JP2009063535A - 温度検出回路およびそれを用いた電子機器 - Google Patents
温度検出回路およびそれを用いた電子機器 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009063535A JP2009063535A JP2007233788A JP2007233788A JP2009063535A JP 2009063535 A JP2009063535 A JP 2009063535A JP 2007233788 A JP2007233788 A JP 2007233788A JP 2007233788 A JP2007233788 A JP 2007233788A JP 2009063535 A JP2009063535 A JP 2009063535A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- input
- comparator
- voltage
- temperature detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/01—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using semiconducting elements having PN junctions
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K3/00—Thermometers giving results other than momentary value of temperature
- G01K3/005—Circuits arrangements for indicating a predetermined temperature
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B1/00—Comparing elements, i.e. elements for effecting comparison directly or indirectly between a desired value and existing or anticipated values
- G05B1/01—Comparing elements, i.e. elements for effecting comparison directly or indirectly between a desired value and existing or anticipated values electric
- G05B1/03—Comparing elements, i.e. elements for effecting comparison directly or indirectly between a desired value and existing or anticipated values electric for comparing digital signals
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/30—Single-ended push-pull [SEPP] amplifiers; Phase-splitters therefor
- H03F3/3001—Single-ended push-pull [SEPP] amplifiers; Phase-splitters therefor with field-effect transistors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K2215/00—Details concerning sensor power supply
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Amplifiers (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
【解決手段】温度係数を持たない第1オフセット電圧を備えた第1差動入力回路(ディプレッション型NMOSトランジスタM11,M12で構成)を入力段とする演算増幅回路10と、正または負の温度係数を持った第2オフセット電圧を備えた第2差動入力回路(ディプレッション型NMOSトランジスタM21,M22で構成)を入力段とするコンパレータ20を備え、第1オフセット電圧と第2オフセット電圧とを比較して、所定の温度を検出する。演算増幅回路10をボルテージフォロア回路とし、その出力をコンパレータ20の一方の入力に接続し、演算増幅回路10の非反転入力とコンパレータ20の他方の入力を所定の電位に接続し、コンパレータ20の出力より温度検出出力を得る。コンパレータと温度係数を備えた電源回路をまとめることができ回路構成の簡素化が可能になる。
【選択図】図13
Description
この温度検出回路は、同図に示すように、コンパレータ30、基準電圧Vr、ダイオードD1、D2、定電流源I1で構成されている。
a)請求項1では、温度係数を持たない第1オフセット電圧を備えた第1差動入力回路と、正または負の温度係数を持った第2オフセット電圧を備えた第2差動入力回路を備え、前記第1オフセット電圧と前記第2オフセット電圧とを比較して、所定の温度を検出するようにしたので、回路構成を簡素化することができるようになった。
図1は、本発明の第1の実施例を示す温度検出回路図である。温度検出回路は演算増幅回路10とコンパレータ20で構成されている。
コンパレータ20の出力Outは、電圧Vo2が電圧VAより高い時はハイレベルを出力し、電圧VA未満になるとローレベルを出力する。
20:コンパレータ
101,201:第1の電圧源回路
102,202:第2の電圧源回路
103:減算回路
104:比較回路
203:インピーダンス変換回路
204:減算回路
Sd1:第1差動入力回路
Sd2:第2差動入力回路
Vo1:第1オフセット電圧
Vo2:第2オフセット電圧、
M11,M12,M21,M22:ディプレッション型NMOSトランジスタ
M13,M17,M23:NMOSトランジスタ
M14,M15,M16,M24,M25:PMOSトランジスタ
R1〜R4:抵抗
Claims (13)
- 温度係数を持たない第1オフセット電圧を備えた第1差動入力回路と、正または負の温度係数を持った第2オフセット電圧を備えた第2差動入力回路を備え、
前記第1オフセット電圧と前記第2オフセット電圧とを比較して、所定の温度を検出することを特徴とする温度検出回路。 - 請求項1記載の温度検出回路において、
前記第1差動入力回路を入力段とする演算増幅回路と、前記第2差動入力回路を入力段とするコンパレータを備え、
前記演算増幅回路をボルテージフォロア回路とし、該ボルテージフォロア回路の出力を前記コンパレータの一方の入力に接続し、前記演算増幅回路の非反転入力と前記コンパレータの他方の入力を所定の電位に接続し、前記コンパレータの出力より温度検出出力を得るようにしたことを特徴とする温度検出回路。 - 請求項2記載の温度検出回路において、
前記ボルテージフォロア回路の出力を分圧する分圧回路を備え、該分圧回路の出力を前記コンパレータの一方の入力に接続したことを特徴とする温度検出回路。 - 請求項1記載の温度検出回路において、
前記第1差動入力回路を入力段とする演算増幅回路と、前記第2差動入力回路を入力段とするコンパレータを備え、
前記演算増幅回路は、前記第1オフセット電圧を所定の倍率で増幅し、該演算増幅回路の出力を前記コンパレータの一方の入力に接続し、前記演算増幅回路の非反転入力と前記コンパレータの他方の入力を所定の電位に接続し、前記コンパレータの出力より温度検出出力を得るようにしたことを特徴とする温度検出回路。 - 請求項2または4記載の温度検出回路において、
前記所定の電位は接地電位であることを特徴とする温度検出回路。 - 請求項1記載の温度検出回路において、
前記第1差動入力回路を入力段とするコンパレータと、前記第2差動入力回路を入力段とする演算増幅回路を備え、
前記演算増幅回路をボルテージフォロア回路とし、該ボルテージフォロア回路の出力を前記コンパレータの一方の入力に接続し、前記演算増幅回路の非反転入力と前記コンパレータの他方の入力を所定の電位に接続し、前記コンパレータの出力より温度検出出力を得るようにしたことを特徴とする温度検出回路。 - 請求項6記載の温度検出回路において、
前記ボルテージフォロア回路の出力を分圧する分圧回路を備え、該分圧回路の出力を前記コンパレータの一方の入力に接続したことを特徴とする温度検出回路。 - 請求項6記載の温度検出回路において、
前記第1差動入力回路を入力段とするコンパレータと、前記第2差動入力回路を入力段とする演算増幅回路を備え、
前記演算増幅回路は、前記第2オフセット電圧を所定の倍率で増幅し、該演算増幅回路の出力を前記コンパレータの一方の入力に接続し、前記演算増幅回路の非反転入力と前記コンパレータの他方の入力を所定の電位に接続し、前記コンパレータの出力より温度検出出力を得るようにしたことを特徴とする温度検出回路。 - 請求項6または8に記載の温度検出回路において、
前記所定の電位は接地電位であることを特徴とする温度検出回路。 - 請求項1から9のいずれかに記載の温度検出回路において、
前記第1差動入力回路、および前記第2差動入力回路を構成しているトランジスタは、ゲートの仕事関数の異なるトランジスタを組み合わせて用いたことを特徴とする温度検出回路。 - 請求項10記載の温度検出回路において、
前記第1差動入力回路および前記第2差動入力回路を構成している一方のトランジスタのゲートをP+ゲートとし、他方のトランジスタのゲートをN+ゲートとし、
前記第1差動入力回路を構成している2つのトランジスタのサイズ比(ゲート長比)を、前記第1オフセット電圧が温度係数を持たないサイズ比に設定し、
前記第2差動入力回路を構成している2つのトランジスタのサイズ比を、前記第2オフセット電圧が所定の温度係数を備えるサイズ比に設定したことを特徴とする温度検出回路。 - 請求項1から11のいずれかに記載の温度検出回路を組み込んだことを特徴とする電子機器。
- 前記電子機器は、ボルテージレギュレータ、パーソナルコンピュータ、携帯機器、家電のいずれかであることを特徴とする請求項12記載の電子機器。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007233788A JP5006739B2 (ja) | 2007-09-10 | 2007-09-10 | 温度検出回路およびそれを用いた電子機器 |
KR1020080088712A KR101038901B1 (ko) | 2007-09-10 | 2008-09-09 | 온도 검출 회로 및 그것을 이용한 전자 기기 |
CN2008102159248A CN101387557B (zh) | 2007-09-10 | 2008-09-09 | 温度检测电路及其电子机器 |
US12/207,791 US8147131B2 (en) | 2007-09-10 | 2008-09-10 | Temperature sensing circuit and electronic device using same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007233788A JP5006739B2 (ja) | 2007-09-10 | 2007-09-10 | 温度検出回路およびそれを用いた電子機器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009063535A true JP2009063535A (ja) | 2009-03-26 |
JP5006739B2 JP5006739B2 (ja) | 2012-08-22 |
Family
ID=40431773
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007233788A Expired - Fee Related JP5006739B2 (ja) | 2007-09-10 | 2007-09-10 | 温度検出回路およびそれを用いた電子機器 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8147131B2 (ja) |
JP (1) | JP5006739B2 (ja) |
KR (1) | KR101038901B1 (ja) |
CN (1) | CN101387557B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107328485A (zh) * | 2017-07-06 | 2017-11-07 | 厦门安斯通微电子技术有限公司 | 一种单片集成正负温度系数可选温度传感芯片 |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5006739B2 (ja) * | 2007-09-10 | 2012-08-22 | 株式会社リコー | 温度検出回路およびそれを用いた電子機器 |
CN102246115B (zh) * | 2008-11-25 | 2014-04-02 | 凌力尔特有限公司 | 用于半导体芯片内金属电阻器的温度补偿的电路、调修和布图 |
CN102338668B (zh) * | 2010-07-27 | 2015-11-25 | 深圳艾科创新微电子有限公司 | 一种温度检测电路 |
KR101276947B1 (ko) * | 2011-06-27 | 2013-06-19 | 엘에스산전 주식회사 | 저전력, 고정밀, 넓은 온도범위의 온도 센서 |
FR2995723A1 (fr) | 2012-09-19 | 2014-03-21 | St Microelectronics Crolles 2 | Circuit de fourniture de tension ou de courant |
WO2015066629A1 (en) * | 2013-11-03 | 2015-05-07 | The Trustees Of Columbia University In The City Of New York | Circuits for temperature monitoring |
JP6372097B2 (ja) | 2014-03-07 | 2018-08-15 | 株式会社リコー | 検出装置、検出回路、センサモジュール及び画像形成装置 |
CN108709646B (zh) * | 2018-08-08 | 2024-06-04 | 上海艾为电子技术股份有限公司 | 一种温度检测采样电路 |
US11774297B2 (en) | 2020-06-18 | 2023-10-03 | Nxp Usa, Inc. | Temperature detection circuit |
CN112729578B (zh) * | 2020-12-08 | 2024-03-22 | 广东美的白色家电技术创新中心有限公司 | 电器设备、电子器件及其温度检测电路 |
US11867571B2 (en) | 2021-10-01 | 2024-01-09 | Nxp B.V. | Self-turn-on temperature detector circuit |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003279420A (ja) * | 2002-03-22 | 2003-10-02 | Ricoh Co Ltd | 温度検出回路 |
JP2006242894A (ja) * | 2005-03-07 | 2006-09-14 | Ricoh Co Ltd | 温度検出回路 |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3942718A (en) * | 1973-04-19 | 1976-03-09 | Andrew M. Esposito | Electronic thermostat |
JPH0833328B2 (ja) * | 1989-08-19 | 1996-03-29 | 泰久 野村 | 温度検出装置 |
GB9120161D0 (en) * | 1991-09-20 | 1991-11-06 | Johnson Matthey Plc | New pinning wire products |
US5282685A (en) * | 1992-01-10 | 1994-02-01 | Anderson Instrument Company, Inc. | Electronic thermometer with redundant measuring circuits and error detection circuits |
KR960035034A (ko) * | 1995-03-24 | 1996-10-24 | 김정국 | 온도 검출신호 변환 출력회로 |
US5875142A (en) * | 1997-06-17 | 1999-02-23 | Micron Technology, Inc. | Integrated circuit with temperature detector |
JP2000213992A (ja) | 1999-01-26 | 2000-08-04 | Nissan Motor Co Ltd | 温度検出回路及び半導体装置 |
JP3721119B2 (ja) * | 2001-11-08 | 2005-11-30 | 株式会社東芝 | 温度センサ |
US6909271B2 (en) * | 2001-12-05 | 2005-06-21 | Kenneth C. Sloneker | Devices, systems, and methods for measuring differential temperature |
JP4753531B2 (ja) | 2003-02-05 | 2011-08-24 | 株式会社リコー | 半導体集積回路における温度検出回路 |
US6921199B2 (en) * | 2002-03-22 | 2005-07-26 | Ricoh Company, Ltd. | Temperature sensor |
US7170315B2 (en) * | 2003-07-31 | 2007-01-30 | Actel Corporation | Programmable system on a chip |
CN100351619C (zh) * | 2003-09-28 | 2007-11-28 | 矽创电子股份有限公司 | 温度测量方法 |
JP4477429B2 (ja) * | 2003-11-05 | 2010-06-09 | 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 | 半導体集積回路 |
US7021821B2 (en) * | 2004-05-28 | 2006-04-04 | Honeywell International Inc. | Differential thermal sensors |
JP4549743B2 (ja) * | 2004-06-07 | 2010-09-22 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 温度センサ回路及びそれの校正方法 |
KR100608111B1 (ko) | 2005-02-07 | 2006-08-02 | 삼성전자주식회사 | 센싱온도를 조절할 수 있는 온도센서 |
KR100656431B1 (ko) * | 2005-11-09 | 2006-12-11 | 주식회사 하이닉스반도체 | 트랜지스터를 이용한 온도 감지 장치 |
JP5006739B2 (ja) * | 2007-09-10 | 2012-08-22 | 株式会社リコー | 温度検出回路およびそれを用いた電子機器 |
US7837384B2 (en) * | 2007-12-19 | 2010-11-23 | Fairchild Semiconductor Corporation | Process-invariant low-quiescent temperature detection circuit |
EP2355358A1 (en) * | 2010-02-04 | 2011-08-10 | Nxp B.V. | An ADC, a temperature sensor, a non-contact transponder, and a method of converting analog signals to digital signals |
-
2007
- 2007-09-10 JP JP2007233788A patent/JP5006739B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-09-09 CN CN2008102159248A patent/CN101387557B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2008-09-09 KR KR1020080088712A patent/KR101038901B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2008-09-10 US US12/207,791 patent/US8147131B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003279420A (ja) * | 2002-03-22 | 2003-10-02 | Ricoh Co Ltd | 温度検出回路 |
JP2006242894A (ja) * | 2005-03-07 | 2006-09-14 | Ricoh Co Ltd | 温度検出回路 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107328485A (zh) * | 2017-07-06 | 2017-11-07 | 厦门安斯通微电子技术有限公司 | 一种单片集成正负温度系数可选温度传感芯片 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8147131B2 (en) | 2012-04-03 |
JP5006739B2 (ja) | 2012-08-22 |
CN101387557A (zh) | 2009-03-18 |
CN101387557B (zh) | 2011-04-13 |
KR20090026736A (ko) | 2009-03-13 |
US20090067471A1 (en) | 2009-03-12 |
KR101038901B1 (ko) | 2011-06-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5006739B2 (ja) | 温度検出回路およびそれを用いた電子機器 | |
KR100763328B1 (ko) | 정전압 회로 및 정전압 회로를 구비하는 반도체 장치 | |
JP4855841B2 (ja) | 定電圧回路及びその出力電圧制御方法 | |
TWI431881B (zh) | Voltage regulator | |
JP5446529B2 (ja) | ローパスフィルタ回路、そのローパスフィルタ回路を使用した定電圧回路及び半導体装置 | |
US20060197581A1 (en) | Temperature detecting circuit | |
CN101169671A (zh) | 参考电压产生电路 | |
US8026756B2 (en) | Bandgap voltage reference circuit | |
JP5527056B2 (ja) | 差動増幅回路およびシリーズレギュレータ | |
JP2006285854A (ja) | 定電圧回路 | |
JP2008276611A (ja) | 過電流保護回路 | |
JP2008305150A (ja) | バンドギャップ回路 | |
JP2010056889A (ja) | 差動増幅器、基準電圧発生回路、差動増幅方法及び基準電圧発生方法 | |
CN111665897B (zh) | 负温度系数的稳压源电路 | |
JP2007187559A (ja) | 温度検出回路 | |
JP2007187558A (ja) | 温度検出回路 | |
JP2001217692A (ja) | 電圧比較回路およびこれを用いた基板バイアス調整回路 | |
JP2009139130A (ja) | 温度検出回路 | |
KR101911367B1 (ko) | 기준 전류 생성 회로, 기준 전압 생성 회로, 및 온도 검출 회로 | |
JP5008846B2 (ja) | 電子回路 | |
JP2010191869A (ja) | 定電圧回路及びその動作制御方法 | |
Jun-an et al. | A bandgap reference in 65nm CMOS | |
JP2005327256A (ja) | 定電圧回路 | |
TWI842527B (zh) | 一種具有自動調節穩定性補償電路的低壓差穩壓器 | |
US20130278331A1 (en) | Reference Potential Converter Circuit |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100406 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20110525 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20110602 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120214 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120228 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120508 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120525 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150601 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |