JP2002286781A - 装置の配線異常検出方法及び装置の配線異常検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 不具合箇所の早期発見や継続的検査による履
歴管理・傾向把握が可能な装置の配線異常検出方法を実
現することを目的としている。 【解決手段】 装置本体に複数のオプション機器を設置
することが可能であり、基板インターフェース制御とし
て基板間でデータ転送を行なうためのデータ転送手段を
備えた半導体集積回路と、各基板上の半導体集積回路同
士を接続する配線と、装置の各部を制御する中央演算手
段１１とを有する装置であって、基板上の半導体集積回
路と基板上の半導体集積回路とが、或いは前記装置に搭
載している基板上の半導体集積回路同士とがデータ転送
手段を用いて基板間の配線の異常検出を実行し、前記配
線の異常検出の結果を中央演算手段１１に送信するとい
う一連の配線異常検出を、装置１に接続した制御装置７
０にて制御し、検査結果を中央演算手段１１から制御装
置７０に送信するように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は装置の配線異常検出
方法及び装置の配線異常検出装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】画像形成装置において、装置の製造・組
立工程や修理時に基板間の配線不良や配線ミスが発生す
る場合がある。基板単体でのチェックは終了していて
も、複数の基板間に多数の配線箇所があり、配線不良個
所を特定するために多大な時間を費やすことが多かっ
た。

【０００３】とくに、画像形成装置に対してオプション
機器を設置する場合、画像形成装置単体・オプション機
器単体ではチェックは終了していても、設置後に不良個
所の存在が判明した場合、不良個所の特定に多大な時間
を必要とする。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】画像形成装置及びオプ
ション機器において、画像形成装置本体内部又は画像形
成装置本体とオプション機器間の配線異常検出検査を行
なう場合、検査結果は表示手段へ表示され、また転写出
力手段により転写紙に転写出力される。検査結果は、前
述の通り表示・出力されるが、検査履歴や結果はメモリ
等の記憶手段に記憶されることはない。

【０００５】また、テストモードを開始すると、全ての
配線について異常検出検査を行なうため、ある一部の配
線のみ検査を行なう、といった部分的な検査に対応でき
なかった。画像形成装置本体へオプション機器を接続す
る場合や束線の交換等の作業の後に配線異常を確認する
際、配線に変更のあった箇所を重点的に検査を行なう必
要があるが、部分的な検査が不可能のため、常に配線全
体を検査せざるを得ず、メンテナンスの柔軟性に欠けて
いるという問題があった。

【０００６】以上の問題に対し、過去の配線異常検出結
果の履歴がないため、いつ検査を実行したのかが把握で
きず、不具合箇所の早期発見や傾向把握が困難であっ
た。検査結果の比較をしたい場合も過去の検査結果が記
憶されないため、検査時に転写出力した紙面にて目視に
よる比較をするほかに手段がなく、その結果、比較に時
間を費やしていた。

【０００７】画像形成装置の記憶手段に検査結果を記憶
させることで履歴管理や結果比較が可能となるが、記憶
手段をはじめ、中央演算手段や処理プログラムの負担が
増大し、且つ部品点数の増加につながるため、画像形成
装置本体だけでは対応することが困難であった。

【０００８】また、配線異常検出検査に柔軟性を持たせ
ることについては、検査を細分化することが不可欠であ
るが、中央演算手段、処理プログラム、メモリ等の記憶
手段に負担が増大し、画像形成装置本体やオプション機
器の部品点数増加につながるため、画像形成装置とオプ
ション機器のみでの対応には限界があった。

【０００９】本発明はこのような課題に鑑みてなされた
ものであって、配線異常検出検査履歴や検査結果を記憶
し、過去の検査結果との比較が容易で、更に中央演算手
段や処理プログラムの負担・部品点数の増加をさせずに
画像形成装置やオプション機器との接続基板間の配線異
常検出検査の細分化・多様化が可能な装置の配線異常検
出方法及び装置の配線異常検出装置を実現することを目
的としている。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明に関して、装置に
搭載されている各基板について、おのおの基板単体での
チェックは終了していることを前提とする。

【００１１】装置として例えば画像形成装置を用いる場
合、画像形成装置を構成する基板、および、画像形成装
置に設置可能なオプション機器の基板に、基板インター
フェース制御を行なう半導体集積回路（ＡＳＩＣ）を設
け、この半導体集積回路にあらかじめデータ転送機能を
備えておく。

【００１２】そして、簡単なテスト回路を組み込むこと
で別基板のＡＳＩＣ同士でデータ転送を利用した配線チ
ェックを行ない、配線異常があるかどうか判定する。基
板間配線チェックには中央演算手段（ＣＰＵ）は関与し
ない。ＣＰＵは画像形成装置に接続されたコンピュータ
とＡＳＩＣとの間で、配線チェック命令や判定結果の伝
達等、データの中継を行なう。

【００１３】画像形成装置に接続されたコンピュータよ
り配線チェック開始命令を送信して配線異常検出検査を
行ない、検査結果を画像形成装置からコンピュータへ送
信する。検査結果をコンピュータに記憶させることによ
り、コンピュータ上にて検査結果の比較が可能となり、
且つ検査履歴の管理が可能となる。また、コンピュータ
を用いて画像形成装置の外側から配線異常検出検査を制
御・管理することにより、中央演算手段・処理プログラ
ム等の負担増加や部品点数の増加をさせずに、ある特定
箇所の基板間配線チェック等といった多種多様な配線異
常検出検査が実現可能になる。このような効果を得るた
めに、本発明は以下のような構成をとっている。

【００１４】（１）請求項１記載の発明は、装置本体に
複数のオプション機器を設置することが可能であり、基
板インターフェース制御として基板間でデータ転送を行
なうためのデータ転送手段を備えた半導体集積回路と、
各基板上の半導体集積回路同士を接続する配線と、装置
の各部を制御する中央演算手段とを有し、前記オプショ
ン機器に搭載している基板上の半導体集積回路と前記装
置に搭載している基板上の半導体集積回路とが、或いは
前記装置に搭載している基板上の半導体集積回路同士と
がデータ転送手段を用いて基板間の配線の異常検出を実
行し、前記配線の異常検出の結果を中央演算手段に送信
するという一連の配線異常検出を、装置に接続した制御
装置にて制御し、検査結果を中央演算手段から制御装置
に送信することを特徴とする。

【００１５】このように構成すれば、不具合箇所の早期
発見や継続的検査による履歴管理・傾向把握が可能な装
置の配線異常検出方法を実現することができる。 （２）請求項２記載の発明は、装置本体に複数のオプシ
ョン機器を設置することが可能であり、基板インターフ
ェース制御として基板間でデータ転送を行なうためのデ
ータ転送手段を備えた半導体集積回路と、各基板上の半
導体集積回路同士を接続する配線と、装置の各部を制御
する中央演算手段とを有する装置であって、前記オプシ
ョン機器に搭載している基板上の半導体集積回路と前記
装置に搭載している基板上の半導体集積回路とが、或い
は前記装置に搭載している基板上の半導体集積回路同士
とがデータ転送手段を用いて基板間の配線の異常検出を
実行し、前記配線の異常検出の結果を中央演算手段に送
信するという一連の配線異常検出を、装置に接続した制
御装置にて制御し、検査結果を中央演算手段から制御装
置に送信することを特徴とする。

【００１６】このように構成すれば、不具合箇所の早期
発見や継続的検査による履歴管理・傾向把握が可能な装
置の配線異常検出装置を実現することができる。

【００１７】

【発明の実施の形態】以下に、図面を参照して本発明の
実施の形態例を詳細に説明する。図１は本発明の一実施
の形態例を示すブロック図であり、画像形成装置とオプ
ション機器と、コンピュータとの接続を示している。図
１において、１は装置としての画像形成装置であり、基
板インタフェース制御として基板間でデータ転送を行な
うためのデータ転送手段を備えた半導体集積回路（ＡＳ
ＩＣ）と、各基板上の半導体集積回路同士を接続する配
線と、装置の各部を制御する中央演算手段（ＣＰＵ）と
を有し、後述する後処理装置などのオプション機器を設
置することが可能に構成されている。

【００１８】１０は画像形成装置１内の第１基板であ
り、画像形成装置１の制御基板として動作するものであ
り、中央演算手段としてのＣＰＵ１１、他の基板（第２
基板２０）とデータ転送を行えるデータ転送手段を備え
た半導体集積回路としてのＡＳＩＣ１２、また他の基板
（第３基板３０）とデータ転送を行えるデータ転送手段
を備えた半導体集積回路としてのＡＳＩＣ１３を備えて
構成されている。なお、第１基板１０に存在する一般的
な他の回路については省略している。

【００１９】２０は画像形成装置内の第２基板であり、
画像形成装置の一部として動作するものであり、他の基
板（第１基板１０）とデータ転送を行えるデータ転送手
段を備えた半導体集積回路としてのＡＳＩＣ２１、他の
基板（オプション機器基板６０）とデータ転送を行える
データ転送手段を備えた半導体集積回路としてのＡＳＩ
Ｃ２２を備えて構成されている。なお、第２基板２０に
存在する一般的な他の回路については省略している。

【００２０】３０は画像形成装置の入力・出力基板とし
ての第３基板であり、画像形成装置の一部として動作す
るものであり、他の基板（第１基板１０）とデータ転送
を行えるデータ転送手段を備えた半導体集積回路として
のＡＳＩＣ３１、入力部３２と、表示部３３と、プリン
タ３４を備えて構成されている。なお、第３基板３０に
存在する一般的な他の回路については省略している。ま
た、入力部３２と表示部３３と、プリンタ３４は一体化
されたものであっても、別体となったものでもよい。

【００２１】５０は後処理装置などのオプション機器で
あり、画像形成装置本体に対して少なくとも一つ設置す
ることが可能に構成されており、基板インタフェース制
御として基板間でデータ転送を行なうためのデータ転送
手段を備えた半導体集積回路と、各基板上の半導体集積
回路同士を接続する配線と、を有する。

【００２２】６０はオプション機器５０の回路を搭載し
たオプション機器基板であり、画像形成装置に設置（接
続）されて一体的に動作するものであり、他の基板（第
２基板２０）とデータ転送を行えるデータ転送手段を備
えた半導体集積回路としてのＡＳＩＣ６１を備えて構成
されている。なお、オプション機器基板６０に存在する
一般的な他の回路については省略している。

【００２３】なお、以上の第１基板１０〜第３基板３
０、オプション機器５０、オプション機器基板６０は画
像形成装置の説明のための一例であり、オプション機器
数・基板数や内容はここに示したものに限定されるもの
ではない。

【００２４】以上のように、各基板において、基板イン
タフェース制御を行なうＡＳＩＣにシリアルデータ転送
機能を備えておく。通常では別基板に搭載されている同
様のＡＳＩＣとの間で、データ転送手段がデータ転送を
行なう。

【００２５】以上のＡＳＩＣ１２，１３，２１，２２，
６１，３１にあらかじめ簡単なテスト回路を組み込んで
おき、通常時にデータ転送で使用する機能を利用してテ
ストモード時に基板間の配線チェック（配線異常検出）
を行なう。テストモードヘの切り替えは、画像形成装置
の電源投入時に自動選択する方法と、入力部にて手動選
択する方法と、後述するコンピュータにより選択する方
法のいずれかが考えられる。

【００２６】７０は、画像形成装置１とケーブル７１を
介して接続され、配線Ａ，Ｂ，Ｃの検査命令を与えると
共に、配線Ａ，Ｂ，Ｃの判定結果を受けるコンピュータ
である。コンピュータ７０には、図示しない記憶手段が
具備されており、試験結果や試験の履歴等を記憶するよ
うになっている。このように構成された装置の動作を説
明すれば、以下の通りである。

【００２７】画像形成装置１及びオプション機器５０に
搭載されている各基板において、基板インターフェース
制御を行なうＡＳＩＣにシリアルデータ転送機能を備え
ておく。通常では、別基板に搭載されている同様のＡＳ
ＩＣとの間でデータ転送手段がデータ転送を行なう。

【００２８】以上のＡＳＩＣ１２，１３，２１，２２，
３１，６１に予め簡単なテスト回路を組み込んでおき、
通常時にデータ転送で使用する機能を利用してテストモ
ード時に基板間の配線チェック（配線異常検出）を行な
う。テストモードへの切り替えは、画像形成装置１に接
続されたコンピュータ７０にて選択し、画像形成装置１
へ命令を送信する。なお、画像形成装置１にコンピュー
タ７０が接続されていない場合には、画像形成装置本体
にて電源投入時に自動選択する方法と、入力部にて手動
選択する方法の何れかが考えられる。

【００２９】以下に、コンピュータを利用して制御を行
なう場合について説明する。画像形成装置１にケーブル
７１でコンピュータ７０を接続する。コンピュータ７０
からの命令により、画像形成装置１及びオプション機器
５０はテストモードとなり、インターフェース制御のた
めのＡＳＩＣは基板間の配線異常検出を行なう。図の配
線Ａ，配線Ｂ，配線Ｃについて、それぞれインターフェ
ース制御を行なっているＡＳＩＣ同士で配線異常検出検
査を行ない、検出結果のみをＣＰＵ１１に送る。ＣＰＵ
１１は、ＡＳＩＣから送られてきた検出結果をそのまま
コンピュータ７０に送る。

【００３０】コンピュータ７０は、ＡＳＩＣからＣＰＵ
１１を経由して送られてきた検出結果をディスプレイに
表示し、又はハードディスク等の記憶手段に記憶させ
る。図１では、コンピュータ７０から「配線Ａ，配線
Ｂ，配線Ｃ」と全ての配線を検査するよう命令を送って
いるが、コンピュータ７０にて検査命令を変更すること
により、「配線Ａのみ」、「配線Ａ，配線Ｂ」、「配線
Ａ，配線Ｃ」等、ある一部の配線について検査命令を送
ることができる。画像形成装置１のみで様々な検査を行
なうには、従来はＲＯＭ等の記憶手段に全てのプログラ
ムを記憶させる必要があり、記憶手段への負担増加や部
品点数の増加を引き起こすため対応できなかった。

【００３１】画像形成装置１にコンピュータ７０が接続
されていない場合には、画像形成装置１及びオプション
機器５０のみで配線異常検出検査を行なう。この場合に
は、テストモード時に全ての配線についてチェックを行
ない、検査結果はＣＰＵ１１からＡＳＩＣ１３を経由し
て第３基板３０に通知され、表示部３３に表示され、或
いはプリンタ３４によりプリントされる。なお、画像形
成装置１にコンピュータ７０が接続されている場合は、
コンピュータ７０にて配線異常検出を制御する検査方法
が優先される。

【００３２】配線異常が発生した場合、判定結果がいつ
まで経ってもＣＰＵ１１に送信されない可能性がある。
このため、ＣＰＵ１１やＡＳＩＣ等にテストモード開始
からの経過時間を計測する手段を設けて時間を計測して
おき、所定時間後に判定結果が送られなければ配線異常
があると判断する手段をＡＳＩＣ等に設けておく。

【００３３】そして、何れかのＡＳＩＣで所定時間経過
による異常が検出された場合、その異常結果をＣＰＵ１
１に対して送信し、ＣＰＵ１１はそのままコンピュータ
７０に送信する。例えば、画像形成装置１にコンピュー
タ７０が接続されていない状態で配線異常検出を行な
い、配線Ｃに異常が発生した場合は、配線検査結果を表
示部３３に表示することができないので、結果を作像転
写手段にて転写紙に転写して出力する。このような代替
手段をＣＰＵ１１が予め定めておく。

【００３４】次に、基板間の配線異常自動検出方法の一
例を説明する。自動検出方法は、以下の検出方法に限定
されるものではない。シリアルデータ転送機能を備え、
基板インターフェース制御を行なうＡＳＩＣに予め簡単
なテスト回路を組み込む。これにより、別基板に搭載し
ている同等機能を持つＡＳＩＣとデータ転送を使用した
配線異常検出を行なう。

【００３５】図２は、画像形成装置及びオプション機器
の構成や接続状態を示す機能ブロック図である。基板８
０に搭載されているＡＳＩＣ１００（ＡＳＩＣ１）と基
板９０に搭載されているＡＳＩＣ２００（ＡＳＩＣ２）
は、基板インターフェース制御を行なうＡＳＩＣであ
り、シリアルデータ転送機能からの４本の制御線と２本
のデータ線によって接続されている。

【００３６】ＡＳＩＣ１００は、別機能１９０と送信手
段１１０及び受信手段１２０から構成されている。ＡＳ
ＩＣ２００は、別機能２９０と送信手段２１０及び受信
手段２２０から構成されている。送信手段１１０は受信
手段２２０と接続され、受信手段１２０は送信手段２１
０と接続されている。送信手段１１０から受信手段２２
０に向けて送信要求が送られると、受信手段２２０から
送信手段１１０に向けて送信許可信号が送られる。この
結果、送信手段１１０から受信手段２２０に向けてデー
タが送られる。この関係は、送信手段２１０と受信手段
１２０との関係についても同じである。

【００３７】通常動作時には、送信側から送信要求信号
を受信側に送り、受信側は送信要求信号を受けて受信準
備ができていれば、送信許可信号を送信側に送る。送信
側は、受信側からの送信許可信号を受けた後に送信デー
タを受信側へ送る。

【００３８】テストモード時には、送信側がテストデー
タをデータ信号線以外のデータ転送用信号線も含め所定
の端子から送信し、受信側はテストデータをレジスタに
格納、或いは信号処理をせずにそのまま送信側へ送り返
す。この動作を順次自動でデータ転送用信号全てに対し
て行なう。

【００３９】全ての信号線を経由して送信側に戻ったテ
ストデータと元のテストデータを比較することで配線異
常検出を行なう。テストデータ比較は、インターフェー
ス制御ＡＳＩＣにて実行するため、ＣＰＵの負荷を増大
させることなく検出可能である。シリアルデータ転送を
利用した配線異常自動検出方法の詳細については、特願
平１１−２２８２７４号に記載されている。即ち、テス
トモード送信側となる一方の処理回路から送信されたテ
ストデータは、テストモード受信側となる他方の処理回
路との間で折り返され、全ての信号線を経由して循環し
てからテストモード送信側一方の処理回路に戻るもので
ある。

【００４０】テストモードにて異常が検出されなかった
場合は、テストモード送信側と受信側とを入れ替えるこ
とが望ましい。次に、異常検出結果の表示例について説
明する。予め基板設置位置、オプション機器設置位置、
基板間配線箇所の情報等を、コンピュータのハードディ
スク等の記憶手段や画像形成装置に搭載されているメモ
リ等の記憶手段に記憶させておく。ＣＰＵ１１は各ＡＳ
ＩＣから送られた異常検出判定結果を受け取り、そのま
まコンピュータ７０に送信する。

【００４１】コンピュータ７０は、配線箇所情報とあわ
せてコンピュータ７０に接続されているディスプレイ等
の表示手段に表示させる。判定結果のリストだけでは、
オペレータが短時間で配線異常箇所を特定することは不
可能であるため、視覚的にわかりやすいように、例えば
画像形成装置、オプション機器、基板設定位置、配線箇
所等を図示し、○×等のわかりやすい記号を重ねて、コ
ンピュータ７０に接続されているディスプレイ等の表示
手段に表示させる。

【００４２】図３は表示或いは出力する画像の様子を模
式的に示す説明図である。基板とある基板間との配線に
異常がある（×）、チェック結果が未達で示されてい
る。

【００４３】画像形成装置１にコンピュータを接続せず
に、画像形成装置及びオプション機器のみで配線異常を
検出する場合は、判定結果と配線箇所情報とを併せて表
示部３３の表示画面に表示させる。また、同様な図示し
たものの画像をプリンタ３４で転写紙に転写して出力す
る。表示される画像は、コンピュータ７０を接続して検
査を制御する場合と同様である。以上によりオペレータ
が瞬時に不具合箇所を特定することができる。

【００４４】コンピュータを接続して制御する場合の結
果表示方法について更に詳細に説明する。画像形成装置
１にコンピュータ７０が接続されている場合は、コンピ
ュータ７０にて配線異常検出を制御する検査方法が優先
されるため、画像形成装置１の表示部３３の表示画面に
は結果は表示されない。コンピュータ７０より判定結果
と表示命令を画像形成装置のＣＰＵ１１に送信すること
で、ＣＰＵ１１を経由して画像形成装置表示部３３の表
示画面へ結果を表示することができる。過去の配線異常
検査結果をコンピュータ７０のハードディスク等の記憶
手段に記憶してあれば、画像形成装置１の表示画面へ結
果を表示することができる。

【００４５】なお、テストモードから通常モード（画像
形成モード）への移行は、コンピュータ７０が接続され
ている場合は、コンピュータ７０からの通常移行命令に
従い移行する。画像形成装置１及びオプション機器５０
のみでテストを行ない、異常が検出されなかった場合
は、配線異常検出結果の異常なしとの表示或いは転写紙
出力の後、通常モード（画像形成モード）に移行するこ
とが望ましい。

【００４６】次に、コンピュータ７０に記憶された配線
異常検出結果の応用について説明する。コンピュータ７
０の記憶手段に配線異常検出結果を記憶し、情報として
蓄積することで、配線チェックの履歴管理を行なうこと
ができる。また、コンピュータ７０上でプログラムやア
プリケーションソフトウェア等を用いて結果を比較する
ことができるため、短時間で結果の比較が可能となる。
配線チェックをどの程度の間隔で実行しているのか、ど
の箇所で配線異常が発生したのか、過去の配線異常検出
と結果がどのように変化しているのか等の情報が素早く
閲覧できることにより、傾向を把握することができ、メ
ンテナンス性が向上する。ノートパソコン等の携帯性に
優れたコンピュータ７０を使用してメンテナンス担当者
がメンテナンスを行なうことにより、製品出荷後（ユー
ザ購入後）の画像形成装置及びオプション機器であって
も、製品出荷前と同様に、より詳細な配線チェックを行
なうことができる。

【００４７】前述の実施の形態例では、装置として画像
形成装置を用いた場合を例にとったが、本発明はこれに
限るものではなく、内部に基板と、基板間を接続する配
線とＡＳＩＣとＣＰＵを有する全ての装置に対して本発
明を適用することができる。

【００４８】また、前述の実施の形態例では、制御装置
としてコンピュータを用いた場合を例にとったが、本発
明はこれに限るものではなく、制御機能を有している装
置であれば、どのようなものを用いてもよい。

【００４９】

【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明に
よれば、画像形成装置にコンピュータを接続することに
より、ＣＰＵや画像形成装置の記憶手段に負担をかけず
に配線異常検出結果の記憶・比較や部分的な検査の実行
を可能とし、また製品出荷後にメンテナンス担当者が画
像形成装置にコンピュータを接続して配線異常検出を行
なうことにより、不具合箇所の早期発見や継続的検査に
よる履歴管理・傾向把握が可能な装置の配線異常検出方
法及び装置の異常検出装置を実現することができる。

【００５０】また、コンピュータにて配線異常検出結果
の比較を行なうことにより、今までは転写出力した紙面
にて目視による比較をしていたため時間を費やしていた
が、瞬時に比較できるため、大幅な工数短縮が可能であ
り、その結果、比較の精度も向上する。また、部分的な
検査の実行が可能となることで様々な検査に対応できる
ため、メンテナンスの柔軟性が大幅に向上する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施の形態例を示すブロック図であ
る。

【図２】画像形成装置及びオプション機器の構成や接続
状態を示す機能ブロック図である。

【図３】表示或いは出力画像の様子を模式的に示す説明
図である。

【符号の説明】

１０ 第１基板 １１ ＣＰＵ １２ ＡＳＩＣ １３ ＡＳＩＣ ２０ 第２基板 ２１ ＡＳＩＣ ２２ ＡＳＩＣ ３０ 第３基板 ３１ ＡＳＩＣ ３２ 入力部 ３３ 表示部 ３４ プリンタ ５０ オプション機器 ６０ オプション機器基板 ６１ ＡＳＩＣ ７０ コンピュータ ７１ ケーブル Ａ，Ｂ，Ｃ 配線

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G014 AA01 AB59 AB62 AC15 AC19 2G132 AA13 AA20 AD15 AE00 AE16 AK07 AL09 AL12 AL31 5B048 AA05 AA20 CC17 EE07 FF01 FF04

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 装置本体に複数のオプション機器を設置
   することが可能であり、基板インターフェース制御とし
   て基板間でデータ転送を行なうためのデータ転送手段を
   備えた半導体集積回路と、 各基板上の半導体集積回路同士を接続する配線と、 装置の各部を制御する中央演算手段とを有し、 前記オプション機器に搭載している基板上の半導体集積
   回路と前記装置に搭載している基板上の半導体集積回路
   とが、或いは前記装置に搭載されている基板上の半導体
   集積回路同士とがデータ転送手段を用いて基板間の配線
   の異常検出を実行し、 前記配線の異常検出の結果を中央演算手段に送信すると
   いう一連の配線異常検出を、装置に接続した制御装置に
   て制御し、検査結果を中央演算手段から制御装置に送信
   することを特徴とする装置の配線異常検出方法。
2. 【請求項２】 装置本体に複数のオプション機器を設置
   することが可能であり、基板インターフェース制御とし
   て基板間でデータ転送を行なうためのデータ転送手段を
   備えた半導体集積回路と、 各基板上の半導体集積回路同士を接続する配線と、 装置の各部を制御する中央演算手段とを有する装置であ
   って、 前記オプション機器に搭載している基板上の半導体集積
   回路と前記装置に搭載している基板上の半導体集積回路
   とが、或いは前記装置に搭載している基板上の半導体集
   積回路同士とがデータ転送手段を用いて基板間の配線の
   異常検出を実行し、 前記配線の異常検出の結果を中央演算手段に送信すると
   いう一連の配線異常検出を、装置に接続した制御装置に
   て制御し、検査結果を中央演算手段から制御装置に送信
   することを特徴とする装置の配線異常検出装置。