TWI502292B - 調色劑、二成份顯影劑、及形成影像之方法 - Google Patents

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Description

調色劑、二成份顯影劑、及形成影像之方法
本發明係有關一種用於電子照相系統之調色劑、一種靜電記錄系統、一種靜電列印系統或一種調色劑噴射系統、或一種含調色劑之雙組份顯影劑及一種使用該調色劑形成影像之方法。
為了實現在電子照相裝置中長時間的良好影像性質，調色劑需兼具有良好之轉移性及良好潔淨度。針對此目的，目前進行的是控制具有特殊形狀之調色劑粒子的分布狀態。
在PTL 1中，藉由確認調色劑粒子中等效圓直徑為3.00 μm或以上之調色劑粒子的平均真圓度及真圓度分布而同時實現良好可轉移性及良好潔淨度兩種性質。
在PTL 2中，藉由控制粒徑為2 μm或以上且在5 μm或以下之調色劑粒子中真圓度為0.950或以下之調色劑粒子的數量百分比成為40%或以下，來最佳化具有小粒徑之調色劑粒子之形狀，以改善轉移效率且實現較高影像品質。
引文表列 專利文獻
PTL 1 日本專利公開案編號2005-107517 PTL 2 日本專利公開案編號2008-076574
PTL 1所描述之調色劑具有小的平均真圓度值，調色劑之可轉移性及顯影性質可進一步改善。
此外，根據本發明之發明者針對PTL 2所述調色劑進行之檢測結果，當調色劑含有大量粒徑小於2 μm之調色劑粒子時，在列印影像比例為40%的條件下於10,000張以上之紙張上列印影像時，於磁性載體上發生調色劑殘留，因此可能降低影像密度。
本發明提供一種具有良好轉移效率及良好潔淨度的調色劑，其中當複製或列印大量紙張時，壓低影像密度變化，因此且有良好之抗應力性。本發明進一步提供一種雙組份顯影劑及使用該調色劑的影像形成方法。
本發明提出一種調色劑，包括各含有黏合劑樹脂及蠟之調色劑粒子；及無機細粒，其中(i)該調色劑具有3.0 μm或以上且8.0 μm或以下的重量平均粒徑(D4)，(ii)使用具有512×512像素之影像處理解析度的流動粒子影像測量裝置之測量中，該調色劑滿足以下條件：(a)就等效圓直徑為1.98 μm或以上且小於200.00 μm的粒子而言，該調色劑基於粒子數目之平均真圓度為0.960或以上且0.985或以下，真圓度為0.990或以上且1.000或以下 的粒子基於粒子數目之比例係25.0%或以下，且(b)等效圓直徑為0.50 μm或以上且小於1.98 μm之粒子相對於具有0.50 μm或以上且小於200.00 μm的粒子之比例基於粒子數係為10.0%或以下，且(iii)滿足式(1)之關係。
其中P1=Pa/Pb且P2=Pc/Pd，Pa及Pb個別表示調色劑以鍺(Ge)作為ATR結晶於45°紅外線入射角藉衰減總反射(ATR)方法測量之富立葉轉換紅外線(FT-IR)光譜在2,843 cm-1 或以上及2,853 cm-1 或以下之範圍內，以及在1,713 cm-1 或以上及1,723 cm-1 或以下之範圍的最大吸收峰強度，且Pc及Pd個別代表調色劑以KRS5作為ATR結晶於45°紅外線入射角藉ATR方法測量之富立葉轉換紅外線(FT-IR)光譜在2,843 cm-1 或以上及2,853 cm-1 或以下，以及在1,713 cm-1 或以上及1,723 cm-1 或以下的範圍內最大吸收峰強度。
本發明提供一種雙組份顯影劑及使用該調色劑的影像形成方法。
本發明可提供一種調色劑，其具有良好之耐用性且同時實現良好轉移效率及良好潔淨度兩種性質。
本發明調色劑具有3.0 μm或以上及8.0 μm或以下的重量平均粒徑(D4)，且該調色劑滿足下列條件：(a)使用具有512×512像素(0.37 μm×0.37 μm/像素)之影像處理解析度的流動粒子影像測量裝置之測量：(a)有關等效圓直徑為1.98 μm或以上且小於200.00 μm之粒子，平均真圓度為0.960或以上且0.985或以下，真圓度為0.990或以上且1.000或以下的粒子之比例基於粒子數目係25.0%或以下。更佳，該調色劑之平均真圓度為0.960或以上且0.975或以下，真圓度為0.990或以上且1.000或以下的粒子之比例基於粒子數目係20.0%或以下。
與具有不規則形狀之調色劑粒子比較下，具有類球狀形狀之調色劑粒子與影像承載元件(感光性元件)間之接觸面積小，因此對感光性元件之黏著力低。此外，有關在轉移步驟中形成之電場，調色劑粒子之形狀愈接近球形，所施加之電場愈均勻，調色劑粒子愈容易轉移至轉移材料。是故，通常，調色劑粒子形狀愈接近球形，轉移效率變成較高。另一方面，調色劑粒子形狀愈接近球形，調色劑與清洗刮板間之接觸面積變得愈小。結果，使用清洗刮板難以刮除影像承載元件上之轉移殘留調色劑，潔淨度降低。因此，可轉移性及潔淨度之間存在特定程度之矛盾關係，難以同時體現良好可轉移性及良好潔淨度兩者。尤其，真圓度為0.990或以上的粒子之比例造成潔淨度降低。然而，真圓度為0.990或以上的粒子之比例及平均真圓度之間存在正向關係。若真圓度為0.990或以上的粒子之比例 降低，平均真圓度亦降低，因而降低可轉移性。是故，為了同時體現良好可轉移性及良好潔淨度兩種性質，需將調色劑之平均真圓度及真圓度分布控制在適當之範圍內。
本發明者經徹底研究之結果，發現平均真圓度係0.960或以上且0.985或以下時，可同時體現高轉移效率及良好潔淨度兩種性質，基於粒子數，真圓度為0.990或以上且1.000或以下的粒子之比例係25.0%或以下。
此點之理由如下。通常，調色劑真圓度為0.990或以上且1.000或以下的粒子之比例愈大，該調色劑之真圓度分布愈寬。在使用具有寬幅真圓度分布之調色劑時，與使用具有相同平均真圓度及較窄幅真圓度分布的調色劑的情況比較之下，轉移殘留調色劑中存有大量具有類球形之調色劑粒子。具有類球形之調色劑粒子輕易通經清洗刮板之間隙，因而污染生電滾輪。結果，易發生因為影像承載元件上生電不均所致之影像缺陷。
另一方面，在使用前述具有窄幅真圓度分布之調色劑時，具有類球形之轉移殘留調色劑粒子的量小於使用具有寬幅真圓度分布之調色劑的情況。因而，在使用具有窄幅真圓度分布之調色劑時，以刮板刮除大部分轉移殘留調色劑粒子，因而可實現良好潔淨度。當真圓度為0.990或以上且為1.000或以下的粒子之比例以粒子數計超過25.0%時，因為具有類球形之調色劑粒子的數量大，故潔淨度降低。
當平均真圓度低於0.960時，存有大量具有不規則形 狀之調色劑粒子。是故，當有大量轉移殘留調色劑殘留於影像承載元件上時，轉移效率不足。此外，在輸出影像時，用以得到充足影像密度所需的調色劑量增加，此點不利於運轉成本。當平均真圓度超過0.985時，轉移效率令人滿意。然而，因具有類球形之調色劑粒子的量大，故轉移殘留調色劑輕易地通經該影像承載元件及清洗刮板之間的間隙。因此，轉移殘留調色劑殘留於影像承載元件上。結果，轉移殘留調色劑污染生電滾輪，可能導致影像承載元件之生電失敗。此外，影像承載元件上因轉移殘留調色劑導致在影像形成時因影像承載元件上之生電不均而造成影像缺陷。此種現象明顯的發生於影像承載元件之最外層表面無法以清洗刮板刮除之情況。
根據本發明調色劑，在使用具有512×512像素(0.37 μm×0.37 μm/像素)之影像處理解析度的流動粒子影像測量裝置之測量中滿足以下條件(b)：(b)等效圓直徑為0.50 μm或以上且小於1.98 μm之粒子相對於等效圓直徑為0.50 μm或以上且小於200.00 μm之粒子的比例以粒子數計係為10.0%或以下。在條件(b)中，等效圓直徑為0.50 μm或以上且小於1.98 μm之粒子的比例以粒子數計更佳係7.0%或以下。
等效圓直徑為0.50 μm或以上且小於1.98 μm之粒子的比例以粒子數計係10.0%或以下的情況下，使用本發明調色劑作為雙組份顯影劑時，可壓低殘留於磁性載體表面上之調色劑。是故，可壓低磁性載體之摩擦生電性質的降 低。因此，可實現顯影劑使用壽命之延長，尤其是消耗大量調色劑之高覆蓋率(列印影像比為40%或以上)的長期持久性(於大量紙片上形成影像)。
另一方面，當等效圓直徑為0.50 μm或以上且小於1.98 μm的粒子之比值於高覆蓋率(列印影像比：40%或以上)之長期耐用性中以粒子數計超過10.0%時，磁性載體表面藉由顯影裝置中之應力而花用等效圓直徑為0.50 μm或以上且小於1.98 μm的粒子。結果，磁性載體之摩擦生電性質降低，因而降低該調色劑之摩擦電荷的量。因而，可能發生影像密度降低、於非影像區中起霧及調色劑散布於顯影裝置中。
目前，極難以得到平均真圓度為0.960或以上且0.985或以下且其中真圓度為0.990或以上之調色劑粒子比例以粒子數計係壓低至25.0%或以下，且等效圓直徑為0.50 μm或以上且小於1.98 μm之調色劑粒子比例以粒子數計係壓低至10.0%或以下。
例如，當調色劑粒子係藉乳液混凝法製備時，可得到平均真圓度為0.960或以上且0.985或以下且其中真圓度為0.990或以上的粒子之比例以粒子數計係25.0%或以下之調色劑。然而，當藉乳液混凝法製備調色劑粒子時，等效圓直徑為0.50 μm或以上且小於1.98 μm之調色劑粒子比例以粒子數計超過10.0%。此係製造調色劑之方法中所生成之殘留乳化粒子所致。另一方面，有關含有藉懸浮聚合方法製得之調色劑粒子的調色劑，平均真圓度極高，且 真圓度為0.990或以上之調色劑粒子比例以粒子數計亦超過25.0%。
有關含有藉已知粉碎法製得之調色劑粒子的調色劑，平均真圓度小於0.960。用以增加含有藉粉碎法製得之調色劑粒子的調色劑之平均真圓度的方法實例係以熱處理裝置將調色劑粒子球體化。然而，在使用一般熱處理裝置時，雖然形成之調色劑具有0.960或以上且為0.985或以下的平均真圓度，然而，真圓度為0.990或以上的粒子之比例以粒子數計係超過25%。此點之理由詳細說明如下。
再者，本發明調色劑滿足式(1)之關係： 其中P1=Pa/Pb且P2=Pc/Pd，Pa及Pb個別表示調色劑藉ATR方法測量使用Ge作為ATR結晶於45°紅外線入射角下之FT-IR光譜中在2,843 cm-1 或以上及2,853 cm-1 或以下範圍中之最大吸收峰強度及在1,713 cm-1 或以上且1,723 cm-1 或以下範圍中之最大吸收峰強度，且Pc及Pd個別表示調色劑藉ATR方法測量使用KRS5作為ATR結晶於45°紅外線入射角下之FT-IR光譜中在2,843 cm-1 或以上及2,853 cm-1 或以下範圍之最大吸收峰強度，在1,713 cm-1 或以上及1,723 cm-1 或以下之範圍中的最大吸收峰強度。
P1係有關調色劑在深度方向距調色劑表面約0.3 μm 之位置臘相對於黏合劑樹脂之豐度比的指數，該方向係自調色劑表面向調色劑中心部分延伸，且P2係為距該調色劑表面約1.0 μm之位置臘對黏合劑樹脂之豐度比的指數。
本發明中，將有關距調色劑表面約0.3 μm之位置上臘對黏合劑樹脂之豐度比的指數P1控制在大於有關距調色劑表面約1.0 μm之處的臘對黏合劑樹脂之豐度比的指數P2，因此控制有關豐度比之指數比〔P1/P2〕(即，蠟在調色劑深度方向中的不均勻分布程度，該方向係自該調色劑表面延伸至調色劑中心部分)。相信調色劑耐用性可藉由將比例〔P1/P2〕控制於前述範圍中而改善，如下文所述。
為了令人滿意的排除來自調色劑之蠟，調色劑表面需存在某些程度的蠟。蠟在距離該調色劑表面至約0.3 μm深度之豐度比造成蠟自該調色劑滲出。然而，當調色劑表面上之蠟的豐度比增加時，該調色劑表面變軟，且無機細粒易變成包埋於其中。結果，調色劑之耐用性降低。
另一方面，不僅是調色劑表層上之柔軟性，位於下層之基層的柔軟性亦與無機細粒之埋置有關。例如，即使調色劑頂面層之蠟的比例高，則無機細粒不包埋至喪失其功能之程度，其限制條件為位於頂面層之下方的較低層係由硬樹脂層形成。該調色劑表層至深度約1.0 μm之範圍係有關此無機細粒包埋。
藉由將比例〔P1/P2〕控制於前述範圍中，在調色劑 深度方向中距調色劑表面約0.3 μm位置範圍內之蠟的豐度比變成高於在距調色劑表面約1.0 μm位置範圍內之蠟的豐度比，該方向係自調色劑表面向調色劑中心部分延伸。詳言之，樹脂自具有高蠟含量之調色劑表層開始，愈接近該調色劑中心部分則愈硬。結果，抑制無機細粒之過度包埋，可改善調色劑之耐用性。
調色劑之比例〔P1/P2〕較佳係1.25或以上且係1.90或以下，且更佳係1.30或以上且為1.80或以下。
為了將調色劑之比例〔P1/P2〕控制在前述範圍中，P1及P2係藉下述方法獨立的控制。
用以計算值調色劑比例〔P1/P2〕之方法如下。
比例〔P1/P2〕可藉由P1除以P2計算，其中P1=Pa/Pb且P2=Pc/Pd，Pa及Pb個別表示調色劑藉ATR方法測量使用Ge作為ATR結晶於45°紅外線入射角下之FT-IR光譜中在2,843 cm-1 或以上及2,853 cm-1 或以下範圍中之最大吸收峰強度及在1,713 cm-1 或以上且1,723 cm-1 或以下範圍中之最大吸收峰強度，且Pc及Pd個別表示調色劑藉ATR方法測量使用KRS5作為ATR結晶於45°紅外線入射角下之FT-IR光譜中在2,843 cm-1 或以上及2,853 cm-1 或以下範圍之最大吸收峰強度，及在1,713 cm-1 或以上及1,723 cm-1 或以下之範圍中的最大吸收峰強度。
應注意各個最大吸收峰強度Pa至Pd係為自FT-IR光譜之最大值扣除基線之影響所決定之波峰本身之強度。詳 言之，最大吸收峰強度Pa係自2,843 cm-1 或以上且為2,853 cm-1 或以下之範圍中的吸收波峰強度最大值扣除在3,050 cm-1 之吸收強度及2,600 cm-1 之吸收強度的平均值來決定之值。相同地，最大吸收峰強度Pb係自1,713 cm-1 或以上且為1,723 cm-1 或以下之範圍中的吸收波峰強度最大值扣除在1,763 cm-1 之吸收強度及1,630 cm-1 之吸收強度的平均值來決定之值。最大吸收峰強度Pc係自2,843 cm-1 或以上且為2,853 cm-1 或以下之範圍中的吸收波峰強度最大值扣除在3,050 cm-1 之吸收強度及2,600 cm-1 之吸收強度的平均值來決定之值。最大吸收峰強度Pd係自1,713 cm-1 或以上且為1,723 cm-1 或以下之範圍中的吸收波峰強度最大值扣除在1,763 cm-1 之吸收強度及1,630 cm-1 之吸收強度的平均值來決定之值。
FT-IR光譜中，在1,713 cm-1 或以上及1,723 cm-1 或以下之範圍中的吸收波峰係為主要造成自黏合劑樹脂衍生之-CO-的拉伸振動之波峰。除前述波峰以外的各種波峰，諸如造成芳族環之CH於平面外之彎曲振動的波峰，亦加以偵測視為自黏合劑樹脂衍生之波峰。然而，在1,500 cm-1 或以下之範圍中存在許多波峰，難以僅單離出自黏合劑樹脂衍生之波峰。因此，無法計算精確之數值。因此，使用在1,713 cm-1 或以上且1,723 cm-1 或以下之範圍內易自其他波峰單離的吸收波峰作為自黏合劑樹脂衍生的波峰。
FT-IR光譜中，在2,843 cm-1 或以上及2,853 cm-1 或 以下之範圍中的吸收波峰係為主要造成自蠟衍生之-CH2 -的拉伸振動(對稱性)之波峰。亦偵測造成CH2 之平面中彎曲振動的波峰，範圍為1,450 cm-1 或以上及1,500 cm-1 或以下，視為自蠟衍生之波峰。然而，此波峰與自黏合劑樹脂衍生之波峰重疊，難以單離自蠟衍生之波峰。因此，使用在2,843 cm-1 或以上且2,853 cm-1 或以下之範圍內易自其他波峰單離的吸收波峰作為自蠟衍生的波峰。
在決定Pa及Pc時，自2,843 cm-1 或以上且為2,853 cm-1 或以下之範圍中的吸收波峰強度最大值扣除在3,050 cm-1 之吸收強度及2,600 cm-1 之吸收強度的平均值。通常，在3,050 cm-1 附近及2,600 cm-1 附近未發現吸收波峰。是故，可藉由計算此兩點之平均值而計算基線強度。
在決定Pb及Pd時，自1,713 cm-1 或以上且為1,723 cm-1 或以下之範圍中的吸收波峰強度最大值扣除在1,763 cm-1 之吸收強度及1,630 cm-1 之吸收強度的平均值。通常，在1,763 cm-1 附近及1,630 cm-1 附近未發現吸收波峰。是故，可藉由計算此兩點之平均值而計算基線強度。
自黏合劑樹脂衍生之最大吸收峰強度Pb及Pd及自蠟衍生之最大吸收峰強度Pa及Pc個別與黏合劑樹脂及蠟之量有關。是故，本發明中，蠟對黏合劑樹脂之豐度比係藉由自蠟衍生之最大吸收峰強度除以自黏合劑樹脂衍生之最大吸收峰強度而計算。
已發現，為使調色劑變成可自固定元件釋出，重要的是在固定步驟中滲出蠟，以於固定元件與調色劑層之間形 成釋出層。然而，在高速機器諸如隨需列印(POD)系統中，因為調色劑在固定步驟中之熔融時間短，蠟之滲出時間亦縮短，故無法形成充足之釋出層。結果，記錄介質易於固定期間發生非刻意之捲繞。
因此，為使用高速機器，諸如POD系統，需添加大量之蠟。結果，因為無機細粒包埋於調色劑粒子表面中或無機細粒自調色劑粒子表面脫附，造成摩擦電荷量改變的情況可能增多。
本發明者進行徹底研究的結果，發現P1與影像光澤度及預防記錄介質在固定期間非刻意的捲繞之性質有關。相信藉由使在厚度方向距離調色劑表面約0.3 μm之位置的範圍中存有相對於黏合劑樹脂係大量的蠟，即使是使用諸如POD系統的高速機器，蠟仍在固定步驟中快速熔融，且展現釋出效果，因而改善固定元件與調色劑層之間的可釋放性。詳言之，P1較佳係0.10或以上且係0.70或以下，且更佳係0.12或以上且為0.66或以下。
已發現在本發明中，為了在固定步驟中展現釋出效果，蠟之存在狀態極為重要。詳言之，位在約0.3 μm位置之蠟的豐度比及蠟之滲出性質之間存有相關性。是故，本發明中，使用位在約0.3 μm位置之蠟的豐度比P1作為指數。
為了控制P1，原料調色劑可以熱空氣加以表面處理。本文中，術語"原料調色劑"意指在藉熱處理進行表面處理前之調色劑粒子。例如，為了增加P1，可增加使用熱 空氣之表面處理溫度或可增加蠟之添加量。另一方面，減少P1可降低熱空氣之表面處理溫度或降低蠟之添加量或將無機細粒外加至原料調色劑中。
為了改善影像之光澤度及防止記錄介質在固定期間的非刻意捲繞的性質，重要的是將P1控制於前述範圍。然而，蠟因分子量低於黏合劑樹脂，故相當柔軟。結果，例如即使將其中P1控制於前述範圍中，但無機細粒仍經耐久性而包埋於調色劑粒子中，可能導致摩擦電荷之量的改變增加。
本發明中，為了展現在調色劑與磁性載體間摩擦生電之量的安定性，重要的是抑制固定於調色劑粒子表面之無機細粒的包埋。詳言之，位在約1.0 μm位置之蠟的豐度比與抑制無機細粒之包埋之間存有相關性。是故，本發明中，使用位在約1.0 μm位置之蠟的豐度比P2作為指數。
雖然尚未明瞭其機制，本發明者假設如下。
有關因與磁性載體摩擦所致之生電量變化，重要的是經由耐久性抑制調色劑表面中之變化，詳言之，相信調色劑表面之改變可藉由壓抑無機細粒因為顯影裝置中之應力所致的脫附及包埋而壓抑。
不僅是調色劑表層上之硬度，位於下層之基層的硬度亦與無機細粒之埋置有關。例如，相信即使調色劑頂面層存在之蠟的量高，則無機細粒不包埋至喪失其功能之程度，其限制條件為位於頂面層之下方的較低層係由硬樹脂層形成。是故，相信在調色劑表面至深度方向約1.0 μm之 位置的範圍中蠟對黏合劑樹脂之豐度比P2相當重要。相信藉著將P2控制於特定範圍中，可壓抑無機細粒之包埋，以壓抑摩擦電荷之量的變化。如前文所述，在自調色劑表面至約1.0 μm位置範圍中蠟對黏合劑樹脂之豐度比P2係自Pc及Pd計算得到，該Pc及Pd係藉以ATR方法使用KRS5(n2 =2.4)為ATR結晶在45°之紅外線入射角(P2=Pc/Pd)測量調色劑決定。詳言之，P2較佳係0.05或以上且係0.35或以下，且更佳係0.06或以上且為0.33或以下。
P2可藉由改變所添加之蠟的種類及數量且將調色劑中蠟之分散直徑控制於特定範圍中而加以控制。當以熱空氣進行表面處理時，P2可藉由改變處理條件而加以控制。蠟於該調色劑中之分散直徑亦可藉由例如在製備調色劑粒子時內部添加無機細粒而改變。
現在描述可使用於本發明調色劑中之材料。
調色劑中所使用黏合劑樹脂的實例係包括苯乙烯衍生物之均聚物，諸如聚苯乙烯及聚乙烯基甲苯；苯乙烯共聚物，諸如苯乙烯-丙烯共聚物、苯乙烯-乙烯基甲苯共聚物、苯乙烯-乙烯基萘共聚物、苯乙烯-丙烯酸甲酯共聚物、苯乙烯-丙烯酸乙酯共聚物、苯乙烯-丙烯酸丁酯共聚物、苯乙烯-丙烯酸辛酯共聚物、苯乙烯-二甲基胺基丙烯酸乙酯共聚物、苯乙烯-甲基丙烯酸甲酯共聚物、苯乙烯-甲基丙烯酸乙酯共聚物、苯乙烯-甲基丙烯酸丁酯共聚物、苯乙烯-甲基丙烯酸辛酯共聚物、苯乙烯-二甲基胺基甲基丙 烯酸乙酯共聚物、苯乙烯-乙烯基甲基醚共聚物、苯乙烯-乙烯基乙基醚共聚物、苯乙烯-乙烯基甲基酮共聚物、苯乙烯-丁二烯共聚物、苯乙烯-異戊二烯共聚物、苯乙烯-順丁烯二酸共聚物、及苯乙烯-順丁烯二酸酯共聚物；聚甲基丙烯酸甲酯；聚甲基丙烯酸丁酯；聚乙酸乙烯酯；聚乙烯；聚丙烯；聚乙烯基丁醛；聚矽氧樹脂、聚酯樹脂、聚醯胺樹脂、環氧樹脂、聚丙烯酸樹脂、松香；經修飾松香、萜樹脂；酚樹脂；脂族或脂環族烴樹脂及芳族石油樹脂。此等樹脂可單獨或以兩種或更多種樹脂組合使用。
此等樹脂中，較有利於作為黏合劑樹脂之聚合物有苯乙烯共聚物及具有聚酯單元之樹脂。
術語"聚酯單元"係指自聚酯衍生之部分。構成聚酯單元之組份的實例包括二價或更高價之醇單體組份及酸單體組份，諸如二價或更高價之羧酸、二價或更高價之羧酸酐及二價或更高價之羧酸酯。
二價或更高價之醇單體組份的實例係包括下列化合物。詳言之，二價醇單體組份之實例係包括雙酚A之環氧烷類加合物，諸如聚環氧丙烷(2.2)-2,2-雙(4-羥基苯基)丙烷、聚環氧丙烷(3.3)-2,2-雙(4-羥基苯基)丙烷、聚環氧乙烷(2.0)-2,2-雙(4-羥基苯基)丙烷、聚環氧丙烷(2.0)-聚環氧乙烷(2.0)-2,2-雙(4-羥基苯基)丙烷且聚環氧丙烷(6)-2,2-雙(4-羥基苯基)丙烷；乙二醇、二乙二醇、三乙二醇；1,2-丙二醇；1,3-丙二醇；1,4-丁二醇；新戊二醇；1,4-丁二醇；1,5-戊二醇；1,6-己 二醇；1,4-環己烷二甲醇；二丙二醇；聚乙二醇；聚丙二醇；聚四亞甲基二醇、雙酚A及氫化雙酚A。
三價或更高價之醇單體組份係包括山梨醇、1,2,3,6-己四醇、1,4-山梨醇酐、異戊四醇、二異戊四醇、三異戊四醇、1,2,4-丁三醇、1,2,5-戊三醇、甘油、2-甲基丙三醇、2-甲基-1,2,4-丁三醇、三羥甲基乙烷、三羥甲基丙烷及1,3,5-三羥基甲基苯。
二價羧酸單體組份之實例係包括芳族二羧酸，諸如苯二甲酸、異苯二甲酸及對苯二甲酸及其酐；烷基二羧酸，諸如琥珀酸、己二酸、癸二酸、壬二酸及其酐；經具有6至18個碳原子之烷基或烯基取代的琥珀酸及其酐；及不飽和二羧酸諸如反丁烯二酸、順丁烯二酸、甲順丁烯二酸及其酐。
三價或更高價羧酸單體組份的實例係包括多價羧酸，諸如偏苯三甲酸、苯均四酸及二苯基甲酮四羧酸及其酐。
其他單體之實例係包括多羥基醇，諸如酚醛清漆樹脂之環氧烷基醚。
當使用前述黏合劑樹脂時，就實現令人滿意之儲存性質、低溫固定性質及抗熱偏移之觀點而言，黏合劑樹脂之玻璃態化溫度(Tg)較佳係40℃或更高且為90℃或更低，更佳係45℃或更高且為65℃或更低。
調色劑中所使用之蠟的實例係包括烴蠟，諸如低分子量聚乙烯、低分子量聚丙烯、烯共聚物、微晶蠟、石蠟及Fischer-Tropsch蠟、烴蠟之氧化物，諸如氧化聚乙烯蠟， 及其嵌段共聚物，含脂肪酸酯作為主組份之蠟，諸如巴西棕櫚蠟，及藉由將脂肪酸酯部分或完全脫氧所得之蠟，諸如說脫氧化巴溪棕櫚蠟。
蠟之實例進一步包括飽和直鏈脂肪酸，諸如棕櫚酸、硬脂酸及二十八酸；不飽和脂肪酸，諸如反芥子酸、桐酸及十八碳四烯酸；飽和醇，諸如硬脂醇、芳烷醇、萮樹醇、二十四醇、二十六醇及三十醇；多羥基醇，諸如山梨糖醇；脂肪酸酯類諸如棕櫚酸、硬脂酸、萮樹酸或二十八酸、與醇諸如硬脂醇、芳烷醇、萮樹醇、二十四醇、二十六醇或三十醇之酯；脂肪酸醯胺，諸如亞麻油醯胺、油醯胺及月桂醯胺；飽和脂肪酸雙醯胺，諸如亞甲基雙-硬脂醯胺、伸乙基雙-己醯胺、伸乙基雙-月桂醯胺及六亞甲基雙-硬脂醯胺；不飽和脂肪酸醯胺，諸如伸乙基雙-油醯胺、六亞甲基雙-油醯胺、N,N'-二油基己二醯胺及N,N'-二油基己二醯胺；芳族雙醯胺，諸如間-二甲苯雙-硬脂醯胺及N,N'-二硬脂基異苯二甲醯胺；脂族金屬鹽(通稱為"金屬皂")諸如硬脂酸鈣、月桂酸鈣、硬脂酸鋅及硬脂酸鎂；由脂族烴蠟藉由接枝乙烯基單體諸如苯乙烯或丙烯酸所構成之蠟；脂肪酸與多羥基醇諸如萮樹單縮水甘油酯之部分酯化產物；及藉由植物油及脂肪進行氫化所得的含羥基甲基酯化合物。
此等蠟中，就防止調色劑散布於細線影像周圍及改善調色劑之抗應力的觀點而言，烴蠟諸如石蠟及Fischer-Tropsch蠟特別有利。
蠟較佳用量係相對於100質量份黏合劑樹脂係0.5質量份或以上且為20質量份或以下。蠟之最大吸熱波峰的波峰溫度較佳係45℃或以上且為140℃或以下，因為可實現調色劑令人滿意之儲存性、低溫固定性及抗熱偏移性。就改善調色劑之抗應力性的觀點而言，蠟是最大吸熱波峰的波峰溫度更佳係75℃或更高且係120℃或更低。
調色劑中所使用之著色劑實例包括下列者。
黑色著色劑之實例包括碳黑；使用黃色著色劑、洋紅著色劑及青色著色劑對著色劑施以色調調整直至黑色。顏料可單獨使用作為著色劑。然而，就全色彩影像之影像品質的觀點而言，更佳係染料及顏料結合使用，以改善銳度。
就洋紅調色劑之彩色顏料而言，使用已知化合物，諸如縮合偶氮基化合物、二酮基吡咯並吡咯化合物、蒽醌化合物、喹吖酮化合物、鹼性染料色澱化合物、萘酚化合物、苯並咪唑酮化合物、硫靛化合物及苝化合物。其特定實例包括C.I.顏料紅57：1,122,150,269及282與C.I.顏料紫19。作為洋紅調色劑之染料，使用已知化合物。
作為青色調色劑用之彩色顏料，使用例如銅酞花青顏料，諸如C.I.顏料藍15：3，其中酞花青主鏈經1至5個酞醯亞胺甲基所取代。用於青色調色劑之彩色染料的實例有C.I.溶劑藍70。
作為黃色調色劑用之彩色顏料，使用典型縮合偶氮基化合物、異吲哚啉酮化合物、異吲哚啉化合物、蒽醌化合 物、偶氮基金屬錯合次甲基化合物及烷基醯胺化合物。其明確實例包括C.I.顏料黃74,93,155,180及185。用於黃色調色劑之彩色染料的實例有C.I.溶劑黃98及162。
著色劑較佳用量係相對於100質量份黏合劑樹脂係0.1質量份或以上且為30質量份或以下。
若需要，則可在調色劑中摻入電荷控制劑。可使用已知化合物作為摻入調色劑中之電荷控制劑。尤其，較佳係使用芳族羧酸之無色金屬化合物，其中調色劑之摩擦生電速度高，且可穩定的保持固定量之摩擦生電電荷。
負電荷控制劑之實例係包括水楊酸之金屬化合物、萘酸之金屬化合物、二羧酸之金屬化合物、側鏈中具有磺酸或羧酸之聚合物型化合物、側鏈中具有磺酸鹽或酯化磺酸之聚合物型化合物、側鏈中具有羧酸鹽或酯化羧酸之聚合物型化合物、硼化合物、脲化合物、矽化合物及酚甲醛環狀聚合物。正電荷控制劑的實例包括四級銨鹽、側鏈中具有前述四級銨鹽的聚合物型化合物、胍化合物及咪唑化合物。電荷控制劑可由內部或外部添加至該調色劑粒子。電荷控制劑較佳添加量係相對於100質量份黏合劑樹脂係0.2質量份或以上且為10質量份或以下。
本發明調色劑可含無機細粒作為外來添加劑，用以改善流動性且使調色劑之耐久性安定化。無機細粒之實例包括二氧化矽、氧化鈦及氧化鋁細粒。無機細粒可以疏水化劑諸如矽烷化合物、聚矽氧油或其混合物加以疏水化。為了改善流動性，用為外來添加劑之無機細粒較佳係具有50 m2 /g或以上且具有400 m2 /g或以下之BET比表面積。另一方面，為了耐久性安定化，無機細粒較佳係具有10 m2 /g或以上且具有50 m2 /g或以下之BET比表面積。為了達到同時改善流動性且使耐久性安定化，可組合使用複數類型具有在前述範圍中之BET比表面積的無機細粒。以外來添加劑形式添加之無機細粒較佳用量係相對於100質量份調色劑粒子係0.1質量份或以上且為5.0質量份或以下。可使用已知混合器諸如Henschel混合器以混合調色劑粒子及外來添加劑。
就控制比例P1/P2之觀點而言，該調色劑粒子可含作為外來添加劑之無機細粒。可使用作為內在添加劑的無機細粒之實例包括二氧化矽、氧化鈦及氧化鋁細粒。無機細粒可以疏水化劑諸如矽烷化合物、聚矽氧油或其混合物加以疏水化。用為內在添加劑之無機細粒較佳係具有10 m2 /g或以上且具有400 m2 /g或以下之BET比表面積。以內在添加劑形式添加之無機細粒較佳用量係相對於100質量份調色劑粒子係0.5質量份或以上且為5.0質量份或以下。相信蠟之分散性在調色劑粒子中以內在添加劑形式摻入無機細粒的情況下得到改善。
相信蠟之分散性藉由使用無機細粒作為內在添加劑而得到改善的原因如下。通常，黏合劑樹脂通常相對的親水性，而蠟係極端親水性。因此，在調色劑係藉粉碎方法製得之情況下，黏合劑樹脂及蠟無法在熔融捏和黏合劑樹脂、蠟等時輕易的混合。然而，當熔融捏和時存有無機細粒 時，固體之無機細粒藉機械剪切分散於黏合劑樹脂中。在無機細粒經疏水化之情況下，因為高度疏水化之無機細粒與蠟具有高相容性，故蠟存在於無機細粒周圍。結果，蠟變成輕易分散於黏合劑樹脂中。此外，在調色劑係藉粉碎法製得的情況下，當無機細粒存在於熔融捏和該黏合劑樹脂、蠟等材料中時形成之熔融捏和產物的黏度增加，剪切力更容易施加至經熔融捏和的產物。因而，輕易地改善黏合劑樹脂中蠟的分散性。
製造調色劑粒子的方法之實例包括粉碎方法，此法包括熔融捏和黏合劑樹脂及蠟，將形成之經捏和產物冷卻，將經捏和產物粉碎並分級；懸浮造粒方法，包括將藉由將黏合劑樹脂及蠟溶解或分散於溶劑中所製備的溶液導入水性介質中以使之懸浮且造粒，移除溶劑得到調色劑粒子；懸浮聚合方法，包括將含有可聚合單體、蠟、著色劑等之可聚合單體組成物分散於水性介質中，進行聚合反應以製備調色劑粒子；及乳液混凝法，包括藉由使聚合物細粒及蠟分凝的形成細粒分凝物步驟及使細粒分凝物中之細粒進行熔合以得到調色劑粒子之時效化步驟。
下文描述藉粉碎方法製造調色劑的製程。首先，在原料混合步驟中，稱量出預定量之黏合劑樹脂、蠟及(視需要)其他組份，諸如著色劑、電荷控制劑及無機細粒、組合並混合。混合裝置之實例包括雙錐混合器、V型混合器、鼓型混合器、超級混合器、Henschel混合器、Nauta混合器及MECHANO HYBRID(NIPPON COKE & ENGINEERING CO.,LTD.製)。接著，在熔體捏和步驟中，將形成之混合材料熔融捏和，以將蠟等分散於黏合劑樹脂中。此步驟中，可使用分批型捏和機，諸如加壓捏和機或Banbury混合器或連續捏和機。主要使用單螺桿或雙螺桿擠塑機，因為有連續製造之優勢。擠塑機之實例包括KTK雙螺桿擠塑機(Kobe Steel,Ltd.製)、TEM雙螺桿擠塑機(TOSHIBA MACHINE CO.,LTD.製)、PCM擠塑機(Ikegai Corp.製)、雙螺桿擠塑機(KCK製)、共捏和機(Buss製)及KNEADEX(NIPPON COKE & ENGINEERING CO.,LTD.製)。再者，藉熔融捏和所製得之樹脂組成物可藉雙輥磨或諸如此類者輥壓製得。之後，可進行以水或諸如此類者將樹脂組成物冷卻之冷卻步驟。
接著，在粉碎步驟中，將形成之樹脂組成物粉碎以具有所需之粒徑。在粉碎步驟中，以碾磨機(例如壓碎機、錘磨機或羽磨機(feather mill))進行粗粒碾磨後，進一步以Kryptron System(Kawasaki Heavy Industries Ltd.製)、Super Roater(NISSHIN ENGINEERING INC.製)、Turbo Mill(FREUND-TURBO CORPORATION製)或使用空氣噴射系統之細粒粉碎機進一步進行細粒粉碎，得到粉碎產物。之後，若需要，使用分級器或過篩機諸如使用固裝式分級系統之Elbow-Jet(Nittetsu Mining Co.,Ltd.製)、使用離心分級系統之Turboplex(Hosokawa Micron Corporation製)、TSP分離器(Hosokawa Micron Corporation製)或Faculty(Hosokawa Micron Corporation製)進行分級步驟。再者，在粉碎後，亦可視情況使用Hybridization System(NARA MACHINERY CO.,LTD.製)、Mechanofusion系統(Hosokawa Micron Corporation製)或Faculty(Hosokawa Micron Corporation製)進行調色劑粒子之表面處理諸如球體化處理。
為得到本發明調色劑所使用之調色劑粒子，在得到粉碎產物(原料調色劑)之後，可使用熱處理裝置進行表面處理。圖1說明使用熱處理裝置進行粉碎產物之熱處理的流程。
將熱空氣供應單元2、原料供應單元8及冷空氣供應單元3、4及5配置於熱處理裝置1之上游。將袋(調色劑收集單元)19及鼓風機20配置於熱處理裝置1之下游。
原料供應單元8藉壓縮氣體將原料調色劑提供至熱處理裝置1之調色劑處理空間。調色劑處理空間係熱處理裝置主體中實質圓柱形之空間，在此空間中進行原料調色劑的熱處理。將壓縮氣體供應單元15配置於進料器16之下游，以將固定量之原料調色劑進料至該調色劑處理空間。
熱空氣供應單元2使用其內部所配置之加熱器17將外部空氣加熱並將熱空氣提供至調色劑處理空間。原料調色劑於調色劑處理空間中藉此熱空氣球體化。將冷空氣供應單元3、4及5連接至熱處理裝置1之主體，以將經熱處理之調色劑冷卻。將冷空氣自冷空氣供應裝置30提供 至冷空氣供應單元3、4及5。藉調色劑收集單元19收集已於調色劑處理空間中經熱處理之調色劑。作為調色劑收集單元19，使用例如旋風機或雙旋風機。已使用於原料調色劑熱處理之熱空氣藉作為抽氣排料單元之鼓風機20抽氣且排放至熱處理裝置1系統外。
其次，描述熱處理裝置。圖2A至2C係為說明熱處理裝置之實例的視圖。熱處理裝置係設計成裝置外圍之最大直徑為500 mm，自裝置底面至頂板(粉末導入管之出口)的高度約1,200 mm。圖2A說明熱處理裝置之外觀。圖2B說明熱處理裝置之內部結構。圖2C為原料供應單元8外部之放大視圖。應注意以下描述之裝置的裝置結構及操作條件係基於裝置具有前述尺寸之假設下所決定。
原料供應單元8包括延伸於徑向之第一噴嘴9及位於第一噴嘴9內之第二噴嘴10。提供至原料供應單元8之原料調色劑的流率藉由來自壓縮氣體供應單元15之壓縮空氣加速，原料調色劑通經在第一噴嘴9與第二噴嘴10之間所形成提供於原料供應單元8出口部分之空間，向外環狀噴向裝置中調色劑處理空間的圓周方向。
第一管狀元件6及第二管狀元件7係配置於原料供應單元8中，且壓縮氣體亦供料至管狀元件6及7之每一者。穿過第一管狀元件6之壓縮氣體通經在第一噴嘴9及第二噴嘴10之間所形成之空間。第二管狀元件7貫穿第二噴嘴10，且壓縮氣體自第二管狀元件7出口部分朝向第二噴嘴10噴向第二噴嘴10內表面。於第二噴嘴10之外周 表面上配置複數條突肋10B。此等突肋10B以曲線方式排列成朝向由熱空氣供應單元2(描述於下文)所提供之熱空氣的流動方向。在自原料供應單元8上游部分延伸至第一噴嘴9之原料流動路程中，原料供應單元8連接至第一噴嘴9之部分的直徑係設計成小於原料供應單元8上游末端之直徑。即是第二噴嘴10係配置成自連接於第二管狀元件7之部分向著出口部分方向發散。此因所供應調色劑粒子之流率曾在第一噴嘴9入口處加速，因此可進一步幫助原料調色劑分散。再者，在出口部分方向的末端，進一步改變發散角，以形成延伸於徑向之翻折部分10A。
在圖2A至2C之熱處理裝置中，熱空氣供應單元2係環狀配置於接近原料供應單元8外周表面之位置或在水平方向遠離原料供應單元8外周表面的位置。再者，用以冷卻經熱處理之調色劑且防止調色劑粒子因為裝置溫度增加而聚結及熔合的第一冷空氣供應單元3、第二冷空氣供應單元4及第三冷空氣供應單元5係配置於熱空氣供應單元2之外部及下游側。熱空氣供應單元2可環狀配置於在水平方向上遠離原料供應單元8外周部分的位置。此情況下，可防止第一噴嘴9及第二噴嘴10出口部分被所提供之熱空氣加熱，且自出口部分噴出之調色劑粒子熔融且彼此黏附的現象。
圖3係為部分剖面透視圖，說明熱空氣供應單元2及氣流動調整部分2A的實例。如圖3所說明，用以提供熱空氣以傾斜且旋轉方式進入裝置的氣流調整部分2A係配 置於熱空氣供應單元2之出口部分。氣流調整部分2A包括具有複數個刮板的百葉板。自圓柱形熱空氣供應單元2提供至該調色劑處理空間的熱空氣因氣流調整部分2A的百葉板而傾斜且於調色劑處理空間中旋轉。藉原料供應單元8進料之原料調色劑隨熱空氣之流動而旋轉。原料調色劑在旋轉下於該調色劑處理空間加以熱處理，藉以實質均勻的施加至調色劑粒子的每一顆。因此，可製得具有鮮明真圓度分布及鮮明粒徑分布的調色劑粒子。
氣流調整部分2A之百葉板的刮板數目及角度可根據原料類型及待處理之原料的量而適當的調整。有關氣流調整部分2A中百葉板之各刮板的傾斜角，各刮板主表面相對於垂直方向的角度較佳係20至70度，更佳係30至60度。當刮板的傾斜角介於前述範圍內時，可在熱空氣於裝置中適當地旋轉下壓抑垂直方向風速之降低。結果，即使待處理之原料量增加，防止調色劑粒子聚結，亦壓抑形成真圓度0.990或以上之調色劑粒子的形成頻率，此頻率對潔淨度有負面影響。此外，防止熱滯留於裝置頂部，此點對製造能量亦具有效率。
該熱處理裝置可包括冷空氣供應單元。圖4係為部分剖面透視圖，說明第一冷空氣供應單元3及氣流動調整部分3A的實例。如圖4所說明，氣流調整部分3A(其中百葉板之複數個刮板係於特定間隔下以傾斜方式配置)係配置於第一冷空氣供應單元3之出口部分，使得冷空氣於裝置中之該調色劑處理空間內旋轉。氣流調整部分3A之百 葉板的傾斜係調整至空氣實質上與目前述熱空氣供應單元2提供之熱空氣相同的方向旋轉(保持該調色劑處理空間中原料調色劑旋轉的方向)。此結構進一步增加熱空氣之旋轉力，且壓抑該調色劑處理空間之溫度增加，因而防止裝置外周部分上調色劑粒子之熔合及調色劑粒子之聚結。
第一冷空氣供應單元3之氣流調整部分3A之百葉板的刮板數目及角度可根據原料類型及待處理之原料的量而適當的調整。有關第一冷空氣供應單元3中百葉板之各刮板的傾斜角，各刮板主表面相對於垂直方向的角度較佳係20至70度，更佳係30至60度。當刮板之傾角介於前述範圍內時，裝置中調色劑處理空間中熱空氣及調色劑粒子之流動未被攪亂，亦防止熱於裝置上方部分滯留。
除了前述冷空氣供應單元外，熱空氣供應單元下方可另提供至少一個冷空氣供應單元，使得在提供冷空氣至裝置內部時，冷空氣係以在垂直方向分流之方式供料。例如，圖2A所說明之裝置係經結構化，使得冷空氣自各個第一冷空氣供應單元3、第二冷空氣供應單元4及第三冷空氣供應單元5以分流方式自四個方向導入之冷空氣至該調色劑處理空間。此結構針對輕易均一的控制風於裝置中之流動。於四個分流導入路徑中之冷空氣流的量可獨立控制。第二冷空氣供應單元4及第三冷空氣供應單元5可配置於第一冷空氣供應單元3下方，且可經結構化以自裝置外周部分自水平及切線方向供應冷空氣。
自裝置底部延伸至接近第二噴嘴10之圓柱14係配置 於裝置之軸中心部分。冷空氣亦導入柱14內，自柱14之外周表面排出冷空氣。柱14之出口部分經結構化，使得冷空氣於實質如同自熱空氣供應單元2供應之熱空氣及自第一冷空氣供應單元3、第二冷空氣供應單元4及第三冷空氣供應單元5(保持其中原料調色劑於調色劑處理空間中旋轉的方向)提供之冷空氣的旋轉方向之方向排出。柱14出口部分之形狀的實例包括狹縫形、百葉板形、多孔板形及網狀。
再者，為了防止調色劑粒子熔合，在原料供應單元8之各外周部分周圍、裝置之外周部分及熱空氣提供單元2之內周部分提供冷卻套管。可在冷卻套管中導入抗凍劑諸如冷卻水或乙二醇。
供應至裝置內之熱空氣較佳在熱空氣供應單元2之出口部分具有100C450之溫度C(℃)。當熱空氣供應單元2之出口部分中熱空氣溫度介於前述範圍內時，可執行球體化處理，使得調色劑粒子之粒徑及真圓度實質均勻，同時防止調色劑粒子因為過熱而熔合及聚結。
各第一冷空氣供應單元3、第二冷空氣供應單元4及第三冷空氣供應單元5中每一單元之溫度E(℃)較佳係-20E40。當各冷空氣供應單元中之溫度介於前述範圍內時，該調色劑粒子可適當地冷卻且可防止調色劑粒子熔合及聚結。
冷卻後調色劑粒子通經調色劑卸除口13且隨之被收集。鼓風機20配置於調色劑卸料口13之下游側，藉鼓風 機20將調色劑粒子吸取及卸出。調色劑卸料口13係配置於裝置底部使其與裝置外周部分成水平。卸料口13係於保持自裝置上游部分至卸料口13之方向因旋轉所致之流動方向加以連接。
熱處理裝置中，壓縮氣體、熱空氣及冷空氣(所有物質皆係供料至該裝置)之總量QIN及藉鼓風機20抽吸之氣體的量QOUT較佳係經調整，以滿足關係式QINQOUT。當滿足QINQOUT關係式時，裝置中壓力係負壓。是故，所噴射之調色劑粒子易卸除至裝置外，因此防止調色劑粒子過度接收熱。結果，可防止裝置中聚結之調色劑粒子增加及調色劑粒子熔合。
本發明調色劑可用以作為單組份顯影劑。或者，為進一步改善點狀複製性且得到長時間安定性，本發明調色劑可與磁性載體混合並用為雙組份顯影劑。用以與調色劑組合之磁性載體具有較佳為3.2 g/cm3 或以上且4.9 g/cm3 或以下的真實比重，更佳3.4 g/cm3 或以上及4.2 g/cm3 或以下。當磁性載體之真實比重介於前述範圍中時，在顯影裝置中於顯影劑攪拌期間施加之負載降低，壓低在高覆蓋率(列印比40%或以上)下於續航期間的調色劑殘存。再者，亦壓低非影像區中因為調色劑摩擦生電電荷之量降低所致之非影像區模糊的發生。
與本發明調色劑組合使用之磁性載體較佳係具有基於體積分布之50%粒徑(D50)30.0 μm或以上且係70.0 μm或以下。當磁性載體之50%粒徑D50介於前述範圍內 時，穩定的得到調色劑電荷量。有關與本發明調色劑組合使用之磁性載體的磁化量，就保持在續航期間保持顯影性及安定性的觀點而言，在1,000奧斯特(σ1000)磁場下測量之磁化強度較佳係15 Am2 /kg(emu/g)或以上且係65 Am2 /kg(emu/g)或以下。
磁性載體之實例包括金屬粒子，諸如鐵、鋰、鈣、鎂、鎳、銅、鋅、鈷、錳、鉻或稀土；其合金粒子及氧化物粒子；磁性材料諸如亞鐵酸鹽；及含有磁性材料及使磁性材料保持於分散狀態之黏合劑樹脂之樹脂載體(所謂樹脂載體)的分散有磁性材料的樹脂載體。
當調色劑與磁性載體混合且用為雙組份顯影劑時，若該調色劑於顯影劑中之濃度為2質量%或以上且為15質量%或以下，則得到良好結果，較佳係4質量%或以上且為13質量%或以下。
現在描述在電子照相裝置中之影像形成方法。電子照相感光性元件(影像承載元件)在特定圓周速度下被驅動旋轉，且其表面在旋轉期間藉生電裝置而帶正電或負電(生電步驟)。之後，電子照相感光性元件藉影像曝照裝置而被施以曝照(諸如狹縫曝照或雷射光束掃描曝照)。因此，於感光性元件表面上形成對應於曝照影像之靜電潛在影像(潛在影像形成步驟)。調色劑自顯影套筒供料至具有靜電潛在影像之電子照相感光性元件以顯影調色劑影像(顯影步驟)。調色劑影像藉轉移裝置轉移至轉移材料(轉移步驟)。調色劑影像可直接或經由中間轉移元件轉移 至轉移材料。自感光性元件表面分離轉移材料後，該調色劑影像藉自影像固定裝置施加熱且/或壓力而固定至轉移材料，且轉移材料以雙份形式輸出至裝置外。影像轉移後，藉清洗裝置移除位在電子照相感光性元件表面上的轉移殘留調色劑(清洗步驟)。
本發明調色劑可使用於包括刮板清洗步驟的影像形成方法，其中藉使刮板與影像承載元件表面接觸，而執行清洗。例如，當其中使用具有高值平均真圓度且包括高比例之真圓度0.990或以上的調色劑粒子時，諸如包括藉懸浮聚合方法製得的調色劑粒子之調色劑，調色劑易通經介於影像承載元件及清洗刮板間之間隙，潔淨度因而不佳。此情況下，可藉由使用具有高值彈性變形率的影像承載元件而改善起始潔淨度，以增加影像承載元件與清洗刮板間之接觸夾輥部分的平均接觸表面壓力。然而，在續航後，因為刮板振動，故易降低潔淨度。
相對地，當使用本發明調色劑時，因為真圓度為0.990或以上的粒子之比例小，故潔淨度佳，且可使用具有相對低彈性變形率的影像承載元件。通常，當影像承載元件之彈性變形率低時，潔淨度降低，但影像承載元件耐久性佳。在使用本發明調色劑時，可使用具有相對低彈性變形率的影像承載元件，因而可得到時間週期長的穩定潔淨度。再者，本發明調色劑具有較藉已知粉碎方法製得之調色劑高的平均真圓度。因此，本發明調色劑除潔淨度之外，可轉移性及顯影性亦極優異。
影像承載元件表面之彈性變形率較佳係40%或以上且70%或以下。當影像承載元件表面之彈性變形率介於前述範圍內時，影像承載元件表面不易磨損且極耐用。此外，因為清洗刮板之耐磨性增加，故不易發生清洗刮板振動及清洗刮板捲邊的狀況。影像承載元件表面之彈性變形率更佳係45%或以上且60%或以下。
介於清洗刮板與感光性元件之間的接觸表面壓力較佳係10 gf/cm2 或以上且30 gf/cm2 或以下。為了使影像承載元件上之轉移殘留調色劑不會輕易通經清洗刮板之間隙，較佳係增加介於清洗刮板與感光性元件之間的接觸表面壓力。然而，若清洗刮板與影像承載元件之間的壓力過高，則續航期間，尤其是在高溫高濕度環境中(溫度：32.5℃，濕度80% RH)，清洗刮板表面與影像承載元件表面之間的耐磨性增加，且於清洗刮板上施以過大負載。若於清洗刮板上施以過大負載，則可能發生清洗刮板邊緣剝離或清洗刮板捲邊，且可能因為清洗刮板邊緣剝離或清洗刮板捲邊導致缺陷性清洗。此種現象尤其明顯的易發生於電子照相感光性元件最外表層材料之摩擦係數μ增加的情況，因為清洗刮板與電子照相感光性元件間之耐磨性增加。
影像承載元件之表面可由藉聚合或具有可聚合官能基之化合物進行交聯而固化的樹脂(以下可稱為"可固化樹脂")所構成。此情況下，進一步改善影像承載元件之耐久性。交聯方法之實例係為一種方法，其包括將在用以製備影像承載元件之塗覆材料中具有可聚合官能基的單體或 寡聚物，藉由施加塗覆材料形成薄膜，將薄膜乾燥，且接著藉加熱且施加輻射或電子束之後使薄膜進行聚合。
即使清洗刮板接觸輥部分之平均接觸表面壓力增加，清洗刮板之耐摩擦性增加可藉由結合前述影像承載元件及本發明調色劑而壓低。結果，可壓低清洗刮板之振動及清洗刮板之捲邊，且電暈產物(NOx 及臭氧)可藉由生電滾輪及影像承載元件間之放電流加以刮除。結果，可壓抑電暈產物所致之影像消除。
含可固化樹脂之表面可具有電荷傳送功能或不具電荷傳送功能。當含有可固化樹脂之最外表層具有電荷傳送功能時，最外表層以作為感光性層之一部分的形式處理最外表層。當最外表層不具有電荷傳送功能時，最外表層係表示下述保護層(或表面保護層)，與感光性層不同。
有關影像承載元件之感光性層的層狀結構，可使用任何一種正常堆疊層結構，其中電荷生成層及電荷傳送層係依該順序自導電性擔體側開始堆疊；逆堆疊層結構，其中電荷傳送層及電荷生成層係以該順序自導電性擔體側開始堆疊；及包括單一層的結構，該層中分散著電荷生成材料及電荷傳送材料。
在由單層構成之感光層中，光載體之生成及移動係於相同層中進行，感光層本身係作為表層。相對地，由堆疊層構成之感光層具有一種結構，其中堆疊生成光載體之電荷生成層及使所生成之載體在其中移動的電荷傳送層。
正常堆疊層結構，其中依序自導電性載體側開始堆疊 電荷生成層及電荷傳送層為最佳。
此情況下，影像承載元件可包括電荷傳送層，用以作為由含可固化樹脂之單層所構成的最外層表層。或者，影像承載元件可包括電荷傳送層，此層具有堆疊層結構，包括非可固化第一層及可固化第二層，用以作為最外層表層。此兩影像承載元件皆較佳。
在單層及堆疊層之兩情況下，皆可於感光層上提供保護層。此情況下，保護層可含有可固化樹脂。
下文描述用以測量本發明調色劑及調色劑原料之性質的方法。
測量調色劑之平均真圓度、等效圓直徑為0.50 μm或以上且小於1.98 μm之粒子數的百分比及真圓度0.990或以上之粒子數百分比的方法
本發明調色劑之平均真圓度、等效圓直徑0.50 μm或以上且小於1.98 μm的粒子數百分比及真圓度0.990或以上的粒子數百分比係以流動粒子影像分析器"FPIA-3000"(SYSMEX CORPORATION製)測量。
特定測量方法如下。首先，將約20 mL已預先移除固體雜質及諸如此類者之離子交換水置入玻璃容器中。作為分散劑，約0.2 mL之稀溶液添加至離子交換水，該稀溶液係藉以離子交換水於以質量計約三倍稀釋Contaminon N而製備(10質量%中性清潔劑之水溶液，用以洗滌精密測量裝置，含非離子性界面活性劑、陰離子界面活性劑及有 機增量劑，pH為7，Wako Pure Chemical Industries,Ltd.製)。此外，添加約0.02 g測量試樣，分散處理係使用超音波分散裝置進行2分鐘，以製備用以測量之分散液。此步驟中，適當的執行冷卻，使分散液之溫度變成10℃或較高或係40℃或較低。使用振盪頻率50 kHz且電輸出150W之桌上型超音波清潔器/分散器(例如，VS-150，取自Velvo-Clear)作為超音波分散器。將預定量之離子交換水放置於裝置之水槽中，將約2 mL之Contaminon N添加至此水槽中。
測量中，使用在裝有標準接物鏡(10倍)的前述流動粒子影像分析器，且使用PARTICLE SHEATH(PSE-900A)(SYSMEX CORPORATION製)作為鞘流。前述程序所製備之分散液導入流動型粒子影像分析器內，根據HPF測量模式中總計數模式測量3,000顆調色劑粒子。粒子分析中二元臨限值設定於85%，且規定待分析之粒徑範圍。因此，可計算粒子數比例(%)及粒子在規定範圍內的平均真圓度。有關調色劑之平均真圓度，待分析粒徑範圍基於等效圓直徑設定於1.98 μm或以上且小於200.00 μm，且決定調色劑在此範圍中之平均真圓度。有關真圓度為0.990或以上且為1.000或以下的粒子之比例，待分析之粒徑範圍基於等效圓直徑設定於1.98 μm或以上且小於200.00 μm，自該範圍內所包括粒子之真圓度分布計算粒子數之比例(%)。有關等效圓直徑為0.50 μm或以上且小於1.98 μm的粒子(小粒)比，待分析之粒徑範圍基於 等效圓直徑設定於0.50 μm或以上且小於1.98 μm，計算在0.50 μm或以上且小於1.98 μm範圍內所包括粒子之數目相對於0.50 μm或以上且小於200.00 μm之範圍內所包括之粒子數的比例(%)。
測量時，在使用標準乳膠粒子開始測量之前進行自動焦點調整(例如，藉由在RESEARCH AND TEST PARTICLES Latex Microsphere Suspensions 5200A，Duke Scientific Corporation製，以離子交換水稀釋所製備之樣品)。較佳係在開始測量後每兩小時調整焦點一次。
本案實施例中，使用流動粒子影像分析器，此分析器已藉SYSMEX CORPORATION校正，且已藉SYSMEX CORPORATION所提出之校正確認。
計算P1及P2之方法
FT-IR光譜係藉ATR方法使用裝有通用ATR取樣附件之富利葉轉換紅外線光譜儀(Spectrum One,PerkinElmer Inc.製)測量。明確之測量程序及計算P1、P2及由P1除以P2所決定之比例〔P1/P2〕的方法如下。
紅外線入射角係設定於45°。使用鍺(Ge)ATR結晶(折射率=4.0)及KRS5 ATR結晶(折射率=2.4)係用以作為ATR結晶。其他條件如下：
範圍
開始：4,000 cm-1
結束：600 cm-1 (Ge ATR結晶)
400 cm-1 (KRS5 ATR結晶)
歷時
掃描數：16
解析度：4.00 cm-1
進階：進行CO2 /H2 O校正。
計算P1之方法
(1)將Ge ATR結晶(折射率=4.0)安置於光譜儀。
(2)"掃描類型"設定於"背景"且"單位"設定於"EGY"。於此等條件下測量背景值。
(3)"掃描類型"設定於"試樣"，且"單位"設定於"A"。
(4)精稱出0.01 g調色劑，置於ATR結晶上。
(5)以壓力臂施壓於試樣("測力計"設定於90)。
(6)執行試樣之測量。
(7)對所得之FT-IR光譜施以"自動校正"中之基線校正。
(8)計算2,843 cm-1 或以上且2,853 cm-1 或以下之範圍內的吸收峰強度的最大值(Pa1)。
(9)計算3,050 cm-1 之吸收強度與2,600 cm-1 之吸收強度的平均(Pa2)。
(10)自Pa1扣除Pa2所計算的值係定義為Pa(Pa1-Pa2=Pa)。此值Pa係定義為在2,843 cm-1 或以上且為2,853 cm-1 或以下之範圍內的最大吸收峰強度。
(11)計算1,713 cm-1 或以上且1,723 cm-1 或以下之範圍 內的吸收峰強度的最大值(Pb1)。
(12)計算1,763 cm-1 之吸收強度與1,630 cm-1 之吸收強度的平均(Pb2)。
(13)自Pb1扣除Pb2所計算的值係定義為Pb(Pb1-Pb2=Pb)。此值Pb係定義為在1,713 cm-1 或以上且為1,723 cm-1 或以下之範圍內的最大吸收峰強度。
(14)藉以Pb除Pa所計算的值定義為P1(Pa/Pb=P1)。
計算P2之方法
(1)將KRS5 ATR結晶(折射率=2.4)安置於光譜儀。
(2)精稱出0.01 g調色劑，置於ATR結晶上。
(3)以壓力臂施壓於試樣("測力計"設定於90)。
(4)執行試樣之測量。
(5)對所得之FT-IR光譜施以"自動校正"中之基線校正。
(6)計算2,843 cm-1 或以上且2,853 cm-1 或以下之範圍內的吸收峰強度之最大值(Pc1)。
(7)計算3,050 cm-1 之吸收強度與2,600 cm-1 之吸收強度的平均(Pc2)。
(8)自Pc1扣除Pc2所計算的值係定義為Pc(Pc1-Pc2=Pc)。此值Pc係定義為在2,843 cm-1 或以上且為2,853 cm-1 或以下之範圍內的最大吸收峰強度。
(9)計算1,713 cm-1 或以上且1,723 cm-1 或以下之範圍 內的吸收峰強度之最大值(Pd1)。
(10)計算1,763 cm-1 之吸收強度與1,630 cm-1 之吸收強度的平均(Pd2)。
(11)自Pd1扣除Pd2所計算的值係定義為Pd(Pd1-Pd2=Pd)。此值Pd係定義為在1,713 cm-1 或以上且為1,723 cm-1 或以下之範圍內的最大吸收峰強度。
(12)藉以Pd除Pc所計算的值定義為P2(Pc/Pd=P2)。
計算P1/P2之方法
該比例P1/P2係使用如前所述般決定的P1及P2計算。
測量樹脂之重量平均分子量(Mw)及波峰分子量(Mp)之方法
樹脂之重量平均分子量(Mw)及波峰分子量(Mp)係如下藉由凝膠滲透層析(GPC)測量。
首先，於室溫以24小時之時間將試樣(樹脂)溶於四氫呋喃(THF)。形成之溶液隨後以孔徑為0.2 μm之耐溶劑膜濾器MAISHORI Disk(Tosoh Corporation製)過濾以製備試樣溶液。調整試樣溶液使的可溶於THF中之組份係為約0.8質量%的濃度。使用此試樣溶液於下列條件下進行測量：
裝置：HLC8120 GPC(偵測器：RI)(Tosoh Corporation 製)。
管柱：7支管柱組合，Shodex KF-801、802、803、804、805、806及807(Showa Denko K.K.製)
溶離劑：THF
流速：1.0 mL/min
爐溫：40.0℃
試樣注射量：0.10 ml
計算試樣分子量時，使用以標準聚苯乙烯樹脂製備之分子量校正曲線(例如，商標TSK Standard Polystyrene F-850、F-450、F-288、F-128、F-80、F-40、F-20、F-10、F-4、F-2、F-1、A-5000、A-2500、A-1000及A-500，Tosoh Corporation製)。
蠟之最大吸熱波峰的測量
蠟之最大吸熱波峰係以差示掃描熱量計Q1000(TA Instruments製)根據ASTM D3418-82測量。裝置之偵測部分的溫度校正係使用銦及鋅之熔點執行，熱量之校正係使用銦之熔融熱執行。
蠟之最大吸熱波峰係明確的如下測量。
準確稱出約5 mg之蠟，置入鋁盤中。使用空鋁盤作為基準。在30℃至200℃測量溫度範圍且溫度增加速率為10℃/min下進行測量。測量中，溫度一度增加至200℃且隨之降至30℃。之後，溫度再次增加。此第二溫度增加過程中，將DSC曲線在30℃至200℃之溫度範圍中之 最大吸熱波峰定義為蠟之DSC測量中吸熱曲線的最大吸熱波峰。
測量重量平均粒徑(D4)及數量平均粒徑(D1)之方法
調色劑之重量平均粒徑(D4)及數量平均粒徑(D1)係如下文所述般計算。使用裝配100-μm口管之精密粒徑分布分析儀Coulter Counter Multisizer 3(註冊商標Beckman Coulter,Inc.製)且使用孔隙電阻法作為測量裝置。所附專屬軟體Beckman Coulter Multisizer 3 Version 3.51(Beckman Coulter,Inc.製)用以設定測量條件且分析測量數據。進行測量，有效測量通道之數目為25,000。
至於用於測量之電解質水溶液，可使用藉著將分析級氯化鈉溶解於離子交換水中製備溶液，濃度約1質量%，例如，ISOTON II(Beckman Coulter,Inc.製)。
在測量及分析之前，如下設定專屬軟體。
在專屬軟體之"標準操作方法(SOM)之修飾"的螢幕上，對照模式中總計數的數目係設定於50,000顆粒子，測量次數係設定於一個時間，且Kd值係設定於使用"Standard particles 10.0 μm"(Beckman Coulter,Inc.製)所得之值。臨限值及雜訊位準藉由按壓"臨限值/雜訊位準測量鈕"而自動設定。此外，電流設定於1,600 μA，增值設定於2，電解質溶液設定於ISOTON II，檢測標記係輸入於"測量後執行之口管沖洗"。
專用軟體之"脈衝-對-粒徑轉換設定"螢幕上，bin間隔 係設定於對數粒徑，粒徑bin係設定於256粒徑bin，粒徑範圍係設定於2μm至60 μm。
現在描述特定測量方法。
(1)將約200 mL前述電解質水溶液置入專屬於Multisizer 3的250-mL圓底玻璃燒杯中，將燒杯安置於試樣架中。以攪拌桿於24轉/秒之速度下在逆時針方向執行攪拌。藉由專屬軟體之"孔口沖洗"功能移除口管內之污染及氣泡。
(2)將約30 ml電解質水溶液置入100 ml平底玻璃燒杯內。作為分散劑，約0.3 mL之稀溶液添加至電解質水溶液，該稀溶液係藉以離子交換水於以質量計約三倍稀釋Contaminon N而製備(10質量%中性清潔劑之水溶液，用以洗滌精密測量裝置，含非離子性界面活性劑、陰離子界面活性劑及有機增量劑，pH為7，Wako Pure Chemical Industries,Ltd.製)。
(3)準備超音波分散裝置Ultrasonic Dispersion System Tetora 150(Nikkaki Bios Co.,Ltd.製)，其具有120 W電輸出，包括兩個振盪頻率50 kHz之振盪器，配置使相差為180度。將約3.3 L離子交換水置入超音波分散裝置之水槽中，將約2 mL之Contaminon N添加至水槽。
(4)將前述第(2)項中之燒杯設置於超音波分散裝置中供燒杯使用之固定孔中，操作超音波分散裝置。調整燒杯之高度位置，使得燒杯中電解質水溶液之液面的共振狀態變成最大值。
(5)少量逐份將約10 mg調色劑添加至電解質水溶液，在將超音波施加至第(4)項中燒杯內電解質水溶液下加以分散。隨後，超音波分散處理持續額外60秒。在超音波分散期間，水槽之水溫適當地調至10℃或更高且40℃或更低。
(6)第(5)項之電解質水溶液，其中分散有調色劑，使用吸量管逐滴添加至第(1)項設置於試樣架中之圓底燒杯，使測量濃度調至約5%。之後，執行測量直至測量之粒子數達到50,000個。
(7)藉裝置所附之專屬軟體分析測量數據以計算重量平均粒徑(D4)及數量平均粒徑(D1)。此分析中，當專屬軟體中設定"以體積計之圖形%時，"分析/體積統計值(對數平均)"螢幕上之"平均直徑"係為重量平均粒徑(D4)。當專屬軟體中設定"以數量計之圖形%時，"分析/體積統計值(對數平均)"螢幕上之"平均直徑"係為數量平均粒徑(D1)。
計算細粒(粒子4.0 μm或以下)之量的方法
調色劑中細粒(粒徑4.0 μm或以下)之量(數量%)以數量計係藉以前述Multisizer 3進行測量加以計算，隨後分析數據。
粒徑4.0 μm或以下之粒子的百分比以調色劑中數量計係藉以下程序計算。首先，在專屬軟體中，設定"以數量計之圖形%"，使得測量結果之圖表係以數量百分比為單 位表示。接著，在"格式/粒徑/粒徑統計"之螢幕上在粒徑設定部分輸入"<"，且在粒徑設定部分的粒徑輸入部分輸入"4"。在"分析/數值統計值(對數平均)"之螢幕上"<4 μm"顯示部分之數值係調色劑中直徑4.0 μm或以下之粒子以數量計的百分比。
計算粗粒(粒子10.0 μm或以上)之量的方法
調色劑中粗粒(粒徑10.0 μm或以上)之數量(體積%)以體積計係藉以前述Multisizer 3進行測量加以計算，隨後分析數據。粒徑10.0 μm或以上之粒子的百分比以調色劑中體積計係藉以下程序計算。首先，在專屬軟體中，設定"以體積計之圖形%"，使得測量結果之圖表係以體積百分比為單位表示。接著，在"格式/粒徑/粒徑統計"之螢幕上在粒徑設定部分輸入">"，且在粒徑設定部分顯示的粒徑輸入部分輸入"10"。在"分析/數值統計值(對數平均)"之螢幕上">10 μm"顯示部分之數值係調色劑中直徑10.0 μm或以下之粒子以體積計的百分比。
用以測量磁性載體及磁性載體核心材料的磁化強度之方法
磁性載體及磁性載體核心材料之磁化強度可使用振動磁場型磁特徵測量裝置(振動試樣磁力計)或直流磁化特徵記錄裝置(B-H示蹤劑)決定。本發明實施例中，藉以下程序使用振動磁場型磁性特徵測量裝置BHV-30(Riken Denshi Co.,Ltd.製)而進行測量。
(1)充分致密地充填載體的圓柱型塑料容器係用作試樣。測量填裝容器之載體的實際質量。之後，塑膠容器中之磁性載體粒子以快乾膠黏合，使得磁性載體粒子不會移動。
(2)在5,000/4π(kA/m)之外在磁場軸及磁化力矩軸係使用標準試樣校正。
(3)磁化強度係自磁化力矩迴圈測量，該磁化力矩係於掃描率設定於5分鐘/圈且外加磁場為1,000/4π(kA/m)時得到。基於此等結果，磁化強度係除以試樣質量，以決定載體之磁化強度(Am2 /kg)。
用以測量體積分布為主之磁性載體的50%粒徑(D50)之方法
粒徑分布係使用雷射繞射/散射粒徑分布分析器Microtrac MT3300EX(NIKKISO CO.,LTD.製)測量。乾式測量之試樣進料裝置，即，一次性乾燥型試樣調節器Turbotrac(NIKKISO CO.,LTD.製)係附接至執行測量。有關Turbotrac之供料條件，使用粉塵收集器作為真空來源，氣流率又設定於約33 L/sec，且壓力設定於約17 kPa。對照組係藉由軟體自動的執行。50%粒徑(D50)係粒徑般決定，係為以體積計之累積值。使用所附軟體執行對照及分析(Version 10.3.3-202D)。
測量條件如下：
設定時間零：10秒
測量時間：10秒
測量次數：一次
粒子折射率：1.81
粒子形狀：非球形
測量上限：1,408 μm
測量下限：0.243 μm
測量環境：室溫及常濕環境(23℃ 50% RH)
測量磁性載體之實際比重的方法
磁性載體之實際比重係以乾式自動密度計Accupyc 1330(Shimadzu Corporation製)測量。首先，精稱5 g試樣(已於23℃/50% RH環境中放置24小時)且置入測量構件(10 cm3 )中。測量構件係設置於測量裝置主體之試樣槽中。藉由將試樣重量輸入至主體且開始測量，可自動執行測量。有關自動測量之條件，使用在20.000 psig(2.392×102 kPa)調整之氦氣。試樣槽以氦氣換氣10次之後，試樣槽變成0.005 psig/min(3.447×10-2 kPa/分鐘)呈現平衡狀態，試樣槽重複以氦氣換氣，直至試樣槽中壓力變化達到平衡狀態。測量主體在平衡狀態之試樣槽中的壓力。自達到平衡狀態時壓力改變計算試樣體積。
因為可計算試樣體積，試樣之實際比重可藉下式計算。
試樣實際比重(g/cm3 )=試樣重量(g)/試樣體積(cm3 )
重複此自動測量五次所得之值的平均視為磁性載體及磁性核心的實際比重(g/cm3 )。
電子照相感光性元件最外表層之彈性變形率的測量
彈性變形率(%)係使用微硬度測量裝置Fischer Scope H100V(Fischer Instruments K.K.製)測量。詳言之，將最高6 mN之負載連續施加至Vickers三角錐方塊壓模，此者之相對面間具有136°角度，在25℃溫度及50%RH的環境中，配置於電子照相感光性元件之最外表層的表面上，直接讀取負載下印壓深度。逐步進行測量(273點，每一點各0.1 s)自起始負載0 mN至最終負載6 mN。
彈性變形率可基於由壓模施加至電子照相感光性元件最外表層表面的工作負載(能量)決定，此時壓模係壓入電子照相感光性元件最外表層表面，即，因為壓模施加至電子照相感光性元件最外表層之表面的負載增加及降低，造成能量變化。詳言之，彈性變形率可藉下式決定：彈性變形率(%)=(We/Wt)×100。
前述式中，“Wt(nJ)”係表示功之總量，“We(nJ)”係表示由彈性變形所完成之功的量(nJ)。
 聚酯樹脂A之製造實施例
．聚環氧丙烷(2.2)-2,2-雙(4-羥基苯基)丙烷：55.1質量份
．聚環氧乙烷(2.2)-2,2-雙(4-羥基苯基)丙烷：19.3質量份
．對苯二甲酸：8.0質量份
．苯偏三酐：6.9質量份
．反丁烯二酸：10.5質量份
．四丁氧基鈦：0.2質量份
將前述材料置入4-L四頸玻璃燒瓶中。於四頸玻璃燒瓶附接溫度計、攪拌棒、冷凝器及氮導管，將燒瓶置入罩式加熱器中。接著，四頸燒瓶內部以氮氣置換，隨後於攪拌下逐漸增高溫度。形成之反應混合物於180℃攪拌下反應四小時。因此，得到聚酯樹脂A。有關GPC所測量之分子量，聚酯樹脂A之重量平均分子量(Mw)為5,000且波峰分子量(Mp)為3,000。聚酯樹脂A具有85℃軟化點。
聚酯樹脂B之製造實施例
．聚環氧丙烷(2.2)-2,2-雙(4-羥基苯基)丙烷：40.0質量份
．對苯二甲酸：55.0質量份
．己二酸：1.0質量份
．四丁氧基鈦：0.6質量份
將前述材料置入4-L四頸玻璃燒瓶中。於四頸玻璃燒瓶附接溫度計、攪拌棒、冷凝器及氮導管，將燒瓶置入罩式加熱器中。接著，四頸燒瓶內部以氮氣置換，隨後於攪拌下逐漸增高溫度至220℃。使形成之反應混合物反應八小時。之後，添加4.0質量份(0.021 mol)之苯偏三酐，使形成之反應混合物在180℃反應四小時。因此，得到聚酯樹脂B。有關GPC所測量之分子量，聚酯樹脂B之重量平均分子量(Mw)為300,000且波峰分子量(Mp)為10,000。聚酯樹脂B具有135℃軟化點。
調色劑製造實施例1
．聚酯樹脂A：60質量份
．聚酯樹脂B：40質量份
．Fischer-Tropsch蠟(最大吸熱波峰之波峰溫度：78°C)：5質量份
．3,5-二第三丁基水楊酸鋁：0.5質量份
．C.I.顏料藍15：3：5.0質量份
．疏水性二氧化矽粒子1(表面經10質量%六甲基二矽氮烷處理，數量平均粒徑：90 nm)：2.0質量份
前述材料於Henschel混合器(型號FM-75，Mitsui Miike Kakoki K.K.製)中混合且隨之以設定於120℃溫度的雙螺桿捏和機(Model PCM-30,Ikegai Corp.製)捏和。將形成捏和產物冷卻，以錘磨機粗磨至1 mm或以下，因 此得到粗磨產物。粗磨產物以機械粉碎機(T-250，FREUND-TURBO CORPORATION製)粉碎以得到細粉狀產物。細粉狀產物利用Coanda效應以多分型分級機分級，因而得到調色劑粒子1。
接著，將3.0質量份疏水性二氧化矽細粒1添加至100質量份調色劑粒子1，形成之混合物使用Henschel混合機(型號FM-75，Mitsui Miike Kakoki K.K.製)混合。因此，得到添加細粒之調色劑粒子1。
添加細粒之調色劑粒子1以圖1所示之熱處理裝置施以表面處理，得到經表面處理之調色劑粒子1。
裝置內徑係450 mm。有關熱空氣供應單元之出口部分，內徑200 mm且外徑係300 mm。熱空氣經整流刮板(角度：50°，刮板厚度1 mm，刮板數：36)導入。原料供應單元第一噴嘴之脊角為40°，且第二噴嘴之脊角為60°。使用低端具有捲起部分的第二噴嘴。由捲起部分之脊線形成之角係140°且第二噴嘴之外徑為150 mm。此實施例所使用之熱空氣供應單元及熱處理裝置之第一噴嘴係彼此整合，具有隔熱結構，且覆有套管。
操作條件係設定如下：進料量(F)係15 kg/hr，熱空氣溫度(T1)係160℃，熱空氣流量(Q1)為12.0 m3 /min，冷空氣1總量(Q2)為4.0 m3 /min，冷空氣2總量(Q3)為2.0 m3 /min，壓縮空氣之流量(IJ)為1.6 m3 /min，鼓風機之空氣流量(Q4)為22.0 m3 /min。
形成之經表面處理的調色劑粒子1再次以多分型分級 器利用Coanda效應分級。因此，得到具有所需粒徑之已分級經表面處理調色劑粒子1。
接著，將1.0質量份之氧化鈦細粒(經16質量%異丁基三甲氧基矽烷表面處理，數量平均粒徑：10 nm)及0.8質量份疏水性二氧化矽細粒(經10質量%六甲基二矽氮烷表面處理，數量平均粒徑：20 nm)添加至100質量份已分級表面處理調色劑粒子1。形成之混合物使用Henschel混合機(型號FM-75，Mitsui Miike Kakoki K.K.製)混合得到調色劑1。所得調色劑1之性質出示於表2中。
調色劑製造實施例2至13及調色劑製造實施例16至20
如同調色劑製造實施例1般的製得調色劑2至13及調色劑16至20，不同處係調色劑製造實施例1中之調色劑配方及熱處理裝置條件係如表1所示般的改變。調色劑2至13及16至20之性質係列示於表2。
調色劑製造實施例14及15
調色劑製造實施例1中，調色劑配方係如表1所示般的改變。再者，在添加細粒之調色劑粒子的熱處理中，使用圖5所示之熱處理裝置。在圖1所示之熱處理裝置中，熱空氣自實質水平之方向導至裝置，而在圖5所示之熱處理裝置中，熱空氣係自實質垂直方向導入。此外，圖5所示之熱處理裝置不包括裝置軸向中心部分中之柱。因此，與使用圖1所示熱處理裝置之情況比較下，圖5所示之熱 處理裝置中，調色劑粒子通經熱處理空間之時間短，熱之施加亦易不均勻。
調色劑14及15之性質係列示於表2。
磁性載體製造實施例1
稱重及混合步驟
亞鐵酸鹽原料係如下文所述般的稱重。
．Fe2 O3 ：59.8質量%
．MnCO3 34.7質量%
．Mg(OH)2 ：4.6質量%
．SrCO3 ：0.9質量%
之後，此等材料在乾式球磨機中使用氧化鋯球(直徑：10 mm)碾磨且混合兩小時。
鍛燒步驟
碾磨且混合後，形成之混合物於960℃燈燒爐( burner firing furnace)中在空氣中鍛燒兩小時，以製備經鍛燒之亞鐵酸鹽。
碾磨步驟
經鍛燒之亞鐵酸鹽使用壓碎機碾至約0.5 mm。之後，將35質量份之水添加至100質量份之經鍛燒之亞鐵酸鹽，形成之混合物於濕式珠磨機中使用氧化鋯珠粒(直徑：1.0 mm)。因此，得到亞鐵酸鹽漿液。
造粒步驟
於亞鐵酸鹽漿液中，添加相對於100質量份經鍛燒之亞鐵酸鹽為1.5質量份作為黏合劑之聚乙烯醇。形成之混合物以噴霧乾燥器(Ohkawara Kakohki Co.,Ltd.製)造粒成球狀粒子。
燒成步驟
燒成係於控制燒成氛圍下在1,050℃下於氮氛圍(氧濃度為0.02體積%)中及電爐中進行4小時。
過篩步驟
聚結粒子崩散，隨後藉以篩孔為250 μm之篩網將崩散粒子過篩移除粗粒子，得到核心粒子1。
塗覆步驟
．聚矽氧亮光漆：75.8質量份(SR2410,Dow Corning Toray Co.,Ltd.製，固體含量：20質量%)
．γ-胺基丙基三乙氧基矽烷：1.5質量份
．甲苯：22.7質量份
將前述材料混合以製備樹脂溶液A。接著，將100質量份核心粒子1置入通用混合器(DALTON CORPORATION製)中，於減壓下加熱至50℃之溫度。樹脂溶液A以兩小時之時間逐滴添加至核心粒子1，在相對於100質量份核心粒子1充填樹脂組份時，量係對應於15質量份。再者，形成之混合物於50℃攪拌一小時。之後，溫度增至80℃，以移除溶劑。形成之試樣轉移至Julia Mixer(TOKUJU CORPORATION製)，於氮氛圍中在180℃熱處理兩小時。試樣經篩孔為70 μm之篩分級以製備磁性核心粒子1。
接著，將100質量份之磁性核心粒子1置入．Nauta Mixer(Hosokawa Micron Corporation製)中，於減壓下調至70℃，而於螺桿轉速100 min-1 且轉速3.5 min-1 下執行攪拌。樹脂溶液A以甲苯稀釋，使得其固體含量變成10質量%。樹脂溶液隨後置入其中，使得塗覆樹脂組份之量相對於100質量份磁性核心粒子1變成0.5質量份。以兩小時之時間執行溶劑之移除及塗覆操作。隨後使溫度增至180℃且攪拌持續兩小時。之後，將溫度降至70℃。將試樣轉移至通用混合機(DALTON CORPORATION製)。樹脂溶液A隨後置入其中，使得塗覆樹脂組份之量相對於 100質量份作為原料之磁性核心粒子1變成0.5質量份。以兩小時之時間執行溶劑之移除及塗覆操作。形成之試樣轉移至Julia Mixer(TOKUJU CORPORATION)，於氮氛圍中在180℃熱處理四小時。試樣經篩孔為70 μm之篩分級以製得磁性載體1。磁性載體1具有43.1 μm之D50及3.9 g/cm3 之實際比重。磁性載體1於1,000奧斯特下係52.7 Am2 /kg。
磁性載體製造實施例2
磁性載體2係如磁性載體製造實施例1般製得，不同處為在磁性載體製造實施例1之燒成步驟中，氧濃度變成0.3體積%且燒成溫度變成1,150℃。磁性載體2具有45.0 μm之D50及4.8 g/cm3之實際比重。磁性載體2於1,000奧斯特下係53.8 Am2 /kg。
磁性載體製造實施例3
．Fe2 O3 ：62.8質量%
．MnCO3 ：7.7質量%
．Mg(OH)2 ：15.6質量%
．SrCO3 ：13.9質量%
磁性載體3係如磁性載體製造實施例1般製得，不同處為在磁性載體製造實施例1中之稱重及混合步驟中，原料變成前述原料，在燒成步驟中，在空氣中於1300℃下進行燒成四小時。磁性載體3具有40.4 μm之D50及3.6 g/cm3 之實際比重。磁性載體3於1,000奧斯特下係52.1 Am2 /kg。
電子照相感光性元件製造實施例1
如下述般地製得電子照相感光性元件1。首先，裁切製備鋁圓柱(由JIS A3003所規定之鋁合金構成)，此柱具370 mm長度，32 mm之外徑及3 mm壁厚。此圓柱在轉軸方向測得之表面糙度係為Rzjis=0.08 μm。以含清潔劑(商標：Chemicohl CT,TOKIWA CHEMICAL INDUSTRIES CO.,LTD.製)之純水對圓柱施以超音波清洗。之後，潤洗去除清潔劑，另外在純水中進行超音波清洗以執行脫脂處理。
含60質量份具有由摻雜銻之氧化錫所構成的塗膜的氧化鈦粉末(商標：KRONOS ECT-62，Titan Kogyo Ltd.製)、60質量份氧化鈦粉末(商標：Titone SR-1T，Sakai Chemical Industry Co.,Ltd.製)、70質量份可溶酚醛樹脂型酚樹脂(商標：PHENOLITE J-325，DIC Corporation製，固體含量70%)、50質量份之2-甲氧-1-丙醇及50質量份甲醇之漿液係於球磨機中分散約20小時，以得到分散液體。此分散液中所含填料之平均粒徑為0.25 μm。
前述般製備之分散液藉浸漬方法施加至鋁圓柱上。塗覆有分散液之鋁圓柱體於熱空氣乾燥機加熱且乾燥48分鐘，乾燥器於150℃溫度調整以固化分散液之塗膜。因此，形成厚度為15 μm之導電層。
接著，將10質量份共聚耐綸樹脂(商標：AMILAN CM8000,Toray Industries,Inc.製)及30質量份甲氧甲基化耐綸樹脂(商標：TORESIN EF30T,Nagase ChemteX Corporation製)溶於500質量份甲醇與250質量份丁醇之混合液中，以製備溶液。此溶液藉浸漬施加於導電層上。塗覆有溶液之鋁圓柱體在100℃溫度下調整之熱空氣乾燥機加熱且乾燥22分鐘，以藉加熱及乾燥固化溶液之塗膜。因此，形成厚度為0.45 μm之底層。
接著，含有4質量份在Bragg角2θ±0.2°為7.4°及28.2°具有強波峰之羥基鎵酞花青顏料於CuKα射線繞射光譜、2質量份聚乙烯基丁醛樹脂(商標：S-LEC BX-1，Sekisui Chemical Co.,Ltd.製)及90質量份環己酮之混合溶液係於砂磨機中使用直徑1 mm之玻璃珠粒分散十小時。之後，將110質量份之乙酸乙酯添加至形成之混合溶液中，以製備電荷生成層所用之塗覆溶液。此塗覆溶液藉浸漬施加於底層上。塗覆有塗覆溶液之鋁圓柱體在80℃溫度下調整之熱空氣乾燥機中22分鐘，以藉加熱及乾燥固化塗覆溶液之塗膜。因此，形成厚度為0.17 μm之電荷生成層。
接著，將35質量份以下結構式(11)所示三芳基胺化合物及50質量份雙酚Z聚碳酸酯樹脂(商標：Iupilon Z400，Mitsubishi Engineering-Plastics Corporation製)溶於320質量份單氯苯及50質量份二甲氧甲烷中，以製備第一電荷傳送層所使用的塗覆溶液。此塗覆溶液藉浸漬 施加於電荷生成層上。塗覆有塗覆溶液之鋁圓柱體在100℃溫度下調整之熱空氣乾燥機加熱且乾燥40分鐘，以固化塗覆溶液之塗膜。因此，形成厚度為20 μm之第一電荷轉移層。
隨之，將30質量份具有可聚合官能基且由結構式(12)表示之電洞傳送化合物溶於35質量份1-丙醇及35質量份之1,1,2,2,3,3,4-七氟環戊烷(商標：ZEORORA H，ZEON Corporation製)。形成之溶液隨後以0.5-μm PTFE膜濾器加壓過濾。因此，製備用於作為可固化表層之第二電荷傳送層。此塗覆溶液藉浸塗法施加於第一電荷傳送層，以形成用於作為可固化表層之第二電荷傳送層的塗膜。塗膜隨後於氮中在加速電壓150 kV及劑量15kGy條件下以電子束照射。因此，得到具有固化塗覆膜之鋁圓柱體(電子照相感光性元件)。之後，熱處理在其中電子照相感光性元件之溫度變成120℃的條件下執行熱處理90秒。此時之氧濃度為10 ppm。再者，電子照相感光性元件於在100℃溫度下調整之熱空氣乾燥機中，於空氣中加熱20分鐘，形成厚度為5 μm之可固化表層。形成之影像承載元 件1具有55%彈性變形率。
電子照相感光性元件製造實施例2
影像承載元件係如電子照相感光性元件製造實施例1般，不同處係電子照相感光性元件製造實施例1中之電子束照射條件變成100kV之加速電壓且於氮中劑量為10 kGy。形成之影像承載元件2具有45%彈性變形率。
電子照相感光性元件製造實施例3
影像承載元件係如電子照相感光性元件製造實施例1般，不同處係電子照相感光性元件製造實施例1中之電子束照射條件變成200kV之加速電壓且於氮中劑量為20 kGy。形成之影像承載元件3具有65%彈性變形率。
實施例1至13及對照例1至7
藉著結合如表3所示之調色劑及磁性載體製備雙組份顯影劑。雙組份顯影劑係藉由相對於90.0質量份磁性載體添加10.0質量份調色劑，使用V型混合器混合該調色劑及磁性載體而製備。
如前文所述般製備之顯影劑係裝填於顯影裝置中且再 填裝於下述容器，將溫度及濕度控制於室溫及低濕度環境(溫度23℃，濕度：4% RH)或高溫且高濕環境(溫度32.5℃，濕度：80% RH)。
數位全彩影印機Image Press C1(CANON KABUSHIKI KAISHA製)係如下文所述般的加以修飾且作為評估機。
取出附接於前述機器之顯影裝置，以前文製備之影像承載元件1至3中任一種置換。將頻率1.5 kHz且峰對峰電壓(Vpp 1.0 kV)之交流電壓及直流電壓VDC 施加至顯影套筒。再者，修改清洗裝置，影像承載元件與清洗刮板間之接觸夾輥部分的平均接觸表面壓力係如表3所示般改變。再者，固定溫度已調成可自由設定。原先附接至機器之清潔刮板係於其原狀態下使用。
如下文所述般使用前述顯影劑及評估機達成評估。使用雷射光束列印紙張CS-814(A4,81.4 g/m2 )作為轉移材料。評估結果列示於表4。
於室溫及低濕環境中評估(溫度：23℃，濕度：4% RH)
影像安定性
將顯影裝置及再裝填容器設置於機器中。調整顯影偏壓，使得位在感光性元件上之調色劑顯影量變成0.42 g/cm2 ，輸出實心影像以進行起始評估。
接著，輸出15,000張(15 k)覆蓋率40%的影像，同時施加固定量之調色劑，使調色劑密度保持定值。完成15 k輸出時，進一步輸出實心影像，測量實心影像之密度。接著，進一步輸出15,000張(15 k)覆蓋率1%的影像，同時施加固定量之調色劑，使調色劑密度保持定值。因此，總共輸出30,000張(30 k)。完成30 k輸出時，再次輸出實心影像，測量實心影像之密度。
在各實心影像中，以密度計X-Rite 500測量任意5點之密度，將密度平均值定義為影像密度。決定影像密度D1-D15及D1-D30之改變率，其中D1係表示起始影像密度，D15係表示在15k輸出後的影像密度，且D30係表示輸出30k後之影像密度。
D1-D15之評估標準
A：影像密度D1-D15之改變率係低於0.05。
B：影像密度D1-D15之改變率係0.05或以上且小於0.10。
C：影像密度D1-D15之改變率係0.10或以上且小於0.15。
D：影像密度D1-D15之改變率係0.15或以上。
D1-D30之評估標準
A：影像密度D1-D30之改變率係低於0.10。
B：影像密度D1-D30之改變率係0.10或以上且小於0.15。
C：影像密度D1-D30之改變率係0.15或以上且小於 0.20。
D：影像密度D1-D30之改變率係0.20或以上且小於0.25。
E：影像密度D1-D30之改變率係0.25或以上。
於高溫及高濕環境中評估(溫度：32.5℃，濕度：80% RH)
設定顯影偏壓，使得在溫度32.5℃且濕度80% RH的環境中，施加於感光性元件上之調色劑顯影量變成0.42 g/cm2 。至於起始評估，如下文所述般進行非影像區中的霧狀度評估、潔淨度的評估及轉移殘留物的評估。
接著，輸出15,000張(15 k)覆蓋率40%的影像，同時施加固定量之調色劑，使調色劑密度保持定值。完成15k輸出後，進行非影像區中霧狀度評估及轉移殘留物之評估。
接著，輸出15,000張(15 k)覆蓋率1%的影像，同時施加固定量之調色劑，使調色劑密度保持定值。因此，總共輸出30,000張(30 k)。完成30k輸出後，進行非影像區中霧狀度評估及轉移殘留物之評估。
非影像區中霧狀度之評估
於起始階段、輸出15k後及輸出30k時輸出空白影像。測量距轉移材料末端50 mm位置的輸出紙張(即，轉移材料)之中心部分的霧狀度。前文測量之霧狀度扣除輸出 前之轉移材料密度以決定密度差。起始階段霧狀度密度差、輸出15k後霧狀度密度差及輸出30k後霧狀度密度差係基於下述評估標準進行評估。以密度計TC-6DS(Tokyo Denshoku Co.,Ltd.製)測量霧狀度密度。
起始階段的評估標準
A：霧狀密度差係低於0.5。
B：霧狀密度差係0.5或以上且小於1.0。
C：霧狀密度差係1.0或以上且小於2.0。
D：霧狀密度差係2.0或以上。
在15k輸出後之評估標準
A：霧狀密度差係低於1.0。
B：霧狀密度差係1.0或以上且小於1.5。
C：霧狀密度差係1.5或以上且小於2.5。
D：霧狀密度差係2.5或以上。
在30k輸出後之評估標準
A：霧狀密度差係低於1.0。
B：霧狀密度差係1.0或以上且小於1.5。
C：霧狀密度差係1.5或以上且小於2.5。
D：霧狀密度差係2.5或以上。
轉移效率(轉移殘留物之密度)
於起始階段、輸出15k後及輸出30k時輸出實心影像。此時，於顯影期間停止操作，在影像形成中位於感光鼓上之轉移殘留調色劑係以透明聚酯膠帶剝除。針對各試樣計算密度差，從將剝離膠帶黏貼於表面的紙張密度扣除僅黏貼膠帶於表面上的紙張密度。基於下述評估標準進行評估。轉移殘留物之密度係以X-Rite彩色反射密度計(500系列)測量。
起始階段的評估標準
A：密度差係低於0.10。
B：密度差係0.10或以上且小於0.15。
C：密度差係0.15或以上且小於0.25。
D：密度差係0.25或以上。
在15k輸出後之評估標準
A：密度差係低於0.15。
B：密度差係0.15或以上且小於0.20。
C：密度差係0.20或以上且小於0.25。
D：密度差係0.25或以上。
在30k輸出後之評估標準
A：密度差係低於0.15。
B：密度差係0.15或以上且小於0.20。
C：密度差係0.20或以上且小於0.30。
D：密度差係0.30或以上。
潔淨度評估
在輸出30k後，列印半色調影像，藉目測評估。
評估標準
A：未形成沾染。
B：稍有沾染形成，但無實際問題。
C：數處形成點狀及線性沾染。
D：明顯形成點狀及線性沾染。
實施例14及15
影像安定性、非影像區之霧狀度及轉移殘留物之密度係如實施例2般的評估，不同處係所使用之磁性載體係如表3所示般的改變。評估結果列示於表5。
藉由改變磁性載體之真實比重，減少花費於磁性載體之調色劑，改善因調色劑電荷量之降低所致之霧狀度。相信本發明調色劑具有良好之抗應力性，因此即使是磁性載體之真實比重改變，仍減少非影像區霧狀度退降。
實施例16至23
輸出大量紙張之前及之後的潔淨度如實施例2般評估，不同處係影像承載元件及介於影像承載元件與清洗刮板間之接觸夾輥部分的平均接觸表面壓力係如表3所示般的 改變。評估結果列示於表6。
雖起始階段之潔淨度係藉由增加介於影像承載元件與清洗刮板間之接觸夾輥部分的平均接觸表面壓力而加以改善，但在輸出大量紙張後，具有大型彈性變形率之影像承載元件的潔淨度因為清洗刮板振動而降低。然而，藉由使用本發明調色劑，抑制在輸出大量紙張後因為清洗刮板振動導致潔淨度降低。結果，相信可藉由採用此種影像形成方法可實現使用壽命的延長。
雖已參考例示具體實施態樣描述本發明，但應明瞭本發明不受限於所揭示之例示具體實施態樣。以下申請專利之範圍符合最廣義之闡釋，以涵蓋所有該等修飾及等效結構及功能。
1‧‧‧熱處理裝置
2‧‧‧熱空氣供應單元
2A‧‧‧氣流調整部分
3‧‧‧第一冷空氣供應單元
3A‧‧‧氣流調整部分
4‧‧‧第二冷空氣供應單元
5‧‧‧第三冷空氣供應單元
6‧‧‧第一管狀元件
7‧‧‧第二管狀元件
8‧‧‧原料供應單元
9‧‧‧第一噴嘴
10‧‧‧第二噴嘴
10A‧‧‧翻折部分
10B‧‧‧突肋
13‧‧‧收集單元
14‧‧‧柱
15‧‧‧壓縮氣體供應單元(噴射器)
16‧‧‧固定量原料進料器
17‧‧‧加熱器
19‧‧‧原料收集單元(袋)
20‧‧‧抽氣排放單元(鼓風機)
30‧‧‧冷空氣供應裝置
圖1係為說明熱處理裝置之流程。
圖2A至2C係為說明熱處理裝置之視圖。
圖3係為部分剖面透視圖，說明熱空氣供應單元2及空氣流動調節部分2A的實例。
圖4係為部分剖面透視圖，說明第一冷空氣供應單元 3及空氣流動調節部分3A的實例。
圖5係為說明目前已使用之熱處理裝置的視圖。
1‧‧‧熱處理裝置
2‧‧‧熱空氣供應單元
3‧‧‧第一冷空氣供應單元
4‧‧‧第二冷空氣供應單元
5‧‧‧第三冷空氣供應單元
8‧‧‧原料供應單元
15‧‧‧壓縮氣體供應單元(噴射器)
16‧‧‧固定量原料進料器
17‧‧‧加熱器
19‧‧‧原料收集單元
20‧‧‧抽氣排放單元(鼓風機)
30‧‧‧冷空氣供應部件

Claims (6)

  1. 一種調色劑，其包含：各含有黏合劑樹脂及蠟之調色劑粒子；及無機細粒，其中(i)該調色劑具有3.0μm或以上且8.0μm或以下的重量平均粒徑(D4)，(ii)使用具有512×512像素之影像處理解析度的流動粒子影像測量裝置之測量中，該調色劑滿足以下條件(a)及(b)：(a)有關等效圓直徑為1.98μm或以上且小於200.00μm之粒子，該調色劑之平均真圓度為0.960或以上及0.985或以下，真圓度為0.990或以上且1.000或以下的粒子以粒子數計之比例係25.0%或以下，且(b)等效圓直徑為0.50μm或以上且小於1.98μm之粒子相對於等效圓直徑為0.50μm或以上且小於200.00μm之粒子以粒子數計的比例係100%或以下，且(iii)滿足式(1)之關係：1.20P1/P22.00…式(1)其中P1=Pa/Pb且P2=Pc/Pd，Pa及Pb個別表示調色劑以鍺(Ge)作為ATR結晶於45°紅外線入射角藉衰減總反射(ATR)方法測量之富立葉 轉換紅外線(FT-IR)光譜在2,843cm-1 或以上且2,853cm-1 或以下之範圍內的最大吸收峰強度，及調色劑以鍺(Ge)作為ATR結晶於45°紅外線入射角藉衰減總反射(ATR)方法測量之富立葉轉換紅外線(FT-IR)光譜在1,713cm-1 或以上及1,723cm-1 或以下範圍內的最大吸收峰強度，且Pc及Pd個別表示調色劑以KRS5作為ATR結晶於45°紅外線入射角藉ATR方法測量之FT-IR光譜在2,843cm-1 或以上且2,853cm-1 或以下之範圍內的最大吸收峰強度，及調色劑以KRS5作為ATR結晶於45°紅外線入射角藉ATR方法測量之FT-IR光譜在1,713cm-1 或以上及1,723cm-1 或以下範圍內的最大吸收峰強度。
  2. 如申請專利範圍第1項之調色劑，其中該調色劑粒子係以熱空氣施以表面處理。
  3. 如申請專利範圍第1或2項之調色劑，其中該調色劑粒子係藉由以熱空氣對含有無機細粒之原料調色劑施以表面處理而製得。
  4. 一種雙組份顯影劑，其包含：如申請專利範圍第1項之調色劑；及磁性載體。
  5. 一種影像形成方法，其包含：生成電荷步驟，將影像承載元件充電；潛在影像形成步驟，於生成電荷步驟中被充電之影像承載元件上形成靜電潛在影像； 顯影步驟，使用含有調色劑之雙組份顯影劑將形成於影像承載元件上之靜電潛在影像顯影；轉移步驟，將位於影像承載元件上之調色劑影像直接或經由中間轉移元件轉移至轉移材料；清洗步驟，清洗影像承載元件表面上之轉移殘留調色劑；及固定步驟，藉由加熱及/或加壓將調色劑影像固定於轉移材料；其中該雙組份顯影劑係為如申請專利範圍第4項之雙組份顯影劑。
  6. 如申請專利範圍第5項之影像形成方法，其中該清洗步驟係刮板清洗步驟，藉由使刮板與影像承載元件表面接觸而進行清洗，影像承載元件之最外層表層具有40%或以上且70%或以下之彈性變形率。
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