KR0156753B1 - 전자사진 감광 부재, 이를 함유하는 사진 제판 카트리지 및 전자사진 장치 - Google Patents

전자사진 감광 부재, 이를 함유하는 사진 제판 카트리지 및 전자사진 장치 Download PDF

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Abstract

전기전도성 지지체, 이 지지체 상에 배치된 중간층, 및 이 중간층 상에 배치된 감광층으로 구성된 전자 사진 감광 부재가 제공된다. 중간층은 폴리아미드산 구조 및/또는 폴리아미드산 에스테르 구조를 함유하는 특정한 반복 단위를 갖는 수지를 함유한다. 감광 부재는 모든 환경 조건하에서 전위가 안정하고 감광도가 우수한 감광 부재를 포함하는 사진 제판 카트리지 및 전자 사진 장치의 제조에 효과적이다.

Description

전자사진 감광 부재, 이를 함유하는 사진 제판 카트리지 및 전자사진 장치
제1도는 본 발명에 따른 전자사진 감광 부재를 사용하는 사진 제판 카트리지를 포함하는 전자사진 장치의 구조를 도시한 개략도.
제2도는 프린터로서 본 발명에 따른 전자사진 장치를 사용하는 팩시밀리 기계의 블록도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 감광성 드럼 2 : 축
3 : 1차 충전기 4 : 화상 노출 광
5 : 현상 수단 6 : 전사 충전기
7 : 전사 재료 8 : 화상 정착 수단
9 : 세정 수단 10 : 전 노출광
본 발명은 전자사진 감광 부재, 특히 특정 구조의 수지를 함유하는 중간층을 갖는 전자사진 감광 부재에 관한 것이다.
또한, 본 발명은 이러한 전자사진 감광 부재를 사용하는 사진 제판 카트리지 및 전자사진 장치에 관한 것이다.
전자사진 감광 부재는 일반적으로 전기전도성 지지체 위에 형성된 감광층을 갖는다. 이러한 감광층은 매우 얇은 것이 일반적이다. 따라서, 감광층은 경우에 따라서는 전기전도성 지지체 표면상의 흉터 또는 오염물 등의 결함으로 인하여 그 두께가 불균일하거나 불규칙해지는 문제에 직면하기 쉽다. 이러한 경향은 최근 많이 사용되고 있는 매우 얇은(예, 약 0.5㎛ 두께) 전하 발생층과 전하 이송층으로 이루어진 소위 기능 분리형 감광층의 경우에 특히 두드러진다.
감광층의 두께가 불균일하면, 전위 또는 감광도의 불균일이 자연적으로 일어나게 된다. 그 결과, 감광층은 가급적 균일하게 적당한 두께로 만드는 것이 필요하다.
전자사진 감광 부재는 중요 특성중 하나로서, 반복 사용시 명부 전위(light-part potential)와 암부 전위(dark-part potential)의 안정도를 가질 것을 필요로 한다. 이들 전위가 불안정하면, 형성되는 화상은 불균일한 화상 밀도를 갖기 쉽고 또한 흐림 현상도 발생하기 쉽다.
위와 같은 단점을 경감시키기 위하여 감광 부재 표면상에 결함을 차폐하고 전기전도성 지지체와 감광층간의 접착력을 증진시키며 캐리어(carrier)가 전기전도성 지지체로부터 감광층으로 주입되는 것을 억제하는 역할을 하는 전기전도성 지지체와 감광층 사이에 배치된 다양한 중간층이 제안되었다.
지금까지 중간층에 사용하기 위한 다양한 수지가 제안되었는데, 그 예로는 폴리아미드(일본국 특허 공개 제48-47344호 및 동 제52-25638호), 폴리에스테르(일본국 특허 공개 제52-20836호 및 동 제54-26738호), 폴리우레탄(일본국 특허 공개 제53-89435호 및 동 제2-115858호), 4급 암모늄 함유 아크릴계 중합체(일본국 특허 공개 제51-126149호) 및 카세인(일본국 특허 공개 제55-103556호)을 들 수 있다.
그러나, 상기한 수지를 중간층에 사용한 전자사진 감광 부재는 온도와 습도의 변화에 따라서 그 중간층의 전기 저항성이 쉽게 변화하며, 따라서 저온 저습 조건에서 고온 고습 조건에 이르는 전체 환경 조건에서 전위 특성이 안정하고 탁월하며 우수한 화상을 제공할 수 있는 전자사진 감광 부재를 제조하는 것이 어렵다.
보다 구체적으로 설명하면, 상기한 통상의 전자사진 감광 부재를 중간층의 전기 저항이 쉽게 증가하게 되는 저온 저습한 환경 조건에서 반복적으로 사용하는 경우, 중간층은 잔류 전하를 갖기 쉬우며, 따라서 명부 전위와 잔류 전위가 증가하게 된다. 그 결과, 정상적인 현상시 전사된 화상에 흐림 현상이 발생하거나 또는 역현상시 화상의 밀도가 빈약하므로, 경우에 따라서는 규정된 화상 품질을 갖는 화상을 연속적으로 얻을 수 없게 된다. 한편, 상기한 통상의 전자사진 감광 부재를 중간층의 전기 저항이 쉽게 낮아지는 고온 고습한 환경 조건에서 반복적으로 사용하는 경우 중간층은 그 장벽 기능이 쉽게 저하되어 전기전도성 지지체로부터의 캐리어 주입을 촉진시키며, 따라서 암부 전위가 낮아지게 된다. 그 결과, 형성된 화상은 정상적인 현상시 그 화상 밀도가 빈약하거나 또는 전사된 화상에 검은 반점 모양의 결함(검은 반점)이 생기거나 흐림 현상이 발생한다.
또한 현성된 화상에 검은 반점 모양의 결함을 적절한 중간층에 의하며 치유한다고 하더라도, 전자사진 감광 부재 자체는 대부분 감광도를 저하시키는 결과를 초래한다.
본 발명의 목적은 저온 저습한 조건으로부터 고온 고습한 조건에 이르는 전체 환경 조건 하에서 초기 단계에서의 양호한 화상을 연속적으로 형성할 수 있고 우수한 전위 특성을 안정적으로 나타내는 전자사진 감광 부재를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 전기전도성 지지체와 감광층 사이에 접착 특성과 필름 형성 특성이 우수한 중간층을 배치함으로써 무결함의 양호한 화상을 제공할 수 있고 감도가 높은 전자사진 감광 부재를 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 전술한 전자사진 감광 부재를 포함하는 사진 제판 카트리지 및 전자사진 장치를 제공하는 것이다.
본 발명에 따라서, 전기전도성 지지체, 이 지지체 상에 배치된 중간층, 및 이 중간층 상에 배치된 감광층으로 이루어지며, 중간층이 하기 반복 단위 (1)과 (2) 중 적어도 하나를 갖는 수지를 함유하는 전자사진 감광 부재가 제공된다.
(식 중, A1은 2가의 유기기이고, R1및 R2는 서로 독립적으로 수소 원자, 치환 또는 비치환된 알킬기, 치환 또는 비치환된 알콕시알킬기, 또는 치환 또는 비치환된 아랄킬기이고, R3내지 R7은 서로 독립적으로 수소 원자, 할로겐 원자, 치환 또는 비치환된 알킬기, 치환 또는 비치환된 알콕시기, 치환 또는 비치환된 아릴기, 니트로기 또는 시아노기이다.)
(식 중, A2는 2가의 유기기이고, R8및 R9는 서로 독립적으로 수소 원자, 치환 또는 비치환된 알킬기, 치환 또는 비치환된 알콕시알킬기, 또한 치환 또는 비치환된 아랄킬기이고, R10은 수소 원자, 할로겐 원자, 치환 또는 비치환된 알킬기, 치환 또는 비치환된 알콕시기, 치환 또는 비치환된 아릴기, 니트로기 또는 시아노기이며, R11및 R12는 서로 독립적으로 알킬기를 나타낸다.)
본 발명에 따라서 상기한 전자사진 감광 부재를 포함하는 사진 제판 카트리지 및 전자사진 장치가 제공된다.
이들 그리고 다른 본 발명의 목적들 그리고 본 발명의 특징 및 잇점들은 후술되는 본 발명의 바람직한 실시태양에 관한 설명을 첨부 도면과 함께 살펴봄으로써 더욱 자명해질 것이다.
본 발명에 따른 전자사진 감광 부재는 앞서 설명한 반복 단위 (1)과 (2) 중 적어도 하나를 갖는 수지를 함유하는 중간층에 의하며 특징지워진다.
반복 단위 (1)과 (2)에서 A1과 A2의 예로는 후술하려는 다양한 2가의 유기기를 들 수 있으며, 특히 하기식 (i)과 (ii)로 표시되는 것을 포함한다.
(식 중, Ar1은 치환 또는 비치환된 방향족 탄화수소기, 또는 치환 또는 비치환된 복소환기를 나타낸다.)
(식 중, Ar2및 Ar3는 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 방향족 탄화수소기, 또는 치환 또는 비치환된 복소환기를 나타내고, Y는 산소 원자, 황 원자, 치환 또는 비치환된 알킬렌기, 카르보닐기 또는 술포닐기를 나타낸다.)
Ar1,Ar2및 Ar3의 보다 구체적인 예로는 페닐렌, 바이페닐렌 또는 나프틸렌과 같은 방향족 탄화수소기와, 피리딘디닐 또는 티오펜디닐과 같은 복소환기를 들 수 있다. Y를 나타내는 알킬렌기의 보다 구체적인 예로는 메틸렌, 에틸렌, 프로필렌 또는 이소프로필렌을 들 수 있다.
Ar1, Ar2, Ar3및 Y는 치환체를 가질 수 있으며, 그 예로는 메틸, 에틸 또는 프로필과 같은 알킬기, 불소, 염소 또는 브롬과 같은 할로겐 원자, 트리플루오로메틸과 같은 할로알킬기, 메톡시, 에톡시 또는 프로폭시와 같은 알콕시기, 디메틸아미노 또는 디에틸아미노와 같은 알킬아미노기, 아세틸 또는 벤조일과 같은 아실기, 및 시아노기를 들 수 있다.
A1및 A2(즉, 2가의 유기기)의 바람직하지만 전부는 아닌 예로는 하기의 것들을 들 수 있으나, 이들만으로 한정되는 것은 아니다.
반복 단위 (1)과 (2)에서 R1, R2, R8, 및 R9의 구체적인 예로는, 수소 원자, 알킬기 예를 들어 메틸, 에틸 또는 프로필, 알콕시알킬기 예를 들어 메톡시에틸, 및 아랄킬기 예를 들어 벤질을 들 수 있다. R1, R2, R8, 및 R9각각은 할로겐 원자와 같은 치환체를 가질 수 있다.
또한, 반복 단위 (1)과 (2)에서 R3내지 R7및 R10의 구체적인 예로는 수소 원자, 할로겐 원자 예를 들어 불소, 염소 또는 브롬, 알킬기 예를 들어 메틸, 에틸 또는 포르필, 알콕시기 예를 들어 메톡시, 에톡시 또는 프로폭시, 아릴기 예를 들어 페닐 또는 나프틸, 니트로기, 및 시아노기를 들 수 있다. R3내지 R7및 R10각각은 할로겐 원자와 같은 치환체를 가질 수 있다. 본 발명에 있어서 R3내지 R7및 R10은 바람직하게는 모두 수소 원자일 수 있다.
반복 단위 (2)에서 R11과 R12의 구체적인 예로는 메틸 또는 에틸과 같은 알킬기를 들 수 있다. R11과 R12는 각각 할로겐 원자와 같은 치환체를 가질 수 있다. 본 발명에서 R11과 R12는 바람직하게는 동시에 메틸일 수 있다.
본 발명에서 사용된 반복 단위 (1) 및(또는) (2)를 갖는 수지는 바람직하게는 수평균 분자량(Mn)이 500 내지 100,000, 보다 바람직하게는 10,000 내지 50,000일 수 있다.
본 발명의 수지는 경우에 따라서는, 반복 단위 (1) 또는 (2)에서 아미드산 또는 아미드산 에스테르의 아미드 부위가 산 또는 산 에스테르 부위와 반응하여, 전자사진 감광 부재 제조 방법의 통상적인 건조 단계에서의 건조 조건에 따라서, 물 또는 알코올을 제거하는 반응을 통하여 생성된 이미드 구조(예,)를 함유하는 반복 단위를 갖는다.
본 발명에서 사용된 수지는 바람직하게는 전체 수지 구조에서 산 구조, 산 에스테르 구조 및 이미드 구조(예,) 전체를 기준으로 20 내지 80 몰 %, 특히 40 내지 60 몰% 비율로 산 구조 및(또는) 산 에스테르 구조 (즉, -COOR1, -COOR2, -COOR8, -COOR9)를 함유할 수 있다. 이는 아마도 폴리아미드 산 구조 및(또는) 폴리아미드 산 에스테르 구조가 중간층 내로의 전자 주입 및 전하 발생 물질의 작용에 의하여 발생한 캐리어의 전해질 분해를 촉진시키고 전기전도성 지지체로부터 전공(hole)의 사출을 억제하는데 효과적이기 때문이다. 또한, 폴리이미드 구조는 농밀하고 집적된 상태에 있기 때문에 캐리어의 전해질 분해 그리고 전자의 주입 및 이동이 촉진되며, 이러한 구조는 습기에 적게 영향을 받는 것으로 추측된다.
이하, 본 발명에서 사용된 수지의 반복 단위 (1) 및 (2)의 구체적이지만 전부는 아닌 예를 반복 단위 (1) 및 (2)와 관련하여 R1내지 R12, A1과 A2를 변화시키면서 나타낸다.
식 (1):
식 (2):
본 발명에서 사용된 반복 단위 (1) 및(또는) 반복 단위 (2)로 구성된 아미드산 구조(예,)를 갖는 수지는 일반적으로 테트라카르복실산 이무수물을 유기 극성 용매 중에서 디아민과 반응시키는 개환 중부가 반응(ring-opening polyaddition reaction)를 통하여 합성할 수 있다. 상기 유기 극성 용매의 예로는 N,N-디메틸아세토아미드, N,N-디메틸포름아미드 또는 N-메틸피롤리돈 등의 아미드계 용매; 크레졸 또는 클로로페놀 등의 페놀계 용매; 디에틸렌 글리콜 디메틸 에테르 등의 에테르계 용매; 및 이들의 혼합 용매가 포함될 수 있다. 또한, 생성되는 수지의 분자량을 조절하기 위하여 상술한 유기 극성 용매에 적절한 양의 물(5 중량% 이하)을 첨가하여 반응을 수행하는 것도 가능하다. 상기 반응에 있어서 반응 온도는 바람직하게는 20-120℃, 특히 바람직하게는 20-40℃일 수 있다.
이어서, 반복 단위 (1) 및(또는) (2)로 구성된 아미드산 에스테르 구조(예,)를 갖는 수지는 적절한 촉매의 존재하에 앞서 제조된 폴리아미드산 및 적절한 알코올의 에스테르화를 통하여 합성할 수 있다. 상기 촉매의 예로는 황산 또는 염산 등의 무기산; 및 p-톨루엔술폰산 등의 유기산이 포함될 수 있다. 또한, 테트라카르복실산의 4개의 카르복실기 중 2개의 카르복실기를 에스테르화(즉, 반 에스테르화)시킨 후, 이어서 절반의 에스테르를 디아민과 반응시킴으로써 아미드에스테르 구조를 갖는 수지를 합성하는 것도 가능하다.
전술한 부분적인 이미드 구조(예,)를 갖는 수지는 폴리아미드산 또는 폴리아미드산 에스테르를 적절한 온도, 바람직하게는 50-400℃에서, 규정된 시간, 바람직하게는 5분 내지 4시간 동안 열처리함으로써 형성할 수 있다. 처리 온도 및 처리 시간은 전체 수지 구조에 있어서 전체의 이미드 구조 및 산 구조 및(또는) 산 에스테르 구조(즉, -COOR1, -COOR2, -COOR8, -COOR9)에 대한 이미드 구조의 비(몰%)(이하 이미드도라고 한다)에 큰 영향을 미친다.
이미드도는 시료 수지의 적외선 흡수 스펙트럼 측정법(또는 적외선 (흡수) 분광광도법)을 사용하여 얻어진 이미도기의 1740-1780㎝-1에서 흡광도에 대한 페닐렌기의 1500cm-1에서 흡광도의 비를 기준으로 결정하거나 또는 H1-NMR(핵자기 공명) 스펙트럼을 사용하여 얻은 시료 수지의 카르복실기 및 카르복실 에스테르(또는 카르복실레이트) 중에 존재하는 양자의 양을 기준으로 결정할 수 있다.
본 발명에서 사용된 전술한 수지의 제조(또는 처리) 공정은 다음과 같이 나타내어진다.
[합성예]
500㎖의 4목 플라스크 중에 하기 일반식을 갖는 화합물 13.9g(0.05M) 및 N,N-디메틸아세토아미드 160g을 넣는 한편, 여기에 무수 질소 가스를 공급하였다.
이어서, 용액을 25℃에서 격렬하게 교반시킨 후, 4,4'-디아미노디페닐에테르 10.0g(0.05M)을 1-2분에 걸쳐서 첨가하였다. 이 혼합물을 2시간 더 교반시키면서 무수 질소 가스를 연속적으로 공급한 결과, 점성 담황색 액체(반응 혼합물)가 얻어졌다. 반응 혼합물에 N,N-디메틸아세토아미드 160g을 첨가함으로써 균일한 용액을 형성하였다. 이 균일한 용액을 격렬한 교반하에 5리터의 메탄올에 적가하여 폴리아미드산을 석출하였다. 폴리아미드산을 여과하고 회수하여 N,N-디메틸아세토아미드 250g중에 용해시킨 후, 여과하여 불용성 물질을 제거하였다. 여액을 5리터의 메탄올에 적가하여 중합체를 석출하였다. 이 중합체를 여과하고 회수하여 2리터의 메탄올 중에 분산시켜 세척한 후, 건조시켜 반복 단위 2-3을 갖는 폴리아미드산 수지 15.3g을 얻었다.
이어서, N,N-디메틸아세토아미드 19g중의 폴리아미드산 수지 1g의 용액을 전선봉(wire bar) 피복법에 의해 KBr 플레이트 상에 도포한 후, 이어서 140℃에서 30분 동안 건조시켜 1㎛ 두께의 층을 갖는 시료를 형성하였다. 이 시료를 적외선 분광광도계[FTIR 1600 시리즈, 퍼킨엘머사(Perkinelmer Co.)로부터 입수 가능함]를 사용하여 적외선 흡수 스펙트럼을 측정한 결과, 이미드 환에 대한 1755㎝-1부근의 피이크를 확인함으로써 이미드(환) 구조의 형성을 동정하였다. 이 수지는 55 몰%의 이미드도를 나타냈다.
본 발명에서 사용될 수 있는 기타의 수지들도 전술한 경우에서의 유사한 방식으로 제조할 수 있다.
본 발명에서 사용된 중간층은 단층이거나 또는 적어도 한 층이 전술한 반복 단위 (1) 및(또는) (2)를 갖는 수지를 함유하는 다수의 층으로 이루어질 수 있다. 중간층이 다수의 층으로 이루어진 경우, 각각의 층들은 반복 단위 (1) 및(또는) (2)를 갖는 수지와는 다른 기타의 수지를 함유해도 좋다. 그러한 기타의 수지의 예로는 폴리아미드, 폴리에스테르 및 페놀계 수지를 들 수 있다.
중간층은 필요에 따라 상기 기타의 수지, 첨가제 및 전기전도성 물질들을 본 발명의 효과를 얻을 수 있는 양으로 첨가해도 좋다. 첨가제의 예로는 2,5,7-트리니트로플루오레논 또는 벤조퀴논 등의 수용체가 포함될 수 있다. 전기전도성 물질의 예로는 금속 분말(예, 알루미늄, 구리, 니켈 및 은 분말); 금속성 단섬유; 카아본 섬유; 카아본 블랙, 티타늄 블랙, 흑연, 금속 산화물 및 금속 황화물(예, 산화 안티몬, 산화 인듐, 산화 주석, 산화 티타늄, 산화아연, 티탄산 칼륨, 티탄산 바륨, 티탄산 마그네슘, 황화 아연, 황화 구리, 산화 마그네슘 및 산화 알루미늄) 등의 전도성 분말, 전도성 물질로 표면 처리된 이들 금속 산화물 및 금속 황화물, 실란 커플링제 또는 티타늄 커플링제, 및 환원 처리된 이들 금속 산화물 및 금속 황화물 등을 들 수 있다.
본 발명에 있어서, 중간층은 상기 전기전도성 물질을 함유해도 좋다. 중간층은 또한 바람직하게는 상기 전기전도성 물질을 함유하는 제1층 및 비전도성 물질을 함유하는 제2층으로 이루어질 수 있다.
중간층은 반복 단위 (1) 및(또는) (2)를 갖는 수지를 적절한 용매 중에 분산 또는 용해시키고, 얻어진 피복액을 공지의 피복 방법을 사용하여 전기전도성 지지체상에 도포하고, 이어서 피복물을 건조시킴으로써 형성할 수 있다.
본 발명에서 사용된 중간층은 바람직하게는 반복 단위 (1) 및(또는) 반복 단위 (2)를 갖는 수지를 중간층 전체 중량을 기준으로 10-90 중량%의 비율, 특히 바람직하게는 30-70 중량%의 비율로 함유해도 좋다. 중간층은 전자사진 특성에 비추어 적절한 두께를 가질 수 있으며, 전기전도성 지지체에 따라 변형이 가능하나, 바람직하게는 0.1-50㎛, 특히 바람직하게는 0.5-30㎛의 두께를 갖는다.
본 발명에 사용된 감광층은 전기전도성 지지체 상에 배열된 중간층 상에 형성될 수 있다. 감광층은 전하 발생 물질 및 전하 이송 물질이 단일층에 포함된 단층형 감광층과 전하 발생 물질을 함유하는 전하 발생층 및 전하 이송 물질을 함유하는 전하 이송층으로 이루어진 적층형 감광층으로 대략 분류할 수 있다. 적층형 감광층은 전기전도성 지지체 상에 전하 발생층 및 전하 이송층의 순서대로(또는 순차적으로) 배열되어 이루어진 것과 전기전도성 지지체 상에 전하 이송층 및 전하 발생층의 순서대로 배열되어 이루어진 것으로 더 분류할 수 있다. 본 발명에 있어서, 전자사진 감광 부재는 바람직하게는 전기전도성 지지체, 중간층, 전하 발생층 및 전하 이송층을 순서대로 배열함으로써 구성할 수 있다.
전하 발생층을 구성하는 전하 발생 물질의 예로는 모노아조형, 비아조형, 트리아조형 등의 아조 안료, 메탈로프탈로시아닌 및 비-메탈로프탈로시아닌 등의 프탈로시아닌 안료; 인디고 및 티오인디고 등의 인디고 안료; 안드라퀴논 및 피렌퀴논 등의 다환식 퀴논 안료; 페릴렌 무수물 및 페릴렌이미드 등의 페릴렌 안료; 스쿠알륨착색제; 피릴륨염 및 티오피릴륨염; 및 트리페닐메탄 착색제 등이 있다.
본 발명에 있어서 전하 발생층은 전하 발생 물질을 결합제 수지 및 용매를 함유한 적절한 용매에 분산시키고, 얻어진 피복액을 공지의 피복 방법을 사용하여 예를 들면 중간층 상에 도포하고 이어서 피복물을 건조시킴으로써 형성할 수 있다. 전하 발생층은 바람직하게는 5㎛이하, 특히 바람직하게는 0.05-2㎛의 두께를 갖는다. 결합제 수지의 예로는 폴리비닐 아세탈, 폴리스티렌, 폴리에스테르, 폴리비닐 아세테이트, 메타크릴 수지, 아크릴 수지, 폴리비닐 피롤리돈 및 세룰로스계 수지가 포함될 수 있다.
본 발명에 따른 전하 이송층은 일반적으로 전하 이송 물질을 적절한 용매와 함께 결합제 수지에 용해시키고, 용액 등의 얻어진 피복액을 피복법으로 예정된 표면(예, 중간층, 전하 발생층 등의 표면) 상에 도포한 후, 이어서 생성된 피복물을 건조시킴으로써 제조할 수 있다.
전하 이송 물질은 일반적으로 전자 이송 물질과 전공(hole) 이송 물질로 대략 분류할 수 있다.
전자 이송 물질의 예로는 2,4,7-트리니트로플루오레논, 2,4,5,7-테트라니트로플루오레논, 클로라닐 또는 테트라시아노퀴논-디메탄 등의 전자 수용체; 및 이들 물질의 중합체를 들 수 있다. 전공 이송 물질의 예로는 피렌 및 안드라센 등의 다환식 방향족 화합물; 카르바졸류, 인돌류, 이미다졸류, 옥사졸류, 티아졸류, 옥사디아졸류, 피라졸류, 피라졸린류, 티아디아졸류 및 트리아졸 등의 이형환식 화합물; p-디에틸아미노벤즈알데히드-N,N-디페닐히드라존 및 N,N-디페닐히드라지노-3-메틸리덴-9-에틸카르바졸 등의 히드라졸 화합물; α-페닐-4'-N,N-디페닐아미노스틸벤 및 5-[4-(디-p-톨릴아미노)-벤질리덴]-5H-디벤조-[a,d]-시클로헵텐 등의 스티릴형 화합물; 벤지딘류; 트리아릴아민류; 트리페닐아민류; 및 폴리-N-비닐카르바졸 및 폴리비닐안트라센 등의 주쇄 또는 측쇄에 상기의 화합물로부터 유도된 기를 함유하는 중합체 등을 들 수 있다.
전하 이송층을 형성하는데 사용되는 결합제 수지의 예로는 폴리에스테르, 폴리카르보네이트, 폴리메타클릴레이트 및 폴리스티렌 등을 들 수 있다. 전하 이송층은 바람직하게는 5-40㎛, 특히 바람직하게는 10-30㎛의 두께를 가질 수 있다.
감광층이 단층으로 이루어진 경우, 감광층은 상기한 바의 전하 발생 물질 및 전하 이송 물질 각각을 상기한 바의 적절한 용매와 함께 결합제 수지 중에 분산 및 용해시키고, 얻어진 피복액을 피복법에 의해 중간층 상에 도포한 후, 이어서 피복물을 건조시킴으로써 형성할 수도 있다.
단층형 감광층의 두께는 바람직하게는 5-40 미크론, 보다 바람직하게는 10-30 미크론일 수 있다.
본 발명에 사용되는 감광층은 또한 폴리비닐카르바졸 또는 폴리비닐안트라센으로 이루어진 유기 광전도성 중합체층; 상기의 전하 발생 물질을 증착시킨 층; 셀레늄을 증착시킨 층; 셀레늄-텔루륨을 증착시킨 층; 및 무정형 규소층을 함유해도 좋다.
본 발명에 사용되는 전기전도성 지지체는 알루미늄, 알루미늄 합금, 구리, 아연, 스테인레스강, 티타늄, 니켈, 인듐, 금 및 백금을 함유해도 좋다. 이 전기전도성 지지체는 또한 예를 들어 상기의 금속 또는 합금을 진공 증착시킨 층으로 피복시킨 플라스틱(예, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 폴리염화비닐, 폴리에틸렌 테레프탈레이트 또는 아크릴 수지); 전기전도성 분말(예, 카아본 블랙 또는 은 입자)과 적절한 결합제 수지의 혼합물로 이루어진 층으로 피복된 플라스틱, 금속 또는 합금; 전기전도성입자로 함침시킨 플라스틱 또는 종이 등을 포함할 수 있다. 이 전기전도성 지지체는 드럼, 시이트, 필름, 벨트 등 어느 형태일 수도 있으며, 바람직하게는 사용된 전자사진 감광 부재에 적합하게 채택되는 형상을 가질 수 있다.
본 발명에 있어서, 감광층을 외부의 기계적 충격 또는 외부의 화학적 작용으로부터 보호하기 위해서는 보호층을 감광층 상에 더 배치시킬 수 있다. 그러한 보호층에는 수지 또는 전기전도성 입자를 함유하는 수지 등이 포함될 수 있다.
본 발명에 있어서, 각각의 층(중간층, 감광층, 보호층)을 형성하는데 사용되는 피복 방법의 예로는 침적, 피복, 분무 피복, 비임 피복, 스핀 피복, 롤러 피복, 전선봉 피복, 및 블레이드 피복 등을 들 수 있다.
본 발명에 따른 전자사진 감광 부재는 복사기, 레이저 비임 프린터, 광방출 다이오드(LED) 프린터, 액정 셔터형 프린터 등의 통상의 전자사진 장치 뿐만 아니라 디스플레이, 레코오딩, 광 프린팅, 플레이트 제조 및 팩시밀리 기계를 포함하는 응용된 전자사진의 다른 분야에도 응용할 수 있다.
제1도는 본 발명의 전자사진 감광 부재를 사용하는 사진 제판 카트리지를 포함하는 전자사진 장치의 단면도이다. 제1도에 관하여 언급하자면, 화상 운반 부재로서의 감광성 드럼(즉, 감광 부재)(1)은 감광성 드럼(1)의 내부에 나타낸 화살의 방향으로 규정된 원주 속도로 축(2) 주변을 회전한다. 감광성 부재의 표면은 1차 충전기(충전 수단)(3)에 의하여 불균일하게 충전되어 규정된 양 또는 음전위를 갖는다. 감광성 드럼(1)은 광노출 수단(나타내지 않음)을 사용함으로써 광 화상(4)에 (슬릿 노출 또는 레이저 비임-주사 노출에 의하여) 노출됨으로써, 노출 화상에 대응하는 정전 잠상이 연속적으로 감광성 드럼(1)의 표면에 형성된다. 정전 잠상은 현상 수단(5)에 의해 현상되어 토너 화상을 형성한다. 토너 화상은 공급부(나타내지 않음)로부터 전사 충전기(6)의 수단에 의하여, 감광성 드럼(1)의 회전 속도와 일치되게 감광성 드럼(1) 및 전사 충전기(전사 수단)(6) 사이의 지점까지 공급되는 전사 재료(7)로 연속적으로 전사된다. 전사 재료(7)과 그위의 토너 화상은 감광성 드럼(1)로부터 분리되어 정착 기구(화상-정착 수단)(8)까지 운반되어, 화상 정착에 이어 전자사진 장치 외부의 복사물로서 전사 재료(7)을 인쇄한다. 전사후 감광성 드럼(1)의 표면상의 잔여 토너 입자들은 세정 장치(세정 수단)(9)에 의해 제거되어 개끗한 표면을 제공하게 되며, 감광성 드럼(1)의 표면 상의 잔류 전하는 전노출 수단(나타내지 않음)으로부터 방출되는 전노출광(10)에 의해 제거되어 다음의 사이클에 대비하게 된다. 1차 충전 수단(3)이 충전 로울러 등의 접촉 충전 수단인 경우, 전노출 과정은 생략해도 좋다.
본 발명에 의하면, 전자사진 장치에 있어서 목적하는 바에 따라 복사기 또는 레이저 비임 프린터 등의 전자사진 장치의 장치 본체로부터 탈착(또는 이완)되거나 또는 부착(또는 연결)될 수 있도록 감광 부재[감광성 드럼(1)]와, 충전 수단(3), 현상 수단(5), 세정 수단(9) 등으로부터 선택되거나 또는 이들을 모두 포함하는 다수의 수단으로 이루어진 사진 제판 카트리지(11)을 제공하는 것이 가능하다. 이 사진 제판 카트리지(11)은 예컨대, 본체에서 레일(12)와 같은 안내 수단을 사용함으로써 전자사진 장치의 본체로부터 분리되거나 또는 이것에 연결될 수 있는 단일 유닛(unit)을 제작할 수 있도록 일체식으로 결합된, 감광성 부재와 적어도 하나의 충전 수단(3), 현상 수단(5) 및 세정 수단(9)로 이루어질 수 있다.
전자사진 장치를 복사기나 프린터로 사용하는 경우, 화상 노출 광(4)는 원본으로부터의 반사광 또는 이송광 상의 데이터를 판독하거나 또는 센서에 의해 원본상의 데이터를 판독하고, 이 데이터를 신호로 전환시킨 후 이어서 감광 부재를 광화상(4)에 노출시킬 수 있도록 레이저 비임 주사, LED 어레이의 구동 또는 액정 셔터 어레이의 구동을 행함으로써 얻어질 수 있다.
본 발명에 따른 전자사진 장치를 팩시밀리 기계의 프린터로 사용하는 경우, 화상 노출광(4)는 수신 데이터를 프린팅하도록 노출됨으로써 얻어진다. 제2도는 팩시밀리 기계에 사용하는 경우를 설명하는 실시 태양의 블록도이다. 제2도에 관하여 설명하자면, 콘트롤러(14)는 화상 판독부(13) 및 프린터(22)를 제어한다. 전체의 콘트롤러(14)는 CPU(중앙 처리기)(20)에 의해 제어된다. 화상 판독부(13)으로부터의 판독 데이터는 이송 회로(16)을 통하여 상대방 위치(partner station)로 이송되는 한편, 상대방 위치로부터의 수신 데이터는 수신 회로(15)를 통하여 프린터(22)로 보내진다. 화상 메모리는 예정된 화상 데이터를 기억한다. 프린터 콘트롤러(21)은 프린터(22)를 제어하고, 도면 참조 번호(17)은 전화 송수화기를 나타낸다.
회로(18)을 통해 수신된 화상(연결된 원격조절 단말기로부터 회로를 통해 보내진 화상 데이터)은 수신 회로(15)의 수단에 의해 검파되고, 화상 메모리(19)에 연속적으로 저장된 후 화상 데이터가 신호 복원 처리된다. 최소 1면에 대한 화상이 화상 메모리(19)에 저장되었을 때 그 면의 화상 레코딩이 행해진다. 중앙 처리기(20)은 화상 메모리(19)로부터 1면에 대한 화상 데이터를 판독하고, 신호 복원 처리된 1면에 대한 화상 데이터를 프린터 콘트롤러(21)로 보낸다. 프린터 콘트롤러(21)은 중앙 처리기(20)으로부터의 1면에 대한 화상 데이터를 수신하고, 화상 데이터 레코딩을 행하도록 프린터(22)를 제어한다. 계속해서, 중앙처리기(20)은 프린터(22)에 의한 레코딩 동안 후속 면에 대한 화상을 수신하도록 준비된다. 상기한 바와 같이, 화상의 수신 및 레코딩이 수행된다.
이하, 본 발명은 실시예를 참고로 하여 더욱 구체적으로 설명하지만, 본 발명이 이들에 한정되지는 않는다.
다음의 실시예에 있어서 부는 중량부를 의미한다.
[실시예 1]
알루미늄 기판 상에 N,N-디메틸아세토아미드 95부 중의 반복 단위 1-1을 갖는 수지[수평균 분자량(Mn):9000] 5부의 용액을 전선봉 피복법으로 도포하고, 이어서 140℃에서 10분 동안 건조시켜 1㎛두께에 중간층을 형성하였다. 별도로, 1㎛두께의 수지층을 상기 중간층에서와 동일한 방식으로 제조하여 전술한 바의 적외선 (IR) 흡수 스펙트럼으로 측정한 결과, 수지는 73 몰%의 이미드도를 갖는 것으로 밝혀졌다.
이어서, 하기 일반식의 디아조 안료 5부에 테트라하이드로푸란 (THF) 90부를 첨가하여 샌드 밀(sand mill) 중에서 20시간 동안 교반시켰다.
이 분사액에 THF 20부 중의 부티랄 수지(이하, BLS라고 함, 제조원:세끼수이 가구꾸 고교 가부시끼가이샤) 2.5부의 용액을 첨가한 다음, 2시간 동안 교반시켰다. 얻어진 분산액을 시클로헥사논 100부 및 THF 100부로 희석하여 피복액을 제조하였다. 이 피복액을 앞서 제조한 중간층 상에 전선봉 피복법으로 도포한 후, 건조시켜 0.15㎛두께의 전하 발생층을 형성하였다.
이어서, 하기 일반식의 트릴아릴아민 화합물 5부 및 폴리카르보네이트(Z-200, 제조원:미쯔비시 가스 가가꾸 가부시끼가이샤) 5g을 클로로벤젠 40g 중에 용해시켜 피복액을 제조하였다.
피복액을 상기의 전하 발생층 상에 전선봉 피복법으로 도포한 후, 건조시켜 20㎛두께의 전하 이송층을 형성함으로써, 전자사진 감광 부재를 제조하였다.
이와 같이 제조된 감광 부재를 정전 복사지 시험기(모델:SP-428, 제조원:가와구찌 덴끼 가부시끼가이샤)를 사용하여 정적 시험법에 따라 코로나 (-5 KV)로 음대전시킨 후, 암실에서 1초 동안 유지시켰다. 이어서, 감광 부재를 할로겐광에 10룩스의 광도로 0.1초 동안 노출시켜 충전 특성을 평가하였다. 보다 구체적으로는, 충전 특성을 평가하기 위하여, 충전 직후의 시간에 표면 전위 (V0), 1초 내지 1/2초의 어둠 소멸후 얻어진 전위를 감소시키는데 필요한 노출량 (E1/2)(즉, 감도) 및 잔여 전위(Vr)(노출후 0.4초에서의 전위)를 측정하였다.
결과는 이하의 표 1에 나타내었다.
[실시예 2-20]
반복 단위 1-1을 갖는 수지 대신에 하기 표 1에 나타낸 반복 단위 (1) 또는 (2)를 갖는 수지를 사용한 것을 제외하고는, 실시예 1에서와 동일한 방식으로 감광 부재를 제조하여 평가하였다. 결과는 표 1에 나타내었다.
[비교예 1]
중간층을 메탄올 95부 중의 알코올 용해성 공중합 나일론(Amilan CM-800, 제조원:도레이 가부시끼가이샤) 5부의 용액을 사용하여 형성한 것을 제외하고는, 실시예 1에서와 동일한 방식으로 감광 부재를 제조하여 평가하였다. 결과는 표 1에 나타내었다.
[비교예 2]
실시예 1에서의 중간층에 대한 건조 조건을 100℃에서 60분으로 변형하고, 250℃에서 3시간 동안 추가 열처리 과정을 수행한 것을 제외하고는, 실시예 1에서와 동일한 방식으로 감광 부재를 제조하여 평가하였다. IR 흡수 스펙트럼 측정 결과, 중간층에 사용하기 위한 수지는 100%의 이미드도를 갖는 것으로 밝혀졌다(즉, 수지 중의 전체 아미드산 구조 단위가 이미드 구조 단위로 모두 변형되었음). 결과는 하기 표 1에 나타내었다.
[실시예 21]
중간층의 형성 과정을 다음의 조건에서 수행한 것을 제외하고는, 실시예 1에서와 동일한 방식으로 감광 부재를 제조하였다.
전기전도성 지지체:알루미늄 실린더(외경=30㎜, 길이=360㎜)
전조 조건:140℃에서 30분
피복 방법:침적 피복
두께:2.0㎛(건조후)
결과는 하기의 표 2에 나타내었다.
이와 같이 제조된 감광 부재를 0.8초/주기의 속도로 충전-노출-현상-전사-세정 공정을 수행하는 통상의 현상 시스템을 가진 무광택지 복사기에 설치한 후, 저온 저습 환경 조건(15℃, 15%RH)하에서 10,000 시이트의 화상 형성(내구성 시험)을 수행하여 전자사진 특성을 평가하였다. 더욱 구체적으로, 전자사진 특성을 평가하기 위하여, 초기 단계에서 암부 전위 (V) 및 초기 단계 및 내구성 시험후(10,000 시이트의 복사후)의 명부 전위 (V)를 측정하고, 얻어진 화상을 눈으로 관찰하였다. 별도로, 중간층을 상기한 바와 동일한 방식으로 알루미늄 플레이트(크기:100㎜×100㎜×1㎜)에 형성한 후, 시료 플레이트를 제작하여 다음의 박리 시험을 행하였다.
한 시료 플레이트에 길이 20㎜의 평행한 직선 11줄을 절단기(새로운 것)를 사용하여 1㎜의 간격으로 평행하게 긋는 한편, 절단기를 30도의 절단각(절단날과 시료 플레이트의 표면 사이에 형성된 각)을 유지하면서, 그 위에 중간층을 갖는 알루미늄 플레이트를 알루미늄 플레이트 표면과 약간 접촉되게 하여 절단하였다. 마찬가지로, 다른 11개의 평행한 직선을 그어 직각으로 상기 11개의 선을 절단하여, 알루미늄 플레이트 상에 정사각형 영역(1㎜×1㎜)의 중간층 100 조각을 형성하였다. 이와 같이 처리된 알루미늄 플레이트 상에 셀로판 테이프(제조원:니치반 가부시가이샤)를 붙였다. 이어서, 셀로판 테이프를 알루미늄 플레이트로부터 박리시키고 박리 상태를 관찰하여 100개의 중간층에 대한 박리된 중간층의 조각 수의 비(%)를 얻었다. 이 작업을 5회 반복하여 측정한 값의 평균치를 박리비(유용한 박리비, %)로 결정하였다.
결과는 표 2에 나타내었다.
[실시예 22-37]
실시예 2-17에서 제조된 중간층에 대한 각각의 피복액을 사용한 것을 제외하고는, 실시예 21에서와 동일한 방식으로 감광 부재(각각 실시예 22-37에 해당함)을 제조하여 평가하였다. 결과는 표 2에 나타내었다.
[비교예 3]
비교예 1에서 제조된 중간층에 대한 피복액을 사용한 것을 제외하고는, 실시예 21에서와 동일한 방식으로 감광 부재를 제조하여 평가하였다. 결과는 표 2에 나타내었다.
[비교예 4]
폴리에스테르 폴리올(NIPPORAN 125, 제조원:니뽄 폴리우레탄 고교 가부시끼가이샤) 14부, 2,6-톨릴렌 디이소시아네이트 6부, 디부틸주석 디라우네이트 0.02부, 및 메틸 에틸 케톤 80부로 이루어진 혼합 용액을 사용하여 중간층을 형성한 것을 제외하고는, 실시예 21에서와 동일한 방식으로 감광 부재를 제조하여 평가하였다. 결과는 표 2에 나타내었다.
[비교예 5]
비교예 2에서 제조된 중간층에 대한 피복액을 사용한 것을 제외하고는, 실시예 21에서와 동일한 방식으로 감광 부재를 제조하여 평가하였다. 결과는 하기 표 2에 나타내었다.
[실시예 38]
중간층에 대한 피복액을 반복 단위 1-1을 갖는 수지 25부, 산화 안티몬(함량=10%)을 함유한 산화 주석으로 피복된 전기전도성 산화 티타늄 분말 50부, 및 N,N-디메틸아세토아미드 25부의 혼합물을 샌드 밀 중에서 20시간 동안 분산시킴으로써 제조하였다. 피복액을 전선봉 피복법으로 알루미늄 기판 상에 도포하고, 이어서 140℃에서 1시간 동안 건조시켜 13㎛두께의 제1중간층을 형성하였다.
이어서, 중간층(제2중간층으로서), 전하 발생층 및 전하 이송층을, 제2중간층의 두께를 0.5㎛로 변형한 것을 제외하고는, 실시예 1에서와 동일한 방식으로 상기 제1중간층 상에 형성시킴으로써, 전자사진 감광 부재를 제조하였다.
감광 부재를 실시예 1에서와 동일한 방식으로 평가하였다. 결과는 하기 표 3에 나타내었다.
[실시예 39-52]
각각 반복 단위 1-1을 갖는 수지 대신에 하기 표 3에 나타낸 반복 단위 (1) 또는 (2)를 갖는 수지를 사용한 것을 제외하고는, 실시예 38에서와 동일한 방식으로 감광 부재를 제조하여 평가하였다. 결과는 표 3에 나타내었다.
[비교예 6]
레졸형 페놀계 수지(Pli-O-phen J-325, 제조원:다이니뽄 잉크 앤드 케미칼스, 인크) 25부, 산화 안티몬(함량=10%)을 함유한 산화 주석으로 피복된 전기전도성 산화 티타늄 분말 50부, 에틸렌글리콜 모노메틸 에테르(메틸 셀로솔브) 25부, 및 메탄올 5부로 이루어진 분산 혼합물을 사용하여 제1중간층을 형성하고, 메탄올 95부 중의 알코올 용해성 공중합 나일론(Amilan CM-8000, 제조원:도레이 가부시끼가이샤) 5부의 용액을 사용하여 제2중간층을 형성한 것을 제외하고는, 실시예 38에서와 동일한 방식으로 감광 부재를 제조하여 평가하였다.
결과는 표 3에 나타내었다.
[비교예 7]
실시예 38에서의 제1중간층에 대한 건조 조건을 250℃에서 20시간으로 변형하고, 제2중간층에 대한 건조 조건을 250℃에서 3시간으로 각각 변형한 것을 제외하고는, 실시예 38에서와 동일한 방식으로 감광 부재를 제조하여 평가하였다. IR 흡수 스펙트럼 측정 결과, 제1중간층 및 제2중간층에 사용하기 위한 수지는 각각 100%의 이미드도를 갖는 것으로 밝혀졌다(즉, 수지 중의 각각의 전체 아미드산 구조 단위가 이미드 구조 단위로 모두 변형되었음). 결과는 하기 표 3에 나타내었다.
[실시예 53-61]
알루미늄 기판을 알루미늄 실린더(외경=30㎜, 길이=360㎜)로, 피복방법을 침적 피복으로 변형한 것을 제외하고는, 실시예 42-50에서와 동일한 방식으로 감광 부재를 제조하였다(각각 실시예 53-60에 해당함).
이와 같이 제조된 감광 부재를 박리 시험을 생략한 것을 제외하고는, 실시예 21에서와 동일한 방식으로 평가하였다. 결과는 하기의 표 4에 나타내었다.
[비교예 8 및 9]
알루미늄 기판을 알루미늄 실린더(외경=30㎜, 길이=360㎜)로, 피복방법을 침적 피복으로 변형한 것을 제외하고는, 비교예 6 및 7에서와 동일한 방식으로 감광 부재를 제조하였다(각각 비교예 8 및 9에 해당함).
이와 같이 제조된 감광 부재를, 박리 시험을 생략한 것을 제외하고는, 실시예 21에서와 동일한 방식으로 평가하였다. 결과는 하기의 표 4에 나타내었다.
[실시예 62-70]
제1중간층 및 제2중간층 각각을 실시예 42-50에서와 동일한 방식으로 알루미늄 실린더 상에 연속적으로 형성하였다(각각 실시예 62-70에 해당함).
이어서, 옥시티타늄프탈로시아닌 안료 4부를 시클로헥사논 34부 중의 폴리비닐 부티랄(BX-1, 제조원:세끼수이 가가꾸 고교 가부시끼가이샤) 2부의 용액에 첨가한 후, 샌드 밀 중에 8시간 동안 교반시켰다. 이 혼합물에 THF 60부를 첨가하여 전하 발생층용 피복액을 제조하였다. 이 피복액을 앞서 제조한 제2중간층 상에 도포한 후, 건조시켜 0.2㎛두께의 전하 발생층을 형성하였다.
이어서, 전하 이송층을 실시예 21에서와 동일한 방식으로 상기 전하 발생층상에 형성하여 전자사진 감광 부재를 제조하였다.
이와 같이 제조된 감광 부재를 6초/주기의 속도로 충전-노출-현상-전사-세정 공정을 수생하는 역현상 시스템을 가진 레이저 비임 프린터에 설치한 후, 고온 고습 환경 조건(30℃, 85%RH)하에서 5,000 시이트의 화상 형성(내구성 시험)을 수행하여 전자사진 특성을 평가하였다. 더욱 구체적으로, 전자사진 특성을 평가하기 위하여, 초기 단계에서 암부 전위 (V) 및 초기 단계 및 내구성 시험후(5,000 시이트의 복사후)의 명부 전위(V)를 측정하고, 그 결과의 화상을 눈으로 관찰하였다.
결과는 하기 표 5에 나타내었다.
[비교예 10 및 11]
제1중간층 및 제2중간층 각각을 비교예 8 및 8에서와 동일한 방식으로 연속적으로 형성한 것을 제외하고는, 실시예 62에서와 동일하게 감광 부재를 제조하여 평가하였다(각각 비교예 10 및 11에 해당함). 결과는 하기 표 5에 나타내었다.

Claims (19)

  1. 전기전도성 지지체, 이 지지체 상에 배치된 중간층, 및 이 중간층 상에 배치된 감광층을 포함하며, 중간층이 하기의 반복 단위 (1)과 (2) 중 적어도 하나를 갖는 수지를 함유하는 것인 전자사진 감광 부재.
    (식 중, A1은 2가의 유기기이고, R1과 R2는 서로 독립적으로 수소 원자, 치환 또는 비치환된 알킬기, 치환 또는 비치환된 알콕시알킬기, 또는 치환 또는 비치환된 아랄킬기를 나타내고, R3내지 R7은 서로 독립적으로 수소 원자, 할로겐 원자, 치환 또는 비치환된 알킬기, 치환 또는 비치환된 알콕시기, 치환 또는 비치환된 아릴기, 니트로기 또는 시아노기이다.)
    (식 중, A2는 2가의 유기기이고, R8및 R9는 서로 독립적으로 수소 원자, 치환 또는 비치환된 알킬기, 치환 또는 비치환된 알콕시알킬기 또는 치환 또는 비치환된 아랄킬기를 나타내고, R10은 수소 원자, 할로겐 원자, 치환 또는 비치환된 알킬기, 치환 또는 비치환된 알콕시기, 치환 또는 비치환된 아릴기, 니트로기, 또는 시아노기를 나타내며, R11과 R12는 서로 독립적으로 알킬기를 나타낸다.)
  2. 제1항에 있어서, R3내지 R7및 R10이 수소 원자인 부재.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, R11과 R12가 메틸기인 부재.
  4. 제1항에 있어서, 수지가 반복 단위 (1)을 갖는 것인 부재.
  5. 제4항에 있어서, R3내지 R7이 수소 원자인 부재.
  6. 제1항에 있어서, 수지가 반복 단위 (2)를 갖는 것인 부재.
  7. 제6항에 있어서, R11과 R12가 메틸기인 부재.
  8. 제1항 또는 제4항에 있어서, A1이 하기식 (i) 또는 (ii)로 표시되는 2가의 유기기인 부재.
    (식 중, Ar1은 치환 또는 비치환된 방향족 탄화수소기, 또는 치환 또는 비치환된 복소환기를 나타낸다.)
    (식 중, Ar2및 Ar3는 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 방향족 탄화수소기, 또는 치환 또는 비치환된 복소환기이고, Y는 산소 원자, 황 원자, 치환 또는 비치환된 알킬렌기, 카르보닐기, 또는 술포닐기를 나타낸다.)
  9. 제1항 또는 제6항에 있어서 A2가 하기식 (i) 또는 (ii)로 표시되는 2가의 유기기인 부재.
    (식 중, Ar1은 치환 또는 비치환된 방향족 탄화수소기, 또는 치환 또는 비치환된 복소환기를 나타낸다.)
    (식 중, Ar2및 Ar3는 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 방향족 탄화수소기, 또는 치환 또는 비치환된 복소환기이고, Y는 산소 원자, 황 원자, 치환 또는 비치환된 알킬렌기, 카르보닐기, 또는 술포닐기를 나타낸다.)
  10. 제1항에 있어서, 중간층이 전기전도성 물질을 함유하는 것인 부재.
  11. 제1항 또는 제10항에 있어서, 중간층이 전기전도성 물질을 함유하는 제1층과 전기전도성 물질을 함유하지 않은 제2층으로 이루어지는 것인 부재.
  12. 제1항에 있어서, 감광층이 전하 발생층과 전하 이송층을 포함하는 것인 부재.
  13. 제12항에 있어서, 전기전도성 지지체, 중간층, 전하 발생층 및 전하 이송층이 차례로 배치되는 것인 부재.
  14. 전자사진 감광 부재와 충전 수단, 현상 수단 및 세정 수단 중에서 선택된 적어도 하나의 수단을 포함하며, 상기 감광 부재가 충전 수단, 현상 수단 및 세정 수단 중에서 선택된 적어도 하나의 수단과 일체식으로 결합되어, 필요에 따라 장치 본체에 부착시키거나 또는 탈착시킬 수 있는, 단일 유닛(unit)을 형성하는 사진 제판 카트리지로서, 상기 전자사진 감광 부재는 전기전도성 지지체, 이 지지체 상에 배치된 중간층, 및 이 중간층 상에 배치된 감광층을 포함하며, 중간층은 하기의 반복 단위 (1)과 (2) 중 적어도 하나를 갖는 수지를 함유하는 것을 특징으로 하는 사진 제판 카트리지.
    (식 중, A1은 2가의 유기기이고, R1과 R2는 서로 독립적으로 수소 원자, 치환 또는 비치환된 알킬기, 치환 또는 비치환된 알콕시알킬기, 또는 치환 또는 비치환된 아랄킬기를 나타내고, R3내지 R7은 서로 독립적으로 수소 원자, 할로겐 원자, 치환 또는 비치환된 알킬기, 치환 또는 비치환된 알콕시기, 치환 또는 비치환된 아릴기, 니트로기 또는 시아노기이다.)
    (식 중, A2는 2가의 유기기이고, R8및 R9는 서로 독립적으로 수소 원자, 치환 또는 비치환된 알킬기, 치환 또는 비치환된 알콕시알킬기 또는 치환 또는 비치환된 아랄킬기를 나타내고, R10은 수소 원자, 할로겐 원자, 치환 또는 비치환된 알킬기, 치환 또는 비치환된 알콕시기, 치환 또는 비치환된 아릴기, 니트로기, 또는 시아노기를 나타내며, R11과 R12는 서로 독립적으로 알킬기를 나타낸다.)
  15. 제14항에 있어서, 수지가 반복 단위 (1)을 갖는 것인 카트리지.
  16. 제14항에 있어서, 수지가 반복 단위 (2)를 갖는 것인 카트리지.
  17. 전자사진 감광 부재, 충전 수단, 화상 노출 수단, 현상 수단 및 전사 수단을 포함하는 전자사진 장치로서, 상기 전자사진 감광 부재는 전기전도성 지지체, 이 지지체 상에 배치된 중간층, 및 이 중간층 상에 배치된 감광층을 포함하며, 중간층은 하기의 반복 단위 (1)과 (2)중 적어도 하나를 갖는 수지를 함유하는 것을 특징으로 하는 전자사진 장치.
    (식 중, A1은 2가의 유기기이고, R1과 R2는 서로 독립적으로 수소 원자, 치환 또는 비치환된 알킬기, 치환 또는 비치환된 알콕시알킬기, 또는 치환 또는 비치환된 아랄킬기를 나타내고, R3내지 R7은 서로 독립적으로 수소 원자, 할로겐 원자, 치환 또는 비치환된 알킬기, 치환 또는 비치환된 알콕시기, 치환 또는 비치환된 아릴기, 니트로기 또는 시아노기이다.)
    (식 중 A2는 2가의 유기기이고, R8및 R9는 서로 독립적으로 수소 원자, 치환 또는 비치환된 알킬기, 치환 또는 비치환된 알콕시알킬기 또는 치환 또는 비치환된 아랄킬기를 나타내고, R10은 수소 원자, 할로겐 원자, 치환 똔느 비치환된 알킬기, 치환 또는 비치환된 알콕시기, 치환 또는 비치환된 아릴기, 니트로기, 또는 시아노기를 나타내며, R11과 R12는 서로 독립적으로 알킬기를 나타낸다.)
  18. 제17항에 있어서, 수지가 반복 단위 (1)를 갖는 것인 장치.
  19. 제17항에 있어서, 수지가 반복 단위 (2)를 갖는 것인 장치.
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