TW202028937A - 整合型觸控面板與測試方法 - Google Patents

Abstract

一種測試方法，適用於整合型觸控面板，其中整合型觸控面板包含多個觸控單元與多個開關群組，且多個觸控單元排列成多行。測試方法包含以下步驟：利用多個開關群組接收多個測試訊號，其中多個測試訊號彼此不同；在多個測試階段中，依次利用多個開關群組輸出多個測試訊號至多個觸控單元。其中多行的一第一行包含一待測觸控單元與其他觸控單元，且其他觸控單元各自在至少一測試階段中，透過多個測試訊號被設置為與待測觸控單元具有不同電壓準位。

Description

整合型觸控面板與測試方法

本揭示文件有關一種測試方法，尤指一種判斷整合型觸控面板是否短路之測試方法。

全內嵌式(full in-cell)整合型觸控面板整合了液晶顯示器和觸控模組，其中整合型觸控面板還包含多塊平板電極組成的矩陣。於顯示畫面更新階段中，這些平板電極為液晶顯示器提供共同電壓。於觸控階段中，平板電極則可作為觸控偵測元件的一部份。全內嵌式整合型觸控面板通常使用雙邊驅動的方式，傳輸訊號至前述的平板電極，以降低驅動線阻抗的影響。然而，於此種走線方式中，平板電極會與多條訊號傳輸線在垂直方向上會互相重疊，使得多個平板電極有可能意外地經由訊號傳輸線而互相短路。在多個平板電極互相短路的情況下，整合型觸控面板便無法準確偵測觸控事件發生的位置。

本揭示文件提供一種測試方法，適用於整合型 觸控面板，其中整合型觸控面板包含多個觸控單元與多個開關群組，且多個觸控單元排列成多行。測試方法包含以下步驟：利用多個開關群組接收多個測試訊號，其中多個測試訊號彼此不同；在多個測試階段中，依次利用多個開關群組輸出多個測試訊號至多個觸控單元；其中多行的一第一行包含一待測觸控單元與其他觸控單元，且其他觸控單元各自在至少一測試階段中，透過多個測試訊號被設置為與待測觸控單元具有不同電壓準位。

本揭示文件另提供一種整合型觸控面板，整合型觸控面板包含多個開關群組和多個觸控單元。多個開關群組用於接收多個測試訊號，其中多個測試訊號彼此不同。多個觸控單元排列成多行，其中於多個測試階段中，多個開關群組依次將多個測試訊號輸出至多個觸控單元。其中多行的一第一行包含一待測觸控單元與其他觸控單元，且其他觸控單元各自在至少一測試階段中，透過多個測試訊號被設置為與待測觸控單元具有不同電壓準位。

上述的測試方法與整合型觸控面板能測試多個觸控單元是否在水平與垂直的方向上互相短路。

100、100a、100b、100c‧‧‧整合型觸控面板

110‧‧‧觸控單元

120-1~120-n‧‧‧開關群組

130‧‧‧接合區域

CT-1~CT-n‧‧‧控制訊號

TS-1~TS-m‧‧‧測試訊號

CP‧‧‧導電路徑

D1‧‧‧第一方向

D2‧‧‧第二方向

200、600‧‧‧測試方法

S202、S204、S606‧‧‧流程

SW‧‧‧開關

為讓揭示文件之上述和其他目的、特徵、優點與實施例能更明顯易懂，所附圖式之說明如下：

第1圖為依據本揭示文件一實施例的整合型觸控面板簡化後的功能方塊圖。

第2圖為依據本揭示文件一實施例的測試方法的流程圖。

第3圖為依據本揭示文件一實施例的控制訊號與測試訊號的波型示意圖。

第4A~4C圖為整合型觸控面板於一實施例中的各個測試階段的測試訊號分布情形示意圖。

第5圖為依據本揭示文件另一實施例的控制訊號與測試訊號的波型示意圖。

第6圖為依據本揭示文件一實施例的測試方法的流程圖。

第7A~7C圖為整合型觸控面板於另一實施例中的各個測試階段的測試訊號分布情形示意圖。

第8A~8C圖為整合型觸控面板於又一實施例中的各個測試階段的測試訊號分布情形示意圖。

第9圖為適用於第4A~4C圖的實施例的開關群組的其中一者。

第10圖為依據本揭示文件另一實施例的整合型觸控面板簡化後的功能方塊圖。

第11圖為依據本揭示文件又一實施例的整合型觸控面板簡化後的功能方塊圖。

第12圖為依據本揭示文件再一實施例的整合型觸控面板簡化後的功能方塊圖。

以下將配合相關圖式來說明本揭示文件的實施例。在圖式中，相同的標號表示相同或類似的元件或方法流程。

第1圖為依據本揭示文件一實施例的整合型觸控面板100簡化後的功能方塊圖。整合型觸控面板100包含多個觸控單元110、多個開關群組120-1~120-n與一接合區130。多個觸控單元110於平行於第一方向D1的方向上排列成多行，並於平行於第二方向D2的方向上排列成多列，其中第一方向D1垂直於第二方向D2。多個開關群組120-1~120-n用於接收多個測試訊號TS-1~TS-m與多個控制訊號CT-1~CT-n。整合型觸控面板100包含顯示模組(未繪示於圖中)，顯示模組設置於多個觸控單元110上方的分層結構中，且整合型觸控面板100能夠於顯示模組的主動區域偵測觸控事件，其中主動區域為顯示模組的畫素電路排列的區域。為使圖面簡潔而易於說明，整合型驅動顯示面板100中的其他元件與連接關係並未繪示於第1圖中。

詳細而言，接合區130可用於設置驅動晶片，且接合區130透過多個導電路徑CP耦接於多個觸控單元110。藉由設置於接合區130的驅動晶片的控制，整合型觸控面板100的觸控單元110可以在顯示模組的畫面更新期間，為耦接於觸控單元110的畫素電路提供運作電壓(例如，液晶畫素電路中常見的共同電壓)。在畫面更新期間結束後，觸控單元110可在觸控期間改為偵測觸控事件，並將觸控事件的偵測結果透過導電路徑CP傳送至接合區130的 驅動晶片。

在本實施例中，一個導電路徑CP只耦接於一個觸控單元110，以準確偵測觸控事件的發生位置。為了測試整合型觸控面板100是否因製程因素，而使得導電路徑CP異常地將同一行兩個以上的觸控單元110互相短路，開關群組120-1~120-n被設置為透過導電路徑CP耦接於多個觸控單元110。開關群組120-1~120-n可以於測試過程中，依據控制訊號CT-1~CT-n而選擇性地將測試訊號TS-1~TS-m輸出至多個觸控單元110。如此一來，可以藉由觀察耦接於觸控單元110的畫素電路的灰階亮度，來檢測兩個以上的觸控單元110是否彼此短路。詳細的測試方法將於後續段落進行說明。

於本實施例中，測試訊號TS-1~TS-m為具有固定電壓的直流訊號。另外，觸控單元110可以用各種合適材料製成的平板電極來實現。

本案說明書和圖式中使用的元件編號和訊號編號中的小寫英文索引1~n以及1~m，只是為了方便指稱個別的元件和訊號，並非有意將前述元件和訊號的數量侷限在特定數目。在本案說明書和圖式中，若使用某一元件編號或訊號編號時沒有指明該元件編號或訊號編號的索引，則代表該元件編號或訊號編號是指稱所屬元件群組或訊號群組中不特定的任一元件或訊號。例如，元件編號120-1指稱的對象是開關群組120-1，而元件編號120指稱的對象則是開關群組120-1~120-n中不特定的任意開關群組120。又例 如，訊號編號TS-1指稱的對象是測試訊號TS-1，而訊號編號TS指稱的對象則是測試訊號TS-1~TS-m中不特定的任意測試訊號TS。

第2圖為依據本揭示文件一實施例的測試方法200的流程圖。測試方法200適用於第1圖的整合型觸控面板100。於流程S202中，開關群組120-1~120-n的每一者接收測試訊號TS-1~TS-m，且測試訊號TS-1~TS-m彼此具有不同的電壓準位。

接著，於流程S204中，開關群組120-1~120-n對應接收控制訊號CT-1~CT-n，其中開關群組120-1~120-n的其中一者對應接收控制訊號CT-1~CT-n的其中一者。例如，開關群組120-1接收控制訊號CT-1，開關群組120-2接收控制訊號CT-2，以此類推。控制訊號CT-1~CT-n會依次由禁能準位切換至致能準位，使得開關群組120-1~120-n依據控制訊號CT-1~CT-n依次切換至致能狀態，以將測試訊號TS-1~TS-m輸出至多個測試單元110。

為便於說明，以下將控制訊號CT處於致能準位的期間稱為測試階段。例如，控制訊號CT-1處於致能準位，且控制訊號CT-2與控制訊號CT-3處於禁能準位的期間為第一測試階段。控制訊號CT-2處於致能準位，且控制訊號CT-1與控制訊號CT-3處於禁能準位的期間為第二測試階段。控制訊號CT-3處於致能準位，且控制訊號CT-1與控制訊號CT-2處於禁能準位的期間為第三測試階段，依此類推。

為便於理解，以下將以整合型觸控面板100僅包含3個開關群組(例如，開關群組120-1~120-3)，且觸控單元110排列成4X6矩陣的實施例來進一步說明流程S204。在此實施例中，開關群組120-1~120-3對應接收控制訊號CT-1~CT-3，且開關群組120-1~120-3的每一者用於輸出3個測試訊號TS(例如，測試訊號TS-1~TS-3)至多個觸控單元110。

如第3圖所示，控制訊號CT-1~CT-3對應地在第一測試階段、第二測試階段與第三測試階段依序切換至致能準位。另外，測試訊號TS-1~TS-3中電壓準位最高者為測試訊號TS-1，其次為測試訊號TS-2，最低者為測試訊號TS-3。

於第一測試階段中，當開關群組120-1接收到處於致能準位的控制訊號CT-1時，開關群組120-1會切換至致能狀態，並將測試訊號TS-1~TS-3輸出至觸控單元110。開關群組120-1輸出的測試訊號TS-1~TS-3於觸控單元110上的分布情形會如第4A圖所示。此時，開關群組120-2與開關群組120-3會處於禁能狀態，而不輸出測試訊號TS-1~TS-3。

相似地，開關群組120-2會於第二測試階段中切換至致能狀態。開關群組120-2輸出的測試訊號TS-1~TS-3於觸控單元110上的分布情形會如第4B圖所示。此時，開關群組120-1與開關群組120-3會處於禁能狀態，而不輸出測試訊號TS-1~TS-3。

接著，開關群組120-3會於第三測試階段中切換至致能狀態。開關群組120-3輸出的測試訊號TS-1~TS-3於觸控單元110上的分布情形如第4C圖所示。此時，開關群組120-1與開關群組120-2會處於禁能狀態，而不輸出測試訊號TS-1~TS-3。

如前所述，整合型觸控面板100包含與觸控單元110互相耦接的畫素電路。由於接收到不同測試訊號TS的任意兩個觸控單元110會具有不同的電壓準位，所以耦接於該任意兩個觸控單元110的畫素電路會因為接收到的運作電壓不同，而產生不同的灰階亮度。

換言之，若接收到不同測試訊號TS的該任意兩個觸控單元110透過導電路徑CP異常地彼此短路，則耦接於該任意兩個觸控單元110的畫素電路會因為接收到相近的運作電壓，而具有相近的灰階亮度。因此，於測試過程中，藉由觀察整合型觸控面板100的顯示畫面，可以檢測同一行的觸控單元110是否彼此短路。

於前述的流程S204中，可以將任意一個觸控單元110選擇為待測觸控單元，而與該待測觸控單元位於同一行的其他觸控單元110會各自在至少一個測試階段中，透過多個測試訊號TS-1~TS-m被設置為與該待測觸控單元具有不同電壓準位。如此一來，當待測觸控單元110與同一行的另一觸控單元110接收了不同的測試訊號TS，但兩者對應的畫素電路卻具有相近的灰階亮度時，即代表待測觸控單元110與同一行的該另一觸控單元110互相短路。

舉例來說，選擇第4A~4C圖的實施例中，座標為(1,6)的觸控單元110為待測觸控單元。於第一測試階段，如第4A圖所示，待測觸控單元與座標為(1,5)、(1,4)、(1,2)和(1,1)的觸控單元110具有不同電壓準位，但與座標為(1,3)的觸控單元110具有相同的電壓準位(兩者皆接收測試訊號TS-1)。因此，於第一觸控階段T1可以判斷待測觸控單元與座標為(1,5)、(1,4)、(1,2)和(1,1)的觸控單元110是否彼此短路，但無法判斷待測觸控單元與座標為(1,3)的觸控單元110是否彼此短路。

接著，於第二測試階段，待測觸控單元與座標為(1,3)的觸控單元110具有不同的電壓準位。因此，於第二測試階段中，可以判斷待測觸控單元與座標為(1,3)的觸控單元110是否彼此短路。

又例如，選擇座標為(2,4)的觸控單元110為待測觸控單元。於第一測試階段，如第4A圖所示，待測觸控單元與座標為(2,6)、(2,5)、(2,3)和(2,2)的觸控單元110具有不同電壓準位，與座標為(2,1)的觸控單元110具有相同的電壓準位(兩者皆接收測試訊號TS-2)。因此，於第一觸控階段T1可以判斷待測觸控單元與座標為(2,6)、(2,5)、(2,3)和(2,2)的觸控單元110是否彼此短路，但無法判斷待測觸控單元與座標為(2,1)的觸控單元110是否彼此短路。

接著，於第二測試階段，待測觸控單元與座標為(2,1)的觸控單元110仍具有相同的電壓準位。因此，於 第二測試階段中仍不能判斷待測觸控單元與座標為(2,1)的觸控單元110是否彼此短路。

接著，於第二測試階段T3，待測觸控單元與座標為(2,1)的觸控單元110具有不同的電壓準位。因此，於第三測試階段，可以判斷待測觸控單元與座標為(2,1)的觸控單元110是否彼此短路。

值得一提的是，測試訊號TS-1~TS-m亦可以是平均電壓相同但震幅彼此不同，且具有對稱波形的交流訊號。在整合型觸控面板100的畫素電路為液晶畫素電路的情況下，藉由使用交流訊號形式的測試訊號TS-1~TS-m，整合型觸控面板100便能用極性反轉的方式驅動畫素電路，以減輕直流殘留效應(DC residue)與直流阻絕效應。例如，在整合型觸控面板100僅包含3個開關群組120(亦即，開關群組120-1、120-2和120-3)的實施例中，整合型觸控面板100可搭配第5圖所示的控制訊號CT-1~CT-3與測試訊號TS-1~TS-3來執行測試方法200。在此實施例中，測試訊號TS-1~TS-3的平均電壓為0V，且測試訊號TS-1~TS-3的振幅由大至小依序為測試訊號TS-3、測試訊號TS-2與測試訊號TS-1。

在整合型觸控面板100包含n個開關群組120，每個開關群組120用於輸出m個測試訊號TS，每一行的觸控單元110具有x個觸控單元110，且x小於或等於m的n次方的情況下，整合型觸控面板100便可應用上述的測試方法200進行測試，其中m、n和x為正整數。

在一實施例中，整合型觸控面板100僅包含3個開關群組120-1~120-3，開關群組120-1~120-3各自用於輸出3個測試訊號(例如，測試訊號TS-1~TS-3)，且整合型觸控面板100平行於第一方向D1的每一行觸控單元110包含27個觸控單元110。於第一測試階段至第三測試階段中，測試訊號TS-1~TS-3於本實施例的其中一行觸控單元110上的分布情形如表一所示。

在另一實施例中，整合型觸控面板100包含3個開關群組120-1~120-3，開關群組120-1~120-3各自用 於輸出4個測試訊號(例如，測試訊號TS-1~TS-4)，且整合型觸控面板100平行於第一方向D1的每一行觸控單元110包含64個觸控單元110。於第一測試階段至第三測試階段中，測試訊號TS-1~TS-4於本實施例的其中一行觸控單元110上的分布情形如表二所示。

在又一實施例中，整合型觸控面板100包含4個開關群組120-1~120-4，開關群組120-1~120-4各自用於輸出3個測試訊號(例如，測試訊號TS-1~TS-3)，且整合型觸控面板100平行於第一方向D1的每一行觸控單元110包含81個觸控單元110。於第一測試階段至第四測試階段中，測試訊號TS-1~TS-3於本實施例的其中一行觸控單元110上的分布情形如表三所示。

由上述可知，由於表一、表二和表三的實施例皆符合前述x小於或等於m的n次方的條件，所以可以藉由安排測試訊號TS之分布方式，使得待測觸控單元與同一行的其他觸控單元110在至少一個測試階段中具有不同的電壓準位，進而可以檢測兩者是否互相短路。

第6圖為依據本揭示文件一實施例的測試方法600的流程圖。測試方法600相似於測試方法200，差異在於測試方法600在流程S204之後還包含流程S606。

請同時參考第1圖與第6圖，於流程S606中，整 合型觸控面板100在至少一測試階段中，透過測試訊號TS-1~TS-m將多個觸控單元110中沿著第二方向D2排列且彼此相鄰的任意兩個觸控單元110設置為具有不同電壓準位。如此一來，在流程S606中，便可以藉由觀察複合式觸控面板100的顯示畫面，來檢測在第二方向D2上相鄰的任意兩個觸控單元110是否互相短路。

為便於理解，以下將以整合型觸控面板100僅包含3個開關群組(例如，開關群組120-1~120-3)，且觸控單元110排列成4X9矩陣的實施例來進一步說明流程S606。在此實施例中，開關群組120-1~120-3對應接收控制訊號CT-1~CT-3，且開關群組120-1~120-3的每一者用於輸出3個測試訊號(例如，測試訊號TS-1~TS-3)至多個觸控單元110。

在本實施例中，整合型觸控面板100可依據第3圖或第5圖的訊號波形進行運作。於第一測試階段中，測試訊號TS-1~TS-3於多個觸控單元110上的分布情形如第7A圖所示。在第7A圖中，任意一個觸控單元110與其左右相鄰的兩個觸控單元110接收不同的測試訊號TS，因而具有不同的電壓準位。因此，可以檢測在第二方向D2上相鄰的任意兩個觸控單元110是否互相短路。

值得一提的是，測試訊號TS-1~TS-3在第7A圖的分布呈現自右上至左下的斜向排列，以確保左右相鄰的任意兩個觸控單元110具有不同的電壓準位。在此情況下，對任意一個觸控單元110而言，其左右相鄰的兩個觸控 單元110，分別會與其上下相鄰的兩個觸控單元110的其中之一具有相同的電壓準位。

例如，對座標為(2,5)的觸控單元110而言，其左側座標為(1,5)的觸控單元110與其下側座標為(2,4)的觸控單元110都接收到測試訊號TS-2，因而具有相同的電壓準位。相似地，對座標為(2,5)的觸控單元110而言，其右側座標為(3,5)的觸控單元110與其上側座標為(2,6)的觸控單元110都接收到測試訊號TS-3，因而具有相同的電壓準位。

另外，在第7A圖中，為了使測試訊號TS-1~TS-3以斜向排列的方式分布，每一行的觸控單元110都依據相同的循環規則接收測試訊號TS-1~TS-3。亦即，每一行的觸控單元110的電壓準位依據相同的循環規則設置。

例如，以座標為(2,5)的觸控單元110作為循環起點，座標為(2,5)、(2,4)、(2,3)、(2,2)、(2,1)、(2,9)、(2,8)、(2,7)和(2,6)的觸控單元110依據以下的循環規則接收測試訊號TS：測試訊號TS-1、測試訊號TS-2、測試訊號TS-3、測試訊號TS-1、測試訊號TS-2、測試訊號TS-3、測試訊號TS-1、測試訊號TS-2和測試訊號TS-3。

又例如，以座標為(1,6)的觸控單元110作為循環起點，座標為(1,6)、(1,5)、(1,4)、(1,3)、(1,2)、(1,1)、(1,9)、(1,8)和(1,7)的觸控單元110依據以下的循環規則接收測試訊號TS：測試訊號TS-1、測試訊號TS-2、測試訊號 TS-3、測試訊號TS-1、測試訊號TS-2、測試訊號TS-3、測試訊號TS-1、測試訊號TS-2和測試訊號TS-3。

再例如，以座標為(3,4)的觸控單元110作為循環起點，座標為(3,4)、(3,3)、(3,2)、(3,1)、(3,9)、(3,8)、(3,7)、(3,6)和(3,5)的觸控單元110依據以下的循環規則接收測試訊號TS：測試訊號TS-1、測試訊號TS-2、測試訊號TS-3、測試訊號TS-1、測試訊號TS-2、測試訊號TS-3、測試訊號TS-1、測試訊號TS-2和測試訊號TS-3。

由上述可知，座標為(1,6)、(2,5)和(3,4)這三個做為循環起點的觸控單元110具有相同的電壓準位，且座標為(1,6)和(3,4)的兩個觸控單元110位於座標為(2,5)的觸控單元110的對角線方向。

由於在第一測試階段已檢測過第二方向D2上的短路瑕疵，於第二測試階段和第三測試階段中，測試訊號TS-1~TS-3可以依據較簡單的方式分布。第7B和7C圖分別代表本實施例的第二測試階段和第三測試階段中，測試訊號TS-1~TS-3於多個觸控單元110的分布方式。於第二測試階段和第三測試階段中，只需確保與待測觸控單元位於同一行的其他觸控單元110會各自在至少一個測試階段中，透過測試訊號TS-1~TS-3被設置為與待測觸控單元具有不同電壓準位，以檢測同一行的觸控單元之間是否短路。

綜上，為了確保於第二方向D2上相鄰的兩個觸控單元110具有不同的電壓準位，以檢測第二方向D2上的短路瑕疵，於流程S606中，可以於至少一個測試階段中將 多行觸控單元110的多個循環起點設置於彼此的對角線方向上。如此一來，測試訊號TS-1~TS-m便會以斜向排列的方式分布於多個觸控單元110。

在某一實施例中，亦可以於流程S606中，將測試訊號TS-1~TS-3於每個測試階段中都以斜向排列的方式分布於多個觸控單元110。例如，在整合型觸控面板100僅包含3個開關群組(例如，開關群組120-1~120-3)，觸控單元110排列成4X9矩陣，且開關群組120-1~120-3的每一者用於輸出3個測試訊號(例如，測試訊號TS-1~TS-3)的情況下，測試訊號TS-1~TS-3於第一測試階段、第二測試階段和第三測試階段的分布情形，可分別如第8A、8B和8C圖所示。

如此一來，在第一測試階段、第二測試階段和第三測試階段除了可以以檢測同一行的觸控單元之間是否短路，還可檢測於第二方向D2上相鄰的兩個觸控單元110是否彼此短路。

實作上，開關群組120-1~120-n的每一者，都可以用多個開關來實現。每一個開關群組120中的多個開關，都用於接收同一個控制訊號CT，因而會同步開啟和關閉。開關群組120-1~120-n的每一者中的開關數量，會相同於觸控單元110的數量。

例如，第9圖繪示了適用於第4A~4C圖的實施例的開關群組120-1。開關群組120-1包含多個開關SW。每個開關SW的控制端都用於接收控制訊號CT-1，第一端用 於接收測試訊號TS-1~TS-3的其中一者，第二端則對應連接到一個觸控單元110。在第4A~4C圖的實施例中，整合型驅動面板100總共包含18個觸控單元110，所以開關群組120-1總共包含18個開關SW。

當控制訊號CT-1切換至致能準位時，所有開關SW會同步開啟，以將測試訊號TS-1~TS-3輸出致多個觸控單元110。如此一來，測試訊號TS-1~TS-3便會以第4A圖所示的方式分布於多個觸控單元110。另一方面，當控制訊號CT-1切換至禁能準位時，所有開關SW會同步關閉，以避免輸出測試訊號TS-1~TS-3。

適用於第4A~4C圖的實施例的開關群組120-2和120-3，可以用相似於開關群組120-1的方式實現，為簡潔起見，在此不重複贅述。

請再參考第1圖，開關群組120-1~120-n的其中一者(例如，開關群組120-1)位於整合型觸控面板100的下側，開關群組120-2~120-n則位於整合型驅動面板100的上側。亦即，開關群組120-1與開關群組120-2~120-n分別位於整合型觸控面板100的相對側。

然而，本揭示文件中開關群組120-1~120-n的設置方式並不以第1圖的實施例為限。第10圖為依據本揭示文件一實施例的整合型觸控面板100a簡化後的功能方塊圖。在本實施例中，開關群組120-1~120-n的其中二者(例如，開關群組120-1和開關群組120-2)位於整合型觸控面板100a的下側，開關群組120-3~120-n則位於整合型驅動面 板100a的上側。亦即，開關群組120-1~120-2與開關群組120-3~120-n分別位於整合型觸控面板100a的相對側。

第11圖為依據本揭示文件一實施例的整合型觸控面板100b簡化後的功能方塊圖。在本實施例中，開關群組120-1~120-n皆位於整合型觸控面板100b的下側。亦即，開關群組120-1~120-n皆位於整合型觸控面板100b的同一側。

第12圖為依據本揭示文件一實施例的整合型觸控面板100c簡化後的功能方塊圖。在本實施例中，開關群組120-1~120-n皆位於整合型觸控面板100c的上側。亦即，開關群組120-1~120-n皆位於整合型觸控面板100c的同一側。

綜上所述，以測試方法200和600搭配整合型觸控面板100、100a、100b以及100c進行品質測試，可準確判斷多個觸控單元140是否在水平與垂直的方向上互相短路。

前述各流程圖中的流程執行順序，只是示範性的實施例，而非侷限本發明的實際實施方式。例如，在前述的各流程圖中，流程S202可和流程S204同時進行。又例如，流程S202、流程S204和流程S606可同時進行。

在說明書及申請專利範圍中使用了某些詞彙來指稱特定的元件。然而，所屬技術領域中具有通常知識者應可理解，同樣的元件可能會用不同的名詞來稱呼。說明書及申請專利範圍並不以名稱的差異做為區分元件的方 式，而是以元件在功能上的差異來做為區分的基準。在說明書及申請專利範圍所提及的「包含」為開放式的用語，故應解釋成「包含但不限定於」。另外，「耦接」在此包含任何直接及間接的連接手段。因此，若文中描述第一元件耦接於第二元件，則代表第一元件可通過電性連接或無線傳輸、光學傳輸等訊號連接方式而直接地連接於第二元件，或者通過其他元件或連接手段間接地電性或訊號連接至該第二元件。

圖示的某些元件的尺寸及相對大小會被加以放大，或者某些元件的形狀會被簡化，以便能更清楚地表達實施例的內容。因此，除非申請人有特別指明，圖示中各元件的形狀、尺寸、相對大小及相對位置等僅是便於說明，而不應被用來限縮本揭示文件的專利範圍。此外，本揭示文件可用許多不同的形式來體現，在解釋本揭示文件時，不應侷限於本說明書所提出的實施例態樣。另外，除非說明書中特別指明，否則任何單數格的用語都同時包含複數格的涵義。

以上僅為本揭示文件的較佳實施例，凡依本揭示文件請求項所做的均等變化與修飾，皆應屬本揭示文件的涵蓋範圍。

100‧‧‧整合型觸控面板

110‧‧‧觸控單元

120-1~120-n‧‧‧開關群組

130‧‧‧接合區域

CT-1~CT-n‧‧‧控制訊號

TS-1~TS-m‧‧‧測試訊號

CP‧‧‧導電路徑

D1‧‧‧第一方向

D2‧‧‧第二方向

Claims (19)

1. 一種測試方法，適用於一觸控面板，其中該觸控面板包含多個觸控單元與多個開關群組，且該多個觸控單元排列成多行，該測試方法包含：利用該多個開關群組接收多個測試訊號，其中該多個測試訊號彼此不同；以及在多個測試階段中，依次利用該多個該開關群組輸出該多個測試訊號至該多個觸控單元；其中該多行的一第一行包含一待測觸控單元與其他觸控單元，且該其他觸控單元各自在至少一測試階段中，透過該多個測試訊號被設置為與該待測觸控單元具有不同電壓準位。
2. 如請求項1的測試方法，其中該多個開關群組包含N個開關群組，該多個測試訊號包含M個測試訊號，每一行的觸控單元包含X個觸控單元，M、N與X為大於1的正整數，且X小於或等於M的N次方。
3. 如請求項1的測試方法，其中該多行沿著一第一方向延伸，該測試方法另包含：在至少一測試階段中，透過該多個測試訊號將該多個觸控單元中沿著一第二方向排列且彼此相鄰的任意兩個觸控單元設置為具有不同電壓準位，其中該第一方向垂直於該第二方向。
4. 如請求項3的測試方法，其中該任意兩個觸控單元包含一第一觸控單元和一第二觸控單元，該多個觸控單元還包含一第三觸控單元和一第四觸控單元，該第二觸控單元、該第三觸控單元與該第四觸控單元沿著該第一方向排列，該第二觸控單元相鄰於該第三觸控單元與該第四觸控單元，其中，於至少一測試階段中，該第一觸控單元的電壓準位與該第三觸控單元或該第四觸控單元的電壓準位相同。
5. 如請求項3的測試方法，其中每一行的觸控單元的電壓準位依據一循環規則設置，其中該多行的一第二行相鄰於該第一行，該第一行的循環起點為一第一觸控單元，該第二行的循環起點為一第二觸控單元，該第一觸控單元位於該第二觸控單元的對角線方向，且該第一觸控單元與該第二觸控單元具有相同的電壓準位。
6. 如請求項1的測試方法，其中在多個測試階段中，依次利用該多個該開關群組輸出該多個測試訊號至該多個觸控單元的流程包含：利用該多個開關群組接收多個控制訊號，其中該多個開關群組的其中一者對應接收該多個控制訊號的其中一者，且該多個控制訊號彼此不同，其中該多個開關群組依據該多個控制訊號依次切換 至一致能狀態，以輸出該多個測試訊號。
7. 如請求項6的測試方法，其中該多個控制訊號依次由一禁能準位切換至一致能準位。
8. 如請求項1的測試方法，其中該多個測試訊號皆為直流訊號，或者該多個測試訊號皆為具有對稱波形的交流訊號。
9. 一種整合型觸控面板，包含：多個開關群組，用於接收多個測試訊號，其中該多個測試訊號彼此不同；以及多個觸控單元，排列成多行，其中於多個測試階段中，該多個開關群組依次將該多個測試訊號輸出至該多個觸控單元；其中該多行的一第一行包含一待測觸控單元與其他觸控單元，且該其他觸控單元各自在至少一測試階段中，透過該多個測試訊號被設置為與該待測觸控單元具有不同電壓準位。
10. 如請求項9的整合型觸控面板，其中該多個開關群組包含N個開關群組，該多個測試訊號包含m個測試訊號，每一行的觸控單元包含x個觸控單元，m、n與x為大於1的正整數，且x小於或等於m的n次方。
11. 如請求項9的整合型觸控面板，另包含：一接合區域，位於該整合型觸控面板的一第一側，且用於設置一驅動晶片；其中該多個開關群組的其中一者位於該第一側，該多個開關群組的其餘開關群組位於該整合型觸控面板的一第二側，且該第一側和該第二側互為相對側。
12. 如請求項10的整合型觸控面板，另包含：一接合區域，位於該整合型觸控面板的一第一側，且用於設置一驅動晶片；其中該多個開關群組的其中二者位於該第一側，該多個開關群組的其餘開關群組位於該整合型觸控面板的一第二側，且該第一側和該第二側互為相對側。
13. 如請求項10的整合型觸控面板，另包含：一接合區域，位於該整合型觸控面板的一第一側，且用於設置一驅動晶片；其中該多個開關群組皆位於該第一側，或者該多個開關群組皆位於該整合型觸控面板的一第二側，且該第一側和該第二側互為相對側。
14. 如請求項9的整合型觸控面板，其中，該多行沿著一第一方向延伸，於至少一測試階段中，該多個觸控單元中沿著一第二方向排列且彼此相鄰的任意兩個觸控單元具有不同電壓準位，且該第一方向垂直於該第 二方向。
15. 如請求項14的整合型觸控面板，其中，該任意兩個觸控單元包含一第一觸控單元和一第二觸控單元，該多個觸控單元還包含一第三觸控單元和一第四觸控單元，該第二觸控單元、該第三觸控單元與該第四觸控單元沿著該第一方向排列，且該第二觸控單元相鄰於該第三觸控單元與該第四觸控單元，其中，於至少一測試階段中，該第一觸控單元的電壓準位與該第三觸控單元或該第四觸控單元的電壓準位相同。
16. 如請求項14的整合型觸控面板，其中每一行的觸控單元的電壓準位依據一循環規則設置，其中該多行的一第二行相鄰於該第一行，該第一行的循環起點為一第一觸控單元，該第二行的循環起點為一第二觸控單元，該第一觸控單元位於該第二觸控單元的對角線方向。
17. 如請求項9的整合型觸控面板，其中該多個開關群組用於接收多個控制訊號，其中該多個開關群組的其中一者對應接收該多個控制訊號的其中一者，且該多個控制訊號彼此不同，其中該多個開關群組依據該多個控制訊號依次切換至一致能狀態，以輸出該多個測試訊號。
18. 如請求項9的整合型觸控面板，其中該多個控制訊號依次由一禁能準位切換至一致能準位。
19. 如請求項9的整合型觸控面板，其中該多個測試訊號皆為直流訊號，或者該多個測試訊號皆為具有對稱波形的交流訊號。

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