JP2010181235A - 変位及び傾角測定装置 - Google Patents
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- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 title claims abstract description 160
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title abstract description 59
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 8
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 8
- 230000010287 polarization Effects 0.000 abstract description 72
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 23
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 8
- 230000008859 change Effects 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
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Abstract
【課題】レンズ駆動装置などの被測定物の測定工程において、変位量の測定と傾角量の測定とを同時に行うことが可能な変位及び傾角測定装置を提供する。
【解決手段】変位測定用光源11から照射されたP波を、偏光ビームスプリッタ13を透過させて、被測定物50に照射し、被測定物50の表面で反射されたP波の反射光を変位センサ15に入射させて被測定物50の変位量を測定するとともに、偏光ビームスプリッタ13におけるP波の入射方向と直交する方向に配置された傾角測定用光源16から照射されたS波を偏光ビームスプリッタ13で反射させて、被測定物50に照射し、被測定物50の表面で反射されたS波の反射光を傾角センサ19に入射させて被測定物50の傾角量を測定するようにした。
【選択図】図1
【解決手段】変位測定用光源11から照射されたP波を、偏光ビームスプリッタ13を透過させて、被測定物50に照射し、被測定物50の表面で反射されたP波の反射光を変位センサ15に入射させて被測定物50の変位量を測定するとともに、偏光ビームスプリッタ13におけるP波の入射方向と直交する方向に配置された傾角測定用光源16から照射されたS波を偏光ビームスプリッタ13で反射させて、被測定物50に照射し、被測定物50の表面で反射されたS波の反射光を傾角センサ19に入射させて被測定物50の傾角量を測定するようにした。
【選択図】図1
Description
本発明は、例えば、携帯電話用のカメラモジュール等に用いられる、電磁駆動式のレンズ駆動装置の検査装置などに用いられる変位及び傾角測定装置に関する。
近年、携帯電話に搭載されるカメラにおいては、イメージセンサの画素数が増大されて撮影画像の高品質化が進んでいる。
カメラに搭載されるレンズについても、高画素数イメージセンサの分解能に対応する高い分解能が要求されるが、従来の固定焦点型のカメラモジュールでは焦点ボケが生じてしまうため、十分な分解能を得られなかった。そこで、近年は、固定焦点型のカメラモジュールに代えて、可動焦点型のカメラモジュールが採用されるようになってきている。
可動焦点型のカメラモジュールにおけるレンズ駆動方式としては、図5に示すような、コイルモータ方式のレンズ駆動装置50が多く用いられている(例えば、特許文献1参照)。
カメラに搭載されるレンズについても、高画素数イメージセンサの分解能に対応する高い分解能が要求されるが、従来の固定焦点型のカメラモジュールでは焦点ボケが生じてしまうため、十分な分解能を得られなかった。そこで、近年は、固定焦点型のカメラモジュールに代えて、可動焦点型のカメラモジュールが採用されるようになってきている。
可動焦点型のカメラモジュールにおけるレンズ駆動方式としては、図5に示すような、コイルモータ方式のレンズ駆動装置50が多く用いられている(例えば、特許文献1参照)。
レンズ駆動装置50は、軟鉄等の磁性体から成るヨーク51と、このヨーク51の内壁側に取付けられる永久磁石52と、中央部位置にレンズ53を保持するホルダー54と、このホルダー54に装着される駆動用コイル55と、内周側に上記ヨーク51を装着するケース56と、ケース56とホルダー54とを連結する上,下のバネ部材57A,57Bとを備えている。
永久磁石52としては、円筒状の磁石、あるいは、複数の円弧状の磁石をヨーク51の内壁側に環状に配列したものが用いられている。
駆動用コイル55は、ヨーク51と永久磁石52とにより印加される、コイル周りに放射状に分布する磁界中に設置されているので、駆動用コイル55に通電すると、駆動用コイル55には、図5の矢印で示す図示しない被写体の方向へ向いたローレンツ力が発生する。これにより、ホルダー54は、上記ローレンツ力と上,下のバネ部材57A,57Bの復元力とが釣り合う位置まで移動させることができる。
したがって、駆動用コイル55に通電する電流値を制御することにより、ホルダー54の移動量を調整できるので、レンズ53を所定の位置に移動させることができる。
駆動用コイル55は、ヨーク51と永久磁石52とにより印加される、コイル周りに放射状に分布する磁界中に設置されているので、駆動用コイル55に通電すると、駆動用コイル55には、図5の矢印で示す図示しない被写体の方向へ向いたローレンツ力が発生する。これにより、ホルダー54は、上記ローレンツ力と上,下のバネ部材57A,57Bの復元力とが釣り合う位置まで移動させることができる。
したがって、駆動用コイル55に通電する電流値を制御することにより、ホルダー54の移動量を調整できるので、レンズ53を所定の位置に移動させることができる。
ところで、上記レンズ駆動装置50を製造する際には、製造工程内や最終工程において、レンズ駆動装置50の特性、すなわち、駆動用コイル55に通電したときのホルダー54の移動距離である変位量や、そのときのホルダー54のレンズ光軸からの傾き角である傾角を測定して、上記レンズ駆動装置50の合否判定を行うようにしている。
変位量は変位測定装置を用いて測定され、傾角量は、傾角測定装置を用いて測定される(例えば、特許文献2,3参照)。
変位量は変位測定装置を用いて測定され、傾角量は、傾角測定装置を用いて測定される(例えば、特許文献2,3参照)。
変位測定装置の一構成例を図6に示す。この変位測定装置60では、変位測定用光源61から照射される光線が、投光レンズ62を介して、収束光としてレンズ駆動装置のホルダー等の可動部(以下、被測定物50という)に合焦される。光線は被測定物50により反射され、この反射光が、受光レンズ63を介して変位センサ64に入射される。
被測定物50が移動すると、変位センサ64に入射される反射光の位置が変化する。変位センサ64は、この反射光の入射位置の変化量から被測定物50の変位量を検出する。
被測定物50が移動すると、変位センサ64に入射される反射光の位置が変化する。変位センサ64は、この反射光の入射位置の変化量から被測定物50の変位量を検出する。
測定系全体の構成としては、コンピュータ65からの信号により、変位測定用光源61、被測定物50を駆動して移動させるための駆動用電源66、カウンタ67が制御される。すなわち、コンピュータ65からの信号により変位測定用光源61が発光し、収束光が被測定物50に照射されるとともに、被測定物50は駆動用電源66により駆動されて、上記収束光の光軸方向に移動する。
変位センサ64によって検出された被測定物50の変位量の信号は、カウンタ67により計数されて、コンピュータ65に表示、集積される。
変位センサ64によって検出された被測定物50の変位量の信号は、カウンタ67により計数されて、コンピュータ65に表示、集積される。
傾角測定装置の一構成例を図7に示す。この傾角測定装置70では、傾角測定用光源71から照射される光線はハーフミラー72を通過してコリメータレンズ73に導かれ、コリメータレンズ73にて平行光に変換されて被測定物50に照射される。平行光は被測定物50により反射され、この反射光が、コリメータレンズ73を通過し、ハーフミラー72により反射され、傾角センサ74に合焦される。
被測定物50が傾くと、傾角センサ74に入射される反射光の位置が変化する。傾角センサ74は、この反射光の入射位置の変化量から被測定物50の傾角量を検出する。
被測定物50が傾くと、傾角センサ74に入射される反射光の位置が変化する。傾角センサ74は、この反射光の入射位置の変化量から被測定物50の傾角量を検出する。
測定系全体の構成としては、コンピュータ75からの信号により、傾角測定用光源71、被測定物50を駆動して移動させるための駆動用電源76、カウンタ77が制御される。すなわち、コンピュータ75からの信号により傾測定用光源71が発光し、平行光が被測定物50に照射されるとともに、被測定物50は駆動用電源76により駆動されて、上記平行光の光軸方向に移動する。
被測定物50が平行光の光軸方向に対して傾いて移動した場合には、傾角センサ74によって検出された被測定物50の傾角量の信号は、カウンタ77により計数されて、コンピュータ75に表示、集積される。
被測定物50が平行光の光軸方向に対して傾いて移動した場合には、傾角センサ74によって検出された被測定物50の傾角量の信号は、カウンタ77により計数されて、コンピュータ75に表示、集積される。
しかしながら、従来は、変位量の測定と傾角量の測定とが、それぞれ、変位測定装置60を用いた測定工程と傾角測定装置70を用いた測定工程の2つの測定工程に分離されていた。このため、各測定装置60,70への被測定物50の設置や測定など、類似の作業が重複して繰り返されることになるので、測定時間が長くなってしまうといった問題点があった。
また、被測定物を駆動するための駆動用電源等も測定工程毎に別個に準備する必要があることから、装置がコスト高になってしまっていた。
また、被測定物を駆動するための駆動用電源等も測定工程毎に別個に準備する必要があることから、装置がコスト高になってしまっていた。
本発明は、従来の問題点に鑑みてなされたもので、レンズ駆動装置などの被測定物の測定工程において、変位量の測定と傾角量の測定とを同時に行うことが可能な変位及び傾角測定装置を提供することを目的とする。
本願発明は、被測定物の変位量と傾角量とを同時に測定するための変位及び傾角測定装置であって、直線偏光された第1の光線を照射する第1の光源と、前記第1の光線と直交する方向に直線偏光された第2の光線を照射する第2の光源と、前記第1及び第2の光線を透過もしくは反射させて被測定物に照射する偏光ビームスプリッタと、前記被測定物から反射された前記第1の光線の反射光を受光して前記被測定物の変位量を検出する変位センサと、前記被測定物から反射された前記第2の光線の反射光を受光して前記被測定物の傾角を検出する傾角センサとを備え、前記第2の光源は、前記第2の光線を前記第1の光線の照射方向とは異なる方向に照射し、前記偏光ビームスプリッタは、異なる方向から入射される前記第1及び第2の光線のいずれか一方を透過させ他方を反射させることで、前記第1及び第2の光線を同一方向に出射して、前記被測定物方向に照射することを特徴とする。
ここで、同一方向とは、第1の光線の出射方向と第2の光線の出射方向とが一致する場合のみを指すのではなく、第1の光線の出射方向と第2の光線の上記出射方向との角度差が、10°以内の狭い角度範囲内にある場合を指すものとする。
これにより、被測定物の変位量と傾角量とを同時に測定できるので作業時間を短縮することができ、製造コストを低減することができる。
また、本願発明を、レンズ駆動装置の製造工程において、駆動用コイルに通電したときのレンズホルダの変位量や傾角量を測定する測定装置として用いれば、レンズ駆動装置の電源装置やコンピュータなどの演算処理装置も共通化できるので、測定装置を安価に製造することができる。
ここで、同一方向とは、第1の光線の出射方向と第2の光線の出射方向とが一致する場合のみを指すのではなく、第1の光線の出射方向と第2の光線の上記出射方向との角度差が、10°以内の狭い角度範囲内にある場合を指すものとする。
これにより、被測定物の変位量と傾角量とを同時に測定できるので作業時間を短縮することができ、製造コストを低減することができる。
また、本願発明を、レンズ駆動装置の製造工程において、駆動用コイルに通電したときのレンズホルダの変位量や傾角量を測定する測定装置として用いれば、レンズ駆動装置の電源装置やコンピュータなどの演算処理装置も共通化できるので、測定装置を安価に製造することができる。
また、本願発明は、被測定物の変位量と傾角量とを同時に測定するための変位及び傾角測定装置であって、直線偏光された第1の光線を被測定物に照射する光源と、前記第1の光線から、偏光方向が前記第1の光線と直交する方向に直線偏光された第2の光線を生成する光線生成手段と、前記第2の光線の照射方向を前記第1の光線と異なる方向に変換する手段と、直線偏光された入射光線を透過もしくは反射する偏光ビームスプリッタと、前記被測定物から反射された前記第1の光線の反射光または前記第2の光線の反射光のいずれか一方を受光して前記被測定物の変位量を検出する変位センサと、前記被測定物から反射された前記第1の光線の反射光または前記第2の光線の反射光の他方を受光して前記被測定物の傾角を検出する傾角センサとを備え、前記偏光ビームスプリッタは、異なる方向から入射される前記第1及び第2の光線のいずれか一方を透過させ他方を反射させることで、前記第1及び第2の光線を同一方向に出射して、前記第1及び第2の光線を前記被測定物方向に照射することを特徴とする。
これにより、一台の直線偏光された光線を照射する光源を用いて被測定物の変位と傾角とを同時に測定できるので、作業時間の短縮を図ることができるとともに、製造コストを更に低減することができる。
また、本願発明の変位及び傾角測定装置は、レンズ駆動装置の製造工程におけるレンズホルダの変位量や傾角量を測定する測定装置としても好適に用いることができる。
これにより、一台の直線偏光された光線を照射する光源を用いて被測定物の変位と傾角とを同時に測定できるので、作業時間の短縮を図ることができるとともに、製造コストを更に低減することができる。
また、本願発明の変位及び傾角測定装置は、レンズ駆動装置の製造工程におけるレンズホルダの変位量や傾角量を測定する測定装置としても好適に用いることができる。
また、本願発明は、被測定物の変位量と傾角量とを同時に測定するための変位及び傾角測定装置であって、円偏光された光線を照射する光源と、前記円偏光された光線から、直線偏光された第1の光線と、偏光方向が前記第1の光線と直交する方向に直線偏光された第2の光線を生成する光線生成手段と、前記第2の光線の照射方向を前記第1の光線と異なる方向に変換する手段と、直線偏光された入射光線を透過もしくは反射する偏光ビームスプリッタと、前記被測定物から反射された前記第1の光線の反射光または前記第2の光線の反射光のいずれか一方を受光して前記被測定物の変位量を検出する変位センサと、前記被測定物から反射された前記第1の光線の反射光または前記第2の光線の反射光の他方を受光して前記被測定物の傾角を検出する傾角センサとを備え、前記偏光ビームスプリッタは、異なる方向から入射される前記第1及び第2の光線のいずれか一方を透過し他方を反射することで、前記第1及び第2の光線を同一方向に出射して、前記第1及び第2の光線を前記被測定物方向に照射することを特徴とする。
これにより、一台の円偏光された光線を照射する光源を用いて被測定物の変位と傾角とを同時に測定できるので、作業時間の短縮を図ることができるとともに、製造コストを更に低減することができる。
また、本願発明の変位及び傾角測定装置は、レンズ駆動装置の製造工程におけるレンズホルダの変位量や傾角量を測定する測定装置としても好適に用いることができる。
これにより、一台の円偏光された光線を照射する光源を用いて被測定物の変位と傾角とを同時に測定できるので、作業時間の短縮を図ることができるとともに、製造コストを更に低減することができる。
また、本願発明の変位及び傾角測定装置は、レンズ駆動装置の製造工程におけるレンズホルダの変位量や傾角量を測定する測定装置としても好適に用いることができる。
以下、実施の形態を通じて本発明を詳説するが、以下の実施の形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではなく、また、実施の形態の中で説明される特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
実施の形態1.
図1は、本実施の形態1に係る変位及び傾角測定装置1の構成を示す機能ブロック図で、変位及び傾角測定装置1は、変位・傾角測定部10と駆動・演算部20を備えている。
変位・傾角測定部10は、変位測定用光源11と、投光レンズ12と、偏光ビームスプリッタ13と、受光レンズ14と、変位センサ15と、傾角測定用光源16と、ハーフミラー17と、コリメータレンズ18と、傾角センサ19とを備える。
駆動・演算部20は、コンピュータ21と、駆動用電源22と、カウンタ23とを備える。
図1は、本実施の形態1に係る変位及び傾角測定装置1の構成を示す機能ブロック図で、変位及び傾角測定装置1は、変位・傾角測定部10と駆動・演算部20を備えている。
変位・傾角測定部10は、変位測定用光源11と、投光レンズ12と、偏光ビームスプリッタ13と、受光レンズ14と、変位センサ15と、傾角測定用光源16と、ハーフミラー17と、コリメータレンズ18と、傾角センサ19とを備える。
駆動・演算部20は、コンピュータ21と、駆動用電源22と、カウンタ23とを備える。
変位測定用光源11は、直線偏光された第1の光線を照射する。本例では、第1の光線としてP波を用いている。P波は、偏光方向が図1の紙面に平行な方向である光線である。なお、偏光方向が図1の紙面に垂直な方向である光線はS波と呼ばれている。変位測定用光源11としては、例えば、レーザー光源が用いられる。
投光レンズ12は、入射光線を収束光に変換して出射する。
偏光ビームスプリッタ13は、偏光された入射光線を透過もしくは反射させるもので、ここでは、P波を透過させS波を反射するように透過面及び反射面が設定される。透過したP波は進行方向を変えずにそのまま偏光ビームスプリッタ13から出射される。
一方、反射されたS波は、偏光ビームスプリッタ13の反射面で反射される。このとき、S波が、例えば、反射面に対して45°の角度で入射したときには、反射角も45°になるので、S波は入射方向とは90°ずれた方向に出射される。
ここで、P波の入射方向とS波の入射方向とが90°ずれていたとすると、偏光ビームスプリッタ13からは、上記P波とS波とが同一方向に出射される。
受光レンズ14は、被測定物50から反射された反射光を透過させて変位センサ15に合焦させる。
変位センサ15は、入射される反射光の位置を検知して入射位置の変化量から被測定物50の変位量を検出する。
変位測定用光源11、投光レンズ12、偏光ビームスプリッタ13、及び、被測定物50の測定面は、第1の光線であるP波の光軸方向(図1の上下方向)に沿って直線状に配列される。
一方、受光レンズ14と変位センサ15とは、被測定物50の測定面に対して所定角度傾いて配列される。
投光レンズ12は、入射光線を収束光に変換して出射する。
偏光ビームスプリッタ13は、偏光された入射光線を透過もしくは反射させるもので、ここでは、P波を透過させS波を反射するように透過面及び反射面が設定される。透過したP波は進行方向を変えずにそのまま偏光ビームスプリッタ13から出射される。
一方、反射されたS波は、偏光ビームスプリッタ13の反射面で反射される。このとき、S波が、例えば、反射面に対して45°の角度で入射したときには、反射角も45°になるので、S波は入射方向とは90°ずれた方向に出射される。
ここで、P波の入射方向とS波の入射方向とが90°ずれていたとすると、偏光ビームスプリッタ13からは、上記P波とS波とが同一方向に出射される。
受光レンズ14は、被測定物50から反射された反射光を透過させて変位センサ15に合焦させる。
変位センサ15は、入射される反射光の位置を検知して入射位置の変化量から被測定物50の変位量を検出する。
変位測定用光源11、投光レンズ12、偏光ビームスプリッタ13、及び、被測定物50の測定面は、第1の光線であるP波の光軸方向(図1の上下方向)に沿って直線状に配列される。
一方、受光レンズ14と変位センサ15とは、被測定物50の測定面に対して所定角度傾いて配列される。
傾角測定用光源16は、第1の光線と直交する方向に直線偏光された第2の光線を照射する。本例では、第2の光線として前記のS波を用いている。傾角測定用光源16には、変位測定用光源11と同様に、例えば、レーザー光源が用いられる。
ハーフミラー17は、入射された入射光線の約半分を透過させ、他の半分を反射させるもので、ミラーの角度を45°に設置すると、反射光は進行方向が90°ずれてハーフミラー17から出射される。
コリメータレンズ18は、入射された光線を平行光に変換して出射する。
傾角センサ19は、入射される反射光の位置を検知して入射位置の変化量から被測定物50の傾角量を検出する。
傾角測定用光源16、ハーフミラー17、及び、コリメータレンズ18は、偏光ビームスプリッタ13へ入射するP波の光軸方向に対して直交する方向(図1の右方向)に沿って直線状に配列される。
一方、傾角センサ19は、ハーフミラー17へ入射する光線の光軸方向に対して直交する方向(図1の下方)に配置される。
ハーフミラー17は、入射された入射光線の約半分を透過させ、他の半分を反射させるもので、ミラーの角度を45°に設置すると、反射光は進行方向が90°ずれてハーフミラー17から出射される。
コリメータレンズ18は、入射された光線を平行光に変換して出射する。
傾角センサ19は、入射される反射光の位置を検知して入射位置の変化量から被測定物50の傾角量を検出する。
傾角測定用光源16、ハーフミラー17、及び、コリメータレンズ18は、偏光ビームスプリッタ13へ入射するP波の光軸方向に対して直交する方向(図1の右方向)に沿って直線状に配列される。
一方、傾角センサ19は、ハーフミラー17へ入射する光線の光軸方向に対して直交する方向(図1の下方)に配置される。
駆動・演算部20のコンピュータ21は、変位測定用光源11と傾角測定用光源16とを発光させるための制御信号と、被測定物50を駆動・制御する駆動用電源22を制御するための制御信号とを出力する。また、カウンタ23により計数された被測定物50の変位量と傾角量のデータを表示手段21aに表示するとともに、記憶手段21bに記憶して集積する。
駆動用電源22は、被測定物50を駆動するための電源で、被測定物50が図5に示したレンズ駆動装置50のホルダー54である場合には、駆動用電源22からは、駆動用コイル55に通電するための駆動電流が供給される。
カウンタ23は、変位センサ15から送られてくる被測定物50の変位量の信号と、傾角センサ19から送られてくる被測定物50の傾角量の信号とを計数して、コンピュータ21に出力する。
駆動用電源22は、被測定物50を駆動するための電源で、被測定物50が図5に示したレンズ駆動装置50のホルダー54である場合には、駆動用電源22からは、駆動用コイル55に通電するための駆動電流が供給される。
カウンタ23は、変位センサ15から送られてくる被測定物50の変位量の信号と、傾角センサ19から送られてくる被測定物50の傾角量の信号とを計数して、コンピュータ21に出力する。
次に、変位及び傾角測定装置1を用いて被測定物50の変位量と傾角量とを同時に測定する方法について説明する。
まず、コンピュータ21を動作させ、変位測定用光源11と傾角測定用光源16とを発光させて、それぞれP波とS波を照射するとともに、駆動用電源22を制御して被測定物50をP波の照射光軸方向に移動させる。
変位測定用光源11から照射されたP波は、投光レンズ12によって収束され、偏光ビームスプリッタ13を透過して、被測定物50に照射される。
照射されたP波は、被測定物50の表面で反射される。この反射光は、受光レンズ14を透過して変位センサ15に到達し、合焦する。
同時に、傾角測定用光源16から照射されたS波は、ハーフミラー17を透過してコリメータレンズ18に入射する。コリメータレンズ18からはS波の平行光が出射される。本例では、S波の平行光が、P波とは90°ずれた方向から偏光ビームスプリッタ13の反射面に入射角45°で入射するように、傾角測定用光源16とハーフミラー17を配置しているので、S波は、偏光ビームスプリッタ13の反射面で反射されて、入射方向とは直交する方向に出射される。すなわち、P波と同じ方向である被測定物50の表面に照射される。
なお、S波の平行光の入射方向と偏光ビームスプリッタ13の反射面の角度を適宜設定しても、S波とP波とを同じ方向から被測定物50の表面に照射することは可能である。
照射されたS波は、被測定物50の表面で反射される。この反射光は、偏光ビームスプリッタ13で反射されてコリメータレンズ18方向に出射した後、ハーフミラー17で反射されて、傾角センサ19に到達し、合焦する。
まず、コンピュータ21を動作させ、変位測定用光源11と傾角測定用光源16とを発光させて、それぞれP波とS波を照射するとともに、駆動用電源22を制御して被測定物50をP波の照射光軸方向に移動させる。
変位測定用光源11から照射されたP波は、投光レンズ12によって収束され、偏光ビームスプリッタ13を透過して、被測定物50に照射される。
照射されたP波は、被測定物50の表面で反射される。この反射光は、受光レンズ14を透過して変位センサ15に到達し、合焦する。
同時に、傾角測定用光源16から照射されたS波は、ハーフミラー17を透過してコリメータレンズ18に入射する。コリメータレンズ18からはS波の平行光が出射される。本例では、S波の平行光が、P波とは90°ずれた方向から偏光ビームスプリッタ13の反射面に入射角45°で入射するように、傾角測定用光源16とハーフミラー17を配置しているので、S波は、偏光ビームスプリッタ13の反射面で反射されて、入射方向とは直交する方向に出射される。すなわち、P波と同じ方向である被測定物50の表面に照射される。
なお、S波の平行光の入射方向と偏光ビームスプリッタ13の反射面の角度を適宜設定しても、S波とP波とを同じ方向から被測定物50の表面に照射することは可能である。
照射されたS波は、被測定物50の表面で反射される。この反射光は、偏光ビームスプリッタ13で反射されてコリメータレンズ18方向に出射した後、ハーフミラー17で反射されて、傾角センサ19に到達し、合焦する。
被測定物50がP波の照射光軸方向に移動すると、変位センサ15に合焦したP波の反射光の位置が変化する。変位センサ15は前記変化量を検出することによって、被測定物50の変位量を検出することができる。
また、被測定物50がP波の照射光軸方向への移動に伴って傾斜すると、傾角センサ19に合焦したS波の反射光の位置が変化する。傾角センサ19は前記変化量を検出することによって、被測定物50の傾角量を検出することができる。
変位センサ15で検出した被測定物50の変位量の信号と、傾角センサ19で検出した被測定物50の傾角量の信号とは、カウンタ23に送られ計数されて、変位量と傾角量とが求められる。
この変位量のデータと傾角量のデータとはコンピュータ21に送られ、コンピュータ21の表示手段21aに同時に表示される。また、変位量のデータと傾角量のデータとは記憶手段21bに記憶され集積される。
また、被測定物50がP波の照射光軸方向への移動に伴って傾斜すると、傾角センサ19に合焦したS波の反射光の位置が変化する。傾角センサ19は前記変化量を検出することによって、被測定物50の傾角量を検出することができる。
変位センサ15で検出した被測定物50の変位量の信号と、傾角センサ19で検出した被測定物50の傾角量の信号とは、カウンタ23に送られ計数されて、変位量と傾角量とが求められる。
この変位量のデータと傾角量のデータとはコンピュータ21に送られ、コンピュータ21の表示手段21aに同時に表示される。また、変位量のデータと傾角量のデータとは記憶手段21bに記憶され集積される。
本発明の構成では、仮に、変位測定に使用する光線(P波)が被測定物50で反射して偏光ビームスプリッタ13に入射したとしても、P波は偏光ビームスプリッタ13を透過するので、P波が傾角センサ19に入射することはない。したがって、P波が傾角センサ19にノイズとして影響を及ぼすことがない。
一方、傾角測定に使用する光線(S波)は被測定物50で反射して偏光ビームスプリッタ13に入射するが、S波は偏光ビームスプリッタ13で反射され、P波の入射方向とは直交する方向に出射されるので、S波が変位センサ15に入射することはない。したがって、S波が変位センサ15にノイズとして影響を及ぼすことがない。
このように、本実施の形態1の変位・傾角測定部10は、2つの光源11,16を同時に発光させて、被測定物50の変位量と傾角量とを同時に測定しても、変位量と傾角量とが相互に影響を受けることがないので、変位量と傾角量とを同時にかつ精度良く測定することができる。
一方、傾角測定に使用する光線(S波)は被測定物50で反射して偏光ビームスプリッタ13に入射するが、S波は偏光ビームスプリッタ13で反射され、P波の入射方向とは直交する方向に出射されるので、S波が変位センサ15に入射することはない。したがって、S波が変位センサ15にノイズとして影響を及ぼすことがない。
このように、本実施の形態1の変位・傾角測定部10は、2つの光源11,16を同時に発光させて、被測定物50の変位量と傾角量とを同時に測定しても、変位量と傾角量とが相互に影響を受けることがないので、変位量と傾角量とを同時にかつ精度良く測定することができる。
このように、本実施の形態1によれば、変位測定用光源11から照射され、投光レンズ12によって収束されたP波を、偏光ビームスプリッタ13を透過させて、被測定物50に照射し、被測定物50の表面で反射されたP波の反射光を変位センサ15に入射させて被測定物50の変位量を測定するとともに、偏光ビームスプリッタ13におけるP波の入射方向と直交する方向に配置された傾角測定用光源16から照射され、コリメータレンズ18で平行光となったS波を偏光ビームスプリッタ13で反射させて、被測定物50に照射し、被測定物50の表面で反射されたS波の反射光を傾角センサ19に入射させて被測定物50の傾角量を測定するようにしたので、被測定物50の変位量と傾角量とを、同時に、かつ、変位量と傾角量とが相互に影響することなく、測定することができる。
また、被測定物50の変位量と傾角量とを同時に測定できるので作業時間を短縮することができるとともに、駆動用電源22やコンピュータ21などを共通化できるので、変位及び傾角測定装置1を安価に製造することができる。
また、被測定物50の変位量と傾角量とを同時に測定できるので作業時間を短縮することができるとともに、駆動用電源22やコンピュータ21などを共通化できるので、変位及び傾角測定装置1を安価に製造することができる。
なお、前記実施の形態1では、変位及び傾角測定装置1の変位・傾角測定部10を、変位測定用光源11からP波を照射し、このP波を、偏光ビームスプリッタ13を透過させて被測定物50に照射する一方、傾角測定用光源16からS波を照射し、このS波を、偏光ビームスプリッタ13で反射させて被測定物50に照射する構成としたが、図2に示すように、傾角測定用光源16からP波を照射し、このP波を、偏光ビームスプリッタ13を透過させて被測定物50に照射し、変位測定用光源11からS波を照射し、このS波を、偏光ビームスプリッタ13で反射させて被測定物50に照射するような変位・傾角測定部10Zを備えた構成の変位及び傾角測定装置1Zを用いても、同様の効果を得ることができる。
図2において、傾角測定用光源16、ハーフミラー17、コリメータレンズ18、及び、被測定物50の測定面は、第2の光線(ここでは、P波)の光軸に沿って直線状に配列される。傾角センサ19は、ハーフミラー17へ入射する光線の光軸方向に対して時計回りに90°進んだ方向に配置される。
一方、変位測定用光源11と受光レンズ14とは、偏光ビームスプリッタ13における第2の光線(P波)の入射方向と直交する方向に沿って直線状に配列される。受光レンズ14と変位センサ15とは、被測定物50の測定面に対して所定角度傾いて配列される。
変位・傾角測定部10Zでは、変位測定用光源11から照射されたS波は、投光レンズ12によって収束された後、偏光ビームスプリッタ13により、入射方向と直交する方向に反射されて、被測定物50に照射される。照射されたS波は、被測定物50の表面で反射される。この反射光は、受光レンズ14を透過して変位センサ15に到達し、合焦する。
同時に、傾角測定用光源16から照射されたP波は、ハーフミラー17を透過してコリメータレンズ18に入射して平行光に変換され、偏光ビームスプリッタ13を通過して被測定物50の表面に照射される。照射されたP波は、被測定物50の表面で反射される。この反射光は、偏光ビームスプリッタ13を通過してコリメータレンズ18方向に出射した後、ハーフミラー17で反射されて、傾角センサ19に到達し、合焦する。
なお、変位センサ15による被測定物50の変位量の検出と、傾角センサ19による被測定物50の傾角量の検出については、前記実施の形態1と同様なので、その説明を省略する。
一方、変位測定用光源11と受光レンズ14とは、偏光ビームスプリッタ13における第2の光線(P波)の入射方向と直交する方向に沿って直線状に配列される。受光レンズ14と変位センサ15とは、被測定物50の測定面に対して所定角度傾いて配列される。
変位・傾角測定部10Zでは、変位測定用光源11から照射されたS波は、投光レンズ12によって収束された後、偏光ビームスプリッタ13により、入射方向と直交する方向に反射されて、被測定物50に照射される。照射されたS波は、被測定物50の表面で反射される。この反射光は、受光レンズ14を透過して変位センサ15に到達し、合焦する。
同時に、傾角測定用光源16から照射されたP波は、ハーフミラー17を透過してコリメータレンズ18に入射して平行光に変換され、偏光ビームスプリッタ13を通過して被測定物50の表面に照射される。照射されたP波は、被測定物50の表面で反射される。この反射光は、偏光ビームスプリッタ13を通過してコリメータレンズ18方向に出射した後、ハーフミラー17で反射されて、傾角センサ19に到達し、合焦する。
なお、変位センサ15による被測定物50の変位量の検出と、傾角センサ19による被測定物50の傾角量の検出については、前記実施の形態1と同様なので、その説明を省略する。
また、以上説明した実施の形態1における変位測定用光源11と傾角測定用光源16の発光源は必ずしも直線偏光した光を直接発光するものでなくともよく、発光源より円偏光した光を発した後、4分の1波長板等の偏光板により直線偏光に変換した光源であってもよい。すなわち、円偏光した光を発光する発光源と偏光板とを組み合わせたものを、変位測定用光源11や傾角測定用光源16として用いてもよい。
実施の形態2.
図3は、本実施の形態2に係る変位及び傾角測定装置2の構成を示す機能ブロック図で、変位及び傾角測定装置2は、変位・傾角測定部30と駆動・演算部20を備えている。
変位・傾角測定部30は、測定用光源31と、ハーフミラー32と、コリメータレンズ33と、偏光ビームスプリッタ34と、傾角センサ35と、光路・偏光変換手段36と、投光レンズ37と、受光レンズ38と、変位センサ39とを備える。
光路・偏光変換手段36は、第1の全反射ミラー36aと、2分の1波長板36bと、第2の全反射ミラー36cとを備える。
駆動・演算部20は、コンピュータ21と、駆動用電源22と、カウンタ23とを備える。なお、駆動・演算部20は、コンピュータ21が制御する光源が測定用光源31である点以外は、前記実施の形態1と同じである。
図3は、本実施の形態2に係る変位及び傾角測定装置2の構成を示す機能ブロック図で、変位及び傾角測定装置2は、変位・傾角測定部30と駆動・演算部20を備えている。
変位・傾角測定部30は、測定用光源31と、ハーフミラー32と、コリメータレンズ33と、偏光ビームスプリッタ34と、傾角センサ35と、光路・偏光変換手段36と、投光レンズ37と、受光レンズ38と、変位センサ39とを備える。
光路・偏光変換手段36は、第1の全反射ミラー36aと、2分の1波長板36bと、第2の全反射ミラー36cとを備える。
駆動・演算部20は、コンピュータ21と、駆動用電源22と、カウンタ23とを備える。なお、駆動・演算部20は、コンピュータ21が制御する光源が測定用光源31である点以外は、前記実施の形態1と同じである。
測定用光源31は、直線偏光された第1の光線を照射する。本例では、第1の光線としてP波を用いている。測定用光源31としては、レーザー光源等が用いられる。
ハーフミラー32、コリメータレンズ33、偏光ビームスプリッタ34、傾角センサ35、投光レンズ37、受光レンズ38、及び、変位センサ39は、前記実施の形態1に記載のハーフミラー17、コリメータレンズ18、偏光ビームスプリッタ13、傾角センサ19、投光レンズ12、受光レンズ14、及び、変位センサ15と同じものであるので、説明を省略する。
光路・偏光変換手段36は、入射した光線の偏光方向を、入射光線と直交する方向に変換するとともに、入射光線の向きを入射方向とは反対方向に変換する。すなわち、第1の全反射ミラー36aと、第2の全反射ミラー36cとは、入射光線を全反射して反射光線の向きを入射方向に対して時計回りに90°進め、2分の1波長板36bにより、直線偏光された入射光線の偏光方向を、入射光線の偏光方向と直交する方向に変換する。
入射光線を第1の光線であるP波とすると、光路・偏光変換手段36からは、偏光方向がP波と直交する方向に直線偏光され、かつ、進行方向がP波と90°ずれた光線であるS波(第2の光線)が出力される。
すなわち、ハーフミラー32、第1の全反射ミラー36a、2分の1波長板36b、及び、第2の全反射ミラー36cとにより、第1の光線から、偏光方向が第1の光線と直交する方向に直線偏光された第2の光線を生成する光線生成手段が構成される。
ハーフミラー32、コリメータレンズ33、偏光ビームスプリッタ34、傾角センサ35、投光レンズ37、受光レンズ38、及び、変位センサ39は、前記実施の形態1に記載のハーフミラー17、コリメータレンズ18、偏光ビームスプリッタ13、傾角センサ19、投光レンズ12、受光レンズ14、及び、変位センサ15と同じものであるので、説明を省略する。
光路・偏光変換手段36は、入射した光線の偏光方向を、入射光線と直交する方向に変換するとともに、入射光線の向きを入射方向とは反対方向に変換する。すなわち、第1の全反射ミラー36aと、第2の全反射ミラー36cとは、入射光線を全反射して反射光線の向きを入射方向に対して時計回りに90°進め、2分の1波長板36bにより、直線偏光された入射光線の偏光方向を、入射光線の偏光方向と直交する方向に変換する。
入射光線を第1の光線であるP波とすると、光路・偏光変換手段36からは、偏光方向がP波と直交する方向に直線偏光され、かつ、進行方向がP波と90°ずれた光線であるS波(第2の光線)が出力される。
すなわち、ハーフミラー32、第1の全反射ミラー36a、2分の1波長板36b、及び、第2の全反射ミラー36cとにより、第1の光線から、偏光方向が第1の光線と直交する方向に直線偏光された第2の光線を生成する光線生成手段が構成される。
測定用光源31、ハーフミラー32、コリメータレンズ33、及び、被測定物50の測定面は、第1の光線(ここでは、P波)の光軸に沿って直線状に配列される。傾角センサ35は、ハーフミラー32の左側(ハーフミラー32へ入射する光線の光軸方向に対して反時計回りに90°進んだ方向)に配置される。
一方、光路・偏光変換手段36は、偏光ビームスプリッタ34の右側(偏光ビームスプリッタ34におけるP波の入射方向と時計回りに90°進んだ方向)に配置される。詳細には、第1の全反射ミラー36a、2分の1波長板36b、及び、第2の全反射ミラー36cは、P波の照射光軸方向と平行な方向に配列される。
投光レンズ37は、偏光ビームスプリッタ34と第2の全反射ミラー36cとの間に配置される。
なお、ハーフミラー32と第1の全反射ミラー36aと第2の全反射ミラー36cと偏光ビームスプリッタ34との位置関係は、ハーフミラー32から第1の全反射ミラー36aに入射されるP波の入射角が45°になるように配置され、第2の全反射ミラー36cで反射されたS波の進行方向が、偏光ビームスプリッタ34の入射面に垂直であるように配置される。また、第1の全反射ミラー36a、2分の1波長板36b、及び、第2の全反射ミラー36cは、P波の照射光軸方向と平行な方向に配列される。
一方、受光レンズ38と変位センサ39とは、被測定物50の測定面に対して所定角度傾いて配列される。
一方、光路・偏光変換手段36は、偏光ビームスプリッタ34の右側(偏光ビームスプリッタ34におけるP波の入射方向と時計回りに90°進んだ方向)に配置される。詳細には、第1の全反射ミラー36a、2分の1波長板36b、及び、第2の全反射ミラー36cは、P波の照射光軸方向と平行な方向に配列される。
投光レンズ37は、偏光ビームスプリッタ34と第2の全反射ミラー36cとの間に配置される。
なお、ハーフミラー32と第1の全反射ミラー36aと第2の全反射ミラー36cと偏光ビームスプリッタ34との位置関係は、ハーフミラー32から第1の全反射ミラー36aに入射されるP波の入射角が45°になるように配置され、第2の全反射ミラー36cで反射されたS波の進行方向が、偏光ビームスプリッタ34の入射面に垂直であるように配置される。また、第1の全反射ミラー36a、2分の1波長板36b、及び、第2の全反射ミラー36cは、P波の照射光軸方向と平行な方向に配列される。
一方、受光レンズ38と変位センサ39とは、被測定物50の測定面に対して所定角度傾いて配列される。
次に、変位及び傾角測定装置2を用いて被測定物50の変位量と傾角量とを同時に測定する方法について説明する。
測定用光源31から照射されたP波は、ハーフミラー32により透過光と反射光とに分離される。透過光は、コリメータレンズ33に入射して平行光に変換され、偏光ビームスプリッタ34を通過して被測定物50の表面に照射される。この透過光はP波である。
この照射されたP波は、被測定物50の表面で反射され、偏光ビームスプリッタ34を通過してコリメータレンズ33方向に出射した後、ハーフミラー32で反射されて、傾角センサ35に到達し、合焦する。
一方、反射光は、第1の全反射ミラー36aでP波の進行方向に反射された後、2分の1波長板36bに入力する。2分の1波長板36bからは、P波と偏光方向が直交する方向に直線偏光されたS波が出力される。このS波は、第2の全反射ミラー36cにより、投光レンズ37方向に反射され、投光レンズ37によって収束された後、偏光ビームスプリッタ34に入射する。このS波は、偏光ビームスプリッタ34により、入射方向とは90°ずれた方向に反射され、被測定物50に照射される。照射されたS波は、被測定物50の表面で反射される。この反射光は、受光レンズ38を透過して変位センサ39に到達し、合焦する。
なお、変位センサ39による被測定物50の変位量の検出と、傾角センサ35による被測定物50の傾角量の検出については、前記実施の形態1と同様なので、その説明を省略する。
測定用光源31から照射されたP波は、ハーフミラー32により透過光と反射光とに分離される。透過光は、コリメータレンズ33に入射して平行光に変換され、偏光ビームスプリッタ34を通過して被測定物50の表面に照射される。この透過光はP波である。
この照射されたP波は、被測定物50の表面で反射され、偏光ビームスプリッタ34を通過してコリメータレンズ33方向に出射した後、ハーフミラー32で反射されて、傾角センサ35に到達し、合焦する。
一方、反射光は、第1の全反射ミラー36aでP波の進行方向に反射された後、2分の1波長板36bに入力する。2分の1波長板36bからは、P波と偏光方向が直交する方向に直線偏光されたS波が出力される。このS波は、第2の全反射ミラー36cにより、投光レンズ37方向に反射され、投光レンズ37によって収束された後、偏光ビームスプリッタ34に入射する。このS波は、偏光ビームスプリッタ34により、入射方向とは90°ずれた方向に反射され、被測定物50に照射される。照射されたS波は、被測定物50の表面で反射される。この反射光は、受光レンズ38を透過して変位センサ39に到達し、合焦する。
なお、変位センサ39による被測定物50の変位量の検出と、傾角センサ35による被測定物50の傾角量の検出については、前記実施の形態1と同様なので、その説明を省略する。
このように、上記構成の変位及び傾角測定装置2を用いることにより、直線偏光した光線を照射する一台の光源(測定用光源31)を用いて、被測定物50の変位量と傾角量とを同時に測定することができる。
また、被測定物50の変位量と傾角量とを同時に測定できるので作業時間を短縮することができるとともに、駆動用電源22やコンピュータ21などを共通化できるので、変位及び傾角測定装置2を安価に製造することができる。
なお、前記例では、ハーフミラー32で反射された光線を、第1及び第2の全反射ミラー36a,36cにより進行方向を90°ずつずらして反転させ、偏光ビームスプリッタ34に入射させる構成としたが、本発明は、これに限るものではない。例えば、1個目の全反射ミラーで進行方向を60°ずらし、2個目の全反射ミラーで更に120°ずらしたり、3個の全反射ミラーでそれぞれ60°ずつ進行方向をずらすなどして、ハーフミラー32で反射された光線の進行方向を反転させて、偏光ビームスプリッタ34に入射させるようにしてもよい。
また、以上説明した実施の形態2における測定用光源31の発光源は必ずしも直線偏光した光を直接発光するものでなくともよく、発光源より円偏光した光を発した後、4分の1波長板等の偏光板により直線偏光に変換した光源であってもよい。
また、被測定物50の変位量と傾角量とを同時に測定できるので作業時間を短縮することができるとともに、駆動用電源22やコンピュータ21などを共通化できるので、変位及び傾角測定装置2を安価に製造することができる。
なお、前記例では、ハーフミラー32で反射された光線を、第1及び第2の全反射ミラー36a,36cにより進行方向を90°ずつずらして反転させ、偏光ビームスプリッタ34に入射させる構成としたが、本発明は、これに限るものではない。例えば、1個目の全反射ミラーで進行方向を60°ずらし、2個目の全反射ミラーで更に120°ずらしたり、3個の全反射ミラーでそれぞれ60°ずつ進行方向をずらすなどして、ハーフミラー32で反射された光線の進行方向を反転させて、偏光ビームスプリッタ34に入射させるようにしてもよい。
また、以上説明した実施の形態2における測定用光源31の発光源は必ずしも直線偏光した光を直接発光するものでなくともよく、発光源より円偏光した光を発した後、4分の1波長板等の偏光板により直線偏光に変換した光源であってもよい。
実施の形態3.
図4は、本実施の形態3に係る変位及び傾角測定装置3の構成を示す機能ブロック図で、変位及び傾角測定装置3は、変位・傾角測定部40と駆動・演算部20を備えている。
変位・傾角測定部40は、測定用光源41と、第1の偏光ビームスプリッタ42Aと、投光レンズ43と、第2の偏光ビームスプリッタ42Bと、受光レンズ44と、変位センサ45と、ハーフミラー46と、全反射ミラー47と、コリメータレンズ48と、傾角センサ49とを備える。
駆動・演算部20は、コンピュータ21と、駆動用電源22と、カウンタ23とを備える。なお、駆動・演算部20は、コンピュータ21が制御する光源が測定用光源41である点以外は、前記実施の形態1と同じである。
図4は、本実施の形態3に係る変位及び傾角測定装置3の構成を示す機能ブロック図で、変位及び傾角測定装置3は、変位・傾角測定部40と駆動・演算部20を備えている。
変位・傾角測定部40は、測定用光源41と、第1の偏光ビームスプリッタ42Aと、投光レンズ43と、第2の偏光ビームスプリッタ42Bと、受光レンズ44と、変位センサ45と、ハーフミラー46と、全反射ミラー47と、コリメータレンズ48と、傾角センサ49とを備える。
駆動・演算部20は、コンピュータ21と、駆動用電源22と、カウンタ23とを備える。なお、駆動・演算部20は、コンピュータ21が制御する光源が測定用光源41である点以外は、前記実施の形態1と同じである。
測定用光源41は、円偏光または楕円偏光された光線(以下、円波という)を照射する。測定用光源41としては、レーザー光源等が用いられる。
第1の偏光ビームスプリッタ42Aは、前記実施の形態1に記載の偏光ビームスプリッタ13と同じものであるが、ここでは、円波を入射して、透過方向にP波を出射し、透過方向とは直交する方向である反射方向にS波を出射する。
第2の偏光ビームスプリッタ42B、投光レンズ43、受光レンズ44、変位センサ45、ハーフミラー46、コリメータレンズ48、及び、傾角センサ49については、前記実施の形態1に記載の偏光ビームスプリッタ13、投光レンズ12、受光レンズ14、変位センサ15、ハーフミラー17、コリメータレンズ18、及び、傾角センサ19と同じものであり、全反射ミラー47については、前記実施の形態2に記載した第2の全反射ミラー36cと同じものであるので、説明を省略する。
本例では、第1の偏光ビームスプリッタ42Aと、ハーフミラー46と、全反射ミラー47とにより、前記実施の形態2の光路・偏光変換手段36に相当する手段を構成する。すなわち、第1の偏光ビームスプリッタ42Aにより、入射した光線の偏光方向を、入射光線と直交する方向に変換するとともに、第1の偏光ビームスプリッタ42Aによって入射方向に対して90°ずらされた光線(変換光)の向きを、ハーフミラー46と全反射ミラー47とにより、ハーフミラー46への入射方向とは反対方向に変換する。
第1の偏光ビームスプリッタ42Aは、前記実施の形態1に記載の偏光ビームスプリッタ13と同じものであるが、ここでは、円波を入射して、透過方向にP波を出射し、透過方向とは直交する方向である反射方向にS波を出射する。
第2の偏光ビームスプリッタ42B、投光レンズ43、受光レンズ44、変位センサ45、ハーフミラー46、コリメータレンズ48、及び、傾角センサ49については、前記実施の形態1に記載の偏光ビームスプリッタ13、投光レンズ12、受光レンズ14、変位センサ15、ハーフミラー17、コリメータレンズ18、及び、傾角センサ19と同じものであり、全反射ミラー47については、前記実施の形態2に記載した第2の全反射ミラー36cと同じものであるので、説明を省略する。
本例では、第1の偏光ビームスプリッタ42Aと、ハーフミラー46と、全反射ミラー47とにより、前記実施の形態2の光路・偏光変換手段36に相当する手段を構成する。すなわち、第1の偏光ビームスプリッタ42Aにより、入射した光線の偏光方向を、入射光線と直交する方向に変換するとともに、第1の偏光ビームスプリッタ42Aによって入射方向に対して90°ずらされた光線(変換光)の向きを、ハーフミラー46と全反射ミラー47とにより、ハーフミラー46への入射方向とは反対方向に変換する。
測定用光源41、第1及び第2の偏光ビームスプリッタ42A,42B、投光レンズ43、及び、被測定物50の測定面は、円波の光軸に沿って直線状に配列される。投光レンズ43は、第1及び第2の偏光ビームスプリッタ42A,42Bの間に配置される。
受光レンズ44と変位センサ45とは、被測定物50の測定面に対して所定角度傾いて配列される。
ハーフミラー46は第1の偏光ビームスプリッタ42Aの右側(第1の偏光ビームスプリッタ42AにおけるS波の出射方向)に配置される。
全反射ミラー47は、ハーフミラー46の出射方向で、かつ、第2の偏光ビームスプリッタ42Bの右側(第2の偏光ビームスプリッタ42BにおけるS波の入射方向)に配置される。
コリメータレンズ48は、第2の偏光ビームスプリッタ42Bと全反射ミラー47との間に配置される。
傾角センサ49は、ハーフミラー46の上側(ハーフミラー46へ入射する光線の光軸方向に対して反時計回りに90°進んだ方向)に配置される。
受光レンズ44と変位センサ45とは、被測定物50の測定面に対して所定角度傾いて配列される。
ハーフミラー46は第1の偏光ビームスプリッタ42Aの右側(第1の偏光ビームスプリッタ42AにおけるS波の出射方向)に配置される。
全反射ミラー47は、ハーフミラー46の出射方向で、かつ、第2の偏光ビームスプリッタ42Bの右側(第2の偏光ビームスプリッタ42BにおけるS波の入射方向)に配置される。
コリメータレンズ48は、第2の偏光ビームスプリッタ42Bと全反射ミラー47との間に配置される。
傾角センサ49は、ハーフミラー46の上側(ハーフミラー46へ入射する光線の光軸方向に対して反時計回りに90°進んだ方向)に配置される。
次に、変位及び傾角測定装置3を用いて被測定物50の変位量と傾角量とを同時に測定する方法について説明する。
測定用光源41から照射された円波は、第1の偏光ビームスプリッタ42AによりP波とS波とに分離される。P波は透過方向に出射され、S波は、透過方向とは直交する方向である反射方向に出射される。
P波は、投光レンズ43で収束され、第2の偏光ビームスプリッタ42Bを透過して被測定物50に照射される。照射されたP波は、被測定物50の表面で反射される。この反射光は、受光レンズ44を透過して変位センサ45に到達し、合焦する。
一方、S波は、ハーフミラー46と全反射ミラー47でそれぞれ反射されて、コリメータレンズ48に入射して平行光に変換される。このS波の平行光は、第2の偏光ビームスプリッタ42Bで反射されて被測定物50の表面に照射される。この照射されたS波は、被測定物50の表面で反射された後、第2の偏光ビームスプリッタ42Bで反射される。第2の偏光ビームスプリッタ42Bで反射されたS波の反射光は、コリメータレンズ48を透過し、全反射ミラー47で更に反射されて、ハーフミラー46に入射した後、ハーフミラー46を通過して、傾角センサ49に到達し、合焦する。
なお、変位センサ45による被測定物50の変位量の検出と、傾角センサ49による被測定物50の傾角量の検出については、前記実施の形態1と同様なので、その説明を省略する。
測定用光源41から照射された円波は、第1の偏光ビームスプリッタ42AによりP波とS波とに分離される。P波は透過方向に出射され、S波は、透過方向とは直交する方向である反射方向に出射される。
P波は、投光レンズ43で収束され、第2の偏光ビームスプリッタ42Bを透過して被測定物50に照射される。照射されたP波は、被測定物50の表面で反射される。この反射光は、受光レンズ44を透過して変位センサ45に到達し、合焦する。
一方、S波は、ハーフミラー46と全反射ミラー47でそれぞれ反射されて、コリメータレンズ48に入射して平行光に変換される。このS波の平行光は、第2の偏光ビームスプリッタ42Bで反射されて被測定物50の表面に照射される。この照射されたS波は、被測定物50の表面で反射された後、第2の偏光ビームスプリッタ42Bで反射される。第2の偏光ビームスプリッタ42Bで反射されたS波の反射光は、コリメータレンズ48を透過し、全反射ミラー47で更に反射されて、ハーフミラー46に入射した後、ハーフミラー46を通過して、傾角センサ49に到達し、合焦する。
なお、変位センサ45による被測定物50の変位量の検出と、傾角センサ49による被測定物50の傾角量の検出については、前記実施の形態1と同様なので、その説明を省略する。
このように、上記構成の変位及び傾角測定装置3を用いることにより、円偏光もしくは楕円偏光した光線を照射する一台の光源(測定用光源41)を用いて、被測定物50の変位量と傾角量とを同時に測定することができる。
また、被測定物50の変位量と傾角量とを同時に測定できるので作業時間を短縮することができるとともに、駆動用電源22やコンピュータ21などを共通化できるので、変位及び傾角測定装置3を安価に製造することができる。
なお、前記例では、第1の偏光ビームスプリッタ42Aから出射されたS波を、ハーフミラー46及び全反射ミラー47に反転させて、第2の偏光ビームスプリッタ42Bに入射させる構成としたが、これに限るものではなく、例えば、ハーフミラー46や全反射ミラー47の反射面の角度を適宜変更して、第1の偏光ビームスプリッタ42Aから出射されたS波の進行方向を反転させて、第2の偏光ビームスプリッタ42Bに入射させるようにしてもよい。また、全反射ミラーを複数個用いる構成としてもよい。
また、以上説明した実施の形態3における測定用光源41の発光源は必ずしも円偏光または楕円偏光した光を直接発光するものでなくともよく、発光源より直線偏光した光を発した後、4分の1波長板等の偏光板により円偏光または楕円偏光に変換した光源であってもよい。
また、被測定物50の変位量と傾角量とを同時に測定できるので作業時間を短縮することができるとともに、駆動用電源22やコンピュータ21などを共通化できるので、変位及び傾角測定装置3を安価に製造することができる。
なお、前記例では、第1の偏光ビームスプリッタ42Aから出射されたS波を、ハーフミラー46及び全反射ミラー47に反転させて、第2の偏光ビームスプリッタ42Bに入射させる構成としたが、これに限るものではなく、例えば、ハーフミラー46や全反射ミラー47の反射面の角度を適宜変更して、第1の偏光ビームスプリッタ42Aから出射されたS波の進行方向を反転させて、第2の偏光ビームスプリッタ42Bに入射させるようにしてもよい。また、全反射ミラーを複数個用いる構成としてもよい。
また、以上説明した実施の形態3における測定用光源41の発光源は必ずしも円偏光または楕円偏光した光を直接発光するものでなくともよく、発光源より直線偏光した光を発した後、4分の1波長板等の偏光板により円偏光または楕円偏光に変換した光源であってもよい。
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は前記実施の形態に記載の範囲には限定されない。前記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者にも明らかである。そのような変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲から明らかである。
このように、本発明によれば、変位量の測定と傾角量の測定とを同時に行うことが可能な変位及び傾角測定装置を提供することができるので、これを、例えば、レンズ駆動装置などの被測定物の測定装置に適用すれば、測定時間を短縮でき、製造効率を向上させることができる。
1 変位及び傾角測定装置、10 変位・傾角測定部、11 変位測定用光源、
12 投光レンズ、13 偏光ビームスプリッタ、14 受光レンズ、
15 変位センサ、16 傾角測定用光源、17 ハーフミラー、
18 コリメータレンズ、19 傾角センサ、
20 駆動・演算部、21 コンピュータ、21a 表示手段、21b 記憶手段、
22 駆動用電源、23 カウンタ。
12 投光レンズ、13 偏光ビームスプリッタ、14 受光レンズ、
15 変位センサ、16 傾角測定用光源、17 ハーフミラー、
18 コリメータレンズ、19 傾角センサ、
20 駆動・演算部、21 コンピュータ、21a 表示手段、21b 記憶手段、
22 駆動用電源、23 カウンタ。
Claims (3)
- 直線偏光された第1の光線を照射する第1の光源と、
前記第1の光線と直交する方向に直線偏光された第2の光線を照射する第2の光源と、
前記第1及び第2の光線を透過もしくは反射させて被測定物に照射する偏光ビームスプリッタと、
前記被測定物から反射された前記第1の光線の反射光を受光して前記被測定物の変位量を検出する変位センサと、
前記被測定物から反射された前記第2の光線の反射光を受光して前記被測定物の傾角を検出する傾角センサとを備え、
前記第2の光源は、前記第2の光線を前記第1の光線の照射方向とは異なる方向に照射し、
前記偏光ビームスプリッタは、異なる方向から入射される前記第1及び第2の光線のいずれか一方を透過させ他方を反射させることで、前記第1及び第2の光線を同一方向に出射して、前記被測定物方向に照射することを特徴とする変位及び傾角測定装置。 - 直線偏光された第1の光線を被測定物に照射する光源と、
前記第1の光線から、偏光方向が前記第1の光線と直交する方向に直線偏光された第2の光線を生成する光線生成手段と、
前記第2の光線の照射方向を前記第1の光線と異なる方向に変換する手段と、
直線偏光された入射光線を透過もしくは反射する偏光ビームスプリッタと、
前記被測定物から反射された前記第1の光線の反射光または前記第2の光線の反射光のいずれか一方を受光して前記被測定物の変位量を検出する変位センサと、
前記被測定物から反射された前記第1の光線の反射光または前記第2の光線の反射光の他方を受光して前記被測定物の傾角を検出する傾角センサとを備え、
前記偏光ビームスプリッタは、異なる方向から入射される前記第1及び第2の光線のいずれか一方を透過させ他方を反射させることで、前記第1及び第2の光線を同一方向に出射して、前記第1及び第2の光線を前記被測定物方向に照射することを特徴とする変位及び傾角測定装置。 - 円偏光された光線を照射する光源と、
前記円偏光された光線から、直線偏光された第1の光線と、偏光方向が前記第1の光線と直交する方向に直線偏光された第2の光線を生成する光線生成手段と、
前記第2の光線の照射方向を前記第1の光線と異なる方向に変換する手段と、
直線偏光された入射光線を透過もしくは反射する偏光ビームスプリッタと、
被測定物から反射された前記第1の光線の反射光または前記第2の光線の反射光のいずれか一方を受光して前記被測定物の変位量を検出する変位センサと、
前記被測定物から反射された前記第1の光線の反射光または前記第2の光線の反射光の他方を受光して前記被測定物の傾角を検出する傾角センサとを備え、
前記偏光ビームスプリッタは、異なる方向から入射される前記第1及び第2の光線のいずれか一方を透過し他方を反射することで、前記第1及び第2の光線を同一方向に出射して、前記第1及び第2の光線を前記被測定物方向に照射することを特徴とする変位及び傾角測定装置。
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- 2009-02-04 JP JP2009023984A patent/JP2010181235A/ja active Pending
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