができるが、とりわけ1,4−ジ
オキサンが好ましい。反応溶媒は、4,4′−メチレン
ビス〔2−(2−ヒドロキシ−5−メチルベンジル)−
3,6−ジメチルフェノール〕とキノンジアジドスルホ
ニルハライドの合計量を基準に、通常は2〜6重量倍の
範囲で、好ましくは3〜5重量倍、さらに好ましくは4
〜5重量倍の範囲で使用される。
【0026】このエステル化反応は、常圧下、常温付近
でも十分進行し、一般的には20〜30℃の範囲の温度
が採用され、2〜10時間程度行われる。
【0027】反応終了後は、酢酸のような酸で中和し、
固形物を濾過したあと、濾液を薄い酸水溶液、例えば1
重量%程度の濃度の酢酸水溶液と混合すれば、目的物で
あるエステルが析出してくる。これを濾過、洗浄および
乾燥することにより、エステルを取り出すことができ
る。
【0028】このエステル化反応においては、用いる
1,2−ナフトキノンジアジドスルホニルハライドのモ
ル比にもよるが、通常は、式(I)におけるR1
2 、R3およびR4 のいずれか一つがキノンジアジド
スルホニルとなったもの(モノエステル)、それらのい
ずれか二つがキノンジアジドスルホニルとなったもの
(ジエステル)、それらのいずれか三つがキノンジアジ
ドスルホニルとなったもの(トリエステル)、およびそ
れら四つのすべてがキノンジアジドスルホニルとなった
もの(テトラエステル)のうち、2種以上の混合物とし
て得られる。この混合物は、通常そのまま感光剤として
用いることができる。
【0029】こうしてエステル化された化合物は、紫外
線や遠紫外線(エキシマーレーザー等を含む)などの放
射線に感応する感光剤として有利に使用することができ
る。この感光剤は、アルカリ可溶性ノボラック樹脂と組
み合わせて、ポジ型レジスト用の感光性樹脂組成物とし
た場合に、特に高い効果を発揮する。
【0030】感光性樹脂組成物を構成するアルカリ可溶
性ノボラック樹脂は、フェノール性水酸基を少なくとも
1個有する化合物とアルデヒドとを、酸触媒の存在下に
縮合させて得られるものであって、その種類は特に限定
されるものでなく、レジスト分野で用いられる各種のも
のであることができる。ノボラック樹脂の原料となるフ
ェノール系化合物としては、例えば、メタクレゾール、
パラクレゾール、オルトクレゾール、2,5−キシレノ
ール、3,5−キシレノール、3,4−キシレノール、
2,3,5−トリメチルフェノール、3−メチル−6−
t−ブチルフェノールなどが挙げられる。また、ノボラ
ック樹脂のもう一方の原料であるアルデヒドとしては、
ホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、ベンズアルデヒ
ド、グリオキサール、サリチルアルデヒドなどが挙げら
れる。特にホルムアルデヒドは、37重量%水溶液とし
て工業的に量産されており、好適に用いられる。
【0031】こうしたフェノール系化合物の1種または
2種以上と、アルデヒドの1種または2種以上とを、酸
触媒の存在下に縮合させることにより、ノボラック樹脂
が得られる。酸触媒としては、有機酸、無機酸、二価金
属塩などが用いられ、具体例としては、シュウ酸、酢
酸、パラトルエンスルホン酸、塩酸、硫酸、リン酸、酢
酸亜鉛などが挙げられる。縮合反応は常法に従って行う
ことができ、例えば60〜120℃の範囲の温度で2〜
30時間程度行われる。また、反応はバルクで行って
も、適当な溶媒中で行ってもよい。
【0032】得られるノボラック樹脂は、レジストの現
像残渣を少なくするなどの目的で、例えば分別等の操作
を施して、 そのゲルパーミエーションクロマトグラフ
ィー(GPC)によるパターンにおいて、ポリスチレン
換算分子量で900以下の成分の面積比が、未反応のフ
ェノール系化合物のパターン面積を除く全パターン面積
に対して25%以下となるようにしておくのが好まし
い。さらには、かかるポリスチレン換算分子量で900
以下の成分の面積比が、20%以下となるようにしてお
くのがより好ましい。
【0033】分別を行う場合、ノボラック樹脂を、良溶
媒、例えばメタノールやエタノールのようなアルコー
ル、アセトンやメチルエチルケトン、メチルイソブチル
ケトンのようなケトン、エチルセロソルブのようなエチ
レングリコールエーテル、エチルセロソルブアセテート
のようなエチレングリコールエーテルエステル、テトラ
ヒドロフランのような環状エーテルなどに溶解し、この
溶液を水中に注いで高分子量成分を沈澱させる方法、あ
るいはこの溶液を、ペンタン、ヘキサン、ヘプタンのよ
うな貧溶媒と混合して分液する方法などが採用できる。
【0034】こうした分別操作を施して高分子量成分を
多くしたノボラック樹脂に、分子量900以下のアルカ
リ可溶性フェノール系化合物を加えることも有効であ
る。分子量900以下のアルカリ可溶性フェノール系化
合物としては、分子構造中にフェノール性水酸基を2個
以上有するものが好ましく、例えば特開平 2-275955 号
公報(=EP-A-358,871) に記載のものが挙げられる。分子
量900以下のアルカリ可溶性フェノール系化合物を用
いる場合は、感光性樹脂組成物中の全固形分の量を基準
として、3〜40重量%の範囲で含有させるのが好まし
い。
【0035】本発明の感光性樹脂組成物は、 式(I)
で示され、R1 、R2 、R3 およびR4 の少なくとも一
つが1,2−ナフトキノンジアジド−4−または−5−
スルホニルとなった化合物を感光剤として含有するので
あるが、必要に応じて、他のフェノール系化合物の1,
2−キノンジアジドスルホン酸エステルを併用すること
もできる。併用するのに適したキノンジアジドスルホン
酸エステルとしては、例えば、特開平 5-204148 号公報
に記載のもの、特開平 5-323597 号公報(=EP-A-570,88
4) に記載のもの、特開平 6-167805 号公報(=EP-A-573,
056) に記載のものなどが挙げられる。
【0036】本発明においては、こうした他のキノンジ
アジドスルホン酸エステルを用いる場合はそれも含め
て、感光剤は、感光性樹脂組成物中の全固形分の量を基
準に、10〜50重量%の範囲で含有するのが好まし
い。
【0037】感光性樹脂組成物を含むレジスト液の調製
は、感光剤およびノボラック樹脂、あるいは必要に応じ
てさらに分子量900以下のアルカリ可溶性フェノール
系化合物を、溶剤に混合溶解することにより行われる。
ここで用いる溶剤は、適当な乾燥速度を有し、溶剤が蒸
発したあとに均一で平滑な塗膜を与えるものが好まし
い。このような溶剤としては、プロピレングリコールモ
ノメチルエーテルアセテートやエチルセロソルブアセテ
ート、メチルセロソルブアセテートのようなグリコール
エステル類、ピルビン酸エチルや酢酸n−アミル、酢酸
エチルのようなエステル類、2−ヘプタノンのようなケ
トン類、γ−ブチロラクトンのような環状エステル類、
その他特開平 2-220056 号公報に記載のもの、特開平 4
-362645 号公報に記載のもの、特開平 4-367863 号公報
に記載のものなどが挙げられる。溶剤としては、それぞ
れの化合物を単独で、または2種以上混合して用いるこ
とができる。
【0038】こうして得られるレジスト液ないしは感光
性樹脂組成物は、必要に応じてさらに、添加剤として少
量の樹脂や染料を含有することもできる。
【0039】
【実施例】次に実施例を挙げて、本発明をさらに具体的
に説明するが、本発明はこれらの実施例によってなんら
限定されるものではない。例中、含有量ないし添加量を
表す%および部は、特にことわらないかぎり重量基準で
ある。
【0040】合成例1: 4,4′−メチレンビス〔2
−(2−ヒドロキシ−5−メチルベンジル)−3,6−
ジメチルフェノール〕の製造 500mlの三つ口フラスコにパラクレゾール144.16
g、トルエン81.57gおよび36%塩酸0.43gを仕
込み、50℃に保ちながら4,4′−メチレンビス(2
−ヒドロキシメチル−3,6−ジメチルフェノール)1
8.98gを1時間で分割投入し、その後さらに同温度で
3時間攪拌した。冷却後濾過し、得られた濾過物を酢酸
エチル269gに溶解し、蒸留水47gを加えて水洗
し、この水洗操作をさらに4回繰り返した。次に酢酸エ
チル層を濃縮し、トルエン107.5gを仕込んで、析出
した結晶を濾過し、さらにこの結晶をトルエン44.54
gで洗浄し、このトルエン洗浄をもう1度繰り返した。
こうして得られたウェットケーキを60℃にて一昼夜減
圧乾燥し、13.45gの4,4′−メチレンビス〔2−
(2−ヒドロキシ−5−メチルベンジル)−3,6−ジ
メチルフェノール〕を得た。
【0041】質量分析値: MS 4961 H−NMR(ジメチルスルホキシド) δ(ppm) : 1.92 (s, 6H); 2.02 (s, 6H); 2.09 (s, 6H); 3.68 (s, 2H); 3.88 (s, 4H); 6.33 (s, 2H); 6.48 (s, 2H); 6.70 (m, 4H); 7.94 (brs, 2H); 9.22 (brs, 2H).
【0042】合成例2: キノンジアジドスルホン酸エ
ステル化 5リットルの四つ口フラスコに、4,4′−メチレンビ
ス〔2−(2−ヒドロキシ−5−メチルベンジル)−
3,6−ジメチルフェノール〕を372.53g、1,2
−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロライドを
403.02g(2モル比)、およびジオキサンを387
7.73g仕込んで完溶させ、そこへ、トリエチルアミン
182.142gを20〜30℃で1時間かけて滴下し
た。滴下終了後、30℃で3時間攪拌した。次に酢酸4
5.04gを添加し、同温度で1時間攪拌したあと、反応
混合物を濾過し、得られた濾過残をジオキサン403.0
2gで洗浄した。濾液および洗液を、酢酸171gおよ
びイオン交換水17123gの混合液に注入して1時間
攪拌し、析出した結晶を濾過したあと、得られたケーキ
をイオン交換水3891gに投入して攪拌、洗浄し、こ
の水洗操作をさらに3回繰り返した。次いで濾過し、得
られたケーキを40℃で乾燥して、747gのエステル
体(感光剤Aとする)を得た。
【0043】1H−NMR(ジメチルスルホキシド)
δ(ppm) : 1.75 (s, 6H); 2.06 (s, 6H); 2.06 (s, 6H);3.65 (s,
2H); 3.86 (s, 4H); 6.39 (s, 2H);6.48 (s, 2H); 6.63
(d, 8.2 Hz, 2H);6.89 (d, 8.2 Hz, 2H); 7.42 (d, 10
Hz, 2H);7.66 (dd, 8.8 Hz, 2H); 7.75 (d, 10 Hz, 2
H);8.02 (s, 2H); 8.24 (d, 8Hz, 2H);8.60 (d, 8 Hz,
2H).
【0044】参考例: ノボラック樹脂の製造 内容積1000mlの四つ口フラスコに、メタクレゾール
148.5g、パラクレゾール121.5g、メチルイソブ
チルケトン252g、 10%シュウ酸水溶液37.0g
および90%酢酸水溶液84.8gを仕込み、100℃の
油浴で加熱攪拌しながら、37%ホルマリン129.5g
を40分かけて滴下し、さらに15時間反応させた。そ
の後水洗、脱水して、ノボラック樹脂を42.3%含有す
るメチルイソブチルケトン溶液466gを得た。GPC
によるポリスチレン換算重量平均分子量は4300であ
った。
【0045】この溶液450gを、5リットルの底抜き
セパラブルフラスコに仕込み、さらにメチルイソブチル
ケトン909.6gおよびn−ヘプタン996.1gを加え
て、60℃で30分間攪拌したあと、静置し、分液し
た。分液で得られた下層のマスに、2−ヘプタノンを3
80g加え、メチルイソブチルケトンおよびn−ヘプタ
ンをエバポレーターにより除去して、ノボラック樹脂の
2−ヘプタノン溶液を得た。GPCによるポリスチレン
換算重量平均分子量は9000であり、ポリスチレン換
算分子量で900以下の範囲の面積比は、全パターン面
積に対して14%であった。
【0046】適用例1〜3 参考例で得たノボラック樹脂の2−ヘプタノン溶液を固
形分換算で15部、添加剤として4,4′−(2−ヒド
ロキシベンジリデン)ジ−2,6−キシレノールを3.9
部、表1に示した1,2−ナフトキノンジアジド系感光
剤、および2−ヘプタノンを、2−ヘプタノンが合計で
50部になるように混合し、溶解した。この液を孔径
0.2μm のフッ素樹脂製フィルターで濾過して、レジス
ト液を調製した。
【0047】常法により洗浄したシリコンウェハーに、
回転塗布器を用いて上記レジスト液を1.1μm 厚で塗布
し、ホットプレートにて90℃で1分間ベークした。
次いで、365nm(i線)の露光波長を有する縮小投影
露光器〔(株)ニコン製品、NSR 1755i 7A、NA=0.5)を
用いて、露光量を段階的に変化させて露光した。次にこ
のウェハーを、ホットプレートにて110℃で1分間ベ
ークした。 これを現像液"SOPD"〔住友化学工業(株)
製品〕で1分間現像して、ポジ型パターンを得た。それ
ぞれのポジ型パターンについて、以下のようにして評価
し、結果を表1に示した。
【0048】実効感度: 0.50μm のラインアンドス
ペースパターンが1:1になる露光量で表示した。
【0049】解像度: ラインアンドスペースパターン
が1:1になる露光量(実効感度)で、膜減りなく分離
するラインアンドスペースパターンの寸法を、走査型電
子顕微鏡で測定した。
【0050】プロファイル: 実効感度における0.45
μm ラインアンドスペースパターンの断面形状を走査型
電子顕微鏡で観察した。
【0051】フォーカス(焦点深度): 実効感度にお
いて、0.40μm ラインアンドスペースパターンが膜減
りなく分離する焦点の幅を、走査型電子顕微鏡で測定し
た。
【0052】スカム: 走査型電子顕微鏡でスカム(現
像残渣)の有無を観察した。
【0053】γ値: 露光量の対数に対する規格化膜厚
(=残膜厚/初期膜厚)をプロットし、その傾きθを求
め、tan θをγ値とした。
【0054】
【表1】
【0055】(表1の脚注) 感光剤A: 合成例2で得られたエステル 感光剤B: 4−(4−ヒドロキシ−2,5−ジメチル
ベンジル)ピロガロールと1,2−ナフトキノンジアジ
ド−5−スルホニルクロライドとのモル比1:4の縮合
【0056】
【発明の効果】本発明による式(I)で示されるテトラ
フェノール系化合物のうち、 R1 、R2 、R3 および
4 のうちの少なくとも一つが1,2−ナフトキノンジ
アジドスルホニルであるものは、感光性樹脂組成物用の
感光剤として有用であり、またR1 、R2 、R3 および
4 がすべて水素であるものは、その感光剤の前駆体と
して有用である。そして、1,2−ナフトキノンジアジ
ドスルホン酸エステル化された上記感光剤を含む感光性
樹脂組成物は、半導体微細加工用として、高い感度、高
い解像力(γ値)、高い耐熱性、良好なプロファイル、
良好なフォーカス許容性、少ない現像残渣など、レジス
ト諸性能のバランスがとれたものである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) C07C 39/15 C07C 37/11 C07C 303/28 C07C 309/76

Claims (10)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】式(I) (式中、R1 、R2 、R3 およびR4 は互いに独立に、
    水素または1,2−ナフトキノンジアジド−4−もしく
    は−5−スルホニルを表す)で示されるテトラフェノー
    ル系化合物。
  2. 【請求項2】R1 、R2 、R3 およびR4 がすべて水素
    である請求項1記載の化合物。
  3. 【請求項3】R1 、R2 、R3 およびR4 の少なくとも
    一つが1,2−ナフトキノンジアジド−4−または−5
    −スルホニルである請求項1記載の化合物。
  4. 【請求項4】4,4′−メチレンビス(2−ヒドロキシ
    メチル−3,6−ジメチルフェノール)とパラクレゾー
    ルを反応させることを特徴とする、請求項2記載の化合
    物の製造方法。
  5. 【請求項5】4,4′−メチレンビス〔2−(2−ヒド
    ロキシ−5−メチルベンジル)−3,6−ジメチルフェ
    ノール〕を、1,2−ナフトキノンジアジド−4−また
    は−5−スルホニルハライドと反応させることを特徴と
    する、請求項3記載の化合物の製造方法。
  6. 【請求項6】式(I) (式中、R1 、R2 、R3 およびR4 の一つは、1,2
    −ナフトキノンジアジド−4−または−5−スルホニル
    を表し、残りは互いに独立に、水素または1,2−ナフ
    トキノンジアジド−4−もしくは−5−スルホニルを表
    す)で示されるテトラフェノール系化合物を有効成分と
    する感光剤。
  7. 【請求項7】アルカリ可溶性ノボラック樹脂と混合して
    用いられる請求項6記載の感光剤。
  8. 【請求項8】ポジ型レジスト用である請求項7記載の感
    光剤。
  9. 【請求項9】アルカリ可溶性ノボラック樹脂および請求
    項6記載の感光剤を含有することを特徴とする感光性樹
    脂組成物。
  10. 【請求項10】アルカリ可溶性ノボラック樹脂が、フェ
    ノール系化合物とアルデヒドの縮合物であって、そのゲ
    ルパーミエーションクロマトグラフィーパターンにおけ
    るポリスチレン換算分子量で900以下の範囲の面積比
    が、未反応のフェノール系化合物のパターン面積を除く
    全パターン面積に対して25%以下のものである請求項
    9記載の組成物。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1996008751A1 (de) * 1994-09-12 1996-03-21 Siemens Aktiengesellschaft Photolithographische strukturerzeugung
JP3600713B2 (ja) * 1997-08-06 2004-12-15 東京応化工業株式会社 ポジ型ホトレジスト組成物
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JP4179579B2 (ja) 2000-05-08 2008-11-12 東洋合成工業株式会社 1,2−ナフトキノンジアジド系感光剤の製造方法
JP2002035684A (ja) * 2000-07-28 2002-02-05 Clariant (Japan) Kk 保護膜の形成方法
TWI263864B (en) * 2001-01-17 2006-10-11 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd Positive photoresist composition
JP3708049B2 (ja) 2001-12-26 2005-10-19 東京応化工業株式会社 ポジ型ホトレジスト組成物
JP2003195495A (ja) 2001-12-26 2003-07-09 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd ポジ型ホトレジスト組成物

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2552891B2 (ja) * 1988-01-26 1996-11-13 富士写真フイルム株式会社 ポジ型フオトレジスト組成物
JPH05204148A (ja) * 1992-01-27 1993-08-13 Sumitomo Chem Co Ltd レジスト組成物の製造方法
US5384228A (en) * 1992-04-14 1995-01-24 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. Alkali-developable positive-working photosensitive resin composition
JP3466218B2 (ja) * 1992-06-04 2003-11-10 住友化学工業株式会社 ポジ型レジスト組成物

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