JP2010190851A - 試験システム - Google Patents

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Abstract

【課題】各測定項目に使用する複数の構成品が、それらの動作を制御する制御器に正常に接続されている構成品のみを使用する測定項目のみを、自動的に試験するようにした試験システムを提供する。
【解決手段】複数の測定項目の試験を行うに先立って、構成品(測定器4-n、切替器5、被試験器用コントローラ6、モニタ7、プリンタ8)のそれぞれが制御器3に正常に接続されているか否かを制御器3が自動的にテストして判断し、制御器3に正常に接続されていない構成品を使用する測定項目については試験をスキップし、制御器3に正常に接続されている構成品のみを使用する測定項目については自動的に試験を行う。
【選択図】図1

Description

本発明は、試験システムに関し、特に、試験システムを構成する測定器を含む複数の構成品の接続状態に基づき測定項目を決定する試験システム、あるいは測定不可である測定項目を表示可能な試験システムに関する。
試験手順に従って試験システムの構成品である測定器等の動作を制御器で制御し、試験対象である被試験器の出力信号を測定する試験システムが知られている(例えば特許文献1参照)。
特開2007−292723号公報
試験対象や試験項目を増加させると、試験システムの構成品の数も増加する。ある試験項目を実行しようとする場合、当然ながら、その試験項目に必要な構成品が当該構成品の動作を制御する制御器に接続されている必要がある。従って、構成品の接続不良などによって正常な被試験器を異常と誤判定してしまうのを防止するためにも、試験前に各構成品の接続状態を確認することが有効である。また、正常に接続されていない非接続状態の構成品(故障している場合も含む)を確認した後、該非接続状態の構成品を使用する測定項目の試験は取り止め、該非接続状態の構成品を使用しない測定項目のみを選択して試験を行う必要がある。しかしながら、前記非接続状態の構成品を使用しない測定項目の選択は、オペレータ(操作者)の判断により行っていたため、その選択作業も煩雑であり、また、オペレータの判断ミスも生じ易いという課題があった。
本発明の目的は上記した課題を解決し、正常に接続されていない非接続状態の構成品を使用しない測定項目の測定を自動的に行うことができ、又は、正常に接続されていない非接続状態の構成品を使用する測定項目をオペレータが容易に確認することができ、あるいは、正常に接続されている接続状態の構成品のみを使用する測定項目をオペレータが容易に選択することができるようにした試験システムを提供することにある。
上記した課題を解決するため、本願の第1の発明においては、次のように試験システムを構成した。すなわち、
被試験器の出力信号を測定する測定器を含む複数の構成品と、前記構成品と接続され前記構成品の動作を制御する制御器と、前記構成品および被試験器と接続され、構成品と被試験器の間の信号接続経路を切り替える切替部とを備える試験システムであって、
前記制御器は、構成品に対して質問信号を送信する質問送信部と、
該質問信号に応答して構成品から送信される応答信号を受信する応答受信部と、
前記応答信号に基づいて構成品が制御器に正常に接続されているか否かを判断する接続状態判断部と、
複数の測定項目と各測定項目に使用する測定器と測定項目の測定順序とを記憶する記憶部と、
前記質問送信部、応答受信部、接続状態判断部を制御し、前記記憶部に記憶した測定順序に従って各測定項目の測定を行うとともに、前記記憶部の記憶内容に基づき測定項目毎に使用する測定器を切り替える切替信号を前記切替部へ送信する主制御部とを備え、
前記主制御部が、構成品に対する質問信号を前記質問送信部から送信した後、構成品からの応答信号を前記応答受信部で受信し、前記接続状態判断部により前記構成品が正常な接続状態でないと判断されると、該正常な接続状態でないと判断された構成品を使用する測定項目については測定をスキップし、前記記憶部に記憶した測定項目の測定順序に従って自動的に次の測定項目の測定を行うことを特徴とする試験システム。
本願の第1の発明に係る試験システムによれば、正常に接続されていない非接続状態の構成品を使用しない測定項目を自動的に選択して測定を行うことができる。
また、本願の第2の発明に係る試験システムにおいては、前記第1の発明における試験システムが更に表示部を備え、前記主制御部が、正常な接続状態でないと判断された構成品を使用する測定項目について、測定不可である旨の表示を前記表示部に行わせるように構成した。
この構成により、本願の第2の発明に係る試験システムにおいては、正常な接続状態でない構成品を使用する測定項目をオペレータが容易に確認することができ、あるいは、正常な接続状態にある構成品を使用する測定項目をオペレータが容易に選択することができる。
また、本願の第3の発明に係る試験システムにおいては、前記第1及び第2の発明における試験システムが更に、前記構成品と前記制御器との接続状態を表示する表示部を備え、前記制御器が更に、前記接続状態判断部の判断結果に基づき、正常な接続状態にある構成品と正常な接続状態にない構成品が識別できるように表示信号を出力する表示信号出力部を備え、前記主制御部が、正常な接続状態にある構成品と正常な接続状態にない構成品が識別できるような表示を前記表示部に行わせるように構成した。
この構成により、本願の第3の発明に係る試験システムにおいては、正常な接続状態にある構成品や正常な接続状態でない構成品をオペレータが容易に確認することができる。
本発明に係る試験システムの構成例を示す図である。 本発明に係る制御器の機能ブロックの構成例を示す図である。 使用測定器テーブルの構成例を示す図である。 図1に示すモニタに表示される接続確認画面例を示す図である。 図1に示す制御器で実行される、各構成品の接続確認とその結果の処理例を示すフローチャートである。 図1に示す各構成品が接続確認対象か対象外であるかを記述した接続確認対象構成品テーブル(参照ファイル)である。 機能・性能試験画面の例を示す図である。 接続確認の結果を表示した、接続確認画面例を示す図である。
以下、本発明に係る試験システムの実施例について、図面を参照して説明する。
図1は、本発明に係る試験システムの構成例を示すブロック図である。図1において、符号1は試験システムを表す。試験システム1は、無線機等の被試験器(試験対象である電子機器)2に対し、予め決められた測定項目について予め決められた順番で自動的に試験を行い、試験で得た測定値に基づいて被試験器2の動作が正常であるか否かを判定する。
試験システム1は、本実施例においては、システム全体の制御や測定値や測定結果の良否判定等を行う制御器(コンピュータ)3と、被試験器2から出力される出力信号を測定する複数の測定器4-n(nは自然数)と、制御器3からの切替信号に基づいて被試験器2と測定器4-n間の測定経路(信号接続経路)の切替えを行う切替器5と、制御器3からの指示に従って被試験器2に対して測定条件等を設定する被試験用コントローラ(コンピュータ)6と、構成品と制御器との接続状態等を表示するモニタ(表示部)7と、モニタの表示内容等を印刷するプリンタ8と、マウスなどの入力装置9などを備えている。
測定器4-nは、例えば基準信号を発生する基準信号発生器や信号の位相を検波する位相検波器など、被測定器の種別に関わらず広く使用される汎用測定器や、特定の被試験器に対してのみ使用する専用測定器を含むものであり、その数は例えば数十個である。本実施例では、測定器4-nや切替器5、モニタ7、プリンタ8などの試験システム1を構成する機器を「構成品」と総称する。各構成品は、LANなどのネットワークを介して制御器3に接続される。
なお、被試験用コントローラ6は、制御器3に組み込み一体化することもできる。また、被試験用コントローラ6は、被試験器2によっては、必ずしも必要とされないこともある。
制御器3は、本実施例においては、CPU(Central Processing Unit)301と、メモリ302を、ハードウェア構成として備えている。
メモリ302には被試験器2の試験手順が記述された試験プログラムなどが記憶される。試験プログラムには、構成品に対して構成品と制御器が正常に接続されているか調べるための質問信号を送信する質問送信プログラム、質問信号に対して構成品から応答される応答信号を受信する応答受信プログラム、応答信号の状態や内容により構成品が制御器に正常に接続されているか否かを判断する接続状態判断プログラム、正常に接続されていない構成品を使用する測定項目を抽出し、その測定項目が測定不可である旨を表示する測定不可項目表示プログラム、該測定不可項目の測定をスキップして次の測定項目の測定を行う自動測定プログラム、構成品のそれぞれを表す画像を構成品の実際の配置位置に対応させて表示させ、構成品の接続状態に応じて、正常な接続状態にある構成品と正常な接続状態にない構成品が外見で識別できるように表示させる表示動作の処理手順が記述された接続状態表示プログラムなどが含まれる。
メモリ302に記憶された各プログラムはCPU301に読み込まれて実行される。モニタ7には、CPU301で実行されるプログラム処理に応じ、試験項目(測定項目)や測定結果、構成品の接続状態などの情報が表示される。また、プリンタ8は、制御器9からの指示に応じ、表示部の表示内容や試験結果などの情報をプリントアウトする。入力装置9は、操作者による各種の指示入力等を受け付けるものであり、タッチパネルのように表示部と一体に構成してもよい。
本実施例における制御器3の機能ブロック図を図2に示す。図2において、質問送信部32は、構成品に対して、構成品と制御器が正常に接続されているか調べるための質問信号を送信する。応答受信部33は、質問信号に対して構成品から応答される応答信号を受信する。接続状態判断部34は、応答信号の有無や応答信号の内容により構成品が制御器に正常に接続されているか否かを判断する。接続状態表示作成部36は、複数の構成品のそれぞれを表す画像を、試験システムにおける前記構成品の実際の配置位置に対応させ表示させ、接続状態判断部の判断結果に基づき、正常な接続状態にある構成品と正常な接続状態にない構成品が外見で識別できるように表示させる表示信号を作成し出力する。記憶部35は、複数の測定項目と、各測定項目に使用する測定器と、測定項目の測定順序と、各測定項目が測定不可であるか否かを示す測定不可フラグとを、各測定項目に対応させて、図3に示す使用測定器テーブル351として記憶する。
図3は、使用測定器テーブル351の構成例を示す。
この例では、測定項目1〜10のそれぞれに対して、使用する測定器が○印で示されており、使用しない測定器が×印で示されている。例えば、測定項目1については、測定器Aのみが○印であり、他の測定器B〜Gは×印である。したがって、測定器Aのみが使用されることがわかる。
また、測定項目1〜10に対して、制御器3が自動測定を行う際の測定順序が設定されている。この例では、測定項目1〜10の順に設定されている。測定順序は、入力装置9やモニタ7を用いてオペレータが入力することができる。
また、各測定項目に対して、それぞれ測定不可フラグが設けられている。測定不可フラグは、各測定項目が測定可能な状態にあるか否かを示すものであり、測定不可フラグON(=1)の場合は、その測定項目は測定不能であることを示す。測定不可フラグOFF(=0)の場合は、その測定項目は測定可能であることを示す。測定不可フラグは、次に説明するように、主制御部31により設定される。
主制御部31は、使用測定器テーブル351の記憶内容に基づき、測定項目毎に使用する測定器を被試験器に接続するよう切り替える切替信号を切替部へ送信する。また、主制御部31は、正常な接続状態にあるべき構成品に対する質問信号を質問送信部から送信した後、構成品からの応答信号を応答受信部で受信し、前記接続状態判断部により正常な接続状態でないと判断されると、該正常な接続状態でないと判断された構成品を使用する測定項目について、測定不可である旨を前記使用測定器テーブル351の測定不可フラグに設定し(測定不可フラグ=1)、測定不可である旨の表示を前記モニタ7に表示するよう、前記接続状態表示作成部36を制御する。また、主制御部31は、各測定項目について、前記使用測定器テーブル351に設定された測定順序に従って自動的に測定を実施するとともに、前記測定不可フラグ=1となっている測定項目については測定をスキップするように制御する。
次に、本実施例における試験システム1で実行される被試験器2の試験動作について説明する。
制御器3にて試験プログラムが実行されると、モニタ7に被試験器2や試験項目(測定項目)に関係する情報が表示される。試験システム1の操作者は、マウス等の入力装置9を用い、実行する試験項目の選択や試験実行の指示を行う。制御器3は、操作者から入力された各種指示に従って試験プログラムを実行し、測定器4-n、切替器5、被試験用コントローラ6に対して制御信号を出力する。
試験動作について詳しく説明する。
制御器3は、被試験用コントローラ6に対して被試験器2の測定条件等の設定指示を出力する。被試験用コントローラ6は、制御器3からの指示に従って被試験器2に対して設定信号を出力し、被試験器2を上記測定条件に対応した状態に設定する。また、制御器3は、試験手順に従って切替部5の動作を制御し、被試験器2に接続される測定器4-nの切替(経路切替)を行うと共に、測定器4-nの動作の制御(設定等)を行う。測定器4-nは、制御器3からの指示に従って被試験器2に対して試験信号を出力すると共に、該試験信号に応答して被試験器2から出力された試験応答信号を測定する。測定器4-nで得られた測定値は制御器3に送られる。制御器3は、その測定値を閾値と比較することによって測定値の良否判定、即ち、被試験器2の動作が正常であるか否かの判定を行うと共に、測定値と判定結果をモニタ7に表示する。以上の動作は試験プログラムに従って全て自動的に行われる。また、制御器3は、予め設定された順番に従って複数の試験項目を自動的に連続して実行することも可能である。なお、測定器4-nにおいて、被試験器2から出力された試験信号の良否判定ができる場合は、測定器4-nは、良否判定結果のみを制御器3に送信するようにしてもよい。
次に、制御器3による各構成品の接続確認とその結果の表示処理について説明する。
本処理は、上述した試験プログラムによって実現される。図4は、モニタ7に表示される画面(符号11で示す)を示す図である。図4に示す構成品ボタン12及び試験ボタン13は、試験プログラム実行時の初期画面にも表示され、構成品ボタン12をクリックすることによって図4に示す画面に移行する。以下、図4に示す画面11を「接続確認画面」と呼ぶ。なお、試験ボタン13をクリックすると、上記した試験動作を実行するための画面である「試験実行画面」に移行する。
図4に示すように、接続確認画面11には、上記した構成品ボタン12や試験ボタン13に加え、試験システム1の全体像14、エラー内容表示領域15、接続確認ボタン16などが表示される。
試験システム1の全体像14は、格納架を示す格納架図像20と、格納架に格納される構成品を示す構成品画像21と、格納架に格納される制御器3を示す制御器画像22とから構成される。実際の試験システム1も、図4に示す格納架画像20と同様な格納架を備え、当該格納架の所定位置(予め定められた所定位置)に各構成品や制御器3が格納されている。全体像14では、各構成品画像21と制御器画像22とを、各構成品や制御器3の実際の配置位置に対応させて表示している。これらの表示は、接続状態表示作成部36により行われる。
なお、図4では各構成品画像21にその名称として構成品N(Nは自然数)と記しているが、実際は各構成品固有の名称が記される。また、構成品画像21や制御器画像22は、各構成品や制御器3の実形状を模擬したものであっても良いし、単にそれらが配置される領域を表したものでも良い。
試験システム1の操作者が接続確認ボタン16をクリックすると、制御器3のCPU301おいて、各構成品の接続確認とその結果の表示処理が実行される。尚、この処理は通常、試験開始に先立って操作者より実行指示がなされる。
図5は、各構成品の接続確認とその結果の表示処理等を示すフローチャートである。図5フローチャートを説明する。
先ずS1ステップにおいて、主制御部31が、構成品Nは接続確認対象か否か判断する。図6は、各構成品が接続確認対象か対象外であるかを記述した接続確認対象構成品テーブル352であり、参照ファイルとして前記記憶部35に記憶されている。図6において、1が付与された構成品が接続確認対象に設定され、0が付与された構成品が接続確認対象外に設定されている。図6に示す接続確認対象構成品テーブル352は、本例では、入力装置9から入力されて設定される。ここで、接続確認対象外の構成品とは、モニタ7やプリンタ8などの被試験器2の試験結果に直接的な影響を与えない機器であり、逆に言えば、測定器4-nや切替器5といった試験に不可欠な機器は接続確認対象に設定される。
図5フローチャートの説明に戻ると、S1ステップでは、主制御部31が図6に示す接続確認対象構成品テーブル352を参照することによって、構成品Nが接続確認対象か否か判断する。S1ステップで構成品Nが接続確認対象と判断されると、S2ステップに進んで質問送信部32が当該構成品Nとの通信を行う。すなわち、当該構成品Nに対し質問信号を送信し、当該構成品Nからの応答信号を応答受信部33が受信する。次いでS3ステップで、構成品Nと通信した結果、当該構成品Nから正常な応答が有ったか否か判断する。すなわち、受信した応答信号に基づき、当該構成品Nが正常に接続された状態であるか否かを接続状態判断部34が判断する。当該構成品Nが故障のため、正常な応答信号が受信できない場合も、正常な接続状態にないものと判断される。正常な応答が有ったときはS4ステップに進んで、接続状態表示作成部36が、当該構成品Nを表す構成品画像21に対して「接続OK」を示す表示をモニタ7に表示させる。本実施例では、「接続OK」の場合には、当該構成品Nを示す構成品画像21を緑色で表示する。
一方、S3ステップで当該構成品Nから応答が無い、あるいは正常な応答を受信できなかったと判断されたときは、S5ステップに進んで、接続状態表示作成部36が、当該構成品Nを表す構成品画像21に対して「接続NG」を示す表示をモニタ7に表示させると共に、エラーメッセージをモニタ7に表示させ、また、主制御部31が、使用測定器テーブル351において当該構成品Nを使用する測定項目の測定不可フラグをオン(=1)にする。本実施例では、「接続NG」の場合には、当該構成品Nを示す構成品画像21を赤色で表示する。
また、S1ステップで構成品Nが接続確認対象外と判断されたときは、S6ステップに進み、接続状態表示作成部36が、当該構成品Nを表す構成品画像21に対して「接続確認対象外」を示す表示をモニタ7に表示させる。本実施例では、「接続確認対象外」の場合には、当該構成品Nを示す構成品画像21を青色で表示する。
S4,S5,S6のいずれかのステップの処理を実行した後はS7ステップに進み、主制御部31が、試験システム1を構成する全ての構成品について接続確認が完了したか否か判断し、全ての構成品について接続確認が完了するまでS1ステップ以降の処理を繰り返し実行する。
全ての構成品について接続確認が完了すると、主制御部31は、S8ステップにおいて、例えば、複数の測定項目の試験開始を指示するための試験実行画面を表示するとともに、S5ステップにおいて「接続NG」とされた構成品を使用する測定項目、つまり、前記使用測定器テーブル351の測定不可フラグ=1である測定項目に対し、測定不可である旨の表示を行う。
図7は、「接続NG」とされた構成品を使用する測定項目2〜4に対し、測定不可である旨の表示である×印を表示した試験実行画面の例である。本例においては、S7ステップで全ての構成品について接続確認が完了した後、自動的に、図7の試験実行画面を表示するようにしている。図7の試験実行画面の例においては、画面右側の「測定開始」ボタンを押すことにより、主制御部31が、測定項目1から順に試験を行うようにしているが、測定不可である測定項目2〜4は測定不可フラグONであるのでスキップし、測定項目1の次は自動的に測定項目5の試験を行うように制御する。
なお、S7ステップで全ての構成品について接続確認が完了した後、自動的に、図7の試験実行画面を表示するのではなく、オペレータが入力装置9などから試験実行画面の表示指示を行うようにしてもかまわない。
また、S8ステップで試験実行画面を表示した後、自動的に、試験を開始するようにしてもよい。
また、図7の試験実行画面の例において、測定項目1から順に自動的に試験を行うのではなく、各測定項目に対して、オペレータが入力装置9などから測定指示を行うようにしてもよい。
図8は、接続確認の結果を表示した接続確認画面11を示す図である。図8において、「接続OK」即ち緑色で表示された構成品画像21を斜線(左上から右下)で示す。また、「接続NG」即ち赤色で表示された構成品画像21を菱格子で示し、「接続確認対象外」即ち青色で表示された構成品画像21を斜線(右上から左下)で示す。従って図8では、構成品4と構成品15が接続NGであることを表し、構成品3と構成品14が接続確認対象外であることを表し、それ以外の構成品は接続OKであることを示している。なお、制御器3自体は接続確認を行う必要がないため、「接続確認対象外」として表示している。
また、エラー内容表示領域15には、「接続NG」と判断された構成品4と構成品15について、それぞれ通信不良(接続不良)であることを示すエラーメッセージが表示される。このエラーメッセージ表示は、図5フローチャートのS5ステップの処理によって行われる。
なお、エラーメッセージをそのエラーの発生した構成品画像21に重ねて表示するようにしてもよい。このように表示すると、どの構成品がどのような不具合なのかを容易に認識することができる。
また、ケーブルの接続不良や断線だけでなく、接続確認対象の構成品が故障している場合や電源未投入の場合も、当該構成品からの正常な応答が無くなって「接続NG」と判断されるため、故障している構成品や電源未投入の構成品も、接続確認画面11上で「接続OK」である構成品と区別することができる。
このように、本実施例では、構成品のそれぞれが制御器3に正常に接続されているか否かを判断し、構成品のそれぞれを表す構成品画像21を、試験システム1における構成品の実際の配置位置に対応させ、判断結果(「接続OK」「接続NG」)別に異なる特徴を付与して、互いに識別できるように表示するよう構成したので、構成品のそれぞれが制御器3に接続されているか否かを容易に確認することができる。
なお、接続確認の判断結果別に応じた、異なる特徴を付与する表示方法としては、異なる色彩で表示する以外の方法、例えば、接続NGの場合には当該構成品を示す構成品画像21を点滅表示させるなど、「接続OK」と「接続NG」とを区別可能であればよく、上記した色彩による区別に限定されるものではない。
なお、本発明は、本発明に係る処理を実行するシステムとしてだけでなく、装置、方法として、或いは、このような方法やシステムを実現するためのプログラムや当該プログラムを記録する記録媒体として把握することもできる。
1:試験システム、2:被試験器、3:制御器、4-n:測定器(構成品)、5:切替器(構成品)、6:被試験器用コントローラ(構成品)、7:モニタ(構成品)、8:プリンタ(構成品)、9:入力装置。

Claims (1)

  1. 被試験器の出力信号を測定する測定器を含む複数の構成品と、前記構成品と接続され前記構成品の動作を制御する制御器と、前記構成品および被試験器と接続され、構成品と被試験器の間の信号接続経路を切り替える切替部とを備える試験システムであって、
    前記制御器は、構成品に対して質問信号を送信する質問送信部と、
    該質問信号に応答して構成品から送信される応答信号を受信する応答受信部と、
    前記応答信号に基づいて構成品が制御器に正常に接続されているか否かを判断する接続状態判断部と、
    複数の測定項目と各測定項目に使用する測定器と測定項目の測定順序とを記憶する記憶部と、
    前記質問送信部、応答受信部、接続状態判断部を制御し、前記記憶部に記憶した測定順序に従って各測定項目の測定を行うとともに、前記記憶部の記憶内容に基づき測定項目毎に使用する測定器を切り替える切替信号を前記切替部へ送信する主制御部とを備え、
    前記主制御部が、構成品に対する質問信号を前記質問送信部から送信した後、構成品からの応答信号を前記応答受信部で受信し、前記接続状態判断部により前記構成品が正常な接続状態でないと判断されると、該正常な接続状態でないと判断された構成品を使用する測定項目については測定をスキップし、前記記憶部に記憶した測定項目の測定順序に従って自動的に次の測定項目の測定を行うことを特徴とする試験システム。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012111387A1 (ja) * 2011-02-14 2012-08-23 株式会社 エヌ・ティ・ティ・ドコモ 試験装置
JP2013003074A (ja) * 2011-06-21 2013-01-07 Hitachi Kokusai Electric Inc 装置試験システムおよび装置試験方法
JP2013113700A (ja) * 2011-11-29 2013-06-10 Hitachi Kokusai Electric Inc 試験システム
JP2018191463A (ja) * 2017-05-10 2018-11-29 三菱電機エンジニアリング株式会社 配電盤の試験装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012111387A1 (ja) * 2011-02-14 2012-08-23 株式会社 エヌ・ティ・ティ・ドコモ 試験装置
JP2012168727A (ja) * 2011-02-14 2012-09-06 Ntt Docomo Inc 試験装置
CN103329108A (zh) * 2011-02-14 2013-09-25 株式会社Ntt都科摩 测试装置
US9280451B2 (en) 2011-02-14 2016-03-08 Ntt Docomo, Inc. Testing device
JP2013003074A (ja) * 2011-06-21 2013-01-07 Hitachi Kokusai Electric Inc 装置試験システムおよび装置試験方法
JP2013113700A (ja) * 2011-11-29 2013-06-10 Hitachi Kokusai Electric Inc 試験システム
JP2018191463A (ja) * 2017-05-10 2018-11-29 三菱電機エンジニアリング株式会社 配電盤の試験装置

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