JP2003163178A - ダイシング装置 - Google Patents

ダイシング装置

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Abstract

(57)【要約】 【課題】装置のコスト増大を最小に抑えながら、ワーク
を加工中に他のワークのアライメントを行うことがで
き、高価なアライメント手段の稼働率を高めるととも
に、装置全体の稼働率も向上することができるダイシン
グ装置を提供すること。 【解決手段】ワークWを載置するワークテーブル23を
複数個設け、複数個のワークテーブル23を夫々独立し
てX方向に移動可能にすると共に、ワークWを観察する
顕微鏡80を顕微鏡駆動手段70によって各ワークテー
ブル23上に移動するように構成し、ワークWを加工し
ている間に、他のワークWのアライメントを行うように
した。これにより、高価なアライメント手段の稼働率向
上とダイシング装置全体の稼働率向上を図ることができ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はダイシング装置に関
し、特に半導体や電子部品材料等のワークに溝加工や切
断加工を行うダイシング装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体や電子部品材料等のワークに溝加
工や切断加工(以下加工と称する)を行う従来のダイシ
ング装置を、図4に示す。この従来のダイシング装置1
10においては、ワークテーブル123に載置されたワ
ークを高速で回転するブレードと称する薄型砥石121
で研削水をかけながらワークを加工する。このダイシン
グ装置110では、前記ブレードを保持したスピンドル
122がY軸方向のインデックス送りとZ軸方向の切込
み送りとがなされ、ワークを載置したワークテーブル1
23がX軸方向に研削送りされるようになっている。ま
た、ワークの上面を観察する顕微鏡180が、ホルダー
アーム181を介して前記ブレードを保持したスピンド
ル122に固定されている。この顕微鏡180を用いて
ワークの上面を観察し、ワークのアライメントを行った
り、あるいは加工後の切り溝の評価を行ったりしてい
る。この顕微鏡180にはCCDカメラが接続されてお
り、このCCDカメラで撮像した画像をパターンマッチ
ング手段等で画像処理を行ってワークのアライメントを
行っている。
【0003】ところが、この従来のダイシング装置11
0は、ワークを載置するワークテーブル123が1個、
ワークを撮像するCCDカメラを組込んだ顕微鏡180
が1個設けられているだけなので、ワークを加工してい
る間はワークのアライメントをすることができず、顕微
鏡180やCCDカメラ、及び画像処理手段等の高価な
アライメント手段の稼働率が悪く、また、ダイシング装
置110全体の稼働率も低下していた。このような問題
を解決するものとして、特開昭62−53804号公報
には、ワークテーブルと顕微鏡とを夫々2個設けたダイ
シング装置が示されている。このダイシング装置によれ
ば、一方のワークテーブルに載置されたワークを加工し
ている間に、他方のワークテーブルのワークをアライメ
ントすることができ、ダイシング装置全体の稼働率が向
上する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところが、この特開昭
62−53804号公報で開示されたダイシング装置
は、顕微鏡、CCDカメラ、照明装置、及びそれらを駆
動する駆動手段を夫々2個ずつ必要とし、ダイシング装
置全体のコストが増大するという大きな問題があり、実
用化することができなかった。
【0005】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たもので、装置のコスト増大を最小に抑えながら、ワー
クを加工中に他のワークのアライメントを行うことがで
き、高価なアライメント手段の稼働率を高めるととも
に、装置全体の稼働率も向上することができるダイシン
グ装置を提供することを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、請求項1に記載の発明は、回転ブレードによりワー
クテーブルに載置されたワークの溝加工や切断加工を行
うダイシング装置において、前記ワークテーブルが複数
個設けられるとともに、前記ワークを観察する顕微鏡を
前記複数個のワークテーブルの上方に夫々移動する顕微
鏡駆動手段が設けられていることを特徴としている。
【0007】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
のダイシング装置において、前記複数個のワークテーブ
ルの内の1個のワークテーブルに載置されたワークが前
記回転ブレードによって加工されている間に、前記顕微
鏡は他のワークテーブル上に移動され、他のワークテー
ブル上のワークが観察されアライメントされることを特
徴としている。
【0008】本発明によれば、ワークを載置するワーク
テーブルが複数個設けられ、ワークを観察する顕微鏡が
顕微鏡駆動手段によって各ワークテーブル上に移動され
るので、ワークを加工している間に、他のワークのアラ
イメントを行うことができ、高価なアライメント手段の
稼働率向上とダイシング装置全体の稼働率向上を図るこ
とができる。
【0009】
【発明の実施の形態】以下添付図面に従って本発明に係
るダイシング装置の好ましい実施の形態について詳説す
る。尚、各図において同一部材には同一の番号、又は符
号を付してある。
【0010】先ず最初に、ダイシング装置の構成につい
て説明する。図1は本発明に係るダイシング装置の外観
を示す斜視図である。ダイシング装置10は、複数のワ
ークが収納されたカセットを外部装置との間で受渡すロ
ードポート60と、吸着部51を有しワークを装置各部
に搬送する搬送手段50と、ワークの上面を観察する顕
微鏡80と、加工部20と、加工後のワークを洗浄し、
乾燥させるスピンナ40、及び装置各部の動作を制御す
るコントローラ100等とから構成されている。加工部
20には、2本対向して配置され、回転ブレード21が
取付けられた高周波モータ内蔵型のエアーベアリング式
スピンドル22、22が設けられており、30,000
rpm〜60,000rpmで高速回転されるととも
に、互いに独立して図のY方向のインデックス送りとZ
方向の切込み送りとがなされる。また、ワークを吸着載
置する2個のワークテーブル23、23が設けられ、夫
々Xテーブル25、25の移動によって図のX方向に研
削送りされるように構成されている。
【0011】図2は、ダイシング装置10の主要部を説
明する平面図である。また、図3はその斜視図である。
図2及び図3に示すように、ダイシング装置10には、
マシンベース11上に、2本で1対のガイドレール2
6、26が図の矢印X方向に2組設けられており、夫々
の組のガイドレール26、26で案内され、リニアモー
タ27、27でX方向に駆動される2個のXテーブル2
5、25が設けられている。この2個のXテーブル2
5、25には、夫々Z方向(図2の紙面垂直方向)を軸
にθ回転するθテーブル24を介してワークテーブル2
3が取付けられている。このような機構により、2個の
ワークテーブル23、23に夫々載置された2枚のワー
クW、Wは、各々独立してθ回転されると共にX方向に
移動される。
【0012】また、図2及び図3に示すように、マシン
ベース11上には門型形状のガイドベース12が立設さ
れている。ガイドベース12の左側面12Aには、図の
矢印Y方向に向けて水平にスピンドルYガイド31が取
付けられ、スピンドルYガイド31にガイドされ、図示
しない駆動機構によってY方向にインデックス送りされ
るスピンドルYテーブル32、32が2個設けられてい
る。各々のスピンドルYテーブル32には、図示しない
ガイドレールと駆動機構によって図の矢印Z方向に切込
み送りされるスピンドルZテーブル33が設けられ、各
々のスピンドルZテーブル33には、ホルダ34を介し
てスピンドル22が取付けられている。2本のスピンド
ル22、22は互いに対向するように配置され、各々の
スピンドル22には先端に回転ブレード21が取付けら
ている。この回転ブレード21は薄い円盤状で、ダイヤ
モンド砥粒やCBN砥粒をニッケルで電着した電着ブレ
ードや、樹脂で結合したレジンブレードが用いられる。
尚、回転ブレード21、21は、前面と下面とが開口さ
れた図示しないフランジカバーで覆われ、フランジカバ
ーには回転ブレード21を前後に挟む形で冷却水を供給
する2本の冷却ノズルが設けられている。このような機
構により、2枚の回転ブレード21、21は各々独立し
てZ方向の切込み送りとY方向のインデックス送りとが
される。尚、スピンドルYテーブル32、32、及びス
ピンドルZテーブル33の駆動機構は、リニアモータが
用いられてもよいし、サーボモータとリードスクリュが
用いられてもよい。
【0013】ガイドベース12の右側面12Bには、顕
微鏡駆動手段70が設けられている。顕微鏡駆動手段7
0は、ガイドベース12の右側面12Bに取付けられ図
の矢印Y方向に向けて水平に配置された顕微鏡Yガイド
71と、顕微鏡Yガイド71にガイドされ、図示しない
駆動機構によってY方向に移動される顕微鏡Yテーブル
72、及び顕微鏡Yテーブル72に設けられた図示しな
いガイドレールと駆動機構によって図の矢印Z方向に送
られる顕微鏡Zテーブル73とから構成されている。顕
微鏡Zテーブル73には、ワークWの上面を観察する顕
微鏡80が取付けられている。このように構成された顕
微鏡駆動手段70により、顕微鏡80は図のY方向とZ
方向とに送られる。尚、顕微鏡Yガイド71、及び顕微
鏡Zテーブル73の駆動機構も、リニアモータあるい
は、サーボモータとリードスクリュ等の既知の駆動手段
が用いられる。顕微鏡80には図示しないCCDカメラ
が組込まれており、CCDカメラで撮像したワークWの
画像をコントローラ100内に設けられた画像処理装置
でパターンパッチング処理をして、ワークWのアライメ
ントが行われるようになっている。これら各部の駆動手
段の制御、アライメント動作の制御、加工部20の制
御、搬送手段50の制御等は全てダイシング装置本体内
部に格納されているコントローラ100によって行われ
るようになっている。
【0014】次に、このように構成されたダイシング装
置10の作用について説明する。先ずダイシングテープ
を介してフレームに貼着されたワークWが複数枚収納さ
れたカセットが、外部搬送手段によってダイシング装置
10のロードポート60に受け渡される。次にワークW
はダイシング装置10の搬送手段50によって1枚ずつ
カセットから引出され、ワークテーブル23に吸着され
る。その後ワークテーブル23が顕微鏡Yガイド71の
下に移動すると共に、顕微鏡80が顕微鏡Yテーブル7
2によってワークWの上に搬送される。ここで顕微鏡Z
テーブル73によって顕微鏡80の焦点が合わされる。
次にワークWの上面に形成されているパターン部分が顕
微鏡80に組込まれているCCDカメラで撮像され、既
知のパターンマッチング手法を用いてアライメントされ
る。尚、このワークWがアライメントされている時に、
次のワークWがもう一方のワークテーブル23に載置さ
れる。
【0015】アライメントされたワークWは、ワークテ
ーブル23によって加工部20に搬送される。ここで
は、2枚の回転ブレード21、21が夫々必要な切込み
送りがされ、XテーブルのX方向研削送りによって2本
の加工領域(ストリート)が同時に加工される。次に回
転ブレード21、21がY方向に必要ピッチ分インデッ
クス送りされて次のストリートに位置付けられ、ワーク
テーブル23のX方向研削送りによってこの2本のライ
ンも加工される。この動作が繰り返されてワークWの1
方向の全てのストリートが加工される。1方向の全ライ
ンが加工されると、θテーブル24の回転によりワーク
Wは90度回転され、先程のストリートと直行するスト
リートが加工される。最初のワークWが加工部20で加
工されている間に、次のワークWが顕微鏡Yガイド71
の下に移動され、顕微鏡80が顕微鏡Yテーブル72に
よってこのワークWの上に搬送される。ここでも同様に
して、顕微鏡Zテーブル73によって顕微鏡80の焦点
が合わされ、次のワークWの上面に形成されているパタ
ーン部分が顕微鏡80に組込まれているCCDカメラで
撮像されてアライメントが行われる。最初のワークWの
加工が終了すると、アライメントの終了した次のワーク
Wが加工部20に搬入され、同様に加工される。
【0016】全加工終了した最初のワークWは、必要に
より顕微鏡80下で加工溝の形状やチッピング状況が計
測されて評価される。加工溝の評価が済むと、ワークW
は搬送手段50によってスピンナ40に搬送され、ここ
でスピン洗浄とスピン乾燥とが行われる。洗浄及び乾燥
が終了したワークWは、再び搬送手段50によって元の
カセットに収納される。次のワークWも同様にして、加
工、洗浄、及び乾燥されて、元のカセットに収納され
る。以上のような動作が次々と繰り返されて、カセット
内の全部のワークWが加工される。以上が本発明に係る
ダイシング装置によってワークWを加工するときの流れ
である。
【0017】以上説明したように、本発明によれば、2
個のワークテーブル23、23に対して1個の顕微鏡8
0が移動して夫々のワークテーブル23に吸着載置され
たワークWにアクセスできるので、一方のワークWが加
工されている間に他方のワークWのアライメントを行う
ことができ、効率よく加工できる。
【0018】尚、本実施の形態ではワークテーブル23
を2個設けたが、これに限らず、2個以上設けてもよ
い。
【0019】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ワ
ークを載置するワークテーブルが複数個設けられ、ワー
クを観察する顕微鏡が顕微鏡駆動手段によって各ワーク
テーブル上に移動されるので、ワークを加工している間
に、他のワークのアライメントを行うことができ、装置
のコスト増大を最小に抑えながら、高価なアライメント
手段の稼働率向上とダイシング装置全体の稼働率向上を
図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係るダイシング装置の外
観を示す斜視図
【図2】本発明の実施の形態に係るダイシング装置の主
要部を説明する平面図
【図3】本発明の実施の形態に係るダイシング装置の主
要部を説明する斜視図
【図4】従来のダイシング装置を示す斜視図
【符号の説明】
10…ダイシング装置、21…回転ブレード、22…ス
ピンドル、23…ワークテーブル、70…顕微鏡駆動手
段、80…顕微鏡、100…コントローラ、W…ワーク
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 蛭田 倫明 東京都三鷹市下連雀9丁目7番1号 株式 会社東京精密内 (72)発明者 浅野 貴行 東京都三鷹市下連雀9丁目7番1号 株式 会社東京精密内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】回転ブレードによりワークテーブルに載置
    されたワークの溝加工や切断加工を行うダイシング装置
    において、前記ワークテーブルが複数個設けられるとと
    もに、前記ワークを観察する顕微鏡を前記複数個のワー
    クテーブルの上方に夫々移動する顕微鏡駆動手段が設け
    られていることを特徴とするダイシング装置。
  2. 【請求項2】前記複数個のワークテーブルの内の1個の
    ワークテーブルに載置されたワークが前記回転ブレード
    によって加工されている間に、前記顕微鏡は他のワーク
    テーブル上に移動され、他のワークテーブル上のワーク
    が観察されアライメントされることを特徴とする請求項
    1に記載のダイシング装置。
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Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005183586A (ja) * 2003-12-18 2005-07-07 Disco Abrasive Syst Ltd 板状物の切削装置
WO2006025622A1 (en) * 2004-08-31 2006-03-09 Hanmi Semiconductor Co., Ltd. A sawing apparatus and a control method for manufacturing processes of semiconductor package
JP2006156809A (ja) * 2004-11-30 2006-06-15 Disco Abrasive Syst Ltd 切削装置
JP2007081317A (ja) * 2005-09-16 2007-03-29 Disco Abrasive Syst Ltd 切削装置
JP2007080897A (ja) * 2005-09-12 2007-03-29 Disco Abrasive Syst Ltd 切削装置および加工方法
JP2007536727A (ja) * 2004-05-07 2007-12-13 ハンミ セミコンダクター カンパニー リミテッド 半導体パッケージ製造工程用切断及びハンドラシステム
JP2008112884A (ja) * 2006-10-31 2008-05-15 Disco Abrasive Syst Ltd ウエーハの加工方法
JP2010062435A (ja) * 2008-09-05 2010-03-18 Tokyo Seimitsu Co Ltd ダイシング方法及びダイシング装置
US7829383B2 (en) 2004-08-23 2010-11-09 Rokko Systems Pte Ltd. Supply mechanism for the chuck of an integrated circuit dicing device
JP2010272842A (ja) * 2009-04-24 2010-12-02 Tokyo Seimitsu Co Ltd ダイシング装置、ダイシング装置ユニット及びダイシング方法
CN102110587A (zh) * 2009-11-12 2011-06-29 株式会社迪思科 切削刀片的消耗量管理方法
JP2011520256A (ja) * 2008-05-02 2011-07-14 ロッコ・ベンチャーズ・プライベイト・リミテッド 複数基板の処理装置及びその方法
JP2011146593A (ja) * 2010-01-15 2011-07-28 Tokyo Seimitsu Co Ltd ダイシング装置
JP2011527947A (ja) * 2008-04-14 2011-11-10 ロッコ・ベンチャーズ・プライベイト・リミテッド 一体型回路の切断装置及びその方法
JP5464421B2 (ja) * 2007-08-31 2014-04-09 株式会社東京精密 ダイシング装置及びダイシング方法
TWI450805B (zh) * 2007-12-21 2014-09-01 Tokyo Seimitsu Co Ltd 切割裝置及切割方法
JP2014161964A (ja) * 2013-02-26 2014-09-08 Disco Abrasive Syst Ltd 切削装置
JP2014161963A (ja) * 2013-02-26 2014-09-08 Disco Abrasive Syst Ltd 切削装置
TWI451955B (zh) * 2007-12-21 2014-09-11 Tokyo Seimitsu Co Ltd 切割裝置及切割方法
KR101567908B1 (ko) 2009-04-24 2015-11-10 가부시키가이샤 토쿄 세이미쯔 다이싱 장치, 다이싱 장치 유닛 및 다이싱 방법
JP2019149541A (ja) * 2018-02-27 2019-09-05 株式会社東京精密 レーザダイシング装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4869864B2 (ja) * 2006-10-20 2012-02-08 株式会社ディスコ ウエーハの加工方法

Cited By (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4532895B2 (ja) * 2003-12-18 2010-08-25 株式会社ディスコ 板状物の切削装置
JP2005183586A (ja) * 2003-12-18 2005-07-07 Disco Abrasive Syst Ltd 板状物の切削装置
JP2007536727A (ja) * 2004-05-07 2007-12-13 ハンミ セミコンダクター カンパニー リミテッド 半導体パッケージ製造工程用切断及びハンドラシステム
US7939374B2 (en) 2004-08-23 2011-05-10 Rokko Systems Pte Ltd. Supply mechanism for the chuck of an integrated circuit dicing device
US7829383B2 (en) 2004-08-23 2010-11-09 Rokko Systems Pte Ltd. Supply mechanism for the chuck of an integrated circuit dicing device
WO2006025622A1 (en) * 2004-08-31 2006-03-09 Hanmi Semiconductor Co., Ltd. A sawing apparatus and a control method for manufacturing processes of semiconductor package
JP4571851B2 (ja) * 2004-11-30 2010-10-27 株式会社ディスコ 切削装置
JP2006156809A (ja) * 2004-11-30 2006-06-15 Disco Abrasive Syst Ltd 切削装置
KR101266373B1 (ko) * 2004-11-30 2013-05-22 가부시기가이샤 디스코 절삭장치
US7338345B2 (en) 2004-11-30 2008-03-04 Disco Corporation Cutting machine
DE102005057172B4 (de) * 2004-11-30 2018-02-15 Disco Corp. Schneidmaschine
JP2007080897A (ja) * 2005-09-12 2007-03-29 Disco Abrasive Syst Ltd 切削装置および加工方法
JP2007081317A (ja) * 2005-09-16 2007-03-29 Disco Abrasive Syst Ltd 切削装置
JP2008112884A (ja) * 2006-10-31 2008-05-15 Disco Abrasive Syst Ltd ウエーハの加工方法
JP5464421B2 (ja) * 2007-08-31 2014-04-09 株式会社東京精密 ダイシング装置及びダイシング方法
TWI451955B (zh) * 2007-12-21 2014-09-11 Tokyo Seimitsu Co Ltd 切割裝置及切割方法
TWI450805B (zh) * 2007-12-21 2014-09-01 Tokyo Seimitsu Co Ltd 切割裝置及切割方法
JP2011527947A (ja) * 2008-04-14 2011-11-10 ロッコ・ベンチャーズ・プライベイト・リミテッド 一体型回路の切断装置及びその方法
JP2011520256A (ja) * 2008-05-02 2011-07-14 ロッコ・ベンチャーズ・プライベイト・リミテッド 複数基板の処理装置及びその方法
JP2010062435A (ja) * 2008-09-05 2010-03-18 Tokyo Seimitsu Co Ltd ダイシング方法及びダイシング装置
JP2010272842A (ja) * 2009-04-24 2010-12-02 Tokyo Seimitsu Co Ltd ダイシング装置、ダイシング装置ユニット及びダイシング方法
KR101567908B1 (ko) 2009-04-24 2015-11-10 가부시키가이샤 토쿄 세이미쯔 다이싱 장치, 다이싱 장치 유닛 및 다이싱 방법
CN102110587A (zh) * 2009-11-12 2011-06-29 株式会社迪思科 切削刀片的消耗量管理方法
JP2011146593A (ja) * 2010-01-15 2011-07-28 Tokyo Seimitsu Co Ltd ダイシング装置
JP2014161963A (ja) * 2013-02-26 2014-09-08 Disco Abrasive Syst Ltd 切削装置
JP2014161964A (ja) * 2013-02-26 2014-09-08 Disco Abrasive Syst Ltd 切削装置
JP2019149541A (ja) * 2018-02-27 2019-09-05 株式会社東京精密 レーザダイシング装置
JP7218494B2 (ja) 2018-02-27 2023-02-07 株式会社東京精密 レーザダイシング装置

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