JPH06249749A - レンズメータ - Google Patents
レンズメータInfo
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- JPH06249749A JPH06249749A JP5038200A JP3820093A JPH06249749A JP H06249749 A JPH06249749 A JP H06249749A JP 5038200 A JP5038200 A JP 5038200A JP 3820093 A JP3820093 A JP 3820093A JP H06249749 A JPH06249749 A JP H06249749A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/255—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures for measuring radius of curvature
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0228—Testing optical properties by measuring refractive power
- G01M11/0235—Testing optical properties by measuring refractive power by measuring multiple properties of lenses, automatic lens meters
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- Analytical Chemistry (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Eye Examination Apparatus (AREA)
- Eyeglasses (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、光学性能が既知でない被検レンズ
に対しても正確に光学性能を測定できるレンズメータを
提供する。 【構成】 本発明は、測定光源２からの光を被検レンズ
２０を通過させて光電変換手段１１に導き、この光電変
換手段１１の光電変換信号を基に前記被検レンズ２０の
光学性能を求めるレンズメータ１であって、測定光源２
は少なくとも２種類の波長の光を発することを可能に構
成するとともに、前記少なくとも２種類の波長の光に応
じた前記光電変換手段１１の光電変換信号を基に被検レ
ンズ２０の光学性能を演算する演算手段２６を設けた。
この構成により、光学性能が既知でない被検レンズ２０
の光学性能を正確に測定できる。
に対しても正確に光学性能を測定できるレンズメータを
提供する。 【構成】 本発明は、測定光源２からの光を被検レンズ
２０を通過させて光電変換手段１１に導き、この光電変
換手段１１の光電変換信号を基に前記被検レンズ２０の
光学性能を求めるレンズメータ１であって、測定光源２
は少なくとも２種類の波長の光を発することを可能に構
成するとともに、前記少なくとも２種類の波長の光に応
じた前記光電変換手段１１の光電変換信号を基に被検レ
ンズ２０の光学性能を演算する演算手段２６を設けた。
この構成により、光学性能が既知でない被検レンズ２０
の光学性能を正確に測定できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、眼鏡レンズやコンタク
トレンズ等各種光学レンズの光学性能を測定するレンズ
メータに関する。
トレンズ等各種光学レンズの光学性能を測定するレンズ
メータに関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、光学レンズは入射光線の波長の
違いにより屈折率が異なる分散という光学特性がある。
被検レンズである眼鏡レンズは過去にｄ線（５７８．５
６ｎｍ）でのアッベ数（＝分散の逆数）がνd ＝５８乃
至６０程度のクラウンガラスが主流であったが、最近で
は高屈折率の高分散ガラス（例えばνd ＝３０乃至４
０）も多く用いられるようになった。また、高屈折率の
プラスチックレンズ（例えばνd ＝３４乃至４０）も用
いられるようになっている。
違いにより屈折率が異なる分散という光学特性がある。
被検レンズである眼鏡レンズは過去にｄ線（５７８．５
６ｎｍ）でのアッベ数（＝分散の逆数）がνd ＝５８乃
至６０程度のクラウンガラスが主流であったが、最近で
は高屈折率の高分散ガラス（例えばνd ＝３０乃至４
０）も多く用いられるようになった。また、高屈折率の
プラスチックレンズ（例えばνd ＝３４乃至４０）も用
いられるようになっている。
【０００３】従来の手動操作式のレンズメータでは、測
定光源の波長が緑色であり、この測定光源を用いて被検
レンズの屈折特性を測定すれば問題なかった。
定光源の波長が緑色であり、この測定光源を用いて被検
レンズの屈折特性を測定すれば問題なかった。
【０００４】しかし、屈折測定を自動的に測定するいわ
ゆるオートレンズメータでは、緑色を呈する波長の光を
充分な感度で検出できる受光素子や、緑色の光を強く発
する測定光源等に適当なものが無いために、緑色を呈す
る波長の光よりも長波長の光を（例えば６６０ｎｍや７
３０ｎｍ）発する光源を用いている。このため、分散の
違いによって、被検レンズの測定値に数％程度の誤差が
生じるという問題があった。
ゆるオートレンズメータでは、緑色を呈する波長の光を
充分な感度で検出できる受光素子や、緑色の光を強く発
する測定光源等に適当なものが無いために、緑色を呈す
る波長の光よりも長波長の光を（例えば６６０ｎｍや７
３０ｎｍ）発する光源を用いている。このため、分散の
違いによって、被検レンズの測定値に数％程度の誤差が
生じるという問題があった。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述したような欠点を
解消するために、実公平３−４８５１２号公報には、被
検レンズのアッベ数νd の情報を入力することにより、
測定値を補正するようにしたレンズ屈折特性自動測定装
置が提案されている。
解消するために、実公平３−４８５１２号公報には、被
検レンズのアッベ数νd の情報を入力することにより、
測定値を補正するようにしたレンズ屈折特性自動測定装
置が提案されている。
【０００６】しかしながら、前記レンズ屈折特性自動測
定装置の場合、当該被検レンズのアッベ数νd が既知で
ないと補正できないという問題がある。
定装置の場合、当該被検レンズのアッベ数νd が既知で
ないと補正できないという問題がある。
【０００７】即ち、未加工あるいは加工後、被検者に眼
鏡を手渡すと時点ではアッベ数νdが判明していること
が多いが、一度被検者に渡ってから、後に使用中のもの
を測定しようとするときには、ほとんどアッベ数νd が
不明であり、かかる被検レンズの場合には上述したレン
ズ屈折特性自動測定装置では対処できなくなってしま
う。
鏡を手渡すと時点ではアッベ数νdが判明していること
が多いが、一度被検者に渡ってから、後に使用中のもの
を測定しようとするときには、ほとんどアッベ数νd が
不明であり、かかる被検レンズの場合には上述したレン
ズ屈折特性自動測定装置では対処できなくなってしま
う。
【０００８】そこで、本発明は、光学性能が既知でない
被検レンズに対しても正確に光学性能を測定できるレン
ズメータを提供することを目的とする。
被検レンズに対しても正確に光学性能を測定できるレン
ズメータを提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
測定光源からの光を被検レンズを通過させて光電変換手
段に導き、この光電変換手段の光電変換信号を基に前記
被検レンズの光学性能を求めるレンズメータであって、
前記測定光源は少なくとも２種類の異なる波長の光を発
することを可能に構成するとともに、前記少なくとも２
種類の異なる波長の光に応じた前記光電変換手段の光電
変換信号を基に被検レンズの光学性能を演算する演算手
段を設けたものである。
測定光源からの光を被検レンズを通過させて光電変換手
段に導き、この光電変換手段の光電変換信号を基に前記
被検レンズの光学性能を求めるレンズメータであって、
前記測定光源は少なくとも２種類の異なる波長の光を発
することを可能に構成するとともに、前記少なくとも２
種類の異なる波長の光に応じた前記光電変換手段の光電
変換信号を基に被検レンズの光学性能を演算する演算手
段を設けたものである。
【００１０】請求項２記載の発明は、前記測定光源を、
測定光軸に配置した光選択透過手段を介して分離した位
置から被検レンズに各々異なる波長の光を送る少なくと
も２つの発光部としたものである。
測定光軸に配置した光選択透過手段を介して分離した位
置から被検レンズに各々異なる波長の光を送る少なくと
も２つの発光部としたものである。
【００１１】請求項３記載の発明は、前記光電変換手段
は、測定光軸に配置した波長選択手段により分岐される
各々の光路に対応した複数の光電変換部を有するもので
ある。
は、測定光軸に配置した波長選択手段により分岐される
各々の光路に対応した複数の光電変換部を有するもので
ある。
【００１２】
【作用】以下に上述した本発明の作用を説明する。
【００１３】２種類の発光部からの異なる波長の光は、
各々被検レンズを通過して光電変換手段に至る。光電変
換手段は、異なる波長に応じた光電変換信号を各々送出
する。
各々被検レンズを通過して光電変換手段に至る。光電変
換手段は、異なる波長に応じた光電変換信号を各々送出
する。
【００１４】演算手段は、異なる波長の光に応じた前記
光電変換手段の各光電変換信号を基に被検レンズの光学
性能を演算する。これにより、光学性能が既知でない被
検レンズに対しても正確に光学性能を求めることが可能
であり、また、光学性能が既知であっても特別な入力操
作なしで正確にその光学性能を求めることができる。
光電変換手段の各光電変換信号を基に被検レンズの光学
性能を演算する。これにより、光学性能が既知でない被
検レンズに対しても正確に光学性能を求めることが可能
であり、また、光学性能が既知であっても特別な入力操
作なしで正確にその光学性能を求めることができる。
【００１５】前記測定光源を、測定光軸に配置した光選
択透過手段を介して分離した位置から被検レンズに各々
異なる波長の光を送る少なくとも２つの発光部とするこ
とにより、２つの発光部を交互に点滅させつつ被検レン
ズを介して前記光電変換手段に各々光を送り、この光電
変換手段の異なる波長の光に応じた光電変換信号を基に
前記演算手段により被検レンズの正確な光学性能を求め
ることができる。
択透過手段を介して分離した位置から被検レンズに各々
異なる波長の光を送る少なくとも２つの発光部とするこ
とにより、２つの発光部を交互に点滅させつつ被検レン
ズを介して前記光電変換手段に各々光を送り、この光電
変換手段の異なる波長の光に応じた光電変換信号を基に
前記演算手段により被検レンズの正確な光学性能を求め
ることができる。
【００１６】前記光電変換手段を測定光軸に配置した波
長選択手段により分岐される各々の光路に対応した複数
の光電変換部とすることにより、各光電変換手段により
同時に各波長に応じた光電変換信号を得ることができ、
これにより被検レンズの測定時間を短縮できる。
長選択手段により分岐される各々の光路に対応した複数
の光電変換部とすることにより、各光電変換手段により
同時に各波長に応じた光電変換信号を得ることができ、
これにより被検レンズの測定時間を短縮できる。
【００１７】
【実施例】まず、本発明の測定原理について説明する。
【００１８】後述する被検レンズ２０を薄レンズとし、
この被検レンズ２０の表面と裏面の曲率半径をｒ1 ，ｒ
2 、任意の測定波長λ1 ，λ2 での被検レンズ２０の屈
折力をＤ1 ，Ｄ2 、測定波長λ1 ，λ2 での各屈折率を
ｎ1 ，ｎ2 とすると、レンズの公式から、 Ｄ1 ＝（ｎ1 −１）（１／ｒ1 −１／ｒ2 ） …(1) Ｄ2 ＝（ｎ2 −１）（１／ｒ1 −１／ｒ2 ） …(2)
この被検レンズ２０の表面と裏面の曲率半径をｒ1 ，ｒ
2 、任意の測定波長λ1 ，λ2 での被検レンズ２０の屈
折力をＤ1 ，Ｄ2 、測定波長λ1 ，λ2 での各屈折率を
ｎ1 ，ｎ2 とすると、レンズの公式から、 Ｄ1 ＝（ｎ1 −１）（１／ｒ1 −１／ｒ2 ） …(1) Ｄ2 ＝（ｎ2 −１）（１／ｒ1 −１／ｒ2 ） …(2)
【００１９】波長の変化による屈折率の変化をΔnxとす
ると、任意の波長ｘに対する屈折力Ｄｘは屈折力の変化
をΔＤｘとすると、 −Ｄｘ／ΔＤｘ＝Δnx／nx−１＝１／νx …(3) と表すことができる。ここに、νx はアッベ数である。
ると、任意の波長ｘに対する屈折力Ｄｘは屈折力の変化
をΔＤｘとすると、 −Ｄｘ／ΔＤｘ＝Δnx／nx−１＝１／νx …(3) と表すことができる。ここに、νx はアッベ数である。
【００２０】また、 Δnx＝ｎ1 −ｎ2 …(4) nx＝（ｎ1 ＋ｎ2 ）／２ …(5) とおけるから、 １／ΔＤｘ＝１／Ｄ1 −１／Ｄ2 …(6) より、(3) 式は(4) 式、(5) 式を考慮すると、 −Ｄｘ（１／Ｄ1 −１／Ｄ2 ）＝２（Ｄ1 −Ｄ2 ）／（Ｄ1 ＋Ｄ2 ）…(7) となる。
【００２１】従って、 Ｄｘ＝２Ｄ1 Ｄ2 ／（Ｄ1 ＋Ｄ2 ） …(8) νx ＝（Ｄ1 ＋Ｄ2 ）／｛２（Ｄ1 −Ｄ2 ）｝ …(9) となり、波長ｘでの屈折力Ｄｘ，アッベ数νx を、前記
屈折力をＤ1 ，Ｄ2 を基に求めることができる。
屈折力をＤ1 ，Ｄ2 を基に求めることができる。
【００２２】次に、上述した測定原理に基づく本発明の
第１の実施例を詳細に説明する。
第１の実施例を詳細に説明する。
【００２３】図１に示すレンズメータ１は、このレンズ
メータ１の測定光軸Ｌを中心とする円周配置の異なる波
長の光を発する図２に示す２種類の発光部３Ａ，３Ｂか
らなる測定光源２と、測定光軸Ｌに沿って順に配置した
対物レンズ６，ターゲット７，コリメートレンズ８，レ
ンズ受９，結像レンズ１０及び光電変換手段１１を有し
ている。
メータ１の測定光軸Ｌを中心とする円周配置の異なる波
長の光を発する図２に示す２種類の発光部３Ａ，３Ｂか
らなる測定光源２と、測定光軸Ｌに沿って順に配置した
対物レンズ６，ターゲット７，コリメートレンズ８，レ
ンズ受９，結像レンズ１０及び光電変換手段１１を有し
ている。
【００２４】前記測定光源２は、図２に示すように、測
定波長λ1 ＝６６０ｎｍの光を発する３個のＬＥＤ４
ａ，４ｂ，４ｃ（図２に白丸で示す）を前記測定光軸Ｌ
に直交する配置で、かつ、測定光軸Ｌを中心として９０
度間隔で配置した発光部３Ａと、測定波長λ2 ＝８００
ｎｍの光を発する３個のＬＥＤ５ａ，５ｂ，５ｃ（図２
に黒丸で示す）を前記測定光軸Ｌに直交する配置で、か
つ、測定光軸Ｌを中心として９０度間隔で配置した発光
部３Ｂとを具備している。
定波長λ1 ＝６６０ｎｍの光を発する３個のＬＥＤ４
ａ，４ｂ，４ｃ（図２に白丸で示す）を前記測定光軸Ｌ
に直交する配置で、かつ、測定光軸Ｌを中心として９０
度間隔で配置した発光部３Ａと、測定波長λ2 ＝８００
ｎｍの光を発する３個のＬＥＤ５ａ，５ｂ，５ｃ（図２
に黒丸で示す）を前記測定光軸Ｌに直交する配置で、か
つ、測定光軸Ｌを中心として９０度間隔で配置した発光
部３Ｂとを具備している。
【００２５】前記発光部３ＢのＬＥＤ５ａは、発光部３
ＡのＬＥＤ４ｂとＬＥＤ４ｃとの間にこれらに対して４
５度の間隔で配置されるようになっている。この結果、
発光部３ＢのＬＥＤ５ｂは、発光部３ＡのＬＥＤ４ｃに
対して４５度の間隔で配置され、また、ＬＥＤ５ｃは、
発光部３ＡのＬＥＤ４ａに対して４５度の間隔で配置さ
れる。
ＡのＬＥＤ４ｂとＬＥＤ４ｃとの間にこれらに対して４
５度の間隔で配置されるようになっている。この結果、
発光部３ＢのＬＥＤ５ｂは、発光部３ＡのＬＥＤ４ｃに
対して４５度の間隔で配置され、また、ＬＥＤ５ｃは、
発光部３ＡのＬＥＤ４ａに対して４５度の間隔で配置さ
れる。
【００２６】前記対物レンズ６の焦点位置に前記測定光
源２を配置している。
源２を配置している。
【００２７】また、前記ターゲット７は、前記コリメー
トレンズ８の焦点位置に配置している。前記光電変換手
段１１は、前記結像レンズ１０の焦点位置に配置してい
る。
トレンズ８の焦点位置に配置している。前記光電変換手
段１１は、前記結像レンズ１０の焦点位置に配置してい
る。
【００２８】さらに、前記ターゲット７は、図５に示す
ターゲット駆動部２５により駆動され測定光軸Ｌの方向
に変位可能となっている。
ターゲット駆動部２５により駆動され測定光軸Ｌの方向
に変位可能となっている。
【００２９】前記ターゲット７は、図３に示すように、
円板状で測定光軸Ｌを中心とする垂直長穴７ａ、測定光
軸Ｌを中心とする一対の傾斜長穴７ｂ，７ｃを設けた構
成となっている。
円板状で測定光軸Ｌを中心とする垂直長穴７ａ、測定光
軸Ｌを中心とする一対の傾斜長穴７ｂ，７ｃを設けた構
成となっている。
【００３０】前記光電変換手段１１は、図４に示すよう
に、測定光軸Ｌと直交するＸ軸，Ｙ軸のうちのＸ軸と平
行配置にかつ、Ｙ軸に関して対象配置に一対のエリアＣ
ＣＤ１２ａ，１２ｂを配置した構成となっており、前記
レンズ受９に配置される被検レンズ２０を通過してくる
発光部３Ａからの測定波長λ1 ＝６６０ｎｍの光又は発
光部３Ｂからの測定波長λ2 ＝８００ｎｍの光を時分割
で各々光電変換し、光電変換信号を送出するようになっ
ている。
に、測定光軸Ｌと直交するＸ軸，Ｙ軸のうちのＸ軸と平
行配置にかつ、Ｙ軸に関して対象配置に一対のエリアＣ
ＣＤ１２ａ，１２ｂを配置した構成となっており、前記
レンズ受９に配置される被検レンズ２０を通過してくる
発光部３Ａからの測定波長λ1 ＝６６０ｎｍの光又は発
光部３Ｂからの測定波長λ2 ＝８００ｎｍの光を時分割
で各々光電変換し、光電変換信号を送出するようになっ
ている。
【００３１】この場合、光電変換手段１１として、図４
に示す場合のほか、測定波長λ1 ＝６６０ｎｍの光、測
定波長λ2 ＝８００ｎｍの光に感応する１台のカラーＣ
ＣＤを用いて光電変換し、光電変換信号を送出するよう
にしてもよい。
に示す場合のほか、測定波長λ1 ＝６６０ｎｍの光、測
定波長λ2 ＝８００ｎｍの光に感応する１台のカラーＣ
ＣＤを用いて光電変換し、光電変換信号を送出するよう
にしてもよい。
【００３２】次に、図５を参照してレンズメータ１の制
御系について説明する。
御系について説明する。
【００３３】このレンズメータ１は、制御プログラムを
格納したプログラムメモリ２１及びＣＰＵ２２からなる
制御手段２３を具備し、前記ＣＰＵ２２に前記発光部３
Ａ，３Ｂを駆動する光源駆動部２４と、前記ターゲット
７を駆動するターゲット駆動部２５と、前記光電変換手
段１１とを接続している。
格納したプログラムメモリ２１及びＣＰＵ２２からなる
制御手段２３を具備し、前記ＣＰＵ２２に前記発光部３
Ａ，３Ｂを駆動する光源駆動部２４と、前記ターゲット
７を駆動するターゲット駆動部２５と、前記光電変換手
段１１とを接続している。
【００３４】また、前記ＣＰＵ２２に、前記２種類の発
光部３Ａ，３Ｂからの異なる波長の光に応じた前記光電
変換手段１１の光電変換信号を基に被検レンズ２０の屈
折力Ｄｘ，アッベ数νx からなる光学性能を演算する演
算手段２６と、この演算手段２６の演算結果を記憶する
記憶手段２７と、表示手段２８と、任意の波長の値、ｄ
線，ｅ線等の光線名、分散補正指定情報等の各種情報を
入力する入力手段２９と、演算手段２６の演算結果や各
種のメッセージをプリントアウトするプリンタ３０とを
接続している。
光部３Ａ，３Ｂからの異なる波長の光に応じた前記光電
変換手段１１の光電変換信号を基に被検レンズ２０の屈
折力Ｄｘ，アッベ数νx からなる光学性能を演算する演
算手段２６と、この演算手段２６の演算結果を記憶する
記憶手段２７と、表示手段２８と、任意の波長の値、ｄ
線，ｅ線等の光線名、分散補正指定情報等の各種情報を
入力する入力手段２９と、演算手段２６の演算結果や各
種のメッセージをプリントアウトするプリンタ３０とを
接続している。
【００３５】次に、上述した構成のレンズメータ１の作
用を説明する。
用を説明する。
【００３６】前記ＣＰＵ２２の制御の基に、光源駆動部
２４により前記２種類の発光部３Ａ，３Ｂを経時的変化
をもって、即ち、例えば交互に点滅させる。これによ
り、発光部３Ａからの測定波長λ1 ＝６６０ｎｍの光
と、発光部３Ｂからの測定波長λ2 ＝８００ｎｍの光と
が交互に前記レンズ受９に配置した被検レンズ２０を屈
折率ｎ1 ，ｎ2 に応じて屈折しつつ通過し、結像レンズ
１０によりエリアＣＣＤ１２ａ又は１２ｂの受光面の前
記屈折率ｎ1 ，ｎ2 に応じた位置に各々結像する。
２４により前記２種類の発光部３Ａ，３Ｂを経時的変化
をもって、即ち、例えば交互に点滅させる。これによ
り、発光部３Ａからの測定波長λ1 ＝６６０ｎｍの光
と、発光部３Ｂからの測定波長λ2 ＝８００ｎｍの光と
が交互に前記レンズ受９に配置した被検レンズ２０を屈
折率ｎ1 ，ｎ2 に応じて屈折しつつ通過し、結像レンズ
１０によりエリアＣＣＤ１２ａ又は１２ｂの受光面の前
記屈折率ｎ1 ，ｎ2 に応じた位置に各々結像する。
【００３７】これにより、エリアＣＣＤ１２ａ又は１２
ｂは、屈折率ｎ1 ，ｎ2 に応じた光電変換信号を前記Ｃ
ＰＵ２２に送る。
ｂは、屈折率ｎ1 ，ｎ2 に応じた光電変換信号を前記Ｃ
ＰＵ２２に送る。
【００３８】演算手段２６は、ＣＰＵ２２の制御の基に
屈折率ｎ1 ，ｎ2 に応じた光電変換信号を取り込み、前
記(1) ，(2) 式による演算を行って、測定波長λ1 ，λ
2 に対応した屈折力Ｄ1 ，Ｄ2 を算出する。
屈折率ｎ1 ，ｎ2 に応じた光電変換信号を取り込み、前
記(1) ，(2) 式による演算を行って、測定波長λ1 ，λ
2 に対応した屈折力Ｄ1 ，Ｄ2 を算出する。
【００３９】さらに、演算手段２６は、算出した屈折力
Ｄ1 ，Ｄ2 の各値を基に、前記(8)，(9) 式による演算
を行って所望の波長ｘでの屈折力Ｄx ，アッベ数νx を
算出する。算出した波長ｘでの屈折力Ｄx ，アッベ数ν
x は、ＣＰＵ２２の制御の基に記憶手段２７に送られ、
ここに記憶保持される。
Ｄ1 ，Ｄ2 の各値を基に、前記(8)，(9) 式による演算
を行って所望の波長ｘでの屈折力Ｄx ，アッベ数νx を
算出する。算出した波長ｘでの屈折力Ｄx ，アッベ数ν
x は、ＣＰＵ２２の制御の基に記憶手段２７に送られ、
ここに記憶保持される。
【００４０】このようにして、所望の波長ｘでの屈折力
Ｄx ，アッベ数νx を求め、記憶しておくことにより、
これ以降前記レンズ受９に配置する被検レンズ２０に対
しては、例えば、一方の発光部３Ａのみを点灯させてこ
のときの屈折力を演算手段２６により求め、さらに、演
算手段２６により前記記憶手段２７に記憶した屈折力Ｄ
x ，アッベ数νx を基に求めた屈折力の値を補正するこ
とで、当該被検レンズ２０の正確な屈折力Ｄx ，アッベ
数νx を求め、これらを前記表示手段２８の画面に表示
することが可能となり、また、プリンタ３０により用紙
にプリントアウトすることもできる。また、屈折力Ｄx
，アッベ数νx 等が既知である被検レンズ２０に対し
ても、その被検レンズ２０の正確な屈折力Ｄx ，アッベ
数νx を求めることができる。
Ｄx ，アッベ数νx を求め、記憶しておくことにより、
これ以降前記レンズ受９に配置する被検レンズ２０に対
しては、例えば、一方の発光部３Ａのみを点灯させてこ
のときの屈折力を演算手段２６により求め、さらに、演
算手段２６により前記記憶手段２７に記憶した屈折力Ｄ
x ，アッベ数νx を基に求めた屈折力の値を補正するこ
とで、当該被検レンズ２０の正確な屈折力Ｄx ，アッベ
数νx を求め、これらを前記表示手段２８の画面に表示
することが可能となり、また、プリンタ３０により用紙
にプリントアウトすることもできる。また、屈折力Ｄx
，アッベ数νx 等が既知である被検レンズ２０に対し
ても、その被検レンズ２０の正確な屈折力Ｄx ，アッベ
数νx を求めることができる。
【００４１】このような動作により、被検レンズ２０の
測定の都度両方の発光部３Ａ，３Ｂを点灯せずにすみ、
測定時間を短縮できる。
測定の都度両方の発光部３Ａ，３Ｂを点灯せずにすみ、
測定時間を短縮できる。
【００４２】また、上述のような被検レンズ２０の測定
に際して、前記入力手段２９から任意の波長の値、ｄ
線，ｅ線等の光線名、分散補正指定情報等の各種情報を
入力した任意の波長、ｄ線，ｅ線等に各々対応する屈折
力Ｄx ，アッベ数νx を算出し、表示することも可能と
なる。
に際して、前記入力手段２９から任意の波長の値、ｄ
線，ｅ線等の光線名、分散補正指定情報等の各種情報を
入力した任意の波長、ｄ線，ｅ線等に各々対応する屈折
力Ｄx ，アッベ数νx を算出し、表示することも可能と
なる。
【００４３】次に、図６乃至図８を参照して本発明の第
２の実施例を説明する。
２の実施例を説明する。
【００４４】尚、図６に示すレンズメータ１Ａにおい
て、前記レンズメータ１と同一の機能を有するものには
同一の符号を付して示す。
て、前記レンズメータ１と同一の機能を有するものには
同一の符号を付して示す。
【００４５】図６に示すレンズメータ１Ａは、前記測定
光源２の代りに、２個の光源部１３Ａ，１３Ｂからなる
測定光源２Ａを用い、光源部１３Ａを測定光軸Ｌに臨ま
せ、光源部１３Ｂを測定光軸Ｌに対して直交する配置と
し、測定光軸Ｌに４５度の傾斜角度で配置した波長選択
手段としての６６０ｎｍの光は透過し、８００ｎｍの光
を反射するダイクロックミラー１６（又はハーフミラ
ー）を介して光源部１３Ａ，１３Ｂからの光を各々測定
に供するようにしたものである。
光源２の代りに、２個の光源部１３Ａ，１３Ｂからなる
測定光源２Ａを用い、光源部１３Ａを測定光軸Ｌに臨ま
せ、光源部１３Ｂを測定光軸Ｌに対して直交する配置と
し、測定光軸Ｌに４５度の傾斜角度で配置した波長選択
手段としての６６０ｎｍの光は透過し、８００ｎｍの光
を反射するダイクロックミラー１６（又はハーフミラ
ー）を介して光源部１３Ａ，１３Ｂからの光を各々測定
に供するようにしたものである。
【００４６】一方の光源部１３Ａは、図７に示すよう
に、測定波長λ1 ＝６６０ｎｍの光を発する３個のＬＥ
Ｄ１４ａ，１４ｂ，１４ｃ（図７に白丸で示す）を前記
測定光軸Ｌに直交する配置としたものである。また、他
方の光源部１３Ｂは、図８に示すように、測定波長λ2
＝８００ｎｍの光を発する３個のＬＥＤ１５ａ，１５
ｂ，１５ｃ（図８に黒丸で示す）を前記ダイクロックミ
ラー１６に対峙させたものである。
に、測定波長λ1 ＝６６０ｎｍの光を発する３個のＬＥ
Ｄ１４ａ，１４ｂ，１４ｃ（図７に白丸で示す）を前記
測定光軸Ｌに直交する配置としたものである。また、他
方の光源部１３Ｂは、図８に示すように、測定波長λ2
＝８００ｎｍの光を発する３個のＬＥＤ１５ａ，１５
ｂ，１５ｃ（図８に黒丸で示す）を前記ダイクロックミ
ラー１６に対峙させたものである。
【００４７】このような構成のレンズメータ１Ａによれ
ば、光源部１３Ａ，１３Ｂの交互点灯により、前記レン
ズメータ１と同様の作用を発揮させることができる。
ば、光源部１３Ａ，１３Ｂの交互点灯により、前記レン
ズメータ１と同様の作用を発揮させることができる。
【００４８】次に、図９を参照して本発明の第３の実施
例を説明する。
例を説明する。
【００４９】尚、図９に示すレンズメータ１Ｂにおい
て、前記レンズメータ１Ａと同一の機能を有するものに
は同一の符号を付して示す。
て、前記レンズメータ１Ａと同一の機能を有するものに
は同一の符号を付して示す。
【００５０】図９に示すレンズメータ１Ｂは、前記レン
ズメータ１Ａと略同様な構成であるが、前記光電変換手
段１１の代りに、被検レンズ２０の後段の測定光軸Ｌに
４５度の傾斜角度で配置した波長選択手段としての６６
０ｎｍの光は透過し、８００ｎｍの光を反射するダイク
ロックミラー１６Ａ（又はハーフミラー）に９０度の分
離配置に２個の光電変換手段１１Ａ，１１Ｂを配置した
ことが特徴である。
ズメータ１Ａと略同様な構成であるが、前記光電変換手
段１１の代りに、被検レンズ２０の後段の測定光軸Ｌに
４５度の傾斜角度で配置した波長選択手段としての６６
０ｎｍの光は透過し、８００ｎｍの光を反射するダイク
ロックミラー１６Ａ（又はハーフミラー）に９０度の分
離配置に２個の光電変換手段１１Ａ，１１Ｂを配置した
ことが特徴である。
【００５１】このような構成のレンズメータ１Ｂの場
合、光源部１３Ｂ，ダイクロックミラー１６，１６Ａ及
び光電変換手段１１Ｂの追加によりコストは上昇する
が、２個の光源部１３Ａ，１３Ｂを同時点灯し、各光源
部１３Ａ，１３Ｂからの光をダイクロックミラー１６Ａ
で分岐して各光電変換手段１１Ａ，１１Ｂに導くこと
で、光源部１３Ａ，１３Ｂを交互に点灯させる必要が無
くなり、この結果、被検レンズ２０の測定時間を短縮で
きる。
合、光源部１３Ｂ，ダイクロックミラー１６，１６Ａ及
び光電変換手段１１Ｂの追加によりコストは上昇する
が、２個の光源部１３Ａ，１３Ｂを同時点灯し、各光源
部１３Ａ，１３Ｂからの光をダイクロックミラー１６Ａ
で分岐して各光電変換手段１１Ａ，１１Ｂに導くこと
で、光源部１３Ａ，１３Ｂを交互に点灯させる必要が無
くなり、この結果、被検レンズ２０の測定時間を短縮で
きる。
【００５２】図１０は、前記測定光源２の変形例を示す
ものであり、測定光源２Ｂを、２色発光型のＬＥＤ素子
３０を３個測定光軸Ｌを中心とする９０度の角度配置を
もって構成した場合を示すものである。
ものであり、測定光源２Ｂを、２色発光型のＬＥＤ素子
３０を３個測定光軸Ｌを中心とする９０度の角度配置を
もって構成した場合を示すものである。
【００５３】即ち、ＬＥＤ素子３０は、図１１に示すよ
うに、樹脂モールドレンズ３２内に６６０ｎｍの光を発
する第１のＬＥＤ３１ａと、８００ｎｍの光を発する第
２のＬＥＤ３１ｂとを近接配置に備えた３端子構造であ
り、このようなＬＥＤ素子３０を３個図１０に示す配置
とすることにより、前記光源部２の場合よりも構造の簡
略化を図れる。
うに、樹脂モールドレンズ３２内に６６０ｎｍの光を発
する第１のＬＥＤ３１ａと、８００ｎｍの光を発する第
２のＬＥＤ３１ｂとを近接配置に備えた３端子構造であ
り、このようなＬＥＤ素子３０を３個図１０に示す配置
とすることにより、前記光源部２の場合よりも構造の簡
略化を図れる。
【００５４】図１２は、前記測定光源２の別の例を示す
ものであり、同図に示す測定光源２Ｃは、度数測定用
（例えば波長６６０ｎｍ）が少なくとも３個以上、分散
補正用（例えば波長８００ｎｍ）が少なくとも２個以上
有ればよいので、図１２に示すように、例えば波長６６
０ｎｍの光を発する３個のＬＥＤ４１ａ，４１ｂ，４１
ｃ（白丸を付して示す）を測定光軸Ｌに対して等距離
に、かつ、９０度配置とし、例えば波長８００ｎｍの光
を発するＬＥＤ４２ａ，４２ｂ（黒丸を付して示す）の
うち一方のＬＥＤ４２ａを測定光軸Ｌに、ＬＥＤ４２ｂ
を前記ＬＥＤ４１ｂと対称配置に配置としたものであ
る。
ものであり、同図に示す測定光源２Ｃは、度数測定用
（例えば波長６６０ｎｍ）が少なくとも３個以上、分散
補正用（例えば波長８００ｎｍ）が少なくとも２個以上
有ればよいので、図１２に示すように、例えば波長６６
０ｎｍの光を発する３個のＬＥＤ４１ａ，４１ｂ，４１
ｃ（白丸を付して示す）を測定光軸Ｌに対して等距離
に、かつ、９０度配置とし、例えば波長８００ｎｍの光
を発するＬＥＤ４２ａ，４２ｂ（黒丸を付して示す）の
うち一方のＬＥＤ４２ａを測定光軸Ｌに、ＬＥＤ４２ｂ
を前記ＬＥＤ４１ｂと対称配置に配置としたものであ
る。
【００５５】図１３は、前記測定光源２のさらに別の例
を示すものであり、同図に示す測定光源２Ｄは、例えば
波長６６０ｎｍの光を発する３個のＬＥＤ５１ａ，５１
ｂ，５１ｃ（白丸を付して示す）を図１５にも示すよう
測定光軸Ｌに対して等距離に、かつ、９０度配置とし、
例えば波長８００ｎｍの光を発するＬＥＤ５２ａ，５２
ｂ（黒丸を付して示す）を図１４にも示すように前記Ｌ
ＥＤ５１ａ，５１ｃと光学的に同じ位置に配置したもの
である。
を示すものであり、同図に示す測定光源２Ｄは、例えば
波長６６０ｎｍの光を発する３個のＬＥＤ５１ａ，５１
ｂ，５１ｃ（白丸を付して示す）を図１５にも示すよう
測定光軸Ｌに対して等距離に、かつ、９０度配置とし、
例えば波長８００ｎｍの光を発するＬＥＤ５２ａ，５２
ｂ（黒丸を付して示す）を図１４にも示すように前記Ｌ
ＥＤ５１ａ，５１ｃと光学的に同じ位置に配置したもの
である。
【００５６】本発明は、上述した実施例の他、その要旨
の範囲内で種々の変形が可能である。
の範囲内で種々の変形が可能である。
【００５７】
【発明の効果】以上詳述した本発明によれば、以下の効
果を奏する。
果を奏する。
【００５８】請求項１記載の発明によれば、上述した構
成としたので、光学性能が既知でない被検レンズに対し
ても正確にその光学性能を求めることが可能であり、ま
た、光学性能が既知であっても特別な入力操作なしで正
確にその光学性能を求めることが可能なレンズメータを
提供することができる。
成としたので、光学性能が既知でない被検レンズに対し
ても正確にその光学性能を求めることが可能であり、ま
た、光学性能が既知であっても特別な入力操作なしで正
確にその光学性能を求めることが可能なレンズメータを
提供することができる。
【００５９】請求項２記載の発明によれば、少なくとも
２種類の異なる波長の光を発する測定光源から各々被検
レンズを介して光電変換手段に光を送り、この光電変換
手段の異なる波長の光に応じた光電変換信号を基に演算
手段により被検レンズの正確な光学性能を求めることが
できるレンズメータを提供することができる。
２種類の異なる波長の光を発する測定光源から各々被検
レンズを介して光電変換手段に光を送り、この光電変換
手段の異なる波長の光に応じた光電変換信号を基に演算
手段により被検レンズの正確な光学性能を求めることが
できるレンズメータを提供することができる。
【００６０】請求項３記載の発明によれば、各光電変換
手段により同時に各波長に応じた光電変換信号を得るこ
とができ、これにより被検レンズの測定時間を短縮でき
るレンズメータを提供することができる。
手段により同時に各波長に応じた光電変換信号を得るこ
とができ、これにより被検レンズの測定時間を短縮でき
るレンズメータを提供することができる。
【図１】本発明のレンズメータの第１の実施例を示す光
学配置図
学配置図
【図２】第１の実施例の測定光源を示す配置図
【図３】第１の実施例のターゲットを示す平面図
【図４】第１の実施例の光電変換手段を示す平面図
【図５】第１の実施例の制御系を示すブロック図
【図６】本発明のレンズメータの第２の実施例を示す光
学配置図
学配置図
【図７】第２の実施例の測定光源を示す配置図
【図８】第２の実施例の測定光源を示す配置図
【図９】本発明のレンズメータの第３の実施例を示す光
学配置図
学配置図
【図１０】測定光源の他例を示す配置図
【図１１】測定光源の他例における２色発光型のＬＥＤ
素子を示す斜視図
素子を示す斜視図
【図１２】測定光源の別の例を示す配置図
【図１３】測定光源のさらに別の例を示す配置図
【図１４】図１３に示す測定光源における分散補正用の
ＬＥＤの配置図
ＬＥＤの配置図
【図１５】図１３に示す測定光源における度数測定用の
ＬＥＤの配置図
ＬＥＤの配置図
１ レンズメータ １Ａ レンズメータ １Ｂ レンズメータ ２ 測定光源 ３Ａ 発光部 ３Ｂ 発光部 ９ レンズ受 １１ 光電変換手段 １６ ダイクロックミラー ２０ 被検レンズ ２６ 演算手段 Ｌ 測定光軸
Claims (3)
- 【請求項１】 測定光源からの光を被検レンズを通過さ
せて光電変換手段に導き、この光電変換手段の光電変換
信号を基に前記被検レンズの光学性能を求めるレンズメ
ータであって、前記測定光源は少なくとも２種類の異な
る波長の光を発することを可能に構成するとともに、前
記少なくとも２種類の異なる波長の光に応じた前記光電
変換手段の光電変換信号を基に被検レンズの光学性能を
演算する演算手段を設けたことを特徴とするレンズメー
タ。 - 【請求項２】 前記測定光源は、測定光軸に配置した光
選択透過手段を介して分離した位置から被検レンズに各
々異なる波長の光を送る少なくとも２つの発光部からな
るものである請求項１記載のレンズメータ。 - 【請求項３】 前記光電変換手段は、測定光軸に配置し
た波長選択手段により分岐される光路に各々の光路に対
応した複数の光電変換部を有することを特徴とする請求
項１記載のレンズメータ。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5038200A JPH06249749A (ja) | 1993-02-26 | 1993-02-26 | レンズメータ |
| US08/697,171 US5719668A (en) | 1993-02-26 | 1996-08-20 | Lens-meter for measuring optical characteristics of optical lens |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5038200A JPH06249749A (ja) | 1993-02-26 | 1993-02-26 | レンズメータ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06249749A true JPH06249749A (ja) | 1994-09-09 |
Family
ID=12518712
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5038200A Pending JPH06249749A (ja) | 1993-02-26 | 1993-02-26 | レンズメータ |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5719668A (ja) |
| JP (1) | JPH06249749A (ja) |
Cited By (2)
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| JP2006212767A (ja) * | 2005-02-07 | 2006-08-17 | Topcon Corp | 眼鏡レンズの吸着治具取付装置 |
| KR100902972B1 (ko) * | 2001-10-01 | 2009-06-15 | 가부시키가이샤 탑콘 | 렌즈미터 |
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|---|---|---|---|---|
| JPH09288040A (ja) * | 1996-04-19 | 1997-11-04 | Topcon Corp | レンズメータ |
| JPH10132707A (ja) * | 1996-09-05 | 1998-05-22 | Topcon Corp | 隠しマーク観察装置とレンズメータ |
| JPH11170275A (ja) * | 1997-12-17 | 1999-06-29 | Topcon Corp | レンズ成形装置及びレンズ成形器具 |
| JP4145012B2 (ja) * | 2000-12-11 | 2008-09-03 | Ｈｏｙａ株式会社 | 眼鏡レンズ加工方法及びレンズメータ |
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| JP2003075295A (ja) * | 2001-09-03 | 2003-03-12 | Seiko Epson Corp | レンズの評価方法およびレンズ評価装置 |
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| JP4421332B2 (ja) * | 2004-02-27 | 2010-02-24 | 株式会社ニデック | レンズメータ |
| US7802883B2 (en) * | 2007-12-20 | 2010-09-28 | Johnson & Johnson Vision Care, Inc. | Cosmetic contact lenses having a sparkle effect |
| MY166303A (en) * | 2011-06-03 | 2018-06-25 | Johnson & Johnson Vision Care | Multiple radiation inspection of ophthalmic lenses |
| CN103926053B (zh) * | 2013-01-11 | 2018-08-24 | 上海嫦娥光学仪器科技有限公司 | 自动焦度计 |
| CN103926054A (zh) * | 2013-01-15 | 2014-07-16 | 上海雄博精密仪器股份有限公司 | 一种同时测眼镜片顶焦度和uv透射率的共光路采集装置 |
| JP6769605B2 (ja) * | 2016-08-16 | 2020-10-14 | 株式会社トーメーコーポレーション | レンズメータ |
| JP6627071B2 (ja) * | 2018-01-26 | 2020-01-08 | 株式会社Ｏｕｉ | 近接撮影用装置 |
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| US4410268A (en) * | 1980-04-28 | 1983-10-18 | Tokyo Kogaku Kikai Kabushiki Kaisha | Apparatus for automatically measuring the characteristics of an optical system |
| US4601575A (en) * | 1981-03-03 | 1986-07-22 | Tokyo Kogaku Kikai Kabushiki Kaisha | Apparatus for measuring the characteristics of an optical system |
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-
1993
- 1993-02-26 JP JP5038200A patent/JPH06249749A/ja active Pending
-
1996
- 1996-08-20 US US08/697,171 patent/US5719668A/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| KR100902972B1 (ko) * | 2001-10-01 | 2009-06-15 | 가부시키가이샤 탑콘 | 렌즈미터 |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5719668A (en) | 1998-02-17 |
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