WO2021147451A1 - 显示面板的测试电路、方法及显示面板 - Google Patents

Abstract

一种显示面板的测试电路、方法及显示面板，涉及显示技术领域。显示面板的测试电路包括：面板测试子电路（P1），用于根据接收的多个面板测试控制信号（D_SW1，D_SW2，D_SW3），控制面板测试开关单元（K1，K2，……）导通或关断，传输多个面板测试信号（D_R，D_B，D_G）；阵列测试子电路（P2），用于根据接收的多个阵列测试控制信号（AT_D1，AT_D2，AT_D3，AT_D4），控制阵列测试开关单元（T1，T2，……）导通或关断，根据传输的多个面板测试信号（D_R，D_B，D_G），通过测试端（Pad1，Pad2，……）输出短路判断信号（D1，D2，……），短路判断信号（D1，D2，……）用于判断显示面板内是否存在发生短路的数据线；在一个测试子周期（t1，t2，t3，t4）内，至少一组阵列测试开关单元（T1，T2，……）导通，在至少一组阵列测试开关（T1，T2，……）导通的情况下，与显示面板中不同种类子像素对应的面板测试信号（D_R，D_B，D_G）轮替变更为生效电平，能够避免显示面板的良率损失。

Description

显示面板的测试电路、方法及显示面板

相关申请的交叉引用

本申请要求享有于2020年1月20日提交的名称为“显示面板的测试电路、方法及显示面板”的中国专利申请202010067307.9的优先权，该申请的全部内容通过引用并入本文中。

技术领域

本申请属于显示技术领域，尤其涉及一种显示面板的测试电路、方法及显示面板。

背景技术

随着显示技术的迅速发展，显示面板的应用越来越广泛。其中，对显示面板的安全性的要求也越来越高。

图1为一种显示面板的示意图。如图1所示，显示面板包括显示区域和非显示区域。非显示区域中集中设置有多条走线，走线中包括数据线。在走线密集区域，临近的数据线之间发生短路的可能性很高。一旦数据线之间发生短路，则会对显示面板的显示效果造成不良影响，从而引起显示面板的良率损失。

发明内容

本申请实施例提供了一种显示面板的测试电路、方法及显示面板，能够避免显示面板的良率损失。

第一方面，本申请实施例提供一种显示面板的测试电路，包括：

面板测试子电路，包括面板测试开关单元，面板测试开关单元被配置为与显示面板的数据线连接，面板测试子电路用于根据接收的多个面板测试控制信号，控制面板测试开关单元导通或关断，以传输多个面板测试信 号；

阵列测试子电路，包括阵列测试开关单元和测试端，阵列测试开关单元被配置为与面板测试子电路、数据线连接，阵列测试子电路用于根据接收的多个阵列测试控制信号，控制阵列测试开关单元导通或关断，以根据面板测试子电路传输的多个面板测试信号，通过测试端输出短路判断信号，短路判断信号用于判断显示面板内是否存在发生短路的数据线，

其中，在一个测试子周期内，至少一组阵列测试开关单元导通，在至少一组阵列测试开关导通的情况下，与显示面板中不同种类子像素对应的面板测试信号轮替变更为生效电平。

本申请实施例提供一种显示面板，包括第一方面的技术方案中的显示面板的测试电路。

本申请实施例提供一种显示面板的测试电路、方法及显示面板，通过多个面板测试控制信号、多个面板测试信号和多个阵列测试控制信号，控制面板测试子电路中面板测试开关单元的导通和关断，以及控制阵列测试子电路中阵列测试开关单元的导通可关断，以将面板测试信号传输至阵列测试子电路中的测试端。在至少一组阵列测试开关导通的情况下，多个面板测试信号轮替变更为生效电平，以对每条数据线进行短路测试。通过测试端输出的短路判断信号，即可实现显示面板中数据线是否发生短路的测试，以便于可及时采取相关措施，避免显示面板的良率损失。

附图说明

从下面结合附图对本申请的具体实施方式的描述中可以更好地理解本申请。其中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征。

图1为一种显示面板的示意图；

图2为本申请一实施例提供的显示面板的测试电路的结构示意图；

图3为本申请另一实施例提供的显示面板的测试电路的结构示意图；

图4为本申请实施例提供的与图2所示的显示面板的测试电路对应的一种信号时序图；

图5为本申请实施例提供的与图2所示的显示面板的测试电路对应的 另一种信号时序图；

图6为本申请实施例提供的与图3所示的显示面板的测试电路对应的一种信号时序图；

图7为本申请一实施例提供的显示面板的测试方法的流程图。

具体实施方式

本申请实施例提供了一种显示面板的测试电路、方法及显示面板，可应用于对显示面板中的数据线进行短路测试的场景中。例如，可应用于包括采用解复用方式即demux方式的面板测试子电路即AT测试子电路的显示面板。本申请实施例中的测试电路、方法及显示面板，能够对显示面板中的数据线进行短路测试，确定显示面板中是否存在发生短路的数据线，从而预先发现数据线短路故障，可及时采取相关措施，避免显示面板的良率损失。

图2为本申请一实施例提供的显示面板的测试电路的结构示意图。图3为本申请另一实施例提供的显示面板的测试电路的结构示意图。如图2和图3所示，该显示面板的测试电路可包括面板测试子电路P1即CT测试子电路P1和阵列测试子电路P2即AT测试子电路P2。

面板测试子电路P1包括多个面板测试开关单元。面板测试开关单元被配置为与显示面板的数据线连接。面板测试开关单元具体可以为开关器件，比如薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)等，在此并不限定。面板测试子电路P1用于根据接收的多个面板测试控制信号，控制面板测试开关单元导通或关断，以传输多个面板测试信号。

面板测试控制信号可由面板测试控制信号端生成，通过面板测试控制信号线传输。面板测试信号可由面板测试信号端生成，通过面板测试信号线传输。面板测试控制信号的数目可为多个。对应地，面板测试控制信号端的数目可为多个，面板测试信号控制线的数目可为多条。面板测试信号的数目可为多个。对应地，面板测试信号端的数目可为多个，面板测试信号线的数目可为多条。在此并不限定面板测试控制信号和面板测试信号的数目。

阵列测试子电路P2可包括多个阵列测试开关单元和多个测试端。阵列测试开关单元被配置为与面板测试子电路P1、数据线连接。阵列测试开关单元具体可以为开关器件，比如TFT等，在此并不限定。阵列测试子电路P2用于根据接收的多个阵列测试控制信号，控制阵列测试开关单元导通或关断，以根据面板测试子电路P1传输的多个面板测试信号，通过测试端输出短路判断信号。该短路判断信号用于判断显示面板内是否存在发生短路的数据线。

阵列测试控制信号可由阵列测试控制信号端生成，通过阵列测试控制信号线传输。由于数据线数量多，排布密集，在产品设计中，无法满足每条数据线对应一个测试端，因此引入了demux方式的阵列测试子电路P2。本申请实施例中的阵列测试子电路P2为采用了demux方式的阵列测试子电路。阵列测试子电路P2中的一个测试端可对应两条以上的数据线。例如，图2所示的测试电路中的阵列测试子电路P2示出了测试端Pad1、Pad2和Pad3。测试端可不限于Pad1、Pad2和Pad3，还可包括更多的测试端，在图2中并未一一示出。其中，每个测试端对应四条数据线。又例如，图3所示的测试电路中的阵列测试子电路P2示出了测试端Pad1、Pad2和Pad3。测试端不限于Pad1、Pad2和Pad3，还可包括更多的测试端，在图3中并未一一示出。其中，每个测试端对应两条数据线。

在一个测试子周期内，至少一组阵列测试开关单元导通。在至少一组阵列测试开关导通的情况下，与显示面板中不同种类子像素对应的面板测试信号轮替变更为生效电平。

一个阵列测试控制信号可控制一组阵列测试开关单元的导通和关断。通过多个阵列测试控制信号可控制多组阵列测试开关单元的导通和关断。阵列测试控制信号为生效电平，则该阵列测试控制信号控制的一组阵列测试开关单元导通。阵列测试控制信号为失效电平，则该阵列测试控制信号控制的一组阵列测试开关单元关断。

显示面板可包括多种子像素，每种子像素均可对应一个面板测试信号，即利用一个面板测试信号对一种子像素进行检测。比如，子像素可包括红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素三种子像素，红色子像素对应一 个面板测试信号，绿色子像素对应另一个面板测试信号，蓝色子像素对应又一个面板测试信号。

在至少一组阵列测试开关导通的情况下，显示面板中不同种类子像素对应的面板测试信号轮替变更为生效电平。在同一时刻，不同的面板测试信号中至多有一个面板测试信号为生效电平。

若该显示面板中的数据线未发生短路，则面板测试信号可通过导通的面板测试开关单元和导通的阵列测试开关单元传输至测试端输出，测试端输出的短路判断信号为面板测试信号。若该显示面板中的数据线发生短路，则面板测试信号在通过导通的面板测试开关单元和导通的阵列测试开关单元的过程中受到短路的数据线影响，传输至测试端经测试端输出的短路判断信号与面板测试信号不同。因此，可根据短路判断信号判断显示面板内是否存在发生短路的数据线。

在本申请实施例中，通过多个面板测试控制信号、多个面板测试信号和多个阵列测试控制信号，控制面板测试子电路P1中面板测试开关单元的导通和关断，以及控制阵列测试子电路P2中阵列测试开关单元的导通可关断，以将面板测试信号传输至阵列测试子电路P2中的测试端。在至少一组阵列测试开关导通的情况下，多个面板测试信号轮替变更为生效电平，以对每条数据线进行短路测试。通过测试端输出的短路判断信号，即可实现显示面板中数据线是否发生短路的测试，以便于可及时采取相关措施，避免显示面板的良率损失。

具体地，在上述实施例中，面板测试开关单元的控制端被配置为与用于传输面板测试控制信号的面板测试控制信号线连接。面板测试开关单元的第一端和第二端中的一者被配置为与用于传输面板测试信号的面板测试信号线连接。面板测试开关单元的第一端和第二端中的另一者被配置为与数据线连接。

阵列测试开关单元的控制端被配置为与用于提供阵列测试控制信号的阵列测试控制信号线连接。阵列测试开关单元的的第一端和第二端中的一者被配置为与数据线连接。阵列测试开关单元的的第一端和第二端中的另一者被配置为与测试端连接。

为了便于说明，下面以图2和图3所示的测试电路为例对面板测试控制信号、面板测试信号和阵列测试控制信号的时序分别进行说明。子像素包括第一子像素、第二子像素和第三子像素。第一子像素、第二子像素和第三子像素可具体分别为红色子像素、蓝色子像素和绿色子像素。图2和图3所示的子像素包括红色子像素R、蓝色子像素B和绿色子像素G。

如图2所示，面板测试控制信号线有三条，分别为D_SW1、D_SW2和D_SW3。面板测试信号线有三条，分别为D_R、D_B和D_G。阵列测试控制信号线有四条，分别为AT_D1、AT_D2、AT_D3和AT_D4。面板测试开关单元具体包括TFT K1至K20。阵列测试开关单元包括TFT T1至T12。

这里将信号线与该信号线生成的信号用同一标号表示，如面板测试控制信号线D_SW1生成的面板测试控制信号也用D_SW1表示。

在一些实施例中，在一个测试子周期内，一组阵列测试开关单元导通。在一个测试周期内，多组阵列测试开关单元依次导通。一个测试周期包括两个以上测试子周期。在一组阵列测试开关单元导通的情况下，与第一子像素对应的面板测试信号、与第二子像素对应的面板测试信号和与第三子像素对应的面板测试信号轮替变更为生效电平。

生效电平为高电平，对应地，失效电平为低电平。或者，生效电平为低电平，对应地，失效电平为低电平。生效电平具体可根据工作场景和工作需求设定，在此并不限定。

如图2所示，面板测试开关单元K1、K4、K6、K9、K11、K14、K16和K19的控制端与面板测试控制信号线D_SW1连接。面板测试开关单元K2、K5、K7、K10、K12、K15、K17和K20的控制端与面板测试控制信号线D_SW2连接。面板测试开关单元K3、K8、K13和K18的控制端与面板测试控制信号线D_SW3连接。

图4为本申请实施例提供的与图2所示的显示面板的测试电路对应的一种信号时序图。如图4所示，一个测试周期包括四个测试子周期，四个测试子周期分别为t1、t2、t3和t4。面板测试控制信号的生效电平为高电平，面板测试信号的生效电平为低电平，阵列测试控制信号的生效电平为 低电平。

在一个测试周期中，面板测试控制信号D_SW1持续为失效电平，面板测试控制信号D_SW2和D_SW3持续为生效电平。对应地，在这一个测试周期中，面板测试开关单元K1、K4、K6、K9、K11、K14、K16和K19关断，面板测试开关单元K2、K3、K5、K7、K8、K10、K12、K13、K15、K17、K18和K20导通。

在测试子周期t1中，阵列测试控制信号AT_D1为生效电平，阵列测试控制信号AT_D2、AT_D3和AT_D4为失效电平。对应地，阵列测试开关单元T1、T5和T9导通，其他阵列测试开关单元关断。面板测试信号D_R、D_B和D_G轮替变更为生效电平。

在测试子周期t2中，阵列测试控制信号AT_D2为生效电平，阵列测试控制信号AT_D1、AT_D3和AT_D4为失效电平。对应地，阵列测试开关单元T2、T6和T10导通，其他阵列测试开关单元关断。面板测试信号D_R、D_B和D_G轮替变更为生效电平。

在测试子周期t3中，阵列测试控制信号AT_D3为生效电平，阵列测试控制信号AT_D1、AT_D2和AT_D4为失效电平。对应地，阵列测试开关单元T3、T7和T11导通，其他阵列测试开关单元关断。面板测试信号D_R、D_B和D_G轮替变更为生效电平。

在测试子周期t4中，阵列测试控制信号AT_D4为生效电平，阵列测试控制信号AT_D1、AT_D2和AT_D3为失效电平。对应地，阵列测试开关单元T4、T8和T12导通，其他阵列测试开关单元关断。面板测试信号D_R、D_B和D_G轮替变更为生效电平。

在一些示例中，测试电路还可包括信号分析模块(说明书附图中并未示出)，该信号分析模块可与各测试端连接。该信号分析模块可用于若短路判断信号的幅值超出当前信号标准幅值范围，确定存在发生短路的数据线。其中，当前信号标准幅值范围根据当前的面板测试控制信号、面板测试信号和阵列测试控制信号确定。

例如，若显示面板的数据线未发生短路，则测试端Pad1、Pad2和Pad3输出的短路判断信号D1、D2和D3应该如图4所示。图4所示的短 路判断信号D1、D2和D3的幅值的正常波动范围即为当前信号标准幅值范围。正常波动范围可根据工作场景和工作需求设定，在此并不限定。若显示面板的数据线发生短路，则在对应的短路判断信号D1、D2或D3的幅值应该在面板测试信号的生效电平的正常波动范围内的时刻，电路判断信号D1、D2或D3会由于短路的数据线被相邻的传输信号为失效电平的数据线的失效电平影响，使得输出的电路判断信号D1、D2或D3的幅值超出当前信号标准幅值范围。若图4中短路判断信号为电压信号，面板测试信号的生效电平为-5V。若图4中的t11时间段对应的短路判断信号D1的电压升高至0V，则可判断显示面板中存在发生短路的数据线。

在另一些示例中，显示面板的测试电路中的信号分析模块可用于若相邻的三个测试端输出的短路判断信号的幅值之和超出第一预设信号标准幅值范围，确定存在发生短路的数据线。其中，第一预设信号标准幅值范围根据面板测试信号的生效电平确定。第一预设信号标准幅值范围具体可为面板测试信号的生效电平的正常波动范围。

例如，若显示面板的数据线未发生短路，则测试端Pad1、Pad2和Pad3输出的短路判断信号D1、D2和D3应该如图4所示。每一时刻的短路判断信号D1、D2和D3的幅值之和均在面板测试信号的正常波动范围内。若图4中短路判断信号为电压信号，面板测试信号的生效电平为-5V，在显示面板的数据线未发生短路的情况下，测试端Pad1、Pad2和Pad3输出的短路判断信号D1、D2和D3的幅值之和均应在-5V的正常波动范围内。若测试端Pad1、Pad2和Pad3输出的短路判断信号D1、D2和D3的幅值之和超出-5V的正常波动范围内，则可确定显示面板存在发生短路的数据线。

在另一些实施例中，在一个测试子周期内，至少两组阵列测试开关单元依次导通。在一组阵列测试开关单元导通的情况下，与第一子像素对应的面板测试信号、与第二子像素对应的面板测试信号或与第三子像素对应的面板测试信号变更为生效电平。且一个测试周期内，与第一子像素对应的面板测试信号、与第二子像素对应的面板测试信号和与第三子像素对应的面板测试信号轮替变更为生效电平。

图5为本申请实施例提供的与图2所示的显示面板的测试电路对应的另一种信号时序图。如图5所示，一个测试周期包括三个测试子周期，三个测试子周期分别为t1、t2和t3。面板测试控制信号的生效电平为高电平，面板测试信号的生效电平为高电平，阵列测试控制信号的生效电平为低电平。短路判断信号可为电流信号或电压信号，在此并不限定。

在一个测试周期中，面板测试控制信号D_SW1持续为失效电平，面板测试控制信号D_SW2和D_SW3持续为生效电平。对应地，在这一个测试周期中，面板测试开关单元K1、K4、K6、K9、K11、K14、K16和K19关断，面板测试开关单元K2、K3、K5、K7、K8、K10、K12、K13、K15、K17、K18和K20导通。

在每个测试子周期中，阵列测试控制信号AT_D1、AT_D2、AT_D3和AT_D4依次轮替变更为生效电平。在同一时刻，阵列测试控制信号AT_D1、AT_D2、AT_D3和AT_D4中至多一个信号会变更为生效电平。每个阵列测试控制信号变更为生效电平时，对应一个面板测试信号变更为生效电平。在同一时刻，面板测试信号D_R、D_B和D_G中至多一个信号变更为生效电平。

在每个测试子周期中，阵列测试控制信号AT_D1变更为生效电平，对应地，面板测试信号D_R变更为生效电平。阵列测试控制信号AT_D2变更为生效电平，对应地，面板测试信号D_G变更为生效电平。阵列测试控制信号AT_D3变更为生效电平，对应地，面板测试信号D_B变更为生效电平。阵列测试控制信号AT_D4变更为生效电平，对应地，面板测试信号D_R变更为生效电平。

在各测试端接入数据线信号，数据线信号的幅值恒定。图5中的数据线信号为Vdata。在显示面板的数据线没有发生短路的情况下，由于面板测试信号D_R、D_B和D_G的生效电平与数据线信号Vdata的幅值的差值为一恒定值，则各测试端输出的短路判断信号均在第二预设信号标准幅值范围内。第二预设信号标准幅值范围可根据面板测试信号的生效电平和数据线信号的幅值确定。

显示面板的测试电路中的信号分析模块可用于：将生成目标短路判断 信号对应的数据线确定为发生短路的数据线。其中，目标短路判断信号为幅值超出第二预设信号标准幅值范围的短路判断信号。

也就是说，若出现幅值超出第二预设信号标准幅值范围的短路判断信号，则可根据该短路判断信号和测试电路的结构追溯至发生短路的数据线，从而精确定位发生短路的数据线，便于后续采取相关措施。

例如，表一示出了面板测试控制信号、面板测试信号、阵列测试控制信号以及短路判断信号的测试数据。面板测试控制信号的生效电平为高电平，面板测试信号的生效电平为高电平，阵列测试控制信号的生效电平为低电平。表一中的短路判断信号为电流信号。其中，“高”指的是高电平，“低”指的是低电平。1至12指的是第1条数据线至第12条数据线，13至24指的是第13条数据线至第24条数据线，以此类推。1至12对应的一行数据为测试端输出的短路判断信号的电流值，以此类推。

表一

D_R	高	低	低	高	低	低	高	低	低	高	低	低
D_G	低	高	低	低	高	低	低	高	低	低	高	低
D_B	低	低	高	低	低	高	低	低	高	低	低	高
D_SW1	高	高	高	高	高	高	高	高	高	高	高	高
D_SW2	低	低	低	低	低	低	低	低	低	低	低	低
D_SW3	低	低	低	低	低	低	低	低	低	低	低	低
AT_D1	低	高	高	高	低	高	高	高	低	高	高	高
AT_D2	高	低	高	高	高	低	高	高	高	低	高	高
AT_D3	高	高	低	高	高	高	低	高	高	高	低	高
AT_D4	高	高	高	低	高	高	高	低	高	高	高	低
1至12	0.038	0.036	0.037	0.036	0.032	0.035	0.036	0.034	0.035	0.104	0.034	0.035
13至24	0.036	0.035	0.037	0.036	0.143	0.035	0.036	0.033	0.036	0.037	0.035	0.038
……	……	……	……	……	……	……	……	……	……	……	……	……
241至252	0.038	0.036	0.037	0.036	0.033	0.034	0.035	0.034	0.034	0.035	0.033	0.034
……	……	……	……	……	……	……	……	……	……	……	……	……

由表一可得，第二预设信号标准幅值范围为[0.032，0.038]。其中，表一中与第10条数据线对应的短路判断信号的电流值超出了第二预设信号标准幅值范围，与第17条数据线对应的短路判断信号的电流值超出了第二预设信号标准幅值范围。可确定第10条数据线和第17条数据线发生短路。

如图3所示，面板测试控制信号线有三条，分别为D_SW1、D_SW2和D_SW3。面板测试信号线有三条，分别为D_R、D_B和D_G。阵列测试控制信号线有两条，分别为AT_D1和AT_D2。面板测试开关单元具体包括K1至K10。阵列测试开关单元包括T1至T6。

这里将信号线与该信号线生成的信号用同一标号表示，如面板测试控制信号线D_SW1生成的面板测试控制信号也用D_SW1表示。

如图2所示，面板测试开关单元K1、K4、K6和K9的控制端与面板测试控制信号线D_SW1连接。面板测试开关单元K2、K5、K7和K10的控制端与面板测试控制信号线D_SW2连接。面板测试开关单元K3和K8的控制端与面板测试控制信号线D_SW3连接。

图6为本申请实施例提供的与图3所示的显示面板的测试电路对应的一种信号时序图。如图6所示，一个测试周期包括两个测试子周期，两个测试子周期分别为t1和t2。面板测试控制信号的生效电平为高电平，面板测试信号的生效电平为低电平，阵列测试控制信号的生效电平为低电平。

在一个测试周期中，面板测试控制信号D_SW1持续为失效电平，面板测试控制信号D_SW2和D_SW3持续为生效电平。对应地，在这一个测试周期中，面板测试开关单元K1、K4、K6和K9关断，面板测试开关单元K2、K3、K5、K7、K8和K10导通。

在测试子周期t1中，阵列测试控制信号AT_D1为生效电平，阵列测试控制信号AT_D2为失效电平。对应地，阵列测试开关单元T1、T3和T5导通，其他阵列测试开关单元关断。面板测试信号D_R、D_B和D_G轮替变更为生效电平。

在测试子周期t2中，阵列测试控制信号AT_D2为生效电平，阵列测 试控制信号AT_D1为失效电平。对应地，阵列测试开关单元T2、T4和T6导通，其他阵列测试开关单元关断。面板测试信号D_R、D_B和D_G轮替变更为生效电平。

在一些示例中，测试电路还可包括信号分析模块(说明书附图中并未示出)，该信号分析模块可与各测试端连接。该信号分析模块可用于若短路判断信号的幅值超出当前信号标准幅值范围，确定存在发生短路的数据线。其中，当前信号标准幅值范围根据当前的面板测试控制信号、面板测试信号和阵列测试控制信号确定。

例如，若显示面板的数据线未发生短路，则测试端Pad1、Pad2和Pad3输出的短路判断信号D1、D2和D3应该如图6所示。图6所示的短路判断信号D1、D2和D3的幅值的正常波动范围即为当前信号标准幅值范围。正常波动范围可根据工作场景和工作需求设定，在此并不限定。若显示面板的数据线发生短路，则在对应的短路判断信号D1、D2或D3的幅值应该在面板测试信号的生效电平的正常波动范围内的时刻，电路判断信号D1、D2或D3会由于短路的数据线被相邻的传输信号为失效电平的数据线的失效电平影响，使得输出的电路判断信号D1、D2或D3的幅值超出当前信号标准幅值范围。若图6中短路判断信号为电压信号，面板测试信号的生效电平为-5V，若图6中的t11时间段对应的短路判断信号D1的电压升高至0V，则可判断显示面板中存在发生短路的数据线。

在另一些示例中，显示面板的测试电路中的信号分析模块可用于若相邻的三个测试端输出的短路判断信号的幅值之和超出第一预设信号标准幅值范围，确定存在发生短路的数据线。其中，第一预设信号标准幅值范围根据面板测试信号的生效电平确定。第一预设信号标准幅值范围具体可为面板测试信号的生效电平的正常波动范围。

例如，若显示面板的数据线未发生短路，则测试端Pad1、Pad2和Pad3输出的短路判断信号D1、D2和D3应该如图6所示。每一时刻的短路判断信号D1、D2和D3的幅值之和均在面板测试信号的正常波动范围内。若图6中短路判断信号为电压信号，面板测试信号的生效电平为-5V，在显示面板的数据线未发生短路的情况下，测试端Pad1、Pad2和 Pad3输出的短路判断信号D1、D2和D3的幅值之和均应在-5V的正常波动范围内。若测试端Pad1、Pad2和Pad3输出的短路判断信号D1、D2和D3的幅值之和超出-5V的正常波动范围内，则可确定显示面板存在发生短路的数据线。

本申请实施例还提供了一种显示面板的测试方法，可应用于上述实施例中的显示面板的测试电路。图7为本申请一实施例提供的显示面板的测试方法的流程图。如图7所示，该测试方法可包括步骤S701至步骤S703。

在步骤S701中，在一个测试子周期内，接收并利用多个阵列测试控制信号，控制阵列测试子电路中至少一组阵列测试开关导通。

在步骤S702中，接收并利用多个面板测试控制信号，控制面板测试子电路中的部分面板测试开关单元导通，将多个面板测试信号中的部分面板测试信号传输至阵列测试子电路的测试端。

在步骤S703中，根据测试端输出的短路判断信号，确定是否存在发生短路的数据线。

在本申请实施例中，通过多个面板测试控制信号、多个面板测试信号和多个阵列测试控制信号，控制面板测试子电路中面板测试开关单元的导通和关断，以及控制阵列测试子电路中阵列测试开关单元的导通可关断，以将面板测试信号传输至阵列测试子电路中的测试端。在至少一组阵列测试开关导通的情况下，多个面板测试信号轮替变更为生效电平，以对每条数据线进行短路测试。通过测试端输出的短路判断信号，即可实现显示面板中数据线是否发生短路的测试，以便于可及时采取相关措施，避免显示面板的良率损失。

在一些示例中，上述步骤S703具体可实现为：若短路判断信号的幅值超出当前信号标准幅值范围，确定存在发生短路的数据线。其中，当前信号标准幅值范围根据当前的面板测试控制信号、面板测试信号和阵列测试控制信号确定。

在另一些示例中，上述步骤S703具体可实现为：若相邻的三个测试端输出的短路判断信号的幅值之和超出第一预设信号标准幅值范围，确定 存在发生短路的数据线。其中，第一预设信号标准幅值范围根据面板测试信号的生效电平确定。

在一些示例中，测试电路中的测试端可接入数据线信号，该数据线信号的幅值恒定。将生成目标短路判断信号对应的数据线确定为发生短路的数据线，从而精确定位发生短路的数据线。其中，目标短路判断信号为幅值超出第二预设信号标准幅值范围的短路判断信号。

本申请实施例还提供一种显示面板，该显示面板包括上述实施例中的显示面板的测试电路。具体地，该测试电路可设置于显示面板的非显示区。上述显示面板可以为手机、平板、掌上电脑、IPAD等设备的显示屏等，在此并不限定。

需要明确的是，本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同或相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。对于测试方法实施例、显示面板实施例而言，相关之处可以参见测试电路实施例的说明部分。

本领域技术人员应能理解，上述实施例均是示例性而非限制性的。在不同实施例中出现的不同技术特征可以进行组合，以取得有益效果。

Claims (16)

1. 一种显示面板的测试电路，包括：

   面板测试子电路，包括面板测试开关单元，所述面板测试开关单元被配置为与所述显示面板的数据线连接，所述面板测试子电路用于根据接收的多个面板测试控制信号，控制所述面板测试开关单元导通或关断，以传输多个面板测试信号；

   阵列测试子电路，包括阵列测试开关单元和测试端，所述阵列测试开关单元被配置为与所述面板测试子电路、所述数据线连接，所述阵列测试子电路用于根据接收的多个阵列测试控制信号，控制所述阵列测试开关单元导通或关断，以根据所述面板测试子电路传输的所述多个面板测试信号，通过所述测试端输出短路判断信号，所述短路判断信号用于判断所述显示面板内是否存在发生短路的所述数据线，

   其中，在一个测试子周期内，至少一组阵列测试开关单元导通，在至少一组阵列测试开关导通的情况下，与所述显示面板中不同种类子像素对应的所述面板测试信号轮替变更为生效电平。
2. 根据权利要求1所述的测试电路，其中，

   所述面板测试开关单元的控制端被配置为与用于传输所述面板测试控制信号的面板测试控制信号线连接，所述面板测试开关单元的第一端和第二端中的一者被配置为与用于传输所述面板测试信号的面板测试信号线连接，所述面板测试开关单元的第一端和第二端中的另一者被配置为与所述数据线连接。
3. 根据权利要求1所述的测试电路，其中，

   所述阵列测试开关单元的控制端被配置为与用于提供所述阵列测试控制信号的阵列测试控制信号线连接，所述阵列测试开关单元的第一端和第二端中的一者被配置为与所述数据线连接，所述阵列测试开关单元的第一端和第二端中的另一者被配置为与所述测试端连接。
4. 根据权利要求1所述的测试电路，其中，

   一个所述测试端对应两条以上的所述数据线。
5. 根据权利要求1至3中任意一项所述的测试电路，其中，所述子像素包括第一子像素、第二子像素和第三子像素；

   在一个所述测试子周期内，一组阵列测试开关单元导通；

   在一个测试周期内，多组阵列测试开关单元依次导通，一个所述测试周期包括两个以上所述测试子周期；

   在所述一组阵列测试开关单元导通的情况下，与所述第一子像素对应的面板测试信号、与所述第二子像素对应的面板测试信号和与所述第三子像素对应的面板测试信号轮替变更为生效电平。
6. 根据权利要求5所述的测试电路，其中，还包括信号分析模块，所述信号分析模块用于：

   若所述短路判断信号的幅值超出当前信号标准幅值范围，确定存在发生短路的所述数据线，

   所述当前信号标准幅值范围根据当前的所述面板测试控制信号、所述面板测试信号和所述阵列测试控制信号确定。
7. 根据权利要求5所述的测试电路，其中，还包括信号分析模块，所述信号分析模块用于：

   若相邻的三个所述测试端输出的所述短路判断信号的幅值之和超出第一预设信号标准幅值范围，确定存在发生短路的所述数据线，

   所述第一预设信号标准幅值范围根据所述面板测试信号的生效电平确定。
8. 根据权利要求1至3中任意一项所述的数据线短路测试电路，其中，所述子像素包括第一子像素、第二子像素和第三子像素；

   在一个所述测试子周期内，至少两组阵列测试开关单元依次导通；

   在一组阵列测试开关单元导通的情况下，与所述第一子像素对应的面板测试信号、与所述第二子像素对应的面板测试信号或与所述第三子像素对应的面板测试信号变更为生效电平，

   且一个所述测试周期内，与所述第一子像素对应的面板测试信号、与所述第二子像素对应的面板测试信号和与所述第三子像素对应的面板测试信号轮替变更为生效电平。
9. 根据权利要求8所述的测试电路，其中，所述测试端接入数据线信号，所述数据线信号的幅值恒定，

   所述测试电路还包括信号分析模块，所述信号分析模块用于：

   将生成目标短路判断信号对应的所述数据线确定为发生短路的所述数据线，所述目标短路判断信号为幅值超出第二预设信号标准幅值范围的所述短路判断信号。
10. 一种显示面板的测试方法，应用于如权利要求1至9中任意一项所述的显示面板的测试电路，所述测试方法包括：

    在一个测试子周期内，接收并利用多个所述阵列测试控制信号，控制所述阵列测试子电路中至少一组所述阵列测试开关导通；

    接收并利用多个所述面板测试控制信号，控制面板测试子电路中的部分所述面板测试开关单元导通，将多个所述面板测试信号中的部分所述面板测试信号传输至所述阵列测试子电路的测试端；

    根据测试端输出的短路判断信号，确定是否存在发生短路的所述数据线。
11. 根据权利要求10所述的测试方法，其中，所述显示面板中子像素包括第一子像素、第二子像素和第三子像素；

    在一个所述测试子周期内，一组阵列测试开关单元导通；

    在一个测试周期内，多组阵列测试开关单元依次导通，一个所述测试周期包括两个以上所述测试子周期；

    在所述一组阵列测试开关单元导通的情况下，与所述第一子像素对应的面板测试信号、与所述第二子像素对应的面板测试信号和与所述第三子像素对应的面板测试信号轮替变更为生效电平。
12. 根据权利要求11所述的测试方法，其中，所述根据测试端输出的短路判断信号，确定是否存在发生短路的所述数据线，包括：

    若所述短路判断信号的幅值超出当前信号标准幅值范围，确定存在发生短路的所述数据线，其中，所述当前信号标准幅值范围根据当前的所述面板测试控制信号、所述面板测试信号和所述阵列测试控制信号确定。
13. 根据权利要求11所述的测试方法，其中，所述根据测试端输出 的短路判断信号，确定是否存在发生短路的所述数据线，包括：

    若相邻的三个所述测试端输出的所述短路判断信号的幅值之和超出第一预设信号标准幅值范围，确定存在发生短路的所述数据线，其中，所述第一预设信号标准幅值范围根据所述面板测试信号的生效电平确定。
14. 根据权利要求10所述的测试方法，其中，所述显示面板中子像素包括第一子像素、第二子像素和第三子像素；

    在一个所述测试子周期内，至少两组阵列测试开关单元依次导通；

    在一组阵列测试开关单元导通的情况下，与所述第一子像素对应的面板测试信号、与所述第二子像素对应的面板测试信号或与所述第三子像素对应的面板测试信号变更为生效电平，

    且一个所述测试周期内，与所述第一子像素对应的面板测试信号、与所述第二子像素对应的面板测试信号和与所述第三子像素对应的面板测试信号轮替变更为生效电平。
15. 根据权利要求14所述的测试方法，其中，所述测试端接入数据线信号，所述数据线信号的幅值恒定，

    所述测试方法还包括：

    将生成目标短路判断信号对应的所述数据线确定为发生短路的所述数据线，所述目标短路判断信号为幅值超出第二预设信号标准幅值范围的所述短路判断信号。
16. 一种显示面板，其特征在于，包括如权利要求1至9中任意一项所述的显示面板的测试电路。

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