KR101953117B1 - 자가 진단 기능을 갖는 전자 장치 및 전자 장치의 자가 진단 방법 - Google Patents

자가 진단 기능을 갖는 전자 장치 및 전자 장치의 자가 진단 방법 Download PDF

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Abstract

진단 대상 하드웨어에 연결된 다수의 라인에 진단용 신호를 제공하고, 루프-백(loop-back)을 통해 되돌아오는 신호를 수신하여, 수신된 신호를 제공된 진단용 신호와 비교하여 진단 대상 하드웨어에 대한 진단을 수행하는 자가 진단 기능을 갖는 전자 장치 및 이를 이용한 전자 장치의 자가 진단 방법.

Description

자가 진단 기능을 갖는 전자 장치 및 전자 장치의 자가 진단 방법{electronic device having a self diagnose function and a self diagnose method using the same}
본 발명은 전자 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 자가 진단 기능을 갖는 전자 장치 및 그 전자 장치의 자가 진단 방법에 관한 것이다.
전자 장치를 이루는 부품에 대한 성능 검사 또는 부품 사이의 신호 전달을 위한 신호 라인에 대한 검사는 생산 과정에서 외부 장비를 연결하여 화면을 보면서 수행하고 있다. 예를 들어, 고선명 멀티미디어 인터페이스(high definition multimedia interface) 단자에 대한 검사를 수행하기 위해, 여러 대의 외부 장비 혹은 분배기 및 HDMI 케이블을 이용하여 HDMI 포트를 검사했다. 이때, 각 포트를 순차적으로 검사해야 하므로 검사에 소요되는 시간이 길었다. 또한, 소비자가 직접 검사를 수행할 수 있는 방법이 없었다.
본 발명은 별도의 외부 장치의 삽입이나 외부 입력 장치를 이용하지 않고, 자가 진단을 수행할 수 있는 전자 장치 및 자가 진단 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 다른 목적은 전자 장치의 생산 시 소요되는 검사 시간을 단축시키는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 소비자가 직접 전자 장치를 검사할 수 있도록 하여 편의성을 높이는 것이다
본 발명의 또 다른 목적은 루프-백을 이용하여 자가 진단을 수행할 수 있는 전자 장치 및 자가 진단 방법을 제공하는 것이다.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 복수의 하드웨어를 포함하는 전자 장치에 있어서, 디스플레이부; 사용자 입력을 수신하는 인터페이스부; 및 상기 복수의 하드웨어 중 자가 진단이 가능한 적어도 하나의 진단 대상 하드웨어를 표시하고, 상기 표시된 적어도 하나의 진단 대상 하드웨어 중에서 상기 인터페이스부를 통해 수신된 사용자 입력에 의해 선택된 진단 대상 하드웨어에 연결된 다수의 라인(line)에 진단용 신호를 제공하고, 루프-백(loop-back)을 통해 상기 선택된 진단 대상 하드웨어로부터 되돌아오는 신호를 수신하여 제공된 진단용 신호와 비교하여 그 결과에 따라 상기 선택된 진단 대상 하드웨어와 연결된 라인의 단선 및 인접 채널 사이의 단락 여부의 진단 결과를 산출하여 진단 결과를 출력하도록 제어하는 제어부를 포함할 수 있다.
여기서, 상기 진단용 신호는 상기 다수의 라인에 제공되는 DC 전압일 수 있다.
여기서, 상기 진단용 신호는 상기 다수의 라인에 제공되는 주파수를 갖는 신호일 수 있다.
여기서, 상기 진단용 신호는 라인별로 서로 다른 값을 가질 수 있다.
여기서, 상기 제어부는 다수의 라인(line)에 진단용 신호를 동시에 제공할 수 있다.
여기서, 진단 대상 하드웨어에 대한 진단 주기의 정보가 저장된 메모리를 더 포함할 수 있다.
여기서, 상기 진단 주기는 상기 상기 사용자 입력에 의해 설정될 수 있다.
여기서, 상기 진단 주기는 미리 설정된 값을 가질 수 있다.
여기서, 상기 진단 대상 하드웨어는 외부 장치와 연결하기 위한 포트를 가진 커넥터이고, 상기 커넥터는 통전용 캡(cap)에 의해 루프-백(loop-back)을 형성할 수 있다.
여기서, 상기 커넥터는 범용직렬버스(universal serial bus: USB)용 커넥터일 수 있다.
여기서, 상기 커넥터는 고선명멀티미디어인터페이스(high definition multimedia interface: HDMI)용 커넥터일 수 있다.
또는, 상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 복수의 하드웨어를 포함하는 전자 장치의 자가 진단 방법에 있어서, 상기 복수의 하드웨어 중 자가 진단이 가능한 적어도 하나의 진단 대상 하드웨어를 포함하는 자가 진단 안내 화면을 표시하는 단계; 상기 표시된 적어도 하나의 진단 대상 하드웨어 중에서 사용자 입력에 의해 선택된 진단 대상 하드웨어에 대한 선택 정보를 수신하는 단계; 상기 선택된 진단 대상 하드웨어에 연결된 다수의 라인에 진단용 신호를 제공하는 단계; 루프-백(loop-back)을 통해 상기 선택된 진단 대상 하드웨어로부터 되돌아오는 신호를 수신하는 단계; 상기 수신된 신호를 제공된 진단용 신호와 비교하는 단계; 비교 결과에 따라 상기 선택된 진단 대상 하드웨어에 대한 진단 결과를 산출하는 단계; 및 진단 결과를 출력하는 단계를 포함할 수 있다.
여기서, 상기 진단용 신호를 제공하는 단계는 상기 다수의 라인에 DC 전압을 제공할 수 있다.
여기서, 상기 진단용 신호를 제공하는 단계는 상기 다수의 라인에 서로 다른 주파수를 갖는 신호를 제공할 수 있다.
여기서, 상기 진단 결과를 출력하는 단계는 온스크린디스플레이(on screen display: OSD)를 통해 표시결과를 디스플레이할 수 있다.
여기서, 상기 진단용 신호를 제공하는 단계는 상기 진단용 신호를 저장하는 단계를 더 포함할 수 있다.
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본 발명에 따른 전자 장치 및 이를 이용한 자가 진단 방법은 다음과 같은 효과를 가질 수 있다.
첫째, 사용자에게 편의성을 제공할 수 있다.
둘째, 장치의 검사에 소요되는 시간을 단축할 수 있다.
셋째, 검사를 위한 외부 장치가 불필요하다.
도 1은 본 발명에 따른 자가 진단 기능을 갖는 전자 장치의 구현을 나타낸 예시도이다.
도 2a는 본 발명의 일 실시 예에 따른 HDMI 자가 진단 실시를 위한 구성을 나타낸 예시도이다.
도 2b는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 USB 자가 진단 실시를 위한 구성을 나타낸 예시도이다.
도 2c는 본 발명의 또 다른 실시 예에 따른 영상회로 자가 진단 실시를 위한 구성을 나타낸 예시도이다.
도 3은 본 발명에 따른 전자 장치의 자가 진단 방법의 진행과정을 나타낸 흐름도이다.
도 4는 본 발명에 따른 자가 진단을 위한 안내 화면의 예시도이다.
도 5는 본 발명에 따른 자가 진단의 결과 화면의 예시도이다.
도 6은 본 발명에 따른 자가 진단의 주기 설정 화면의 예시도이다.
이하에서의 "전자 장치"는 CPU를 포함한 다수의 부품을 구비하고 있는 전자 제품을 의미하며,
도 1은 본 발명에 따른 자가 진단 기능을 갖는 전자 장치의 구현을 나타낸 예시도이다. 그 구성을 살펴보면, 진단 대상 하드웨어에 대한 사용자의 선택 신호를 수신하는 인터페이스부(100)와, 상기 인터페이스부(100)를 통해 수신된 선택 신호에 따라 진단 대상 하드웨어에 연결된 다수의 라인(line)에 진단용 신호를 제공하고, 루프-백(loop-back)을 통해 상기 진단 대상 하드웨어(300)로부터 되돌아오는 신호를 수신하여 제공된 진단용 신호와 비교하여 그 결과에 따라 상기 진단 대상 하드웨어와 연결된 라인의 단선 또는 인접 채널 사이의 단락 여부의 진단 결과를 산출하는 제어부(200)를 나타내고 있다. 또한 도시하지 않았으나, 상기 제어부(200)에서 진단 결과를 표시하도록 제어신호를 수신하여 사용자가 인식할 수 있는 형태로 나타낼 수 있는 디스플레이부가 구성될 수 있다. 예를 들어, 진단 결과는 7세그먼트 형태의 텍스트를 표시하거나, 에러 경고음을 포함한 음향 출력 또는 위의 예와 같이 디스플레이부를 통한 표시 등 다양한 형태로 나타날 수 있으므로, 기본적인 구성에서는 제외한다.
도 2a는 본 발명의 일 실시 예에 따른 HDMI 자가 진단 실시를 위한 구성을 나타낸 예시도이다. 도시된 바와 같이, 제어부(210)는 진단 신호 발생부(211)와 수신 및 판단부(212)를 구비한다. 상기 제어부(210)가 칩(chip)이므로, 상기 진단 신호 발생부(211)와 수신 및 판단부(212)는 별도의 하드웨어적 구성을 가진 것이 아니라, 로직(logic)의 구현을 그 역할에 알맞도록 명명한 것이다. 진단 신호 발생부(211)로부터 출력된 신호는 HDMI(310)에 전달되며, 통전용 캡(410)에 의해 루프-백(loop-back)을 이룬다. 인접 패턴 사이의 단락 또는 단선을 검사하기 위해 여러 개의 루프(loop)를 만들어 검사한다. 또한, 인접 패턴 사이의 단락 또는 단선을 검사하기 위해 인접 패턴 간 서로 다른 극성의 신호를 인가할 수 있다. 수신 및 판단부(212)는 궤환되는 신호를 수신하여, 상기 진단 신호 발생부(211)를 통해 출력된 신호와 비교하여, 비교 결과에 따라 HDMI(310)의 이상 유무를 판단한다. 이때, HDMI 포트 수에 따라 순차적으로 검사하는 것이 아니라 루프-백(loop-back)을 통해 전 포트에 대하여 동시에 검사를 수행할 수 있게 된다.
도 2b는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 USB 자가 진단 실시를 위한 구성을 나타낸 예시도이다. 도시된 바와 같이, 제어부의 기능을 수행하는 USB 허브(HUB)(220)에 형성된 다수의 포트(port1, port2, port3, port4)(225) 중 제1 포트(port1)에 대한 검사를 예로 한다. 진단 신호 발생부(222)에서 생성된 신호는 라우팅 및 포트 컨트롤러(224)를 거쳐 포트(225)에 전달된다. 이 신호는 1Byte의 크기를 가진 신호이며, 메모리(221)에 저장된다. 이 신호가 포트(225)의 (D+)을 통해 출력된다. 이 신호는 통전용 캡(320)을 통해서 (D-)에 입력된다. 상기 통전용 캡(320)은 루프-백(loop-back)을 형성하기 위한 것이다. 디지털 로직부(223)는 (D-)을 통해 수신되어 라우팅 및 포트 컨트롤러(224)를 거쳐 제공되는 신호를 상기 메모리(221)에 저장된 신호와 비교하여 포트(225)의 이상 유무를 판단한다.
도 2c는 본 발명의 또 다른 실시 예에 따른 영상 회로의 자가 진단 실시를 위한 구성을 나타낸 예시도이다. 도시된 바와 같이, 제어부의 역할을 수행하는 영상 메인 보드(main board)(230)와 영상을 출력하는 보드(board)(330) 사이에는 일반적으로 100옴(Ω)을 통한 임피던스 매칭을 한다. 이러한 경우, 임피던스 매칭용 저항을 이용하여, 별도의 외부 패턴을 이용하지 내부의 DC 전원을 이용하여 자가 진단을 수행할 수 있다. 즉, even1+ 단을 통해 DC 전압을 내보내서, 영상 출력 보드(330)의 임피던스 매칭용 저항(100Ω)을 통해 루프-백(loop-back)되어 even1-단으로 돌아오는 전압을 판별하여, 단락 및 단선 여부를 판별한다. 한편, even 2, even 3에 각각 다른 전압을 내보내서, 각 라인에 대하여 판별도 하면서, 다른 채널(인접 채널) 간의 단락 여부에 대하여도 판별할 수 있다. 이때, 각 채널별로 별도의 주파수를 이용하는 방법도 가능하다. 즉, 각 라인에 다른 DC 전압이나 다른 주파수를 인가하여 각 라인의 단선 여부 및 인접 채널과의 단락 여부를 확인할 수 있다.
도 3은 본 발명에 따른 전자 장치의 자가 진단 방법의 진행과정을 나타낸 흐름도이다. 먼저, 전자 장치의 사용자가 자가 진단 기능을 수행하기 위한 조작을 수행하면, 이는 인터페이스부를 통해 제어부에 전달된다. 예를 들어, TV 또는 모니터와 같은 디스플레이 장치를 사용하던 사용자가, 디스플레이 장치 소정 부위에 구비된 메뉴 버튼을 이용하여 또는 리모컨을 이용하여 자가 진단 기능의 실행을 선택할 수 있다 (S301).
제어부는 도 4에 도시된 바와 같이, 디스플레이 장치를 통해 예를 들어, 온스크린 디스플레이(on screen display: OSD) 형태로, 자가 진단 안내 화면을 표시한다. 즉, 전자 장치에 구성된 하드웨어 중 자가 진단을 구현할 수 있는 하드웨어의 목록을 표시한다. 디스플레이 장치와 외부 장치를 연결하는 커넥터를 예를 들어 설명하자면, 외부 컴포넌트로부터 신호를 수신하기 위한 컴포넌트 단자, 오디오/비디오 입출력 단자, 고선명 멀티미디어 인터페이스(high definition multimedia interface: HDMI) 단자, 외부 기기와 신호 교환을 위한 범용직렬버스(universal serial bus: USB), 인터넷 연결을 위한 이더넷(ethernet) 단자 등이 표시될 수 있다 (S302).
사용자가 OSD 화면을 통해 표시된 안내 화면을 보고 진단 대상을 선택하면, 진단 대상 하드웨어에 대한 선택 정보를 수신한다. 사용자의 선택 동작은 다양하게 이루어질 수 있다. 리모컨을 이용하거나, 디스플레이 장치가 터치 스크린으로 이루어진 경우에는 터치 패널을 통해 수신할 수 있다. 만일, 본 발명에 따른 자가 진단 기능을 구비한 전자 장치가 컴퓨터라면 마우스나 키보드 등을 통해 이루어질 수도 있다 (S303).
사용자의 선택신호는 인터페이스부를 통해 제어부로 전달된다. 제어부는 진단 대상 하드웨어에 연결된 다수의 라인에 진단용 신호를 제공한다. 이때, 제공되는 진단용 신호는 위에서 설명한 바와 같이, DC 전압이나 주파수를 갖는 신호가 될 수 있으며, 각각 서로 다른 값으로 각 라인에 동시에 제공될 수도 있다 (S304).
이어, 제어부는 루프-백(loop-back)을 통해 상기 진단 대상 하드웨어로부터 되돌아오는 신호를 수신하고(S305), 수신된 신호를 제공된 진단용 신호와 비교한다 (S306).
비교 결과에 따라 상기 진단 대상 하드웨어에 대한 진단 결과를 산출하고(S307), 도 5에 도시된 바와 같이 진단 결과를 출력한다. 따라서, 어떤 커넥터에 문제가 있는 경우, 해당 커넥터의 수리를 받을 수 있도록 안내한다 (S308).
한편, 도 6에서 도시된 바와 같이, 사용자가 진단 주기를 설정할 수도 있는데, 예를 들어, 1개월에 1회씩 자동적으로 수행하되, 진단 시기를 전원 인가 시점으로 설정할 수도 있다. 또는 진단 주기를 사용 횟수에 따라 설정할 수도 있다. 진단 주기 정보는 메모리에 저장될 수 있다.
100: 인터페이스부 200, 210, 220, 230: 제어부
211: 진단 신호 발생부 212: 수신 및 판단부
221: 메모리 222: 진단 신호 발생부
223: 디지털 로직부 224: 로직 라우팅 및 포트 컨트롤러
225: 포트 300: 진단 대상 하드웨어
310: HDMI 커넥터 320: USB 커넥터
330: 영상 출력 보드 410, 420: 통전용 캡

Claims (17)

  1. 복수의 하드웨어를 포함하는 전자 장치에 있어서,
    디스플레이부;
    사용자 입력을 수신하는 인터페이스부; 및
    상기 복수의 하드웨어 중 자가 진단이 가능한 적어도 하나의 진단 대상 하드웨어를 표시하고, 상기 표시된 적어도 하나의 진단 대상 하드웨어 중에서 상기 인터페이스부를 통해 수신된 사용자 입력에 의해 선택된 진단 대상 하드웨어에 연결된 다수의 라인(line)에 진단용 신호를 제공하고, 루프-백(loop-back)을 통해 상기 선택된 진단 대상 하드웨어로부터 되돌아오는 신호를 수신하여 제공된 진단용 신호와 비교하여 그 결과에 따라 상기 선택된 진단 대상 하드웨어와 연결된 라인의 단선 및 인접 채널 사이의 단락 여부의 진단 결과를 산출하여 진단 결과를 출력하도록 제어하는 제어부를 포함하여 이루어지는 자가 진단 기능을 갖는 전자 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 진단용 신호는 상기 다수의 라인에 제공되는 DC 전압인 것을 특징으로 하는 자가 진단 기능을 갖는 전자 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 진단용 신호는 상기 다수의 라인에 제공되는 주파수를 갖는 신호인 것을 특징으로 하는 자가 진단 기능을 갖는 전자 장치.
  4. 제2항 또는 제3항에 있어서, 상기 진단용 신호는 라인별로 서로 다른 값을 갖는 것을 특징으로 하는 자가 진단 기능을 갖는 전자 장치.
  5. 삭제
  6. 제1항에 있어서, 상기 제어부는 다수의 라인(line)에 진단용 신호를 동시에 제공하는 것을 특징으로 하는 자가 진단 기능을 갖는 전자 장치.
  7. 제1항에 있어서, 진단 대상 하드웨어에 대한 진단 주기의 정보가 저장된 메모리를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자가 진단 기능을 갖는 전자 장치.
  8. 제7항에 있어서, 상기 진단 주기는 상기 사용자 입력에 의해 설정되는 것을 특징으로 하는 자가 진단 기능을 갖는 전자 장치.
  9. 제7항에 있어서, 상기 진단 주기는 미리 설정된 값을 갖는 것을 특징으로 하는 자가 진단 기능을 갖는 전자 장치.
  10. 제1항에 있어서, 상기 진단 대상 하드웨어는 외부 장치와 연결하기 위한 포트를 가진 커넥터이고, 상기 커넥터는 통전용 캡(cap)에 의해 루프-백(loop-back)을 형성하는 것을 특징으로 하는 자가 진단 기능을 갖는 전자 장치.
  11. 제10항에 있어서, 상기 커넥터는 범용직렬버스(universal serial bus: USB)용 커넥터인 것을 특징으로 하는 자가 진단 기능을 갖는 전자 장치.
  12. 제10항에 있어서, 상기 커넥터는 고선명멀티미디어인터페이스(high definition multimedia interface: HDMI)용 커넥터인 것을 특징으로 하는 자가 진단 기능을 갖는 전자 장치.
  13. 복수의 하드웨어를 포함하는 전자 장치의 자가 진단 방법에 있어서,
    상기 복수의 하드웨어 중 자가 진단이 가능한 적어도 하나의 진단 대상 하드웨어를 포함하는 자가 진단 안내 화면을 표시하는 단계;
    상기 표시된 적어도 하나의 진단 대상 하드웨어 중에서 사용자 입력에 의해 선택된 진단 대상 하드웨어에 대한 선택 정보를 수신하는 단계;
    상기 선택된 진단 대상 하드웨어에 연결된 다수의 라인에 진단용 신호를 제공하는 단계;
    루프-백(loop-back)을 통해 상기 선택된 진단 대상 하드웨어로부터 되돌아오는 신호를 수신하는 단계;
    상기 수신된 신호를 제공된 진단용 신호와 비교하는 단계;
    비교 결과에 따라 상기 선택된 진단 대상 하드웨어에 대한 진단 결과를 산출하는 단계; 및
    진단 결과를 출력하는 단계를 포함하여 이루어지는 전자 장치의 자가 진단 방법.
  14. 제13항에 있어서, 상기 진단용 신호를 제공하는 단계는 상기 다수의 라인에 DC 전압을 제공하는 것을 특징으로 하는 전자 장치의 자가 진단 방법.
  15. 제13항에 있어서, 상기 진단용 신호를 제공하는 단계는 상기 다수의 라인에 서로 다른 주파수를 갖는 신호를 제공하는 것을 특징으로 하는 전자 장치의 자가 진단 방법.
  16. 제13항에 있어서, 상기 진단 결과를 출력하는 단계는 온스크린디스플레이(on screen display: OSD)를 통해 표시결과를 디스플레이하는 것을 특징으로 하는 전자 장치의 자가 진단 방법.
  17. 제13항에 있어서, 상기 진단용 신호를 제공하는 단계는 상기 진단용 신호를 저장하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 장치의 자가 진단 방법.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11966288B2 (en) 2021-02-10 2024-04-23 Samsung Electronics Co., Ltd. Electronic apparatus performing self-test using self-test application and control method thereof

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20160321125A1 (en) * 2015-04-30 2016-11-03 Samsung Electronics Co., Ltd. Self-diagnosis device and device including the same
EP3104242A1 (de) * 2015-06-12 2016-12-14 Siemens Aktiengesellschaft Leitsystem und verfahren zur evaluierung der kommunikation in einem technischen prozess
KR102544864B1 (ko) 2016-01-15 2023-06-19 삼성전자 주식회사 하드웨어의 진단 결과에 기초한 프로세스 수행 방법 및 이를 구현하는 전자 장치
KR20180024616A (ko) * 2016-08-30 2018-03-08 삼성전자주식회사 디스플레이 장치 및 디스플레이 장치의 캘리브레이션 수행 방법
KR20180067108A (ko) * 2016-12-12 2018-06-20 삼성전자주식회사 외부 전자 장치의 상태를 ui에 나타내는 디스플레이 장치 및 디스플레이 장치의 제어 방법
KR20210029532A (ko) 2019-09-06 2021-03-16 삼성전자주식회사 연결 인터페이스의 연결 상태를 검출하기 위한 전자 장치 및 방법
CN110907857B (zh) * 2019-12-10 2022-05-13 上海国微思尔芯技术股份有限公司 一种基于fpga的连接器自动检测方法
CN113806152B (zh) * 2021-09-14 2024-04-19 合肥联宝信息技术有限公司 一种故障诊断卡及设备

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110175800A1 (en) * 2008-08-06 2011-07-21 Sharp Kabushiki Kaisha Method for testing liquid crystal display device and liquid crystal display device
JP2011226917A (ja) * 2010-04-20 2011-11-10 Mitsubishi Electric Corp 自己診断装置、自己診断方法及び自己診断機能を備えた電子機器

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100381422B1 (ko) * 2001-02-20 2003-04-26 삼성전자주식회사 컴퓨터시스템 및 ｏｓｄ 표시방법
US6629169B2 (en) * 2001-03-14 2003-09-30 Winband Electronics Corp. Apparatus and method for testing of USB device
KR100467587B1 (ko) 2002-06-07 2005-01-24 삼성전자주식회사 팩시 밀리의 자기 진단 방법 및 이 방법을 수행하는팩시밀리
KR100402348B1 (en) 2003-07-02 2003-10-22 Bong Taek Kim Automatic train protection stop device for controlling railroad using data communication
KR100565068B1 (ko) * 2004-05-04 2006-03-30 삼성전자주식회사 범용 직렬 버스를 이용한 자가 진단 방법 및 장치
US7346819B2 (en) * 2004-10-29 2008-03-18 Rambus Inc. Through-core self-test with multiple loopbacks
US7526033B2 (en) * 2005-02-04 2009-04-28 Agere Systems Inc. Serializer deserializer (SERDES) testing
EP1888778B1 (en) 2005-05-06 2012-11-14 Samsung Electronics Co., Ltd. Digital bio disc(dbd), dbd driver apparatus, and assay method using the same
WO2007001160A1 (en) 2005-06-28 2007-01-04 Jae Chern Yoo BlO DRIVE APPARATUS, AND ASSAY METHOD USING THE SAME
KR101201498B1 (ko) * 2005-10-04 2012-11-14 삼성전자주식회사 메뉴 가이드 방법 및 이를 수행하는 영상처리장치
US20070104111A1 (en) * 2005-11-04 2007-05-10 Intel Corporation Internal analog loopback for a high-speed interface test
US20070121711A1 (en) * 2005-11-30 2007-05-31 Offord Glen E PLL with programmable jitter for loopback serdes testing and the like
KR100794685B1 (ko) 2006-06-23 2008-01-14 이성균 로깅 터미널 모니터링 시스템
US20080126001A1 (en) * 2006-09-01 2008-05-29 Murray David W Equipment testing system and method having scaleable test line limits
US20080239082A1 (en) * 2007-03-29 2008-10-02 Analogix Semiconductor, Inc. HDMI format video pattern and audio frequencies generator for field test and built-in self test
US7742427B2 (en) * 2008-02-26 2010-06-22 Avago Technologies Enterprise IP (Singapore) Pte. Ltd. Internal loop-back architecture for parallel serializer/deserializer (SERDES)
US8593852B2 (en) 2009-07-23 2013-11-26 Kabushiki Kaisha Toshiba Test device and test method for resistive random access memory and resistive random access memory device
KR20110052205A (ko) * 2009-11-12 2011-05-18 삼성전자주식회사 외부 루프백 테스트 기능을 갖는 전송 전용 집적회로 칩 및 그에 따른 외부 루프백 테스트 방법
US8694276B2 (en) * 2011-01-20 2014-04-08 Texas Instruments Incorporated Built-in self-test methods, circuits and apparatus for concurrent test of RF modules with a dynamically configurable test structure

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110175800A1 (en) * 2008-08-06 2011-07-21 Sharp Kabushiki Kaisha Method for testing liquid crystal display device and liquid crystal display device
JP2011226917A (ja) * 2010-04-20 2011-11-10 Mitsubishi Electric Corp 自己診断装置、自己診断方法及び自己診断機能を備えた電子機器

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11966288B2 (en) 2021-02-10 2024-04-23 Samsung Electronics Co., Ltd. Electronic apparatus performing self-test using self-test application and control method thereof

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