JPS60142278A - Ledレベルメ−タユニツトの検査装置 - Google Patents
Ledレベルメ−タユニツトの検査装置Info
- Publication number
- JPS60142278A JPS60142278A JP58250161A JP25016183A JPS60142278A JP S60142278 A JPS60142278 A JP S60142278A JP 58250161 A JP58250161 A JP 58250161A JP 25016183 A JP25016183 A JP 25016183A JP S60142278 A JPS60142278 A JP S60142278A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- difference
- article
- inspected
- current
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
く技術分野〉
本発明は棒グラフを表示J′るため複数個のL F、
D(固体発生ダイオード)を配列した表示器と、そ0)
1ライフ用ICを同一ノに板上にマウントしてなるL
E Dレベルメーターr−ニットの検査装置1W Lご
関し、特に、容器内に収納された完成品の検イ↑t−,
’W置に関する。
D(固体発生ダイオード)を配列した表示器と、そ0)
1ライフ用ICを同一ノに板上にマウントしてなるL
E Dレベルメーターr−ニットの検査装置1W Lご
関し、特に、容器内に収納された完成品の検イ↑t−,
’W置に関する。
く解決課題〉
未だケースに収納される前の状(占、ずなわら表示器と
トライソ川ICが基4に土にマウントされた状態のもの
に対しては 例えC5Lプリント配線パターン上にプロ
ーブ用ラントを設り、これにゾU−ブコンタクトピンを
当ζL E I)の醋i−J”fIi位を基板外に導出
して各種の検査を行うことかi+J能Cある。。
トライソ川ICが基4に土にマウントされた状態のもの
に対しては 例えC5Lプリント配線パターン上にプロ
ーブ用ラントを設り、これにゾU−ブコンタクトピンを
当ζL E I)の醋i−J”fIi位を基板外に導出
して各種の検査を行うことかi+J能Cある。。
しかし、完成品をそのガバーケースを取り外さないまま
検査しようとずれは−1−記の方法を採用することかで
きない。
検査しようとずれは−1−記の方法を採用することかで
きない。
()L来は、検査台か11視にて1. I(、l)の点
刻、不産月を判別していたか、検査者の視覚か追従しフ
る程度の表示の切換えをしな&Jれはならないので所要
時間がkくなり、しかも誤認識のおそれがあるため伝頼
性に問題があった。
刻、不産月を判別していたか、検査者の視覚か追従しフ
る程度の表示の切換えをしな&Jれはならないので所要
時間がkくなり、しかも誤認識のおそれがあるため伝頼
性に問題があった。
〈発明の目的〉
本発明の目的は、完成品のカバーケースを外すことなく
、 1l−F速度で、表示機能を自動的に検査する公
電′を提供することにある。
、 1l−F速度で、表示機能を自動的に検査する公
電′を提供することにある。
〈発明の構成〉
本発明のI−、JE +)レベルメークユニットの検査
装置は、被検査品と同一構造の標準良品と、上記被検査
品と標準良品の消費電力を検出する電流検出回路と、そ
の両電流検出回路の出力差を検出する一L段と、その差
かあらかしめ定められた範囲内にあ・6か否かを判別す
る比較手段を合し、上記被検査品と上記標準良品の各L
F、 I)のうらRに対応しノこものを1.I、己j
さ・lたときの両電流差を比較して被検査品の良否を判
別するよう構成されたことによりll)徴づ6ノられる
。
装置は、被検査品と同一構造の標準良品と、上記被検査
品と標準良品の消費電力を検出する電流検出回路と、そ
の両電流検出回路の出力差を検出する一L段と、その差
かあらかしめ定められた範囲内にあ・6か否かを判別す
る比較手段を合し、上記被検査品と上記標準良品の各L
F、 I)のうらRに対応しノこものを1.I、己j
さ・lたときの両電流差を比較して被検査品の良否を判
別するよう構成されたことによりll)徴づ6ノられる
。
〈実施例〉
1B1図に本発明実施例のシステムブロック図を小ず。
被検百晶lと同一構造の標〆(ち良品2を用7Q:し、
デバイス用電源回路3により両市に同一表示H51g勅
を行わ−Uる。電流検出回路4,5は被検査品■と1票
準良品2の消費電流をそれぞれ検出し、差動回il′6
6が両電流の差を検出する。ザンプルボールド回(洛7
はごの差動回1/8 fiの出力を保(、冒Jイ)。
デバイス用電源回路3により両市に同一表示H51g勅
を行わ−Uる。電流検出回路4,5は被検査品■と1票
準良品2の消費電流をそれぞれ検出し、差動回il′6
6が両電流の差を検出する。ザンプルボールド回(洛7
はごの差動回1/8 fiの出力を保(、冒Jイ)。
第2の差動回路8はリーンプルボールド回路7の保持内
容と、差動回路6の出力の差を検出する。比較回路9は
差動回1188の出力と基1(t−X前圧]0を比較し
、両電圧か一致ずれば一致検出他号を出力する。システ
ム制御11部11は装置全体を制御している。
容と、差動回路6の出力の差を検出する。比較回路9は
差動回1188の出力と基1(t−X前圧]0を比較し
、両電圧か一致ずれば一致検出他号を出力する。システ
ム制御11部11は装置全体を制御している。
第2図に」−記システムによる作用のソローナヤートを
i4< ’J−0まずS TI 6j−(全り、 E
+、)を;:a t]さ−14る。このときの被検査品
1の電流をIcc(s)。
i4< ’J−0まずS TI 6j−(全り、 E
+、)を;:a t]さ−14る。このときの被検査品
1の電流をIcc(s)。
+4N〆((良品2の電流をI C(: (M )とす
る。ザンプルボールト回路7はこの両IM流の差 ΔIC(: (Ilold)−1cc (s ) Ic
e U )を(呆1ろする(ST2)。
る。ザンプルボールト回路7はこの両IM流の差 ΔIC(: (Ilold)−1cc (s ) Ic
e U )を(呆1ろする(ST2)。
次ビご、被検1!「品1及び標(1(良品2の人カ妬1
子へ印加する人力霜月−Vinを逐次変化さ−lてゆく
。この入力端子Vinの大きさに応して当月1.. E
1.) (1り 1161数が変化する。4) L、
I、ト〕IJの不良のために産月ず・\きときに産月
しノ五いものが2らると1古・、な状態に比べて消費電
流値が減少ずろ。まずはU7めに第11ノI・の1.
l’: 1.)のめを点灯するように入力電圧Vinが
印加される。Cのときの第1の差動回路6の出力は Δl (:C1= lcc (s ) −1cc (M
)ごある。第2の差動回路6はごのΔIcc1 とボ
ールド電j「ΔI cc、 (llold)の差Δic
c】 −Δ1cc1−Δl cc (flood)を検
出する(S′r5)。次に比較回路により、ご゛のΔ!
cc’lか所定の許容範囲内にあるが台がが判14J
「される( S T6 ) 、 flfijlftl内
にあれば、Y E S (7,)ゾランナへ進めS T
:3へ戻って入力端子Vinが次の値に変化し、同様の
検査が繰返される。ずべ′ζ0旧2ノI・についこの検
存が終rlるとS T 7がらY E S−、進め全検
査が終rする。判断ステツプsT6に才几”(j’l容
範囲内に、入っ(いないと判14Iiされ〕こときはS
Tl+ ”、進み、”NoGO”が表示され、検f1
か終1゛′Jる。
子へ印加する人力霜月−Vinを逐次変化さ−lてゆく
。この入力端子Vinの大きさに応して当月1.. E
1.) (1り 1161数が変化する。4) L、
I、ト〕IJの不良のために産月ず・\きときに産月
しノ五いものが2らると1古・、な状態に比べて消費電
流値が減少ずろ。まずはU7めに第11ノI・の1.
l’: 1.)のめを点灯するように入力電圧Vinが
印加される。Cのときの第1の差動回路6の出力は Δl (:C1= lcc (s ) −1cc (M
)ごある。第2の差動回路6はごのΔIcc1 とボ
ールド電j「ΔI cc、 (llold)の差Δic
c】 −Δ1cc1−Δl cc (flood)を検
出する(S′r5)。次に比較回路により、ご゛のΔ!
cc’lか所定の許容範囲内にあるが台がが判14J
「される( S T6 ) 、 flfijlftl内
にあれば、Y E S (7,)ゾランナへ進めS T
:3へ戻って入力端子Vinが次の値に変化し、同様の
検査が繰返される。ずべ′ζ0旧2ノI・についこの検
存が終rlるとS T 7がらY E S−、進め全検
査が終rする。判断ステツプsT6に才几”(j’l容
範囲内に、入っ(いないと判14Iiされ〕こときはS
Tl+ ”、進み、”NoGO”が表示され、検f1
か終1゛′Jる。
第3図に本発明の実施例の回路図を示−4゜被検査品1
番、1.12 f1MIθ月−E l) I) +−0
12が一列に配列され、ドライバーICQIの出刃端子
0UT1−OUTl 2に接続されている。各LEDは
Vref端子に印加された電圧を基準電圧として、V
jr++4子に印加された入力端子Vinに応して点灯
する。LEDに流れる電流は抵抗Rにより一定電流値に
なるよう制御される。電流検出回路4,5はデバイス印
加用電源3とレベルメータユニット1.2の間に接続さ
れる。第1及び第2の差動回路6.8は演算増幅器Q3
.Q5により構成されている。AN、Dゲート回路Q6
は制御部11の同期信号に同期して比較回路9の不一致
イa′+ずなゎらNoGo’”信号を出力する。
番、1.12 f1MIθ月−E l) I) +−0
12が一列に配列され、ドライバーICQIの出刃端子
0UT1−OUTl 2に接続されている。各LEDは
Vref端子に印加された電圧を基準電圧として、V
jr++4子に印加された入力端子Vinに応して点灯
する。LEDに流れる電流は抵抗Rにより一定電流値に
なるよう制御される。電流検出回路4,5はデバイス印
加用電源3とレベルメータユニット1.2の間に接続さ
れる。第1及び第2の差動回路6.8は演算増幅器Q3
.Q5により構成されている。AN、Dゲート回路Q6
は制御部11の同期信号に同期して比較回路9の不一致
イa′+ずなゎらNoGo’”信号を出力する。
〈発明の効果〉
本発明によれば、目視検査に1イ1らずずべての表示状
態を完全に自動検査できるので、検査粘度と信頼性が向
」二する。また、iI′IJ速度に表示状態を切換える
ことができるので検査時間が短縮される。
態を完全に自動検査できるので、検査粘度と信頼性が向
」二する。また、iI′IJ速度に表示状態を切換える
ことができるので検査時間が短縮される。
第1図は本発明実施例のブじlツクjΔ、第2図は上記
実施例の作用を示すフローチャー1・、第3図は上記実
施例の回路図である。 1 彼検ヂを晶 2−標準良品 4.5−−’iii流検出流路 出回路動回路 9−比較回路 1 () ノ、(11仁711月ニ ド)ft出願人 シャープ株式会社 代 理 人 弁理士内 1)新 手*−yi−?c市正凹:(自発) 2. 発明の名称 L E 1つレベルメータユニットの検査語Fit3、
補止をする者 氏名 (504)シャープ株式会社 代表者 佐伯 旭 4、代理人 住所 大阪市北区兎我野町15番13号6、?di正の
対象 明、fn+書
実施例の作用を示すフローチャー1・、第3図は上記実
施例の回路図である。 1 彼検ヂを晶 2−標準良品 4.5−−’iii流検出流路 出回路動回路 9−比較回路 1 () ノ、(11仁711月ニ ド)ft出願人 シャープ株式会社 代 理 人 弁理士内 1)新 手*−yi−?c市正凹:(自発) 2. 発明の名称 L E 1つレベルメータユニットの検査語Fit3、
補止をする者 氏名 (504)シャープ株式会社 代表者 佐伯 旭 4、代理人 住所 大阪市北区兎我野町15番13号6、?di正の
対象 明、fn+書
Claims (1)
- 複数111+Iの1−、 EI)を所定パターンに配列
し入力信号に応した個数のL E I’)を産月する装
置の検査装置であっζ、被検査品と同一構造の標準良品
と、1=記破+*査晶と標準良品の消g電力を検出する
電流検出回路と、その両rh流検出回路の出力差を検出
する手段と、その差があらかしめ定められた範囲内にあ
るか否かを判別する比較手段を有し、上記被検査品と−
に記標準良品の各L E l)のうらJl−に対)応し
たものを点幻させたときの両’jli流差を比較し7て
被検査品の食台を判別するよ・)構成されたL E L
)レベルメータユニットのM 介装FR0
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58250161A JPS60142278A (ja) | 1983-12-28 | 1983-12-28 | Ledレベルメ−タユニツトの検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58250161A JPS60142278A (ja) | 1983-12-28 | 1983-12-28 | Ledレベルメ−タユニツトの検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60142278A true JPS60142278A (ja) | 1985-07-27 |
Family
ID=17203724
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58250161A Pending JPS60142278A (ja) | 1983-12-28 | 1983-12-28 | Ledレベルメ−タユニツトの検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60142278A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008288231A (ja) * | 2007-05-15 | 2008-11-27 | Citizen Electronics Co Ltd | 発光装置 |
-
1983
- 1983-12-28 JP JP58250161A patent/JPS60142278A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008288231A (ja) * | 2007-05-15 | 2008-11-27 | Citizen Electronics Co Ltd | 発光装置 |
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