JPH09170953A - 測温抵抗体回路 - Google Patents
測温抵抗体回路Info
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- JPH09170953A JPH09170953A JP33160195A JP33160195A JPH09170953A JP H09170953 A JPH09170953 A JP H09170953A JP 33160195 A JP33160195 A JP 33160195A JP 33160195 A JP33160195 A JP 33160195A JP H09170953 A JPH09170953 A JP H09170953A
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- terminals
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ターミナルを増設若しくは減少した場合に発
生する配線抵抗による誤差の影響を軽減した測温抵抗体
回路を提供する。 【解決手段】 ３端子Ａ，Ｂ，ｂを有する測温抵抗体Ｒ
ｔの複数個が並列に接続されたターミナルと、前記測温
抵抗体Ｒｔのそれぞれの端子Ａに共通に接続された電流
源と、前記ｂ端子に接続される一方の配線が第１スイッ
チを介して演算回路に接続され、他方の端子が第２スイ
ッチを介して演算回路及び抵抗値が既知の基準抵抗Ｒｃ
を介して共通電位点に接続された測温抵抗体回路におい
て、前記ターミナルの一つを主ターミナルとして複数個
の従ターミナルを増減させる際は、前記従ターミナルの
ｂ端子と前記第１スイッチと演算回路の間を結ぶ配線間
に第３スイッチを設け、前記第１スイッチと第３スイッ
チをスキャニングのタイミングに合わせて切換えるよう
にした。
生する配線抵抗による誤差の影響を軽減した測温抵抗体
回路を提供する。 【解決手段】 ３端子Ａ，Ｂ，ｂを有する測温抵抗体Ｒ
ｔの複数個が並列に接続されたターミナルと、前記測温
抵抗体Ｒｔのそれぞれの端子Ａに共通に接続された電流
源と、前記ｂ端子に接続される一方の配線が第１スイッ
チを介して演算回路に接続され、他方の端子が第２スイ
ッチを介して演算回路及び抵抗値が既知の基準抵抗Ｒｃ
を介して共通電位点に接続された測温抵抗体回路におい
て、前記ターミナルの一つを主ターミナルとして複数個
の従ターミナルを増減させる際は、前記従ターミナルの
ｂ端子と前記第１スイッチと演算回路の間を結ぶ配線間
に第３スイッチを設け、前記第１スイッチと第３スイッ
チをスキャニングのタイミングに合わせて切換えるよう
にした。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、測温抵抗体回路に関す
るものであり、更に詳しくはターミナルを増設若しくは
減少した場合に発生する基板上の配線抵抗による誤差の
影響を軽減した測温抵抗体回路に関するものである。
るものであり、更に詳しくはターミナルを増設若しくは
減少した場合に発生する基板上の配線抵抗による誤差の
影響を軽減した測温抵抗体回路に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図３は従来の測温抵抗体回路において、
配線抵抗体Ｒｔのリード線の影響を除去した要部を示す
回路図である。図において、Ｒｔは３端子Ａ，Ｂ，ｂを
有する測温抵抗体であり、端子Ａには基準電流Ｉを加え
る定電流源ＣＳが接続され、端子ｂは基準抵抗Ｒｃを介
して共通電位点に接続されている。
配線抵抗体Ｒｔのリード線の影響を除去した要部を示す
回路図である。図において、Ｒｔは３端子Ａ，Ｂ，ｂを
有する測温抵抗体であり、端子Ａには基準電流Ｉを加え
る定電流源ＣＳが接続され、端子ｂは基準抵抗Ｒｃを介
して共通電位点に接続されている。
【０００３】ＯＰ1〜ＯＰ3はそれぞれ演算増幅器であ
る。これらの増幅器のうちＯＰ1の非反転入力端子には
測温抵抗体Ｒｔの端子Ａが接続され、反転入力端子には
抵抗Ｒ 1を介して測温抵抗体Ｒｔの端子ｂが接続される
とともに抵抗Ｒ3を介して演算増幅器ＯＰ1の出力端子が
接続されている。演算増幅器ＯＰ2の非反転入力端子に
は測温抵抗体Ｒｔの端子ｂが接続され、反転入力端子に
は抵抗Ｒ2を介して測温抵抗体Ｒｔの端子ｂが接続され
るとともに抵抗Ｒ4を介して演算増幅器ＯＰ2の出力端子
が接続されている。
る。これらの増幅器のうちＯＰ1の非反転入力端子には
測温抵抗体Ｒｔの端子Ａが接続され、反転入力端子には
抵抗Ｒ 1を介して測温抵抗体Ｒｔの端子ｂが接続される
とともに抵抗Ｒ3を介して演算増幅器ＯＰ1の出力端子が
接続されている。演算増幅器ＯＰ2の非反転入力端子に
は測温抵抗体Ｒｔの端子ｂが接続され、反転入力端子に
は抵抗Ｒ2を介して測温抵抗体Ｒｔの端子ｂが接続され
るとともに抵抗Ｒ4を介して演算増幅器ＯＰ2の出力端子
が接続されている。
【０００４】演算増幅器ＯＰ3の非反転入力端子には測
温抵抗体Ｒｔの端子Ｂが接続され、反転入力端子には抵
抗Ｒ5を介して演算増幅器ＯＰ1の出力端子が接続される
とともに抵抗Ｒ6を介して演算増幅器ＯＰ2の出力端子が
接続されている。更にこの演算増幅器ＯＰ3の反転入力
端子には抵抗Ｒ7を介して演算増幅器ＯＰ3の出力端子が
接続されるとともに、このＯＰ3の出力端子には出力端
子Ｅoutが接続されている。
温抵抗体Ｒｔの端子Ｂが接続され、反転入力端子には抵
抗Ｒ5を介して演算増幅器ＯＰ1の出力端子が接続される
とともに抵抗Ｒ6を介して演算増幅器ＯＰ2の出力端子が
接続されている。更にこの演算増幅器ＯＰ3の反転入力
端子には抵抗Ｒ7を介して演算増幅器ＯＰ3の出力端子が
接続されるとともに、このＯＰ3の出力端子には出力端
子Ｅoutが接続されている。
【０００５】このような構成において、Ｒ1＝Ｒ2＝Ｒa
とし、Ｒ3＝Ｒ4＝Ｒbとして抵抗値ｒの影響を除去出来
る条件を求めることにより、 Ｒb＝Ｒa＋２Ｒc になり、例えばＲc＝１００とすると、一例としてＲ1＝
Ｒ2＝９．８ｋΩ、Ｒ3＝Ｒ4＝Ｒ5＝Ｒ6＝１０ｋΩが求
められる。なお、Ｒ7＝５ｋΩとする。その場合の出力
電圧Ｅoutは、 Ｅout＝Ｉ（Ｒt−Ｒc） となり、測温抵抗体Ｒｔのリード線の抵抗値ｒの影響を
除去することが出来る。
とし、Ｒ3＝Ｒ4＝Ｒbとして抵抗値ｒの影響を除去出来
る条件を求めることにより、 Ｒb＝Ｒa＋２Ｒc になり、例えばＲc＝１００とすると、一例としてＲ1＝
Ｒ2＝９．８ｋΩ、Ｒ3＝Ｒ4＝Ｒ5＝Ｒ6＝１０ｋΩが求
められる。なお、Ｒ7＝５ｋΩとする。その場合の出力
電圧Ｅoutは、 Ｅout＝Ｉ（Ｒt−Ｒc） となり、測温抵抗体Ｒｔのリード線の抵抗値ｒの影響を
除去することが出来る。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところで、記録装置等
で測温抵抗体回路を用いて複数点の測定を行うような場
合、ターミナルは１０チャンネル程度が１つのターミナ
ルに組み込まれており、測定対象の数によって例えば一
台の測定装置に１〜３個のターミナルが取付可能とされ
ている。このような記録装置が工場から出荷される場
合、はじめの測定チャンネル仕様が１０チャンネル以下
の場合は１つのターミナルが取付られ、１１〜２０チャ
ンネルの測定を行う場合は２つのターミナルが、２１〜
３０チャンネルの測定を行う場合は３つのターミナルが
取付られる。
で測温抵抗体回路を用いて複数点の測定を行うような場
合、ターミナルは１０チャンネル程度が１つのターミナ
ルに組み込まれており、測定対象の数によって例えば一
台の測定装置に１〜３個のターミナルが取付可能とされ
ている。このような記録装置が工場から出荷される場
合、はじめの測定チャンネル仕様が１０チャンネル以下
の場合は１つのターミナルが取付られ、１１〜２０チャ
ンネルの測定を行う場合は２つのターミナルが、２１〜
３０チャンネルの測定を行う場合は３つのターミナルが
取付られる。
【０００７】図４は１〜２０チャンネルの測定仕様の場
合の従来の要部結線例を示すものであり、矢印で示す部
分を境にして主及び従の２つのターミナルが取付られて
いるものとする。なお、図３で示す従来例と同一要素に
は同一符号を付している。また、演算回路１１はターミ
ナルの増減を認識する機能を有しており、取付けられた
ターミナルに応じて入力スキャナ１２のスキャニングを
行うようなプログラムが格納されているものとする。
合の従来の要部結線例を示すものであり、矢印で示す部
分を境にして主及び従の２つのターミナルが取付られて
いるものとする。なお、図３で示す従来例と同一要素に
は同一符号を付している。また、演算回路１１はターミ
ナルの増減を認識する機能を有しており、取付けられた
ターミナルに応じて入力スキャナ１２のスキャニングを
行うようなプログラムが格納されているものとする。
【０００８】１３は各測温抵抗体のｂ端子に接続された
配線であり、その配線抵抗値は無視出来るものとする。
ＳＷ1は第１スイッチで、一端は演算回路に接続され、
他端は測温抵抗体Ｒｔのｂ端子に接続されている。ＳＷ
2は第２スイッチで、一端は演算回路及び共通電位点に
接続され、他端は測温抵抗体Ｒｔのｂ端子に接続されて
いる。
配線であり、その配線抵抗値は無視出来るものとする。
ＳＷ1は第１スイッチで、一端は演算回路に接続され、
他端は測温抵抗体Ｒｔのｂ端子に接続されている。ＳＷ
2は第２スイッチで、一端は演算回路及び共通電位点に
接続され、他端は測温抵抗体Ｒｔのｂ端子に接続されて
いる。
【０００９】そして、測定チャンネルが１チャンネル〜
１０チャンネルであれば図３で説明したように各測温抵
抗体Ｒｔのリード線の抵抗値ｒの影響は除去される。そ
して、出荷時の校正ではＲｔの基準値を入力して、その
校正値を装置に内蔵されたＥＥＰＲＯＭに書き込んで出
荷している。
１０チャンネルであれば図３で説明したように各測温抵
抗体Ｒｔのリード線の抵抗値ｒの影響は除去される。そ
して、出荷時の校正ではＲｔの基準値を入力して、その
校正値を装置に内蔵されたＥＥＰＲＯＭに書き込んで出
荷している。
【００１０】次に図示の様に１１〜２０チャンネル測定
のために従ターミナルを組みつけた場合は、共通電位点
から流入する電流Ｉは接点ｅにおいて、増設した従ター
ミナルのｂ’端子を経て流れる電流Ｉ1と主ターミナル
のｂ端子側に流れる電流Ｉ2に分岐して流れることにな
る。図５（ａ），（ｂ）はｂ端子のみに着目した場合の
電流Ｉの流れを示すもので（ａ）図は（ｂ）の様に展開
することができる。
のために従ターミナルを組みつけた場合は、共通電位点
から流入する電流Ｉは接点ｅにおいて、増設した従ター
ミナルのｂ’端子を経て流れる電流Ｉ1と主ターミナル
のｂ端子側に流れる電流Ｉ2に分岐して流れることにな
る。図５（ａ），（ｂ）はｂ端子のみに着目した場合の
電流Ｉの流れを示すもので（ａ）図は（ｂ）の様に展開
することができる。
【００１１】即ち、共通電位点−ｂ端子間の電流経路は
従ターミナルのｂ’端子からの配線が接続されたｅ点で
２系路となる。その結果、１〜１０チャンネルの場合は
ｂ端子の電位に基づいて測定を行っていたものが、１１
〜２０チャンネルの従ターミナルを増設したことにより
Ｖｂ1点の電位（Ｖｂ1＝ｒ3-1・Ｉ＋ｒ2-1・Ｉ）により
演算が行われる。従って主ターミナルだけの場合と従タ
ーミナルを増設した場合では校正値が異なったものとな
り、２１〜３０チャンネルの測定をするために従ターミ
ナルをもう一つ増設し合計３個のターミナルとした場合
も３個めのリード線の抵抗が加わるので異なった校正値
となる。これらの校正値は工場出荷の段階で１〜３ター
ミナルの仕様に合わせた校正値がＥＥＰＲＯＭに書き込
んで出荷される。
従ターミナルのｂ’端子からの配線が接続されたｅ点で
２系路となる。その結果、１〜１０チャンネルの場合は
ｂ端子の電位に基づいて測定を行っていたものが、１１
〜２０チャンネルの従ターミナルを増設したことにより
Ｖｂ1点の電位（Ｖｂ1＝ｒ3-1・Ｉ＋ｒ2-1・Ｉ）により
演算が行われる。従って主ターミナルだけの場合と従タ
ーミナルを増設した場合では校正値が異なったものとな
り、２１〜３０チャンネルの測定をするために従ターミ
ナルをもう一つ増設し合計３個のターミナルとした場合
も３個めのリード線の抵抗が加わるので異なった校正値
となる。これらの校正値は工場出荷の段階で１〜３ター
ミナルの仕様に合わせた校正値がＥＥＰＲＯＭに書き込
んで出荷される。
【００１２】ところで、記録装置に接続される測定チャ
ンネルの数ははじめの仕様に限定されず、実際の使用時
には測定点の数によってターミナルの数が増減されるこ
とがある。例えば、はじめの仕様が３０チャンネルで実
際の使用時には２０チャンネルになった場合、従ターミ
ナルを一つ取外すことが行われるが、その様な場合も共
通電位点から流れる電流経路が変わるのでｂ点の電位や
前述のＶｂ1点の電位が変わって校正値とのずれを生じ
測定誤差となる。本発明はターミナルの増減があっても
測定誤差の生じない測温抵抗体回路を実現することを目
的とする。
ンネルの数ははじめの仕様に限定されず、実際の使用時
には測定点の数によってターミナルの数が増減されるこ
とがある。例えば、はじめの仕様が３０チャンネルで実
際の使用時には２０チャンネルになった場合、従ターミ
ナルを一つ取外すことが行われるが、その様な場合も共
通電位点から流れる電流経路が変わるのでｂ点の電位や
前述のＶｂ1点の電位が変わって校正値とのずれを生じ
測定誤差となる。本発明はターミナルの増減があっても
測定誤差の生じない測温抵抗体回路を実現することを目
的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明は、３端子Ａ，Ｂ，ｂを有する測温抵抗体Ｒｔ
の複数個が並列に接続されたターミナルと、前記測温抵
抗体Ｒｔのそれぞれの端子Ａに共通に接続された電流源
と、前記ｂ端子に接続される一方の配線が第１スイッチ
を介して演算回路に接続され、他方の端子が第２スイッ
チを介して演算回路及び抵抗値が既知の基準抵抗Ｒｃを
介して共通電位点に接続された測温抵抗体回路におい
て、前記ターミナルの一つを主ターミナルとして複数個
の従ターミナルを増減させる際は、前記従ターミナルの
ｂ端子と前記第１スイッチと演算回路の間を結ぶ配線間
に第３スイッチを設け、前記第１スイッチと第３スイッ
チをスキャニングのタイミングに合わせて切換えるよう
にしたことを特徴とするものである。
に本発明は、３端子Ａ，Ｂ，ｂを有する測温抵抗体Ｒｔ
の複数個が並列に接続されたターミナルと、前記測温抵
抗体Ｒｔのそれぞれの端子Ａに共通に接続された電流源
と、前記ｂ端子に接続される一方の配線が第１スイッチ
を介して演算回路に接続され、他方の端子が第２スイッ
チを介して演算回路及び抵抗値が既知の基準抵抗Ｒｃを
介して共通電位点に接続された測温抵抗体回路におい
て、前記ターミナルの一つを主ターミナルとして複数個
の従ターミナルを増減させる際は、前記従ターミナルの
ｂ端子と前記第１スイッチと演算回路の間を結ぶ配線間
に第３スイッチを設け、前記第１スイッチと第３スイッ
チをスキャニングのタイミングに合わせて切換えるよう
にしたことを特徴とするものである。
【００１４】
【作用】ターミナル毎にｂ端子に設けられた第１スイッ
チはスキャニングのタイミングに合わせて切換えられ
る。従ってターミナルのｂ端子はそれぞれ独立に機能す
ることになりターミナルの増減によるリード線抵抗の増
減の影響を受けない。以下、実施例に基づき詳細に説明
する。
チはスキャニングのタイミングに合わせて切換えられ
る。従ってターミナルのｂ端子はそれぞれ独立に機能す
ることになりターミナルの増減によるリード線抵抗の増
減の影響を受けない。以下、実施例に基づき詳細に説明
する。
【００１５】
【発明の実施の形態】図１は本発明の測温抵抗体回路の
概要の構成を示す構成図である。図１において、図４の
従来例と異なる部分は、従来は従ターミナルのｂ’端子
と第１スイッチＳＷ1とｂ端子の間を接続していた配線
を、演算回路と第１スイッチ間とｂ’端子を結ぶ配線と
し、その配線間に第３スイッチＳＷ3を設けたものであ
る。
概要の構成を示す構成図である。図１において、図４の
従来例と異なる部分は、従来は従ターミナルのｂ’端子
と第１スイッチＳＷ1とｂ端子の間を接続していた配線
を、演算回路と第１スイッチ間とｂ’端子を結ぶ配線と
し、その配線間に第３スイッチＳＷ3を設けたものであ
る。
【００１６】上記の構成において、演算回路１１は１〜
１０チャンネルのスキャニングを行っているときは、Ｓ
Ｗ1，ＳＷ2をオンとしＳＷ3はオフとして信号を取り込
み、１１〜２０チャンネルのスキャニングを行っている
ときは、ＳＷ1をオフＳＷ2，ＳＷ3をオンとして信号を
取り込む。
１０チャンネルのスキャニングを行っているときは、Ｓ
Ｗ1，ＳＷ2をオンとしＳＷ3はオフとして信号を取り込
み、１１〜２０チャンネルのスキャニングを行っている
ときは、ＳＷ1をオフＳＷ2，ＳＷ3をオンとして信号を
取り込む。
【００１７】図２はｂ端子のみに着目した場合にＳＷ1
をオフＳＷ2，ＳＷ3をオンとして１１〜２０チャンネル
の信号を取り込んでいる状態を示している。即ち共通電
位点からの流入電流はｅ点で分岐せずにｂ’端子側のみ
に流れることになる。このことは各ターミナルが独立
し、ターミナル毎に図３で説明した従来例と同様な動作
をすることになり、ターミナルの増減にかかわらず主タ
ーミナルだけで校正した値をそのまま使用できることと
なる。なお、実施例では主，従２つのターミナルを用い
た場合について説明したがターミナルの数は装置の処理
能力に応じて更に増減することができる。
をオフＳＷ2，ＳＷ3をオンとして１１〜２０チャンネル
の信号を取り込んでいる状態を示している。即ち共通電
位点からの流入電流はｅ点で分岐せずにｂ’端子側のみ
に流れることになる。このことは各ターミナルが独立
し、ターミナル毎に図３で説明した従来例と同様な動作
をすることになり、ターミナルの増減にかかわらず主タ
ーミナルだけで校正した値をそのまま使用できることと
なる。なお、実施例では主，従２つのターミナルを用い
た場合について説明したがターミナルの数は装置の処理
能力に応じて更に増減することができる。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、タ
ーミナルの一つを主ターミナルとして複数個の従ターミ
ナルを増減させるに際し、従ターミナルのｂ端子と第１
スイッチと演算回路の間を結ぶ配線間に第３スイッチを
設け、第１スイッチと第３スイッチをスキャニングのタ
イミングに合わせて切換えるようにしたので、ターミナ
ルを増設若しくは減少した場合に発生する配線抵抗によ
る誤差の影響を軽減した測温抵抗体回路を実現すること
ができる。
ーミナルの一つを主ターミナルとして複数個の従ターミ
ナルを増減させるに際し、従ターミナルのｂ端子と第１
スイッチと演算回路の間を結ぶ配線間に第３スイッチを
設け、第１スイッチと第３スイッチをスキャニングのタ
イミングに合わせて切換えるようにしたので、ターミナ
ルを増設若しくは減少した場合に発生する配線抵抗によ
る誤差の影響を軽減した測温抵抗体回路を実現すること
ができる。
【図１】本発明の測温抵抗体回路の一実施例の要部構成
説明図である。
説明図である。
【図２】本発明の測温抵抗体回路のｂ端子に着目した共
通電位点からの流入電流の状態を示す図である。
通電位点からの流入電流の状態を示す図である。
【図３】配線抵抗による誤差の影響を軽減した回路の説
明図である。
明図である。
【図４】従来の測温抵抗体回路の要部構成説明図であ
る。
る。
【図５】従来の測温抵抗体回路のｂ端子に着目した共通
電位点からの流入電流の状態を示す図である。
電位点からの流入電流の状態を示す図である。
Ｒｔ 測温抵抗体 Ｒｃ 基準抵抗 ＣＳ 定電流源 ＳＷ スイッチ １１ 演算回路 １２ 入力スキャナ（リレー） １３ 低抵抗配線
Claims (1)
- 【請求項１】３端子Ａ，Ｂ，ｂを有する測温抵抗体Ｒｔ
の複数個が並列に接続されたターミナルと、 前記測温抵抗体Ｒｔのそれぞれの端子Ａに共通に接続さ
れた電流源と、 前記ｂ端子に接続される一方の配線が第１スイッチを介
して演算回路に接続され、他方の端子が第２スイッチを
介して演算回路及び抵抗値が既知の基準抵抗Ｒｃを介し
て共通電位点に接続された測温抵抗体回路において、 前記ターミナルの一つを主ターミナルとして複数個の従
ターミナルを増減させる際は、前記従ターミナルのｂ端
子と前記第１スイッチと演算回路の間を結ぶ配線間に第
３スイッチを設け、前記第１スイッチと第３スイッチを
スキャニングのタイミングに合わせて切換えるようにし
たことを特徴とする測温抵抗体回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33160195A JP3161311B2 (ja) | 1995-12-20 | 1995-12-20 | 測温抵抗体回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33160195A JP3161311B2 (ja) | 1995-12-20 | 1995-12-20 | 測温抵抗体回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09170953A true JPH09170953A (ja) | 1997-06-30 |
| JP3161311B2 JP3161311B2 (ja) | 2001-04-25 |
Family
ID=18245484
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33160195A Expired - Fee Related JP3161311B2 (ja) | 1995-12-20 | 1995-12-20 | 測温抵抗体回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3161311B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008268135A (ja) * | 2007-04-24 | 2008-11-06 | Matsushita Electric Works Ltd | 赤外線検出装置 |
| JP2008268134A (ja) * | 2007-04-24 | 2008-11-06 | Matsushita Electric Works Ltd | 赤外線検出装置 |
| KR20140044573A (ko) * | 2012-10-05 | 2014-04-15 | 엘에스산전 주식회사 | 정전류원을 이용하는 다채널 저항 계측 장치 |
-
1995
- 1995-12-20 JP JP33160195A patent/JP3161311B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008268135A (ja) * | 2007-04-24 | 2008-11-06 | Matsushita Electric Works Ltd | 赤外線検出装置 |
| JP2008268134A (ja) * | 2007-04-24 | 2008-11-06 | Matsushita Electric Works Ltd | 赤外線検出装置 |
| KR20140044573A (ko) * | 2012-10-05 | 2014-04-15 | 엘에스산전 주식회사 | 정전류원을 이용하는 다채널 저항 계측 장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3161311B2 (ja) | 2001-04-25 |
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Legal Events
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