TWI682964B - 抗靜電聚合物組合物 - Google Patents

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Abstract

本發明提供一種在模塑操作期間具有低靜電荷產生傾向之聚合物組合物。更特定言之，該組合物含有分佈於聚合物基材內之離子液體，該聚合物基材含有芳族聚合物。除存在導電性外，該離子液體可在熔融處理期間以液體形式存在，此允許使其更均勻地摻合於芳族聚合物基材內。此改良電連接性及從而增強該組合物自其表面迅速驅散靜電荷之能力。

Description

抗靜電聚合物組合物 相關申請案
本申請案主張2014年4月9日申請之美國臨時申請案第61/977,215號之優先權，該案之全部內容以引用的方式併入本文中。
相機模組(或組件)通常用於行動電話、膝上型電腦、數位相機、數位視訊攝影機等。實例包含例如小型相機模組，其包含安裝至基座之鏡筒、數位相機快門模組、數位相機、打獵相機、醫學相機、監視相機等之組件。已做出各種嘗試使用芳族聚合物來形成用於相機模組之模製部件。可惜，在嘗試自芳族聚合物形成此類模製部件時通常經歷各種問題。例如，模製部件之間及模製部件與承托架之間之摩擦可引起靜電荷，該靜電荷若未正確處理可導致粉塵微粒之形成(例如，在運輸期間)。在諸如小型相機模組之某些產品中，此等粉塵微粒係不利的並可導致顯著之產品缺陷。因此，需要一種在模塑操作期間具有低靜電荷產生傾向之聚合物組合物。
根據本發明之一項實施例，揭示一種聚合物組合物，其包括分佈於聚合物基材內之離子液體。該離子液體具有約400℃或更小之熔融溫度且係含有陽離子物質及相對離子之鹽。該聚合物基材包含具有約100℃或更大之玻璃轉換溫度之芳族聚合物。
根據本發明之另一實施例，揭示一種包括聚合物組合物之模製部件。該聚合物組合物包括分佈於聚合物基材內之離子液體，且該聚合物基材包含具有約100℃或更大之玻璃轉換溫度之芳族聚合物。
下文將更為詳細地闡述本發明之其他特徵及態樣。
C1‧‧‧接線材料側部分
C2‧‧‧板側連接器/板側部分
P‧‧‧電路板
3‧‧‧離散線
5‧‧‧末端
10‧‧‧第一殼
10a‧‧‧裝配槽
20‧‧‧第二殼
22‧‧‧末端接收腔穴
28‧‧‧鎖定部分
40‧‧‧料斗
42‧‧‧料斗
80‧‧‧單螺桿擠壓機/擠壓機
114‧‧‧套筒
120‧‧‧螺桿
124‧‧‧驅動裝置
132‧‧‧進料區
134‧‧‧熔融區
136‧‧‧混合區
144‧‧‧輸出端
200‧‧‧電連接器
224‧‧‧相對壁
225‧‧‧***通道/間隔
400‧‧‧元件
410‧‧‧手持裝置
412‧‧‧殼
414‧‧‧顯示器
426‧‧‧天線結構
438‧‧‧按鈕
440‧‧‧揚聲器端口
442‧‧‧裝置410之後表面
502‧‧‧熱絕緣罩/罩
504‧‧‧透鏡總成
506‧‧‧基座
508‧‧‧主板
510‧‧‧聚合物薄膜
601‧‧‧電路
602‧‧‧影像感測器
604‧‧‧透鏡
本發明之完整及可實施性揭示內容(包含熟習此項技術者已知的其最佳模式)係更特定言之描述於本說明書剩餘部分(包含參考隨附圖式)中，其中：圖1係可根據本發明形成之細間距電連接器之一項實施例之經分解的透視圖；圖2係圖1之細間距電連接器之相對壁的正視圖；圖3係可用以形成本發明之聚合物組合物之擠壓機螺桿之一項實施例的示意性說明圖；圖4-5分別係可使用根據本發明之一項實施例形成之天線結構之電子組件的正視圖及後視圖；及圖6-7係可根據本發明之一項實施例形成之小型相機模組(「CCM」)的正視圖及後視圖。
一般技術者當瞭解本討論僅係示例性實施例之描述，且無意限制本發明之更廣泛態樣。
一般而言，本發明係關於在模塑操作、運輸、裝配、處理等期間具有低靜電荷產生趨勢之聚合物組合物。更特定言之，該組合物含有分佈於包含芳族聚合物之聚合物基材內的離子液體。除存在導電性外，該離子液體可在熔融期間以液體形式存在，此允許使其更均勻地摻合於聚合物基材內。此改良電連接性及從而增強該組合物自其表面迅速驅散靜電荷之能力。此抗靜電行為可藉由如根據IEC 60093測定 之相對低之表面及/或體積電阻率來表徵。亦即，自該聚合物組合物形成之模製部件可展示約1 x 1015ohm或更小，在一些實施例中約1 x 1014ohm或更小，在一些實施例中自約1 x 109ohm至約9 x 1013ohm，及在一些實施例中自約1 x 1010至約1 x 1013ohm之表面電阻率。同樣，該模製部件亦可展示約1 x 1015ohm-m或更小，在一些實施例中自約1 x 109ohm-m至約9 x 1014ohm-m，及在一些實施例中自約1 x 1010至約5 x 1014ohm-m之體積電阻率。
本發明者亦已發現該離子液體易分散於該聚合物基材中之能力可允許使用相對低濃度以達成所需之抗靜電性質。然而，由於其以相對較低濃度使用，因此未對該組合物之熱性質及機械性質造成不利影響。對此，離子液體通常構成該聚合物組合物之約0.1重量%至約10重量%，在一些實施例中自約0.3重量%至約5重量%，在一些實施例中自約0.4重量%至約3重量%，及在一些實施例中自約0.5重量%至約1.5重量%。雖然該等芳族聚合物之濃度通常可基於其他可選組分之存在而改變，但其等通常以自約25重量%至約95重量%，在一些實施例中自約30重量%至約80重量%，及在一些實施例中自約40重量%至約70重量%之量存在。
現將更詳細地描述本發明之各種實施例。
I.芳族聚合物
用於該聚合物組合物中之芳族聚合物通常係「高性能」聚合物，因為該聚合物具有相對高之玻璃轉換溫度，其可對該所得組合物提供實質性耐熱程度。例如，該芳族聚合物可具有約100℃或更大，在一些實施例中約120℃或更大，在一些實施例中自約140℃至約350℃，及在一些實施例中自約150℃至約320℃之玻璃轉換溫度。如此項技術中熟知，可使用差示掃描量熱法(「DSC」)，諸如藉由ISO測試編號11357測定玻璃轉換溫度。
芳族聚合物之性質通常係實質上非晶質或半結晶。合適之半結晶芳族聚合物之一項實例係例如芳族聚醯胺。特別合適之芳族聚醯胺係彼等具有如根據ISO測試編號11357使用差示掃描量熱法測定之相對高熔融溫度(諸如約200℃或更大，在一些實施例中約220℃或更大，及在一些實施例中自約240℃至約320℃)者。同樣，芳族聚醯胺之玻璃轉換溫度通常係自約110℃至約160℃。
芳族聚醯胺通常含有藉由醯胺鍵(NH-CO)結合在一起之重複單元並通過二羧酸(例如，芳族二羧酸)、二胺(例如，脂族二胺)等之聚縮合作用來合成。例如，芳族聚醯胺可含有衍生自諸如以下芳族二羧酸的芳族重複單元：對苯二甲酸、間苯二甲酸、2,6-萘二羧酸、2,7-萘二羧酸、1,4-萘二羧酸、1,4-伸苯基二氧基二乙酸、1,3-伸苯基二氧基二乙酸、聯苯二甲酸(diphenic acid)、4,4'-氧基二苯甲酸、二苯甲烷-4,4'-二羧酸、二苯碸-4,4'-二羧酸、4,4'-聯苯二羧酸等及其組合。對苯二甲酸係特別合適。當然，亦應瞭解亦可使用其他類型之酸單元，諸如脂族二羧酸單元、多官能羧酸單元等。芳族聚醯胺亦可含有衍生自通常具有4至14個碳原子之脂族二胺的脂族重複單元。此類二胺之實例包含諸如1,4-四亞甲二胺、1,6-己二胺、1,7-庚二胺、1,8-辛二胺、1,9-壬二胺、1,10-癸二胺、1,11-十一烷二胺、1,12-十二烷二胺等之線性脂族亞烷基二胺；諸如2-甲基-1,5-戊二胺、3-甲基-1,5-戊二胺、2,2,4-三甲基-1,6-己二胺、2,4,4-三甲基-1,6-己二胺、2,4-二甲基-1,6-己二胺、2-甲基-1,8-辛二胺、5-甲基-1,9-壬二胺等之分支脂族亞烷基二胺；及其組合。衍生自1,9-壬二胺及/或2-甲基-1,8-辛二胺之重複單元係特別合適。當然，亦可使用其他二胺單元，諸如脂環族二胺、芳族二胺等。
特別合適之聚醯胺可包含聚(伸壬基對苯二甲醯胺)(PA9T)、聚(伸壬基對苯二甲醯胺/伸壬基癸烷二醯胺)(PA9T/910)、聚(伸壬基對 苯二甲醯胺/伸壬基十二烷二醯胺)(PA9T/912)、聚(伸壬基對苯二甲醯胺/11-胺基十一烷醯胺)(PA9T/11)、聚(伸壬基對苯二甲醯胺/12-胺基十二烷醯胺)(PA9T/12)、聚(十亞甲基對苯二甲醯胺/11-胺基十一烷醯胺)(PA10T/11)、聚(十亞甲基對苯二甲醯胺/12-胺基十二烷醯胺)(PA10T/12)、聚(十亞甲基對苯二甲醯胺/十亞甲基癸烷二醯胺)(PA10T/1010)、聚(十亞甲基對苯二甲醯胺/十亞甲基十二烷二醯胺)(PA10T/1012)、聚(十亞甲基對苯二甲醯胺/四亞甲基己烷二醯胺)(PA10T/46)、聚(十亞甲基對苯二甲醯胺/己內醯胺)(PA10T/6)、聚(十亞甲基對苯二甲醯胺/六亞甲基己烷二醯胺)(PA10T/66)、聚(十二亞甲基對苯二甲醯胺/十二亞甲基十二烷二醯胺)(PA12T/1212)、聚(十二亞甲基對苯二甲醯胺/己內醯胺)(PA12T/6)、聚(十二亞甲基對苯二甲醯胺/六亞甲基己烷二醯胺)(PA12T/66)及等等。合適之芳族聚醯胺的又其他實例描述於Harder等人之美國專利案第8,324,307號中。
可用於本發明中之另一合適之半結晶芳族聚合物係聚芳基醚酮。聚芳基醚酮係具有相對高之熔融溫度(諸如自約300℃至約400℃，在一些實施例中自約310℃至約390℃，及在一些實施例中自約330℃至約380℃)之半結晶聚合物。玻璃轉換溫度同樣可係自約110℃至約200℃。特別合適之聚芳基醚酮係彼等主要包含與酮及/或醚部分結合之苯基部分者。此類聚合物之實例包含聚醚醚酮(「PEEK」)、聚醚酮(「PEK」)、聚醚酮酮(「PEKK」)、聚醚酮醚酮酮(「PEKEKK」)、聚醚醚酮酮(「PEEKK」)、聚醚-二苯醚-醚-二苯醚-苯基-酮-苯基等，及其摻合物及共聚合物。
當然，如上所述，亦可在聚合物組合物中使用無明顯熔點溫度之實質上非晶質聚合物。合適之非晶質聚合物可包含例如聚苯醚(「PPO」)、芳族聚碳酸酯、芳族聚醚醯亞胺等。芳族聚碳酸酯例如通常具有自約130℃至約160℃之玻璃轉換溫度且含有衍生自一個或多
個芳族二酚之芳族重複單元。特別合適之芳族二酚係雙酚，諸如其中兩個酚基附接於二價連接基之單一碳原子上之偕雙酚(gem-bisphenol)。此類雙酚之實例可包含例如諸如4,4'-亞異丙基二苯酚(「雙酚A」)、4,4'-亞乙基二苯酚、4,4'-(4-氯-α-甲基亞苄基)二苯酚、4,4'-亞環己基二苯酚、4,4-(環己基亞甲基)二苯酚等及其組合。芳族二酚可與光氣反應。例如，該光氣可係具有式C(O)Cl2之氯化羰基。合成芳族聚碳酸酯之替代路徑可涉及芳族二酚(例如，雙酚)與碳酸二苯酯之轉酯反應。
II.離子液體
本發明之離子液體可係具有足夠低之熔融溫度之鹽，因此在與該芳族聚合物熔融處理時，其可呈液體形式。例如，該離子液體之熔融溫度可係約400℃或更小，在一些實施例中約350℃或更小，在一些實施例中自約1℃至約100℃，及在一些實施例中自約5℃至約50℃。該鹽含有陽離子物質及相對離子。該等陽離子物質含有具有至少一個雜原子(例如，氮或磷)作為「陽離子中心」之化合物。此類雜原子化合物之實例包含例如具有下列結構之季鎓：
Figure 104111318-A0202-12-0007-1
其中R1、R2、R3、R4、R5、R6、R7及R8係獨立地選自由以下各物組成之群：氫；經取代或未經取代之C1-C10烷基(例如，甲基、乙基、正丙基、異丙基、正丁基、異丁基、第二丁基、第三丁基、正戊基等)；經取代或未經取代之C3-C14環烷基(例如，金剛烷基、環丙基、環丁基、環戊基、環辛基、環己烯基等)；經取代或未經取代之C1-C10烯基(例如，乙烯、丙烯、2-甲基丙烯、戊二烯等)；經取代或未經取代之C2-C10炔基(例如，乙炔基、丙炔基等)；經取代或未經取代之C1-C10烷氧基(例如，甲氧基、乙氧基、正丙氧基、異丙氧基、正丁氧基、第三丁氧基、第二丁氧基、正戊氧基、等)；經取代或未經取代之醯氧基(例如，甲基丙烯醯氧基、甲基丙烯醯氧乙基等)；經取代或未經取代之芳基(例如，苯基)；經取代或未經取代之雜芳基(例如，吡啶基、呋喃基、噻吩基、噻唑基、異噻唑基、***基、咪唑基、異噁唑基、吡咯基、吡唑基、噠嗪基、嘧啶基、喹啉基等)等等。在一項 特定實施例中，例如，陽離子物質可係具有結構N+R1R2R3R4之銨化合物，其中R1、R2及/或R3獨立地係C1-C6烷基(例如，甲基、乙基、丁基等)及R4係氫或C1-C4烷基(例如，甲基或乙基)。例如，該陽離子組分可係三丁基甲基銨，其中R1、R2及R3係丁基且R4係甲基。
適用於該等陽離子物質之相對離子可包含例如鹵素(例如，氯離子、溴離子、碘離子等)；硫酸根或磺酸根(例如，甲基硫酸根、乙基硫酸根、丁基硫酸根、己基硫酸根、辛基硫酸根、硫酸氫根、甲磺酸根、十二烷基苯磺酸根、十二烷基硫酸根、三氟甲磺酸根、十七氟辛磺酸根、十二烷基乙氧基硫酸鈉等)；磺基琥珀酸根；醯胺(例如，二氰胺)；醯亞胺(例如，雙(五氟乙基磺醯基)醯亞胺、雙(三氟甲基磺醯基)醯亞胺、雙(三氟甲基)醯亞胺等)；硼酸根(例如，四氟硼酸根、四氰基硼酸根、雙[草酸]硼酸根、雙[水楊酸基]硼酸根等)；磷酸鹽或次膦酸根(例如，六氟磷酸根、二乙基磷酸根、雙(五氟乙基)次膦酸根、參(五氟乙基)-三氟磷酸根、參(九氟丁基)三氟磷酸根等)；銻酸根(例如，六氟銻酸根)；鋁酸根(例如，四氯鋁酸根)；脂肪酸羧酸根(例如，油酸根、異硬脂酸根、十五氟辛酸根等)；氰酸根；乙酸根等等，及前述中任何一者之組合。為幫助改良與該芳族聚合物之相容性，可能需要選擇通常係疏水性的相對離子，諸如醯亞胺、脂肪酸羧酸根等。特別合適之疏水性相對離子可包含例如雙(五氟乙基磺醯基)醯亞胺、雙(三氟甲基磺醯基)醯亞胺及雙(三氟甲基)醯亞胺。
III.可選組分 A.導電填料
除離子液體外，亦可在該聚合物組合物中使用其他導電填料以幫助改良其抗靜電特性。合適之導電填料之實例可包含例如金屬微粒(例如，鋁薄片)、金屬纖維、碳微粒(例如，石墨、膨脹石墨、石墨烯、碳黑、石墨化碳黑等)、碳奈米管、碳纖維等等。碳纖維及石墨 係特別合適。在某些實施例中，可藉由組合使用離子液體與導電填料獲得增效作用。不希望受理論限制，本發明者相信該離子液體在熔融處理期間可輕易地流動以幫助在某些導電填料(例如，碳纖維、石墨等)與聚合物基材之間提供更佳之連接及電通路，從而進一步減小表面電阻率。當使用時，該等導電填料通常構成該聚合物組合物之約0.5重量%至約30重量%，在一些實施例中自約1重量%至約25重量%，及在一些實施例中自約2重量%至約20重量%。
B.纖維填料
亦可在該聚合物組合物中使用通常不導電之纖維填料以幫助改良強度。此類纖維填料之實例可包含彼等自以下各物形成者：玻璃、陶瓷(例如，氧化鋁、氧化矽、二氧化鈦等)、礦物(例如，矽灰石、硬矽鈣石、碳鈉鋁石等)、聚合物(諸如芳族聚醯胺(例如，由E.I.du Pont de Nemours、Wilmington、Delaware出售之Kevlar®)、聚烯、聚酯等)及其混合物。
特別合適之玻璃纖維可包含例如E級玻璃、A級玻璃、C級玻璃、D級玻璃、AR級玻璃、R級玻璃、S1級玻璃、S2級玻璃等及其混合物。此類玻璃纖維之體積平均長度可係相對小，諸如自約10至約500微米，在一些實施例中自約100至約400微米，在一些實施例中自約150至約350微米，及在一些實施例中，自約200至約325微米。該等玻璃纖維亦可具有窄長度分佈。即，至少約70體積%之該等纖維，在一些實施例中至少約80體積%之該等纖維，及在一些實施例中至少約90體積%之該等纖維具有在上文提及之範圍內之長度。如此小之長度及/或窄分佈可進一步幫助獲得強度、流動性及表面品質之理想組合，此能夠使其可特別適用於具有小尺寸公差之模製部件，除具有上述長度特徵外，該等玻璃纖維亦可具有相對高的縱橫比(平均長度除以標稱直徑)以幫助改良所得聚合物組合物之機械性質及表面品質。例如， 該等纖維可具有自約1至約100，在一些實施例中自約10至約60之縱橫比，及在一些實施例中自約30至約50係特別有益。該等纖維可例如具有自約1至約35微米，在一些實施例中自約2至約20微米，及在一些實施例中自約3至約10微米的標稱直徑。
礦物纖維(亦稱為「晶鬚」)亦適用於本發明。以無水硫酸鈣及矽灰石纖維(諸如彼等購自Nyco Minerals之商品名為NYGLOS®(例如，NYGLOS® 4W或NYGLOS® 8)者)特別合適。此類礦物纖維之體積平均長度可係相對小，諸如自約1至約200微米，在一些實施例中自約2至約150微米，在一些實施例中自約5至約100微米，及在一些實施例中自約10至約50微米。除具有上述長度特徵外，該等礦物纖維亦可具有相對高之縱橫比(平均長度除以標稱直徑)以幫助進一步改良所得聚合物組合物之機械性質及表面品質。例如，該等礦物纖維可具有自約1至約50，在一些實施例中自約2至約20，及在一些實施例中自約4至約15的縱橫比。該等晶鬚可例如具有自約1至約35微米，在一些實施例中自約2至約20微米，及在一些實施例中自約3至約15微米之標稱直徑。
不考慮所使用的特定類型，可選擇性控制該等纖維填料在該聚合物組合物中之相對量以幫助獲得所需之機械性質而不對該組合物之其他性質(諸如其流動性)造成不利影響。例如，纖維填料(例如，玻璃纖維、礦物纖維等及其組合)通常構成該聚合物組合物之約2重量%至約40重量%，在一些實施例中自約5重量%至約35重量%，及在一些實施例中自約6重量%至約30重量%。雖然可在上述範圍內使用該等纖維，但本發明之一特別有益之態樣係可使用較小纖維含量而仍獲得所需之機械性質。不希望受理論限制，據信該等纖維之窄長度分佈可有助於獲得極佳之機械性質，因此容許使用較小量之纖維。
C.微粒填料
亦可在該聚合物組合物中使用通常不導電之微粒填料以幫助獲得所需之性質及/或顏色。當使用時，此類微粒填料通常構成該聚合物組合物之約5重量%至約40重量%，在一些實施例中自約10重量%至約35重量%，及在一些實施例中自約10重量%至約30重量%。黏土礦物可特別適用於本發明中。此類黏土礦物之實例包含例如滑石(Mg3Si4O10(OH)2)、高嶺土(Al2Si2O5(OH)4)、高嶺石(Al2Si2O5(OH)4)、伊萊石((K,H3O)(Al,Mg,Fe)2(Si,Al)4O10[(OH)2,(H2O)])、蒙脫石(Na,Ca)0.33(Al,Mg)2Si4O10(OH)2．nH2O)、蛭石((MgFe,Al)3(Al,Si)4O10(OH)2．4H2O)、坡縷石((Mg,Al)2Si4O10(OH)．4(H2O))、葉蠟石(Al2Si4O10(OH)2)等及其組合。就代替黏土礦物而言或除黏土礦物以外，亦可使用其他微粒填料。例如，亦可使用其他合適之矽酸鹽填料，諸如矽酸鈣、矽酸鋁、雲母、矽藻土、矽灰石等等。雲母(例如)可係特別適用於本發明中之礦物。具有若干在地質產狀上具有相當大差異的化學相異性雲母種類，但其全部具有實質上相同之晶體結構。如本文使用，術語「雲母」意欲總稱地包含此等種類中之任何一者，諸如白雲母(KAl2(AlSi3)O10(OH)2)、黑雲母(K(Mg,Fe)3(AlSi3)O10(OH)2)、金雲母(KMg3(AlSi3)O10(OH)2)、鋰雲母(K(Li,Al)2-3(AlSi3)O10(OH)2)、海綠石(K,Na)(Al,Mg,Fe)2(Si,Al)4O10(OH)2)等及其組合。
D.其他添加劑
還可包含於該組合物中之其他添加劑可包含例如添加抗微生物劑、顏料、抗氧化劑、穩定劑、表面活性劑、蠟、固體溶劑、阻燃劑、防滴添加劑及其他經添加以增強性質及可加工性之材料。亦可在該聚合物組合物中使用可耐受該芳族聚合物之處理條件而無實質性分解之潤滑劑。此類潤滑劑之實例包含在工程塑膠材料處理中常用作潤滑劑之脂肪酸酯、其鹽、酯、脂肪酸醯胺、有機磷酸酯及烴蠟(包含 其混合物)。合適之脂肪酸通常具有自約12至約60個碳原子之主碳鏈，諸如肉豆蔻酸、棕櫚酸、硬酯酸、花生酸、二十八酸、十八炔酸、十八碳四烯酸等等。合適之酯包含脂肪酸酯、脂肪醇酯、蠟酯、甘油酯、二醇酯及複合酯。脂肪酸醯胺包含脂肪一級醯胺、脂肪二級醯胺、亞甲基及伸乙基雙醯胺及烷醇醯胺，諸如，例如，棕櫚酸醯胺、硬脂酸醯胺、油酸醯胺、N,N'-伸乙基雙硬脂醯胺等等。脂肪酸之金屬鹽亦合適，諸如硬脂酸鈣、硬脂酸鋅、硬脂酸鎂等等；烴蠟，包含石蠟、聚烯及氧化聚烯烴蠟及微晶蠟。特別合適之潤滑劑係硬酯酸之酸、鹽或醯胺，諸如異戊四醇四硬脂酸酯、硬脂酸鈣或N,N'-伸乙基雙硬脂醯胺。當使用時，該(等)潤滑劑通常構成該聚合物組合物之約0.05重量%至約1.5重量%，及在一些實施例中自約0.1重量%至約0.5重量%(以重量計)。
IV.成形
可在自約250℃至約450℃內，在一些實施例中自約280℃至約400℃，及在一些實施例中自約300℃至約380℃之溫度範圍內熔融處理該芳族聚合物、離子液體及其他可選添加劑或摻合在一起以形成該聚合物組合物。通常可將各種熔融處理技術中之任何一者用於本發明中。例如，可將該等組分(例如，芳族聚合物、離子性液體等)單獨或組合地提供至擠壓機中，該擠壓機包含至少一個旋轉安裝並容納在套筒(例如，圓柱形套筒)內之螺桿並可界定進料區及沿該螺桿長度位於該進料區下游之熔融區。
該擠壓機可係單螺桿或雙螺桿擠壓機。參照圖3，例如，顯示單螺桿擠壓機80之一實施例，該單螺桿擠壓機80含有殼或套筒114及一端由合適之驅動裝置124(通常含有電動機及變速箱)旋轉驅動之螺桿120。若需要，可使用含有兩個不同的螺桿的雙螺桿擠壓機。該螺桿之結構設計對本發明而言並不特別關鍵，且如此項技術中已知，其可 含有任何數目及/或方向之螺紋及通道。如圖3所示，例如，螺桿120含有形成圍繞螺桿120之核心呈放射狀延伸之大體上螺旋狀通道的螺紋。料斗40係經定位成與該驅動裝置124相鄰，以經由套筒114中之開口向進料區132提供聚合物及/或其他材料(例如，無機微粒)。驅動裝置124之對面係擠壓機80之輸出端144，於該處輸出經擠壓之塑膠以進一步處理。
沿螺桿120之長度界定進料區132及熔融區134。進料區132係套筒114之輸入部分，在此添加芳族聚合物及/或離子液體。熔融區134係其中芳族聚合物自固體變為液體的相變區。雖然在製造擠壓機時未精確界定此等區域之輪廓，但一般技術者可充分可靠地識別進料區132及其中發生自固體至液體之相變之熔融區134。儘管不一定需要，但擠壓機80亦可具有定位成相鄰於套筒114之輸出端並位於熔融區134下游之混合區136。若需要，則可在該擠壓機之混合及/或熔融區內使用一個或多個分佈式及/或分散式混合元件。適用於單螺桿擠壓機之分佈混合器可包含，例如，Saxon、Dulmage、空腔轉移混合器等。 同樣，合適之分散式混合器可包含Blister環、Leroy/Maddock、CRD混合器等。如此項技術中所熟知，可藉由在該套筒中使用產生該聚合物熔融物之折叠及再定位之銷釘(諸如彼等用於Buss揉合機擠壓機、空腔轉移混合器及Vortex Intermeshing Pin混合器者)進一步改良該混合。
當使用時，亦可將纖維(例如，諸如碳纖維之導電填料及/或諸如玻璃纖維之纖維填料)添加至料斗40或其下游位置處。在一項特定實施例中，可在提供芳族聚合物之處之下游位置(但在熔融區前)添加纖維。在圖3中，例如，顯示料斗42位於擠壓機80之進料區132的區域內。提供至料斗42之纖維最初可係相對長，諸如具有自約1,000至約5,000微米，在一些實施例中自約2,000至約4,500微米，及在一些實施 例中自約3,000至約4,000微米的體積平均長度。然而，藉由在芳族聚合物仍呈固體狀態之位置處提供此等長纖維，該聚合物可作為磨料試劑以使該等纖維之尺寸減小至上述體積平均長度及長度分佈。但是，當瞭解可以所需長度將任何可選纖維簡單提供至該擠壓機中。在此類實施例中，可例如，在該擠壓機之混合及/或熔融區或甚至在進料區結合芳族聚合物提供該等纖維。在其他實施例中，可不使用任何纖維。
無論其以何種特殊方式形成，本發明者已發現所得聚合物組合物可具有極佳之熱性質。例如，該聚合物組合物之熔融黏度可低至足以允許其易於流入小尺寸模具之腔穴中。在一項特定實施例中，該聚合物組合物可具有在1000s-1之剪切速率下測定的自約0.1至約80Pa-s，在一些實施例中自約0.5至約50Pa-s，及在一些實施例中自約1至約30Pa-s之熔融黏度。可根據ISO測試編號11443在高於該組合物之熔融溫度15℃之溫度(例如，350℃)下測定熔融黏度。該組合物亦可具有相對高的熔融溫度。例如，該聚合物之熔融溫度可係自約250℃至約400℃，在一些實施例中自約280℃至約395℃，及在一些實施例中自約300℃至約380℃。
V.模製部件
一經形成，則可使用此項技術中已知的技術將該聚合物組合物模製成各種不同成型部件中之任何一者。例如，可使用其中將乾燥預熱塑膠顆粒注入模具內之單組分注射模製法來模製該等成型部件。無論使用何種模製技術，已發現具有良好抗靜電性質、高流動性及良好機械性質之獨特組合之本發明的聚合物組合物係特別適用於具有小尺寸公差之電子部件中。此類部件通常含有例如至少一個微米級之維度(例如，厚度、寬度、高度等)，諸如自約500微米或更小，在一些實施例中自約50至約450微米，及在一些實施例中，自約100至約400微 米。
一種此類部件係細間距電連接器。更特定言之，此類電連接器通常用以將中央處理器(「CPU」)可拆卸地安裝至印刷電路板上。該連接器可含有經結構設計以接收觸針之***通道。藉由可自熱塑性樹脂形成之相對壁界定此等通道。為幫助實現所需之電性能，此等針之間距通常較小以容納給定空間內所需的大量觸針。此進一步要求該等針***通道之間距及分隔彼等通道之相對壁之寬度亦較小。例如，該等壁可具有自約500微米或更小，在一些實施例中自約50至約450微米，及在一些實施例中自約100至約400微米的寬度。過去，通常難以使用熱塑性樹脂充分填充具有如此薄寬度的模具。然而，本發明之聚合物組合物因其獨特性質而特別適用於形成細間距連接器之該等壁。
圖1中顯示一特別合適之細間距電連接器。電連接器200中顯示可安裝於電路板P的表面上的板側部分C2。該連接器200亦可包含接線材料側部分C1，其經結構化以藉由耦合至板側連接器C2以將離散線3連接至電路板P。板側部分C2可包含第一殼10，其具有適配接線材料側連接器C1之裝配槽10a及在該殼10之橫向上細長的結構設計。接線材料側部分C1可同樣包含第二殼20，殼20係該殼20之橫向上細長。在第二殼20中，可提供在橫向上平行的複數個末端接收腔穴22，以建立包含上部及下部末端接收腔穴22之二層陣列。可將安裝於離散線3遠端之末端5接收於每個末端接收腔穴22內。若需要，亦可在殼20上提供對應於板側連接器C2上之連接構件(未顯示)的鎖定部分28(嚙合部分)。
如上討論，第一殼10及/或第二殼20之內壁可具有相對小的寬度尺寸且可自本發明之聚合物組合物形成。例如，該等壁在圖2中顯示地更為詳細。如圖所示，可容納觸針之***通道或間隔225係界定於相對壁224之間。壁224具有在上述範圍內的寬度「w」。當壁224係自 含有纖維(例如，元件400)之聚合物組合物形成時，此類纖維可具有在特定範圍內之體積平均長度及窄長度分佈，以最佳地匹配壁寬。例如，該等壁中之至少一者之寬度對纖維之體積平均長度的比值係自約0.8至約3.2，在一些實施例中自約1.0至約3.0，及在一些實施例中自約1.2至約2.9。
除該等壁以外或就代替該等壁而言，亦應瞭解殼之任何其他部分亦可自本發明之聚合物組合物形成。例如，該連接器亦可包含密封該殼之蓋板。該蓋板之部分或全部可自本發明之聚合物組合物形成。例如，該殼及該蓋板可各係自聚合物組合物單一模製的單件結構。同樣，該蓋板可係包含第一殼層及第二殼層之二件式結構，每個蓋板可自本發明之聚合物組合物形成。
當然，亦可將該聚合物組合物用於各種其他組件中。例如，可將該聚合物組合物模製成用於電子組件中的平面基板。該基板可係薄型，諸如具有約500微米或更小，在一些實施例中自約50至約450微米，及在一些實施例中自約100至約400微米之厚度。在一項實施例中，例如，可使用各種已知技術(例如，雷射直接結構化、電鍍等)對該平面基板施用一個或多個導電元件。該等導電元件可用於各種不同之目的。在一項實施例中，例如，該等導電元件形成積體電路，諸如彼等用以SIM卡中者。在另一實施例中，該等導電元件形成各種不同類型之天線，諸如具有共振元件之天線，其等係自微帶天線結構、倒F型天線結構、封閉及開口槽天線結構、環形天線結構、單極、偶極、平面倒F型天線結構、此等設計之混合等形成。可將所得之天線結構合併入諸如上文所描述之相對小之便攜式電子組件(其中可利用之內部空間相對小)的殼內。
圖4-5中顯示包含天線結構之一特別合適之電子組件，其係具有移動電話性能之手持裝置410。如圖4中所示，該裝置410可具有自塑 膠、金屬、其他合適之介電材料、其他合適之導電材料或此類材料之組合形成的殼412。可在裝置410之前表面上提供顯示器414，諸如觸控螢幕顯示器。裝置410亦可具有揚聲器端口440及其他輸入輸出端口。一個或多個按鈕438及其他使用者輸入裝置可用以收集使用者輸入。如圖5中所示，亦可在裝置410之後表面442上提供天線結構426，但當瞭解通常可將該天線結構定位於該裝置之任何所需位置。如上所示，天線結構426可含有自本發明之聚合物組合物形成之平面基板。可使用各種已知技術中之任何一者使該天線結構電連接至該電子裝置內之其他組件。例如，殼412或殼412之部分可作為天線結構426之導電接地面。
自本發明之聚合物組合物形成之平面基板亦可用於其他應用中。例如，在一項實施例中，該平面基板可用以形成小型相機模組(「CCM」)之基座，CCM常用於無線通訊裝置(例如，行動電話)中。參照圖6-7，例如，更詳細地顯示小型相機模組500之一特定實施例。如圖所示，小型相機模組500含有覆於基座506上之透鏡總成504。基座506進一步覆於可選主板508上。由於基座506及/或主板508之相對薄特性，其等特別適合自上文描述之本發明的聚合物組合物形成。透鏡總成504可具有此項技術中已知的各種結構設計中之任何一者，並可包含固定焦距式透鏡及/或自動調焦式透鏡。在一項實施例中，例如，透鏡總成504係呈內置透鏡604之空心鏡筒形式，該等透鏡604係與定位於主板508上並由電路601控制之影像感測器602通訊。該鏡筒可具有各種形狀中之任何一者，諸如矩形、圓柱形等。在某些實施例中，該鏡筒亦可自本發明之聚合物組合物形成並具有在上述範圍內的壁厚度。當瞭解該相機模組之其他部分亦可自本發明之聚合物組合物形成。例如，如圖所示，聚合物薄膜510(例如，聚酯薄膜)及/或熱絕緣罩502可覆蓋透鏡總成504。在一些實施例中，薄膜510及/或罩502 亦可自本發明之聚合物組合物形成。
可使用該聚合物組合物之其他可能之電子組件包含例如行動電話、膝上型電腦、小型便攜式電腦(例如，超便攜式電腦、筆記型電腦及平板電腦)、腕錶裝置、懸吊式裝置、耳機及聽筒裝置、具有無線通訊性能之媒體播放器、手持電腦(有時亦被稱為個人數位助理器)、遠程控制器、全球定位系統(GPS)裝置、手持遊戲裝置、電池蓋、揚聲器、相機模組、積體電路(例如，SIM卡)、電子裝置之殼、電控裝置、斷路器、開關、電力電子裝置、印表機部件等。
無論使用何種特定方式，本發明者已發現自本發明之聚合物組合物形成之模製部件可具有極佳之機械及熱性質。如上所示，此係部分由於離子液體均勻地摻合及分散於聚合物基材內的獨特能力。該模製部件可例如具有相對高之衝擊強度(夏比(Charpy)缺口衝擊強度)，諸如根據ISO測試編號179-1(技術上相當於ASTM D256，方法B)在23℃下測得的約4kJ/m2或更大，在一些實施例中自約2至約60kJ/m2，在一些實施例中自約2至約40kJ/m2，及在一些實施例中自約3至約30kJ/m2。該部件之拉伸及撓曲機械性質亦良好。例如，該部件可展示自約20至約500MPa，在一些實施例中自約50至約400MPa，及在一些實施例中自約80至約350MPa之拉伸強度；約0.5%或更大，在一些實施例中自約0.6%至約20%，及在一些實施例中自約0.8%至約3.5%之拉伸斷裂應變；及/或自約5,000MPa至約30,000MPa，在一些實施例中自約6,000MPa至約20,000MPa，及在一些實施例中自約7,000MPa至約15,000MPa之拉伸模量。可根據ISO測試編號527(技術上相當於ASTM D638)在23℃下測定拉伸性質。該模製部件亦可展示自約20至約500MPa，在一些實施例中自約50至約400MPa，及在一些實施例中自約100至約350MPa之撓曲強度；約0.5%或更大，在一些實施例中自約0.6%至約20%，及在一些實施例中自約0.8%至約3.5%之撓曲斷 裂應變；及/或自約5,000MPa至約30,000MPa，在一些實施例中自約6,000MPa至約20,000MPa，及在一些實施例中自約7,000MPa至約15,000MPa之撓曲模量。可根據ISO測試編號178(技術上相當於ASTM D790)在23℃下測定撓曲性質。該模製部件亦可展示如根據ASTM D648-07(技術上相當於ISO測試編號75-2)在1.8MPa之規定載荷下所測得之約200℃或更大，及在一些實施例中自約220℃至約280℃的載荷下變形溫度(DTUL)。
即使缺乏習知阻燃劑，該模製部件亦可具有經改良之阻燃性能。該組合物之阻燃性可例如根據標題為「Tests for Flammability of Plastic Materials,UL94」之保險商實驗室公告94(Underwriter's Laboratory Bulletin 94)之程序測定。可基於如下文更詳細描述之熄滅時間(總燃燒時間)及防滴能力應用若干評級。根據此程序，例如，自本發明之組合物形成之模製部件可獲得V0等級，其意為該部件具有50秒或更短之總燃燒時間及點燃棉花之燃燒微粒之滴落總數為0(在給定部件厚度(例如，0.25或0.8mm)下測定)。例如，當使自本發明之組合物形成之模製部件曝露於裸火時，其可展示約50秒或更短，在一些實施例中約45秒或更短，及在一些實施例中自約1至約40秒的總燃燒時間。此外，在UL94測試期間產生之燃燒微粒的滴落總數可係3或更小，在一些實施例中可係2或更小，及在一些實施例中可係1或更小(例如，0)。可在23℃及50%之相對濕度下適應48小時後進行此類測試。
參照下列實例可更好瞭解本發明。
測試方法
抗靜電測試：為測試抗靜電行為，將模製盤/板與紙張輕輕摩擦以在該模製部件表面產生靜電荷。然後將該等部件帶至小片紙張附近。若部件表面產生靜電荷，則在部件與紙張之間產生吸引力。同樣，若未產生靜電荷，則當部件移近紙張時，紙張不發生移動。若紙 張移動，則將其記錄為「否」及若紙張未移動，則記錄為「是」。
熔融黏度：可使用Dynisco LCR7001毛細管流變儀，根據ISO測試編號11443在1000s-1之剪切速率及高於熔融溫度15℃之溫度(例如，350℃)下測定熔融黏度(Pa-s)。該流變儀孔(模)具有1mm直徑，20mm長度，20.1之L/D比及180°之入口角。套筒之直徑係9.55mm+0.005mm及棒長度係233.4mm。
熔融溫度：可藉由此項技術中已知的差示掃描量熱法(「DSC」)測定聚合物或組合物之熔融溫度(「Tm」)。該熔融溫度係藉由ISO測試編號11357測定之差示掃描量熱法(DSC)峰值熔融溫度。在該DSC程序下，如ISO標準10350中之規定使用在TA Q2000儀器上進行之DSC測量，以每分鐘20℃加熱並冷卻樣品。
載荷下變形溫度(「DTUL」)：可根據ISO測試編號75-2(技術上相當於ASTM D648-07)測定載荷下變形溫度。更特定言之，使具有80mm長度、10mm厚度及4mm寬度之測試片條樣品經受其中規定載荷(最大外纖維應力)係1.8兆帕之邊緣三點彎曲測試。可將該樣品放入其中溫度以2℃/分鐘上升之聚矽氧油浴中直至其彎曲0.25mm(針對ISO測試編號75-2係0.32mm)。
拉伸模量、拉伸應力及拉伸伸長率：可根據ISO測試編號527(技術上相當於ASTM D638)測試拉伸性質。可對具有80mm長度、10mm厚度及4mm寬度之相同測試片條樣品進行模量及強度測量。測試溫度可係23℃，且測試速率可係1或5mm/min。
撓曲模量、撓曲應力及撓曲應變：可根據ISO測試編號178(技術上相當於ASTM D790)測試撓曲性質。可在64mm之支撐跨距上進行此測試。可未切割ISO 3167多功能棒之中心部分進行測試。測試溫度可係23℃且測試速率可係2mm/min。
缺口夏比衝擊強度：可根據ISO測試編號ISO 179-1(技術上相當 於ASTM D256，方法B)測試缺口夏比性質。可使用A型缺口(0.25mm基底半徑)及1型樣品尺寸(80mm長度、10mm寬度及4mm厚度)進行此測試。可使用單齒銑機器自多功能棒之中心切割樣品。測試溫度可係23℃。
表面電阻率及體積電阻率：可根據IEC 60093(類似於ASTM D257-07)測定表面及體積電阻率值。可使用60 x 60mm板進行該測試。該測試可採用使用靜電計(Keithley K8009或ETS 823)之伏安法。當使用Keithley K-8009測試時，可使用四分鐘放電時間及一分鐘充電時間。當使用ETS-823探針測試時，一經穩定立即獲取讀數。
UL94：將樣品支撐在垂直位置並對該樣品底部施加火焰。施加火焰十(10)秒鐘及然後移除直至燃燒停止，此時再次施加火焰另一十(10)秒鐘及然後移除。測試兩(2)組五(5)個樣品。該樣品尺寸係125mm長度、13mm寬度及0.8mm厚度。使該等兩組樣品於老化前後適應條件。對於未經老化之測試，在23℃及50%之相對濕度下適應48小時後測試每個厚度。對於經老化之測試，在70℃下適應7日後測試五(5)個樣品中之每個厚度。
Figure 104111318-A0202-12-0021-4
實例
形成含有69.2重量% PA9T(GeneterTM G1300H)、0.8重量%之離子液體及30重量%玻璃纖維之聚合物組合物。該離子液體係三正丁基甲基銨雙-(三氟甲磺醯基)醯亞胺(來自於3M之FC-4400)。亦形成缺乏離子液體之對照樣品。使用18-mm單螺桿擠壓機進行混合。將樣品注射模製成板(60mm x 60mm)並測試其等熱及機械性質。結果係描述於下表中。
Figure 104111318-A0202-12-0022-3
一般技術者可實施本發明之此等及其他修飾及變更而不背離本發明之精神及範圍。此外，當瞭解可全部或部分互換各種實施例之態樣。此外，一般技術者將瞭解前述說明僅以實例說明之且無意限制進一步在此類隨附申請專利範圍中之本發明。
C1‧‧‧接線材料側部分
C2‧‧‧板側連接器/板側部分
P‧‧‧電路板
3‧‧‧離散線
5‧‧‧末端
10‧‧‧第一殼
10a‧‧‧裝配槽
20‧‧‧第二殼
22‧‧‧末端接收腔穴
28‧‧‧鎖定部分
200‧‧‧電連接器

Claims (22)

  1. 一種相機模組，其包含模製部件及透鏡總成，該模製部件包含聚合物組合物，該聚合物組合物包含含有玻璃纖維之纖維填料，該聚合物組合物進一步包含分佈於聚合物基材內之離子液體，其中該離子液體具有約400℃或更小之熔融溫度且係含有陽離子物質及相對離子之鹽，且其中該聚合物基材包含具有約100°C或更大之玻璃轉換溫度的芳族聚合物，其中該芳族聚合物係實質上非晶質或半結晶芳族聚合物，該芳族聚合物係以佔該組合物之約25重量%至約95重量%之量存在於該聚合物組合物中，該離子液體係以佔該組合物之約0.1重量%至約10重量%之量存在於該聚合物組合物中，及該玻璃纖維係以佔該組合物之約2重量%至約40重量%之量存在於該聚合物組合物中，及進一步其中該模製部件展示根據IEC 60093測定之約1 x 1015 ohm或更小之表面電阻率。
  2. 如請求項1之相機模組，其中該陽離子物質係季鎓。
  3. 如請求項2之相機模組，其中該季鎓係具有結構N+R1R2R3R4之銨化合物，其中R1、R2及/或R3獨立地係C1-C6烷基且R4係氫原子或C1-C4烷基。
  4. 如請求項3之相機模組，其中該銨化合物係三丁基甲基銨。
  5. 如請求項1之相機模組，其中該相對離子係鹵素、硫酸根、磺酸根、磺基琥珀酸根、醯胺、醯亞胺、硼酸根、磷酸根、次膦酸根、銻酸根、鋁酸根、脂肪酸羧酸根、氰酸根、乙酸根或其組合。
  6. 如請求項5之相機模組，其中該相對離子係雙(五氟乙基磺醯基)醯亞胺、雙(三氟甲基磺醯基)醯亞胺或雙(三氟甲基)醯亞胺。
  7. 如請求項1之相機模組，其中該芳族聚合物係半結晶。
  8. 如請求項7之相機模組，其中該芳族聚合物係聚醯胺。
  9. 如請求項8之相機模組，其中該聚醯胺具有約200℃或更大之熔融溫度。
  10. 如請求項8之相機模組，其中該聚醯胺含有衍生自芳族二羧酸之芳族重複單元及衍生自具有4至14個碳原子之脂族二胺的脂族重複單元。
  11. 如請求項10之相機模組，其中該芳族二羧酸係對苯二甲酸。
  12. 如請求項10之相機模組，其中該脂族二胺係1,9-壬二胺、2-甲基-1,8-辛二胺或其組合。
  13. 如請求項7之相機模組，其中該芳族聚合物係聚芳基醚酮。
  14. 如請求項1之相機模組，其中該芳族聚合物係實質上非晶質。
  15. 如請求項14之相機模組，其中該芳族聚合物係聚苯醚。
  16. 如請求項14之相機模組，其中該芳族聚合物係聚醚醯亞胺。
  17. 如請求項14之相機模組，其中該芳族聚合物係聚碳酸酯。
  18. 如請求項17之相機模組，其中該聚碳酸酯含有衍生自雙酚之芳族重複單元。
  19. 如請求項18之相機模組，其中該雙酚係4,4'-亞異丙基二苯酚。
  20. 如請求項1之相機模組，其進一步包括碳纖維、石墨、碳黑或其組合。
  21. 如請求項1之相機模組，其進一步包括礦物纖維或其組合。
  22. 如請求項1之相機模組，其中該模製部件展示根據IEC 60093測定之約1 x 1015 ohm-m或更小之體積電阻率。
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