JP2014044200A - 放射線検出装置、その製造方法及び放射線検出システム - Google Patents

放射線検出装置、その製造方法及び放射線検出システム Download PDF

Info

Publication number
JP2014044200A
JP2014044200A JP2013148831A JP2013148831A JP2014044200A JP 2014044200 A JP2014044200 A JP 2014044200A JP 2013148831 A JP2013148831 A JP 2013148831A JP 2013148831 A JP2013148831 A JP 2013148831A JP 2014044200 A JP2014044200 A JP 2014044200A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sensor panel
fine particles
scintillator
scintillator layer
resin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2013148831A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazumi Nagano
和美 長野
Satoshi Okada
岡田  聡
Hisashiro Saruta
尚志郎 猿田
Yohei Ishida
陽平 石田
Daiki Takei
大希 武井
Masato Inoue
正人 井上
Shinichi Takeda
慎市 竹田
Satoru Sawada
覚 澤田
Takamasa Ishii
孝昌 石井
Kota Nishibe
航太 西部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2013148831A priority Critical patent/JP2014044200A/ja
Priority to US13/945,061 priority patent/US20140034836A1/en
Publication of JP2014044200A publication Critical patent/JP2014044200A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/20Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/2006Measuring radiation intensity with scintillation detectors using a combination of a scintillator and photodetector which measures the means radiation intensity
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14643Photodiode arrays; MOS imagers
    • H01L27/14658X-ray, gamma-ray or corpuscular radiation imagers
    • H01L27/14663Indirect radiation imagers, e.g. using luminescent members
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14683Processes or apparatus peculiar to the manufacture or treatment of these devices or parts thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14618Containers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

【課題】センサパネルの上に直接に形成されたシンチレータ層を容易に剥離するための技術を提供する。
【解決手段】光を検出するセンサパネルと、センサパネルの上に形成されたシンチレータ層とを備える放射線検出装置が提供される。シンチレータ層は、センサパネルが検出可能な波長の光に放射線を変換するシンチレータと、発泡して膨張し、センサパネルとシンチレータ層との間の接着力を低下させる性質を有する微粒子と、シンチレータ及び微粒子を混在するように保持する樹脂とを有する。シンチレータ層は樹脂によってセンサパネルに接着されている。
【選択図】図1

Description

本発明は放射線検出装置、その製造方法及び放射線検出システムに関する。
光を検出するセンサパネルと、放射線を光に変換するシンチレータ層とを備える放射線検出装置の製造方法は大きく2つのタイプに分かれる。1つは直接タイプと呼ばれる製造方法であり、蒸着や塗布等によってセンサパネルの上に直接にシンチレータ層を形成する。もう1つは間接タイプと呼ばれる製造方法であり、基板上にシンチレータ層が形成されたシンチレータパネルを、接着剤等でセンサパネルに貼り合わせる。特許文献1では、直接タイプの製造方法において、有機溶媒に有機樹脂及びシンチレータを混ぜ込んだペーストをセンサパネルに塗布し、その後乾燥させることによってシンチレータ層を形成する。このシンチレータ層は有機樹脂の接着力によってセンサパネルに接着される。
特開2002−286846号公報
センサパネルの上にシンチレータ層を形成する際にシンチレータ層が異物や気泡等の含んでしまう場合がある。このようにシンチレータ層だけに不具合が発生した場合に、センサパネルからシンチレータ層を剥離してセンサパネルを再利用することが行われる。しかしながら、シンチレータ層に含まれる樹脂による接着力は強力であるため、センサパネルからシンチレータ層を剥離した場合にセンサパネルに損傷を与えてしまう場合がある。そこで、本発明は、センサパネルの上に直接に形成されたシンチレータ層を容易に剥離するための技術を提供することを目的とする。
上記課題に鑑みて、本発明の1つの側面では、光を検出するセンサパネルと、前記センサパネルの上に配されたシンチレータ層とを備え、前記シンチレータ層は、前記センサパネルが検出可能な波長の光に放射線を変換するシンチレータと、発泡して膨張し、前記センサパネルと前記シンチレータ層との間の接着力を低下させる性質を有する微粒子と、前記シンチレータ及び前記微粒子を混在するように保持する樹脂とを有し、前記シンチレータ層は前記樹脂によって前記センサパネルに接着されていることを特徴とする放射線検出装置が提供される。
上記手段により、センサパネルの上に直接に形成されたシンチレータ層を容易に剥離するための技術が提供される。
本発明の第1実施形態の放射線検出装置100の構造例を説明する図。 本発明の実施形態のセンサパネルの構造例を説明する図。 本発明の実施形態の画素202の構造例を説明する図。 本発明の第1実施形態の放射線検出装置100の製造方法例を説明する図。 本発明の第1実施形態の放射線検出装置100の製造方法例を説明する図。 本発明の第2実施形態の放射線検出装置600の構造例を説明する図。 本発明の第2実施形態の放射線検出装置600の製造方法例を説明する図。 本発明の実施形態の放射線検出システムの構造例を説明する図。
添付の図面を参照しつつ本発明の実施形態について以下に説明する。様々な実施形態を通じて同様の要素には同一の参照符号を付して重複する説明を省略する。また、各実施形態は適宜変更、組み合わせが可能である。本発明の一部の実施形態は、光を検出するセンサパネルと、このセンサパネルの上に形成され、センサパネルが検出可能な波長の光に放射線を変換するシンチレータ層とを備える放射線検出装置に関する。
図1を参照して本発明の第1実施形態に係る放射線検出装置100の構造を説明する。放射線検出装置100はセンサパネル110とシンチレータ層120とを有しており、図1はこれらの断面図を示す。シンチレータ層120はセンサパネル110の上に直接に形成されている。ここで、直接に形成されるとは、例えばセンサパネル110とシンチレータ層120との間に、これらを貼り合わせるための接着層等のような他の構成要素を含まないことを意味する。図1には図示していないが、放射線検出装置100は、シンチレータ層120の側面及び上面を覆ってシンチレータ層120の防湿性を向上させる保護層や、シンチレータ層120で発生した光をセンサパネル110へ導く反射層等の他の構成要素を有してもよい。
センサパネル110は光を検出できればどのような構成であってもよい。ここで、図2及び図3を参照して、センサパネル110の構成例を説明する。図2(a)はセンサパネル110として用いうるセンサパネル200の構造を説明する断面図である。センサパネル200は、基板201、画素202及びセンサ保護層203を備えうる。基板201はガラスや耐熱性プラスチック等の材料で形成され、基板201に複数の画素202がアレイ状に配置されて画素アレイを構成する。画素202は、光を電荷に変換する光電変換部として機能する光電変換素子204と、この電荷を読み出すためのTFTや導電線等を含む回路205とを含みうる。光電変換素子204は例えばアモルファスシリコンを用いて形成でき、MIS型センサ、PIN型センサ、TFT型センサ等の構成を取りうる。センサパネル110は画素アレイの外部に、回路205を駆動するための駆動回路や、画素アレイからの信号を処理する信号処理回路を備えてもよい。センサ保護層203は画素202を被覆して保護し、例えばSiNやSiO2等の無機材料で形成される。シンチレータ層120はセンサパネル200の画素アレイを覆う位置に形成される。
図2(b)はセンサパネル110として用いうる別のセンサパネル210の構造を説明する断面図である。センサパネル210は、基台211と、画素アレイが形成されたセンサ基板212とを粘着剤213等で貼りあわせることによって形成されうる。センサ基板212の画素アレイは図2(a)のセンサパネル200の画素アレイと同様の構成であってもよい。
図3は、画素202の構成例を説明する平面図である。画素202は、上述の回路205として、TFT301、ゲート線302及び信号線303を含みうる。TFT301は光電変換素子204で発生した電荷、又はこの電荷に基づく増幅信号を読み出す。ゲート線302はTFT301のオン・オフを切り替える駆動信号をTFT301のゲートへ供給するために用いられる。信号線303は光電変換素子204からの電気信号等を外部の信号処理部へ読み出すために用いられる。また、画素202は、光電変換素子204の電荷をリセットするために用いられる共通リセット線304を有してもよい。
再び図1を参照して、シンチレータ層120の構成を具体的に説明する。シンチレータ層120は、シンチレータ121、微粒子122及び樹脂123を備えうる。シンチレータ121及び微粒子122はシンチレータ層120の中で混在しており、樹脂123によって保持される。
シンチレータ121は、光電変換素子204が検出可能な波長の光に放射線を変換する。本発明の一部の実施形態では、シンチレータ121は粒子状であり、その粒径は例えば1〜30μmである。ここで、粒径とは、粒子を完全な球体と仮定した場合にその直径に相当する便宜的な値である。粒径は、コールターカウンター法又はレーザー回折・散乱法(マイクロトラック法)によって測定してもよい。以下の微粒子122の粒径についても同様である。シンチレータ121の材料として、硫酸化ガドリニウム(Gd22S)にテルビウム(Tb)をドープした材料等を用いうる。その他、シンチレータ121として、ヨウ化セシウム(CsI)にタリウム(Tl)をドープした材料に代表されるハロゲン化アルカリ系の材料を用いてもよい。
微粒子122は熱膨張性微粒子であり、加熱により発泡して膨張する性質を有する。微粒子122が膨張することにより、センサパネル110とシンチレータ層120との接着力が低下し、シンチレータ層120をセンサパネル110から容易に剥離できる。例えば、微粒子122は、ある規定の温度以上に加熱にした場合に体積が5〜10倍に膨張するマイクロカプセル化した発泡剤である。このような発泡剤として、イソブタン、ペンタン、プロパン等の加熱により容易にガス化して膨張する物質を、弾性を有する殻内に内包させた微小球を用いてもよい。微粒子122の殻は、熱可塑性物質、熱溶融性物質、熱膨張により破裂する物質等で形成されうる。微粒子122の殻を形成する物質として、例えば塩化ビニリデン−アクリロニトリル共重合体、ポリビニルアルコール、ポリビニルブチラール、ポリメチルメタクリレート、ポリアクリロニトリル、ポリ塩化ビニリデン、ポリスルホン等を用いてもよい。微粒子122は、例えばコアセルベーション法、界面重合法等により製造できる。
微粒子122の材料として、無機系の発泡剤を用いてもよい。無機系の発泡剤として、例えば炭酸アンモニウム、炭酸水素アンモニウム、炭酸水素ナトリウム、亜硝酸アンモニウム、水素化ホウ素ナトリウム、アジド類等を用いてもよい。
微粒子122として市販品を利用してもよい。例えば、商品名「マツモトマイクロスフェアー(登録商標)F−30」、「マツモトマイクロスフェアーF−50」、「マツモトマイクロスフェアーF−80S」、「マツモトマイクロスフェアーF−85」(松本油脂製薬株式会社製)を用いてもよい。または、商品名「エクスパンセル(登録商標)Du」(Akzo Nobel Surface Chemistry AB社製)等を用いてもよい。
また、別の実施形態では、微粒子122として、吸水により発泡また膨潤する吸水性微粒子が用いられ得る。例えば、微粒子122は、吸水した場合に体積が5〜10倍に膨潤するマイクロカプセル化した発泡剤である。このような発泡剤として、たとえば、吸水によりガス発生する物質を、弾性を有する殻内に内包させた微小球を用いてもよい。微粒子122の殻は、水分を透過する材料または水分に可溶な材料、所謂、水溶性樹脂で形成されうる。微粒子122の殻を形成する物質として、例えばポリアクリル酸ナトリウム、ポリアクリルアミドなどのアクリル酸系水溶性ポリマー、ポリビニルアルコール、ポリエチレンイミン、ポリエチレンオキシド、ポリビニルピロリドン等を用いてもよい。微粒子122は、例えばコアセルベーション法、界面重合法、in−site重合法、噴霧乾燥法、乾式混合法等により製造できる。
微粒子122の材料として、水分を溶媒としてガス化する材料、例えば炭酸水素ナトリウム(あるいは炭酸ナトリウム)とクエン酸混合物、炭酸水素ナトリウム(あるいは炭酸ナトリウム)とフマル酸混合物等を用いてもよい。
また、別の実施形態では、例えば、微粒子122は、吸水した場合に体積が5〜100倍に膨潤する物質である。このような粒子として、たとえば、吸水して膨潤する物質を粒子状に形成した微小球を用いてもよい。微粒子122の材料として、所謂、吸水性ポリマー、例えば、グラフト重合あるいはカルボキシメチル化によるデンプン系ポリマー、およびセルロース系ポリマー、ポリアクリル酸塩系ポリマー、ポリビニルアルコール系ポリマー、ポリアクリルアミド系ポリマー、ポリオキシエチレン系ポリマー等を用いてもよい。吸水したら圧力をかけても水を離しにくい性質を有するポリアクリル酸ナトリウム系ポリマーを微粒子122として用いてもよい。
また、微粒子122として市販品を利用してもよい。例えば、アラソーブ(荒川化学社製)、ワンダーゲル(花王社製)、KIゲル(クラレイソプレン社製)、サンウェット(三洋化成社製)、スミカゲル(住友化学社製)、ランシール(日本エクスラン社製)、アクアリザーブGP(日本触媒化学社製)、ダイヤウェット(三菱油化社製)、Water Lock(グレインプロセシング社製)、Aqualon(ハーキュレス社製)等を用いてもよい。または、バルガス700(ライオン社製)、アクアキープTM(ポリアクリル酸塩系高吸水性樹脂)(住友精化社製)等を用いてもよい。
微粒子122の粒径は、例えば1〜80μmであってもよく、特に3〜50μmであってもよい。微粒子122の発泡量は、殻内に内包させる物質の種類および量を調整することで設定できる。また、微粒子122は、体積膨張率が5倍以上、特に10倍以上となるまで破裂しない適度な強度を有するものであってもよい。このような強度を有することにより、加熱又は吸水によって微粒子122が膨張した場合にセンサパネル110とシンチレータ層120との間の接着力を効率よく低下できる。
加熱により膨張し得る微粒子122の発泡開始温度は、殻内に内包させる物質の種類を調整することで設定できる。放射線検出装置100のシンチレータ層120に含める微粒子122の発泡開始温度として、例えば60〜170℃を設定してもよく、特に100〜170℃を設定してもよい。また、センサパネル110による光の検出に影響を与えないように、微粒子122の色は無色透明であってもよい。
微粒子122が膨張した場合のセンサパネル110とシンチレータ層120と間の接着力の低下の度合いはシンチレータ層120に含まれる微粒子122の量に依存する。微粒子122の量は、例えばシンチレータ層120における微粒子122の体積密度によって規定されうる。以下、微粒子122の膨張率をβとする。微粒子122の体積密度が(400π)/(3β3)%未満の場合に、微粒子122が膨張してもセンサパネル110とシンチレータ層120との間の接着力の低下が十分に得られない場合がある。微粒子122の体積密度が(400π)/(3β3)%以上(2000π)/(3β3)%未満の場合に、微粒子122が膨張した場合にセンサパネル110とシンチレータ層120との間の接着力が低下する。しかし、微粒子122が発泡・膨張してできる発泡球が接着面全体に行き渡らず、シンチレータ層120を剥離した後に、センサパネル110に樹脂123が残存する場合がある。微粒子122の体積密度が(2000π)/(3β3)%以上の場合に、微粒子122が膨張した場合にセンサパネル110とシンチレータ層120との間の接着力が低下する。さらに、微粒子122が発泡・膨張してできる発泡球が接着面全体に行き渡り、シンチレータ層120をセンサパネル110から容易に剥離でき、センサパネル110に樹脂123が残存することもない。
また、シンチレータ層120における微粒子122の体積密度が50%を超えると、シンチレータ121により発生した光が微粒子122に阻害されてセンサパネル110に十分に到達しないことがある。その結果として、放射線検出装置100の解像度(MTF)が低下する。そこで、シンチレータ層120をセンサパネル110から容易に剥離でき、且つ放射線検出装置100の解像度を確保するために、微粒子122の体積密度を(2000π)/(3β3)%以上50%以下に設定してもよい。
樹脂123はシンチレータ121及び微粒子122を保持するためのバインダとして機能するとともに、シンチレータ層120をセンサパネル110に接着する機能を有する。樹脂123として、水やアルコール系溶媒に可溶な有機樹脂であるポリビニルアセタール、ポリビニルアルコール、ポリビニルピロリドン、ポリビニルブチラール、セルロース系樹脂、アクリル系樹脂を用いてもよい。特に、樹脂123として、水に可溶な積水化学工業製エスレックKW、またはエタノールに可溶な積水化学工業製エスレックBシリーズ等のポリビニルアセタール樹脂を用いてもよい。樹脂123は、蛍光体塗布ペーストを作成する際に使用可能な樹脂であれば何れの樹脂でもよく、例えば、エチルセルロース、ニトロセルロース、セルロースアセテートブチレート、セルロースアセテートプロピオネートなどのセルロース系樹脂、アクリル樹脂、ウレタン樹脂、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、塩化ビニル−酢酸ビニル共重合樹脂、ポリビニルブチラール樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、アルキッド樹脂、フェノール樹脂、メラミン樹脂、ユリア樹脂、ロジン樹脂、尿素樹脂高融点脂肪酸等の汎用されている有機ビヒクル(バインダー)等を用いうる。さらに、樹脂123として、これらの樹脂の1種類以上を組み合わせて用いてもよい。
樹脂123は、センサパネル110とシンチレータ層120との間に加熱プロセス等で発生する応力を緩和しうる。この応力は、センサパネル110とシンチレータ層120との間の熱膨張係数の差に起因しうる。樹脂123の引張弾性率が0.7GPa未満である場合に、センサパネル110とシンチレータ層120との間の接着力が不十分となり、層間剥離が発生してしまう場合がある。また、樹脂123によって保持されるシンチレータ121及び微粒子122同士の接着力が不十分となり、シンチレータ121及び微粒子122同士の間で接着破壊が発生してしまう場合がある。一方、樹脂123の引張弾性率が3.5GPa以上である場合に、シンチレータ層120の応力を十分に吸収できず、層間剥離が発生してしまう場合がある。そこで、樹脂123の引張弾性率が0.7GPa以上3.5GPa未満の範囲に含まれるようにシンチレータ層120を形成してもよい。また、樹脂123の引張弾性率はシンチレータ層120の全体で一様であってもよいし、一様でなくてもよい。例えば、シンチレータ層120は、センサパネル110に近い位置において最も強い応力がかかるので、センサパネル110に近い位置において樹脂123の引張弾性率が最も低くなるような分布を有していてもよい。また、シンチレータ層120における微粒子122の密度(例えば体積密度)も、シンチレータ層120の全体で一様であってもよいし、一様でなくてもよい。例えば、例えば、センサパネル110とシンチレータ層120との間の接着力を効率よく低下させるように、センサパネル110に近い位置において微粒子122の密度が最も高くなるような分布を有していてもよい。
続いて、図4を参照しつつ、放射線検出装置100の製造方法の一例を説明する。この例ではスリットコート方式によってシンチレータ層120を形成する。まず、センサパネル110を準備して、ステージ401の上に固定する。センサパネル110の製造方法としてどのような技術を用いてもよく、例えば周知の技術を用いてもよいので、詳細な説明を省略する。次に、ビヒクルと呼ばれる有機溶剤中にシンチレータ121、微粒子122及び樹脂123を混ぜ込んだペースト402を作成する。ビヒクル中に含まれる溶剤として、昨今の環境問題に鑑みて、水やアルコール系溶媒等の分子量が小さくヒドロキシ基を含んだ溶剤を用いてもよい。ビヒクル中に含まれる溶剤は、有機樹脂、その他の添加剤を良く溶解する溶剤であれば何でもよい。溶剤として、例えば、エチレングリコール、プロピレングリコール、ジエチレングリコール、ジプロピレングリコールなどのグリコール類、エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールモノブチルエーテル、エチレングリコールジメチルエーテル、エチレングリコールモノ−n−ヘキシルエーテル、エチレングリコールモノアリルエーテル、エチレングリコールドデシルエーテル、エチレングリコールモノイソブチルエーテル、エチレングリコールモノフェニルエーテル、エチレングリコールイソアミルエーテル、エチレングリコールベンジルエーテル、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテル、トリエチレングリコールモノメチルエーテル、トリエチレングリコールモノブチルエーテルなどのグリコールエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、トリプロピレングリコールモノメチルエーテルなどのグリコールエーテル類とそのアセテート類、アジピン酸ジメチル、グルタル酸ジメチル、コハク酸ジメチル等の2塩基酸のジエステル塩、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、ジエチルケトン、メチルアミルケトン、シクロヘキサノンなどのケトン類、キシレン、トルエン、エチルベンゼンなどの芳香族類、n−プロピルアルコール、イソプロピルアルコール、ブタノール、α−テルピネオール、β−テルピネオール、カルベオール、メタンジオール、トリデシルアルコールなどのアルコール類、2,2,4−トリメチル−1,3−ペンタンジオールモノ(2−メチルプロパネート)、メチル−3−メトキシプロピオネート、酢酸エチル、酢酸イソプロピル、酢酸ブチル、酢酸イソブチル、酢酸メトキシブチル、酢酸アミル、酢酸イソアミル、酢酸シクロヘキシル、酢酸ベンジル、プロピオン酸エチル、プロピオン酸ブチル、プロピオン酸イソブチル、プロピオン酸イソアミルなどのエステル類、ジメチルアセトアミド、ジメチルホルムアミド等の公知の溶剤を用いうる。これらのうちの二種類以上を混合して用いてもよい。また、分散性や、ペーストの印刷性を向上させるために、必要に応じて消泡剤、チキソトロピー付与剤、レベリング剤、分散剤を溶剤に添加することができる。そして、図4(a)に示すように、ダイコータ403からペースト402を射出させながら走査して、センサパネル110の上面に塗布する。
センサパネル110の画素アレイを覆う位置にペースト402を塗布し終わったら、ペースト402を加熱して乾燥させることによって、有機溶剤を除去してペースト402を硬化させる。微粒子122が加熱により膨張し得るものである場合、この加熱は微粒子122が発泡を開始する温度よりも低い温度を用いて行い、例えば80〜150℃で加熱する。これによって、図4(b)に示すように、シンチレータ121、微粒子122及び樹脂123を含むシンチレータ層120が形成され、放射線検出装置100が得られる。
上記の実施形態では微粒子122をペースト402に混ぜ込むことによって、シンチレータ121及び微粒子122が混在したシンチレータ層120を形成したが、他の方法でこのようなシンチレータ層120を形成してもよい。例えば、微粒子122をセンサパネル110の上に配置した後、有機溶剤中にシンチレータ121及び樹脂123を混ぜ込んだペーストを微粒子122の上からセンサパネル110に塗布してもよい。このように形成されたシンチレータ層120は、センサパネル110に近い部分にのみにおいてシンチレータ121及び微粒子122が混在し、センサパネル110から離れた部分には微粒子122を含まない。この場合であっても、微粒子122を発泡させることによって、センサパネル110とシンチレータ層120との間の密着力を低下できる。さらに、ペーストを塗布する工程を複数回行って、それぞれの工程においてペーストの種類を変更してもよい。例えば、シンチレータ121、微粒子122及び樹脂123を異なる比率で溶剤に混ぜ込むことでペーストの種類を変更してもよいし、それぞれの要素の材料を変更してペーストの種類を変更してもよい。これによって、樹脂123の引張弾性率が一様でないシンチレータ層120を形成できる。また、上述の例では乾燥により樹脂123を硬化させたが、樹脂123として光硬化樹脂を用いる場合には、塗布したペースト402に光を照射して樹脂123を硬化させてもよい。
続いて、図5を参照しつつ、放射線検出装置100の製造方法の別の例を説明する。この例ではスクリーン印刷法によってシンチレータ層120を形成する。スリットコート方式の場合と同様に、センサパネル110を準備して、ステージ401の上に固定する。センサパネル110の上にメッシュ板501を乗せ、メッシュ板501の上にペースト402を乗せる。スクリーン印刷法で用いられるペーストは、スリットコート方式で用いられる上述のペースト402と同じであってもよい。そして、図5(a)に示すように、スキージ502をメッシュ板501に押しあてながら走査することで、メッシュ板501の開口部から均一にペースト402を射出し、センサパネル110の上に塗布する。その後スリットコート方式の場合と同様に、ペースト402を加熱して乾燥させることによって、有機溶剤を除去してペースト402を硬化させる。これによって、放射線検出装置100が得られる。スクリーン印刷法を用いる場合でも、スリットコート方式の場合と同様に、異なる種類のペーストを複数回に分けて塗布してもよいし、微粒子122をセンサパネル110の上に配置し、微粒子122の上からペーストを塗布してもよい。
上述のように製造された放射線検出装置100からシンチレータ層120を剥離する場合に、例えば微粒子122が発泡を開始する温度よりも高い温度になるように微粒子122を加熱し、センサパネル110とシンチレータ層120との間の接着力を低下させる。または、微粒子122を含む蛍光体に水分を付与することにより微粒子122を発泡または膨潤させて、センサパネル110とシンチレータ層120との間の接着力を低下させる。その後、センサパネル110からシンチレータ層120を剥離してもよい。
上述の例では、シンチレータ121は粒状の形状を有していたが、シンチレータ121は柱状の形状を有していてもよい。柱状のシンチレータ121の場合に、まず、センサパネル110の上に蒸着によってシンチレータ121を形成する。その後、微粒子122及び樹脂123を含むペーストをシンチレータ121の柱間に流し込み、ペーストを乾燥することでシンチレータ層120を形成してもよい。
続いて、図6を参照して本発明の第2実施形態に係る放射線検出装置600の構造を説明する。放射線検出装置600はセンサパネル110とシンチレータ層620とを有しており、図6(a)はこれらの断面図を示す。本実施形態においても、シンチレータ層620はセンサパネル110の上に直接に形成されている。第1実施形態において説明した数々の変更例は本実施形態においても同様に適用可能である。
シンチレータ層620は、シンチレータ層120と同様に、シンチレータ121、微粒子122及び樹脂123を含むが、シンチレータ層620における微粒子122の配置がシンチレータ層120とは異なる。図6(b)の平面図に詳細に示すように、画素202において、微粒子122は、光電変換素子204を覆う部分には配置されず、それ以外の他の部分に含まれる回路205を覆う部分に配置される。本実施形態の画素202の例では、TFT301、ゲート線302及び信号線303を覆う部分に微粒子122が配置される。このように光電変換素子204を覆う部分に微粒子122を配置しないことによって、光電変換素子204に照射される光を微粒子122が阻害することを防げる。また、TFT301、ゲート線302及び信号線303に入射した光は電荷に変換されないので、この部分を微粒子122で覆ったとしても、放射線検出装置600の動作に影響しない。微粒子122の直径がゲート線302や信号線303の幅よりも小さくなるように、例えば直径が1μm〜30μmである微粒子を選択してもよい。
続いて、図7を参照しつつ、放射線検出装置600の製造方法の一例を説明する。この例ではスリットコート方式によってシンチレータ層620を形成する。まず、センサパネル110を準備して、ステージ401の上に固定する。次に、図7(a)に示すように、回路205を覆う位置に微粒子122を配置する。この配置方法として、直接に配置してもよいし、装置によりアライメントされた位置にニードル等から射出により配置してもよいし、マスク・スリットを用いて配置してもよい。ビヒクルと呼ばれる有機溶剤中にシンチレータ121及び樹脂123を混ぜ込んだペースト702を作成する。ペースト702には微粒子122が含まれない。ビヒクル中に含まれる溶剤として、昨今の環境問題に鑑みて、水やアルコール系溶媒等の分子量が小さくヒドロキシ基を含んだ溶剤を用いてもよい。そして、図7(b)に示すように、ダイコータ403からペースト702を射出させながら走査して、センサパネル110の上面に塗布する。
センサパネル110の画素アレイを覆う位置にペースト702を塗布し終わったら、ペースト702を加熱して乾燥させることによって、有機溶剤を除去してペースト702を硬化させる。この加熱は微粒子122が発泡を開始する温度よりも低い温度を用いて行い、例えば80〜150℃で加熱する。これによって、図7(c)に示すように、シンチレータ121、微粒子122及び樹脂123を含むシンチレータ層620が形成され、放射線検出装置600が得られる。図7ではスリットコート方式を用いた製造方法を説明したが、第1実施形態と同様に、スクリーン印刷法を用いても同様に製造できる。
図8は、本発明による放射線検出装置のX線診断システム(放射線検出システム)への応用例を示したものである。
X線チューブ6050で発生したX線6060は患者あるいは被験者6061の胸部6062を透過し、図4に示したような放射線検出装置(イメージセンサ)6040に入射する。この入射したX線には患者6061の体内部の情報が含まれている。X線の入射に対応してシンチレータは発光し、これをセンサパネルの光電変換素子が光電変換して、電気的情報を得る。この情報はデジタルに変換され信号処理部となるイメージプロセッサ6070により画像処理され制御室の表示部となるディスプレイ6080で観察できる。また、この情報は電話、LAN、インターネット等のネットワーク6090等の伝送処理部により遠隔地へ転送できる。その結果、別の場所のドクタールーム等の表示部となるディスプレイ6081に表示もしくは光ディスク等の記録部に保存することができ、遠隔地の医師が診断することも可能である。また記録部となるフィルムプロセッサ6100によりフィルム6110に記録することもできる。

Claims (12)

  1. 光を検出するセンサパネルと、
    前記センサパネルの上に配されたシンチレータ層とを備え、
    前記シンチレータ層は、
    前記センサパネルが検出可能な波長の光に放射線を変換するシンチレータと、
    発泡して膨張し、前記センサパネルと前記シンチレータ層との間の接着力を低下させる性質を有する微粒子と、
    前記シンチレータ及び前記微粒子を混在するように保持する樹脂とを有し、
    前記シンチレータ層は前記樹脂によって前記センサパネルに接着されていることを特徴とする放射線検出装置。
  2. 前記微粒子は、加熱により発泡して膨張することを特徴とする請求項1に記載の放射線検出装置。
  3. 前記微粒子は、吸水により発泡又は膨潤することを特徴とする請求項1に記載の放射線検出装置。
  4. 前記センサパネルは複数の画素を有し、それぞれの画素は光を検出する光電変換部と、その他の部分とを有し、
    前記微粒子は、前記光電変換部を覆う位置に配置されず、前記その他の部分を覆う位置に配置されることを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の放射線検出装置。
  5. 前記シンチレータ層における前記微粒子の密度は、前記センサパネルに近い方が高いことを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項に記載の放射線検出装置。
  6. 前記樹脂の引張弾性率は、前記センサパネルに近い方が低いことを特徴とする請求項1乃至5の何れか1項に記載の放射線検出装置。
  7. 前記シンチレータは粒子状の硫酸化ガドリニウムを含むことを特徴とする請求項1乃至6の何れか1項に記載の放射線検出装置。
  8. 放射線検出装置の製造方法であって、
    光を検出するセンサパネルを準備する準備工程と、
    前記センサパネルに上にシンチレータ層を直接に形成する形成工程とを有し、
    前記シンチレータ層は、
    前記センサパネルが検出可能な波長の光に放射線を変換するシンチレータと、
    発泡して膨張し、前記センサパネルと前記シンチレータ層との間の接着力を低下させる性質を有する微粒子と、
    前記シンチレータ及び前記微粒子を混在するように保持する樹脂とを有し、
    前記形成工程において、前記シンチレータ層は前記樹脂によって前記センサパネルに接着されることを特徴とする製造方法。
  9. 前記形成工程は、
    前記センサパネルの上に、前記微粒子を配置する工程と、
    前記微粒子の上から、前記シンチレータ及び前記樹脂が混在したペーストを前記センサパネルに塗布する工程と、
    前記ペーストを硬化させる工程とを含むことを特徴とする請求項8に記載の製造方法。
  10. 前記準備工程において準備されるセンサパネルは複数の画素を有し、それぞれの画素は光を検出する光電変換部と、その他の部分とを有し、
    前記配置する工程において、前記光電変換部の上に前記微粒子を配置せず、前記その他の部分の上に前記微粒子を配置することを特徴とする請求項9に記載の製造方法。
  11. 前記形成工程は、
    前記微粒子、前記シンチレータ及び前記樹脂が混在したペーストを前記センサパネルの上に塗布する工程と、
    前記ペーストを硬化させる工程とを含むことを特徴とする請求項8に記載の製造方法。
  12. 請求項1乃至7の何れか1項に記載の放射線検出装置と、
    前記放射線検出装置からの信号を処理する処理部とを備えることを特徴とする放射線検出システム。
JP2013148831A 2012-07-31 2013-07-17 放射線検出装置、その製造方法及び放射線検出システム Pending JP2014044200A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013148831A JP2014044200A (ja) 2012-07-31 2013-07-17 放射線検出装置、その製造方法及び放射線検出システム
US13/945,061 US20140034836A1 (en) 2012-07-31 2013-07-18 Radiation detection apparatus, manufacturing method thereof, and radiation detection system

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012170377 2012-07-31
JP2012170377 2012-07-31
JP2013148831A JP2014044200A (ja) 2012-07-31 2013-07-17 放射線検出装置、その製造方法及び放射線検出システム

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2014044200A true JP2014044200A (ja) 2014-03-13

Family

ID=50024553

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013148831A Pending JP2014044200A (ja) 2012-07-31 2013-07-17 放射線検出装置、その製造方法及び放射線検出システム

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20140034836A1 (ja)
JP (1) JP2014044200A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018530906A (ja) * 2015-07-28 2018-10-18 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ 放射線検出器の製造

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6092568B2 (ja) 2012-10-11 2017-03-08 キヤノン株式会社 放射線検出装置及び放射線検出システム
JP6100045B2 (ja) 2013-03-19 2017-03-22 キヤノン株式会社 放射線検出装置、放射線検出システム及び放射線検出装置の製造方法
JP2015021752A (ja) 2013-07-16 2015-02-02 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、その製造方法及び放射線検査装置
JP6671839B2 (ja) 2014-10-07 2020-03-25 キヤノン株式会社 放射線撮像装置及び撮像システム
KR20160043867A (ko) * 2014-10-14 2016-04-22 삼성전자주식회사 엑스선 검출기 및 엑스선 검출기의 제조방법
JP6573377B2 (ja) 2015-07-08 2019-09-11 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、その制御方法及びプログラム
JP6573378B2 (ja) 2015-07-10 2019-09-11 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、その制御方法及びプログラム
JP6663210B2 (ja) 2015-12-01 2020-03-11 キヤノン株式会社 放射線撮像装置及びその制御方法
JP6706963B2 (ja) 2016-04-18 2020-06-10 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、放射線撮像システム、及び、放射線撮像装置の制御方法
JP6778118B2 (ja) 2017-01-13 2020-10-28 キヤノン株式会社 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
CN110869809B (zh) 2017-07-10 2023-07-25 佳能株式会社 放射线成像装置和放射线成像***
JP6877289B2 (ja) 2017-07-31 2021-05-26 キヤノン株式会社 放射線検出装置、放射線検出システム、及び放射線出装置の製造方法
JP7030478B2 (ja) 2017-11-09 2022-03-07 キヤノン株式会社 撮影台および放射線撮影システム
JP7067912B2 (ja) 2017-12-13 2022-05-16 キヤノン株式会社 放射線撮像装置および放射線撮像システム
JP6659182B2 (ja) * 2018-07-23 2020-03-04 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、その製造方法及び放射線撮像システム

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018530906A (ja) * 2015-07-28 2018-10-18 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ 放射線検出器の製造
JP7237582B2 (ja) 2015-07-28 2023-03-13 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ 放射線検出器の製造

Also Published As

Publication number Publication date
US20140034836A1 (en) 2014-02-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2014044200A (ja) 放射線検出装置、その製造方法及び放射線検出システム
CN102608647A (zh) 辐射成像设备、辐射成像***和制造辐射成像设备的方法
US9052400B2 (en) Radiation detection apparatus and imaging system
JP3340793B2 (ja) 放射線検出器
JP5645500B2 (ja) 放射線撮像装置、放射線撮像システム及び放射線撮像装置の製造方法
US9316750B2 (en) Radiation image detecting device and radiation image capturing system
JP2016033515A (ja) 接着された蛍光体層を有するデジタルx線撮影用検出器
US20140374608A1 (en) Radiation detection apparatus and method of manufacturing the same
CN101299069A (zh) 一种辐射变色膜剂量计的制备方法
WO2016167334A1 (ja) 放射線像変換スクリーン、フラットパネルディテクタ、放射線検出装置、及びシンチレータ
WO2013137138A1 (ja) 放射線画像検出装置及び放射線画像撮影システム
JP5597039B2 (ja) 放射線撮像装置、放射線撮像システム及び放射線撮像装置の製造方法
KR102349047B1 (ko) 산화피막 형성방법
JP6288388B1 (ja) 放射線像変換スクリーン及びフラットパネルディテクタ
JP2019060821A (ja) X線タルボ撮影用パネル
JP2010025780A (ja) 放射線変換シートおよび放射線画像検出装置
JP6298264B2 (ja) シンチレータ、放射線検出装置、および、それらの製造方法
JP6514477B2 (ja) 放射線検出装置および撮像システム
JP2020091236A (ja) 放射線検出モジュール、放射線検出器、および放射線検出モジュールの製造方法
CN111019553A (zh) 一种用于x射线医疗设备的反射膜及其制备方法和应用
JP2018189425A (ja) X線像変換スクリーン、x線撮影装置、及びx線検査装置
US11656370B2 (en) Radiation imaging panel, radiation imaging apparatus, radiation imaging system, method of manufacturing radiation imaging panel, and scintillator plate
JP6080920B2 (ja) 放射線撮像装置、放射線撮像システム及び放射線撮像装置の製造方法
JP7503969B2 (ja) 放射線撮像パネル、放射線撮像装置、放射線撮像システム、および、シンチレータプレート
JP2023124597A (ja) 放射線検出装置、放射線撮像システム、および放射線検出装置の製造方法