CN109584760A - Amoled面板测试电路及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了AMOLED面板测试电路及测试方法，属于显示技术领域。该测试电路包括：数据线输出单元、阵列测试单元和面板测试单元；数据线输出单元具有多条数据线，分别与阵列测试单元和面板测试单元连接；阵列测试单元具有多个阵列测试输出端，分别与数据线连接，用于将阵列测试信号输出到相应的数据线；面板测试单元具有多个面板测试输出端和数据信号输入端，且多个面板测试输出端分别与数据线连接，用于在面板测试信号控制下将数据信号输出到相应的数据线。本发明面板测试过程中，每个数据信号只需通过一个开关元件就能输出到数据线，因此通过对电路设计进行改进，可以减少面板测试时的负载，从而可以驱动60Hz以上的数据信号。

Description

AMOLED面板测试电路及测试方法

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及AMOLED面板测试电路及测试方法。

背景技术

目前针对AMOLED(Active Matrix Organic Light Emitting Diode，有源矩阵有机发光二极管)，阵列基板测试电路和面板显示测试电路是分开的：阵列基板测试电路是用于测量在镀OLED前基板的性能，面板显示测试电路是用于测量蒸镀OLED后贴上上盖板再切割成显示面板后的性能。两种测试电路的目的也是不同的，阵列基板测试电路用于检测每一根数据线的接通情况，而面板显示测试电路用于检测面板的点亮效果，即可以采用图形产生器测量相同信号(如单色红色或单色绿色)。

近年来随着PPI(Pixels Per Inch，像素数)越来越多，可以采用渲染(rendering)方式，即一根数据线上有不同的颜色(如红色和绿色)，那么数据线的信号就是AC(Alternating Current，连续交流)信号，这样面板显示测试电路的负载就不能太大，否则面板显示测试电路就无法驱动一些现实面板，比如无法驱动频率60HZ以上的数据信号。

基于上述，还需要提供一种新的测试电路来解决上述问题。

在所述背景技术部分公开的上述信息仅用于加强对本发明的背景的理解，因此它可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

针对现有技术中存在的问题，本发明的目的为提供一种有源矩阵有机发光二极管AMOLED面板测试电路及测试方法，以解决现有技术中面板测试时负载太大的技术问题。

本发明的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本发明的实践而习得。

根据本发明的一方面，提供一种有源矩阵有机发光二极管AMOLED面板测试电路，具有一个提供阵列测试信号的阵列测试信号输入端和一个提供面板测试信号的面板测试信号输入端，所述AMOLED面板测试电路包括：数据线输出单元、阵列测试单元和面板测试单元；

所述数据线输出单元具有多条数据线，分别与所述阵列测试单元和所述面板测试单元连接；

所述阵列测试单元具有多个阵列测试输出端，且所述多个阵列测试输出端分别与所述数据线连接，用于将所述阵列测试信号输出到所述数据线输出单元中相应的数据线；以及

所述面板测试单元具有多个面板测试输出端和数据信号输入端，所述数据信号输入端用于提供数据信号，且所述多个面板测试输出端分别与所述数据线连接，用于在所述面板测试信号控制下将所述数据信号输出到所述数据线输出单元中相应的数据线。

根据本发明的一实施方式，所述阵列测试单元包括：一个一级开关元件和M个二级开关元件，所述一级开关元件和所述二级开关元件均具有控制端、输入端和输出端；

所述一级开关元件的控制端与开关信号连接，输入端与所述阵列测试信号输入端连接，输出端与所述二级开关元件的输入端连接，所述一级开关元件用于在其控制端输入的控制信号控制下将输入的所述阵列测试信号分别输出到所述M个二级开关元件的输入端，其中M≥1；

所述M个二级开关元件的控制端分别与M个独立的开关信号连接，输出端分别与所述数据线连接，所述二级开关元件用于在其控制端输入的控制信号控制下将输入的所述阵列测试信号输出到对应的数据线。

根据本发明的一实施方式，所述阵列测试信号输入端与N个所述一级开关元件的输入端连接，其中N≥1。

根据本发明的一实施方式，N＝1或N＝2或N＝4。

根据本发明的一实施方式，所述面板测试单元包括：M个面板测试开关元件，每个所述面板测试开关元件均具有控制端、输入端和输出端；

所述M个面板测试开关元件的控制端均与所述面板测试信号输入端连接，输入端分别与所述数据信号连接，输出端分别与所述数据线连接，所述面板测试开关元件用于在所述面板测试信号控制下将输入的所述数据信号输出到相应的数据线。

根据本发明的一实施方式，所述数据信号为红色像素的数据信号、绿色像素的数据信号或蓝色像素的数据信号的其中一种。

根据本发明的一实施方式，所述数据信号的频率大于或等于60Hz。

根据本发明的一实施方式，M＝6。

根据本发明实施例的另一方面，还提供一种有源矩阵有机发光二极管AMOLED面板测试方法，包括：

当进行阵列基板测试时，在各个开关信号的控制下将阵列测试信号输入端的阵列测试信号经过分级后分别输出到相应的数据线；

当进行面板测试时，在面板测试信号的控制下将数据信号分别输出到相应的数据线。

根据本发明的一实施方式，所述数据信号的频率大于或等于60Hz。

基于上述的实施例，本发明的有益效果在于：

AMOLED面板测试电路通过将阵列基板测试电路和面板测试电路集成在一起，而且在进行面板测试过程中，每个数据信号只需通过一个开关元件就能输出到数据线，因此通过对电路设计进行改进，可以减少面板测试时的负载，从而可以驱动60Hz以上的数据信号。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本发明。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。

图1示意性示出根据本发明示例实施方式提供的一种AMOLED面板测试电路的框图。

图2示意性示出根据本发明示例实施方式提供N＝1时的AMOLED面板测试电路的电路设计图。

图3示意性示出根据本发明示例实施方式提供N＝2时的AMOLED面板测试电路的电路设计图。

图4示意性示出根据本发明示例实施方式提供N＝4时的AMOLED面板测试电路的电路设计图。

图5为示意性示出根据本发明的另一实施例中提供的一种AMOLED面板测试方法的流程图。

具体实施方式

现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些实施方式使得本发明将更加全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。附图仅为本发明的示意性图解，并非一定是按比例绘制。图中相同的附图标记表示相同或类似的部分，因而将省略对它们的重复描述。

此外，所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本发明的实施方式的充分理解。然而，本领域技术人员将意识到，可以实践本发明的技术方案而省略所述特定细节中的一个或更多，或者可以采用其它的方法、组元、装置、步骤等。在其它情况下，不详细示出或描述公知结构、方法、装置、实现、材料或者操作以避免喧宾夺主而使得本发明的各方面变得模糊。

附图中所示的一些方框图是功能实体，不一定必须与物理或逻辑上独立的实体相对应。可以采用软件形式来实现这些功能实体，或在一个或多个硬件模块或集成电路中实现这些功能实体，或在不同网络和/或处理器装置和/或微控制器装置中实现这些功能实体。

以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本发明相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本发明的一些方面相一致的装置和方法的例子。

在本公开一相关实施例中，进行面板测试过程中，数据信号往往需要经过两个晶体管才能到达相应的数据线，将会由于测试时的负载过大而对于频率在60Hz以上的数据信号无法进行测试，为解决上述问题，本公开以下实施例对电路设计进行改进。

图1示意性示出根据本发明示例实施方式提供的一种AMOLED面板测试电路的框图。

如图1所示，该AMOLED面板测试电路100具有一个阵列测试信号输入端101和一个面板测试信号输入端102。除此之外，如图1所示，AMOLED面板测试电路100中还包括：数据线输出单元110、阵列测试单元120和面板测试单元130。

在本实施例中，数据线输出单元110具有多条数据线，分别与阵列测试单元120和面板测试单元130连接。阵列测试单元120具有多个阵列测试输出端，且多个阵列测试输出端分别与数据线连接，用于将阵列测试信号输出到数据线输出单元中相应的数据线。面板测试单元130具有多个面板测试输出端和数据信号输入端103，且多个面板测试输出端分别与数据线连接，用于在面板测试信号控制下将数据信号输出到数据线输出单元中相应的数据线。其中阵列测试信号输入端101用于提供阵列测试(array test)信号，面板测试信号输入端102用于提供面板测试(panel test)信号，数据信号输入端103用于提供针对每个像素的数据(data)信号。

在图1所示的AMOLED面板测试电路框图中，可看出在进行面板测试过程中，数据信号输入端提供的数据信号直接在面板测试信号的控制下输入到数据输出单元中相应的数据线上，而不经过阵列测试单元，这样既能将阵列基板测试和面板测试的电路集成在一起，又能减少面板测试时的负载。

图2示意性示出根据本发明示例实施方式提供的AMOLED面板测试电路的一种电路设计图。

如图2所示，数据线输出单元110具有多条数据线D1～Dm，阵列测试单元120包括一个一级开关元件和M个二级开关元件，面板测试单元130包括M个面板测试开关元件，其中M≥1，本实施例中是以M＝6为例进行说明的，相应的数据线也是以D1～D6为例进行说明的。

在本实施例中，一级开关元件和二级开关元件均具有控制端、输入端和输出端，其中一级开关元件和二级开关元件均可以是TFT(Thin Film Transistor，晶体管)，相应的控制端就是晶体管的栅极，输入端和输出端分别是晶体管的源极和漏极，需要说明的是，源极和漏极在本公开其他电路设计中还可以互换。在本实施例中，阵列测试单元120中的开关元件分别用T1～T7表示。

在本实施例中，一级开关元件的控制端与SW(Switch，开关)信号连接，输入端与阵列测试信号输入端101连接，输出端与二级开关元件的输入端连接，一级开关元件用于在其控制端输入的控制信号控制下将输入的阵列测试信号分别输出到M个二级开关元件的输入端。M个二级开关元件的控制端分别与M个独立的开关信号连接，输出端分别与数据线连接，二级开关元件用于在其控制端输入的控制信号控制下将输入的阵列测试信号输出到对应的数据线。

如图2所示，在阵列测试单元120中，一级开关元件T1的栅极连接SW信号，漏极连接阵列测试信号输入端101，源极分别连接二级开关元件T2～T7的漏极，而且二级开关元件T2～T7的源极分别连接数据线D1～D6，二级开关元件T2～T7的栅极分别连接6个独立的SW信号。

在本实施例中，每个面板测试开关元件均具有控制端、输入端和输出端，当M＝6时，面板测试单元130中的开关元件分别用T8～T13表示，每个开关元件均可以是晶体管，参见上述对一级开关元件和二级开关元件的说明，此处不再赘述。

在本实施例中，面板测试开关元件的控制端均与面板测试信号输入端连接，输入端分别与数据信号连接，输出端分别与数据线连接，面板测试开关元件用于在面板测试信号控制下将输入的数据信号输出到相应的数据线。

需要说明的是，本实施例中数据信号输入端103提供的数据信号可以为红色像素的数据信号DR、绿色像素的数据信号DG或蓝色像素的数据信号DB的其中一种。

如图2所示，在面板测试单元130中，面板测试开关元件T8～T13的栅极均连接面板测试信号输入端102，面板测试开关元件T8～T13的漏极与数据信号输入端的连接关系为：T8和T11的漏极连接红色像素的数据信号DR，T9和T12的漏极连接绿色像素的数据信号DG，T10和T13的漏极连接蓝色像素的数据信号DB，面板测试开关元件T8～T13的源极分别连接数据线D1～D6。

需要说明的是，本实施例中的数据信号的频率大于或等于60Hz，根据本实施例提供的电路图，在进行面板测试过程中由于数据信号仅通过一个晶体管就能够到达相应的数据线，从而在面板测试时可以驱动60Hz以上频率的数据信号。

基于图2提供的电路图，当进行阵列基板测试时，从阵列测试信号输入端101输入阵列测试(array test)信号，通过晶体管T1后再分别通过6个晶体管T2～T7进入6根数据线中，从而阵列测试信号输入端101可实现1推6根数据线D1～D6，即可进行每根数据线的测试；当进行面板测试，从面板测试信号输入端102输入面板测试(panel test)信号，并从数据信号输入端103输入红色像素的数据信号DR、绿色像素的数据信号DG和蓝色像素的数据信号DB，红色像素的数据信号DR经过晶体管T8和T11分别进入数据线D1和D4，绿色像素的数据信号DG经过晶体管T9和T12分别进入数据线D2和D5，蓝色像素的数据信号DB经过晶体管T10和T13分别进入数据线D3和D6，即可点亮面板进行测试。

还需要说明的是，在本实施例中，阵列测试信号输入端可以与N个一级开关元件的输入端连接，其中N≥1，例如N＝1或N＝2或N＝4。其中图2示出的电路设计图就是以N＝1为例进行说明的。

图3示意性示出根据本发明示例实施方式N＝2时AMOLED面板测试电路的电路设计图。通过图3所示的电路可以实现在进行阵列基板测试时1推2个阵列测试单元，驱动2*6＝12根数据线，而进行面板测试时同样数据信号也仅仅经过一个晶体管就能到达相应的数据线。

图4示意性示出根据本发明示例实施方式N＝4时AMOLED面板测试电路的电路设计图。通过图4所示的电路可以实现在进行阵列基板测试时1推4个阵列测试单元，驱动4*6＝24根数据线，而进行面板测试时同样数据信号也仅仅经过一个晶体管就能到达相应的数据线。

图3和图4中的电路连接关系类似，原理相同，此处不再赘述。

综合所述，本实施例的有益效果在于通过将阵列基板测试电路和面板测试电路集成在一起，而且在进行面板测试过程中，每个数据信号只需通过一个开关元件就能输出到数据线，因此通过对电路设计进行改进，可以减少面板测试时的负载，从而可以驱动60Hz以上的数据信号。

另外，图5示意性示出根据本发明的另一实施例中提供的一种AMOLED面板测试方法的流程图。

如图5所示，在步骤S51中，当进行阵列基板测试时，在各个开关信号的控制下将阵列测试信号输入端的阵列测试信号经过分级后分别输出到相应的数据线。

如图5所示，在步骤S52中，当进行面板测试时，在面板测试信号的控制下将数据信号分别输出到相应的数据线。

其中本实施例中的数据信号的频率大于或等于60Hz，数据信号可以为红色像素的数据信号DR、绿色像素的数据信号DG或蓝色像素的数据信号DB的其中一种。

图5示出根据本发明示例实施方式中AMOLED面板测试方法的流程图。该方法可例如利用如图1-4所示的电路实现，但本发明不限于此。需要注意的是，图5仅是根据本发明示例实施方式的方法所包括的处理的示意性说明，而不是限制目的。易于理解，图5所示的处理并不表明或限制这些处理的时间顺序。另外，也易于理解，这些处理可以是例如在多个模块/进程/线程中同步或异步执行的。

本方法能够实现与上述电路相同的有益效果，此处不再赘述。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本发明的其它实施方案。本申请旨在涵盖本发明的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本发明的一般性原理并包括本发明未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本发明的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

以上具体地示出和描述了本发明的示例性实施方式。应可理解的是，本发明不限于这里描述的详细结构、设置方式或实现方法；相反，本发明意图涵盖包含在所附权利要求的精神和范围内的各种修改和等效设置。

Claims (10)

1.一种有源矩阵有机发光二极管AMOLED面板测试电路，具有一个提供阵列测试信号的阵列测试信号输入端和一个提供面板测试信号的面板测试信号输入端，其特征在于，所述AMOLED面板测试电路包括：数据线输出单元、阵列测试单元和面板测试单元；

所述数据线输出单元具有多条数据线，分别与所述阵列测试单元和所述面板测试单元连接；

所述阵列测试单元具有多个阵列测试输出端，且所述多个阵列测试输出端分别与所述数据线连接，用于将所述阵列测试信号输出到所述数据线输出单元中相应的数据线；以及

所述面板测试单元具有多个面板测试输出端和数据信号输入端，所述数据信号输入端用于提供数据信号，且所述多个面板测试输出端分别与所述数据线连接，用于在所述面板测试信号控制下将所述数据信号输出到所述数据线输出单元中相应的数据线。

2.如权利要求1所述的AMOLED面板测试电路，其特征在于，所述阵列测试单元包括：一个一级开关元件和M个二级开关元件，所述一级开关元件和所述二级开关元件均具有控制端、输入端和输出端；

所述一级开关元件的控制端与开关信号连接，输入端与所述阵列测试信号输入端连接，输出端与所述二级开关元件的输入端连接，所述一级开关元件用于在其控制端输入的控制信号控制下将输入的所述阵列测试信号分别输出到所述M个二级开关元件的输入端，其中M≥1；

所述M个二级开关元件的控制端分别与M个独立的开关信号连接，输出端分别与所述数据线连接，所述二级开关元件用于在其控制端输入的控制信号控制下将输入的所述阵列测试信号输出到对应的数据线。

3.如权利要求2所述的AMOLED面板测试电路，其特征在于，所述阵列测试信号输入端与N个所述一级开关元件的输入端连接，其中N≥1。

4.如权利要求3所述的AMOLED面板测试电路，其特征在于，N＝1或N＝2或N＝4。

5.如权利要求2所述的AMOLED面板测试电路，其特征在于，所述面板测试单元包括：M个面板测试开关元件，每个所述面板测试开关元件均具有控制端、输入端和输出端；

所述M个面板测试开关元件的控制端均与所述面板测试信号输入端连接，输入端分别与所述数据信号连接，输出端分别与所述数据线连接，所述面板测试开关元件用于在所述面板测试信号控制下将输入的所述数据信号输出到相应的数据线。

6.如权利要求5所述的AMOLED面板测试电路，其特征在于，所述数据信号为红色像素的数据信号、绿色像素的数据信号或蓝色像素的数据信号的其中一种。

7.如权利要求6所述的AMOLED面板测试电路，其特征在于，所述数据信号的频率大于或等于60Hz。

8.如权利要求5所述的AMOLED面板测试电路，其特征在于，M＝6。

9.一种有源矩阵有机发光二极管AMOLED面板测试方法，其特征在于，包括：

当进行阵列基板测试时，在各个开关信号的控制下将阵列测试信号输入端的阵列测试信号经过分级后分别输出到相应的数据线；

当进行面板测试时，在面板测试信号的控制下将数据信号分别输出到相应的数据线。

10.如权利要求9所述的AMOLED面板测试方法，其特征在于，所述数据信号的频率大于或等于60Hz。