KR900019038A - 다이나믹형 랜덤억세스메모리 - Google Patents
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 1실시예에 관한 dRAM의 일부를 나타낸 회로도.
Claims (6)
- 다이나믹형 메모리셀어레이에서 각 열의 비트선쌍(BL,)과 비트선감지증폭기(NA, PA)내의 1쌍의 감지노드(SN,)사이에 각각 전항전송회로가 접속되어 있으면서, 상기 비트선쌍(BL,)을 소정 타이밍에서 소정 전압으로 선충전시키는 회로(PR)를 갖춘 다이나믹형 랜덤 억세스메모리에 있어서, 상기 전하전송회로(NT1, NT2, PT1, PT2, S, D)는 비트선과 감지노드의 2단자간의 전위차에 의해 임피던스가 변화됨과 더불어, 제3단자의 전위와 상기 2단자의 일측전위사이의 차에 의해 오프상태로 되는 소자가 비트선측 단자와 비트선감지증폭기측단자사이에 접속되어 메모리셀데이터의 독출시에 상기 비트선쌍에 미소한 전위차가 생기는 시점에서 일시적으로 오프상태로 제어되도록 된 것을 특징으로 하는 다이나믹형 랜덤 억세스메모리.
- 제1항에 있어서, 상기 전하전송회로로서 전계효과트랜지스터가 이용되고, 이 전계효과트랜지스터의 게이트에 소정의 구동신호가 공급되도록 된 것을 특징으로 하는 다이나믹형 랜덤 억세스메모리.
- 제2항에 있어서, 상기 전계효과트랜지스터는 N챈널 MOS 트랜지스터(NT1, NT2)이고, 이 N 챈널 MOS트랜지스터(NT1, NT2)가 오프되는 경우에는 그 게이트에 공급되는 구동신호(øT)가 전원전위(VCC)로 부터 이 전원전위(VCC)와 접지전위(VSS)사이의 중간전위(VM)로 저하되고, 상기 N챈널 MOS 트랜지스터(NT1, NT2)가 온되는 경우에는 그 게이트에 공급되는 구동신호(ør)가 전원전위(VCC)로 상승되도록 된 것을 특징으로 하는 다이나믹형 랜덤 억세스 메모리.
- 제2항에 있어서, 상기 전계효과트랜지스터는 N챈널 MOS 트랜지스터(NT1, NT2)이고, 이 N 챈널 MOS트랜지스터(NT1, NT2)가 오프되는 경우에는 그 게이트에 공급되는 구동신호(øT)가 전원전위(VCC)로 부터 이 전원전위(VCC)와 접지전위(VSS)사이의 중간전위(VM)로 저하되고, 상기 N챈널 MOS 트랜지스터(NT1, NT2)가 온되는 경우에는 그 게이트에 공급되는 구동신호(ør)가 전원전위(VCC)로 상승되도록 된 것을 특징으로 하는 다이나믹형 랜덤 억세스 메모리.
- 제2항에 있어서, 상기 전계효과트랜지스터는 P챈널 MOS 트랜지스터(PT1, PT2)이고, 이 P 챈널 MOS트랜지스터(PT1, PT2)가 오프되는 경우에는 그 게이트에 공급되는 구동신호가 전위(VCC)로 부터 이 와 접지전위(VSS)와 접원전위(VCC) 사이의 중간전위(VM)로 상승되고, 상기 P챈널 MOS 트랜지스터(PT1, PT2)가 온되는 경우에는 그 게이트에 공급되는 구동신호가 접지전원(VSS)로 저하되도록 된 것을 특징으로 하는 다이나믹형 랜덤 억세스 메모리.
- 제1항에 있어서, 상기 전하전송회로로서 다이오드(D)와 스위치회로(S)가 병렬접속되어 사용되고, 이 스위치회로(S)는 스위칭구동되도록 된 것을 특징으로 하는 다이나믹형 랜덤억세스 메모리.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1-121204 | 1989-05-15 | ||
JP1121204A JPH0762955B2 (ja) | 1989-05-15 | 1989-05-15 | ダイナミック型ランダムアクセスメモリ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR900019038A true KR900019038A (ko) | 1990-12-22 |
KR970001340B1 KR970001340B1 (ko) | 1997-02-05 |
Family
ID=14805444
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019900006847A KR970001340B1 (ko) | 1989-05-15 | 1990-05-14 | 다이나믹형 랜덤억세스메모리 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5091885A (ko) |
EP (1) | EP0398245B1 (ko) |
JP (1) | JPH0762955B2 (ko) |
KR (1) | KR970001340B1 (ko) |
DE (1) | DE69027886T2 (ko) |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB9007788D0 (en) * | 1990-04-06 | 1990-06-06 | Foss Richard C | Dynamic memory bitline precharge scheme |
GB9007789D0 (en) | 1990-04-06 | 1990-06-06 | Foss Richard C | Method for dram sensing current control |
USRE40552E1 (en) | 1990-04-06 | 2008-10-28 | Mosaid Technologies, Inc. | Dynamic random access memory using imperfect isolating transistors |
JPH0834257B2 (ja) * | 1990-04-20 | 1996-03-29 | 株式会社東芝 | 半導体メモリセル |
JPH07122989B2 (ja) * | 1990-06-27 | 1995-12-25 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
JPH0492287A (ja) * | 1990-08-08 | 1992-03-25 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ |
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KR0153602B1 (ko) * | 1995-10-04 | 1998-12-01 | 김광호 | 반도체 메모리 장치의 데이타 고속 전송회로 |
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KR100765653B1 (ko) | 2006-07-10 | 2007-10-10 | 현대자동차주식회사 | 자동차용 글래스 안테나 잭 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4061999A (en) * | 1975-12-29 | 1977-12-06 | Mostek Corporation | Dynamic random access memory system |
DE2712735B1 (de) * | 1977-03-23 | 1978-09-14 | Ibm Deutschland | Lese-/Schreibzugriffschaltung zu Speicherzellen eines Speichers und Verfahren zu ihrem Betrieb |
KR900004635B1 (ko) * | 1987-06-27 | 1990-06-30 | 삼성반도체통신 주식회사 | 반도체 메모리장치의 충전 및 등화회로 |
JPS6446288A (en) * | 1987-08-13 | 1989-02-20 | Toshiba Corp | Semiconductor memory device |
-
1989
- 1989-05-15 JP JP1121204A patent/JPH0762955B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-05-14 KR KR1019900006847A patent/KR970001340B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1990-05-15 EP EP90109123A patent/EP0398245B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-05-15 DE DE69027886T patent/DE69027886T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1990-05-15 US US07/523,663 patent/US5091885A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0398245B1 (en) | 1996-07-24 |
US5091885A (en) | 1992-02-25 |
EP0398245A3 (en) | 1992-07-01 |
DE69027886D1 (de) | 1996-08-29 |
DE69027886T2 (de) | 1997-01-02 |
JPH02301096A (ja) | 1990-12-13 |
JPH0762955B2 (ja) | 1995-07-05 |
KR970001340B1 (ko) | 1997-02-05 |
EP0398245A2 (en) | 1990-11-22 |
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Legal Events
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---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
AMND | Amendment | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
AMND | Amendment | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
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