JPS60142278A - Ｌｅｄレベルメ−タユニツトの検査装置 - Google Patents
Ｌｅｄレベルメ−タユニツトの検査装置Info
- Publication number
- JPS60142278A JPS60142278A JP58250161A JP25016183A JPS60142278A JP S60142278 A JPS60142278 A JP S60142278A JP 58250161 A JP58250161 A JP 58250161A JP 25016183 A JP25016183 A JP 25016183A JP S60142278 A JPS60142278 A JP S60142278A
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- JP
- Japan
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- circuit
- difference
- article
- inspected
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
く技術分野〉
本発明は棒グラフを表示Ｊ′るため複数個のＬ Ｆ、
Ｄ（固体発生ダイオード）を配列した表示器と、そ０）
１ライフ用ＩＣを同一ノに板上にマウントしてなるＬ
Ｅ Ｄレベルメーターｒ−ニットの検査装置１Ｗ Ｌご
関し、特に、容器内に収納された完成品の検イ↑ｔ−，
’Ｗ置に関する。
Ｄ（固体発生ダイオード）を配列した表示器と、そ０）
１ライフ用ＩＣを同一ノに板上にマウントしてなるＬ
Ｅ Ｄレベルメーターｒ−ニットの検査装置１Ｗ Ｌご
関し、特に、容器内に収納された完成品の検イ↑ｔ−，
’Ｗ置に関する。
く解決課題〉
未だケースに収納される前の状（占、ずなわら表示器と
トライソ川ＩＣが基４に土にマウントされた状態のもの
に対しては 例えＣ５Ｌプリント配線パターン上にプロ
ーブ用ラントを設り、これにゾＵ−ブコンタクトピンを
当ζＬ Ｅ Ｉ）の醋ｉ−Ｊ”ｆＩｉ位を基板外に導出
して各種の検査を行うことかｉ＋Ｊ能Ｃある。。
トライソ川ＩＣが基４に土にマウントされた状態のもの
に対しては 例えＣ５Ｌプリント配線パターン上にプロ
ーブ用ラントを設り、これにゾＵ−ブコンタクトピンを
当ζＬ Ｅ Ｉ）の醋ｉ−Ｊ”ｆＩｉ位を基板外に導出
して各種の検査を行うことかｉ＋Ｊ能Ｃある。。
しかし、完成品をそのガバーケースを取り外さないまま
検査しようとずれは−１−記の方法を採用することかで
きない。
検査しようとずれは−１−記の方法を採用することかで
きない。
（）Ｌ来は、検査台か１１視にて１． Ｉ（、ｌ）の点
刻、不産月を判別していたか、検査者の視覚か追従しフ
る程度の表示の切換えをしな＆Ｊれはならないので所要
時間がｋくなり、しかも誤認識のおそれがあるため伝頼
性に問題があった。
刻、不産月を判別していたか、検査者の視覚か追従しフ
る程度の表示の切換えをしな＆Ｊれはならないので所要
時間がｋくなり、しかも誤認識のおそれがあるため伝頼
性に問題があった。
〈発明の目的〉
本発明の目的は、完成品のカバーケースを外すことなく
、 １ｌ−Ｆ速度で、表示機能を自動的に検査する公
電′を提供することにある。
、 １ｌ−Ｆ速度で、表示機能を自動的に検査する公
電′を提供することにある。
〈発明の構成〉
本発明のＩ−、ＪＥ ＋）レベルメークユニットの検査
装置は、被検査品と同一構造の標準良品と、上記被検査
品と標準良品の消費電力を検出する電流検出回路と、そ
の両電流検出回路の出力差を検出する一Ｌ段と、その差
かあらかしめ定められた範囲内にあ・６か否かを判別す
る比較手段を合し、上記被検査品と上記標準良品の各Ｌ
Ｆ、 Ｉ）のうらＲに対応しノこものを１．Ｉ、己ｊ
さ・ｌたときの両電流差を比較して被検査品の良否を判
別するよう構成されたことによりｌｌ）徴づ６ノられる
。
装置は、被検査品と同一構造の標準良品と、上記被検査
品と標準良品の消費電力を検出する電流検出回路と、そ
の両電流検出回路の出力差を検出する一Ｌ段と、その差
かあらかしめ定められた範囲内にあ・６か否かを判別す
る比較手段を合し、上記被検査品と上記標準良品の各Ｌ
Ｆ、 Ｉ）のうらＲに対応しノこものを１．Ｉ、己ｊ
さ・ｌたときの両電流差を比較して被検査品の良否を判
別するよう構成されたことによりｌｌ）徴づ６ノられる
。
〈実施例〉
１Ｂ１図に本発明実施例のシステムブロック図を小ず。
被検百晶ｌと同一構造の標〆（ち良品２を用７Ｑ：し、
デバイス用電源回路３により両市に同一表示Ｈ５１ｇ勅
を行わ−Ｕる。電流検出回路４，５は被検査品■と１票
準良品２の消費電流をそれぞれ検出し、差動回ｉｌ′６
６が両電流の差を検出する。ザンプルボールド回（洛７
はごの差動回１／８ ｆｉの出力を保（、冒Ｊイ）。
デバイス用電源回路３により両市に同一表示Ｈ５１ｇ勅
を行わ−Ｕる。電流検出回路４，５は被検査品■と１票
準良品２の消費電流をそれぞれ検出し、差動回ｉｌ′６
６が両電流の差を検出する。ザンプルボールド回（洛７
はごの差動回１／８ ｆｉの出力を保（、冒Ｊイ）。
第２の差動回路８はリーンプルボールド回路７の保持内
容と、差動回路６の出力の差を検出する。比較回路９は
差動回１１８８の出力と基１（ｔ−Ｘ前圧］０を比較し
、両電圧か一致ずれば一致検出他号を出力する。システ
ム制御１１部１１は装置全体を制御している。
容と、差動回路６の出力の差を検出する。比較回路９は
差動回１１８８の出力と基１（ｔ−Ｘ前圧］０を比較し
、両電圧か一致ずれば一致検出他号を出力する。システ
ム制御１１部１１は装置全体を制御している。
第２図に」−記システムによる作用のソローナヤートを
ｉ４＜ ’Ｊ−０まずＳ ＴＩ ６ｊ−（全り、 Ｅ
＋、）を；：ａ ｔ］さ−１４る。このときの被検査品
１の電流をＩｃｃ（ｓ）。
ｉ４＜ ’Ｊ−０まずＳ ＴＩ ６ｊ−（全り、 Ｅ
＋、）を；：ａ ｔ］さ−１４る。このときの被検査品
１の電流をＩｃｃ（ｓ）。
＋４Ｎ〆（（良品２の電流をＩ Ｃ（： （Ｍ ）とす
る。ザンプルボールト回路７はこの両ＩＭ流の差 ΔＩＣ（： （Ｉｌｏｌｄ）−１ｃｃ （ｓ ） Ｉｃ
ｅ Ｕ ）を（呆１ろする（ＳＴ２）。
る。ザンプルボールト回路７はこの両ＩＭ流の差 ΔＩＣ（： （Ｉｌｏｌｄ）−１ｃｃ （ｓ ） Ｉｃ
ｅ Ｕ ）を（呆１ろする（ＳＴ２）。
次ビご、被検１！「品１及び標（１（良品２の人カ妬１
子へ印加する人力霜月−Ｖｉｎを逐次変化さ−ｌてゆく
。この入力端子Ｖｉｎの大きさに応して当月１．． Ｅ
１．） （１り １１６１数が変化する。４） Ｌ、
Ｉ、ト〕ＩＪの不良のために産月ず・＼きときに産月
しノ五いものが２らると１古・、な状態に比べて消費電
流値が減少ずろ。まずはＵ７めに第１１ノＩ・の１．
ｌ’： １．）のめを点灯するように入力電圧Ｖｉｎが
印加される。Ｃのときの第１の差動回路６の出力は Δｌ （：Ｃ１＝ ｌｃｃ （ｓ ） −１ｃｃ （Ｍ
）ごある。第２の差動回路６はごのΔＩｃｃ１ とボ
ールド電ｊ「ΔＩ ｃｃ、 （ｌｌｏｌｄ）の差Δｉｃ
ｃ】 −Δ１ｃｃ１−Δｌ ｃｃ （ｆｌｏｏｄ）を検
出する（Ｓ′ｒ５）。次に比較回路により、ご゛のΔ！
ｃｃ’ｌか所定の許容範囲内にあるが台がが判１４Ｊ
「される（ Ｓ Ｔ６ ） 、 ｆｌｆｉｊｌｆｔｌ内
にあれば、Ｙ Ｅ Ｓ （７，）ゾランナへ進めＳ Ｔ
：３へ戻って入力端子Ｖｉｎが次の値に変化し、同様の
検査が繰返される。ずべ′ζ０旧２ノＩ・についこの検
存が終ｒｌるとＳ Ｔ ７がらＹ Ｅ Ｓ−、進め全検
査が終ｒする。判断ステツプｓＴ６に才几”（ｊ’ｌ容
範囲内に、入っ（いないと判１４Ｉｉされ〕こときはＳ
Ｔｌ＋ ”、進み、”ＮｏＧＯ”が表示され、検ｆ１
か終１゛′Ｊる。
子へ印加する人力霜月−Ｖｉｎを逐次変化さ−ｌてゆく
。この入力端子Ｖｉｎの大きさに応して当月１．． Ｅ
１．） （１り １１６１数が変化する。４） Ｌ、
Ｉ、ト〕ＩＪの不良のために産月ず・＼きときに産月
しノ五いものが２らると１古・、な状態に比べて消費電
流値が減少ずろ。まずはＵ７めに第１１ノＩ・の１．
ｌ’： １．）のめを点灯するように入力電圧Ｖｉｎが
印加される。Ｃのときの第１の差動回路６の出力は Δｌ （：Ｃ１＝ ｌｃｃ （ｓ ） −１ｃｃ （Ｍ
）ごある。第２の差動回路６はごのΔＩｃｃ１ とボ
ールド電ｊ「ΔＩ ｃｃ、 （ｌｌｏｌｄ）の差Δｉｃ
ｃ】 −Δ１ｃｃ１−Δｌ ｃｃ （ｆｌｏｏｄ）を検
出する（Ｓ′ｒ５）。次に比較回路により、ご゛のΔ！
ｃｃ’ｌか所定の許容範囲内にあるが台がが判１４Ｊ
「される（ Ｓ Ｔ６ ） 、 ｆｌｆｉｊｌｆｔｌ内
にあれば、Ｙ Ｅ Ｓ （７，）ゾランナへ進めＳ Ｔ
：３へ戻って入力端子Ｖｉｎが次の値に変化し、同様の
検査が繰返される。ずべ′ζ０旧２ノＩ・についこの検
存が終ｒｌるとＳ Ｔ ７がらＹ Ｅ Ｓ−、進め全検
査が終ｒする。判断ステツプｓＴ６に才几”（ｊ’ｌ容
範囲内に、入っ（いないと判１４Ｉｉされ〕こときはＳ
Ｔｌ＋ ”、進み、”ＮｏＧＯ”が表示され、検ｆ１
か終１゛′Ｊる。
第３図に本発明の実施例の回路図を示−４゜被検査品１
番、１．１２ ｆ１ＭＩθ月−Ｅ ｌ） Ｉ） ＋−０
１２が一列に配列され、ドライバーＩＣＱＩの出刃端子
０ＵＴ１−ＯＵＴｌ ２に接続されている。各ＬＥＤは
Ｖｒｅｆ端子に印加された電圧を基準電圧として、Ｖ
ｊｒ＋＋４子に印加された入力端子Ｖｉｎに応して点灯
する。ＬＥＤに流れる電流は抵抗Ｒにより一定電流値に
なるよう制御される。電流検出回路４，５はデバイス印
加用電源３とレベルメータユニット１．２の間に接続さ
れる。第１及び第２の差動回路６．８は演算増幅器Ｑ３
．Ｑ５により構成されている。ＡＮ、Ｄゲート回路Ｑ６
は制御部１１の同期信号に同期して比較回路９の不一致
イａ′＋ずなゎらＮｏＧｏ’”信号を出力する。
番、１．１２ ｆ１ＭＩθ月−Ｅ ｌ） Ｉ） ＋−０
１２が一列に配列され、ドライバーＩＣＱＩの出刃端子
０ＵＴ１−ＯＵＴｌ ２に接続されている。各ＬＥＤは
Ｖｒｅｆ端子に印加された電圧を基準電圧として、Ｖ
ｊｒ＋＋４子に印加された入力端子Ｖｉｎに応して点灯
する。ＬＥＤに流れる電流は抵抗Ｒにより一定電流値に
なるよう制御される。電流検出回路４，５はデバイス印
加用電源３とレベルメータユニット１．２の間に接続さ
れる。第１及び第２の差動回路６．８は演算増幅器Ｑ３
．Ｑ５により構成されている。ＡＮ、Ｄゲート回路Ｑ６
は制御部１１の同期信号に同期して比較回路９の不一致
イａ′＋ずなゎらＮｏＧｏ’”信号を出力する。
〈発明の効果〉
本発明によれば、目視検査に１イ１らずずべての表示状
態を完全に自動検査できるので、検査粘度と信頼性が向
」二する。また、ｉＩ′ＩＪ速度に表示状態を切換える
ことができるので検査時間が短縮される。
態を完全に自動検査できるので、検査粘度と信頼性が向
」二する。また、ｉＩ′ＩＪ速度に表示状態を切換える
ことができるので検査時間が短縮される。
第１図は本発明実施例のブじｌツクｊΔ、第２図は上記
実施例の作用を示すフローチャー１・、第３図は上記実
施例の回路図である。 １ 彼検ヂを晶 ２−標準良品 ４．５−−’ｉｉｉ流検出流路 出回路動回路 ９−比較回路 １ （） ノ、（１１仁７１１月ニ ド）ｆｔ出願人 シャープ株式会社 代 理 人 弁理士内 １）新 手＊−ｙｉ−？ｃ市正凹：（自発） ２． 発明の名称 Ｌ Ｅ １つレベルメータユニットの検査語Ｆｉｔ３、
補止をする者 氏名 （５０４）シャープ株式会社 代表者 佐伯 旭 ４、代理人 住所 大阪市北区兎我野町１５番１３号６、？ｄｉ正の
対象 明、ｆｎ＋書
実施例の作用を示すフローチャー１・、第３図は上記実
施例の回路図である。 １ 彼検ヂを晶 ２−標準良品 ４．５−−’ｉｉｉ流検出流路 出回路動回路 ９−比較回路 １ （） ノ、（１１仁７１１月ニ ド）ｆｔ出願人 シャープ株式会社 代 理 人 弁理士内 １）新 手＊−ｙｉ−？ｃ市正凹：（自発） ２． 発明の名称 Ｌ Ｅ １つレベルメータユニットの検査語Ｆｉｔ３、
補止をする者 氏名 （５０４）シャープ株式会社 代表者 佐伯 旭 ４、代理人 住所 大阪市北区兎我野町１５番１３号６、？ｄｉ正の
対象 明、ｆｎ＋書
Claims (1)
- 複数１１１＋Ｉの１−、 ＥＩ）を所定パターンに配列
し入力信号に応した個数のＬ Ｅ Ｉ’）を産月する装
置の検査装置であっζ、被検査品と同一構造の標準良品
と、１＝記破＋＊査晶と標準良品の消ｇ電力を検出する
電流検出回路と、その両ｒｈ流検出回路の出力差を検出
する手段と、その差があらかしめ定められた範囲内にあ
るか否かを判別する比較手段を有し、上記被検査品と−
に記標準良品の各Ｌ Ｅ ｌ）のうらＪｌ−に対）応し
たものを点幻させたときの両’ｊｌｉ流差を比較し７て
被検査品の食台を判別するよ・）構成されたＬ Ｅ Ｌ
）レベルメータユニットのＭ 介装ＦＲ０
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58250161A JPS60142278A (ja) | 1983-12-28 | 1983-12-28 | Ｌｅｄレベルメ−タユニツトの検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58250161A JPS60142278A (ja) | 1983-12-28 | 1983-12-28 | Ｌｅｄレベルメ−タユニツトの検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60142278A true JPS60142278A (ja) | 1985-07-27 |
Family
ID=17203724
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58250161A Pending JPS60142278A (ja) | 1983-12-28 | 1983-12-28 | Ｌｅｄレベルメ−タユニツトの検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60142278A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008288231A (ja) * | 2007-05-15 | 2008-11-27 | Citizen Electronics Co Ltd | 発光装置 |
-
1983
- 1983-12-28 JP JP58250161A patent/JPS60142278A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008288231A (ja) * | 2007-05-15 | 2008-11-27 | Citizen Electronics Co Ltd | 発光装置 |
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