KR100924142B1 - 평판표시장치, 이의 에이징 방법 및 점등 테스트 방법 - Google Patents

평판표시장치, 이의 에이징 방법 및 점등 테스트 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 평판표시장치에 관한 것으로, 다수의 데이터 라인과 평행한 방향으로 제 1 색을 디스플레이하기 위한 제 1 화소와 제 2 색을 디스플레이하기 위한 제 2 화소가 교대로 배열되는 제 1 화소열, 상기 다수의 데이터 라인과 평행한 방향으로 상기 제 1 화소와 제 2 화소가 상기 제 1 화소열과 반대 순서로 배열되는 제 2 화소열 및 상기 다수의 데이터 라인과 평행한 방향으로 제 3 색을 디스플레이하기 위한 제 3 화소가 배열된 제 3 화소열을 포함하는 화소부를 구비한 펜타일(Pentile) 구조의 평판표시장치에 있어서, 상기 다수의 데이터 라인을 통해 상기 화소부에 점등 테스트 전압 및 에이징 전압을 인가하는 점등 테스트부의 구조를 변경하여, 상기 제 1 화소열과 제 2 화소열에 서로 상이한 전압이 인가되도록 하며, 상기 제 1 화소열과 제 2 화소열에 인가되는 전압이 스캔 신호에 동기하여 서로 교대되도록 함으로써, 추가 설비 또는 기존 설비의 변경 없이 상기 화소부의 각 화소를 용이하게 에이징 및 점등 테스트할 수 있는 평판표시장치에 관한 것이다.
본 발명은 다수의 스캔 라인을 통해 스캔 신호를 인가하는 스캔 드라이버; 다수의 데이터 라인을 통해 데이터 신호를 인가하는 데이터 드라이버; 상기 다수의 데이터 라인과 평행한 방향으로 제 1 색을 디스플레이하기 위한 제 1 화소 및 제 2 색을 디스플레이하기 위한 제 2 화소가 교대로 배열되는 제 1 화소열, 상기 다수의 데이터 라인과 평행한 방향으로 제 1 화소 및 제 2 화소가 상기 제 1 화소열과 반대 순서로 배열되는 제 2 화소열 및 상기 다수의 데이터 라인과 평행한 방향으로 제 3 색을 디스플레이하기 위한 제 3 화소가 배열되는 제 3 화소열을 포함하는 화소부; 및 상기 제 1 화소열, 제 2 화소열 및 제 3 화소열에 점등 테스트 전압 또는 에이징 전압을 인가하기 위한 점등 테스트부를 포함하며, 상기 점등 테스트부는 상기 제 1 화소열 및 제 2 화소열에 서로 상이한 전압을 인가하며, 제어 신호에 따라 상기 제 1 화소열과 제 2 화소열에 인가되는 전압이 서로 바뀌도록 하는 것을 특징으로 하는 평판표시장치, 이를 이용한 에이징 방법 및 점등 테스트 방법에 관한 것이다.
펜타일 구조, 에이징, 점등 테스트

Description

평판표시장치, 이의 에이징 방법 및 점등 테스트 방법{Flat Panel Display device, Aging method and Lighting test method of the same}
본 발명은 평판표시장치에 관한 것으로, 다수의 데이터 라인과 평행한 방향으로 제 1 색을 디스플레이하기 위한 제 1 화소와 제 2 색을 디스플레이하기 위한 제 2 화소가 교대로 배열되는 제 1 화소열, 상기 다수의 데이터 라인과 평행한 방향으로 상기 제 1 화소와 제 2 화소가 상기 제 1 화소열과 반대 순서로 배열되는 제 2 화소열 및 상기 다수의 데이터 라인과 평행한 방향으로 제 3 색을 디스플레이하기 위한 제 3 화소가 배열된 제 3 화소열을 포함하는 화소부를 구비한 펜타일(Pentile) 구조의 평판표시장치에 있어서, 상기 다수의 데이터 라인을 통해 상기 화소부에 점등 테스트 전압 및 에이징 전압을 인가하는 점등 테스트부의 구조를 변경하여, 상기 제 1 화소열과 제 2 화소열에 서로 상이한 전압이 인가되도록 하며, 상기 제 1 화소열과 제 2 화소열에 인가되는 전압이 스캔 신호에 동기하여 서로 교대되도록 함으로써, 추가 설비 또는 기존 설비의 변경 없이 상기 화소부의 각 화소를 용이하게 에이징 및 점등 테스트할 수 있는 평판표시장치에 관한 것이다.
평판 표시 장치(Flat Panel Display device)는 경량 및 박형 등의 특성으로 인하여, 음극선관 표시 장치(Cathode-ray Tube Display device)를 대체하는 표시 장치로 사용되고 있다. 이러한 평판 표시 장치의 대표적인 예로서 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display device; LCD)와 유기전계발광표시장치(Organic Light Emitting diode Display device; OLED)가 있다.
여기서, 상기 유기전계발광표시장치는 유기박막에 음극(Cathode)과 양극(Anode)을 통해 주입된 전자(Electron)와 정곡(Hole)이 재결합하여 여기자를 형성하고, 형성된 여기자로부터의 에너지에 의해 특정한 파장의 빛이 발생되는 현상을 이용한 표시장치로서, 액정표시장치에 비하여 휘도 특성 및 시야각 특성이 우수하고 백라이트(Back Light)를 필요로 하지 않아 초박형으로 구형할 수 있는 장점이 있다.
상기 평판 표시 장치는 풀-컬러(Full-color)를 구현하기 위하여, 다수의 적색, 녹색 및 청색 화소를 포함하며, 상기 적색, 녹색 및 청색 화소를 스트라이프(Stripe) 타입으로 배치하는 경우, 각 화소의 경계부분이 블랙 매트릭스(Black Matrix)에 둘러싸인 것처럼 시각적으로 인식되는 문제가 있으므로, 상기 평판표시장치의 영상 데이터를 랜더링(Randering)한다.
일반적으로, 랜더링(Randering)은 광원, 위치, 색상 등 외부의 정보를 고려하면서 사실감을 불어넣는 방법으로, 평면적으로 보이는 물체에 그림자 또는 농도의 변화 등을 주어 입체감 및 사실감을 보강하는 것을 말한다. 즉, 랜더링은 2차원이나 3차원 그래픽 영상을 디스플레이하기 위한 영상 처리 방법이며, 상기 평판표시장치의 영상 데이터를 랜더링하기 위하여, 상기 평판표시장치는 다수의 화소가 데이터 신호가 인가되는 다수의 데이터 라인과 평행한 방향으로 제 1 색을 디스플레이하기 위한 제 1 화소와 제 2 색을 디스플레이하기 위한 제 2 화소가 교대로 배열되는 제 1 화소열, 상기 다수의 데이터 라인과 평행한 방향으로 상기 제 1 화소와 제 2 화소가 상기 제 1 화소열과 반대 순서로 배열되는 제 2 화소열 및 상기 다수의 데이터 라인과 평행한 방향으로 제 3 색을 디스플레이하기 위한 제 3 화소가 배열되는 제 3 화소열을 포함하는 펜타일(Pentile) 형태로 배열되도록 한다.
그러나, 상기와 같은 펜타일 구조의 평판표시장치는 다수의 데이터 라인과 평행한 방향으로 제 1 화소와 제 2 화소가 교대로 배열되는 제 1 화소열 및 상기 다수의 데이터 라인과 평행한 방향으로 상기 제 1 화소와 제 2 화소가 상기 제 1 화소열과 반대 순서로 배열되는 제 2 화소열로 인하여, 동일 스캔 라인에 제 1 화소와 제 2 화소가 항상 교대로 배열되므로, 점등 테스트 또는 에이징 공정 시 하나의 데이터 라인에 제 1 화소를 점등 테스트하기 위한 제 1 테스트 전압 또는 에이징하기 위한 제 1 에이징 전압과 제 2 화소를 점등 테스트하기 위한 제 2 테스트 전압 및 에이징하기 위한 제 2 에이징 전압이 교류로 인가하게 되어, 점등 테스트시 각 화소의 휘도차가 발생하거나, 과도한 또는 충분하지 않은 에이징이 수행되는 문제점이 있다.
또한, 이를 해결하기 위해서는 각 화소를 개별적으로 점등 테스트 또는 에이징할 수 있도록 별도의 설비를 추가하거나, 기존의 스트라이프(stripe) 구조의 평판표시장치에 사용되는 점등 테스트 및 에이징 설비를 개조하여야 하므로, 펜타일 구조의 평판표시장치의 점등 테스트 및 에이징 공정을 위하여 추가 비용이 발생되는 문제점이 있다.
본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 데이터 라인을 통해 화소부에 점등 테스트 전압 및 에이징 전압을 인가하는 점등 테스트부 의 구조를 변경하여, 설비 추가 또는 기존 설비의 변경 없이 상기 화소부의 각 화소를 충분하게 에이징할 수 있으며, 점등 테스트시 각 화소의 휘도차를 방지할 수 있는 평판표시장치, 이의 점등 테스트 및 에이징 방법을 제공함에 본 발명의 목적이 있다.
본 발명의 상기 목적은 다수의 스캔 라인을 통해 스캔 신호를 인가하는 스캔 드라이버; 다수의 데이터 라인을 통해 데이터 신호를 인가하는 데이터 드라이버; 상기 다수의 데이터 라인과 평행한 방향으로 제 1 색을 디스플레이하기 위한 제 1 화소 및 제 2 색을 디스플레이하기 위한 제 2 화소가 교대로 배열되는 제 1 화소열, 상기 다수의 데이터 라인과 평행한 방향으로 제 1 화소 및 제 2 화소가 상기 제 1 화소열과 반대 순서로 배열되는 제 2 화소열 및 상기 다수의 데이터 라인과 평행한 방향으로 제 3 색을 디스플레이하기 위한 제 3 화소가 배열되는 제 3 화소열을 포함하는 화소부; 및 상기 제 1 화소열, 제 2 화소열 및 제 3 화소열에 점등 테스트 전압 또는 에이징 전압을 인가하기 위한 점등 테스트부를 포함하며, 상기 점등 테스트부는 상기 제 1 화소열 및 제 2 화소열에 서로 상이한 전압을 인가하며, 제어 신호에 따라 상기 제 1 화소열과 제 2 화소열에 인가되는 전압이 서로 바뀌도록 하는 것을 특징으로 하는 평판표시장치에 의해 달성된다.
또한, 본 발명의 상기 목적은 다수의 스캔 라인, 다수의 데이터 라인 및 상기 스캔 라인과 데이터 라인이 교차하는 영역에 위치하며, 제 1 방향으로 제 1 색을 디스플레이하기 위한 제 1 화소와 제 2 색을 디스플레이하기 위한 제 2 화소가 교대로 배열되는 제 1 화소열, 상기 제 1 방향으로 상기 제 1 화소와 제 2 화소가 상기 제 1 화소열과 반대 순서로 배열되는 제 2 화소열, 상기 제 1 방향으로 제 3 색을 디스플레이하기 위한 제 3 화소가 배열되는 제 3 화소열을 포함하는 화소부 및 상기 다수의 데이터 라인을 통해 상기 제 1 화소열, 제 2 화소열 및 제 3 화소열에 점등 테스트 전압을 인가하는 점등 테스트부를 포함하는 평판표시장치의 점등 테스트 방법에 있어서, 제 1 제어 신호에 따라 상기 제 1 화소열과 제 1 테스트 전압원을 전기적으로 연결시키고, 상기 제 2 화소열과 제 2 테스트 전압원을 전기적으로 연결시키는 단계; 및 제 2 제어 신호에 따라 상기 제 1 화소열과 제 2 테스트 전압원을 전기적으로 연결시키고, 상기 제 2 화소열과 제 1 테스트 전압원을 전기적으로 연결시키는 단계를 포함하며, 상기 제 1 제어 신호 및 제 2 제어 신호는 스캔 신호에 동기되어 인가되는 것을 특징으로 하는 평판표시장치의 점등 테스트 방법에 의해 달성된다.
또한, 본 발명의 상기 목적은 다수의 스캔 라인, 다수의 데이터 라인 및 상기 스캔 라인과 데이터 라인이 교차하는 영역에 위치하며, 제 1 방향으로 제 1 색을 디스플레이하기 위한 제 1 화소와 제 2 색을 디스플레이하기 위한 제 2 화소가 교대로 배열되는 제 1 화소열, 상기 제 1 방향으로 상기 제 1 화소와 제 2 화소가 상기 제 1 화소열과 반대 순서로 배열되는 제 2 화소열, 상기 제 1 방향으로 제 3 색을 디스플레이하기 위한 제 3 화소가 배열되는 제 3 화소열을 포함하는 화소부 및 상기 다수의 데이터 라인을 통해 상기 제 1 화소열, 제 2 화소열 및 제 3 화소열에 각각의 에이징 전압을 인가하는 점등 테스트부를 포함하는 평판표시장치의 에이징 방법에 있어서, 제 1 배선, 제 2 배선 및 제 3 배선을 각각 제 1 에이징 전압 원, 제 2 에이징 전압원 및 제 3 에이징 전압원과 연결시키는 단계; 제 1 제어 신호에 따라 상기 제 1 화소열과 제 1 배선을 전기적으로 연결시키고, 상기 제 2 화소열과 제 2 배선을 전기적으로 연결시키는 단계; 제 2 제어 신호에 따라 상기 제 1 화소열과 제 2 배선을 전기적으로 연결시키고, 상기 제 2 화소열과 제 1 배선을 전기적으로 연결시키는 단계; 및 제 3 제어 신호에 따라 상기 제 3 화소열과 제 3 배선을 전기적으로 연결시키는 단계를 포함하며, 상기 제 1 제어 신호 및 제 2 제어 신호는 스캔 신호에 동기되어 인가되는 것을 특징으로 하는 평판표시장치의 에이징 방법에 의해 달성된다.
따라서, 본 발명에 따른 평판표시장치는 스캔 신호에 동기되는 점등 테스트부의 제 1 제어 신호 및 제 2 제어 신호에 의해 다수의 데이터 라인과 평행한 방향으로 제 1 색을 디스플레이하기 위한 제 1 화소 및 제 2 색을 디스플레이하기 위한 제 2 화소가 교대로 배열되는 제 1 화소열 및 상기 다수의 데이터 라인과 평행한 방향으로 상기 제 1 화소 및 제 2 화소가 상기 제 1 화소열과 반대 순서로 배열되는 제 2 화소열이 서로 상이한 전압이 공급되는 제 1 배선 또는 제 2 배선에 연결되도록 하고, 상기 제 1 배선 및 제 2 배선을 통해 서로 상이한 직류 전압이 인가되도록 함으로써, 설비 추가 또는 기존 설비의 변경 없이 상기 화소부의 각 화소가 개별적으로 점등 테스트 또는 충분히 에이징될 수 있도록 하며, 점등 테스트시 각 화소의 휘도차를 방지하는 효과가 있다.
본 발명의 상기 목적과 기술적 구성 및 그에 따른 작용 효과에 관한 자세한 사항은 본 발명의 바람직한 실시 예를 도시하고 있는 도면을 참조한 이하 상세한 설명에 의해 더욱 명확하게 이해될 것이다. 또한, 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조 번호들은 동일한 구성 요소를 나타내는 것이며, 어떤 부분이든 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되는 경우뿐만 아니라, 그 중간에 다른 소자를 두고 "전기적으로 연결"되는 경우도 포함한다. 덧붙여, 도면에 있어서, 층 및 영역의 길이, 두께 등은 편의를 위하여 과장되어 표현될 수 있다.
(실시 예)
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 평판표시장치를 나타낸 개략도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 평판표시장치는 다수의 데이터 라인(D1 ~ Dm)을 통해 데이터 신호를 인가하는 데이터 드라이버(110), 다수의 스캔 라인(S1 ~ Sn)을 통해 스캔 신호를 인가하는 스캔 드라이버(120), 상기 다수의 데이터 라인(D1 ~ Dm)과 평행한 방향으로 청색을 디스플레이하기 위한 제 1 화소(PB) 및 적색을 디스플레이하기 위한 제 2 화소(PR)가 교대로 배열되는 제 1 화소열(101), 상기 다수의 데이터 라인(D1 ~ Dm)과 평행한 방향으로 제 1 화소(PB) 및 제 2 화소(PR)가 상기 제 1 화소열(101)과 반대 순서로 배열되는 제 2 화소열(102) 및 상기 다수의 데이터 라인(D1 ~ Dm)과 평행한 방향으로 녹색을 디스플레이하기 위한 제 3 화소(PG)가 배열되는 제 3 화소열(103)을 포함하는 화소부(100) 및 상기 제 1 화소열(101), 제 2 화소열(102) 및 제 3 화소열(103)에 점등 테스트 전압 또 는 에이징 전압을 인가하기 위한 점등 테스트부(140)를 포함한다.
여기서, 본 발명의 실시 예에서는 제 1 화소열(101) 및 제 2 화소열(102)이 청색을 디스플레이하기 위한 제 1 화소(PB) 및 적색을 디스플레이하기 위한 제 2 화소(PR)가 교대로 배열되는 것으로 설명하고 있으나, 제 1 화소열(101) 및 제 2 화소열(102)은 청색을 디스플레이하기 위한 제 1 화소(PB)와 녹색을 디스플레이하기 위한 제 3 화소(PG) 또는 적색을 디스플레이하기 위한 제 2 화소(PR)와 녹색을 디스플레이하기 위한 제 3 화소(PG)가 교대로 배열될 수 있다.
또한, 본 발명의 실시 예에서는 상기 화소부(100)가 청색을 디스플레이하기 위한 제 1 화소(PB), 적색을 디스플레이하기 위한 제 2 화소(PR) 및 녹색을 디스플레이하기 위한 제 3 화소(PG)로 구성되는 것으로 설명하고 있으나, 상기 화소부(100)는 적색, 녹색 및 청색 이외의 색을 디스플레이하기 위한 화소(미도시)를 더 포함할 수도 있으며, 적색, 녹색 및 청색 이외의 색 중 서로 상이한 다수의 색을 디스플레이하기 위한 다수의 화소를 포함할 수도 있다.
상기 데이터 드라이버(110)는 타이밍 제어부(미도시)로부터 랜더링 영상 처리된 적색, 녹색 및 청색 디지털 영상 신호를 공급받아, 상기 스캔 드라이버(120)로부터 생성되는 스캔 신호와 동기되는 적색, 녹색 및 청색 데이터 신호를 생성한 후, 상기 화소부(100)와 전기적으로 연결된 상기 다수의 데이터 라인(D1 ~ Dm)을 통해 상기 적색, 녹색 및 청색 데이터 신호를 상기 화소부로 인가한다.
상기 스캔 드라이버(120)는 상기 화소부와 전기적으로 연결된 상기 다수의 스캔 라인(S1 ~ Sn)에 순차적으로 스캔 신호를 인가하여, 상기 화소부(100)의 제 1 화소열(101), 제 2 화소열(102) 및 제 3 화소열(103)의 각 화소(PB, PR, PG)를 순차적으로 선택한다.
상기 점등 테스트부(140)는 상기 제 1 화소열(101)과 제 1 화소(PB)에 대응되는 제 1 전압이 공급되는 제 1 배선(Vb) 사이에 위치하는 제 1 트랜지스터(M1), 상기 제 1 화소열(101)과 제 2 화소(PR)에 대응되는 제 2 전압이 공급되는 제 2 배선(Vr) 사이에 위치하는 제 2 트랜지스터(M2), 상기 제 2 화소열(102)과 제 2 배선(Vb) 사이에 위치하는 제 3 트랜지스터(M3), 상기 제 2 화소열(102)과 제 1 배선(Vr) 사이에 위치하는 제 4 트랜지스터(M4), 상기 제 3 화소열(103)과 제 3 화소(PG)에 대응되는 제 3 전압이 공급되는 제 3 배선(Vg) 사이에 위치하는 제 5 트랜지스터, 상기 제 1 트랜지스터(M1) 및 제 4 트랜지스터(M4)를 턴-온시키기 위한 제 1 제어 신호가 인가되는 제 1 제어 배선(C1), 상기 제 2 트랜지스터(M2) 및 제 3 트랜지스터(M3)를 턴-온시키기 위한 제 2 제어 신호가 인가되는 제 2 제어 배선(C2) 및 상기 제 5 트랜지스터(M5)를 턴-온시키기 위한 제 3 제어 신호가 인가되는 제 3 제어 배선(C3)을 포함한다.
여기서, 본 발명의 실시 예에서는 상기 제 1 트랜지스터(M1) 내지 제 5 트랜지스터(M5)가 모두 PMOS 타입의 트랜지스터인 것으로 도시하고 있으나, 상기 제 1 트랜지스터(M1) 내지 제 5 트랜지스터(M5)는 모두 NMOS 타입의 트랜지스터 또는 서로 상이한 전도 타입의 트랜지스터일 수 있다.
또한, 상기 제 1 전압, 제 2 전압 및 제 3 전압은 상기 제 1 화소열(101), 제 2 화소열(102) 및 제 3 화소열(103)의 점등 테스트를 위한 점등 테스트 전압 또 는 제 1 화소(PB), 제 2 화소(PR) 및 제 3 화소(PG)를 에이징하기 위한 각각의 에이징 전압일 수 있다.
또한, 상기 제 3 화소열(103)은 스캔 신호에 따라 순차적으로 상기 제 3 전압이 인가되어야 하므로, 상기 제 5 트랜지스터(M5) 및 제 3 제어 배선(C3)가 생략될 수 있으나, 상기 제 1 화소열(101), 제 2 화소열(102) 및 제 3 화소열(103)의 각 화소(PB, PR, PG)에 제 1 전압, 제 2 전압 및 제 3 전압이 인가되는 시간이 상기 다수의 스캔 라인(S1 ~ Sn)에 스캔 신호가 인가되는 시간보다 짧은 경우, 즉 상기 각 화소(PB, PR, PG)에 제 1 전압, 제 2 전압 및 제 3 전압보다 스캔 신호가 먼저 인가되는 경우, 상기 각 화소(PB, PR, PG)에 인가되는 제 1 전압, 제 2 전압 및 제 3 전압이 충분히 기록되지 못하여, 각 화소(PB, PR, PG)의 휘도차를 유발할 수 있으므로, 상기 제 5 트랜지스터(M5) 및 제 3 제어 배선(C3)가 위치하는 것이 바람직하다.
또한, 본 발명의 실시 예에 따른 평판표시장치는 상기 제 1 화소열(101), 제 2 화소열(102) 및 제 3 화소열(103)의 점등 테스트 시, 각 화소열(101, 102, 103)의 제 1 화소(PB), 제 2 화소(PR) 및 제 3 화소(PG)에 충분한 점등 테스트 전압이 인가된 후, 상기 제 1 화소(PB), 제 2 화소(PR) 및 제 3 화소(PG)가 발광되도록 하기 위하여, 상기 화소부(100)에 발광제어신호를 인가하기 위한 발광제어부(130)를 더 포함할 수 있다.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 평판표시장치에 인가되는 신호들을 나타낸 타이밍도이다.
도 2를 참조하여, 본 발명의 실시 예에 따른 평판표시장치의 점등 테스트 또는 에이징 공정 시 구동 방법을 설명하면, 먼저, 다수의 스캔 라인(S1 ~ Sn)에 의해 스캔 신호가 순차적으로 인가되어, 상기 화소부(100)의 제 1 화소열(101), 제 2 화소열(102) 및 제 3 화소열(103)의 각 화소(PB, PR, PG)가 순차적으로 선택되도록 하고, 점등 테스트부의 제 1 제어 배선(C1) 및 제 2 제어 배선(C2)에 인가되는 제 1 제어 신호 및 제 2 제어 신호가 상기 스캔 신호에 동기되어 인가되도록 한다.
이하에서는 도 2를 참조하여, 상기 스캔 신호가 인가되는 다수의 스캔 라인(S1 ~ Sn)에 따라 상기 제 1 제어 신호 및 제 2 제어 신호에 의해 상기 점등 테스트부로부터 각 화소열(101, 102, 103)에 인가되는 전압을 살펴본다.
먼저, 다수의 스캔 라인(S1 ~ Sn) 중 제 1 스캔 라인(S1)이 선택된 경우, 상기 제 1 제어 배선(C1)을 통해 인가되는 로우 레벨의 제 1 제어 신호에 의해 상기 제 1 화소열(101)과 제 1 배선(Vb) 사이에 위치하는 제 1 트랜지스터(M1) 및 상기 제 2 화소열(102)과 제 2 화소(PR)에 대응되는 제 2 전압이 공급되는 제 2 배선(Vr) 사이에 위치하는 제 4 트랜지스터(M4)가 턴-온되고, 상기 제 2 제어 배선(C2)을 통해 인가되는 하이 레벨의 제 2 제어 신호에 의해 상기 제 2 화소열(102)과 제 1 배선(Vb) 사이에 위치하는 제 3 트랜지스터(M3) 및 상기 제 1 화소열(101)과 제 2 배선(Vr) 사이에 위치하는 제 2 트랜지스터(M2)가 턴-오프된다.
따라서, 상기 제 1 트랜지스터(M1)에 의해 상기 제 1 스캔 라인(S1)과 전기적으로 연결되는 상기 제 1 화소열(101)의 제 1 화소(PB11)에 제 1 전압이 인가되고, 상기 제 4 트랜지스터(M4)에 의해 상기 제 1 스캔 라인(S1)과 전기적으로 연결 되는 상기 제 2 화소열(102)의 제 2 화소(PR13)에 제 2 전압이 인가된다.
상기 제 3 제어 배선(C3)을 통해 인가되는 제 3 제어 신호는 로우 레벨을 가지므로, 제 3 화소열(103)과 제 3 배선(Vg) 사이에 위치하는 제 5 트랜지스터(M5)는 턴-온되며, 상기 제 5 트랜지스터(M5)에 의해 상기 제 1 스캔 라인(S1)과 전기적으로 연결되는 상기 제 3 화소열(103)의 제 3 화소(PG12)에 제 3 전압이 인가된다.
다음으로, 다수의 스캔 라인(S1 ~ Sn) 중 제 2 스캔 라인(S2)이 선택된 경우, 상기 제 1 제어 배선(C1)을 통해 인가되는 하이 레벨의 제 1 제어 신호에 의해 상기 제 1 화소열(101)과 제 1 배선(Vb) 사이에 위치하는 제 1 트랜지스터(M1) 및 상기 제 2 화소열(102)과 제 2 화소(PR)에 대응되는 제 2 전압이 공급되는 제 2 배선(Vr) 사이에 위치하는 제 4 트랜지스터(M4)가 턴-오프되고, 상기 제 2 제어 배선(C2)을 통해 인가되는 로우 레벨의 제 2 제어 신호에 의해 상기 제 2 화소열(102)과 제 1 배선(Vb) 사이에 위치하는 제 3 트랜지스터(M3) 및 상기 제 1 화소열(101)과 제 2 배선(Vr) 사이에 위치하는 제 2 트랜지스터(M2)가 턴-온된다.
따라서, 상기 제 2 트랜지스터(M2)에 의해 상기 제 2 스캔 라인(S2)과 전기적으로 연결되는 상기 제 1 화소열(101)의 제 2 화소(PR21)에 제 2 전압이 인가되고, 상기 제 3 트랜지스터(M3)에 의해 상기 제 2 스캔 라인(S2)과 전기적으로 연결되는 상기 제 2 화소열(102)의 제 1 화소(PB23)에 제 1 전압이 인가된다.
상기 제 3 제어 배선(C3)을 통해 인가되는 제 3 제어 신호는 로우 레벨을 가지므로, 제 3 화소열(103)과 제 3 배선(Vg) 사이에 위치하는 제 5 트랜지스터(M5) 는 턴-온되며, 상기 제 5 트랜지스터(M5)에 의해 상기 제 2 스캔 라인(S2)과 전기적으로 연결되는 상기 제 3 화소열(103)의 제 3 화소(PG22)에 제 3 전압이 인가된다.
여기서, 상기 각 화소(PB, PR, PG)에 제 1 전압, 제 2 전압 및 제 3 전압보다 스캔 신호가 먼저 인가되는 경우, 상기 각 화소(PB, PR, PG)에 인가되는 제 1 전압, 제 2 전압 및 제 3 전압이 충분히 기록되지 못하여, 각 화소(PB, PR, PG)의 휘도차를 유발할 수 있으므로, 상기 제 1 제어 신호, 제 2 제어 신호 및 제 3 제어 신호에 의해 상기 제 1 전압, 제 2 전압 및 제 3 전압이 상기 각 화소(PB, PR, PG)에 상기 스캔 신호보다 t1만큼 먼저 인가되도록 하고, 상기 스캔 신호보다 t2만큼 더 인가되도록 한다. 즉, 상기 제 1 화소열(101), 제 2 화소열(102) 및 제 3 화소열(103)의 각 화소(PB, PR, PG)에 인가되는 제 1 전압, 제 2 전압 및 제 3 전압의 폭이 상기 다수의 스캔 라인(S1 ~ Sn)에 의해 인가되는 스캔 신호보다 충분히 크도록 하여야 한다.
계속해서, 다수의 스캔 라인(S1 ~ Sn) 중 제 3 스캔 라인(S3)이 선택된 경우, 앞서 제 1 스캔 라인(S1)이 선택된 경우와 동일하게 상기 제 1 제어 배선(C1)을 통해 로우 레벨의 제 1 제어 신호가 인가되고, 상기 제 2 제어 배선(C2)을 통해 하이 레벨의 제 2 제어 신호가 인가되며, 상기 제 3 제어 배선(C3)을 통해 인가되는 제 3 제어 신호는 로우 레벨을 가지므로, 상기 제 1 화소열(101)과 제 1 배선(Vb) 사이에 위치하는 제 1 트랜지스터(M1), 상기 제 2 화소열(102)과 제 2 화소(PR)에 대응되는 제 2 전압이 공급되는 제 2 배선(Vr) 사이에 위치하는 제 4 트랜지스터(M4) 및 제 3 화소열(103)과 제 3 배선(Vg) 사이에 위치하는 제 5 트랜지스터(M5)는 턴-온되며, 상기 제 2 화소열(102)과 제 1 배선(Vb) 사이에 위치하는 제 3 트랜지스터(M3) 및 상기 제 1 화소열(101)과 제 2 배선(Vr) 사이에 위치하는 제 2 트랜지스터(M2)는 턴-오프된다.
따라서, 상기 제 1 트랜지스터(M1)에 의해 상기 제 1 스캔 라인(S1)과 전기적으로 연결되는 상기 제 1 화소열(101)에 제 1 전압이 인가되고, 상기 제 4 트랜지스터(M4)에 의해 상기 제 1 스캔 라인(S1)과 전기적으로 연결되는 상기 제 2 화소열(102)에 제 2 전압이 인가되며, 상기 제 5 트랜지스터(M5)에 의해 상기 제 3 화소열(103)에 제 3 전압이 인가된다.
본 발명의 실시 예에서는 상기 점등 테스트부를 이용하여 상기 화소부의 점등 테스트 또는 에이징을 수행하는 경우만을 설명하고 있으나, 상기 제 1 배선, 제 2 배선 및 제 3 배선에 각각의 화소에 대응되는 점등 테스트 전압원을 연결하여 점등 테스트를 수행한 후, 상기 제 1 배선, 제 2 배선 및 제 3 배선에 각각의 화소에 대응되는 에이징 전압원을 연결하여, 에이징 공정을 수행할 수 있으며, 상기 과정을 반대로 하여 에이징 공정 수행 후 점등 테스트를 수행할 수도 있다.
결과적으로, 본 발명의 실시 예에 따른 평판표시장치는 점등 테스트부의 제 1 배선 및 제 2 배선과 제 1 화소열 및 제 2 화소열 사이에 각각 제 1 제어 신호 및 제 2 제어 신호에 의해 제어되는 제 1 트랜지스터 내지 제 4 트랜지스터를 위치시키고, 상기 제 1 제어 신호 및 제 2 제어 신호를 스캔 신호에 동기하여 서로 반전된 신호가 인가되도록 함으로써, 상기 제 1 화소열 및 제 2 화소열에 서로 반대 순서로 배열된 제 1 화소 및 제 2 화소에 이 서로 상이한 전압이 공급되는 제 1 배선 또는 제 2 배선에 연결되도록 하고, 상기 제 1 배선 및 제 2 배선을 통해 서로 상이한 직류 전압이 인가되도록 함으로써, 설비의 추가 또는 기존 설비의 변경 없이, 상기 각 화소열의 화소를 개별적으로 점등 테스트 또는 에이징할 수 있으며, 각각에 대응하는 점등 테스트 전압 또는 에이징 전압이 직류 전압으로 인가되도록 할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 평판표시장치를 나타낸 개략도이다.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 평판표시장치에 인가되는 신호들을 나타낸 타이밍도이다.
<도면 주요 부호들에 대한 부호의 설명>
100 : 화소부 110 : 데이터 드라이버
120 : 스캔 드라이버 130 : 발광제어 드라이버
140 : 점등 제어부

Claims (21)

  1. 다수의 스캔 라인을 통해 스캔 신호를 인가하는 스캔 드라이버;
    다수의 데이터 라인을 통해 데이터 신호를 인가하는 데이터 드라이버;
    상기 다수의 데이터 라인과 평행한 방향으로 제 1 색을 디스플레이하기 위한 제 1 화소 및 제 2 색을 디스플레이하기 위한 제 2 화소가 교대로 배열되는 제 1 화소열, 상기 다수의 데이터 라인과 평행한 방향으로 제 1 화소 및 제 2 화소가 상기 제 1 화소열과 반대 순서로 배열되는 제 2 화소열 및 상기 다수의 데이터 라인과 평행한 방향으로 제 3 색을 디스플레이하기 위한 제 3 화소가 배열되는 제 3 화소열을 포함하는 화소부; 및
    상기 제 1 화소열, 제 2 화소열 및 제 3 화소열에 점등 테스트 전압 또는 에이징 전압을 인가하기 위한 점등 테스트부를 포함하며,
    상기 점등 테스트부는 상기 제 1 화소열 및 제 2 화소열에 서로 상이한 전압을 인가하며, 제어 신호에 따라 상기 제 1 화소열과 제 2 화소열에 인가되는 전압이 서로 바뀌도록 하는 것을 특징으로 하는 평판표시장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제어 신호는 상기 제 1 화소열에 상기 제 1 화소에 대응하는 제 1 전압을 인가하고, 상기 제 2 화소열에 상기 제 2 화소에 대응하는 제 2 전압을 인가하기 위한 제 1 제어 신호 및 상기 제 1 화소열에 제 2 전압을 인가하고, 상기 제 2 화소열에 제 1 전압을 인가하기 위한 제 2 제어 신호를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판표시장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 점등 테스트부는 상기 제 1 제어 신호에 따라 상기 제 1 화소열과 상기 제 1 전압을 공급하는 제 1 배선을 전기적으로 연결하는 제 1 트랜지스터, 상기 제 2 제어 신호에 따라 상기 제 1 화소열과 상기 제 2 전압을 공급하는 제 2 배선을 전기적으로 연결하는 제 2 트랜지스터, 상기 제 2 제어 신호에 따라 상기 제 2 화소열과 제 1 배선을 전기적으로 연결하는 제 3 트랜지스터, 상기 제 1 제어 신호에 따라 상기 제 2 화소열과 제 2 배선을 전기적으로 연결하는 제 4 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판표시장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 제 1 트랜지스터 내지 제 4 트랜지스터는 동일 전도 타입인 것을 특징으로 하는 평판표시장치.
  5. 제 3 항에 있어서,
    상기 제어 신호는 상기 제 3 화소열에 상기 제 3 화소에 대응하는 제 3 전압을 인가하기 위한 제 3 제어 신호를 더 포함하며,
    상기 점등 테스트부는 상기 제 3 제어 신호에 따라 상기 제 3 화소열과 상기 제 3 전압을 공급하는 제 3 배선을 전기적으로 연결하는 제 5 트랜지스터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 평판표시장치.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 제 1 트랜지스터 내지 제 5 트랜지스터는 동일 전도 타입인 것을 특징으로 하는 평판표시장치.
  7. 제 5 항에 있어서,
    상기 제 1 전압, 제 2 전압 및 제 3 전압은 상기 제 1 화소열, 제 2 화소열 및 제 3 화소열의 점등을 테스트하기 위한 테스트 전압 또는 상기 제 1 화소, 제 2 화소 및 제 3 화소를 에이징하기 위한 에이징 전압인 것을 특징으로 하는 평판표시장치.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 화소, 제 2 화소 및 제 3 화소의 발광을 제어하기 위한 발광제어부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 평판표시장치.
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 3 화소는 적색 화소, 녹색 화소 및 청색 화소 중 어느 하나이며, 상기 제 1 화소 및 제 2 화소는 각각 상기 제 3 화소와 서로 상이한 적색 화소, 녹색 화소 및 청색 화소 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 평판표시장치.
  10. 다수의 스캔 라인, 다수의 데이터 라인 및 상기 스캔 라인과 데이터 라인이 교차하는 영역에 위치하며, 제 1 방향으로 제 1 색을 디스플레이하기 위한 제 1 화소와 제 2 색을 디스플레이하기 위한 제 2 화소가 교대로 배열되는 제 1 화소열, 상기 제 1 방향으로 상기 제 1 화소와 제 2 화소가 상기 제 1 화소열과 반대 순서로 배열되는 제 2 화소열, 상기 제 1 방향으로 제 3 색을 디스플레이하기 위한 제 3 화소가 배열되는 제 3 화소열을 포함하는 화소부 및 상기 다수의 데이터 라인을 통해 상기 제 1 화소열, 제 2 화소열 및 제 3 화소열에 점등 테스트 전압을 인가하는 점등 테스트부를 포함하는 평판표시장치의 점등 테스트 방법에 있어서,
    제 1 제어 신호에 따라 상기 제 1 화소열과 제 1 테스트 전압원을 전기적으로 연결시키고, 상기 제 2 화소열과 제 2 테스트 전압원을 전기적으로 연결시키는 단계; 및
    제 2 제어 신호에 따라 상기 제 1 화소열과 제 2 테스트 전압원을 전기적으로 연결시키고, 상기 제 2 화소열과 제 1 테스트 전압원을 전기적으로 연결시키는 단계를 포함하며,
    상기 제 1 제어 신호 및 제 2 제어 신호는 스캔 신호에 동기되어 인가되는 것을 특징으로 하는 평판표시장치의 점등 테스트 방법.
  11. 제 10 항에 있어서,
    상기 제 1 제어 신호에 따라 상기 제 1 화소열과 제 1 테스트 전압원 사이에 위치하는 제 1 트랜지스터 및 상기 제 2 화소열과 제 2 테스트 전압원 사이에 위치하는 제 4 트랜지스터를 턴-온시키고,
    상기 제 2 제어 신호에 따라 상기 제 1 화소열과 제 2 테스트 전압원 사이에 위치하는 제 2 트랜지스터 및 상기 제 2 화소열과 제 1 테스트 전압원 사이에 위치하는 제 3 트랜지스터를 턴-온시키는 것을 포함하는 평판표시장치의 점등 테스트 방법.
  12. 제 10 항에 있어서,
    제 3 제어 신호에 따라 상기 제 3 화소열과 제 3 테스트 전압원을 전기적으로 연결시키는 단계를 포함하는 평판표시장치의 점등 테스트 방법.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 제 3 제어 신호에 따라 상기 제 3 화소열과 제 3 테스트 전압원 사이에 위치하는 제 5 트랜지스터를 턴-온시키는 것을 포함하는 평판표시장치의 점등 테스트 방법.
  14. 제 10 항에 있어서,
    상기 제 1 화소, 제 2 화소 및 제 3 화소의 발광을 제어하기 위한 발광제어신호를 인가하는 단계를 더 포함하는 평판표시장치의 점등 테스트 방법.
  15. 다수의 스캔 라인, 다수의 데이터 라인 및 상기 스캔 라인과 데이터 라인이 교차하는 영역에 위치하며, 제 1 방향으로 제 1 색을 디스플레이하기 위한 제 1 화소와 제 2 색을 디스플레이하기 위한 제 2 화소가 교대로 배열되는 제 1 화소열, 상기 제 1 방향으로 상기 제 1 화소와 제 2 화소가 상기 제 1 화소열과 반대 순서로 배열되는 제 2 화소열, 상기 제 1 방향으로 제 3 색을 디스플레이하기 위한 제 3 화소가 배열되는 제 3 화소열을 포함하는 화소부 및 상기 다수의 데이터 라인을 통해 상기 제 1 화소열, 제 2 화소열 및 제 3 화소열에 각각의 에이징 전압을 인가하는 점등 테스트부를 포함하는 평판표시장치의 에이징 방법에 있어서,
    제 1 배선, 제 2 배선 및 제 3 배선을 각각 제 1 에이징 전압원, 제 2 에이징 전압원 및 제 3 에이징 전압원과 연결시키는 단계;
    제 1 제어 신호에 따라 상기 제 1 화소열과 제 1 배선을 전기적으로 연결시키고, 상기 제 2 화소열과 제 2 배선을 전기적으로 연결시키는 단계;
    제 2 제어 신호에 따라 상기 제 1 화소열과 제 2 배선을 전기적으로 연결시키고, 상기 제 2 화소열과 제 1 배선을 전기적으로 연결시키는 단계; 및
    제 3 제어 신호에 따라 상기 제 3 화소열과 제 3 배선을 전기적으로 연결시키는 단계를 포함하며,
    상기 제 1 제어 신호 및 제 2 제어 신호는 스캔 신호에 동기되어 인가되는 것을 특징으로 하는 평판표시장치의 에이징 방법.
  16. 제 15 항에 있어서,
    상기 제 1 제어 신호에 따라 상기 제 1 화소열과 제 1 배선 사이에 위치하는 제 1 트랜지스터 및 상기 제 2 화소열과 제 2 배선 사이에 위치하는 제 4 트랜지스터를 턴-온시키고,
    상기 제 2 제어 신호에 따라 상기 제 1 화소열과 제 2 배선 사이에 위치하는 제 2 트랜지스터 및 상기 제 2 화소열과 제 1 배선 사이에 위치하는 제 3 트랜지스터를 턴-온시키고,
    상기 제 3 제어 신호에 따라 상기 제 3 화소열과 제 3 배선 사이에 위치하는 제 5 트랜지스터를 턴-온시키는 것을 포함하는 평판표시장치의 에이징 방법.
  17. 제 15 항에 있어서,
    상기 제 1 화소, 제 2 화소 및 제 3 화소의 발광을 제어하기 위한 발광제어신호를 인가하는 단계를 더 포함하는 평판표시장치의 에이징 방법.
  18. 제 15 항에 있어서,
    상기 제 1 배선 및 제 2 배선을 각각 제 1 테스트 전압원 및 제 2 테스트 전압원과 연결시키는 단계;
    상기 제 1 제어 신호에 따라 상기 제 1 화소열과 제 1 배선을 전기적으로 연결시키고, 상기 제 2 화소열과 제 2 배선을 전기적으로 연결시키는 단계; 및
    상기 제 2 제어 신호에 따라 상기 제 1 화소열과 제 2 배선을 전기적으로 연 결시키고, 상기 제 2 화소열과 제 1 배선을 전기적으로 연결시키는 단계를 더 포함하는 평판표시장치의 에이징 방법.
  19. 제 18 항에 있어서,
    상기 제 1 제어 신호에 따라 상기 제 1 화소열과 제 1 배선 사이에 위치하는 제 1 트랜지스터 및 상기 제 2 화소열과 제 2 배선 사이에 위치하는 제 4 트랜지스터를 턴-온시키고,
    상기 제 2 제어 신호에 따라 상기 제 1 화소열과 제 2 배선 사이에 위치하는 제 2 트랜지스터 및 상기 제 2 화소열과 제 1 배선 사이에 위치하는 제 3 트랜지스터를 턴-온시키는 것을 포함하는 평판표시장치의 에이징 방법.
  20. 제 18 항에 있어서,
    상기 제 3 배선을 제 3 테스트 전압원과 연결시키는 단계; 및
    상기 제 3 제어 신호에 따라 상기 제 3 화소열과 제 3 배선을 전기적으로 연결시키는 단계를 더 포함하는 평판표시장치의 에이징 방법.
  21. 제 20 항에 있어서,
    상기 제 3 제어 신호에 따라 상기 제 3 화소열과 제 3 배선 사이에 위치하는 제 5 트랜지스터를 턴-온시키는 것을 포함하는 평판표시장치의 에이징 방법.
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