JPS6011646Y2 - フラツトパツケ−ジ - Google Patents

フラツトパツケ−ジ

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Publication number
JPS6011646Y2
JPS6011646Y2 JP1926879U JP1926879U JPS6011646Y2 JP S6011646 Y2 JPS6011646 Y2 JP S6011646Y2 JP 1926879 U JP1926879 U JP 1926879U JP 1926879 U JP1926879 U JP 1926879U JP S6011646 Y2 JPS6011646 Y2 JP S6011646Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
flat package
housing
electrodes
package
integrated circuit
Prior art date
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Expired
Application number
JP1926879U
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English (en)
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JPS55120159U (ja
Inventor
亨 真庭
啓介 真島
Original Assignee
日本電子機器株式会社
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Publication date
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は集積回路パッケージに関するものであり、とく
に絶縁材で底形され半導体集積回路チップを実装するた
めのハウジングと、このハウジングの底面の周縁部に配
列され半導体集積回路を外部の回路へ電気的に接続する
ための複数の電極とを含むフラットパッケージに関する
ものである。
このようなフラットパッケージは、電極パターンを蒸着
ないし印刷した厚膜集積回路基板に搭載して混成集積回
路を形成したり、回路パターンを印刷した印刷回路基板
に実装して電子回路パッケージを構成したりするのに使
用され、小型化、低価格性、および生産性の点で有利で
あることが知られている。
しかし本来の小型化の要求によりパッケージの電極間隔
が狭く、さらにパッケージ底面とそれを搭載する基板と
の間隔も狭い。
このようなフラットパッケージを基板に実装するために
ボンディング工程においてフラックスを用いてパッケー
ジ電極と基板のパターンとの半田付けを行った場合、こ
れらの電極間間隔やパッケージと基板との間隙に毛細管
現象により浸入した余剰のフラックスを洗浄工程によっ
て完全に除去することは困難である。
このような残留フラックスは電極間の絶縁低下や導体パ
ターン中における銀のマイグレーションの進行および電
極の腐食をきたす。
したがってこのような従来のフラットパッケージはそれ
を使用した電子回路システム全体の信頼性を低下させて
いる。
本考案は、このような残留フラックスを効果的に除去す
ることのできるフラットパッケージを提供し、このよう
なパッケージを組み込む電子装置の生産性を高めシステ
ムの信頼性の向上を図ることを目的とする。
このような目的のために本考案によるフラットパッケー
ジは、複数の電極の相互の間隙におけるハウジング底面
に溝を形成して電極相互間を分離し、洗浄工程において
洗浄液が容易に流入出できるように構成されている。
次に本考案によるフラットパッケージの実施例を添付の
図面を参照して詳細に説明する。
第1図は本考案によるフラットパッケージの一実施例の
底面を示す平面図で、その一点鎖線■−■にて切断して
矢印方面から見た断面図を第2図に示す。
このフラットパッケージは、半導体集積回路チップ(図
示せず)を搭載する絶縁材で底形されたハウジング10
と、それをガラス封止剤などで気密封止するキャップ1
2とを含む。
その底面14の周縁部には、半導体集積回路を外部の回
路(図示せず)と電気的に接続するための導体電極16
が配列され、これらの電極16の相互間におけるハウジ
ング10の底面14には溝18が図示のように形成され
ている。
この溝18は第2図の実施例では図示のように矩形断面
形状を有する。
このフラットパッケージを厚膜集積回路基板または印刷
回路基板(図示せず)に搭載して基板上の回路パターン
とボンデングを行なう際にパッケージや基板に付着した
余剰のフラックスは、これらの溝18を容易に流入出す
る洗浄液によって完全に除去することができる。
第3図および第4図は他の断面形状の溝18Aおよび1
8Bを示し、それぞれ断面は半円形および三角形である
なおこれらの図面においてパッケージの大きさに対して
電極や溝の大きさおよび個数は説明のために誇張して図
示されている。
本考案によるフラットパッケージはこのような構成によ
りボンデング工程における残留フラックスを効果的に除
去することができるので、これを搭載した電子装置の耐
腐食性、絶縁性が向上し、小型、高密度実装でかつ高信
頼性のシステムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案によるフラットパッケージの一実施例の
底面を示す平面図、第2図は第1図に示すフラットパッ
ケージの一点鎖線■−Hにおける断面図、第3図および
第4図は本考案によるフラットパッケージの他の実施例
を示す部分断面図である。 主要部分の符号の説明、10・・・・・・ハウジング、
14・・・・・・底面、16・・・・・・電極、18・
・・・・・溝。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 絶縁材で成形され半導体集積回路チップを実装するため
    のハウジングと、該ハウジングの底面の周縁部に配列さ
    れ半導体集積回路を外部の回路へ電気的に接続するため
    の複数の電極とを含むフラットパッケージにおいて、前
    記複数の電極の相互の間隙におけるハウジング底面に溝
    を形成したことを特徴とするフラットパッケージ。
JP1926879U 1979-02-17 1979-02-17 フラツトパツケ−ジ Expired JPS6011646Y2 (ja)

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JP1926879U JPS6011646Y2 (ja) 1979-02-17 1979-02-17 フラツトパツケ−ジ

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JPS55120159U JPS55120159U (ja) 1980-08-26
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