JP2000252240A - 切削装置 - Google Patents

切削装置

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JP2000252240A
JP2000252240A JP11055358A JP5535899A JP2000252240A JP 2000252240 A JP2000252240 A JP 2000252240A JP 11055358 A JP11055358 A JP 11055358A JP 5535899 A JP5535899 A JP 5535899A JP 2000252240 A JP2000252240 A JP 2000252240A
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cutting
groove
image
detecting
workpiece
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Kazuma Sekiya
一馬 関家
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 被加工物を切削する場合において、生産性を
低下させることなく切削溝の状態を検出できるようにし
て、品質の低いペレットが形成されてしまうのを未然に
防止できるようにする。 【解決手段】 被加工物を保持する保持手段と、該保持
手段に保持された被加工物を切削する切削ブレード11
を備えた切削手段10とから少なくとも構成される切削
装置において、切削手段10に隣接する位置に、被加工
物の切削により形成された切削溝を検出する検出手段2
0を配設する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウェーハ等
の各種の被加工物を切削する切削装置に関し、詳しく
は、切削により形成された切削溝の状態を迅速に検出で
きるようにした切削装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】各種の被加工物を切削する切削装置、例
えば、図6に示すダイシング装置50を用いて半導体ウ
ェーハWを切削する場合においては、保持テープTによ
ってフレームFに保持された半導体ウェーハWが保持手
段51に保持される。そして、保持手段51が+X方向
に移動してアライメント手段52の直下に位置付けられ
る。
【0003】アライメント手段52の下部には撮像手段
53が配設されており、半導体ウェーハWの表面に形成
された切削すべき領域であるストリートが撮像手段53
によって撮像され、その画像情報に基づいてアライメン
ト手段52において予め記憶しておいたストリートの画
像とのパターンマッチング等の処理を行い、切削すべき
ストリートが検出される。また、撮像されたストリート
はモニター56に表示される。
【0004】切削すべきストリートが検出されると、切
削手段54を構成する切削ブレード55とストリートと
のY軸方向の位置合わせがなされ、切削ブレード55が
高速回転すると共に、更に保持手段51が+X方向に移
動することにより、ストリートが切削される。そして、
切削手段54が予めアライメント手段52に記憶されて
いるストリート間隔分だけY軸方向に移動しながら同様
の切削が行われ、更に保持手段51が90度回転して同
じようにすべてのストリートが切削されることにより、
縦横に切削されて個々の半導体ペレットが形成される。
【0005】こうしてストリートが切削されることによ
り、ストリートには切削溝が形成されるが、この切削溝
の両側にはチッピングと呼ばれる細かな欠けが生じる場
合がある。このチッピングは、個々のペレットの品質の
低下を招く原因となるため、チッピングが許容できる範
囲を超えている場合には、切削ブレード55をドレッシ
ングしたり交換したりする等の対策を講じることにより
ペレットの品質の低下を防止する必要がある。
【0006】そこで、切削途中において保持手段51を
−X方向に移動させ、半導体ウェーハWを撮像手段53
の直下に位置付けて切削溝を撮像し、取得した画像に基
づいてアライメント手段52においてチッピングの状態
が許容できる範囲内か否か、切削を続行すべきか否か等
の判断を行っている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、切削溝
を撮像するためには、切削作業を中断して半導体ウェー
ハWを−X方向に移動させなければならないため、生産
性を低下させる要因となり、作業工数も増えてコスト高
になるという問題がある。
【0008】一方、ある程度の生産性を確保するために
は、このような撮像を頻繁に行うことができないため、
切削溝の異常を検出したときには既に品質の低い半導体
ペレットが大量に形成されてしまっていることもあり得
る。
【0009】このように、被加工物を切削する場合にお
いては、生産性を低下させることなく切削溝の状態を検
出できるようにすることに解決すべき課題を有してい
る。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の具体的手段として本発明は、被加工物を保持する保持
手段と、該保持手段に保持された被加工物を切削する切
削ブレードを備えた切削手段とから少なくとも構成され
る切削装置であって、切削手段に隣接する位置に、被加
工物の切削により形成された切削溝を検出する検出手段
を配設したことを特徴とする切削装置を提供する。
【0011】また本発明は、検出手段は、該検出手段の
光軸及び切削ブレードの最下点が被加工物を切削するの
に必要な切削ストローク内に位置付けられるよう配設し
たこと、検出手段には、瞬間の画像を取り込む瞬間画像
取り込み手段を備えたこと、検出手段は、光学手段と、
撮像手段と、処理手段とから構成され、瞬間画像取り込
み手段は、光学手段に配設されたシャッターであるこ
と、光学手段には、少なくともその光軸上に存在するミ
ストを排除するエアーブロー手段が含まれること、処理
手段には、切削によって実際に形成された切削溝を撮像
手段により撮像して取得した画像情報を記憶する第一の
記憶手段と、正常な切削溝の状態を表す画像情報を予め
記憶する第二の記憶手段と、第一の記憶手段に記憶され
た画像情報と第二の記憶手段に記憶された画像情報とを
比較して実際に形成された切削溝が正常か異常かを判断
する判断手段と、該判断手段により実際に形成された切
削溝が異常と判断された場合にその旨をオペレータに知
らせる報知手段とが少なくとも含まれること、被加工物
は半導体ウェーハであり、切削装置はダイシング装置で
あることを付加的要件とする。
【0012】このように構成される切削装置を用いて被
加工物を切削した場合には、切削手段に隣接する位置に
検出手段を配設したため、切削溝の検出のために半導体
ウェーハを移動させる必要がなく、切削を中断すること
なく切削溝の状態を逐次検出することができる。また、
常に切削溝の状態を監視することができるため、切削溝
に異常が発生していることを迅速に発見することができ
る。
【0013】
【発明の実施の形態】本発明に係る切削装置は、図1に
示すように、図6に示した従来のダイシング装置50に
おける切削手段10に隣接する位置に、切削により形成
された切削溝の状態を検出することができる検出手段2
0を配設したものであり、検出手段20を配設した点以
外については従来の切削装置50と同様に構成される。
従って、従来のダイシング装置50と共通する部位につ
いては同一の符号を付し、その説明は省略するものとす
る。
【0014】図1に示す切削手段10は、スピンドルの
先端に装着された切削ブレード11と、スピンドルを回
転可能に支持するスピンドルハウジング12と、スピン
ドルハウジング12の先端に取り付けられて切削ブレー
ド11を上方から覆うブレードカバー13とから概ね構
成されており、ブレードカバー13の側部には検出手段
20が取り付けられている。また、ブレードカバー13
の上部には切削水流入部14が設けられ、ここから流入
した切削水は、ブレードカバー13の下部に配設された
切削水供給ノズル15から切削ブレード11と被加工物
との接触部に供給される。
【0015】ブレードカバー13の側部に取り付けられ
た検出手段20は、図2に示すように、光学手段21
と、その上部に位置する撮像手段22と、撮像手段22
からの情報を処理する処理手段23とから構成される。
【0016】図3に示すように、光学手段21は、対物
レンズ24と、プリズム25と、可視光フィルタ26
と、シャッター27とから構成されており、対物レンズ
24は、切削ブレード11の−X方向の延長線上に配設
され、切削中は、半導体ウェーハWを保持した保持手段
51が−X方向に移動することにより、切削ブレード1
1により切削されて半導体ウェーハWに形成された切削
溝の直上に位置付けられる。
【0017】また、対物レンズ24の下方には、エアー
供給源に連通するエアー供給路28が連結されており、
ここに供給されたエアーは、エアーブロー孔29から撮
像位置に吹き付けられることにより、エアーブロー手段
を構成している。
【0018】対物レンズ24によって拡大して捉えられ
た画像は、可視光フィルタ26によって赤外光や紫外光
が遮断されて可視光のみが透過する。また、可視光フィ
ルタ26を透過した画像は、シャッター27の瞬間の開
閉によって静止画として撮像手段22に供給される。即
ち、シャッター27は瞬間画像取り込み手段としての役
割を果たす。
【0019】撮像手段22は、CCDカメラ等であり、
光学手段21に対して光軸が一致するよう配設されてお
り、撮像した画像は処理手段23へと転送される。
【0020】図2に示すように、処理手段23は、処理
手段23の内部における各種の処理を制御するCPU3
0と、画像情報を記憶するメモリからなる第一の記憶手
段31及び第二の記憶手段32と、画像情報に基づき切
削溝の状態の良否を判断する判断手段33と、切削溝の
状態が異常であることをブザーを鳴らす等の方法により
知らせる報知手段34とから構成される。
【0021】第一の記憶手段31には、撮像手段22が
撮像して取得した画像情報が逐次転送されて記憶され、
第二の記憶手段32には正常な切削溝の状態を示す画像
情報が予め記憶される。そして、第一の記憶手段31に
記憶された画像と第二の記憶手段32に予め記憶されて
いる画像とは、判断手段33においてパターンマッチン
グ等の処理によって比較される。そして、比較の結果、
切削溝の状態が異常と判断された場合にはその旨を報知
手段34に知らせる。
【0022】図3に示すように、光学手段21には、プ
リズム25、グラスファイバー35を介して照明手段3
6が連結されており、撮像時に切削溝を照らすことがで
きる。この照明手段36の内部には、例えばハロゲンラ
ンプ等の発光体37を備え、この発光体37は調光器3
8によって光量を調節可能となっている。また、発光体
37の下方には熱線吸収フィルタ39が配設され、更に
その下方にはストロボ発光部40が配設されている。ス
トロボ発光部40は、シャッター27と同様に瞬間画像
取り込み手段として機能する。なお、シャッター27と
ストロボ発光部40とは少なくともどちらか片方が存在
すればよい。
【0023】被加工物、例えば半導体ウェーハを切削す
る際は、図2及び図3に示すように、半導体ウェーハW
は保持手段51に保持されて−X方向に移動し、高速回
転する切削ブレード11と接触することにより切削が行
われて切削溝が形成される。このとき、切削手段10に
隣接してその−X方向には検出手段20が配設されてい
るため、切削を行いながら、切削直後の切削溝の状態が
撮像される。
【0024】撮像時は、光学手段21に備えたシャッタ
ー27または照明手段36に備えたストロボ発光部40
を利用することによって、切削溝の状態を瞬間画像とし
て取り込むことができる。従って、切削手段10及び検
出手段20の移動中においても静止画像を取り込むこと
ができる。
【0025】撮像して取得した画像情報は、直ちに処理
手段23を構成する第一の記憶手段31に記憶される。
ここで記憶される画像は、例えば、図4(A)のような
画像であり、モニター56に表示させることができる。
【0026】なお、切削ブレード11と半導体ウェーハ
Wとの接触部には切削水供給ノズル15から切削水が供
給され、切削により発生した切削屑の混じった切削水が
滞留し、更にその切削水は切削ブレード11の回転によ
りミストとなって飛散するため、切削溝の形状を明確に
認識できない場合もあるが、この場合は、エアーブロー
孔29から高圧エアーを吹きかけて光軸上に存在するミ
ストを排除するようにすれば、切削溝の状態を明確に撮
像することができる。
【0027】判断手段33においては、第二の記憶手段
32に予め記憶されていた画像、例えば図4(B)に示
すような画像と第一の記憶手段31に記憶した画像とを
パターンマッチング等の処理により比較する。このよう
な比較は、新たな画像情報を第一の記憶手段31に記憶
するごとに逐次行っていく。
【0028】比較の結果、両画像が全く同一ではないに
しても、その相違が許容範囲内にある場合には、切削溝
の状態は異常なしと判断され、そのまま切削が続行され
る。一方、相違が許容範囲を超えていて異常ありと判断
された場合は、報知手段34にその旨を伝達し、報知手
段34においては、ブザーを鳴らす、モニター56を点
滅させる等によりオペレータに対して異常を知らせる。
そして、これを知ったオペレータは、適宜のタイミング
で切削を中止し、切削ブレード11をドレッシングした
り交換したりする等の対策を講じることにより、チッピ
ングが多く品質の悪いペレットが多量に形成されるのを
未然に防止することができる。
【0029】このように、検出手段20を切削手段10
に隣接する位置に設けたことにより、切削作業を中断す
ることなく切削直後の切削溝の状態を認識することがで
きるため、切削作業を中断して切削溝の状態を検出しな
ければならなかった従来と比較すると、生産性が大幅に
向上する。また、常に切削溝の状態を監視することがで
きるため、切削溝に異常が発生していることを迅速に発
見することができる。
【0030】なお、検出手段20は、切削時に保持テー
ブル51が移動する範囲、即ち、切削ストローク内にお
ける上方に配設されていればよく、切削手段10の側部
には限定されないが、検出手段20は、検出手段20の
光軸及び切削ブレード11の最下点が共に、被加工物を
切削するのに必要な切削ストローク内に位置付けられる
よう配設していることが望ましい。この場合、本実施の
形態のように検出手段20を垂直方向に取り付けるので
はなく、傾斜させて取り付けることもできる。
【0031】図5に示す第二の実施の形態においては、
対物レンズ24のみがブレードカバー13の側部でかつ
切削ブレード11の−X方向の延長線上に配設され、光
学手段21を構成する可視光フィルタ26、シャッター
27といった他の要素や撮像手段22は離れた位置にお
いて光ファイバー41を介して接続されている。この場
合、検出手段20を構成する対物レンズ24以外の要素
は、切削すべき領域の検出に用いるアライメント手段5
2、撮像手段53を兼用することができる。即ち、検出
手段20もアライメント手段52、撮像手段53も撮像
して取得した画像情報と予め記憶させておいた基準とな
る画像情報との比較を行う点で共通し、撮像する位置が
異なるのみであり、しかも、アライメントは切削中には
行う必要がないため、対物レンズ24以外は共用するこ
とができるのである。従って、図5の実施の形態の場合
は、従来の装置構成をあまり変更せずに済む。
【0032】なお、対物レンズ24の下部から高圧エア
ーを噴出してエアーブローができるように、光ファイバ
ー41に高圧エアー供給チューブを併設し、図3に示し
たのと同様の構成にすることが好ましい。
【0033】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る切削
装置は、切削手段に隣接する位置に検出手段を配設した
ため、切削溝の検出のために半導体ウェーハを移動させ
る必要がない。従って、切削中において切削を中断する
ことなく切削溝の状態を逐次検出することができるた
め、生産性の向上を図ることができる。
【0034】また、検出手段が切削手段に隣接する位置
に配設されていることで、常に切削溝の状態を監視する
ことができるため、切削溝に異常が発生していることを
迅速に発見することができ、品質の低いペレットが形成
されるのを未然に防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る切削装置を構成する切削手段及び
検出手段の第一の実施の形態を示す斜視図である。
【図2】同切削手段及び検出手段の実施の形態の一例を
示す説明図である。
【図3】検出手段を構成する光学手段及び撮像手段、照
明手段を示す説明図である。
【図4】(A)は、撮像した切削溝の画像を示す説明図
であり、(B)は、予め記憶した基準となる画像を示す
説明図である。
【図5】本発明に係る切削装置を構成する切削手段及び
検出手段の第二の実施の形態を示す斜視図である。
【図6】従来のダイシング装置を示す斜視図である。
【符号の説明】
10……切削手段 11……切削ブレード 12……スピンドルハウジング 13……ブレードカバー 14……切削水流入部 15……切削水供給ノズル 20……検出手段 21……光学手段 22……撮像手段 23……処理手段 24……対物レンズ 25……プリズム 26……可視光フィルタ 27……シャッター 28……エアー供給路 29……エアーブロー孔 30……CPU 31……第一の記憶手段 32……第二の記憶手段 33……判断手段 34……報知手段 35……グラスファイバー 36……照明手段 37……発光体 38……調光器 39……熱線吸収フィルタ 40……ストロボ発光部 41……光ファイバー 50……ダイシング装置 51……保持手段 52……アライメント手段 53……撮像手段 54……切削手段 55……切削ブレード 56……モニター

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被加工物を保持する保持手段と、該保持
    手段に保持された被加工物を切削する切削ブレードを備
    えた切削手段とから少なくとも構成される切削装置であ
    って、 該切削手段に隣接する位置に、被加工物の切削により形
    成された切削溝を検出する検出手段を配設したことを特
    徴とする切削装置。
  2. 【請求項2】 検出手段は、該検出手段の光軸及び切削
    ブレードの最下点が被加工物を切削するのに必要な切削
    ストローク内に位置付けられるよう配設した請求項1に
    記載の切削装置。
  3. 【請求項3】 検出手段には、瞬間の画像を取り込む瞬
    間画像取り込み手段を備えた請求項1または2に記載の
    切削装置。
  4. 【請求項4】 検出手段は、光学手段と、撮像手段と、
    処理手段とから構成され、瞬間画像取り込み手段は、光
    学手段に配設されたシャッターである請求項1乃至3に
    記載の切削装置。
  5. 【請求項5】 光学手段には、少なくともその光軸上に
    存在するミストを排除するエアーブロー手段が含まれる
    請求項4に記載の切削装置。
  6. 【請求項6】 処理手段には、切削によって実際に形成
    された切削溝を撮像手段により撮像して取得した画像情
    報を記憶する第一の記憶手段と、正常な切削溝の状態を
    表す画像情報を予め記憶する第二の記憶手段と、該第一
    の記憶手段に記憶された画像情報と該第二の記憶手段に
    記憶された画像情報とを比較して該実際に形成された切
    削溝が正常か異常かを判断する判断手段と、該判断手段
    により該実際に形成された切削溝が異常と判断された場
    合にその旨をオペレータに知らせる報知手段とが少なく
    とも含まれる請求項4または5に記載の切削装置。
  7. 【請求項7】 被加工物は半導体ウェーハであり、切削
    装置はダイシング装置である請求項1乃至6に記載の切
    削装置。
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