DE19740391A1

DE19740391A1 - Beobachtungsvorrichtung für verdeckte Markierungen und Linsenmeßgerät mit Beobachtung verdeckter Markierungen

Info

Publication number: DE19740391A1
Application number: DE19740391A
Authority: DE
Inventors: Eiichi Yanagi; Shinichi Kobayashi; Yukio Ikezawa
Original assignee: Topcon Corp
Current assignee: Topcon Corp
Priority date: 1996-09-05
Filing date: 1997-09-05
Publication date: 1998-03-12
Also published as: JPH10132707A; US5867259A

Description

Die Erfindung bezieht sich auf ein Beobachtungsgerät für verdeckte Markierungen oder Marken, das die ver deckten Markierungen einer zu untersuchenden Linse, insbesondere einer Linse progressiver Stärke (d. h. einer varifokalen Linse), beobachtet und bezieht sich weiterhin auf ein Linsenmeßgerät, das in der Lage ist, diese verdeckten Markierungen zu beobachten.

Im allgemeinen gibt es aufgemalte und gedruckte Mar kierungen auf der Oberfläche einer nicht bearbeiteten Linse progressiver Stärke. Aus den aufgemalten Mar kierungen können der Linsenhersteller, der Linsentyp und die Positionen des Nahbereichs und Fernbereichs der Linse identifiziert werden. Wenn daher die Stärke einer nicht behandelten Linse progressiver Stärke (progressive power lens) durch beispielsweise ein Linsenmeßgerät gemessen wird, kann die Messung bei der durch die Markierung angegebenen Position durch geführt werden. Wenn allerdings einmal eine nicht behandelte Linse behandelt und mit Rahmen versehen wurde, werden die aufgemalten Markierungen durch Al kohol oder dergleichen weggewischt, und daher ist es sehr aufwendig, die Additionsstärke der gerahmten Linse progressiver Stärke zu untersuchen, selbst bei der Verwendung der neuesten Linsenmeßgeräte mit einer progressiven Meßfunktion.

Die auf die Fläche der Linse progressiver Stärke auf gedruckten verdeckten Markierungen oder Marken umfas sen die geometrische Mittenposition der Linse, die hinzugefügte Linsenstärke usw. zusätzlich zu dem Lin senhersteller und dem Linsentyp. Wenn daher die ge druckte Markierung entschlüsselt wird, kann die hin zugefügte Linsenstärke usw. identifiziert werden.

Allerdings ist die verdeckte Markierung ein sehr fla cher Eindruck, damit er nicht bei dem normalen Ge brauch stört. Aus diesem Grund wird zur Durchführung der Spezifikation oder der Entschlüsselung der Posi tion der verdeckten Markierung die verdeckte Markie rung vor ein Fluoreszenzlicht gehalten, oder die Re flektion bei einem sehr flachen Winkel wird gewählt. Allerdings bleibt das Problem bestehen, daß die Er kennung und Entschlüsselung von verdeckten Markierun gen für eine nicht geübte Person sehr schwierig ist.

Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung zur Beobachtung von verdeckten Markierun gen zu schaffen, mit der die Entschlüsselung der ver deckten Markierungen einer Linse progressiver Stärke leicht durchgeführt werden kann, wobei gleichfalls ein Linsenmeßgerät geschaffen werden soll, das in der Lage ist, diese verdeckten Markierungen beobachten zu lassen.

Die vorliegende Aufgabe der Erfindung wird durch ein Beobachtungsgerät für verdeckte Markierungen er reicht, bei dem eine zu untersuchende Linse mit einem Beleuchtungslicht beleuchtet wird, und die Beobach tung einer verdeckten Markierung der betrachteten Linse kann über den Schatten der Linse durchgeführt werden, der durch das Beleuchtungslicht abgebildet wird.

Die zuvor erwähnte Aufgabe wird auch von einem Lin senmeßgerät gelöst, das umfaßt: Beleuchtungsmittel zum Beleuchten einer zu untersuchenden Linse mit ei nem kollimierten Lichtbündel, einen Flächensensor für den Empfang des durch die betrachtete Linse transmit tierten kollimierten Lichtbündels, eine Musterplatte, die zwischen der betrachteten Linse und dem Flächen sensor angeordnet wird, wobei die optischen Eigen schaften der zu untersuchenden Linse basierend auf Bildern der Muster in der Musterplatte gemessen wer den, die auf dem Flächensensor durch die Musterplatte abgebildet werden, und ein Beobachtungssystem für verdeckte Marken zum Beobachten einer verdeckten Mar kierung der betrachteten Linse durch Beobachten eines Schattens der Linse, der durch das auf die Linse pro jizierte kollimierte Lichtbündel gebildet wird.

Darüber hinaus wird die vorliegende Aufgabe durch ein Linsenmeßgerät gelöst, das umfaßt: einen optischen Meßstrahlengang, der mit einer Musterplatte zum Mes sen optischer Eigenschaften einer zu untersuchenden Linse versehen ist, und einen optischen Beobachtungs strahlengang zum Beobachten einer verdeckten Markie rung der Linse, wobei der optische Beobachtungsstrah lengang unabhängig von dem Meßstrahlengang vorgesehen ist und wobei ein Bild eines Musters der Musterplatte und ein Bild der verdeckten Markierungen auf einen einzigen Flächensensor projiziert werden, derart, daß die Beobachtung der verdeckten Markierung und die Messung der optischen Eigenschaften der zu untersu chenden Linse durchgeführt werden können.

Weiterhin wird die obige Aufgabe durch ein Linsenmeß gerät gelöst, das umfaßt: eine Vorrichtung zum Be leuchten einer zu untersuchenden Linse mit einem kol limierten Lichtbündel, einen Flächensensor für den Empfang des über die zu untersuchende Linse transmit tierten kollimierten Lichtbündels, eine zwischen der Linse und dem Flächensensor angeordnete Musterplatte, wobei die optischen Eigenschaften der zu untersuchen den Linse basierend auf Bildern der Muster in der Musterplatte gemessen werden, die auf dem Flächensen sor durch die Musterplatte abgebildet werden, und wobei ein optischer Strahlengang für das kollimierte Lichtbündel in einen ersten optischen Strahlengang zum Messen der optischen Eigenschaften und einen zweiten optischen Strahlengang zum Beobachten einer verdeckten Markierung der zu untersuchenden Linse aufgeteilt ist, wobei die Musterplatte in dem ersten optischen Strahlengang vorgesehen ist und ein Schat ten der zu untersuchenden Linse, der durch das kolli mierte Lichtbündel in dem zweiten optischen Strahlen gang gebildet wird, wenn die Linse in dem zweiten optischen Strahlengang angeordnet ist, auf den Flä chensensor für den Empfang eines Bildes eines Musters projiziert wird, wodurch die Beobachtung der verdeck ten Markierung durchgeführt werden kann.

Weiterhin wird die zuvor erwähnte Aufgabe durch ein Linsenmeßgerät gelöst, das umfaßt: eine Beleuchtungs vorrichtung zum Beleuchten einer zu untersuchenden Linse mit einem kollimierten Lichtbündel, einen Flä chensensor für den Empfang des durch die Linse trans mittierten kollimierten Lichtbündels, eine Muster platte, die zwischen der Linse und dem Flächensensor angeordnet ist, wobei die optischen Eigenschaften der zu untersuchenden Linse basierend auf Bildern von Mustern in der Musterplatte gemessen werden, die auf dem Flächensensor durch die Musterplatte abgebildet werden, und wobei ein optischer Strahlengang für das kollimierte Lichtbündel in einen ersten optischen Strahlengang zum Messen der optischen Eigenschaften und einen zweiten optischen Strahlengang zum Beobach ten einer verdeckten Markierung der Linse aufgeteilt wird, wobei die Musterplatte und der Flächensensor in dem ersten optischen Strahlengang vorgesehen sind und weiterhin ein optisches Element zum Lenken eines -Schattens der Linse auf den Flächensensor vorgesehen ist, wobei der Schatten der betrachteten Linse durch das kollimierte Lichtbündel in dem zweiten optischen Strahlengang gebildet wird, wenn die betrachtete Lin se in den zweiten optischen Strahlengang eingesetzt wird, und wobei die Beobachtung der verdeckten Mar kierung der vorliegenden Linse über den Schatten der Linse durchgeführt wird, der auf dem Flächensensor abgebildet wird.

Zusätzlich wird die zuvor erwähnte Aufgabe durch ein Linsenmeßgerät gelöst, das umfaßt: eine Beleuchtungs vorrichtung zum Beleuchten einer zu untersuchenden Linse durch ein kollimiertes Lichtbündel, einen Flä chensensor für den Empfang des durch die Linse trans mittierten Lichtbündels, eine zwischen der Linse und dem Flächensensor angeordneten Musterplatte, wobei die optischen Eigenschaften der Linse basierend auf Bildern von Mustern in der Musterplatte gemessen wer den, die auf dem Flächensensor durch die Musterplatte abgebildet werden, und wobei ein optischer Strahlen gang für das kollimierte Lichtbündel in einen ersten optischen Strahlengang zum Messen der optischen Ei genschaften und einen zweiten optischen Strahlengang zum Beobachten einer verdeckten Markierung der Linse aufgeteilt wird und die Musterplatte und der Flächen sensor in dem ersten optischen Strahlengang und ein Schirm zwischen der Musterplatte und dem Flächensen sor angeordnet sind, wobei eine Abbildungslinse zum Abbilden eines Bildes eines Musters auf dem Flächen sensor vorgesehen ist und das Bild des Musters auf dem Schirm abgebildet wird, wobei ein optisches Ele ment zum Lenken eines Schattens der Linse auf dem Schirm vorgesehen ist und der Schatten der Linse durch das kollimierte Lichtbündel in dem zweiten op tischen Strahlengang gebildet wird, wenn die Linse in dem zweiten optischen Strahlengang angeordnet ist, und wobei die Beobachtung der verdeckten Markierung der zu untersuchenden Linse durch Bilden des Schat tens der Linse auf dem Schirm durchgeführt wird.

Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeich nung dargestellt und werden in der nachfolgenden Be schreibung näher erläutert. Es zeigen:

Fig. 1 eine schematische Darstellung des optischen Systems des Beobach tungsgerätes für verdeckte Marken nach der vorliegenden Erfindung,

Fig. 2 eine vergrößerte Ansicht der auf den Schirm des Beobachtungsgerä tes nach Fig. 1 projizierten ver deckten Markierungen,

Fig. 3 eine Darstellung zur Erläuterung der Schärfe der verdeckten Mar kierungen,

Fig. 4 eine schematische Darstellung eines anderen Beispiels des er sten Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung,

Fig. 5 eine schematische Darstellung eines zweiten Ausführungsbei spiels der vorliegenden Erfin dung,

Fig. 6 eine Darstellung einer anderen Ausführungsform des zweiten Aus führungsbeispiels,

Fig. 7 eine perspektivische Ansicht ei nes Linsenmeßgeräts nach einem dritten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung,

Fig. 8 eine schematische Darstellung des optischen Systems des dritten Ausführungsbeispiels,

Fig. 9 eine Aufsicht auf die Musterplat te nach Fig. 8,

Fig. 10 ein Blockschaltbild des Steuersy stems des Linsenmeßgeräts nach dem dritten Ausführungsbeispiel,

Fig. 11 eine Darstellung eines vierten Ausführungsbeispiels der vorlie genden Erfindung,

Fig. 12 eine Aufsicht auf die Musterplat te nach Fig. 11,

Fig. 13 eine Kennlinie der Musterplatte und des dichroitischen Spiegels,

Fig. 14 eine Darstellung einer anderen Ausführungsform des vierten Aus führungsbeispiels,

Fig. 15 eine Darstellung einer noch ande ren Ausführungsform des vierten Ausführungsbeispiels,

Fig. 16 eine Darstellung einer weiteren Ausführungsform des vierten Aus führungsbeispiels,

Fig. 17 die Darstellung eines fünften Ausführungsbeispiels der vorlie genden Erfindung,

Fig. 18 eine Darstellung eines sechsten Ausführungsbeispiels der vorlie genden Erfindung,

Fig. 19 eine Darstellung des Filters nach Fig. 18,

Fig. 20 eine erläuternde Darstellung ei nes siebenten Ausführungsbei spiels der vorliegenden Erfin dung,

Fig. 21 eine Darstellung der Musterplatte nach Fig. 20,

Fig. 22 eine erläuternde Darstellung ei nes achten Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung,

Fig. 23 eine Ansicht einer anderen Aus führungsform des achten Ausfüh rungsbeispiels,

Fig. 24 eine erläuternde Darstellung, die zeigt, wie die Musterplatte nach Fig. 8 in einen optischen Strah lengang eingesetzt oder daraus entfernt wird,

Fig. 25 eine Darstellung eines anderen Beispiels einer Musterplatte nach Fig. 8,

Fig. 26 eine Ansicht eines optischen Sy stems nach einem neunten Ausfüh rungsbeispiel der vorliegenden Erfindung,

Fig. 27 eine Ansicht einer anderen Aus führungsform des neunten Ausfüh rungsbeispiels,

Fig. 28 eine schematische Ansicht des optischen Systems nach einem zehnten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung,

Fig. 29 eine schematische Darstellung des optischen Systems eines elften Ausführungsbeispiels der vorlie genden Erfindung,

Fig. 30 eine schematische Darstellung des optischen Systems nach einem zwölften Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung, und

Fig. 31 eine Aufsicht auf die Drehplatte nach Fig. 30.

Ausführungsbeispiele eines Beobachtungsgerätes für verdeckte Markierungen und ein verdeckte Markierungen wahrnehmbares Linsenmeßgerät nach dieser Erfindung wird im folgenden auf der Grundlage der Zeichnungen beschrieben.

Erstes Ausführungsbeispiel

In Fig. 1 bezeichnet das Bezugszeichen 1 ein Beobach tungsgerät für verdeckte Markierungen. Dieses Beob achtungsgerät 1 für verdeckte Markierungen besteht aus einem optischen Beleuchtungssystem 2, einer Lin senaufnahme 3 zum Aufnehmen einer progressiven Ver größerungslinse L und einem Schirm 3. Es sei bemerkt, daß die progressive Vergrößerungslinse bzw. das Mehr stärkenglas eine bearbeitete Linse ist, die in einem Brillenrahmen befestigt ist (nicht dargestellt).

Das optische Beleuchtungssystem 2 umfaßt eine Licht quelle 5, wie eine lichtemittierende Diode (LED), eine Lochplatte 6 mit einem Loch 6a und eine Kollima torlinse 7. Ein von der Lichtquelle 5 emittierter Beleuchtungslichtstrahl kommt durch das Loch 6a der Lochplatte 6 bei der Kollimatorlinse 7 an, wie in Fig. 3 gezeigt wird. Der Beleuchtungslichtstrahl bzw. das Beleuchtungslichtbündel wird dann durch die Kol limatorlinse 7 parallelgerichtet bzw. kollimiert, und das kollimierte Lichtbündel beleuchtet die betroffene Linse L. Durch die Beleuchtung mit diesem kollimier ten Lichtbündel werden Schatten auf der betroffenen Linse L auf den Schirm 4 projiziert.

Während die auf den Schirm 4 projizierten Schatten von der Rückseite des Schirms 4 beobachtet werden, wird die betreffende Linse L manuell in bezug auf die Linsenaufnahme 3 so bewegt, daß die Schatten der ver deckten Markierungen auf den Schirm 4 projiziert wer den. Wenn, wie in Fig. 3 gezeigt wird, die Schatten Ma der verdeckten Markierungen auf den Schirm 4 pro jiziert werden, kann dann der Linsenhersteller, der Linsentyp, die geometrische Mittenposition und die Additionsvergrößerung der Linse L entschlüsselt wer den aus den Schatten Ma der verdeckten Markierungen.

Es sei bemerkt, daß das Bezugszeichen Mc der Schatten einer verdeckten Markierung, die eine Nasenseite dar stellt, ist.

Da somit die betrachtete Linse L mit einem kollimier ten Lichtbündel beleuchtet wird, wird der Kontrast des Schattens Ma jeder verdeckten Markierung verbes sert, und die Schatten Ma werden unterscheidungskräf tig. Aus diesem Grund ist die Entschlüsselung der geometrischen Mittenposition und der Additionsvergrö ßerung der betrachteten Linse L einfach, und die Er kennung der verdeckten Markierungen wird gleichfalls einfach.

Es sei bemerkt, daß eine Vergrößerungslinse 201 auch hinter dem Schirm angeordnet werden kann, um verdeck te Markierungen zu beobachten.

Darüber hinaus wird, im Falle, daß die betroffene Linse L einen Defekt hat, ein Schatten aufgrund des Defektes auf den Schirm 4 projiziert, und, da der Schatten, wie bei den oben beschriebenen, unter scheidbar wird, kann ein Defekt in der betreffenden Linse L als unterscheidbarer Schatten beobachtet wer den, und die Bestimmung des Vorhandenseins eines De fektes in der Linse L wird einfachgemacht.

In diesem Ausführungsbeispiel wurde der Lichtstrahl von der Lichtquelle 5 durch die Kollimatorlinse 7 kollimiert, aber selbst wenn das Lichtbündel in ein diffuses Lichtbündel oder ein konvergierendes Licht bündel umgewandelt würde, macht es nichts, solange die Schatten Ma auf den Schirm 4 projiziert werden können.

Fig. 4 zeigt ein anderes Beispiel des ersten Ausfüh rungsbeispiels. Wenn in diesem Ausführungsbeispiel die verdeckten Markierungen einer nicht bearbeiteten Linse L′ beobachtet werden, kann auf der nicht bear beiteten Linse L′ eine Markierung durchgeführt wer den. Auch wird ein Spiegel 8 unter dem Schirm 4 pla ziert, so daß die Linse L′ und der Schirm 4 zur glei chen Zeit beobachtet werden können.

Das Bezugszeichen 9 bezeichnet ein Markierungsele ment. In dem Fall, in dem eine Markierung mit diesem Markierungselement 9 durchgeführt wird, wird die kreisförmige Markierung Mb der verdeckten Markierun gen Ma der unbearbeiteten Linse L′ (siehe Fig. 2) mit einer Ausrichtungsmarkierung Mx ausgerichtet, die in der Mittenposition des Schirms 4 vorgesehen ist, und dann wird die Markierung auf der kreisförmigen Marke Mb durch das Markierungselement 9 durchgeführt.

Das Markierungselement 9 ist über einen Arm 300 an einer Drehwelle 301 befestigt, die in bezug auf einen unteren Spiegelzylinder 302 nach oben und nach unten bewegbar ist. Der Arm 300 ist gleichfalls drehbar auf der Drehwelle 301 zusammen mit der Drehwelle 301. Das Bezugszeichen 303 bezeichnet einen oberen Spiegelzy linder, der mit dem unteren Spiegelzylinder 302 durch ein Kupplungsteil (nicht dargestellt) verbunden ist.

Wenn die Markierung durchgeführt wird, wird der Arm 300 zuerst gedreht, wodurch das Markierungselement 9 zu einer optischen Achse oder auf einer optischen Achse O positioniert wird. Die Drehwelle 301 wird dann nach unten bewegt und die Markierung durchge führt. Diese Markierung kann eine Positioniergenau igkeit während einer Verarbeitungsoperation verbes sern und viel Zeit für zahlreiche Suchen nach ver deckten Markierungen sparen, die während der Verar beitung schlecht sichtbar sind. Folglich wird die Verarbeitungszeit verkürzt, und eine Nichterkennung von verdeckten Markierungspositionen kann verhindert werden.

Auch kann die Vergrößerungslinse 201 hinter dem Schirm 4 angeordnet werden, um verdeckte Marken zu beobachten.

Zweites Ausführungsbeispiel

Fig. 5 zeigt ein zweites Ausführungsbeispiel der vor liegenden Erfindung. In dem zweiten Ausführungsbei spiel werden die Schatten Ma von verdeckten Marken oder Markierungen auf einem Monitor 10 dargestellt, und der Hersteller, der Typ, die geometrische Mitten position und die Additionsstärke (addition power) der vorliegenden Linse L werden automatisch aus den Schatten Ma erhalten. In Fig. 5 ist das Bezugszeichen 11 ein Ladungskoppelspeicherelement (CCD), 12 ein Videosignal-Ausgangskreis, 13 eine arithmetische/ Steuereinheit, wie eine Zentralverarbeitungseinheit (CPU) und 14 ein Speicher, der verschiedene Arten von verdeckten Markierungen und die entsprechenden Lin senhersteller, Linsentypen, geometrische Mittenposi tionen usw. speichert.

Die arithmetische/Steuereinheit 13 extrahiert ver deckte Markierungen aus dem Videosignal, das von dem Videosignal-Ausgangskreis 12 geliefert wird, und ver gleicht die extrahierten verdeckten Markierungen mit den in der Speichervorrichtung 14 gespeicherten Da ten, wodurch der Linsenhersteller, der Linsentyp, die Linsenreferenzposition usw. bestimmt werden. Die arithmetische/Steuereinheit erhält auch die Addi tionsstärke aus dem numerischen Wert (z. B. 25 in Fig. 2) in den extrahierten verdeckten Markierungen. Die erhaltenen Ergebnisse werden auf dem Monitor 10 angezeigt. Diese Ergebnisse können gleichfalls von einem Drucker ausgedruckt werden.

Fig. 6 zeigt ein anderes Beispiel der zweiten Ausfüh rungsform. In diesem Ausführungsbeispiel wird eine Kollimatorlinse 17 verwendet, die größer im Durchmes ser ist als die vorliegende Linse L, so daß alle Schatten auf der betrachteten Linse L auf dem Schirm 4 zu einem Zeitpunkt angezeigt werden können. Somit besteht nicht die Notwendigkeit, die vorliegende Lin se L zu bewegen.

In Fig. 6 bezeichnet das Bezugszeichen 15 eine Abbil dungslinse, die die Bilder der auf dem Schirm 4 pro jizierten Schatten auf die Ladungsspeichervorrichtung 11 (CCD) projiziert.

Drittes Ausführungsbeispiel

In Fig. 7 ist ein drittes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung dargestellt. In dem dritten Ausführungsbeispiel können verdeckte Marken mit einer Linsenmeßvorrichtung beobachtet werden.

In der Figur bezeichnen die Bezugszeichen 101 den Hauptkörper eines Linsenmeßgerätes 100, 102 einen an dem vorderen oberen Bereich des Hauptkörpers 101 an geordneten Monitor, 103 einen unteren käfigförmigen Körper, der auf dem vorderen mittleren Bereich des Hauptkörpers 101 vorgesehen ist, wobei ein optisches Meßsystem in dem unteren käfigförmigen Körper 103 angeordnet ist. 104 ist eine kegelstumpfförmige Lin senaufnahme (Linsenbefestigungsbereich), die integral auf dem oberen Teil des unteren käfigförmigen Körpers 103 vorgesehen ist, und 105 ist ein oberer käfigför miger Körper, der über der Linsenaufnahme 104 ange ordnet ist und integral an dem Hauptkörper 101 vor gesehen ist.

Es sei bemerkt, daß die optische Mitte der Linsenauf nahme 104 die optische Mitte (optische Meßachse) 20a eines optischen Meßsystem 20, das in Fig. 8 gezeigt wird, geworden ist. Es ist auch ein optisches Be leuchtungssystem 21 zum Richten eines kollimierten Beleuchtungslichtbündels zu der Linsenaufnahme 104 in dem oberen käfigförmigen Körper 105 eingeschlossen.

Das optische Beleuchtungssystem 21 weist eine Licht quelle 22, eine Lochplatte 6 und eine Kollimatorlinse 24 auf und beleuchtet die vorliegende Linse L mit einem kollimierten Lichtbündel. Die Lochplatte 6 ist an dem vorderen Brennpunkt der Kollimatorlinse 24 angeordnet.

Der untere käfigförmige Körper 103 weist ein Licht empfangssystem 25, das darin eingeschlossen ist, auf. Das Lichtempfängersystem 25 weist eine ein Muster erzeugende Platte 23 und einen Flächensensor 27 auf, der als Ladungsspeichervorrichtung (CCD) ausgebildet ist. Die Muster erzeugende Platte 23 ist so konstru iert, daß sie in den Strahlengang eingefügt und aus diesem herausgenommen werden kann. Das Einsetzen/Ent fernen wird beispielsweise durch einen Motor 200, wie derjenige, der in Fig. 24 gezeigt ist, durchgeführt.

Die ein Muster erzeugende Platte 23 umfaßt, wie in Fig. 9 gezeigt wird, einen Glasgrundkörper 23A, der einen Lichtabschirmbereich 23B und einen transmittie renden Bereich 23C aufweist. Der transmittierende Bereich 23C besteht aus vier musterbildenden Teilen 23c, die vier Ecken eines Quadrats bilden. Wie in Fig. 25 gezeigt wird, ist es auch möglich, den Licht transmittierenden Bereich 23C als Lichtabschirmbe reich und den Lichtabschirmbereich 23B als transmit tierenden Bereich zu verwenden.

Der durch die vorliegende Linse L hindurchgehende kollimierte Lichtstrahl wird durch die Muster erzeu genden Teile 23c der Muster erzeugenden Platte 23 transmittiert und erreicht den Flächensensor 27. Als Konsequenz wird das Bild des quadratförmigen Musters auf dem Flächensensor 27 abgebildet. Somit bilden das Beleuchtungssystem 21 und das Lichtempfängersystem 25 als Gesamtheit das optische Meßsystem 20, das die Messungen des Prismengrades und der Brechkraft der vorliegenden Linse L durchführt. Zusätzlich bestimmen das optische Beleuchtungssystem 21 und der Flächen sensor 27 eine Beobachtungssystem zur Beobachtung von verdeckten Marken.

Wenn die Muster bildende Platte 23 aus dem Strahlen gang entfernt wird, werden die Schatten der betrach teten Linse L auf den Flächensensor 27 projiziert.

Eine automatische Markierungseinheit 30 ist in dem unteren Bereich des oberen käfigförmigen Körpers 105 angeordnet. Die automatische Markierungseinheit 30 ist mit Markierungsarmen 108 ausgerüstet, die nach oben in eine horizontale Position durch ein nicht dargestelltes Solenoid und einen nicht dargestellten Motor, die diese Markierungsarme 108 für eine Bewe gung nach oben und nach unten antreiben, bewegt wer den. Wenn die Markierungsarme 108 nach unten bewegt werden, werden die Arme Saugelement-Befestigungsmar ken auf eine unbearbeitete Linse (nicht dargestellt) aufbringen, die in der Linsenaufnahme 104 befestigt ist.

Ein Steuerbereich 101A ist auf dem unteren Bereich des Hauptkörpers 101 des Linsenmeßgerätes vorgesehen. Der Steuerbereich 101A ist mit Betriebsartschaltern S1 bis S3 zum Einstellen verschiedener Meßarten und einer Vielzahl von Tasten K für die Eingabe von ver schiedenen Daten und verschiedenen Steuerbefehlen versehen.

Der Schalter S1 bestimmt den Beobachtungsmodus, mit dem ein Beobachtungsmodus eingestellt wird, um die verdeckten Marken auf der betreffenden Linse L zu beobachten. Der Schalter S2 ist ein Meßmodusschalter, mit dem die Meßbetriebsart eingestellt wird, um die optischen Eigenschaften der betreffenden Linse L zu messen. Der Schalter S3 stellt einen Markierungsmodus ein, mit dem automatisch die Markierung durchgeführt wird, wenn die vorliegende Linse L gemessen wird.

Zusätzlich weist der Hauptkörper 101 des Linsenmeßge rätes 100 einen darin aufgenommenen Drucker 29 auf, der die Ergebnisse der Messung und der Beobachtung auf Aufzeichnungspapier 29a druckt.

Fig. 10 zeigt ein Blockschaltbild des Steuersystems des Linsenmeßgerätes. In der Figur bezeichnet das Bezugszeichen 40 eine arithmetische/Steuereinheit (arithmetische Mittel), die von einer CPIJ oder der gleichen gebildet wird. Wenn die Meßbetriebsart ein gestellt ist, berechnet der arithmetische/Steuerkreis 40 die Linseneigenschaften, wie Prismengrad und Brechkraft der vorliegenden Linse L, basierend auf dem Videosignal, das von einem Ausgangskreis 12 für das Videosignal ausgegeben wird. Das Ergebnis der Berechnung wird in einem Speicher (Speichervorrich tung) 41 gespeichert.

Wenn der Beobachtungsmodus eingestellt ist, extra hiert die arithmetische/Steuereinheit 40 verdeckte Marken oder Markierungen aus dem Videosignal, das von dem Ausgangskreis 12 für Videosignale ausgegeben wird. Aus den extrahierten verdeckten Markierungen bestimmt der arithmetische/Steuerkreis 40 den Her steller, den Typ und die geometrische Mittenposition der Linse, basierend auf den verdeckten Markierungen, die in dem Speicher 14 gespeichert sind. Zusätzlich erhält die arithmetische/Steuereinheit 40 die Addi tionsstärke aus dem numerischen Wert in den extra hierten verdeckten Markierungen. Darüber hinaus be wirkt die arithmetische/Steuereinheit 40, daß der Monitor 10 die erhaltenen Ergebnisse anzeigt und der Drucker 29 diese ausdruckt.

Die auf den Flächensensor 27 projizierten Schatten der verdeckten Markierungen und Bilder der Muster werden gleichfalls auf dem Monitor 102 angezeigt.

Es wird nun eine Beschreibung der Betriebsweise des zuvor erwähnten Linsenmeßgerätes gegeben.

Wenn verdeckte Markierungen beobachtet werden, wird die betreffende Linse L der Brille R auf die Aufnahme 104 montiert, wie in Fig. 7 gezeigt wird, dann wird die Spannung durch einen Hauptschalter (nicht ge zeigt) eingeschaltet, und der Schalter S1 wird betä tigt. Wenn der Schalter S1 eingeschaltet ist, ist der Beobachtungsmodus eingestellt, und die Muster erzeu gende Platte 23 wird aus dem Strahlengang entfernt.

Da die Spannungsversorgung für das Linsenmeßgerät eingeschaltet wurde, wird die Lichtquelle 22 des op tischen Meßsystems 20 eingeschaltet. Das von der Lichtquelle 22 emittierte Beleuchtungslichtbündel erreicht die Kollimatorlinse 24 über das Loch 6a der Lochplatte 6. Das Beleuchtungslichtbündel wird durch die Kollimatorlinse 24 kollimiert, und der kollimier te Lichtstrahl beleuchtet die betreffende Linse L. Mit der Beleuchtung durch diesen kollimierten Licht strahl werden die Schatten auf der betreffenden Linse L auf den Flächensensor 27 projiziert. Die Bilder der projizierten Schatten werden auf dem Monitor 102 an gezeigt. Dann wird die Brille R in bezug auf die Auf nahme 104 bewegt, und wenn die Schatten der verdeck ten Markierungen auf der betreffenden Linse L auf den Flächensensor 27 projiziert werden, werden die Bilder der Schatten der verdeckten Markierungen auf dem Mo nitor 102 angezeigt, wie in Fig. 7 gezeigt wird.

Da auch in diesem Ausführungsbeispiel die Schatten der verdeckten Markierungen, die auf dem Flächensen sor 27 projiziert werden, scharf werden, können die verdeckten Markierungen als klare bzw. scharfe Schat ten mit dem Monitor 102 beobachtet werden, und folg lich kann die Entschlüsselung der verdeckten Markie rungen einfachgemacht werden. Da darüber hinaus ein Defekt in der betreffenden Linse als klarer bzw. scharfer Schatten beobachtet werden kann, wird die Bestimmung des Vorhandenseins eines Defektes in einer Linse einfach.

Weiterhin extrahiert der arithmetische/Steuerkreis 40 verdeckte Markierungen aus dem Videosignal, das von dem Videosignal-Ausgangskreis 12 ausgegeben wird. Aus den extrahierten verdeckten Markierungen werden der Linsenhersteller, der Linsentyp und die geometrische Mittenposition der Linse basierend auf den in dem Speicher 14 gespeicherten verdeckten Markierungen erhalten. Darüber hinaus wird die Additionsstärke aus dem numerischen Wert in den extrahierten verdeckten Markierungen gewonnen. Diese erhaltenen Ergebnisse werden auf dem Monitor 102 angezeigt. Auch können bei Tasteneingabe die erhaltenen Ergebnisse von dem Drucker 29 ausgedruckt werden.

Wenn die optischen Eigenschaften der vorliegenden Linse L gemessen werden, wird der Schalter S2 einge schaltet, wodurch der Meßmodus eingestellt wird. Mit dem Einstellen der Meßbetriebsart wird die Muster bildende Platte 23 in den Strahlengang eingeführt.

Das durch die betrachtete Linse transmittierte Be leuchtungslichtbündel geht durch den Muster bildenden Teil 23C der Muster bildenden Platte 23 hindurch und gelangt auf den Flächensensor 27. Die Bilder der Mu ster in dem Muster bildenden Teil 23C der Muster bil denden Platte 23 werden auf dem Flächensensor 27 ab gebildet. Der arithmetische/Steuerkreis 40 berechnet den Kugelgrad S der unbearbeiteten Linse, basierend auf dem Videosignal, das von dem Ausgangskreis 12 für Videosignale ausgegeben wird. Der berechnete sphäri sche Grad S, der Zylindergrad C und der axiale Win kelgrad A werden im Speicher 41 gespeichert. Darüber hinaus werden sie auf dem Monitor 102 angezeigt und von dem Drucker 29 ausgedruckt, wodurch die Messung vervollständigt wird.

In dem Fall, bei dem der Schalter S3 eingeschaltet ist und die Markierungsbetriebsart eingestellt ist, wird die Markierung nach der Messung durch die auto matische Markierungseinheit 30 durchgeführt. In dem Fall, bei dem die betrachtete Linse L eine unbearbei tete Linse mit einem einzigen Brennpunkt ist, wird der Mittenbereich der nicht behandelten Linse zuvor mit der Mitte der Linsenaufnahme 104 ausgerichtet.

In dem Fall, bei dem die Markierung auf der kreisför migen Marke Mb (siehe Fig. 2) der verdeckten Markie rungen einer unbehandelten Linse durchgeführt wird, wird diese kreisförmige Marke Mb mit der Mitte der Linsenaufnahme 104 ausgerichtet, während der Monitor 102 betrachtet wird, und eine vorbestimmte Taste K wird betätigt. Dies bewirkt, daß der zentrale Markie rungsarm 108 alleine arbeitet, und die Markierung wird auf der kreisförmigen Marke Mb ausgeführt.

Obwohl in dem zuvor erwähnten Ausführungsbeispiel die mit Muster versehene Platte 23 aus dem Strahlengang entfernt wird, wenn die verdeckten Marken beobachtet werden, kann die Musterplatte 23 auch aus einer Flüs sigkristallblende bestehen.

In diesem Fall besteht keine Notwendigkeit, die Mu ster bildende Platte 23 aus dem Strahlengang zu ent fernen, wenn die Flüssigkristallblende geöffnet wird und die gesamte Fläche in den transparenten Zustand bei Beobachtung der verdeckten Marken gebracht wird. Da in diesem Falle keine Maßnahmen zum Einfügen oder Entfernen der mit Muster versehenen Platte 23 notwen dig ist, wird der Aufbau einfacher. Es sei bemerkt, daß nur der mustergebende Teil 23C der Musterplatte 23 in einen transparenten Zustand gebracht wird, wenn die optischen Eigenschaften gemessen werden.

Viertes Ausführungsbeispiel

Fig. 11 zeigt ein viertes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. Dieses vierte Ausführungsbei spiel ist dadurch gekennzeichnet, daß die Beobachtung der verdeckten Markierungen und die Messung der opti schen Eigenschaften einer betrachteten Linse durch geführt werden kann, ohne eine Musterplatte 123 zu bewegen.

In Fig. 11 bezeichnet das Bezugszeichen 120 eine Leuchtdiode LED, die Licht einer ersten Wellenlänge β emittiert, 121 bezeichnet eine Leuchtdiode (LED), die Licht einer zweiten Wellenlänge α emittiert, 122 ist ein dichroitisches Prisma, das die erste Wellenlänge β durchläßt und die zweite Wellenlänge α reflektiert, und 123 ist eine Musterplatte.

In der Musterplatte 123 besteht der Abschirmbereich 123B, wie in Fig. 12 gezeigt wird, aus einem dichroi tischen Spiegel, der nur die erste Wellenlänge β durchläßt und die zweite Wellenlänge α reflektiert, und der mustergebende Bereich 123C besteht aus vier transmittierenden Teilen 123c, die sowohl die erste und die zweite Wellenlänge β und α durchlassen. Die Transmissionsgrade des dichroitischen Spiegels und des dichroitischen Prismas 122 in bezug auf die Wel lenlänge ist wie in Fig. 13 dargestellt.

Wenn verdeckte Markierungen beobachtet werden, wird die LED 120 alleine eingeschaltet. Das Beleuchtungs lichtbündel der ersten Wellenlänge β, das von der LED 120 emittiert wird, gelangt über das Loch 6a der Lochplatte 6 und das dichroitische Prisma 122 auf die Kollimatorlinse 24. Das Beleuchtungslichtbündel wird durch die Kollimatorlinse 24 kollimiert, und das kol limierte Lichtbündel beleuchtet die betreffende Linse L. Dann erreicht das durch die betrachtete Linse L transmittierte Beleuchtungslichtbündel die Muster platte 123.

Da der Beleuchtungslichtstrahl die erste Wellenlänge β umfaßt, wird er über den Lichtabschirmbereich 123B und den Musterbereich 123C der Musterplatte 123 transmittiert. Der transmittierte Beleuchtungslicht strahl erreicht den Flächensensor 27, und die Schat ten auf der betrachteten Linse L werden auf den Flä chensensor 27 projiziert. Danach werden die verdeck ten Marken auf dem Monitor 102 angezeigt (siehe Fig. 7), und der Linsenhersteller, der Linsentyp, die geo metrische Mittenposition und die Additionsstärke wer den erhalten.

In dem Fall, bei dem die Linseneigenschaften der be trachteten Linse L gemessen werden, wird nur die LED 121 eingeschaltet. Das von der LED 121 emittierte Beleuchtungslicht der zweiten Wellenlänge α wird über das Loch 6a der Lochplatte 6 übertragen. Der hin durchgehende Lichtstrahl wird dann durch das dichroi tische Prisma 122 reflektiert und gelangt auf die Kollimatorlinse 24. Der kollimierte Lichtstrahl von der Kollimatorlinse 24 beleuchtet die betrachtete Linse L. Dann gelangt das durch die Linse L transmit tierte Beleuchtungslichtbündel auf die Musterplatte 123.

Da das Beleuchtungslichtbündel die zweite Wellenlänge α umfaßt, wird es nur durch den mustergebenden Be reich 123C der Musterplatte 123 hindurchgelassen und trifft auf den Flächensensor 27. Die Bilder der Mu ster des mustergebenden Bereichs 123C werden auf dem Flächensensor 27 abgebildet, und die Linseneigen schaften werden gemessen.

Es sei bemerkt, daß, wenn verdeckte Markierungen be obachtet werden, es nicht schädlich ist, wenn beide LEDs 120 und 121 eingeschaltet sind.

Die Fig. 14 bis 16 stellen Beispiele des Falls dar, bei dem das dichroitische Prisma 122 weggelassen wird. In dem in Fig. 14 dargestellten Beispiel sind die LEDs 120, 121 an der gleichen Position hinter der Lochplatte 6 angeordnet, und eine Streuplatte 130 ist zwischen die LEDs 120 und 121 und die Lochplatte 6 eingesetzt.

In dem in Fig. 15 dargestellten Beispiel sind die LEDs 120 und 121 an einer integrierenden Kugel 131 (U-Kugel) mit einem Loch 131a befestigt.

In dem Beispiel nach Fig. 16 sind die zwei LEDs 120 und 121 in einem einzigen Element 132 zusammengefaßt.

Fünftes Ausführungsbeispiel

Fig. 17 zeigt ein fünftes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. Das fünfte Ausführungsbei spiel ist dadurch gekennzeichnet, daß die Beobachtung von verdeckten Markierungen und die Messung der opti schen Eigenschaften der betroffenen Linse L zum glei chen Zeitpunkt mit einer einzigen Lichtquelle durch geführt werden können. In der Figur bezeichnet das Bezugszeichen 1401 eine Wolfram-Halogenlampe, die Licht an mindestens einer ersten und einer zweiten Wellenlänge β und α emittiert, 141 ist ein dichroiti sches Prisma, das Licht der ersten Wellenlänge β transmittiert und Licht der zweiten Wellenlänge α reflektiert, und 142 ist ein Flächensensor mit einer CCD-Anordnung.

Ein Beleuchtungslichtbündel, das von der Halogenlampe 1401 abgestrahlt wird, gelangt über das Loch 6a der Lochplatte 6 auf die Kollimatorlinse 24. Das Beleuch tungslichtbündel wird durch die Kollimatorlinse kol limiert und bestrahlt die vorliegende Linse L. Das durch die Linse L transmittierte Licht gelangt auf die Musterplatte 123.

Das Beleuchtungslichtbündel der ersten Wellenlänge β wird über den Lichtabschirmbereich 123B und den mu stergebenden Bereich 123C der Musterplatte 123 trans mittiert. Das transmittierte Lichtbündel gelangt auf den Flächensensor 27 über das dichroitische Prisma 141, und die Schatten auf der betrachteten Linse L werden auf den Flächensensor 27 projiziert. Die ver deckten Markierungen werden auf dem zuvor erwähnten Monitor 102 angezeigt (siehe Fig. 7), und der Linsen hersteller, die Linsentype, die geometrische Mitten position und die Additionsstärke werden erhalten.

Das Beleuchtungslichtbündel der zweiten Wellenlänge α wird über den mustergebenden Bereich 123C der Muster platte 123 transmittiert. Das transmittierte Licht bündel wird durch das dichroitische Prisma 141 re flektiert und gelangt auf den Flächensensor 142. Die Bilder der Muster des mustergebenden Bereichs 123C werden dann auf den Flächensensor 142 projiziert, und die Linseneigenschaften der Linse L werden gemessen.

Sechstes Ausführungsbeispiel

Fig. 18 zeigt ein sechstes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. In dem sechsten Ausführungs beispiel werden die Beobachtung der verdeckten Mar kierungen und die Messung der Linseneigenschaften simultan mit einem einzigen Flächensensor 27 durch geführt. In der Figur bezeichnet das Bezugszeichen 140 ein Filterpack auf dem Flächensensor 27. Dieses Filter 140, wie in Fig. 19 gezeigt wird, besteht aus ersten Filtern 140A, die nur Licht einer ersten Wel lenlänge β transmittieren, und zweiten Filtern 140B, die nur Licht der zweiten Wellenlänge α transmittie ren. Die Filter 140A und 140B sind schachbrettartig angeordnet.

Das sechste Ausführungsbeispiel ist dadurch gekenn zeichnet, daß verdeckte Markierungen von den Pixeln des Flächensensors 27 entsprechend den ersten Filtern 140A erhalten werden und daß Linseneigenschaften von den Pixeln des Flächensensors 27 entsprechend den zweiten Filtern 140B erhalten werden.

Siebentes Ausführungsbeispiel

Fig. 20 zeigt ein siebentes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. In der Figur sind die Bezugs zeichen 151 und 152 LEDs, die Licht der gleichen Wel lenlänge senden. 153 ist eine Polarisationsplatte, die nur ein Lichtbündel transmittiert, das linear in einer Richtung senkrecht auf eine Papierfläche pola risiert ist, 154 bezeichnet eine Polarisationsplatte, die nur ein Lichtbündel transmittiert, das linear in einer Richtung des Pfeils T polarisiert ist, 155 ist ein Strahlteiler, der einen Lichtstrahl transmit tiert, der linear in der gleichen Richtung wie die Polarisationsplatte 151 polarisiert ist und einen Lichtstrahl reflektiert, der linear in der Richtung des Pfeils T polarisiert ist, und 156 ist eine Mu sterplatte.

Die Musterplatte bzw. mustergebende Platte 156 be steht, wie in Fig. 21 dargestellt ist, aus einem Lichtabschirmbereich 156A, der nur einen Lichtstrahl transmittiert, der linear in eine Richtung des Pfeils V polarisiert ist (in Fig. 20 eine Richtung senkrecht auf die Papierfläche), und einen transmittierenden Bereich 156B, der ein Lichtbündel unabhängig von der Polarisationsrichtung transmittiert. Der transmittie rende Bereich 156B umfaßt vier mustergebende Teile 156b.

Wenn verdeckte Markierungen beobachtet werden, wird die LED 151 eingeschaltet. Das von der LED 151 emit tierte Beleuchtungslichtbündel wird linear in einer Richtung senkrecht auf die Papierfläche polarisiert und über die Polarisationsplatte 153 transmittiert und gelangt auf die Kollimatorlinse 24 über das Loch 6a der Lochplatte 6 und den Strahlteiler 155. Der Beleuchtungslichtstrahl wird durch die Kollimatorlin se 24 kollimiert und bestrahlt die betrachtete Linse L. Dann gelangt das durch die Linse L transmittierte Beleuchtungslichtbündel auf die Musterplatte 156.

Da der Lichtabschirmbereich 156A der Musterplatte 156 nur das Licht hindurchläßt, das linear in Richtung des Pfeils V polarisiert ist, wird der zuvor erwähnte Beleuchtungslichtstrahl durch die Musterplatte 156 hindurchgelassen. Der transmittierte Lichtstrahl er reicht den Flächensensor 27, und die Schatten auf der Linse L werden auf den Flächensensor 27 projiziert. Danach werden die verdeckten Marken auf dem Monitor 102 angezeigt (siehe Fig. 7), und der Linsenherstel ler, der Linsentyp, die geometrische Mittenposition und die Additionsstärke werden erhalten.

Wenn die Linseneigenschaften der vorliegenden Linse L gemessen werden, wird die LED 152 alleine eingeschal tet. Das von der LED 152 emittierte Beleuchtungs lichtbündel wird linear in Richtung des Pfeils T durch die Polarisationsplatte 154 polarisiert. Der linear polarisierte Lichtstrahl gelangt über das Loch 6a der Lochplatte 6 und den Strahlteiler 155 auf die Kollimatorlinse 24, wodurch dieser kollimiert wird. Das kollimierte Lichtbündel strahlt auf die vorlie gende Linse L. Das durch die Linse L transmittierte Beleuchtungsstrahlenbündel ist auf die Musterplatte 156 gerichtet.

Da der Lichtabschirmbereich 156A der Musterplatte 156 nur das Licht transmittiert, das linear in Richtung des Pfeils V polarisiert ist, wird das zuvor erwähnte Beleuchtungslichtbündel durch den Lichtabschirmbe reich 156A der Musterplatte 156 ausgeblendet und wird nur durch die mustergebenden Bereiche 156b transmit tiert. Das durch die mustergebenden Bereiche 156b transmittierte Beleuchtungslicht erreicht den Flä chensensor 27, und die Bilder der Muster der muster gebenden Bereiche 156b werden auf den Flächensensor 27 projiziert. Als Ergebnis können die optischen Ei genschaften der vorliegenden Linse L gemessen werden.

Es sei bemerkt, daß bei Beobachtung der verdeckten Markierungen kein Problem auftritt, selbst wenn die LED 152 eingeschaltet wurde.

Achtes Ausführungsbeispiel

Fig. 22 zeigt ein achtes Ausführungsbeispiel der vor liegenden Erfindung. In dem achten Ausführungsbei spiel können die Beobachtung von verdeckten Marken und die Messung der optischen Eigenschaften der Linse L ohne die Verwendung des zuvor erwähnten Strahltei lers 155 und nur mit einer einzigen LED 151 und einer einzigen Polarisationsplatte 153 durchgeführt werden. In Fig. 22 bezeichnet das Bezugszeichen 160 ein opti sches Faraday-Element, das bei Anliegen eines Magnet feldes bewirkt, daß die Polarisationsrichtung eines linear polarisierten Lichts sich um 90° dreht.

In dem Fall, bei dem verdeckte Marken beobachtet wer den, wird kein Magnetfeld an das Faradaysche Element 160 angelegt. Das von der LED 151 emittierte Beleuch tungslicht wird linear durch die Polarisationsplatte 153 plarisiert. Der linear polarisierte Lichtstrahl wird durch das Faraday-Element 160 ohne Drehung der Polarisationsrichtung transmittiert. Der transmit tierte Lichtstrahl geht durch das Loch 6a der Loch platte 6 und wird durch eine Kollimatorlinse 24 kol limiert. Das kollimierte Lichtbündel bestahlt die vorliegende Linse L. Wie bei dem siebenten Ausfüh rungsbeispiel werden die Schatten auf der Linse L auf einen Flächensensor 27 projiziert, und die verdeckten Markierungen werden auf den zuvor erwähnten Monitor angezeigt (siehe Fig. 7).

In dem Fall, bei dem die optischen Eigenschaften der Linse L beobachtet werden, wird ein Magnetfeld auf das Faraday-Element 160 aufgebracht. Daher wird der durch das Faraday-Element 160 hindurchgehende linear polarisierte Lichtstrahl um 90° gedreht und in eine Richtung des Pfeils T polarisiert. Der in Richtung des Pfeils T polarisierte Beleuchtungslichtstrahl wird, wie in dem siebenten Ausführungsbeispiel, von dem Lichtabschirmbereich 156A der Musterplatte 156 ausgeblendet und nur durch den mustergebenden Bereich 156C transmittiert. Auf diese Weise werden die Bilder der Muster in dem mustergebenden Bereich 156B auf den Flächensensor 27 projiziert, und die optischen Eigen schaften der Linse L werden gemessen.

Fig. 23 zeigt ein anderes Beispiel des achten Ausfüh rungsbeispiels. In diesem Beispiel wird eine Flüssig kristallplatte 161 anstelle eines Faraday-Elementes 160 verwendet. Durch Anlegen einer Spannung an die Flüssigkristallplatte 161 wird die Polarisationsrich tung des linear polarisierten Lichtes um 90° gedreht.

Auch in dem vierten bis achten Ausführungsbeispiel können verdeckte Markierungen als scharfe Schatten mit dem Monitor 102 beobachtet werden, und die Ent schlüsselung der verdeckten Markierungen wird ein fach. Da zusätzlich eine Fehlstelle in der Linse als scharfer Schatten beobachtet werden kann, ist die Bestimmung des Vorhandenseins eines Defektes in der Linse vereinfacht.

Neuntes Ausführungsbeispiel

Fig. 26 zeigt ein neuntes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. In dem neunten Ausführungs beispiel wird ein Strahlengang Q für das kollimierte Lichtbündel in einen ersten Strahlengang Q1 zum Mes sen der optischen Eigenschaften und einen zweiten Strahlengang Q2 zum Beobachten von verdeckten Marken der betrachteten Linse L aufgeteilt. Zu diesem Zweck sind eine erste Linsenaufnahme 104, eine mustergeben de Platte 23 und ein Flächensensor 27 in dem ersten optischen Strahlengang Q1 und eine zweite Linsenauf nahme 201 und ein Prisma 202 in dem zweiten optischen Strahlengang Q2 angeordnet. Das Prisma 202 wird zum Lenken des durch die betrachtete Linse L transmit tierten Lichtstrahls auf den Flächensensor 27 verwen det.

Das Bezugszeichen 203 bezeichnet einen Deckel, der lösbar auf der ersten Linsenaufnahme 104 angeordnet ist. Dieser Deckel kann auch auf der zweiten Linsen aufnahme 201 befestigt werden. Wenn verdeckte Marken beobachtet werden, wird der Deckel 203 auf die erste Linsenaufnahme 104 aufgesetzt, um den Lichtstrahl aus dem ersten optischen Strahlengang Q1 auszublenden. Wenn die Linseneigenschaften der betrachteten Linse L gemessen werden, wird der Deckel 203 auf die zweite Linsenaufnahme 201 aufgesetzt, um den Lichtstrahl aus den zweiten Strahlengang Q2 auszublenden.

In dem Fall, bei dem verdeckte Markierungen beobach tet werden, wie in Fig. 26 gezeigt wird, ist die be trachtete Linse L lauf der zweiten Linsenaufnahme 201 angeordnet, und der Deckel 203 ist auf der ersten Linsenaufnahme 104 aufgesetzt. Daher wird das Licht in dem ersten Strahlengang Q1 durch den Deckel 203 abgeschottet.

Wenn die betrachtete Linse L von dem kollimierten Lichtbündel im zweiten optischen Strahlengang Q2 be strahlt wird, dann werden die Schatten der verdeckten Marken oder der Schatten eines Defekts in der Linse L zusammen mit dem Schatten der Linse L auf den Flä chensensor 27 über das Prisma 203 durch die Beleuch tung mit dem kollimierten Lichtstrahl projiziert. Dann werden die Schatten der verdeckten Marken oder der Schatten einer Fehlstelle auf dem zuvor erwähnten Monitor 102 angezeigt (siehe Fig. 7) zusammen mit dem Schatten der betrachteten Linse L, und diese Schatten werden beobachtet.

Die Messung der Linseneigenschaften der vorliegenden Linse L wird durch Anordnen des Deckels 203 auf der zweiten Linsenaufnahme 201 und durch Plazieren der Linse L auf der ersten Linsenaufnahme 104 durchge führt.

Während in dem neunten Ausführungsbeispiel die Schat ten der betrachteten Linse L und dergleichen als kol limierte Lichtstrahlen zu dem Flächensensor 27 mit tels des Prismas 202 gelenkt wurden, können diese Schatten auch durch Verwenden eines Teils 211 einer Konkavlinse 210 anstelle des Prismas 202 vergrößert werden, wie in Fig. 27 gezeigt wird.

Zehntes Ausführungsbeispiel

Fig. 28 zeigt ein zehntes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. In dem zehnten Ausführungs beispiel wird die Position eines Spiegels 220 umge schaltet, um den durch die Kollimatorlinse 24 kolli mierten Lichtstrahl entweder in einen ersten Strah lengang Q1 oder einen zweiten Strahlengang Q2 zu len ken.

Elftes Ausführungsbeispiel

Fig. 29 zeigt ein elftes Ausführungsbeispiel der vor liegenden Erfindung. In dem elften Ausführungsbei spiel sind ein Schirm 221 und eine Abbildungslinse 222 in einem ersten Strahlengang Q1 angeordnet, so daß die Bilder der Muster in einer mustergebenden Platte 23, die auf dem Schirm 221 gebildet werden, auf einem Flächensensor 27 durch die Abbildungslinse 222 abgebildet werden. Auch ein Prisma 223 mit posi tiver Stärke ist in einem zweiten Strahlengang Q2 angeordnet. Das Bild der betrachteten Linse L wird auf dem Schirm 222 durch das Prisma 223 gebildet, und das auf dem Schirm 221 geformte Bild wird auf dem Flächensensor 27 durch die Abbildungslinse 222 abge bildet. Das Prisma 223 verwendet ein Teil einer kon vexen Linse.

Selbst mit dem zuvor erwähnten zehnten und elften Ausführungsbeispiel können, wie in dem neunten Aus führungsbeispiel, die Messung der Linseneigenschaften der betrachteten Linse L und die Beobachtung der ver deckten Markierungen ohne die Verwendung der Polari sationsplatte und dergleichen und mit einer einzigen Lichtquelle 22 und auch ohne Bewegen der Muster bil denden Platte 23 durchgeführt werden. Auch besteht keine Möglichkeit, daß die Muster der Muster vorge benden Platte 23 bei der Beobachtung von verdeckten Markierungen stören.

Zwölftes Ausführungsbeispiel

Fig. 30 zeigt ein zwölftes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. In dem zwölften Ausführungs beispiel sind eine erste und eine zweite Linsenauf nahme 104 und 201 und eine mustergebende Platte 23 auf einer Drehplatte 230 befestigt. Die Drehplatte 230, wie in Fig. 31 gezeigt wird, ist mit ersten und zweiten transmittierenden Bereichen 230B und 230A an symmetrischen Stellen relativ zu einer Rotationsachse 231 ausgebildet. Der nicht die transmittierenden Be reiche 230B und 230A betreffende Bereich der Platte ist als Lichtabschirmbereich 230 C ausgebildet.

Die zweite Linsenaufnahme 201 und ein Prisma 202 sind auf dem zweiten transmittierenden Bereich 230A und die erste Linsenaufnahme 104 und die mustergebende Platte 23 sind auf dem ersten transmittierenden Be reich 230B angeordnet. Die Drehachse 231 wird durch eine Halteplatte 235 gehalten, die in einem käfigför migen Körper 103 vorgesehen ist, und die Drehplatte 230 wird auf der Drehachse 231 so gelagert, daß sie frei drehbar ist.

Wenn die Drehplatte 230 in einer Position, wie in Fig. 31 gezeigt, angeordnet ist, wird der zweite transmittierende Bereich 230A der Drehplatte 230 aus dem zweiten Strahlengang Q2 entfernt, und der erste transmittierende Bereich 230B wird in den ersten Strahlengang Q1 eingefügt. Wenn die Drehplatte 230 um 45° in die Gegenuhrzeigerrichtung gedreht wird, dann wird der zweite transmittierende Bereich 230A in den zweiten Strahlengang Q2 eingesetzt, und der erste transmittierende Bereich 230B wird aus dem ersten Strahlengang Q1 entfernt.

Wenn in dem zwölften Ausführungsbeispiel nur die Drehplatte 230 gedreht wird, besteht keine Notwendig keit, die Deckel 203 zu entfernen oder aufzusetzen. Auch können die Messung der Linseneigenschaften der betrachteten Linse L und die Beobachtung der verdeck ten Marken ohne die Verwendung von Polarisationsplat ten und dergleichen und mit einer einzigen Lichtquel le 22 durchgeführt werden. Zusätzlich wird die Mög lichkeit, daß die Muster in der mustergebenden Platte 23 die Beobachtung der verdeckten Markierungen stören könnten, vermieden.

Claims

1. Beobachtungsgerät für mindestens eine verdeckte Markierung, dadurch gekennzeichnet, daß eine zu untersuchende Linse (L) mit einem Beleuchtungslicht bestrahlt wird und daß die Beobachtung der verdeckten Markierung der Linse (L) durch einen durch das Beleuchtungslicht ge bildeten Schatten der Linse (L) möglich ist.

2. Beobachtungsgerät nach Anspruch 1, dadurch ge kennzeichnet, daß das Beleuchtungslicht ein kol limiertes Lichtbündel ist.

3. Beobachtungsgerät nach Anspruch 1 oder 2, da durch gekennzeichnet, daß ein Schirm (4) hinter der Linse (L) angeordnet ist und daß die ver deckte Marke der Linse (L) über den Schatten der Linse beobachtet wird, der auf den Schirm (4) projiziert wird.

4. Beobachtungsgerät nach Anspruch 1 oder 2, da durch gekennzeichnet, daß ein Flächensensor (11) hinter der Linse (L) angeordnet ist und daß die verdeckte Marke der Linse (L) durch Beobachten des Schattens der zu untersuchenden Linse, die auf den Flächensensor (11) projiziert wird, mit einem Monitor (10) beobachtet wird.

5. Beobachtungsgerät nach Anspruch 1 oder 2, da durch gekennzeichnet, daß Ausrichtungsmittel (Mr) zum Ausrichten des Schattens der verdeckten Marke mit einer vorbestimmten Position auf einer Beobachtungsebene und Markierungsmittel (9) zum Durchführen einer Markierung an der Position der verdeckten Marke der zu untersuchenden Linse (L) vorgesehen sind.

6. Beobachtungsgerät nach Anspruch 4, dadurch ge kennzeichnet, daß der Typ der Linse (L) automa tisch basierend auf dem Bildsignal der verdeck ten Marke identifiziert wird, das durch den Flä chensensor (11) ausgegeben wird.

7. Linsenmeßgerät mit
Beleuchtungsmitteln (21) zum Beleuchten einer zu untersuchenden Linse (L) mit einem kollimierten Lichtbündel,
einem Flächensensor (27) zum Empfangen des kol limierten Lichtbündels, das durch die zu unter suchende Linse (L) hindurchgeht,
einer Muster vorgebenden Platte (23), die zwi schen der zu untersuchenden Linse (L) und dem Flächensensor (27) angeordnet ist, wobei die optischen Eigenschaften der zu untersuchenden Linse (L) basierend auf den Bildern der Muster gemessen werden, die auf dem Flächensensor durch die mustergebende Platte (23 abgebildet werden, und
einem Beobachtungssystem (21,27) für verdeckte Marken zum Beobachten einer versteckten Marke der zu untersuchenden Linse (L), indem ein Schatten der Linse (L) beobachtet wird, der durch das auf die zu untersuchende Linse proji zierte kollimierte Lichtbündel gebildet wird.

8. Linsenmeßgerät nach Anspruch 7, dadurch gekenn zeichnet, daß die Muster vorgebende Platte (23) in einem Strahlengang derart vorgesehen ist, daß die mustergebende Platte in diesen Strahlengang eingefügt oder aus diesem Strahlengang entfernt wird, und daß die Beobachtung der verdeckten Marke durch das Beobachtungssystem durch den Schatten der zu untersuchenden Linse (L) durch geführt wird, der auf den Flächensensor (27) projiziert wird, wenn die mustergebende Platte (23) aus dem Strahlengang entfernt wird.

9. Linsenmeßgerät nach Anspruch 7, dadurch gekenn zeichnet, daß die Muster vorgebende Platte (23) eine Flüssigkristallblende umfaßt, die zwischen einen Zustand, bei dem ihre gesamte Fläche eine transmittierende Fläche ist, und einen Zustand, bei dem nur ein Muster vorgebender Bereich zum Messen von optischen Eigenschaften der zu unter suchenden Linse (L) Licht transmittiert, ge schaltet wird und daß die Beobachtung der ver deckten Marke durch das Beobachtungssystem über den Schatten der zu untersuchenden Linse durch geführt wird, die auf den Flächensensor (27) projiziert wird, wenn die Flüssigkristallblende in dem Zustand ist, bei dem die gesamte Fläche eine transmittierende Fläche ist.

10. Linsenmeßgerät nach Anspruch 7, dadurch gekenn zeichnet, daß
die Beleuchtungsmittel eine Lichtquelle (1401, 120,121) aufweist, die Licht von mindestens ei ner ersten Wellenlänge und einer zweiten Wellen länge unterschiedlich zur ersten Wellenlänge emittiert,
die Muster vorgebende Platte (123) einen di chroitischen Spiegel umfaßt, der eine optische Eigenschaft dahingehend hat, daß Licht der zwei ten Wellenlänge reflektiert und Licht der ersten Wellenlänge transmittiert wird, und
die Beobachtung der verdeckten Marke durch das Beobachtungssystem über den Schatten der zu un tersuchenden Linse (L) durchgeführt wird, die auf den Flächensensor (27) projiziert wird, wenn die Beleuchtung mit dem Licht der ersten Wellen länge durchgeführt wird.

11. Linsenmeßgerät nach Anspruch 7, dadurch gekenn zeichnet, daß
die Musterplatte (156) eine Polarisationsplatte umfaßt,
die Beleuchtungsvorrichtung ein erstes polari siertes Lichtbündel und ein zweites polarisier tes Lichtbündel emittiert und gegebenenfalls zwischen diesen umschaltet, wobei das erste po larisierte Lichtbündel in der gleichen Richtung wie die Polarisationsrichtung der Polarisations platte polarisiert ist und das zweite polari sierte Lichtbündel in einer Richtung unter schiedlich zu dem ersten polarisierten Lichtbün del polarisiert ist, und daß
die Beobachtung der verdeckten Marken mit dem Beobachtungssystem über den Schatten der zu be obachtenden Linse durchgeführt wird, der auf den Flächensensor (27) projiziert wird, wenn die Beleuchtungsmittel das erste polarisierte Licht bündel emittieren.

12. Linsenmeßgerät nach einem der Ansprüche 7 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß der Typ der zu untersuchenden Linse (L) automatisch basierend auf dem Bildsignal der verdeckten Marke, das von dem Flächensensor ausgegeben wird, identifiziert wird.

13. Linsenmeßgerät, gekennzeichnet durch
einen optischen Meßstrahlengang (Q1), der mit einer Musterplatte (23) zum Messen der optischen Eigenschaften einer zu untersuchenden Linse (L) versehen ist, und
einen optischen Beobachtungsstrahlengang (Q2) zum Beobachten einer verdeckten Markierung der zu untersuchenden Linse (L), der getrennt von dem optischen Meßstrahlengang vorgesehen ist, wobei ein Bild eines Musters der Musterplatte (23) und ein Bild der verdeckten Markierung auf einen einzigen Flächensensor (27) projiziert wird, um so die Beobachtung der verdeckten Mar kierung und die Messung der optischen Eigen schaften der zu untersuchenden Linse (L) durch zuführen.

14. Linsenmeßgerät, gekennzeichnet durch Mittel zum Beleuchten einer zu untersuchenden Linse mit einem kollimierten Lichtbündel,
einen Flächensensor (27) zum Empfangen des kol limierten Lichtbündels, der durch die zu unter suchende Linse (L) transmittiert wird,
eine Musterplatte (23), die zwischen der zu un tersuchenden Linse und dem Flächensensor (27) angeordnet ist, wobei die optischen Eigenschaf ten der zu untersuchenden Linse basierend auf den Bildern der Muster, die auf dem Flächensen sor (27) durch die Musterplatte (23) abgebildet werden, gemessen werden,
einen optischen Strahlengang für das kollimierte Lichtbündel, der in einen ersten optischen Strahlengang (Q1) zum Messen der optischen Ei genschaften und einen zweiten optischen Strah lengang (Q2) zum Beobachten einer verdeckten Markierung der zu untersuchenden Linse (L) ge teilt ist,
wobei die Musterplatte (23) in dem ersten opti schen Strahlengang (Q1) vorgesehen ist und ein Schatten der zu untersuchenden Linse, der durch das kollimierte Lichtbündel in dem zweiten opti schen Strahlengang (Q2) gebildet wird, wenn die Linse in dem zweiten optischen Strahlengang (Q2) angeordnet ist, auf den Flächensensor für den Empfang eines Bildes eines Musters projiziert wird, wodurch die Beobachtung der verdeckten Markierung durchgeführt wird.

15. Linsenmeßgerät, gekennzeichnet durch
Mittel zum Beleuchten einer zu untersuchenden Linse (L) mit einem kollimierten Lichtbündel, einen Flächensensor (27) für den Empfang des durch die zu untersuchende Linse (L) transmit tierten kollimierten Lichtbündels,
eine Musterplatte (23), die zwischen der zu un tersuchenden Linse (L) und dem Flächensensor angeordnet ist, wobei die optischen Eigenschaf ten der zu untersuchenden Linse (L) basierend auf Bildern von Mustern, die auf dem Flächensen sor durch die Musterplatte abgebildet werden, gemessen werden,
einen optischen Strahlengang für das kollimierte Lichtbündel, der in einen ersten optischen Strahlengang (Q1) zum Messen der optischen Ei genschaften und einen zweiten optischen Strah lengang (Q2) zum Beobachten einer verdeckten Markierung der zu untersuchenden Linse (L) ge teilt ist,
wobei die Musterplatte (23) und der Flächensen sor (27) in dem ersten optischen Strahlengang (Q1) vorgesehen sind,
ein optisches Element (202) zum Lenken eines Schattens der zu untersuchenden Linse auf den Flächensensor, wobei der Schatten der Linse (L) durch das kollimierte Lichtbündel in dem zweiten optischen Strahlengang gebildet wird, wenn die Linse in den zweiten optischen Strahlengang pla ziert wird, und
wobei die Beobachtung der verdeckten Markierung der Linse (L) über den Schatten der zu untersu chenden Linse durchgeführt wird, der auf dem Flächensensor abgebildet wird.

16. Linsenmeßgerät nach Anspruch 15, dadurch gekenn zeichnet, daß das optische Element (202) ein Prisma umfaßt.

17. Linsenmeßgerät nach Anspruch 16, dadurch gekenn zeichnet, daß das Prisma (211) eine negative Stärke aufweist.

18. Linsenmeßgerät nach Anspruch 14 oder 15, dadurch gekennzeichnet, daß das Lichtbündel in dem zwei ten optischen Strahlengang (Q2) ausgeblendet wird, wenn die Messung der optischen Eigenschaf ten der zu untersuchenden Linse (L) durchgeführt wird, und daß das Lichtbündel des ersten opti schen Strahlenganges (Q1) ausgeblendet wird, wenn die verdeckte Markierung der Linse (L) be obachtet wird.

19. Linsenmeßgerät, gekennzeichnet durch
Mittel zum Beleuchten einer zu untersuchenden Linse (L) mit einem kollimierten Lichtbündel,
einen Flächensensor (27) zum Empfangen des durch die zu untersuchende Linse (L) transmittierten kollimierten Lichtbündels,
eine Musterplatte (23), die zwischen der Linse (L) und dem Flächensensor angeordnet ist, wobei die optischen Eigenschaften der Linse (L) basie rend auf Bildern der Muster gemessen werden, die auf dem Flächensensor durch die Musterplatte abgebildet werden,
einen optischen Strahlengang für das kollimierte Lichtbündel, der in einen ersten optischen Strahlengang (Q1) zum Messen der optischen Ei genschaften und einen zweiten optischen Strah lengang (Q2) zum Beobachten einer verdeckten Markierung der zu untersuchenden Linse (L) auf geteilt ist,
wobei die Musterplatte (23) und der Flächensen sor (27) in dem ersten optischen Strahlengang (Q1) und ein Schirm (221) zwischen der Muster platte und dem Flächensensor (27) angeordnet sind,
eine Abbildungslinse zum Bilden eines Bildes eines Musters, das auf dem Schirm (221) abgebil det wird, auf dem Flächensensor (27),
ein optisches Element (223) zum Lenken eines Schattens der zu untersuchenden Linse (L) auf den Schirm, wobei der Schatten der Linse (L) durch das kollimierte Lichtbündel in dem zweiten optischen Strahlengang (Q2) gebildet wird, wenn die Linse (L) in den zweiten Strahlengang pla ziert wird und wobei die Beobachtung der ver deckten Markierung der zu untersuchenden Linse (L) durch Bilden des Schattens der Linse (L) auf den Schirm durchgeführt wird.

20. Linsenmeßgerät nach Anspruch 19, dadurch gekenn zeichnet, daß das optische Element (223) ein Prisma umfaßt.

21. Linsenmeßgerät nach Anspruch 20, dadurch gekenn zeichnet, daß das Prisma eine positive Stärke aufweist.