JP2002343462A - 異方導電性シート、その製造方法、接点構造体、電子装置及び動作試験用検査装置 - Google Patents

異方導電性シート、その製造方法、接点構造体、電子装置及び動作試験用検査装置

Info

Publication number
JP2002343462A
JP2002343462A JP2001140497A JP2001140497A JP2002343462A JP 2002343462 A JP2002343462 A JP 2002343462A JP 2001140497 A JP2001140497 A JP 2001140497A JP 2001140497 A JP2001140497 A JP 2001140497A JP 2002343462 A JP2002343462 A JP 2002343462A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
conductive
base material
anisotropic conductive
conductive sheet
conductive path
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001140497A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3616031B2 (ja
Inventor
Takafumi Hataya
隆文 端谷
Shigeyuki Maruyama
茂幸 丸山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP2001140497A priority Critical patent/JP3616031B2/ja
Priority to US10/141,778 priority patent/US7267559B2/en
Publication of JP2002343462A publication Critical patent/JP2002343462A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3616031B2 publication Critical patent/JP3616031B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06755Material aspects
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07364Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
    • G01R1/07378Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate adapter, e.g. space transformers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R3/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture or maintenance of measuring instruments, e.g. of probe tips

Abstract

(57)【要約】 【課題】 寿命が長く、狭いピッチにも対応でき、所要
の電気的接続を達成でき、回路装置等の汚染を引き起こ
すことがない異方導電性シートを提供すること。 【解決手段】 絶縁性の基材と、その基材を厚さ方向に
貫通して埋め込まれた導電性の弾性材料からなる導電路
とを含む異方導電性シートにおいて、硬化後に所定のゴ
ム弾性を呈示し得る導電性の樹脂様材料からなる弾性材
料で導電路を構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、接点構造体に関
し、さらに詳しく述べると、LSIに代表される電子部
品などの電気的接続に用いられるコンタクト接点構造
体、換言すると、コンタクタに関する。特に、本発明
は、電子部品などの回路装置相互間の電気的接続におい
て、あるいはプリント回路基板、半導体集積回路などの
回路装置の動作の確認のための検査装置においてコンタ
クタとして使用される異方導電性シートとその製造方法
に関する。本発明はまた、かかる導電性シートを組み込
んだ電子装置及び動作試験用検査装置に関する。なお、
本願明細書では、本願発明の説明のためにしばしばLS
Iなる語を使用するが、LSIは、特に断らない限り、
LSI、VLSI等に代表される各種の電子部品はもち
ろんのこと、本発明の実施に有用なその他の部品や素子
などを意味する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体基板などの製造技術の発展
がめざましく、それに伴いLSI配線の微細パターン
化、LSI端子数の増加と端子の微細化が著しい勢いで
進んでいる。また、LSIの使用形態も、小型化・高密
度実装化の要求が強くなっている。このことは、例え
ば、小型で高性能が要求される携帯機器、例えば携帯電
話、PHS、モバイルパソコン、ビデオ一体型カメラ等
や、高機能電算機(高速での動作を保証するため、隣接
するLSIとの距離を極小化する必要があるもの)が急
増し、広く市場に出回っていることから、容易に理解す
ることができるであろう。
【0003】また、LSIの出荷形態も、上述のような
最近の傾向にあわせて変化しつつある。すなわち、LS
Iを、パッケージされていない状態で、すなわち、LS
Iチップのままの状態で、しかしパッケージ品と同等で
あることを機能保証した後に、出荷することが着目され
ている。実際に、LSIを、KGD(Known Good Die)
として、あるいはLSIチップサイズと同等の外形を有
する小型パッケージであるCSP(Chip Size Packag
e)として出荷することに対しての要求が急増しつつあ
る。
【0004】上述のような背景があるので、LSIの動
作や品質を試験するため、LSIに備えられた多ピンの
微細化された端子に確実にコンタクトできる接続構造体
(コンタクタ)の供給が不可欠となっている。さらに、
LSI試験の効率化の観点から、LSIを個々のチップ
に切り離さないで、LSIウエハの状態のままで、すべ
てのLSIを一括して試験(FT:Final Testあるいは
BI:Burn In)する必要性が強まっている。ウエハ状
態ですべてのLSIを一括して試験すると、例えば、次
のような効果が期待できるからである。 1.ハンドリング効率の向上 チップサイズが異なると、ハンドリング設備の汎用性が
なくなるが、ウエハなら、標準化された外形サイズで一
括搬送が可能となる。 2.不良情報を、ウエハマップで管理できる。
【0005】さらに加えて、近年において開発・発表が
進んでいるウエハレベルCSPは、ウエハプロセスから
最終的な組み立て工程(パッケージングプロセス)まで
ウエハ一括で実施できるので、もしもウエハ状態での試
験が可能となれば、工程のより一層の効率化が期待でき
る。しかしながら、前述したように個々のLSIが微細
端子化/多ピン化しているので、ウエハ状態のままで、
LSIの複数の端子に、できればウエハ上の全LSIの
端子に、一括でコンタクトできるコンタクタは、その実
現が非常に難しく、業界共通の解決課題となっている。
【0006】かかる課題を解決し得るコンタクタとし
て、例えば、針式のメカニカルプローブや、メンブレン
式のプローブがすでに提案されている。しかし、これら
のプローブは、共通してコストが高い他に、ピンを個々
に斜めに配置するために針先の配置や位置精度に限界が
ある(前者)、絶縁基板で連結されているために個々の
コンタクト電極が自由に動けない(後者)といった問題
を抱えている。
【0007】そこで考案されたものが、異方性導電ゴム
のシートである。すなわち、このシートは、絶縁基材に
ゴムを用い、その内部に、厚さ方向にのみ、金属粒子、
金属ワイヤ等の導通材料を組み込んだものである。例え
ば、特開昭51−93393号公報には、導電性の金属
粒子を可とう性絶縁物(エラストマー)中に、一方向に
整列させて分散させることを特徴とするエラスティック
・コンタクトシート(分散型異方導電性エラストマーシ
ート)の製造方法が開示されている。また、特開昭53
−147772号公報には、導電性磁性体粒子を絶縁性
高分子弾性体中に不均一に分布させることにより、厚み
方向に伸びる多数の導電路形成部と、これらを相互に絶
縁する絶縁部とを含む加圧導電性エラストマー(偏在型
異方導電性エラストマーシート)の製造方法が開示され
ている。さらに、特開昭61−250906号公報に
は、偏在型異方導電性エラストマーシートの改良例とし
て、導電路形成部の表面と絶縁部の表面の間に段差が形
成されていることを特徴とする導電性エラストマーシー
トが開示されている。
【0008】最近の例を見ると、特開2000−117
66号公報には、図1に模式的に示すような異方導電性
シートが開示されている。異方導電性シート50は、絶
縁体中に導電性粒子53を含有して導通部52を形成す
るとともに、導通部52以外の絶縁体部分55を、弾性
を有する絶縁体で構成するとともに、その内部に絶縁性
の粒子54を含有したことを特徴としている。
【0009】しかしながら、これらの及びその他の従来
の異方導電性エラストマーシートは、依然として改良の
余地を残している。例えば、次のような問題をかかえて
いるからである。 a)寿命が短い。 特に高温条件下で使用する場合、ゴム部が塑性変形して
しまい、1回〜数十回しか使用することができない。例
えばBI試験の場合、通常、125℃以上の高温が適用
されるので、この種の問題が顕著である。 b)狭いピッチに対応できない。
【0010】導通材料の組み込みが難しいので、導通部
間のピッチは、通常500μm程度であり、よくてもせ
いぜい、200〜150μm程度である。 c)所要の電気的接続を達成できない。 半導体集積回路の表面電極は、一般に強度に乏しいアル
ミニウムより構成されているので、その表面部分にはア
ルミニウムの酸化膜が強化目的で形成されている。この
酸化膜は強度に優れるので、シートを電極に接続する際
に、そのシートの導電路形成部によって突き破ることが
困難であり、その結果、所要の電気的接続を達成できな
い。 d)回路装置等を汚染する。
【0011】異方導電性エラストマーシートを構成する
弾性高分子物質としては、一般にシリコーンゴムが使用
されている。しかし、このシリコーンゴム中には、低分
子量のシリコーンオイルが含有されているので、例え
ば、エラストマーシートを例えば回路装置の検査に長時
間にわたって使用し続けると、シートの表面にシリコー
ンオイルがブリードアウトし、これにより、検査対象で
ある回路装置の被検査電極の表面が汚染される。その結
果、回路装置を実装する際に、ボンディングを行うこと
ができなかったり、所要の電気的接続を達成できなかっ
たりする。
【0012】このような問題を解決する試みもある。例
えば、特開2000−235877号公報は、図2に示
すように、それぞれ厚み方向に伸びる複数の弾性を有す
る導電路形成部62が、絶縁部64によって相互に絶縁
された状態で配置されてなるシート基材を有する異方導
電性シート60を開示している。この異方導電性シート
60は、導電路形成部62の上に、硬化性樹脂中に導電
性粉末が分散されてなる導電性接着層65を介して、接
点用導電材料66が一体的に設けられていることを特徴
としている。この公報では、上述の問題c)やd)も克
服できるとしている。しかし、この異方導電性シート6
0の場合、平行磁場の作用下に硬化処理を行うなど、製
造工程が複雑であるので、コスト高という新たな問題の
発生を避けることができない。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、上述
のような従来の技術の問題点を解決して、寿命が長く、
狭いピッチにも対応でき、所要の電気的接続を達成で
き、回路装置等の汚染を引き起こすことがなく、製造工
程が簡便であり、しかも低コストで製造できる異方導電
性シートを提供することにある。
【0014】本発明の目的はまた、ウエハ状態のまま
で、ウエハ上の全LSIの端子に一括でコンタクトでき
るコンタクタを提供することにある。本発明の目的は、
また、上述のような異方導電性シート及びコンタクタを
簡便な製造工程で容易にかつ安価に製造できる製造方法
を提供することにある。本発明の目的は、さらに、本発
明の異方導電性シートを実装した電子装置を提供するこ
とにある。
【0015】さらに、本発明の目的は、本発明の異方導
電性シートを組み込んだ動作を試験し、品質を評価する
ための検査装置を提供することにある。本発明の上記し
た目的やその他の目的は、以下の詳細な説明から容易に
理解できるであろう。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明は、1つの面にお
いて、絶縁性の基材と、該基材の所定の位置に、該基材
を厚さ方向に貫通して埋め込まれた導電性の弾性材料か
らなる導電路とを含む異方導電性シートであって、前記
導電路を構成する弾性材料が、硬化後に所定のゴム弾性
を呈示し得る導電性の樹脂様材料からなることを特徴と
する異方導電性シートにある。
【0017】また、本発明は、もう1つの面において、
絶縁性の基材と、該基材の所定の位置に、該基材を厚さ
方向に貫通して埋め込まれた導電性の弾性材料からなる
導電路とを含む異方導電性シートを製造するに当たっ
て、前記絶縁性の基材の所定の位置に貫通孔を加工した
後、それらの貫通孔に、硬化後に所定のゴム弾性を呈示
し得る導電性の樹脂様材料を充填して硬化させ、前記導
電路を形成することを特徴とする異方導電性シートの製
造方法にある。
【0018】さらに、本発明は、そのもう1つの面にお
いて、絶縁性の基材に厚さ方向に貫通して埋め込まれた
導電性の弾性材料からなる接点構造体であって、前記導
電性の弾性材料が、硬化後に所定のゴム弾性を呈示し得
る導電性の樹脂様材料からなり、伸縮自在であることを
特徴とする接点構造体にある。さらにまた、本発明は、
そのもう1つの面において、複数個の回路装置を重ね合
わせてなる電子装置であって、前記回路装置どうしが、
本発明の異方導電性シートを介して電気的に接続されて
いることを特徴とする電子装置にある。
【0019】さらに加えて、本発明は、そのもう1つの
面において、回路装置の動作を試験する検査装置であっ
て、本発明の異方導電性シートを備え、該異方導電性シ
ートの導電路の一方の端面に、前記回路装置の端子等が
接続され、かつその他方の端面に、回路基板及び該回路
基板に搭載されるべき被コンタクト体が接続されるよう
に構成されていることを特徴とする動作試験用検査装置
にある。
【0020】
【発明の実施の形態】本発明は、添付の図面を参照しな
がら以下において詳細に説明するように、本発明の範囲
内においていろいろな形態で実施することができる。図
3は、本発明による異方導電性シートの好ましい1形態
を模式的に示した断面図である。異方導電性シート10
は、絶縁性の基材1と、この基材1の所定の位置に形成
された導電路2とからなる。導電路2は、図示されるよ
うに、シート状の基材1の厚さ方向にその基材を貫通し
て埋め込まれた導電性の弾性材料からなる。本発明で
は、この導電路2を構成する弾性材料が、硬化後に所定
のゴム弾性を呈示し得る導電性の樹脂様材料からなるこ
とを特徴としている。なお、本発明では、この異方導電
性シート10の、特に導電路2のまわりの部分を、接点
構造体あるいはコンタクタとも言うことができる。
【0021】本発明の異方導電性シートにおいて、絶縁
性の基材は、特に限定されるものではない。かかる絶縁
性の基材は、好ましくは、絶縁性材料の成形及び必要に
応じて積層によって形成されたシート状材料から構成す
ることができる。例えば、絶縁性材料を圧延成形、カレ
ンダー成形などで所定の厚さを有するシート状材料に成
形してもよく、もしも比較的に薄いシート状材料を出発
材料として使用するならば、その必要枚数を積層して所
定の厚さを得た後、加圧、加熱等で一体化してもよい。
また、セラミックシートなどの場合は、グリーンシート
を焼成するなどして有利に製造することができる。ま
た、かかるシート状材料には、それに対して高い絶縁性
を付与するため、その表面に絶縁膜を被覆するなどの処
理を施してもよい。絶縁性の基材の厚さは、異方導電性
シートの種類や使途などに応じて広い範囲で変更し得る
というものの、通常、約10μm〜10mmの範囲であ
り、好ましくは約25μm〜3mmの範囲である。
【0022】絶縁性の基材は、異方導電性シートなどの
分野で一般的に使用されている各種の絶縁材料から形成
することができる。適当な絶縁性材料としては、以下に
列挙するものに限定されるわけではないが、絶縁性の熱
硬化性樹脂、例えばポリイミド樹脂、フッ素樹脂など、
絶縁性の熱可塑性樹脂、例えばポリエーテルエーテルケ
トン樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリエステル樹脂、ビ
ニル樹脂など、そして絶縁性のセラミック材料、例えば
シリコンなどを挙げることができる。本発明の実施にお
いては、これらの絶縁材料のなかから、絶縁性の程度、
使用する加工条件、コンタクトする条件、材料の価格な
どを考慮して、最適な絶縁材料を適宜選択することがで
きる。
【0023】本発明の異方導電性シートでは、絶縁性の
基材に、その基材によって相互に絶縁された形で、導電
路が分布せしめられる。導電路は、それがシート状の基
材にそれを貫通して埋め込まれていて、所定レベルの弾
性を示し得る限りにおいて、任意のサイズ及び分布パタ
ーンを有することができる。すなわち、導電路は、異方
導電性シートの詳細な条件に合わせて任意のサイズ及び
分布パターンで形成することができる。特に、本発明の
異方導電性シートの場合、150μm未満、特に100
μm程度の狭いピッチで導電路を形成できることも特徴
のひとつである。
【0024】導電路は、導電性の弾性材料、特に、完成
後の異方導電性シートにおいて所定のゴム弾性を呈示し
得る導電性の樹脂様材料、例えば樹脂、接着剤などから
形成される。導電路の形成に有利に使用し得る導電性の
弾性材料は、天然もしくは合成のゴム、ウレタン系材
料、シリコーン系材料などの基体(マトリクス)と、こ
の基体に所定レベルの導電性を発現し得る量で分散せし
められた導電性の充填材とからなる複合材料である。電
気的接続時などに導電路に応力が加わった時など、ゴム
弾性により、応力の適度な分散を図ることができる。
【0025】基体中に分散せしめられる充填材は、好ま
しくは、金、銀、銅、ニッケル、アルミニウム及びその
合金、カーボンならびにグラファイトなどである。これ
らの材料は、高い導電率を示し、基体にもよく混和、分
散し得るからである。また、かかる充填材は、いろいろ
な形態で使用することができるというものの、通常、粉
末状、小球状、フレーク状、針状又は樹枝状で用いられ
る。もちろん、このような充填材は、単独で使用しても
よく、2種以上を組み合わせて使用してもよい。充填材
の添加量は、所望とする導電効果などに応じて広い範囲
で変更することができるというものの、通常、基体の全
量を基準にして、約40〜95重量%の範囲である。特
に、基体のなかで充填剤どうしが良好に接触可能な量で
添加するのが好ましい。例えば、充填材が金属被覆の樹
脂粒子などからなる場合には、充填材の添加量は、40
重量%を大きく下回ることとなるであろう。
【0026】基体と充填材は、好ましくは、よく混練す
るなどしてペースト状物とした後(もちろん、必要に応
じて、その他の形態でもよい)、絶縁性の基材の所定の
位置に予め加工されてある貫通孔に充填して硬化させ、
導電路となすことができる。なお、このようにして導電
路を形成するに当たって、基体と充填材には、必要に応
じて、その他の成分、例えば結合剤などを添加してもよ
い。また、導電路の内部に微小な空間が補助的に存在す
ると、その弾性の向上に効果的に作用するので、硬化時
に分解により蒸散して微小空間を形成し得る揮発性有機
成分、例えばワックスなどを微量で添加してもよい。
【0027】本発明の異方導電性シートにおいて、導電
路は、図3に示すように、その端面が基材1の表面と同
じレベルとなるように構成してもよく、さもなければ、
導電路の長さが基材の厚さよりも大きく、したがって、
導電路の少なくとも一方の端面が、基材の表面より外側
に突き出た構造を有しているように構成してもよい。後
者の場合、導電路の突出部分が接点あるいはその他の手
段として有効に機能するであろう。
【0028】図4は、異方導電性シート10において、
導電路2の1つの端面が基材1の表面から突き出て、突
出部2aを構成している例を示したものである。なお、
図示しないが、突出部2aは、基材1の反対側の面にも
同時に構成されてもよく、さもなければ、図示のように
片面にまとめて構成されているのではなくて、一部の端
面では突出部2aを有しないように、選択的に構成され
ていてもよい。
【0029】本発明の異方導電性シートにおいて、その
導電路は、本発明の範囲内でさらにいろいろな改良や変
更を加えることができる。好ましい1態様において、導
電路の少なくとも一方の端面に、接点形成性の導電材料
の層をさらに設けることができる。このような導電材料
の層を先端に設けることによって、被検査体の接点のア
ルミニウム酸化膜などを容易に突き破ることができ、結
果として良好な電気的接続を達成することができる。な
お、ここで「層」という場合、単層構造や多層構造など
はもちろんのこと、導電材料の粉体、粒子等を緻密にあ
るいは粗く配置したものも含まれる。
【0030】図示のものに限定されるわけではないけれ
ども、図3の異方導電性シートの場合、その基材1の片
面にのみ接点形成性の導電材料の層3を2層構造として
設けると、図5に示すようになる。また、導電材料の層
3を基材1の両面に設けると、図6に示すようになる。
さらに、導電材料の層3を2層構造に代えて、ピラミッ
ド構造として設けると、図7に示すようになる。図7
(A)は片面配置の例であり、図7(B)は両面配置の
例である。さらに、導電材料の層3を2層構造に代え
て、3層構造として設けると、図8に示すようになる。
図8(A)は片面配置の例であり、図8(B)は両面配
置の例である。さらにまた、図4に示したような異方導
電性シート10にも、同様にして導電材料の層3を設け
ることもできる。基材1の片面にのみ導電材料の層3を
単層構造として設けると、図9(A)に示すようにな
る。また、導電材料の層3を基材1の両面に設けると、
図9(B)に示すようになる。なお、これらの図におい
て模式的に示すように、それぞれの導電材料の層3は、
以下に詳細に説明する導電性の微小粉体13からなる。
【0031】本発明の異方導電性シートにおいて、その
導電部の端面に必要に応じて形成される接点形成性の導
電材料の層は、好ましくは、金、銀、銅、ニッケル、ア
ルミニウム等の高導電率の金属もしくはその合金から形
成される。これらの金属もしくはその合金は、単独で使
用してもよく、2種以上を組み合わせて使用してもよ
い。また、かかる金属もしくはその合金は、いろいろの
形態で使用できるというものの、通常、破砕片状、小球
状、棒状又は塊状の微小粉体の形態で使用するのが好ま
しい。先に図5〜図9を参照して説明した例では、小球
状の微小粉体13が導電材料の層3の形成に用いられて
おり、一方、以下に説明する図12の例では、棒状の微
小粉体23が導電材料の層3の形成に用いられている。
これらの微小粉体は、その形態などに応じて広く変更し
得るというものの、通常、約0.1〜50μm、好まし
くは約5〜30μmの長さあるいは直径を有することが
できる。さらに、これらの微小粉体は、そのまま単層も
しくは多層で整列させて使用してもよく、微小粉体の集
合体などとして整列させてもよい。
【0032】本発明の異方導電性シートでは、また、上
述のような微小粉体が、その表面の少なくとも一部分に
おいて、金属薄膜によって被覆されていることが好まし
い。具体的には、微小粉体の表面に、金、銀、銅、ニッ
ケル、アルミニウム等の高導電率の金属もしくはその合
金を例えば無電解めっきなどに被覆することによって、
その電気的接続効果をより一層発現させることができ
る。また、耐久性を高めるためには、かかる微小粉体の
表面に白金、パラジウム、ロジウムなどをめっきするの
が好ましい。図10は、この例を示したもので、微小粉
体13の表面に、金属薄膜14が被覆されている。金属
薄膜14の厚さは、広い範囲で変更し得るというもの
の、通常、約0.01〜20μmの範囲であり、好まし
くは約3〜20μmの範囲である。なお、このような金
属薄膜併用の例の場合、必要ならば、微小粉体を、上述
のような導電性の金属などから形成するのでなくて、導
電性の樹脂などから形成してもよい。
【0033】本発明の異方導電性シートでは、さらに、
上述のような微小粉体の表面に、上述のような金属薄膜
の存在もしくは不存在において、少なくとも部分的に、
定形もしくは無定形の極微小突起が設けられていること
が、電気的接続のさらなる向上の面で好ましい。極微小
突起は、通常、金、銀、銅、ニッケル、アルミニウム等
の高導電率の金属もしくはその合金からなる。かかる極
微小突起は、スパッタリング法、蒸着法などで微小粉体
の表面に付着させることができる。また、極微小突起
は、その形態が限定されるわけではなく、微小粉体に安
定に付着し得るならば、いかなる形態であってもよい。
一例として、半球状、円錐状、塊状などの突起あるいは
かかる突起の組み合わせを挙げることができる。図11
は、この例を示したもので、微小粉体13の表面に、図
11(A)では半球状の突起15が、図11(B)では
円錐状の突起15が、それぞれ付着されている。かかる
極微小突起15のサイズ(微小粉体13の表面からの高
さ)は、広い範囲で変更し得るというものの、通常、約
0.1〜10μmの範囲である。
【0034】図12(A)は、異方導電性シート10に
おいて、導電路2の1つの端面に棒状の微小粉体23を
緻密に設けることで、導電路の電気的接続を改善する方
法を示している。もちろん、必要に応じて、導電路2の
両端にこのような棒状の微小粉体23を緻密に設けても
よい。また、図12(B)は、導電路2の一方の端面が
基材1の表面から突き出て、突出部2aを構成するとと
もに、その端面に棒状の微小粉体23を緻密に設けた例
を示している。
【0035】本発明の異方導電性シートにおいて、その
導電路は、必要に応じて、その形状自体にもいろいろな
改良や変更を加えることができる。例えば、基材に設け
る貫通孔の形状を変更して、それに充填される導電路の
形状に変更を加えることが推奨される。図13及び図1
4は、それぞれ、基材1に加工する貫通孔の形状に変更
を加えた例を示している。図13の基材1では、貫通孔
の中央部が狭まっているので、導電路2を形成したとき
に間隙21ができ、その結果、導電路2の動きに自由度
が加わるので、伸縮自在接点としての働きが改良され
る。このような効果は、図14に示すように、貫通孔の
中央部にキャビティ(導電材料が回り込まない領域)2
2を形成しても、同様に得ることができる。また、図示
しないけれども、導電路の内部に微細な空間を散在させ
ることでも、弾性の改良の結果として、同様な効果を得
ることができる。
【0036】本発明の異方導電性シートは、その優れた
品質及び特性により、各種の装置において通電手段とし
て有利に使用することができる。例えば、以下において
詳細に説明するように、本発明の異方導電性シートは、
回路装置相互間の電気的接続や回路装置の動作試験用検
査装置においてコネクタとして有利に使用することがで
きる。
【0037】本発明の異方導電性シートは、いろいろな
方法で製造することができるけれども、絶縁性の基材の
所定の位置に貫通孔を加工した後、それらの貫通孔に、
硬化後に所定のゴム弾性を呈示し得る導電性の樹脂様材
料を充填して硬化させ、導電路を形成することによって
有利に製造することができる。本発明の異方導電性シー
トの製造方法において、絶縁性の基材は、先に説明した
ように、絶縁性材料の成形及び必要に応じて積層によっ
てシート状材料として用意することが好ましい。絶縁性
材料は、好ましくは、絶縁性の熱硬化性樹脂、絶縁性の
熱可塑性樹脂、絶縁性のセラミック材料などである。
【0038】また、絶縁性の基材における貫通孔の加工
は、いろいろな方法で実施できるけれども、例えばメカ
ニカルパンチ加工、ドリル加工等の機械的加工法や、例
えばレーザー光加工によるパターニング等の高エネルギ
ー照射法を有利に使用することができる。必要に応じ
て、エッチング加工を使用してもよい。これらの加工方
法は、いずれもよく知られた方法であるので、ここでの
詳細な説明を省略する。
【0039】上記のようにして必要な数及びサイズの貫
通孔を絶縁性の基材に開けた後、ゴム系、ウレタン系、
シリコーン系などの樹脂様材料からなる基体と、この基
体に分散せしめられた導電性の充填材とを含む混合物を
例えばスクリーン印刷法、転写体などによりそれぞれの
貫通孔に充填し、加熱、光照射、放置などによって硬化
させる。それぞれの貫通孔に導電性の弾性材料が充填さ
れた導電路が形成される。
【0040】本発明の異方導電性シートの製造方法にお
いて、導電路を基材の表面から突き出させたいような場
合には、基材の表面部分をレーザー光などによってエッ
チングして、選択的に除去してもよい。また、別法によ
れば、絶縁性の基材の表面に予め保護膜を形成しておい
て、その保護膜の存在下で貫通孔の加工を行うことで、
導電路を基材の表面から突き出させることもできる。一
連の工程を終了して導電路を形成した後、不要となった
保護膜を手作業やカッター、剥離液などで取り除くだけ
で、所望とする突出部をもった導電路付きの異方導電性
シートを得ることができる。
【0041】本発明の異方導電性シートは、工程の簡略
化や製造コストの低減、歩留まりの向上などを考慮した
場合、例えば図15及び図16に示す方法で有利に製造
することができる。図15は、本発明による導電性シー
トの好ましい1製造方法を順を追って示した断面図であ
る。
【0042】工程(A)で所定の厚さを備えた絶縁性の
基材1を用意した後、工程(B)で、基材1の所定の部
位(導電路の形成部位)に貫通孔20を加工する。貫通
孔20は、例えば、精密ドリルを使用した機械加工や、
レーザー加工などで精密に形成する。貫通孔の形成後、
工程(C)に示すように、基台32に基材1を載置した
後、ゴム弾性を有する導電性のペースト状材料を、スク
リーン印刷の要領で、基材1の貫通孔に充填する。余分
のペースト状材料は、例えば、スキージ31によって取
り除くことができる。
【0043】引き続いて、工程(D)に示すように、選
ばれた導電材料を導電路2の端面に塗布して、接点形成
性導電材料層3を形成する。その後、異方導電性シート
の形成のため、導電路2と接点形成性導電材料層3を硬
化させる。硬化条件などは、それぞれの層の組成などに
応じて任意に選択することができる。例えば、熱硬化性
の樹脂を導電路の基体に使用しているのであれば、所定
の温度まで加熱して硬化させることができ、また、化学
反応性の基体材料であれば、放置して硬化させ、所定の
硬度とすることができる。
【0044】得られた異方導電性シートにおいて、その
導電路2を基材1の表面から突出させたいような場合に
は、工程(E)に示すように、基材1を所望の深さまで
切削する。切削条件をコントロールすることによって、
任意の高さで導電路2を突出させることができる。適当
な切削手段としては、例えば、導電路2に損傷等の悪影
響を与えないレーザー加工を挙げることができる。レー
ザー光の出力を変調することで、切削深さも容易に制御
できる。
【0045】図16は、本発明による導電性シートのも
う1つの好ましい製造方法を順を追って示した断面図で
ある。工程(A)で所定の厚さを備えた絶縁性の基材1
を用意する。基材1は、引き続く工程において導電路突
出のためのマスクとして使用するため、その両面に保護
膜11を有している。保護膜11は、例えば、ポリエス
テル、ポリプロピレン、ポリスチレンなどの一般的な樹
脂素材から形成できる。なお、保護膜11は、最後の剥
離工程で容易に剥離しやすいことが必要である。
【0046】次いで、工程(B)で、基材1の所定の部
位(導電路の形成部位)に貫通孔20を加工する。貫通
孔20は、例えば、精密ドリルを使用した機械加工や、
レーザー加工などで精密に形成する。貫通孔の形成後、
工程(C)に示すように、基台32に基材1を載置した
後、ゴム弾性を有する導電性のペースト状材料を、スク
リーン印刷の要領で、基材1の貫通孔に充填する。余分
のペースト状材料は、例えば、スキージ31によって取
り除くことができる。
【0047】引き続いて、工程(D)に示すように、選
ばれた導電材料を導電路2の端面に塗布して、接点形成
性導電材料層3を形成する。その後、異方導電性シート
の形成のため、導電路2と接点形成性導電材料層3を硬
化させる。硬化条件などは、それぞれの層の組成などに
応じて任意に選択することができる。
【0048】最後に、得られた異方導電性シートにおい
て、その導電路2を基材1の表面から突出させるため、
工程(E)に示すように、マスクとした使用した保護膜
(図示せず)を基材1から剥離し、除去する。保護膜の
剥離は、例えば、手作業で行ってもよく、カッターや適
当な剥離液などを使用してもよい。この方法では、保護
膜の膜厚をコントロールすることによって、任意の高さ
で導電路2を突出させることができ、高価なレーザー加
工装置なども使用しないで済む。
【0049】本発明によれば、絶縁性の基材に厚さ方向
に貫通して埋め込まれた導電性の弾性材料からなる接点
構造体であって、導電性の弾性材料が、硬化後に所定の
ゴム弾性を呈示し得る導電性の樹脂様材料からなり、伸
縮自在であることを特徴とする接点構造体も提供され
る。かかる接点構造体は、基本的に、異方導電性シート
の導電路まわりの構造に同様である。
【0050】また、本発明によれば、複数個の回路装置
を重ね合わせてなる電子装置であって、回路装置どうし
が、本発明の異方導電性シートを介して電気的に接続さ
れていることを特徴とする電子装置も提供される。本発
明の電子装置は、例えば、図17に模式的に示す構造を
有することができる。図示の電子装置では、本発明の異
方導電性シート10が、半導体チップ(LSI)5と回
路基板7を電気的に接続するコンタクタとして使用され
ている。異方導電性シート10は、図9(B)に示した
ものに同じで、絶縁性の基材1の一部に導電路2が形成
されていて、導電路2のそれぞれの端面に接点形成性導
電材料層3が設けられている。図示されるように、この
導電材料層3に、半導体チップ5の電極6、そして回路
基板7の電極8が接合される。回路基板7は、シンプル
な構成のものから、ビルトアップ配線板のように複雑な
構成のものであってもよい。この電子装置では、ボンデ
ィングワイヤを使用していないので、デバイスの損傷な
どをともなうことなく装置をコンパクト化することがで
きる。
【0051】さらに、本発明によれば、回路装置の動作
を試験する検査装置であって、本発明の異方導電性シー
トの導電路の一方の端面に、回路装置の端子等が接続さ
れ、かつそのシートの他方の端面に、回路基板や回路基
板に搭載されるべき被コンタクト体が接続されるように
構成されていることを特徴とする動作試験用検査装置も
提供される。
【0052】本発明の検査装置は、例えば、図18に模
式的に示す構造を有することができる。図示の検査装置
では、テーブル34上に配置された評価基板35の上で
回路基板30の動作を試験するために、異方導電性シー
ト10を使用している。すなわち、異方導電性シートの
端面(接点)を、評価基板35の電極と回路基板30の
電極に当接させて3者の電気的接続を確保した後、テス
タ25のプローブ26の先端を回路基板30の電極に押
し当てて試験を行う。異方導電性シート10には大きな
力が加わるが、破損やその他のトラブルを生じることな
く、良好に試験を行うことができる。
【0053】
【実施例】引き続いて、本発明をその実施例について説
明する。なお、本発明は、下記の実施例によって限定さ
れるものではないことを理解されたい。実施例1 本例では、図15を参照して先に説明した手法で異方導
電性シートを製造した。
【0054】厚さ300μmのポリエーテルエーテルケ
トンフィルムを絶縁性の基材として用意した。この基材
の所定の場所に、精密ドリルを使用して、それぞれが直
径0.2mmの貫通孔を加工した。次いで、それぞれの
貫通孔に、硬化した後にゴム弾性を示す導電性接着剤
(ウレタン樹脂を基体とし、硬化後の硬度は、鉛筆硬度
で6B程度、スリーボンド社より品番「3302F」と
して入手可能)を、へらを使用してスクリーン印刷の要
領で充填した。その後すぐに、接点形成性導電材料とし
て、金属被覆粉体(日本化学工業社より商品名「ブライ
ドGNR‐EH」として入手可能)を導電性接着剤層の
上に塗布し、導電性接着剤を硬化させるために120℃
のオーブン中で1時間にわたって加熱した。
【0055】引き続いて、基材の露出している表面をエ
キシマレーザーで、照射強度を適宜調整しながら、約5
0μmの深さまで切削した。導電路が突出した異方導電
性シートが得られた。実施例2 本例では、図16を参照して先に説明した手法で異方導
電性シートを製造した。
【0056】厚さ300μmのポリエーテルエーテルケ
トンフィルムの両面に厚さ100μmのPETフィルム
を簡易剥離性接着剤で貼り付けて絶縁性の基材を作製し
た。この基材の所定の場所に、精密ドリルを使用して、
それぞれが直径0.2mmの貫通孔を加工した。次い
で、それぞれの貫通孔に、硬化した後にゴム弾性を示す
導電性接着剤(シリコーン樹脂を基体とし、硬化後の硬
度は、鉛筆硬度で6B程度、スリーボンド社より品番
「3303E」として入手可能)を、へらを使用してス
クリーン印刷の要領で充填した。その後すぐに、接点形
成性導電材料として、金属被覆粉体(日本化学工業社よ
り商品名「ブライドGNR‐EH」として入手可能)を
導電性接着剤層の上に塗布し、導電性接着剤を硬化させ
るために120℃のオーブン中で1時間にわたって加熱
した。
【0057】引き続いて、基材に保護膜として貼り付け
たPETフィルムを強く引っ張って剥離した。導電路が
突出した異方導電性シートが得られた。最後に、本発明
のさらなる理解のため、本発明の好ましい態様を以下に
まとめて付記することにする。なお、下記の各項は、本
発明の範囲内において種々に変更あるいは改良し得るこ
とは言うまでもない。 (付記1) 絶縁性の基材と、該基材の所定の位置に、
該基材を厚さ方向に貫通して埋め込まれた導電性の弾性
材料からなる導電路とを含む異方導電性シートであっ
て、前記導電路を構成する弾性材料が、硬化後に所定の
ゴム弾性を呈示し得る導電性の樹脂様材料からなること
を特徴とする異方導電性シート。 (付記2) 前記導電性の樹脂様材料が、ゴム系材料、
ウレタン系材料及びシリコーン系材料からなる群から選
ばれる基体と、該基体に所定レベルの導電性を発現し得
る量で分散せしめられた導電性の充填材とからなること
を特徴とする付記1に記載の異方導電性シート。 (付記3) 前記充填材が、金、銀、銅、ニッケル、ア
ルミニウム及びその合金、カーボンならびにグラファイ
トからなる群から選ばれたものであり、粉末状、小球
状、フレーク状、針状又は樹枝状形態を有していること
を特徴とする付記2に記載の異方導電性シート。 (付記4) 前記絶縁性の基材が、絶縁性材料の成形及
び必要に応じて積層によって形成されたシート状材料で
あることを特徴とする付記1〜3のいずれか1項に記載
の異方導電性シート。 (付記5) 前記絶縁性材料が、絶縁性の熱硬化性樹
脂、絶縁性の熱可塑性樹脂又は絶縁性のセラミック材料
であることを特徴とする付記4に記載の異方導電性シー
ト。 (付記6) 前記導電路が、前記絶縁性の基材の所定の
位置に貫通孔を穿った後にそれらの貫通孔に前記弾性材
料を充填して形成されたものであることを特徴とする付
記1〜5のいずれか1項に記載の異方導電性シート。 (付記7) 前記導電路の長さが前記基材の厚さよりも
大きく、したがって、前記導電路の少なくとも一方の端
面が、前記基材の表面より突き出た構造を有しているこ
とを特徴とする付記1〜6のいずれか1項に記載の異方
導電性シート。 (付記8) 前記導電路の少なくとも一方の端面に、接
点形成性の導電材料の層がさらに設けられていることを
特徴とする付記1〜7のいずれか1項に記載の異方導電
性シート。 (付記9) 前記接点形成性の導電材料が、金、銀、
銅、ニッケル及びアルミニウムからなる群から選ばれた
金属もしくはその合金であり、破砕片状、小球状、棒状
又は塊状の微小粉体の形態を有しており、かかる微小粉
体もしくはその集合体をもって成層されていることを特
徴とする付記8に記載の異方導電性シート。 (付記10) 前記微小粉体が、その表面の少なくとも
一部分において、金属薄膜によって被覆されていること
を特徴とする付記9に記載の異方導電性シート。 (付記11) 前記微小粉体の表面が、少なくとも部分
的に、定形もしくは無定形の極微小突起をさらに有して
いることを特徴とする付記9又は10に記載の異方導電
性シート。 (付記12) 回路装置相互間の電気的接続にコネクタ
として使用されることを特徴とする付記1〜11のいず
れか1項に記載の異方導電性シート。 (付記13) 回路装置の検査装置においてコネクタと
して使用されることを特徴とする付記1〜11のいずれ
か1項に記載の異方導電性シート。 (付記14) 絶縁性の基材と、該基材の所定の位置
に、該基材を厚さ方向に貫通して埋め込まれた導電性の
弾性材料からなる導電路とを含む異方導電性シートを製
造するに当たって、前記絶縁性の基材の所定の位置に貫
通孔を加工した後、それらの貫通孔に、硬化後に所定の
ゴム弾性を呈示し得る導電性の樹脂様材料を充填して硬
化させ、前記導電路を形成することを特徴とする異方導
電性シートの製造方法。 (付記15) 前記絶縁性の基材を、絶縁性材料の成形
及び必要に応じて積層によってシート状材料として用意
することを特徴とする付記14に記載の異方導電性シー
トの製造方法。 (付記16) 前記絶縁性材料が、絶縁性の熱硬化性樹
脂、絶縁性の熱可塑性樹脂又は絶縁性のセラミック材料
であることを特徴とする付記15に記載の異方導電性シ
ートの製造方法。 (付記17) 前記絶縁性の基材において、機械的加工
又は高エネルギー照射によって前記貫通孔を加工するこ
とを特徴とする付記14〜16のいずれか1項に記載の
異方導電性シートの製造方法。 (付記18) 前記機械的加工としてメカニカルパンチ
加工又はドリル加工を使用することを特徴とする付記1
7に記載の異方導電性シートの製造方法。 (付記19) 前記高エネルギー照射としてレーザー光
照射によるパターニングを使用することを特徴とする付
記17に記載の異方導電性シートの製造方法。 (付記20) ゴム系材料、ウレタン系材料及びシリコ
ーン系材料からなる群から選ばれる基体と、該基体に所
定レベルの導電性を発現し得る量で分散せしめられた導
電性の充填材とを含む混合物を前記絶縁性の基材の貫通
孔に充填し、硬化させて前記導電路を形成することを特
徴とする付記14〜19のいずれか1項に記載の異方導
電性シートの製造方法。 (付記21) 前記充填材が、金、銀、銅、ニッケル、
アルミニウム及びその合金、カーボンならびにグラファ
イトからなる群から選ばれたものであり、粉末状、小球
状、フレーク状、針状又は樹枝状形態を有していること
を特徴とする付記20に記載の異方導電性シートの製造
方法。 (付記22) 前記導電路の少なくとも一方の端面を、
前記絶縁性の基材の表面より突き出させることを特徴と
する付記14〜21のいずれか1項に記載の異方導電性
シートの製造方法。 (付記23) 前記導電路の少なくとも一方の端面に、
接点形成性の導電材料の層をさらに設けることを特徴と
する付記14〜22のいずれか1項に記載の異方導電性
シートの製造方法。 (付記24) 前記接点形成性の導電材料の層を、金、
銀、銅、ニッケル及びアルミニウムからなる群から選ば
れた金属もしくはその合金であり、破砕片状、小球状、
棒状又は塊状の形態を有している微小粉体もしくはその
集合体から形成することを特徴とする付記23に記載の
異方導電性シートの製造方法。 (付記25) 前記微小粉体の表面を、その少なくとも
一部分において、金属薄膜によって被覆することを特徴
とする付記24に記載の異方導電性シートの製造方法。 (付記26) 前記微小粉体の表面に、少なくとも部分
的に、定形もしくは無定形の極微小突起をさらに付与す
ることを特徴とする付記24又は25に記載の異方導電
性シートの製造方法。 (付記27) 前記貫通孔の加工を、前記絶縁性の基材
の表面に形成された保護膜の存在下で行い、前記導電路
の形成後に前記保護膜を取り除くことを特徴とする付記
14〜26のいずれか1項に記載の異方導電性シートの
製造方法。 (付記28) 絶縁性の基材に厚さ方向に貫通して埋め
込まれた導電性の弾性材料からなる接点構造体であっ
て、前記導電性の弾性材料が、硬化後に所定のゴム弾性
を呈示し得る導電性の樹脂様材料からなり、伸縮自在で
あることを特徴とする接点構造体。 (付記29) 複数個の回路装置を重ね合わせてなる電
子装置であって、前記回路装置どうしが、絶縁性の基材
と、該基材の所定の位置に、該基材を厚さ方向に貫通し
て埋め込まれた導電性の弾性材料からなる導電路とを含
む異方導電性シートを介して電気的に接続されており、
その際、前記導電路を構成する弾性材料が、硬化後に所
定のゴム弾性を呈示し得る導電性の樹脂様材料からなる
ことを特徴とする電子装置。 (付記30) 回路装置の動作を試験する検査装置であ
って、絶縁性の基材と、該基材の所定の位置に、該基材
を厚さ方向に貫通して埋め込まれた導電性の弾性材料か
らなる導電路とを含み、前記導電路を構成する弾性材料
が、硬化後に所定のゴム弾性を呈示し得る導電性の樹脂
様材料からなる異方導電性シートを備え、前記異方導電
性シートの導電路の一方の端面に、前記回路装置の端子
等が接続され、かつその他方の端面に、回路基板及び該
回路基板に搭載されるべき被コンタクト体が接続される
ように構成されていることを特徴とする動作試験用検査
装置。
【0058】
【発明の効果】以上に説明したように、本発明によれ
ば、簡便な工程で、非常にコンタクト性に優れた伸縮自
在接点ならびにそれらの接点が膜を貫通するように埋め
込まれた接点構造体(コンタクタ)及び異方導電性シー
トを製造することができる。また、この異方導電性シー
ト等は、工程が簡略化されているため、低コストで製造
可能である。
【0059】さらに、この異方導電性シート等は、寿命
が長く、狭いピッチにも対応でき、所要の電気的接続を
達成でき、回路装置等の汚染を引き起こすことがない。
さらにまた、本発明のコンタクタは、ウエハ状態のまま
で、ウエハ上の全LSIの端子に一括でコンタクトでき
る。本発明によれば、コンタクタや異方導電性シートに
加えて、本発明の異方導電性シートを組み込んだ高性能
の電子装置及び動作試験用検査装置も提供できる。特
に、本発明では、ウレタン樹脂、シリコーン樹脂などの
基材樹脂から構成される導電路部分の表面を緻密に金属
棒、金属球などで被覆することにより、樹脂の分解に由
来するアウトガスの悪影響を抑制し、膜剥離や被検査体
表面の汚染を防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の異方導電性シートの一例を模式的に示し
た断面図である。
【図2】従来の異方導電性シートのもう1つの例を模式
的に示した断面図である。
【図3】本発明による導電性シートの好ましい1形態を
模式的に示した断面図である。
【図4】本発明による導電性シートのもう1つの好まし
い形態を模式的に示した断面図である。
【図5】本発明による導電性シートのさらにもう1つの
好ましい形態を模式的に示した断面図である。
【図6】本発明による導電性シートの導電路まわりの好
ましい1形態を模式的に示した断面図である。
【図7】本発明による導電性シートの導電路まわりのも
う1つの好ましい形態を模式的に示した断面図である。
【図8】本発明による導電性シートの導電路まわりのさ
らにもう1つの好ましい形態を模式的に示した断面図で
ある。
【図9】本発明による導電性シートの導電路まわりのさ
らにもう1つの好ましい形態を模式的に示した断面図で
ある。
【図10】本発明による導電性シートで接点の形成に用
いられる導電性微小粉体の好ましい1形態を模式的に示
した断面図である。
【図11】本発明による導電性シートの導電路で接点の
形成に用いられる導電性微小粉体のもう1つの好ましい
形態を模式的に示した断面図である。
【図12】本発明による導電性シートの導電路まわりの
さらにもう1つの好ましい形態を模式的に示した断面図
である。
【図13】本発明による導電性シートで用いられる絶縁
性の基材のもう1つの好ましい形態を模式的に示した断
面図である。
【図14】本発明による導電性シートで用いられる絶縁
性の基材のさらにもう1つの好ましい形態を模式的に示
した断面図である。
【図15】本発明による導電性シートの好ましい1製造
方法を順を追って示した断面図である。
【図16】本発明による導電性シートのもう1つの好ま
しい製造方法を順を追って示した断面図である。
【図17】本発明による導電性シートを組み込んだ電子
装置の好ましい1形態を模式的に示した断面図である。
【図18】本発明による導電性シートを組み込んだ回路
装置の動作試験用検査装置の好ましい1形態を模式的に
示した断面図である。
【符号の説明】
1…絶縁性の基材 2…導電路 2a…導電路の突出部 3…接点形成性導電材料層 10…異方導電性シート 11…保護膜 13…導電性微小粉体 14…金属薄膜 15…極微小突起 20…貫通孔 21…間隙 22…キャビティ 23…導電性微小粉体 31…スキージ 32…基台
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01R 43/00 H01R 43/00 H Fターム(参考) 5E024 CA12 CB06 5E051 CA03 5G307 HA02 HB03 HC01

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 絶縁性の基材と、該基材の所定の位置
    に、該基材を厚さ方向に貫通して埋め込まれた導電性の
    弾性材料からなる導電路とを含む異方導電性シートであ
    って、 前記導電路を構成する弾性材料が、硬化後に所定のゴム
    弾性を呈示し得る導電性の樹脂様材料からなることを特
    徴とする異方導電性シート。
  2. 【請求項2】 前記導電性の樹脂様材料が、ゴム系材
    料、ウレタン系材料及びシリコーン系材料からなる群か
    ら選ばれる基体と、該基体に所定レベルの導電性を発現
    し得る量で分散せしめられた導電性の充填材とからなる
    ことを特徴とする請求項1に記載の異方導電性シート。
  3. 【請求項3】 前記導電路が、前記絶縁性の基材の所定
    の位置に貫通孔を穿った後にそれらの貫通孔に前記弾性
    材料を充填して形成されたものであることを特徴とする
    請求項1又は2に記載の異方導電性シート。
  4. 【請求項4】 前記導電路の長さが前記基材の厚さより
    も大きく、したがって、前記導電路の少なくとも一方の
    端面が、前記基材の表面より突き出た構造を有している
    ことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の
    異方導電性シート。
  5. 【請求項5】 絶縁性の基材と、該基材の所定の位置
    に、該基材を厚さ方向に貫通して埋め込まれた導電性の
    弾性材料からなる導電路とを含む異方導電性シートを製
    造するに当たって、 前記絶縁性の基材の所定の位置に貫通孔を加工した後、
    それらの貫通孔に、硬化後に所定のゴム弾性を呈示し得
    る導電性の樹脂様材料を充填して硬化させ、前記導電路
    を形成することを特徴とする異方導電性シートの製造方
    法。
  6. 【請求項6】 前記絶縁性の基材において、機械的加工
    又は高エネルギー照射によって前記貫通孔を加工するこ
    とを特徴とする請求項5に記載の異方導電性シートの製
    造方法。
  7. 【請求項7】 前記導電路の少なくとも一方の端面を、
    前記絶縁性の基材の表面より突き出させることを特徴と
    する請求項5又は6に記載の異方導電性シートの製造方
    法。
  8. 【請求項8】 絶縁性の基材に厚さ方向に貫通して埋め
    込まれた導電性の弾性材料からなる接点構造体であっ
    て、 前記導電性の弾性材料が、硬化後に所定のゴム弾性を呈
    示し得る導電性の樹脂様材料からなり、伸縮自在である
    ことを特徴とする接点構造体。
  9. 【請求項9】 複数個の回路装置を重ね合わせてなる電
    子装置であって、 前記回路装置どうしが、絶縁性の基材と、該基材の所定
    の位置に、該基材を厚さ方向に貫通して埋め込まれた導
    電性の弾性材料からなる導電路とを含む異方導電性シー
    トを介して電気的に接続されており、その際、 前記導電路を構成する弾性材料が、硬化後に所定のゴム
    弾性を呈示し得る導電性の樹脂様材料からなることを特
    徴とする電子装置。
  10. 【請求項10】 回路装置の動作を試験する検査装置で
    あって、 絶縁性の基材と、該基材の所定の位置に、該基材を厚さ
    方向に貫通して埋め込まれた導電性の弾性材料からなる
    導電路とを含み、前記導電路を構成する弾性材料が、硬
    化後に所定のゴム弾性を呈示し得る導電性の樹脂様材料
    からなる異方導電性シートを備え、 前記異方導電性シートの導電路の一方の端面に、前記回
    路装置の端子等が接続され、かつその他方の端面に、回
    路基板及び該回路基板に搭載されるべき被コンタクト体
    が接続されるように構成されていることを特徴とする動
    作試験用検査装置。
JP2001140497A 2001-05-10 2001-05-10 異方導電性シート、その製造方法、電子装置及び動作試験用検査装置 Expired - Fee Related JP3616031B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001140497A JP3616031B2 (ja) 2001-05-10 2001-05-10 異方導電性シート、その製造方法、電子装置及び動作試験用検査装置
US10/141,778 US7267559B2 (en) 2001-05-10 2002-05-10 Anisotropic conductive sheet, production process, contact structure, electronic device and inspection apparatus for operation test

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001140497A JP3616031B2 (ja) 2001-05-10 2001-05-10 異方導電性シート、その製造方法、電子装置及び動作試験用検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002343462A true JP2002343462A (ja) 2002-11-29
JP3616031B2 JP3616031B2 (ja) 2005-02-02

Family

ID=18987095

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001140497A Expired - Fee Related JP3616031B2 (ja) 2001-05-10 2001-05-10 異方導電性シート、その製造方法、電子装置及び動作試験用検査装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7267559B2 (ja)
JP (1) JP3616031B2 (ja)

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005208493A (ja) * 2004-01-26 2005-08-04 Toppan Printing Co Ltd 電気泳動表示体および電気泳動表示装置
JP2007048589A (ja) * 2005-08-10 2007-02-22 Japan Aviation Electronics Industry Ltd 電気接続用シート及びその製造方法
JP2008091222A (ja) * 2006-10-02 2008-04-17 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 接続ソケット
KR100988304B1 (ko) 2008-07-23 2010-10-18 주식회사 아이에스시테크놀러지 탄성 도전시트 및 그 탄성도전시트의 제조방법
JP2013113849A (ja) * 2011-11-25 2013-06-10 Gigalane Co Ltd コンタクトフィルム、コンタクトフィルムの製造方法、プローブユニット及びlcdパネル検査装置
KR101323008B1 (ko) 2007-05-19 2013-10-29 이형곤 탄성도전쉬트와 도전재 및 제조방법
JP2014212311A (ja) * 2013-04-02 2014-11-13 国立大学法人大阪大学 異方性導電フィルム及び異方性導電接続体
JP2015149276A (ja) * 2014-01-10 2015-08-20 積水化学工業株式会社 導電性粒子、導電性粒子の製造方法、導電材料及び接続構造体
JP2015154066A (ja) * 2014-02-19 2015-08-24 パイオニア株式会社 電子装置及び樹脂膜
JP2018508768A (ja) * 2015-01-27 2018-03-29 ソワテク 基板の電気的特性を測定するための、方法、装置およびシステム
JP6454811B1 (ja) * 2018-03-02 2019-01-16 東京特殊電線株式会社 異方性導電シート
KR20200051007A (ko) * 2017-09-07 2020-05-12 테크노프로브 에스.피.에이. 전자 소자 테스트 장치용 인터페이스 요소 및 그에 대응하는 제조방법
KR20200074244A (ko) * 2016-04-12 2020-06-24 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤 전기 특성의 검사 방법
CN112041689A (zh) * 2018-04-13 2020-12-04 黄东源 用于测试半导体器件的接触件及测试插座

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6770971B2 (en) * 2002-06-14 2004-08-03 Casio Computer Co., Ltd. Semiconductor device and method of fabricating the same
US8518304B1 (en) 2003-03-31 2013-08-27 The Research Foundation Of State University Of New York Nano-structure enhancements for anisotropic conductive material and thermal interposers
CN100437838C (zh) * 2003-07-07 2008-11-26 积水化学工业株式会社 包覆导电性粒子、各向异性导电材料以及导电连接结构体
EP1686655A4 (en) * 2003-11-17 2008-02-13 Jsr Corp ANISOTROPIC CONDUCTIVE SHEET, MANUFACTURING METHOD AND PRODUCT THEREFOR
DE102004027887B4 (de) * 2004-05-28 2010-07-29 Feinmetall Gmbh Prüfeinrichtung zur elektrischen Prüfung eines Prüflings
WO2007036994A1 (ja) * 2005-09-28 2007-04-05 Spansion Llc 半導体装置およびその製造方法並びにフィルムの製造方法
CN101455131B (zh) * 2006-05-22 2011-04-06 日本电气株式会社 电路板设备、布线板连接方法和电路板模块设备
KR100952712B1 (ko) * 2007-12-27 2010-04-13 주식회사 아이에스시테크놀러지 판형 도전입자를 포함한 실리콘 콘택터
WO2010030998A1 (en) * 2008-09-15 2010-03-18 Pacific Aerospace & Electronics, Inc. Connector assemblies incorporating ceramic inserts having conductive pathways and interfaces
JP5509486B2 (ja) * 2009-03-05 2014-06-04 ポリマテック・ジャパン株式会社 弾性コネクタ及び弾性コネクタの製造方法並びに導通接続具
JP4863130B2 (ja) * 2009-05-22 2012-01-25 山一電機株式会社 基板接続用コネクタ、それを備える半導体装置用ソケット、ケーブル用コネクタ、および、ボードツーボードコネクタ
CN102484327B (zh) * 2009-09-02 2015-07-29 保力马科技(日本)株式会社 各向异性导电体及各向异性导电体的制造方法、以及各向异性导电体阵列片
US9229029B2 (en) 2011-11-29 2016-01-05 Formfactor, Inc. Hybrid electrical contactor
TW201405590A (zh) * 2012-07-25 2014-02-01 Benq Materials Corp 異方性導電膜
US9337405B2 (en) * 2012-08-31 2016-05-10 Nichia Corporation Light emitting device and method for manufacturing the same
CN105848555B (zh) * 2014-07-03 2018-04-13 奥林巴斯株式会社 内窥镜用模型
KR20160046621A (ko) * 2014-10-21 2016-04-29 삼성전자주식회사 반도체 칩 패키지 테스트용 테스트 소켓 및 이의 제조 방법
CN104877188A (zh) * 2015-06-04 2015-09-02 苏州市湘园特种精细化工有限公司 一种导电橡胶
KR102329801B1 (ko) * 2015-10-21 2021-11-22 삼성전자주식회사 테스트 소켓의 제조 방법 및 반도체 패키지의 테스트 방법
JP6813461B2 (ja) * 2017-09-19 2021-01-13 タツタ電線株式会社 シートセンサ
AU2017279796A1 (en) * 2017-12-22 2019-07-11 Ti2 Medical Pty Ltd Anisotropically conductive material for use with a biological surface
TWI715411B (zh) * 2020-01-13 2021-01-01 泰可廣科技股份有限公司 電連接組件

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5193393A (en) 1975-02-12 1976-08-16 Erasuteitsuku kontakutoshiitonoseizohoho
JPS6032285B2 (ja) 1977-05-31 1985-07-27 ジェイエスアール株式会社 加圧導電性エラストマ−の製造方法
JPS61118977A (ja) 1984-11-13 1986-06-06 シチズン時計株式会社 多電極コネクタ−構造
JPS61250906A (ja) 1985-04-26 1986-11-08 ジェイエスアール株式会社 導電性エラストマ−シ−ト
JPH0550365A (ja) 1991-03-13 1993-03-02 Mitsubishi Materials Corp 機械加工システム
JPH0559756A (ja) 1991-09-04 1993-03-09 Kubota Corp トラツプ装置
JPH0660930A (ja) 1992-08-03 1994-03-04 Bridgestone Corp 異方導電性コネクター及びその製造方法
JPH0676909A (ja) 1992-08-28 1994-03-18 Bridgestone Corp 異方導電性コネクター及びその製造方法
JPH0689752A (ja) 1992-09-04 1994-03-29 Japan Aviation Electron Ind Ltd 電気接続用コネクタ
JP3400051B2 (ja) 1993-11-10 2003-04-28 ザ ウィタカー コーポレーション 異方性導電膜、その製造方法及びそれを使用するコネクタ
JPH08240635A (ja) 1995-03-03 1996-09-17 Nec Corp 印刷配線板の検査装置
JPH08273441A (ja) 1995-03-22 1996-10-18 Whitaker Corp:The 異方性導電膜およびその製造方法
EP0889678B1 (en) * 1997-07-04 2006-02-15 Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) Compressible elastomeric contact and mechanical assembly therewith
JPH1140224A (ja) * 1997-07-11 1999-02-12 Jsr Corp 異方導電性シート
JP2000011766A (ja) 1998-06-22 2000-01-14 Jsr Corp 異方導電性シート
JP4068238B2 (ja) 1998-11-02 2008-03-26 大日本印刷株式会社 代金管理票付き配送伝票
JP2000164270A (ja) 1998-11-27 2000-06-16 Shin Etsu Polymer Co Ltd 電気コネクタ及びその製造方法
JP2000331538A (ja) * 1999-05-17 2000-11-30 Nitto Denko Corp 異方導電性フィルムおよびその製造方法
JP4041619B2 (ja) * 1999-05-28 2008-01-30 東京エレクトロン株式会社 インターコネクタの製造方法
JP2001052780A (ja) 1999-08-12 2001-02-23 Shin Etsu Polymer Co Ltd 電気コネクタおよびその製造方法
TW588478B (en) * 1999-09-16 2004-05-21 Shinetsu Polymer Co Method for electrically connecting two sets of electrode terminals in array on electronic board units
JP3427086B2 (ja) * 2000-02-23 2003-07-14 Necエレクトロニクス株式会社 Icソケット

Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005208493A (ja) * 2004-01-26 2005-08-04 Toppan Printing Co Ltd 電気泳動表示体および電気泳動表示装置
JP4604499B2 (ja) * 2004-01-26 2011-01-05 凸版印刷株式会社 電気泳動表示体および電気泳動表示装置
JP2007048589A (ja) * 2005-08-10 2007-02-22 Japan Aviation Electronics Industry Ltd 電気接続用シート及びその製造方法
JP2008091222A (ja) * 2006-10-02 2008-04-17 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 接続ソケット
KR101323008B1 (ko) 2007-05-19 2013-10-29 이형곤 탄성도전쉬트와 도전재 및 제조방법
KR100988304B1 (ko) 2008-07-23 2010-10-18 주식회사 아이에스시테크놀러지 탄성 도전시트 및 그 탄성도전시트의 제조방법
JP2013113849A (ja) * 2011-11-25 2013-06-10 Gigalane Co Ltd コンタクトフィルム、コンタクトフィルムの製造方法、プローブユニット及びlcdパネル検査装置
JP2014212311A (ja) * 2013-04-02 2014-11-13 国立大学法人大阪大学 異方性導電フィルム及び異方性導電接続体
JP2015149276A (ja) * 2014-01-10 2015-08-20 積水化学工業株式会社 導電性粒子、導電性粒子の製造方法、導電材料及び接続構造体
JP2015154066A (ja) * 2014-02-19 2015-08-24 パイオニア株式会社 電子装置及び樹脂膜
JP2018508768A (ja) * 2015-01-27 2018-03-29 ソワテク 基板の電気的特性を測定するための、方法、装置およびシステム
KR20200074244A (ko) * 2016-04-12 2020-06-24 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤 전기 특성의 검사 방법
KR102320098B1 (ko) * 2016-04-12 2021-11-02 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤 전기 특성의 검사 방법
KR20200051007A (ko) * 2017-09-07 2020-05-12 테크노프로브 에스.피.에이. 전자 소자 테스트 장치용 인터페이스 요소 및 그에 대응하는 제조방법
JP2020533571A (ja) * 2017-09-07 2020-11-19 テクノプローべ ソシエタ ペル アチオニ 電子デバイスの試験装置用のインターフェース要素、および対応する製造方法
KR102608053B1 (ko) * 2017-09-07 2023-11-29 테크노프로브 에스.피.에이. 전자 소자 테스트 장치용 인터페이스 요소 및 그에 대응하는 제조방법
JP6454811B1 (ja) * 2018-03-02 2019-01-16 東京特殊電線株式会社 異方性導電シート
WO2019168147A1 (ja) * 2018-03-02 2019-09-06 東京特殊電線株式会社 異方性導電シート
JP2019153571A (ja) * 2018-03-02 2019-09-12 東京特殊電線株式会社 異方性導電シート
CN112041689A (zh) * 2018-04-13 2020-12-04 黄东源 用于测试半导体器件的接触件及测试插座
CN112041689B (zh) * 2018-04-13 2024-03-12 黄东源 用于测试半导体器件的接触件及测试插座

Also Published As

Publication number Publication date
US20020191406A1 (en) 2002-12-19
US7267559B2 (en) 2007-09-11
JP3616031B2 (ja) 2005-02-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2002343462A (ja) 異方導電性シート、その製造方法、接点構造体、電子装置及び動作試験用検査装置
JP3814231B2 (ja) スパイラルコンタクタ及びその製造方法、並びにそれを用いた半導体検査装置、及び電子部品
WO1996013728A1 (fr) Structure de sonde
US8001685B2 (en) Method for manufacturing probe card needles
JP4852236B2 (ja) バンプ付きメンブレンおよびその製造方法およびウエハの検査方法
JP2004342597A (ja) 異方導電性シートおよびその製造方法、アダプター装置およびその製造方法並びに回路装置の電気的検査装置
JP5018612B2 (ja) 異方導電性シートおよび異方導電性シートの製造方法
JPH07167892A (ja) プローブ集合体、その製造方法及びそれを用いたic測定用プローブカード
JP3096233B2 (ja) プローブ構造
KR20080077087A (ko) 이방성 도전 시트, 그 제조 방법, 접속 방법 및, 검사 방법
JP3246841B2 (ja) プローブ構造
JP4380373B2 (ja) 電気抵抗測定用コネクター、電気抵抗測定用コネクター装置およびその製造方法並びに回路基板の電気抵抗測定装置および測定方法
JP3640268B2 (ja) コネクタ及びコネクタ製造方法
KR20110085823A (ko) 반도체 패키지 테스트용 소켓 및 그의 제조 방법
JP2001052780A (ja) 電気コネクタおよびその製造方法
JP6756996B1 (ja) 導電性部材の製造方法
JP2008089377A (ja) シート状プローブおよびその製造方法ならびにその応用
JP2009129609A (ja) 複合導電性シート、異方導電性コネクター、アダプター装置および回路装置の電気的検査装置
JP3815571B2 (ja) シート状プローブの製造方法
JP2000003741A (ja) コネクターおよびそれを用いた回路基板検査装置
JP2005077262A (ja) プリント配線板の検査用基板
JP2008070271A (ja) シート状プローブおよびその製造方法ならびにその応用
WO2021106753A1 (ja) プローブシート及びプローブシートの製造方法
JPH11295344A (ja) 半導体検査治具および半導体検査治具の製造方法
JP2002176082A (ja) 半導体検査装置およびそれを用いた半導体装置の検査方法および半導体装置の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040224

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040302

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040506

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20040622

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040823

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20040908

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20041005

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20041102

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081112

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081112

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091112

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101112

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101112

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111112

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111112

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121112

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121112

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131112

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees