JP2009096688A - 圧電磁器組成物、及び発振子 - Google Patents

圧電磁器組成物、及び発振子 Download PDF

Info

Publication number
JP2009096688A
JP2009096688A JP2007271621A JP2007271621A JP2009096688A JP 2009096688 A JP2009096688 A JP 2009096688A JP 2007271621 A JP2007271621 A JP 2007271621A JP 2007271621 A JP2007271621 A JP 2007271621A JP 2009096688 A JP2009096688 A JP 2009096688A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
oscillator
piezoelectric ceramic
ceramic composition
temperature
piezoelectric
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007271621A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4983537B2 (ja
Inventor
Masakazu Hirose
正和 廣瀬
Hideaki Sone
英明 曽根
Hideya Sakamoto
英也 坂本
Tomohisa Azuma
智久 東
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TDK Corp
Original Assignee
TDK Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TDK Corp filed Critical TDK Corp
Priority to JP2007271621A priority Critical patent/JP4983537B2/ja
Priority to US12/251,030 priority patent/US7839060B2/en
Priority to TW097140048A priority patent/TWI383964B/zh
Priority to KR1020080101990A priority patent/KR100944888B1/ko
Priority to CNA2008101702720A priority patent/CN101412626A/zh
Publication of JP2009096688A publication Critical patent/JP2009096688A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4983537B2 publication Critical patent/JP4983537B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)

Abstract

【課題】厚み縦振動の三次高調波モードを利用する発振子に用いられたときであっても、発振周波数Fの良好な温度特性を得ることを可能にする圧電磁器組成物を提供すること。
【解決手段】正方晶系のペロブスカイト型結晶構造を有し、ペロブスカイト型結晶構造の結晶格子におけるa軸の長さが3.91〜4.02オングストロームである圧電磁器組成物。
【選択図】図1

Description

本発明は、圧電磁器組成物、及び発振子に関する。
圧電磁器組成物は、外部から圧力を受けることによって電気分極を起こす圧電効果と、外部から電界を印加されることにより歪みを生じる逆圧電効果とを有するため、電気エネルギーと機械エネルギーとの相互変換を行うための材料として用いられる。このような圧電磁器組成物は、例えば、レゾネータ(発振子)、フィルタ、センサ、アクチュエータ、着火素子あるいは超音波モーター等の多種多様な製品で使用されている。
例えば、厚み縦振動の3倍波を利用したセラミックフィルタ等に用いられる圧電磁器組成物として、PbTiOのPbの一部をLaで置換したチタン酸鉛系にMn及びCrを添加し、一般式がPb1−3y/2LaTiO+z・{(1−x)MnO+(x/2)・Cr}で示される組成(ただし、0<x<1、0<z≦5wt%)としたことを特徴とする圧電磁器組成物が知られている(特許文献1)。
特開平5−139824号公報
圧電素子を備える発振子を用いた発振回路においては、近年、発振周波数F(単位:Hz)の狭公差が要求される製品に対応させるために、発振周波数Fの温度特性が良好であることが要求されている。「発振周波数Fの温度特性が良好である」とは、発振子の温度が変化した際に、その温度変化量に対する発振周波数Fの変化量の比が小さく、温度変化に対して発振周波数Fが安定していることを意味する。
しかし、厚み縦振動の3倍波(厚み縦振動の三次高調波モード)を利用する発振子の場合、屈曲振動モードを利用する発振子等と比較して使用される周波数帯域が高いことから、従来の圧電磁器組成物では、発振周波数Fの温度特性の点で十分に満足できるものが得られなかった。厚み縦振動の3倍波を利用する発振子は、例えばマイコンを制御するための基準クロックを発する素子であるレゾネータへの応用が可能であり、高価な水晶振動子の代替を図る点等からも、厚み縦振動の3倍波を利用する発振子に用いられたときに十分な性能を発揮する圧電磁器組成物が求められている。
そこで、本発明は、厚み縦振動の三次高調波モードを利用する発振子に用いられたときであっても、発振周波数Fの良好な温度特性を得ることを可能にする圧電磁器組成物、及び当該圧電磁器組成物を使用した発振子を提供することを目的とする。
本発明の圧電磁器組成物は、正方晶系のペロブスカイト型結晶構造を有する。本発明の圧電磁器組成物において、ペロブスカイト型結晶構造の結晶格子におけるa軸の長さ(a軸方向の格子定数)は3.91〜4.02オングストロームである。
なお、上記本発明では、圧電磁器組成物が正方晶系のペロブスカイト型結晶構造を有するため、その結晶格子におけるa軸の長さとb軸の長さ(b軸方向の格子定数)とは等しい。したがって、本発明においては、結晶格子におけるb軸の長さも3.91〜4.02オングストロームである。
本発明の発振子は、上記本発明の圧電磁器組成物からなる圧電素子を備える。
上記本発明の発振子では、圧電素子が上記のペロブスカイト型結晶構造を有し、その結晶格子におけるa軸の長さが3.91〜4.02オングストロームである圧電磁器組成物からなるため、厚み縦振動の三次高調波モードを利用する発振子として用いられたときであっても、発振周波数Fの良好な温度特性が得られる。
上記本発明の圧電磁器組成物は、
(PbαLnβ)(Ti1−(x+y+z)ZrMnNb)O
[式中、LnはLa、Ce、Pr、Nd、Pm、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb及びLuからなる群より選ばれる少なくとも1種を表す。]
で表される組成を有し、0.91≦α≦1.00、0<β≦0.08、0.125≦x≦0.300、0.020≦y≦0.050、及び0.040≦z≦0.070を満たすことが好ましい。これにより、ペロブスカイト型結晶構造の結晶格子におけるa軸の長さを確実に3.91〜4.02オングストロームとすることができる。
本発明によれば、厚み縦振動の三次高調波モードを利用する発振子に用いられたときであっても、発振周波数Fの良好な温度特性を得ることを可能にする圧電磁気組成物が提供される。また、本発明の圧電磁器組成物は高いキュリー温度を有していることから、表面実装型の発振子の圧電素子として用いた場合に、はんだリフローに通しても圧電特性の劣化の少ない発振子を得ることが可能となる。
以下、図面を適宜参照しながら、本発明の圧電磁器組成物を使用した発振子について、好適な実施形態を説明する。ただし、本発明は以下の実施形態に限定されるものではない。
図1は発振子の一実施形態を示す斜視図であり、図2は図1のII−II線に沿う矢視断面図である。図1及び図2に示す発振子1は、直方体状の圧電素子2と、圧電素子2を間に挟んで対向する1対の振動電極3とから構成される。圧電素子2の上面の中央に1つの振動電極3が形成され、圧電素子2の下面の中央に別の振動電極3が形成されている。圧電素子2は本実施形態の圧電磁器組成物からなる。振動電極3はAg等の導電材から構成されている。
圧電素子2の寸法は、用途に応じて適当な寸法とすればよいが、例えば縦1.0〜7.0mm×横0.5〜7.0mm×厚さ100〜300μm程度である。また、振動電極3の形状は通常円形であり、その寸法は、例えば直径0.5〜3.0mm、厚み0.5〜5μm程度である。
上記圧電磁器組成物は、室温(約15〜35℃)において正方晶系のペロブスカイト型結晶構造を有する。このペロブスカイト型結晶構造の結晶格子におけるa軸の長さが、3.91〜4.02オングストロームである。
本実施形態では、発振子1が備える圧電素子2が上記特定範囲のa軸の長さを有する圧電磁器組成物から形成されているため、この発振子1を厚み縦振動の三次高調波モードを利用する発振子して発振回路に用いたときであっても、良好な発振周波数Fの温度特性が達成される。換言すれば、本実施形態では、温度変化に対する発振周波数Fの変化率RF(単位:%)を小さくすることができる。また本実施形態では、圧電磁器組成物のキュリー温度を所望の値とすることができる。なお、変化率RFは、発振子1の温度が基準温度T(単位:℃)から任意の温度T(単位:℃)まで変化したとき、下記数式(1)で定義される。
RF={F(T)−F(T)}/F(T)×100 ・・・数式(1)
なお、上記数式(1)において、F(T)は、発振子1の温度が基準温度T(例えば25℃)であるときの発振周波数Fであり、F(T)は、発振子1の温度が温度Tであるときの発振周波数Fである。
ところで、従来から発振子として用いられる水晶は、そのカット角によって周波数温度特性が変化し、水晶を用いた発振子について発振周波数の変化率を温度に対してプロットしたときに2次曲線または3次曲線で近似できることが一般的に知られている(総合技術出版 「振動子・共振器・フィルタ最新技術 86年版」 119〜121頁参照)。この水晶を用いた発振子の場合と同様に、本実施形態の圧電磁器組成物からなる圧電素子2を備える発振子1においても、温度変化に対する発振周波数Fの変化率RFを、下記数式(2)で表される発振子1の温度Tの2次曲線(2次関数)で近似できる。
RF(T)=aT+bT+c(a、b、cはそれぞれ実数) ・・・数式(2)
ここで、数式(2)における係数aを2倍した値2aを、変化率RF(T)の曲率と定義する。本発明者らの知見によれば、発振子1では、圧電磁器組成物の結晶格子におけるa軸の長さが3.91〜4.02オングストロームであることにより、変化率RF(T)の曲率2aを従来よりも小さくすることができる。ここで、発振子1の温度変化量ΔTに対する変化率RF(T)の変化量ΔRFは、上記数式(2)から算出される下記数式(3)で表される。
ΔRF=RF(T+ΔT)−RF(T)=2a×(ΔT×T+(ΔT)/2)+bΔT ・・・数式(3)
上記数式(3)から明らかなように、本実施形態では、変化率RF(T)の曲率2aを小さくすることによって、発振子1の温度変化量ΔTに対する変化率RFの変化量ΔRFを小さくすることができる。換言すれば、発振子1の温度変化に対して発振周波数Fの変化率RFを安定させることができる。
更に、曲率2aが小さいと、発振子1の製造工程における圧電磁器組成物の組成や焼成等の工程条件の変動に起因する変化率RFのばらつきが小さくなるため、発振子1の変化率RFを所望の狭い公差(製品のスペック)内に収め易い。すなわち、発振子1の製造において、圧電磁器組成物の組成や工程条件の制御幅に余裕ができ、歩留まりを向上させることが可能となる。
発振子は、例えばマイコンを制御するための基準クロックを発する素子であるレゾネータへの応用が可能であるが、従来は水晶発振子がレゾネータとして用いられてきた。しかし、水晶発振子は高価であるため、この水晶発振子の代替を図る点等から、安価な圧電素子を備える発振子をレゾネータとして用いることが望まれている。また、マイコン制御用レゾネータとしては、発振周波数F0の公差が狭く、発振周波数F0の変化率RF0の絶対値が0.1%以下、より好ましくは0.05%以下である性能を有する発振子が要求される。また、変化率RF0の曲率2aの絶対値が小さいほどRF0の絶対値を小さくすることが容易となることから、発振子の製造上、変化率RF0の曲率2aの絶対値を20.0以下にすることが望まれる。なぜなら、曲率2aの値は、ほぼ組成のみで決まる因子であることから製造上制御しやすいのに対して、変化率RFの値は組成だけではなく焼成条件や電極形成などの製造条件でも変動する因子であるため制御が困難であるからである。換言すれば、曲率2aの絶対値が大きいほど製造上の原因により変化率RF0が変動し製品規格を外れる可能性が高くなる。以上のような理由から、本実施形態の発振子1は、発振周波数Fの公差が狭く、発振周波数Fの変化率RFの絶対値が0.1以下、より好ましくは0.05%以下であると共に、変化率RFの曲率2aの絶対値が20.0以下であることが好ましい。このような発振子1はパソコン用の発振回路用発振子として好適である。
上記圧電磁器組成物は、下記化学式(1)で表される組成を有する。
(PbαLnβ)(Ti1−(x+y+z)ZrMnNb)O ・・・化学式(1)
式(1)中、Lnは、ランタノイド元素であり、La、Ce、Pr、Nd、Pm、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb及びLuからなる群より選ばれる少なくとも1種を表す。これらのランタノイド元素の中でも、Lnとしては、特にLa、Pr、Ho、Gd、SmおよびErから選ばれる少なくとも1種の元素が好ましい。
上記圧電磁器組成物は、0.91≦α≦1.00、0<β≦0.08、0.125≦x≦0.300、0.020≦y≦0.050、及び0.040≦z≦0.070を満たすことが好ましい。これにより、圧電磁器組成物の結晶格子におけるa軸の長さを確実に3.91〜4.02オングストロームとすることができる。
αが0.91未満では、圧電磁器組成物の抵抗率が低下し易くなるため、圧電素子2の製造時において圧電磁器組成物へ圧電性を付与するための分極処理がし難くなる傾向がある。また、αが1.00を越えると、発振子1のQmaxが小さくなる傾向がある。αを上記範囲内とすることによって、これらの傾向を抑制できる。同様の観点から、0.93≦α≦0.98であることが好ましい。なお、Qmaxとは、位相角の最大値をθmax(単位:deg)としたときのtanθmaxであり、換言すれば、Xをリアクタンス、Rをレジスタンスとしたときの共振周波数frと***振周波数faとの間におけるQ(=|X|/R)の最大値である。発振子1を発振回路に用いる場合、発振特性を保証するために発振子1のQmaxが大きいことが要求される。
圧電磁器組成物が0<β≦0.08の範囲内でLnを含有することによって、Qmaxが向上する。βが0では圧電素子2の焼結性が悪くなる傾向があり、適切に圧電特性が得られなくなる場合がある。また、βが0.08を越えると、キュリー温度が低下し、圧電素子2が加熱された際に脱分極し易くなる傾向がある。βを上記範囲内とすることによって、これらの傾向を抑制できる。同様の観点から、0.02≦β≦0.06であることが好ましい。
a軸の長さをより確実に3.91〜4.02オングストロームとすることができるためには、圧電磁器組成物が0.125≦x≦0.300を満たすことが特に重要である。また、xが0.125未満では発振周波数Fの温度特性が低下する傾向があり、xが0.300を越えると、キュリー温度が低下し、圧電素子2が加熱された際に脱分極し易くなる傾向がある。xを上記範囲内とすることによって、これらの傾向を抑制できる。同様の観点から、0.13≦x≦0.16であることが好ましい。なお、x≧0.125であれば、化学式(1)の複合酸化物のうちPb、Ln及びTiの酸化物に由来する部分の重量に対するZrOの比率が5重量%を超える程度にまで、ZrOが複合酸化物中に比較的多く含まれることになる。
yが0.020未満ではQmaxが小さくなる傾向がある。また、yが0.050を越えると、圧電磁器組成物の抵抗率が低下し易くなるため、圧電素子2の製造時において圧電磁器組成物へ圧電性を付与するための分極処理がし難くなる傾向がある。yを上記範囲内とすることによってこれらの傾向を抑制できる。同様の観点から、0.020≦y≦0.037であることが好ましい。
zが0.040未満では圧電素子2の焼結性が悪くなる傾向がある。zが0.070を越えると、圧電素子2の比抵抗が高くなりすぎて、熱衝撃試験による特性劣化が大きくなる傾向がある。zを上記範囲内とすることによって、これらの傾向を抑制できる。同様の観点から、0.053≦z≦0.070であることが好ましい。
圧電磁器組成物は、上記化学式(1)で表される組成を有しているが、Pb、Ln、Ti、Zr、Mn及びNb以外の金属元素の化合物を不純物または微量添加物として含有していてもよい。係る化合物としては、例えば、Na、K、Al、Si、P、Ca、Fe、Zn、Hf、W、Cu又はTaの酸化物がある。なお、上記圧電磁器組成物がこれらの酸化物等を含有する場合、圧電磁器組成物における各酸化物の含有率の合計値は、各元素の酸化物換算で、圧電磁器組成物全体の0.01重量%以下(Hfの酸化物の場合、0.3重量%以下)であることが好ましい。言い換えると、圧電磁器組成物のうち99.9重量%以上は、Pb、Ln、Ti、Zr、Mn又はNbの酸化物から構成される複合酸化物であることが好ましい。
また、圧電磁器組成物において、ペロブスカイト型結晶構造ABOのAサイトに位置するPb、Lnの一部が、Ca、Sr、Ba等のアルカリ土類金属によって置換されていてもよい。
上述した本実施形態の発振子1の製造方法は、主として、圧電素子2の原料粉末を造粒する工程と、この原料粉末をプレス成形して成形体を形成する工程と、成形体を焼成して焼結体を形成する工程と、焼結体を分極処理して圧電素子2を形成する工程と、圧電素子2に対して振動電極3を形成する工程とを備える。以下、発振子1の製造方法について具体的に説明する。
まず、圧電磁器組成物を形成するための出発原料を準備する。出発原料としては、上記化学式(1)で表されるペロブスカイト型結晶構造の圧電磁器組成物を構成する各元素の酸化物および/または焼成後にこれらの酸化物になる化合物(炭酸塩、水酸化物、シュウ酸塩、硝酸塩等)を使用できる。具体的な出発原料としては、PbO、ランタノイド元素の化合物(例えば、La、La(OH)等)、TiO、ZrO、MnOまたはMnCO、Nb等を使用すればよい。これらの各出発原料を、焼成後において上記化学式(1)で表される組成の圧電磁器組成物が形成されるような重量比で配合する。
次に、配合された出発原料をボールミル等により湿式混合する。この湿式混合された出発原料を仮成形して仮成形体を形成し、この仮成形体を仮焼成する。この仮焼成によって、上述した本実施形態の圧電磁器組成物を含有する仮焼成体が得られる。仮焼成温度は、800〜1050℃であることが好ましく、仮焼成時間は1〜3時間程度であることが好ましい。仮焼成温度が低過ぎると、仮成形体において化学反応が十分に進行しない傾向があり、仮焼成温度が高過ぎると、仮成形体が焼結し始めるため、その後の粉砕が困難となる傾向がある。また、仮焼成は、大気中で行ってもよく、また大気中よりも酸素分圧が高い雰囲気または純酸素雰囲気で行ってもよい。また、湿式混合された出発原料を、仮成形することなくそのまま仮焼成してもよい。
得られた仮焼成体はスラリー化してボールミル等で微粉砕(湿式粉砕)した後、これを乾燥することにより微粉末を得る。得られた微粉末に必要に応じてバインダーを添加して、原料粉末を造粒する。なお、仮焼成体をスラリー化するための溶媒としては、水、エタノールなどのアルコール、または水とエタノールとの混合溶媒等を用いることが好ましい。また、微粉末に添加するバインダーとしては、ポリビニルアルコール、ポリビニルアルコールに分散剤を添加したもの、エチルセルロースなど、一般的に用いられる有機バインダーを挙げることができる。
次に、原料粉末をプレス成形することにより成形体を形成する。プレス成形する際の加重は、例えば100〜400MPaとすればよい。
得られた成形体には脱バインダー処理が施される。脱バインダー処理は、300〜700℃の温度で0.5〜5時間程度行うことが好ましい。また、脱バインダー処理は、大気中で行ってもよく、また大気よりも酸素分圧が高い雰囲気または純酸素雰囲気で行ってもよい。
脱バインダー処理後、成形体を焼成することによって、圧電磁器組成物からなる焼結体を得る。焼成温度は1150〜1250℃程度とすればよく、焼成時間は1〜8時間程度とすればよい。なお、成形体の脱バインダー処理と焼成とは連続して行ってもよく、別々に行ってもよい。
次に、焼結体を薄板状に切断し、これをラップ研磨して表面加工する。焼結体の切断に際しては、カッター、スライサーまたはダイシングソー等の切断機を用いて行うことができる。表面加工後、薄板状の焼結体の両面に、分極処理用の仮電極を形成する。仮電極を構成する導電材としては、塩化第二鉄溶液によるエッチング処理によって容易に除去できることから、Cuが好ましい。仮電極の形成には、真空蒸着法やスパッタリングを用いることが好ましい。
分極処理用の仮電極を形成した薄板状の焼結体に対して分極電界を印加して分極処理を施す。分極処理の条件は、焼結体(圧電磁器組成物)の組成に応じて適宜決定すればよいが、通常、分極処理される焼結体の温度は150〜300℃、分極電界を印加する時間は1〜30分間、分極電界の大きさは焼結体の抗電界の0.9倍以上とすればよい。
分極処理後、焼結体からエッチング処理などにより仮電極を除去する。そして、焼結体を所望の素子形状となるように切断して圧電素子2を形成する。この圧電素子2に振動電極3を形成することによって、本実施形態の発振子1が完成する。振動電極3の形成には、真空蒸着法やスパッタリングを用いることが好ましい。
以上、本発明の圧電磁器組成物及び発振子の好適な実施形態について説明したが、本発明は必ずしも上述した実施形態に限定されるものではない。
例えば、本発明の圧電磁器組成物は、発振子以外に、フィルタ、アクチュエータ、超音波洗浄機、超音波モーター、霧化器用振動子、魚群探知機、ショックセンサ、超音波診断装置、廃トナーセンサ、ジャイロセンサ、ブザー、トランス又はライター等に使用してもよい。
以下、本発明を実施例により更に詳細に説明する。ただし、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
圧電磁器組成物の出発原料として、酸化鉛(PbO)、水酸化ランタン(La(OH))、酸化チタン(TiO)、酸化ジルコニウム(ZrO)、炭酸マンガン(MnCO)、酸化ニオブ(Nb)、酸化セリウム(CeO)、酸化プラセオジウム(Pr11)、炭酸ストロンチウム(SrCO)、炭酸マンガン(MnCO)の各粉末原料を準備した。
次に、本焼成後の磁器試料(焼結体)を構成する圧電磁器組成物が表1の「試料1」の組成を有するものとなるように、各粉末原料を秤量して配合した。次に、配合された粉末原料の混合物と純水とをZrボールと共にボールミルで10時間混合してスラリーを得た。このスラリーを、十分に乾燥させた後でプレス成形し、これを900℃で仮焼成して仮焼成体を得た。次に、仮焼成体をボールミルで微粉砕した後、これを乾燥したものに、バインダーとしてPVA(ポリビニルアルコール)を適量加えて造粒した。得られた造粒粉を縦20mm×横20mmの金型に約3g入れ、1軸プレス成型機を用いて245MPaの荷重で成形した。成形した試料を熱処理してバインダーを除去した後、1150〜1250℃で2時間本焼成して、圧電磁器組成物から構成される焼結体である磁器試料(試料1)を得た。同様の操作で「試料1」としての磁器試料を複数準備した。
得られた磁器試料の1つを、両面ラップ盤で0.4mmの厚みに平面加工した後、これをダイシングソーで縦6mm×横6mmの寸法に切断した。切断後の磁器試料の両端部にAgペーストを真空蒸着することにより、5mm×5mmの寸法を有するAg電極を一対形成した。Ag電極を形成した磁器試料を電気炉中に設置した後、LCRメーターを用いて、昇温過程及び降温過程において磁器試料の静電容量が最大値となるときの温度をそれぞれ測定し、これらの平均値からキュリー温度Tを求めた。結果を表1に示す。なお、発振子がはんだリフロー等の工程において高温に曝されても圧電素子が脱分極しない必要があるため、キュリー温度Tcは高いほど好ましく、300℃以上であることが特に好ましい。
キュリー温度Tの測定用とは別の磁器試料(試料1)のX線回折パターンを測定した。X線回折パターンから、試料1が、室温において正方晶系のペロブスカイト型結晶構造を有することが確認された。また、X線回折パターンからの算出により、ペロブスカイト型結晶構造の結晶格子のa軸の長さ(以下、a軸長さと記す。)が3.914オングストロームであることが確認された。
キュリー温度Tの測定用とは別の磁器試料(試料1)を両面ラップ盤で0.4mmの厚みに平面加工した後、これをダイシングソーで縦16mm×横16mmの寸法に切断した。切断後の磁器試料の両端部にAgペーストを塗布することにより、15mm×15mmの寸法を有する分極処理用の仮電極を一対形成した。仮電極が形成された磁器試料に対して、温度120℃のシリコンオイル槽中で抗電界の2倍の分極電界を15分間印加して、分極処理を行った。分極処理後、仮電極を除去した磁器試料を再度ラップ盤で約0.25mmの厚さまで研磨し、これをダイシングソーで7mm×4.5mmの圧電素子2に加工した。次に、真空蒸着装置を用いて圧電素子2の両面に振動電極3を形成して、図1、2と同様の構成を有し、試料1からなる発振子1を得た。なお、振動電極3は、厚さ1.5μmのAg層から構成した。
次に、図3のように、発振子1に、所定の容量を有する並列容量CL1,CL2を接続して、ICと共にコルピッツ発振回路20を形成した。なお、コルピッツ発振回路20において、Rfは帰還抵抗、Rdは制限抵抗である。また、コルピッツ発振回路20には所定のDC電源(図示省略)を接続した。このコルピッツ発振回路20を、25℃の恒温槽に入れ、槽内の温度が25℃に安定した時(発振子1の温度Tが25℃に安定した時)における発振周波数F(25℃)を測定した。なお、F(25℃)の測定では、周波数カウンター(アジレントテクノロジー社製53181A)を用いた。更に、F(25℃)と同様の方法で、F(−40℃)、F(−20℃)、F(−10℃)、F(0℃)、F(50℃)、F(70℃)、及びF(85℃)をそれぞれ測定した。
次に、RF(T)={F(T)−F(T)}/F(T)×100 ・・・数式(1)のF(T)にF(25℃)の測定値を代入し、F(T)にF(−40℃)の測定値を代入することによって、RF(−40℃)(単位:%)を算出した。更に、RF(−40℃)と同様の方法で、RF(−20℃)、RF(−10℃)、RF(0℃)、RF(25℃)、RF(50℃)、RF(70℃)、及びRF(85℃)をそれぞれ求めた。これらの値を表2に示す。また、RF(−40℃)とRF(85℃)のうち、その絶対値が大きい方(以下、F変化率と記す。)を表1に示す。F変化率の絶対値が小さいほど、発振周波数Fが温度変化に対して安定しており、Fの温度特性が良好であることを意味する。
図4に示すように、発振子1の温度Tに対して、RF(−40℃)、RF(−20℃)、RF(−10℃)、RF(0℃)、RF(25℃)、RF(50℃)、RF(70℃)、RF(85℃)をプロットし、これらに2次関数RF(T)=aT+bT+c(a、b、cはそれぞれ実数) ・・・数式(2)をフィッティングすることによって、試料1からなる発振子1における発振周波数Fの変化率RF(T)の曲率2aを求めた。結果を表1に示す。曲率2aが小さいほど、発振子1の温度変化に対して発振周波数Fの変化率RFが安定しており、発振周波数Fの温度特性が良好であることを意味する。なお、図4に示す試料1の曲線は、図示の便宜上、2次曲線ではない近似曲線とした。また、後述する試料6、7、15の曲線についても同様とした。
次に、本焼成後の磁器試料(焼結体)を構成する圧電磁器組成物が表1に示す試料2〜20の各組成を有するものとなるように各粉末原料を配合したこと以外は、試料1と同様の方法で、試料2〜20としての磁器試料をそれぞれ作製した。また、試料2〜20に対してX線回折パターンを測定したところ、試料2〜20のいずれも室温において正方晶系のペロブスカイト型結晶構造を有することが確認された。また、試料2〜20のX線回折パターンから、試料2〜20のa軸長さをそれぞれ求めた。結果を表1に示す。更に、試料1と同様の方法で、試料2〜20のキュリー温度T、F変化率、及び曲率2aをそれぞれ求めた。結果を表1に示す。また、図5において、試料1〜19のa軸長さに対して、試料1〜19の曲率2aをプロットした。なお、試料20に関しては、RF(T)がTの2次関数ではなく、3次関数となったため、曲率2aが求まらなかった。よって、図5には、試料20をプロットしていない。
Figure 2009096688
Figure 2009096688
表1に示すように、a軸長さが3.91〜4.02オングストロームである試料1〜13、15〜19においては、F変化率の絶対値が小さく、且つ高いキュリー温度Tが発現することが確認された。一方、a軸長さが3.91〜4.02オングストロームの範囲外である試料14、20では、試料1〜13、15〜19と比較してF変化率の絶対値が大きかった。
図5に示されるように、曲率2aとa軸長さは相関関係を有していることから、a軸長さを制御することにより曲率2aを変化させることが可能である。例えば、a軸長さを3.91〜4.02オングストロームの範囲内とすれば、曲率2aを20以下とすることができる。
以上の実験結果から、本発明によれば、厚み縦振動の三次高調波モードを利用する発振子に用いられたときであっても、発振周波数Fの良好な温度特性を得ることを可能にする圧電磁気組成物が提供されることが確認された。
本発明の一実施形態に係る発振子を示す斜視図である。 図1のII−II線に沿った矢視断面図である。 発振子を備えるコルピッツ発振回路図である。 発振子の温度Tに対して、変化率RFをプロットしたグラフである。 a軸長さに対して曲率2aをプロットしたグラフである。
符号の説明
1…発振子、2…圧電素子、3…振動電極。

Claims (3)

  1. 正方晶系のペロブスカイト型結晶構造を有し、
    前記ペロブスカイト型結晶構造の結晶格子におけるa軸の長さが3.91〜4.02オングストロームである圧電磁器組成物。
  2. (PbαLnβ)(Ti1−(x+y+z)ZrMnNb)O
    [式中、LnはLa、Ce、Pr、Nd、Pm、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb及びLuからなる群より選ばれる少なくとも1種を表す。]
    で表される組成を有し、
    0.91≦α≦1.00、
    0<β≦0.08、
    0.125≦x≦0.300、
    0.020≦y≦0.050、及び
    0.040≦z≦0.070
    を満たす、請求項1に記載の圧電磁器組成物。
  3. 請求項1又は2に記載の圧電磁器組成物からなる圧電素子を備える発振子。
JP2007271621A 2007-10-18 2007-10-18 圧電磁器組成物、及び発振子 Expired - Fee Related JP4983537B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007271621A JP4983537B2 (ja) 2007-10-18 2007-10-18 圧電磁器組成物、及び発振子
US12/251,030 US7839060B2 (en) 2007-10-18 2008-10-14 Piezoelectric ceramic composition and oscillator
TW097140048A TWI383964B (zh) 2007-10-18 2008-10-17 壓電瓷器組合物、及振盪元件
KR1020080101990A KR100944888B1 (ko) 2007-10-18 2008-10-17 압전 자기 조성물 및 발진자
CNA2008101702720A CN101412626A (zh) 2007-10-18 2008-10-20 压电陶瓷组合物及振荡器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007271621A JP4983537B2 (ja) 2007-10-18 2007-10-18 圧電磁器組成物、及び発振子

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009096688A true JP2009096688A (ja) 2009-05-07
JP4983537B2 JP4983537B2 (ja) 2012-07-25

Family

ID=40593396

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007271621A Expired - Fee Related JP4983537B2 (ja) 2007-10-18 2007-10-18 圧電磁器組成物、及び発振子

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP4983537B2 (ja)
CN (1) CN101412626A (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103159472A (zh) * 2013-02-18 2013-06-19 瑞声声学科技(深圳)有限公司 压电陶瓷材料、烧结体及其制备方法、压电陶瓷器件
CN112203999A (zh) * 2018-07-17 2021-01-08 株式会社村田制作所 压电陶瓷、陶瓷电子部件及压电陶瓷的制造方法

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4821878B1 (ja) * 1969-04-22 1973-07-02
JPS4839640B1 (ja) * 1969-09-10 1973-11-26
JPH05327397A (ja) * 1992-05-21 1993-12-10 Murata Mfg Co Ltd 表面波装置
JPH11302070A (ja) * 1997-04-22 1999-11-02 Tokin Corp 圧電磁器材料
JPH11322423A (ja) * 1998-05-19 1999-11-24 Tokin Corp 圧電磁器組成物
JP2000103674A (ja) * 1998-09-29 2000-04-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd 圧電磁器組成物およびその製造方法
JP2001019542A (ja) * 1999-07-02 2001-01-23 Tdk Corp 圧電セラミックスおよびこれを用いた圧電デバイス
JP2002060269A (ja) * 2000-08-18 2002-02-26 Murata Mfg Co Ltd 圧電磁器材料、圧電磁器焼結体および圧電磁器素子
JP2005119944A (ja) * 2003-09-24 2005-05-12 Tdk Corp 圧電磁器組成物の製造方法
JP4169203B2 (ja) * 2003-09-24 2008-10-22 Tdk株式会社 圧電磁器組成物

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4821878B1 (ja) * 1969-04-22 1973-07-02
JPS4839640B1 (ja) * 1969-09-10 1973-11-26
JPH05327397A (ja) * 1992-05-21 1993-12-10 Murata Mfg Co Ltd 表面波装置
JPH11302070A (ja) * 1997-04-22 1999-11-02 Tokin Corp 圧電磁器材料
JPH11322423A (ja) * 1998-05-19 1999-11-24 Tokin Corp 圧電磁器組成物
JP2000103674A (ja) * 1998-09-29 2000-04-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd 圧電磁器組成物およびその製造方法
JP2001019542A (ja) * 1999-07-02 2001-01-23 Tdk Corp 圧電セラミックスおよびこれを用いた圧電デバイス
JP2002060269A (ja) * 2000-08-18 2002-02-26 Murata Mfg Co Ltd 圧電磁器材料、圧電磁器焼結体および圧電磁器素子
JP2005119944A (ja) * 2003-09-24 2005-05-12 Tdk Corp 圧電磁器組成物の製造方法
JP4169203B2 (ja) * 2003-09-24 2008-10-22 Tdk株式会社 圧電磁器組成物

Also Published As

Publication number Publication date
JP4983537B2 (ja) 2012-07-25
CN101412626A (zh) 2009-04-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2002160967A (ja) 圧電磁器組成物
JP4432969B2 (ja) 圧電磁器組成物、及び圧電素子
JP3671791B2 (ja) 圧電磁器組成物およびそれを用いた圧電セラミック素子
JP3570294B2 (ja) 圧電磁器材料およびそれを用いて得られた圧電磁器焼結体
JP5195799B2 (ja) 発振子
JP4169203B2 (ja) 圧電磁器組成物
JP4423872B2 (ja) 圧電セラミックスおよびその製造方法
KR100685327B1 (ko) 압전자기 조성물, 압전소자
JP2002068836A (ja) 圧電磁器組成物およびそれを用いた圧電セラミック素子
JP4983537B2 (ja) 圧電磁器組成物、及び発振子
JP4992796B2 (ja) 発振子
KR100944888B1 (ko) 압전 자기 조성물 및 발진자
JP4449331B2 (ja) 圧電磁器およびそれを用いた圧電磁器素子
JP3613140B2 (ja) 圧電磁器組成物およびそれを用いた圧電セラミック素子
JP4291545B2 (ja) 圧電デバイス
JP2010180073A (ja) 圧電磁器組成物及び発振子
JP2009242175A (ja) 圧電磁器組成物、圧電素子、及び発振子
JP4983538B2 (ja) 圧電磁器組成物、及び発振子
JP2005162556A (ja) 圧電セラミックスおよび圧電素子
JP2005162527A (ja) 圧電セラミックス原料粉末、圧電セラミックスおよびその製造方法、圧電素子
JP2011006307A (ja) 圧電磁器組成物、圧電素子、及び発振子
JP2010037148A (ja) 圧電磁器組成物、圧電素子、及び発振子
JP5094284B2 (ja) 圧電磁器および圧電素子
JP2005187228A (ja) 圧電セラミックス原料粉末、圧電セラミックスおよびその製造方法、圧電素子
JPH1017364A (ja) 圧電磁器組成物

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100601

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120116

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120124

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120305

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120327

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120409

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150511

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees