JP2003091931A

JP2003091931A - 信号再生ブロック

Info

Publication number: JP2003091931A
Application number: JP2001280960A
Authority: JP
Inventors: Hirokuni Fujiyama; 博邦藤山; Takashi Morie; 隆史森江
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 2001-09-17
Filing date: 2001-09-17
Publication date: 2003-03-28
Also published as: US6784654B2; US20030052698A1

Abstract

(57)【要約】【課題】ＤＶＤ再生装置の信号再生ブロックに、該信
号再生ブロックに組み込まれたＬＰＦ２の群遅延特性測
定時の特性情報信号を外部に出力するための出力信号線
を付加するに当り、そのような出力信号線の寄生効果に
よる再生処理時の信号劣化を招かないようにする。【解決手段】出力信号線２１０をＡ／Ｄ変換器４の出
力側に配置し、出力信号線の寄生効果による再生処理時
のアナログ信号の劣化を回避する。また、特性情報信号
はＡ／Ｄ変換器４によりデジタル信号に変換されて出力
されるので、特性情報信号の劣化が回避されて測定精度
の向上が図れる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＤＶＤ再生装置な
どのディスク装置において光ディスクなどのディスクか
ら読み出されたデータの信号を再生処理するようにした
信号再生ブロックに関し、特に信号再生ブロックに組み
込まれているフィルタの特性測定時の特性情報信号の出
力機能を付加する際に、信号再生処理への悪影響を回避
する対策に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、低域通過フィルタ（以下、ＬＰ
Ｆと表記）が組み込まれた回路チップでは、図７に示す
ように、入力信号は、信号線５０１を経由して可変利得
増幅器５１（以下、ＶＧＡと表記）に入力され、このＶ
ＧＡ５１においてゲイン調整された後、信号線５０２を
経由してＬＰＦ５２に入力される。そして、フィルタ特
性の測定時には、ＬＰＦ５２にテスト信号を入力して得
られる特性情報信号は、信号線６０１を経由してバッフ
ァ６１に入力され、このバッファ６１において駆動能力
が高められた後に、信号線６０２を経由して回路チップ
の外部に取り出されるようになっており、外部では、測
定器を用いて、ゲイン，位相，群遅延といったＬＰＦ５
２の特性が測定されることとなる。

【０００３】ここで、上記のようにフィルタが組み込ま
れたものの具体例として、ＤＶＤ再生装置などのディス
ク装置において、ディスクに書き込まれたデータを読み
出してその信号を再生するようにしたディスク装置の信
号再生ブロックがある。

【０００４】この信号再生ブロックにおける信号再生時
の処理について説明すると、ディスクから読み取られた
データのアナログ信号は、プリアンプにより増幅された
後、図８に示すように、信号線５０１を経由してＶＧＡ
５１に入力され、ゲイン調整された後、信号線５０２を
経由してＬＰＦ５２に入力され、波形等化が行われる。
このＬＰＦ５２の出力信号は、信号線５０３を経由して
Ａ／Ｄ変換器５３に送られてデジタル信号に変換された
後、信号線５０４を経由してデジタル信号処理部５４に
送られ、ここでデジタル処理による信号再生が行われた
後、信号線５０５を経由して後段のコントローラ（図示
せず）に出力されるようになっている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記回路チ
ップの例に倣って、上記の信号再生ブロックにフィルタ
特性情報信号の出力機能を付加しようとすれば、図８に
仮想線で囲まれた部分に示すように、ＬＰＦ５２とＡ／
Ｄ変換器５３との間の信号線５０３から分岐させるよう
に、該ＬＰＦ５２の特性情報信号を外部に取り出すため
の出力信号線６０１を設けるとともに、この出力信号線
６０１上にバッファ６１を設けることが考えられる。

【０００６】しかしながら、信号再生ブロックの場合に
は、出力信号線６０１により寄生効果が生じ、このこと
で、再生処理時に、信号再生処理を行うメインの信号パ
ス上の信号を劣化させて再生処理に悪影響を与えること
が懸念される。

【０００７】本発明は斯かる点に鑑みてなされたもので
あり、その主な目的は、ＤＶＤ再生装置などのディスク
装置の信号再生ブロックにフィルタ特性測定時の特性情
報信号の出力機能を付加するに当り、再生処理時に、出
力信号線の寄生効果による信号劣化を招かないように
し、もって、信号の再生処理に悪影響を与えないように
することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成すべ
く、本発明では、「再生処理を行うメインの信号パス上
の信号は、フィルタとＡ／Ｄ変換器との間ではアナログ
信号であるが、Ａ／Ｄ変換器の出力側ではデジタル信号
である」ということに着目し、そのＡ／Ｄ変換器の出力
側に、フィルタ特性情報信号を外部に出力するための出
力信号線を設け、このことで、再生処理時に、出力信号
線の寄生効果による信号の劣化を回避するようにした。

【０００９】具体的には、請求項１の発明では、アナロ
グの入力信号を波形等化するフィルタと、このフィルタ
の出力信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器と、
このＡ／Ｄ変換器の出力信号を再生するデジタル信号処
理部と、前記フィルタの特性測定時に該フィルタにテス
ト信号を入力して得られる特性情報信号を外部に出力す
るための出力信号線とを備えた信号再生ブロックを前提
としている。

【００１０】そして、前記出力信号線は、前記Ａ／Ｄ変
換器の出力側に配置されているものとする。

【００１１】上記の構成において、再生処理時に、ディ
スクから読み取られたデータの信号は、フィルタを通過
した時点では未だアナログ信号であるのに対し、Ａ／Ｄ
変換器の出力側ではデジタル信号である。このとき、フ
ィルタ特性測定時に特性情報信号を再生処理ブロックの
外部に出力するための出力信号線は、Ａ／Ｄ変換器の出
力側に位置しているので、この出力信号線の寄生効果に
起因する再生処理時の信号の劣化は回避される。

【００１２】また、特性情報信号は、Ａ／Ｄ変換器によ
りデジタル信号に変換されて出力されることになるの
で、アナログ信号のままで出力される場合に比べて劣化
が少なく、よって、その分だけ測定精度は向上する。な
お、本発明において、「フィルタ特性」とは、「発明の
実施の形態」において詳しく説明している群遅延特性の
他、ゲイン特性や位相特性などを含む。

【００１３】請求項２の発明では、請求項１の発明にお
いて、フィルタへの入力信号が、差動信号である場合
に、前記フィルタに入力されるフィルタ通過前の信号を
取り出す迂回信号線を備えているとともに、その迂回信
号線により取り出されたフィルタ通過前の信号と、フィ
ルタから出力されたフィルタ通過後の信号とが入力され
るように設けられていて、特性測定時には、フィルタ通
過前の信号とフィルタ通過後の信号とを同時にＡ／Ｄ変
換器に出力する一方、信号再生時には、フィルタ通過後
の信号のみをＡ／Ｄ変換器に出力する信号選択手段を備
えているものとする。

【００１４】上記の構成により、特性測定時には、フィ
ルタ通過前後の２つの信号のＡ／Ｄ変換処理が同時に行
われるようになる。また、信号再生時には、信号選択手
段によりフィルタ通過後の信号のみがＡ／Ｄ変換器に入
力されるので、信号再生処理に支障は生じない。なお、
この迂回信号線は、アナログ回路内に収まっていてパス
長が短いので、この迂回信号線の寄生効果による信号劣
化は、出力信号線がフィルタ出力側の信号線から分岐し
て信号再生ブロックの外部に引き出されるように配置さ
れる場合（図８参照）に比べると、実用上、無視できる
程度に小さい。

【００１５】請求項３の発明では、請求項２の発明にお
いて、出力信号線上には、Ａ／Ｄ変換器によりデジタル
信号に変換されたフィルタ通過前の信号およびフィルタ
通過後の信号から該両信号間の時間差を演算して出力す
る演算部が設けられているものとする。この構成によ
り、フィルタの遅延特性が得られることとなる。

【００１６】請求項４の発明では、請求項１の発明にお
いて、テスト信号は、単一の周波数の信号であるものと
する。なお、テスト信号の種類は、１つであってもよい
し、周波数の互いに異なる複数であってもよい。この構
成により、テスト信号が複数の周波数を持つものである
場合に比べて、精度の高い測定が容易に行われるように
なる。

【００１７】請求項５の発明では、請求項１の発明にお
いて、テスト信号を生成するテスト信号生成手段を備え
ているものとする。この構成により、信号再生ブロック
に対する外部のテスト信号生成手段は不要になる。

【００１８】請求項６の発明では、請求項５の発明にお
いて、テスト信号生成手段は、周波数の互いに異なる複
数のテスト信号を生成するように構成されているものと
する。この構成により、テスト信号生成手段にて生成さ
れるテスト信号の周波数毎のフィルタ特性が測定される
ようになる。

【００１９】請求項７の発明では、請求項６の発明にお
いて、テスト信号生成手段は、単一の周波数の基本信号
を生成する基本信号生成手段と、この基本信号生成手段
により生成された基本信号を周波数の互いに異なる複数
のテスト信号に変換する信号変換手段とを有してなるも
のとする。この構成により、請求項８の発明におけるテ
スト信号生成手段の作用は具体的に営まれる。

【００２０】請求項８の発明では、請求項７の発明にお
いて、クロック信号を生成するクロック手段を備えてい
る場合に、テスト信号生成手段の基本信号生成手段は、
そのクロック手段からなるものとする。この構成によ
り、回路面積の増大を伴うことなく、基本信号生成手段
を備えることができる。

【００２１】請求項９の発明では、請求項８の発明にお
いて、テスト信号生成手段の信号変換手段は、信号再生
ブロック本体の外部に配置されているものとする。この
構成により、信号変換手段が信号再生ブロック本体の内
部に配置されている場合に比べて、測定条件に応じたテ
スト信号の調整が容易になる。

【００２２】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を、図面
に基づいて説明する。

【００２３】（実施形態１）図１は、本発明の実施形態
１に係るＤＶＤ再生装置の信号再生ブロックの構成を示
しており、この信号再生ブロックでは、信号は差動信号
として処理されるようになされる。そして、この信号再
生ブロックには、該信号再生ブロックに組み込まれてい
るフィルタにテスト信号を入力してその群遅延特性を測
定すべく、テスト信号を生成する機能と、周波数毎の遅
延時間を演算する機能と、その遅延情報を信号再生ブロ
ックの外部に出力する機能とが付加されている。

【００２４】この信号再生ブロックには、図示は省略す
るが、ＤＶＤ再生装置の読取ブロックにおいてディスク
から読み出されたデータのアナログ信号を増幅するプリ
アンプから延びる信号線１０１が設けられており、この
信号線１０１の出力端には、前記プリアンプの出力信号
をゲイン調整するＶＧＡ１（可変利得増幅器）が設けら
れている。このＶＧＡ１の出力側には、群遅延特性の測
定対象のフィルタであって、ＶＧＡ１によりゲイン調整
された信号を波形等化するＬＰＦ２（低域通過フィル
タ）が設けられている。

【００２５】ＬＰＦ２の出力側には、信号再生ブロック
に備えられた電圧制御発信器３（以下、ＶＣＯと表記）
が生成する単一の周波数のクロック信号に基づいて、Ｌ
ＰＦ２の出力したアナログ信号のデジタル信号への変換
動作を行うＡ／Ｄ変換器４が設けられている。このＡ／
Ｄ変換器４の出力側には、再生処理時に、該Ａ／Ｄ変換
器４から信号を出力するための信号線１０２が設けられ
ており、この信号線１０２の出力端には、ＶＣＯ３のク
ロック信号に基づいてＡ／Ｄ変換器４の出力信号に対し
デジタル処理による再生動作を行うデジタル信号処理部
５が設けられている。このデジタル信号処理部５の出力
側には、該デジタル信号処理部５によりデジタル処理さ
れた信号を、ＤＶＤ再生装置の後段のブロックに向かっ
て出力するための信号線１０３が設けられている。

【００２６】そして、本実施形態では、ＬＰＦ２の群遅
延特性を測定するときに、該ＬＰＦ２に入力されるテス
ト信号を生成する信号生成手段１１が設けられている。
この信号生成手段１１は、ＶＣＯ３と、このＶＣＯ３に
信号線２０１により接続されていて、該ＶＣＯ３から出
力されたクロック信号を周波数の互いに異なる複数のテ
スト信号に変換する信号変換手段１２とからなってい
る。

【００２７】信号変換手段１２は、図２に示すように、
ＶＣＯ３からの所定周期Ｔのクロック信号を複数の周期
Ｔ，２Ｔ…，２ｎＴの信号に分周して周波数の互いに異
なる複数の信号をそれぞれ複数の信号線２０２，２０
２，…を経由して並列に出力する分周器１３と、この分
周器１３から出力された各信号をＲＣフィルタなどによ
りそれぞれ正弦波信号に変換する波形変換手段１４と、
この波形変換手段１４から複数の信号線２０３，２０
３，…を経由して出力された複数のテスト信号をそれぞ
れオンオフする複数のスイッチ１５，１５，…とを有し
てなる。スイッチ１５，１５，…には、特性測定時に複
数のテスト信号が信号変換手段１２から順次出力される
ようにそれらスイッチ１５，１５，…を順次オンに切り
換えるための選択信号が入力されるようになされてい
る。このようにして生成されたテスト信号は、信号線２
０４を経由して信号生成手段１１から出力される。

【００２８】ＶＧＡ１とＬＰＦ２との間には、信号生成
手段１１のテスト信号およびＶＧＡ１の出力信号のうち
の一方を選択して該選択した信号を出力する第１信号選
択回路２１が設けられている。この第１信号選択回路２
１は、２つの入力端と１つの出力端とを有しており、一
方の入力端には信号生成手段１１からの信号線２０４
が、また他方の入力端にはＶＧＡ１の出力端から延びる
信号線２０５がそれぞれ接続されている。第１信号選択
回路２１には、特性測定時と信号再生時とにそれぞれ出
力すべき入力信号を選択するための選択信号が入力され
るようになされており、特性測定時には、信号生成手段
１１からの入力信号を出力する一方、信号再生時には、
ＶＧＡ１からの入力信号を出力するようになっている。
この第１信号選択回路２１の出力端は、信号線２０６に
よりＬＰＦ２の入力端に接続されている。

【００２９】また、本実施形態では、第１信号選択回路
２１から出力されてＬＰＦ２に入力される信号である信
号線２０６上のフィルタ通過前の信号を取り出すように
設けられた迂回信号線２０７を備えているとともに、Ｌ
ＰＦ２とＡ／Ｄ変換器４との間には、迂回信号線２０７
により取り出されたフィルタ通過前の信号と、ＬＰＦ２
から出力されたフィルタ通過後の信号とを入力とし、特
性測定時には、フィルタ通過前の信号とフィルタ通過後
の信号とを同時にＡ／Ｄ変換器４に出力する一方、信号
再生時には、フィルタ通過後の信号のみをＡ／Ｄ変換器
４に出力するように設けられた第２信号選択回路３１を
備えている。

【００３０】具体的には、迂回信号線２０７の入力端
は、ＶＧＡ１とＬＰＦ２との間の信号線２０６に接続さ
れており、出力端は第２信号選択回路３１の入力側に続
されている。また、ＬＰＦ２と第２信号選択回路３１と
の間には、フィルタ通過後の信号を第２信号選択回路３
１に入力するための信号線２０８が設けられている。一
方、第２信号選択回路３１の出力端には、該第２信号選
択回路３１の出力信号をＡ／Ｄ変換器４に入力するため
の信号線２０９が設けられている。

【００３１】第２信号選択回路３１には、図３に示すよ
うに、該信号選択回路３１への入力信号を選択して出力
するためのスイッチ部３２が設けられている。このスイ
ッチ部３２は、迂回信号線２０７のプラス線およびマイ
ナス線がそれぞれ接続されたプラス端子およびマイナス
端子からなるフィルタ通過前信号用の入力部３３と、Ｌ
ＰＦ２からの信号線２０８のプラス線およびマイナス線
がそれぞれ接続されたプラス端子およびマイナス端子か
らなるフィルタ通過後信号用の入力部３４と、１対のプ
ラス端子およびマイナス端子からなっていて、選択した
信号を出力するための１つの出力部３５と、これら入力
部３３，３４と出力部３５との間に介設された固定接続
子３６および可動接続子３７とを有してなる。固定接続
子３６は、フィルタ通過後信号用の入力部３４のマイナ
ス端子と、出力部３５のマイナス端子とを常時接続する
ように設けられていて、フィルタ通過後の差動信号の片
側を常に出力させるようになっている。一方、可動接続
子３７の入力端は、フィルタ通過前信号用の入力部３３
のプラス端子と、フィルタ通過後信号用の入力部３４の
プラス端子とに択一的に接続されるとともに、出力端は
出力部５６のプラス端子に常に接続されていて、フィル
タ通過前の差動信号の片側と、フィルタ通過後の差動信
号の別の片側とを選択して出力させるようになってい
る。

【００３２】スイッチ部３２には、特性測定時および信
号再生時に、第２信号選択回路３１の出力信号を選択す
るための選択信号が入力するようになされており、通常
の信号処理時には、図３（ａ）に示すように、可動接続
子３７の入力端がフィルタ通過後信号用入力部３４のプ
ラス端子に接続され、これにより、フィルタ通過後の差
動信号がそのままＡ／Ｄ変換器４に出力される。一方、
特性測定時には、図３（ｂ）に示すように、可動接続子
３７の入力端がフィルタ通過前信号用入力部３３のプラ
ス端子に接続され、これにより、フィルタ通過前の差動
信号の片側と、フィルタ通過後の差動信号の片側とが同
じタイミングでＡ／Ｄ変換器４に出力されるようになっ
ている。

【００３３】Ａ／Ｄ変換器４では、該Ａ／Ｄ変換器４を
動作させるクロック信号の立上りエッジのタイミングで
もって、図４に示すように、フィルタ通過前信号および
フィルタ通過後信号をそれぞれサンプリングするととも
に、それら各サンプル点のアナログ信号値を（００…
０）から（１１…１）までの間のｎ桁の２進数のデジタ
ル信号値に変換するようになされている。ここで、ｎ
は、Ａ／Ｄ変換器４の変換精度によって決まる値であ
る。

【００３４】さらに、本実施形態では、Ａ／Ｄ変換器４
の出力側に、再生処理時にＡ／Ｄ変換器４の出力信号を
デジタル信号処理部５に入力する信号線１０２に加え、
特性測定時にＬＰＦ２の群遅延特性に関する特性情報信
号を信号再生ブロックの外部に出力するための出力信号
線２１０が設けられており、この出力信号線２１０上に
は、Ａ／Ｄ変換器４によりデジタル値に変換されたフィ
ルタ通過前の信号とフィルタ通過後の信号とから、両信
号間の時間差を演算する演算部４１が設けられている。

【００３５】演算部４１は、フィルタ通過前およびフィ
ルタ通過後の各信号において、Ａ／Ｄ変換器４から入力
された前後２つのデジタル信号値を互いに比較し、最上
位ビットの符号が前後において反転した場合にのみ、そ
れら２つデジタル信号値から線形補間によりゼロクロス
点を求めるようになされている。この場合のゼロクロス
点は、正弦波入力信号の中心電圧値に対応するデジタル
値である。図５を用いて具体的に説明すると、フィルタ
通過前信号については、２つのサンプル点Ａ，Ｂからゼ
ロクロス点Ｃが得られ、一方、フィルタ通過後信号につ
いては、２つのサンプル点Ａ’，Ｂ’からゼロクロス点
Ｃ’が得られたとすると、それら２つのゼロクロス点
Ｃ，Ｃ’の間の時間差Tdを求める。この時間差Tdがフィ
ルタ通過前信号に対するフィルタ通過後信号の遅延に対
応する。なお、演算部４１におけるデジタル処理として
は、前述の線形補間を用いる以外にも、前後２以上の複
数のサンプリングされたデジタル値を用いて波形近似を
行い、それによりゼロクロス点を求めてフィルタ通過前
後の信号間の遅延値を求めるようにしてもよい。

【００３６】次に、上記のように構成された信号再生ブ
ロックにおける、特性測定時の処理動作を説明する。

【００３７】上記の信号再生ブロックにおいて、ＶＣＯ
３から出力されたクロック信号は、信号線２０１により
信号変換手段１２の分周器１３に入力される。分周器１
３では、入力されたクロック信号を分周して周期の互い
の異なる複数の信号を生成し、それらの信号は信号線２
０３，２０３，…を経由して波形変換手段１４に入力さ
れる。波形変換手段１４では、入力された信号を該信号
と同じ周期の正弦波信号に変換する。これにより、周波
数の互いに異なる複数の正弦波のテスト信号が生成され
る。各テスト信号は、信号線２０４，２０４，…を経由
してスイッチ１５，１５，…に入力される。スイッチ１
５，１５，…は、選択信号により制御されていて該選択
信号に応じてテスト信号を順次出力する。信号変換手段
１２から出力されたテスト信号は、信号線２０４を経由
して第１信号選択回路２１に入力される。

【００３８】第１信号選択回路２１では、該第１信号選
択回路２１に入力される選択信号に応じて、信号線２０
５を経由して入力された信号、つまりディスクから読み
取られたデータの信号、および信号線２０４を経由して
入力されたテスト信号のうちの一方の信号が選択され
る。通常の信号再生処理時にはデータ信号が選択される
が、特性測定時には、テスト信号が選択される。選択さ
れた信号は、信号線２０６を経由してＬＰＦ２に、また
信号線２０６および迂回信号線２０７を経由して第２信
号選択回路３１にそれぞれ出力される。

【００３９】第２信号選択回路３１には、迂回信号線２
０７からのフィルタ通過前信号と、ＬＰＦ２からのフィ
ルタ通過後信号とが入力される。そして、この第２信号
選択回路３１では、該第２信号選択回路３１に入力され
る選択信号に応じて、フィルタ通過前の差動信号の片側
およびフィルタ通過後の差動信号の片側の何れか一方が
選択される。信号再生時には、フィルタ通過後の差動信
号の片側が選択されるが、特性測定時には、フィルタ通
過前の差動信号の片側が選択される。選択された信号
は、フィルタ通過後の差動信号の別の片側の信号と同時
にＡ／Ｄ変換器４に出力される。

【００４０】特性測定時には、Ａ／Ｄ変換器４では、フ
ィルタ通過前のテスト信号およびフィルタ通過後のテス
ト信号がデジタル値に変換され、そのデジタル値は、出
力信号線２１０を経由して演算部４１に入力される。演
算部４１では、ＬＰＦ２におけるテスト信号の遅延時間
がデジタル演算され、その演算結果は、ＬＰＦ２の群遅
延情報として出力信号線２１０により信号再生ブロック
の外部へ出力される。

【００４１】したがって、本実施形態によれば、ＤＶＤ
再生装置の信号再生ブロックに組み込まれたＬＰＦ２に
テスト信号を入力して得られる群遅延特性の情報信号を
信号再生ブロックの外部に出力するための出力信号線２
１０を付加するに当り、その出力信号線２１０を、Ａ／
Ｄ変換器４の出力側に配置するようにしたので、そのよ
うな出力信号線の寄生効果により再生処理時の信号を劣
化させるという事態を回避することができ、信号再生時
の信号処理に悪影響を与えずに済ますことができる。

【００４２】しかも、出力信号線２１０をＡ／Ｄ変換器
４の出力側に配置したことから、アナログの特性情報信
号をデジタル信号に変換して出力することができるの
で、特性情報信号の劣化を回避することができ、よっ
て、特性情報信号をアナログ信号のままで外部に出力さ
せる場合に比べて、高い精度で群遅延特性を測定するこ
とができる。

【００４３】なお、上記の実施形態では、テスト信号の
波形を正弦波とするようにしているが、テスト信号とし
ては、三角波など、種々の波形のものとすることができ
る。

【００４４】また、上記の実施形態では、テスト信号生
成手段１１を、信号再生ブロック本体の内部に配置する
ようにしているが、信号再生ブロック本体の外部に配置
してもよく、その場合には、テスト信号生成手段を、信
号波形の変換機能および周波数のコントロール機能を有
する信号発信器などで構成するようにしてもよい。

【００４５】さらに、上記の実施形態では、フィルタ特
性として、群遅延特性を測定するようにしているが、ゲ
イン特性や位相特性などを測定するようにしてもよい。

【００４６】（実施形態２）図６は、本発明の実施形態
２に係る信号再生ブロックの要部の構成を示している。
なお、実施形態１の場合と同じ部分には同じ符号を付し
て示す。

【００４７】本実施形態では、テスト信号生成手段１１
の信号変換手段１２は、図６に実線で示す信号再生ブロ
ック本体に対し、その外部に配置されている。この場
合、信号変換手段１２は、実施形態１の場合と同じ構成
の他、信号波形の変換機能および周波数のコントロール
機能を有する信号処理ＬＳＩや、それらの機能を有する
プログラムを用いたソフト的な手段であってもよい。な
お、その他の構成は実施形態１の場合と同じであるの
で、説明は省略する。

【００４８】上記のように構成された信号再生ブロック
のテスト信号生成手段１１では、群遅延特性の測定時、
ＶＣＯ３から出力されたクロック信号は、信号線２０１
を経由して信号再生ブロック本体の外部に一旦引き出さ
れ、信号変換手段１２により正弦波信号に変換されると
ともに、周波数がコントロールされる。このとき、信号
変換手段１２による処理が信号再生ブロック本体の外部
で行われるので、信号再生ブロック内では行うのが困難
な調整であっても、状況に応じて容易に行える。このよ
うにして生成されたテスト信号は、信号線２０４を経由
して信号再生ブロック本体内に引き入れられ、第１信号
選択回路２１に入力される。以下の動作は、実施形態１
の場合と同じであるので説明は省略する。

【００４９】したがって、本実施形態によれば、実施形
態１の場合と同じ効果を得ることができる他、テスト信
号生成時の状況に応じた調整を容易に行うことができ
る。

【００５０】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ＤＶＤ再生装置などのディスク装置の信号再生ブロック
に、該信号再生ブロックに組み込まれたフィルタの特性
測定時の特性情報信号を外部に出力するための出力信号
線を付加するに当り、信号再生ブロックの備えるＡ／Ｄ
変換器の出力側に配置するようにしたので、再生処理時
に、そのような出力信号線の寄生効果による信号劣化を
回避することができ、信号再生処理に悪影響を与えない
ようにすることができる。

【００５１】また、出力信号線をＡ／Ｄ変換器の出力側
に配置したことから、特性情報信号をデジタル信号に変
換して出力させることができ、よって、特性情報信号の
劣化を回避することができる結果、測定精度の向上を図
ることができるとともに、ＤＶＤ再生装置の信号再生ブ
ロックのようにアナログ部およびデジタル部が混載され
てなるシステムＬＳＩの場合には、その評価を容易なも
のにすることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施形態１に係る信号再生ブロックの
全体構成を示す回路図である。

【図２】テスト信号生成手段の構成を示す回路図であ
る。

【図３】第１信号選択回路における再生処理時（ａ）お
よび特性測定時（ｂ）の各動作を併せて示す回路図であ
る。

【図４】フィルタ通過前およびフィルタ通過後の各テス
ト信号に対するＡ／Ｄ変換器によるサンプリングを示す
タイミング図である。

【図５】各テスト信号のサンプル点およびゼロクロス点
を併せて示す特性図である

【図６】本発明の実施形態２に係る信号再生ブロックの
要部の構成を示す図１相当図である

【図７】フィルタの特性情報信号の出力機能が付加され
た一般の回路チップの構成を示す回路図である

【図８】ＤＶＤ再生装置の信号再生ブロックにフィルタ
特性情報信号の出力機能を付加した例を示す図１相当図
である

【符号の説明】

２低域通過フィルタ(フィルタ) ３電圧制御発信器（クロック手段，基本信号生成手
段）４Ａ／Ｄ変換器５デジタル信号処理部１１テスト信号生成手段１２信号変換手段３１第２信号選択回路（信号選択手段）４１演算部２０７迂回信号線２１０出力信号線

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続きＦターム(参考） 5C061 BB03 CC07 5D044 AB07 BC02 CC06 FG01 FG04 FG05 FG30 GK18

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】アナログの入力信号を波形等化するフィ
ルタと、該フィルタの出力信号をデジタル信号に変換す
るＡ／Ｄ変換器と、該Ａ／Ｄ変換器の出力信号を再生す
るデジタル信号処理部と、前記フィルタの特性測定時に
該フィルタにテスト信号を入力して得られる特性情報信
号を外部に出力するための出力信号線とを備えた信号再
生ブロックであって、前記出力信号線は、前記Ａ／Ｄ変換器の出力側に配置さ
れていることを特徴とする信号再生ブロック。
【請求項２】請求項１記載の信号再生ブロックにおい
て、フィルタへの入力信号は、差動信号であり、前記フィルタに入力されるフィルタ通過前の信号を取り
出す迂回信号線を備えているとともに、前記迂回信号線
により取り出されたフィルタ通過前の信号と、前記フィ
ルタから出力されたフィルタ通過後の信号とが入力され
るように設けられ、特性測定時には、前記フィルタ通過
前の信号と前記フィルタ通過後の信号とを同時にＡ／Ｄ
変換器に出力する一方、信号再生時には、前記フィルタ
通過後の信号のみをＡ／Ｄ変換器に出力する信号選択手
段を備えていることを特徴とする信号再生ブロック。
【請求項３】請求項２記載の信号再生ブロックにおい
て、出力信号線上に、Ａ／Ｄ変換器によりデジタル信号に変
換されたフィルタ通過前の信号およびフィルタ通過後の
信号から該両信号間の時間差を演算する演算部が設けら
れていることを特徴とする信号再生ブロック。
【請求項４】請求項１記載の信号再生ブロックにおい
て、テスト信号は、単一の周波数の信号であることを特徴と
する信号再生ブロック。
【請求項５】請求項１記載の信号再生ブロックにおい
て、テスト信号を生成するテスト信号生成手段を備えている
ことを特徴とする信号再生ブロック。
【請求項６】請求項５記載の信号再生ブロックにおい
て、テスト信号生成手段は、周波数の互いに異なる複数のテ
スト信号を生成するように構成されていることを特徴と
する信号再生ブロック。
【請求項７】請求項６記載の信号再生ブロックにおい
て、テスト信号生成手段は、単一の周波数の基本信号を生成
する基本信号生成手段と、該基本信号生成手段により生
成された基本信号を周波数の互いに異なる複数のテスト
信号に変換する信号変換手段とを有してなることを特徴
とする信号再生ブロック。
【請求項８】請求項７記載の信号再生ブロックにおい
て、クロック信号を生成するクロック手段を備え、テスト信号発生手段の基本信号生成手段は、前記クロッ
ク手段からなることを特徴とする信号再生ブロック。
【請求項９】請求項８記載の信号再生ブロックにおい
て、テスト信号生成手段の信号変換手段は、信号再生ブロッ
ク本体の外部に配置されていることを特徴とする信号再
生ブロック。