JPS5850538A - 写真フイルム乾燥装置 - Google Patents
写真フイルム乾燥装置Info
- Publication number
- JPS5850538A JPS5850538A JP57105254A JP10525482A JPS5850538A JP S5850538 A JPS5850538 A JP S5850538A JP 57105254 A JP57105254 A JP 57105254A JP 10525482 A JP10525482 A JP 10525482A JP S5850538 A JPS5850538 A JP S5850538A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- temperature
- drying
- power
- lamp
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03D—APPARATUS FOR PROCESSING EXPOSED PHOTOGRAPHIC MATERIALS; ACCESSORIES THEREFOR
- G03D15/00—Apparatus for treating processed material
- G03D15/02—Drying; Glazing
- G03D15/022—Drying of filmstrips
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Drying Of Solid Materials (AREA)
- Photographic Processing Devices Using Wet Methods (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は水を含んだ写真フィルムV乾燥するための新規
な装置、および写真処理櫟林に関するものである。特に
、前記装置を有するレントゲン写真機械またはグラフィ
ック・アート機械に関するものである。
な装置、および写真処理櫟林に関するものである。特に
、前記装置を有するレントゲン写真機械またはグラフィ
ック・アート機械に関するものである。
露光された写真フィルムは写真処理浴、例えばレントr
ンフイルムの場合には覗像浴、定着浴および水洗浴とい
った処理浴が行なわれ、そしてそれから、処理の後、含
まれた水分を除去するために乾燥されることはよく知ら
れている。
ンフイルムの場合には覗像浴、定着浴および水洗浴とい
った処理浴が行なわれ、そしてそれから、処理の後、含
まれた水分を除去するために乾燥されることはよく知ら
れている。
この乾燥工程は写真工程全体の中で重要な段階であり、
得られる最終的な像の品質に影響を与えると午もまた知
られている。この乾燥工程は、高温の空気がその中に吹
込まれている乾燥室の中で実行されるか、または搬送装
−がそなえられているならば、フィルムが乾燥室の中を
通過することによって実行されるかのいずれかである。
得られる最終的な像の品質に影響を与えると午もまた知
られている。この乾燥工程は、高温の空気がその中に吹
込まれている乾燥室の中で実行されるか、または搬送装
−がそなえられているならば、フィルムが乾燥室の中を
通過することによって実行されるかのいずれかである。
後者の場合、搬送装置の少なくとも一部分は通常乾燥室
の中に配置される。これらの搬送装置は一般にローラを
有している。これらのローラは自分自身の軸のまわりに
回転し、そしてこの回転により、ローラと接触しでいる
フィルムを、これらのローラとフィルムとの接点によっ
て定まる搬送面に沿って移動させる。特に、米国特許第
3,025,779号に記載されているように、前記ロ
ーラは対向形にまたは食違い形に並べて配置される。
の中に配置される。これらの搬送装置は一般にローラを
有している。これらのローラは自分自身の軸のまわりに
回転し、そしてこの回転により、ローラと接触しでいる
フィルムを、これらのローラとフィルムとの接点によっ
て定まる搬送面に沿って移動させる。特に、米国特許第
3,025,779号に記載されているように、前記ロ
ーラは対向形にまたは食違い形に並べて配置される。
算2の形の搬送装置は一般にファンを有シている。この
ファンは熱源に向って空気を送り、そしてそれから乾燥
すべきフィルムが乾燥室を通る間このフィルムの両面に
この空気を吹きつける。フィルムに吹きつけられた空気
の温度が高ければ高い程、この高温の空気流はフィルム
をより速く乾燥させる。(この高温空気源は従来の電気
ヒータ素子であるか、または英国特許第1.131.6
81号に記載されている赤外線放射源のような他の熱源
である。)前記高温空気の温度は通常50〜70℃であ
る。
ファンは熱源に向って空気を送り、そしてそれから乾燥
すべきフィルムが乾燥室を通る間このフィルムの両面に
この空気を吹きつける。フィルムに吹きつけられた空気
の温度が高ければ高い程、この高温の空気流はフィルム
をより速く乾燥させる。(この高温空気源は従来の電気
ヒータ素子であるか、または英国特許第1.131.6
81号に記載されている赤外線放射源のような他の熱源
である。)前記高温空気の温度は通常50〜70℃であ
る。
−またはこのような装置は、フィルムの近(に配置され
た赤外線光源を有していや。この赤外線光源は、加熱さ
れていない空気と組合わせて、赤外線でフィルムを直接
に照射する。この加熱されていない空気はファン装置に
よって流れており、この空気の流れは、米国特許第3.
900.959号に記載されているように、フィルムか
ら蒸発する湿気を取去ると共に、フィルムを冷却スル。
た赤外線光源を有していや。この赤外線光源は、加熱さ
れていない空気と組合わせて、赤外線でフィルムを直接
に照射する。この加熱されていない空気はファン装置に
よって流れており、この空気の流れは、米国特許第3.
900.959号に記載されているように、フィルムか
ら蒸発する湿気を取去ると共に、フィルムを冷却スル。
第2の形の前記装置は水を含んだ写真フィルムを乾燥す
る技術では進歩していると考えられるが。
る技術では進歩していると考えられるが。
運転の経済性に加えて、許容処理範囲が大きいことおよ
゛び運転の効率および容易さを有する乾燥装置が得られ
れば、さらにまた進歩があったと考えられる。
゛び運転の効率および容易さを有する乾燥装置が得られ
れば、さらにまた進歩があったと考えられる。
本発明を開発するにさいして、乾燥室内の温度を測定す
るためのプローブと、この機械の中にフィルムがあるこ
とを指示する入口のところにあるセンサ装置と、(後で
詳細に記述される)オン・オフ制御される赤外線ランプ
と、この機械の速度を変えるための装置と、この速度を
測定するための装置とを有する市場で千に入れることが
できる機械を用いた。前記測定装置および制御装置のお
のおのはマイクロブ四セッサと関連してfEh作fル。
るためのプローブと、この機械の中にフィルムがあるこ
とを指示する入口のところにあるセンサ装置と、(後で
詳細に記述される)オン・オフ制御される赤外線ランプ
と、この機械の速度を変えるための装置と、この速度を
測定するための装置とを有する市場で千に入れることが
できる機械を用いた。前記測定装置および制御装置のお
のおのはマイクロブ四セッサと関連してfEh作fル。
基本的な考えは、乾燥室内の空気の温度が予め定められ
た値よりも高い(または低〜い)時、ランプが自動的に
オフ(またはオン)になるということである0けれども
、この考えは乾燥室から出てくるフィルムがなお湿った
部分を有しているという多くの失敗例に基づくものであ
る。
た値よりも高い(または低〜い)時、ランプが自動的に
オフ(またはオン)になるということである0けれども
、この考えは乾燥室から出てくるフィルムがなお湿った
部分を有しているという多くの失敗例に基づくものであ
る。
空気の温度の測定に従って赤外線光源への電力供給を調
節するという考えに、基本的な誤りがあるかも知れない
という心配はあった。この空気の温度は、温度に関して
は、乾燥工程(赤外線によって主として実行されている
)の本質的な部分ではないと考えられる心配があった。
節するという考えに、基本的な誤りがあるかも知れない
という心配はあった。この空気の温度は、温度に関して
は、乾燥工程(赤外線によって主として実行されている
)の本質的な部分ではないと考えられる心配があった。
逆に、フィルムの乾燥が加熱された空気を通ゝして行な
われる時。
われる時。
よく知られているように、空気ヒータは乾燥温度を予め
定められた値1例えば50〜70℃の範囲内のある値に
保つために、オンとオフの間で切替えることができる。
定められた値1例えば50〜70℃の範囲内のある値に
保つために、オンとオフの間で切替えることができる。
主周波数(外から加えられた電圧の周波数)の電圧を用
いて電力を次第に変えることにより、ランプへの電力を
オンおよびオフに切替えて2ンデへの電力を制御するの
にマイクロプロセッサをそなえることは、このことは赤
外線光源に衝撃を与えないために本出願人によって導入
されたのであるが、定められた値を越える温度測定があ
った場合に、赤外線光源への電力の減少にある限界を設
定することを可能にする。この変更により、写真フイ、
ルムの乾燥を本発明に従って実−行することを可能にす
る。
いて電力を次第に変えることにより、ランプへの電力を
オンおよびオフに切替えて2ンデへの電力を制御するの
にマイクロプロセッサをそなえることは、このことは赤
外線光源に衝撃を与えないために本出願人によって導入
されたのであるが、定められた値を越える温度測定があ
った場合に、赤外線光源への電力の減少にある限界を設
定することを可能にする。この変更により、写真フイ、
ルムの乾燥を本発明に従って実−行することを可能にす
る。
このことに関して1本発明により、赤外線光源に供給さ
れる平均か作雷力でもって良好な乾燥結果のえられるこ
とがわかった。こ、の平均動作電力は、もしこの電力が
乾燥室内の温度測定装置によって次のよう圧制御される
ならば、すなわち、予や定められた作業温度以下の温度
の場合にはこの電力が大きくされ、そして!!配湯温度
以上場合には減少されるというように制御されるならば
1通常の場合よりも大幅に小さい。ただし、制御のさに
対応する空気温度でフィルムを十分に乾燥する最小電力
閾値を下まわらないものとする。
れる平均か作雷力でもって良好な乾燥結果のえられるこ
とがわかった。こ、の平均動作電力は、もしこの電力が
乾燥室内の温度測定装置によって次のよう圧制御される
ならば、すなわち、予や定められた作業温度以下の温度
の場合にはこの電力が大きくされ、そして!!配湯温度
以上場合には減少されるというように制御されるならば
1通常の場合よりも大幅に小さい。ただし、制御のさに
対応する空気温度でフィルムを十分に乾燥する最小電力
閾値を下まわらないものとする。
換言すれば、写真フィルムを乾燥するのにはそれ自身不
十分なある温度にある空気とある最小電力で放射された
赤外線を組合わせることにより。
十分なある温度にある空気とある最小電力で放射された
赤外線を組合わせることにより。
前記温度の測定された減少毎に、もしこの電力が自動装
置によって増加されるならば、フィルムが乾燥する。
置によって増加されるならば、フィルムが乾燥する。
この「最小」電力は、設定された作業濁度で着目するフ
ィルム(または多数のフィルムがある場合には最もきわ
どいフィルム)を乾燥させるのに十分な電力として定義
される。(設定された前記作業温度は1機械の熱容量お
よび処理されるフィルムの熱容量に対応する値だけ1例
えばいまの機械とフィルムに対し約1°Cと計算される
範囲内のある値だけ低い実際の作業温度である。)
・本発明は、入口および出口を有する乾燥室と、前記乾
燥室内に少なくとも部分的に配置されたフィルム運搬装
置と、フィルムの運搬面に対面している細長い形の赤外
線放射源と(フィルムが乾燥室内を移動していく間にフ
ィルムの全面を乾燥させるという本発明の目的に対して
細長い形の赤、外線ランプを用いることは本質的である
と思われる。χ前記乾′燥室内の空気を循環させるため
の装置とを有し。
ィルム(または多数のフィルムがある場合には最もきわ
どいフィルム)を乾燥させるのに十分な電力として定義
される。(設定された前記作業温度は1機械の熱容量お
よび処理されるフィルムの熱容量に対応する値だけ1例
えばいまの機械とフィルムに対し約1°Cと計算される
範囲内のある値だけ低い実際の作業温度である。)
・本発明は、入口および出口を有する乾燥室と、前記乾
燥室内に少なくとも部分的に配置されたフィルム運搬装
置と、フィルムの運搬面に対面している細長い形の赤外
線放射源と(フィルムが乾燥室内を移動していく間にフ
ィルムの全面を乾燥させるという本発明の目的に対して
細長い形の赤、外線ランプを用いることは本質的である
と思われる。χ前記乾′燥室内の空気を循環させるため
の装置とを有し。
(イ)乾燥室内を循環する空気の温度の測定装置と。
(ロ)赤外線放射源に供給される電力を(この電力の電
圧を変えることなく)変えるための装置と。
圧を変えることなく)変えるための装置と。
(ハ)空気温度の測定結果により、この測定された温度
が予め定められた温度よりも低いかまたは高いかにより
この供給される電力をそれぞれ増加または減少させる装
置。
が予め定められた温度よりも低いかまたは高いかにより
この供給される電力をそれぞれ増加または減少させる装
置。
とを有することと、乾燥すべきフィルムがある場合に、
電力が減少しても実際の作業温度にある空気゛との絹合
わせにおいて前記フィルムを乾燥させることのできる最
小間値霊力値以下にはならな−Sこととを特徴とする、
水を含んだ写真フィルムの乾燥装置に関するものである
。
電力が減少しても実際の作業温度にある空気゛との絹合
わせにおいて前記フィルムを乾燥させることのできる最
小間値霊力値以下にはならな−Sこととを特徴とする、
水を含んだ写真フィルムの乾燥装置に関するものである
。
本発明は、予め定められた前記乾燥温度が35°C〜4
0℃の範囲内にある。より好ましくは68°Cの付近に
ある。前記乾燥装置に関するものである。
0℃の範囲内にある。より好ましくは68°Cの付近に
ある。前記乾燥装置に関するものである。
本発明は特に、前記放射源である赤外線ランプの全電力
出力がランプに供給される前記最小電力間イ11の2倍
の電力にほぼ対応する。前記乾燥装置に関するものであ
る。 9 付随的に好ましい廓として、本発明は最小電力が最大電
力の30優〜80憾の範囲内にある前記装置に関するも
のである。
出力がランプに供給される前記最小電力間イ11の2倍
の電力にほぼ対応する。前記乾燥装置に関するものであ
る。 9 付随的に好ましい廓として、本発明は最小電力が最大電
力の30優〜80憾の範囲内にある前記装置に関するも
のである。
本発明は写真フィルム、好ましくはレントゲン写真およ
びグラフィック・アートで用いられる写真フィルム&−
j、の処理機械に関するものである。この処理機械は、
水溶液の中で前記フィルムを処理する(水洗を含む)複
数個の処理部と、励記装置によって特徴づけられる乾燥
部を有する。
びグラフィック・アートで用いられる写真フィルム&−
j、の処理機械に関するものである。この処理機械は、
水溶液の中で前記フィルムを処理する(水洗を含む)複
数個の処理部と、励記装置によって特徴づけられる乾燥
部を有する。
前記機械は11、乾燥室内の温度を、異なる2つの1温
度値と比べることができる装置を有することが好ましい
。この2つの温度値のうちの低い温度はフィルムがない
場合に存在する温度であって、この機械の待機温度であ
り、そして高い温度は機械の中にフィルムがある46の
温度であって、作業温度または乾燥温度である。
度値と比べることができる装置を有することが好ましい
。この2つの温度値のうちの低い温度はフィルムがない
場合に存在する温度であって、この機械の待機温度であ
り、そして高い温度は機械の中にフィルムがある46の
温度であって、作業温度または乾燥温度である。
前記のように、設定された作業温度は、予め選定された
閾値電力が供給されている赤外線放射源と共同して、フ
ィルムを乾燥させ得る乾燥室内空気温度(実際の温度)
であり、一方1機械の待機温度はそれより低−い温度で
あって、フィルムが機械の入口から入って、前記処理部
を通り、この乾燥部に達するのに要する時間(この時間
は機械の運転速度による)の間この温度に保たれ、赤外
線放射源からの放射線によって前記作業温度が容易に得
られる。
閾値電力が供給されている赤外線放射源と共同して、フ
ィルムを乾燥させ得る乾燥室内空気温度(実際の温度)
であり、一方1機械の待機温度はそれより低−い温度で
あって、フィルムが機械の入口から入って、前記処理部
を通り、この乾燥部に達するのに要する時間(この時間
は機械の運転速度による)の間この温度に保たれ、赤外
線放射源からの放射線によって前記作業温度が容易に得
られる。
この装置が処理機械の中に用いられる時1本発明の目的
を達成するために用いられるランプの数。
を達成するために用いられるランプの数。
およびこれらのランプに供給される電力は、機械の特性
1例えばフィルムの速度や乾燥室の熱容量特性、によっ
て明らかに変わる。これらはまた。
1例えばフィルムの速度や乾燥室の熱容量特性、によっ
て明らかに変わる。これらはまた。
とのニ械で処理されるフイ゛ルムによって変わり、′ソ
シて外の空気温度によって変わる。本発明の目的のため
に、市販されているいろいろなレントゲンフィルムのい
ろいろなフォーマットのもの、いろいろな露光量のもの
およびいろいろな硬さ状態のもの(より一般的にはいろ
いろな含水量のもの)を、確実にそして要求された具合
に、乾燥させることができる乾燥装置なつくることが要
求された。
シて外の空気温度によって変わる。本発明の目的のため
に、市販されているいろいろなレントゲンフィルムのい
ろいろなフォーマットのもの、いろいろな露光量のもの
およびいろいろな硬さ状態のもの(より一般的にはいろ
いろな含水量のもの)を、確実にそして要求された具合
に、乾燥させることができる乾燥装置なつくることが要
求された。
いくつかの実施例の中で記述された本発明を、応用する
具体的条件の下で変更することは当業者にとってすぐに
できる。
具体的条件の下で変更することは当業者にとってすぐに
できる。
本発明ヲキ予め定められた速度および予め定められたラ
ンプ数を有する既存の機械に応用して、電力を大幅に節
約することもできるし、または新しい処理機械の設計の
さいにも用いることができる。
ンプ数を有する既存の機械に応用して、電力を大幅に節
約することもできるし、または新しい処理機械の設計の
さいにも用いることができる。
ここに記述された説明から1本発明の結果に利点をもた
らすために、この機械の中にマイクロプロセッサを有す
ることは本質的ではなく、従来の装置でも、前述のよう
に、温度測定にしたがって赤外線ランプに供給される電
力を制御すること。
らすために、この機械の中にマイクロプロセッサを有す
ることは本質的ではなく、従来の装置でも、前述のよう
に、温度測定にしたがって赤外線ランプに供給される電
力を制御すること。
および予め定められた最小電力および乾燥温度閾値を制
御するように構成すれば十分であることがわかるであろ
う。
御するように構成すれば十分であることがわかるであろ
う。
当業者は、自分1井の機械の特性と乾燥すべきフィルム
の特性に基づいて、N噂温度、・待機温度。
の特性に基づいて、N噂温度、・待機温度。
最大ランプ電力および最小ランプ電力を選定できること
は明らかであろう。
は明らかであろう。
本発明を用いて作業を実行するさいに、良好な技術的結
果と機械の経済性を最もよく調和させるために、当業者
は装置の熱容量に関連した変数を考慮することが必要で
あると考えられる。
果と機械の経済性を最もよく調和させるために、当業者
は装置の熱容量に関連した変数を考慮することが必要で
あると考えられる。
特に−子め定められた作業温度に対して、最小ランプ電
力に対する量大ランデ電力を決定するさいに、当業者に
とって、闇値電力を越える過剰電力を保持しておくこと
は、待機温度を予め定められた時間内に作業温度にまで
上昇させるのにそれを有効に使えることばかりでたく1
作II温度が予め定められた値以下に降下する傾向があ
る時、この装置の熱惰性に対抗してこの保持電力をすぐ
に使えるということも考えるべきである。
力に対する量大ランデ電力を決定するさいに、当業者に
とって、闇値電力を越える過剰電力を保持しておくこと
は、待機温度を予め定められた時間内に作業温度にまで
上昇させるのにそれを有効に使えることばかりでたく1
作II温度が予め定められた値以下に降下する傾向があ
る時、この装置の熱惰性に対抗してこの保持電力をすぐ
に使えるということも考えるべきである。
前記のよ5に、実際の作業温度が設定された温度から大
幅に変わらないように、この装置は温度Kに答fべきで
ある。このことは利用可能な最大電力に対する最小電力
の比に大きく依存する。前記のように、最小電力は最大
電力の30〜80チの範囲内にあることが好ましく、そ
して50係付近であることがさらに好ましい。
幅に変わらないように、この装置は温度Kに答fべきで
ある。このことは利用可能な最大電力に対する最小電力
の比に大きく依存する。前記のように、最小電力は最大
電力の30〜80チの範囲内にあることが好ましく、そ
して50係付近であることがさらに好ましい。
本発明による装置の乾燥特性な条件の変化に適合させる
ために、特にフィルムの含水量の変化またはフィルムが
この装置の中を移動する速さの変化に適合するために、
最小電力およびまたは作業温度を変更できることが好ま
しい。例えば、タイプ8フイルム、タイプ8フイルム、
タイプ8フイルムおよびタイプ8フイルムのようなレン
トゲン写真に用いられる3Mエックス線フィルムはそれ
ぞれ1平方メートル当り15〜65グラムの範囲の異な
る水を含んでいる。
ために、特にフィルムの含水量の変化またはフィルムが
この装置の中を移動する速さの変化に適合するために、
最小電力およびまたは作業温度を変更できることが好ま
しい。例えば、タイプ8フイルム、タイプ8フイルム、
タイプ8フイルムおよびタイプ8フイルムのようなレン
トゲン写真に用いられる3Mエックス線フィルムはそれ
ぞれ1平方メートル当り15〜65グラムの範囲の異な
る水を含んでいる。
いずれ17)AQ合にも1本発明を用いることにより。
写真フィルムを乾燥するのに要する消費電力を大幅に節
約することができた。
約することができた。
本発明の赤外線放射源は、東芝QIRランゾ、フィリッ
プス13381ランプ、ゼネラル・エレクトリック赤外
線ランプ、またはハナウ・コルツエン・ランペンのラン
デのようなホトリデロダクション装置に用いられるラン
プと類似の色をもった高温タングステン石英うンゾ℃あ
ることが好ましい。
プス13381ランプ、ゼネラル・エレクトリック赤外
線ランプ、またはハナウ・コルツエン・ランペンのラン
デのようなホトリデロダクション装置に用いられるラン
プと類似の色をもった高温タングステン石英うンゾ℃あ
ることが好ましい。
ランプとフィルム搬送面との間の距離は、比較的近い距
離からフィルAv照射できるように、および間にある空
気それ自身の湯度にも作用するように選定される。約3
crnの距離が妥当なように思われるが、もつと大きな
距離またはもつと小さな距離(例えば、2〜4cWL)
1選定しても本発明による装置の動作は何等損われるこ
とはない。
離からフィルAv照射できるように、および間にある空
気それ自身の湯度にも作用するように選定される。約3
crnの距離が妥当なように思われるが、もつと大きな
距離またはもつと小さな距離(例えば、2〜4cWL)
1選定しても本発明による装置の動作は何等損われるこ
とはない。
前!ご機械で行なわれた実験を記述する前に、赤外線ラ
ンプの電源電圧を主電圧に近い電圧に保ったまま、赤外
線ランプへの電力を変える方法を説明しよう。
ンプの電源電圧を主電圧に近い電圧に保ったまま、赤外
線ランプへの電力を変える方法を説明しよう。
主周波数における電圧を用いて、正弦波電流列が、それ
らの実際の電圧で次々のパルスをサンプリングすること
により1分−される。各パルスは一定数、例えば10個
、の波または周期を有している。そして、ランプに電力
が供給されている「オン」周期の数と、ランデに電力が
供給されていない「オフ」周期の数とを各パルスの中で
識別する装置がそなえられる。この際、オン+オフは一
定であり1例えば10に等しい。したがって。
らの実際の電圧で次々のパルスをサンプリングすること
により1分−される。各パルスは一定数、例えば10個
、の波または周期を有している。そして、ランプに電力
が供給されている「オン」周期の数と、ランデに電力が
供給されていない「オフ」周期の数とを各パルスの中で
識別する装置がそなえられる。この際、オン+オフは一
定であり1例えば10に等しい。したがって。
電源電圧を一定として、(主周波数を10周期のパルス
に分割することにより)供給される電力を0嗟から10
0係まで10チのステップで変えることができる。
に分割することにより)供給される電力を0嗟から10
0係まで10チのステップで変えることができる。
主周波数が50 Bz (または60.Hz)の場合1
周期Tは20mg(または16−6 rns )である
。もしToXllをランプに電力が供給されている時間
とするならば、そしてT。2.をランデに電流が供給さ
れていない時間であるとするならば、サイクル時間T
””on十Toff=200ffiQs’または166
rn8 ’)かえられる。この時間は、乾燥効率の卵白
からは短いサイクルが好ましいということと、電力を段
階づけろという要請に従ってランプを点燈したり消燈し
たりする容易さとを、適度に調和させた値であることが
わかった。このサイクルは本発明の目的に対して明らか
に短か過ぎるかまたは長過ぎるかのいずれかでありうる
。もしフィルムがそれに間欠的に入射するエネルギーを
持続的に吸収しないならば長いサイクルは不必要である
。特に本発明の目的に対しては、赤外線エネルギは平均
エネルギとしてフィルムに吸収されると仮定しなければ
ならない。(こと″Q、赤外線ランプのエネルギという
時は、平均エネルギの意味である。)ゼロを通る主周波
数電圧、および電圧がゼロを通る時に(その微分が正で
ある時に)始まるおよび終了する「オン」周期および「
オフ」周期によ−り、電流に不連続が生じなく、シたが
って、ラジオ波の妨害が防がれるばかりでなく、またラ
ンプのプログ、ラムされた点燈を行なう装置をゼロ交差
検出器によって単に制御することを可能にする。
周期Tは20mg(または16−6 rns )である
。もしToXllをランプに電力が供給されている時間
とするならば、そしてT。2.をランデに電流が供給さ
れていない時間であるとするならば、サイクル時間T
””on十Toff=200ffiQs’または166
rn8 ’)かえられる。この時間は、乾燥効率の卵白
からは短いサイクルが好ましいということと、電力を段
階づけろという要請に従ってランプを点燈したり消燈し
たりする容易さとを、適度に調和させた値であることが
わかった。このサイクルは本発明の目的に対して明らか
に短か過ぎるかまたは長過ぎるかのいずれかでありうる
。もしフィルムがそれに間欠的に入射するエネルギーを
持続的に吸収しないならば長いサイクルは不必要である
。特に本発明の目的に対しては、赤外線エネルギは平均
エネルギとしてフィルムに吸収されると仮定しなければ
ならない。(こと″Q、赤外線ランプのエネルギという
時は、平均エネルギの意味である。)ゼロを通る主周波
数電圧、および電圧がゼロを通る時に(その微分が正で
ある時に)始まるおよび終了する「オン」周期および「
オフ」周期によ−り、電流に不連続が生じなく、シたが
って、ラジオ波の妨害が防がれるばかりでなく、またラ
ンプのプログ、ラムされた点燈を行なう装置をゼロ交差
検出器によって単に制御することを可能にする。
第1回は本発明による放射線写真処理装置の縦断面図で
ある。第2図は第1図の処理装置の線A−AK沿っての
部分断面図であって、運搬装置を除いた乾燥装置を特に
示している。この第1図と第2図において、番号1はフ
ィルム入口、2は現像部、3は定着部、4は水洗部、5
は乾燥部、6は空気温度デローデ、7はフィルム出口、
8は入ってくるフィルムのホトリーダ、および9はファ
ンである。記号L1〜L8は赤外線ランプ、記号01〜
C8は空気をフィルムに分配する導管である。利用でき
る最大電力とランプの位置の両方を変えるために、これ
らのランプのいくつかを点燈することができる。この処
理装置を特徴づけるパラメータは次の通りである。
ある。第2図は第1図の処理装置の線A−AK沿っての
部分断面図であって、運搬装置を除いた乾燥装置を特に
示している。この第1図と第2図において、番号1はフ
ィルム入口、2は現像部、3は定着部、4は水洗部、5
は乾燥部、6は空気温度デローデ、7はフィルム出口、
8は入ってくるフィルムのホトリーダ、および9はファ
ンである。記号L1〜L8は赤外線ランプ、記号01〜
C8は空気をフィルムに分配する導管である。利用でき
る最大電力とランプの位置の両方を変えるために、これ
らのランプのいくつかを点燈することができる。この処
理装置を特徴づけるパラメータは次の通りである。
フィルム経路長で表されたこの処理装置の全長
2600闘乾燥室の長さ
252mm利用しうるランデの最大数
8フアンの数
2ワーキング・ヘッド 10闘
H20各フアンの能力 200m3/
hr(201m/ 1(2oで) 電源電圧(直列接続された4ランプ の両端で)220ボルト この処理装置は第6図のブロック線図に示された鎖素子
を有している。すなわち、ゾロープ(F3)と、増幅器
(AMP )と、入力信号サンプラ(MPX)とアナロ
グ変換器(ADC)との組立体と、 (cpu)マイ
クロプロセッサと、ゼp交差検出器と、駆動器と、入っ
てくるフィルムのためのホトリーダとを有している。プ
ローブ(81は乾燥室内、の空気温度TAを測定するた
めのもの′C−あって、例えばモトローラMT 102
である。増@靜(AMP )は、方程式1式% センサ信号をアナログ・デジタル変換器が受堰るのに適
〜当な電圧レベルにする。入力信号サンプラ(MPX
)とアナログ変換器(ADc )との組立体は信号を連
続値からデジタル値に変換し、そしているいろなプロー
ブ(着目しているプローブを含む)からこの装置に入り
、そしてCPUに向かういろいろな信号を切替えること
ができ、この装置は例えばナショナル・セミコンダクタ
ADC0816である。(cpty )マイクロプロセ
ッサは第4図の流れ、、J: ””’ 図に示されたプログラムを記憶しており1例えばシグネ
テイクス265 OAI CEIPである。ゼ10交
差検出器は、主電圧の微分係数が正である時間内でこの
主譬圧示ゼロを通過する時刻をCPIJに知らせ、それ
でゼロを通過する瞬間に用いられてい □るTRlAC
3がトリがされる。駆動器はCPUが生ずる信号と覗像
部への電−力供給との間のインタフェイスとして働き、
例えばフリツデス BT137TRIAC8である。ホ
トリーダはマイクロコンぎユータに接続され、互いに1
01RNの距離にある43個のシーメンス LT)27
1発光器と8鮨の距離にあるはソ同数のシーメンス B
P 103 BII受光器を組で有する面積測定器
である。この装置は透過光(前記発光器と受光器の間の
信号が中断されることによってフィルムが指示される)
で動作し、そしてフィルムがあることを指示する信号は
少なくとも3対のセンサが通過するフィルムによって覆
われる時に生ずる。第4図は前記CPUによって実行さ
れるプログラムを示したものである。
2600闘乾燥室の長さ
252mm利用しうるランデの最大数
8フアンの数
2ワーキング・ヘッド 10闘
H20各フアンの能力 200m3/
hr(201m/ 1(2oで) 電源電圧(直列接続された4ランプ の両端で)220ボルト この処理装置は第6図のブロック線図に示された鎖素子
を有している。すなわち、ゾロープ(F3)と、増幅器
(AMP )と、入力信号サンプラ(MPX)とアナロ
グ変換器(ADC)との組立体と、 (cpu)マイ
クロプロセッサと、ゼp交差検出器と、駆動器と、入っ
てくるフィルムのためのホトリーダとを有している。プ
ローブ(81は乾燥室内、の空気温度TAを測定するた
めのもの′C−あって、例えばモトローラMT 102
である。増@靜(AMP )は、方程式1式% センサ信号をアナログ・デジタル変換器が受堰るのに適
〜当な電圧レベルにする。入力信号サンプラ(MPX
)とアナログ変換器(ADc )との組立体は信号を連
続値からデジタル値に変換し、そしているいろなプロー
ブ(着目しているプローブを含む)からこの装置に入り
、そしてCPUに向かういろいろな信号を切替えること
ができ、この装置は例えばナショナル・セミコンダクタ
ADC0816である。(cpty )マイクロプロセ
ッサは第4図の流れ、、J: ””’ 図に示されたプログラムを記憶しており1例えばシグネ
テイクス265 OAI CEIPである。ゼ10交
差検出器は、主電圧の微分係数が正である時間内でこの
主譬圧示ゼロを通過する時刻をCPIJに知らせ、それ
でゼロを通過する瞬間に用いられてい □るTRlAC
3がトリがされる。駆動器はCPUが生ずる信号と覗像
部への電−力供給との間のインタフェイスとして働き、
例えばフリツデス BT137TRIAC8である。ホ
トリーダはマイクロコンぎユータに接続され、互いに1
01RNの距離にある43個のシーメンス LT)27
1発光器と8鮨の距離にあるはソ同数のシーメンス B
P 103 BII受光器を組で有する面積測定器
である。この装置は透過光(前記発光器と受光器の間の
信号が中断されることによってフィルムが指示される)
で動作し、そしてフィルムがあることを指示する信号は
少なくとも3対のセンサが通過するフィルムによって覆
われる時に生ずる。第4図は前記CPUによって実行さ
れるプログラムを示したものである。
当業者には周知であるように、シダネテイクス2650
マニュアルおよび2650アセンデラ・ランデージ・マ
ニュアルに記載されている命令を用いることにより、こ
の流れ図のプログラムを。
マニュアルおよび2650アセンデラ・ランデージ・マ
ニュアルに記載されている命令を用いることにより、こ
の流れ図のプログラムを。
、用いられているAI 26500HIPK適切なプロ
グラミング言語に、翻訳することができる。(この点に
関する完全な情報につ(〜ては次のシダネテイクス社の
出版物を参照されたい。「テストウェア・インストルー
メント2650アセンデI)・−ランデージ・マニュア
ル・オー/第〒W09005000号」。
グラミング言語に、翻訳することができる。(この点に
関する完全な情報につ(〜ては次のシダネテイクス社の
出版物を参照されたい。「テストウェア・インストルー
メント2650アセンデI)・−ランデージ・マニュア
ル・オー/第〒W09005000号」。
「オペレータズ・ガイド’I”W09003000J、
「シダネテイツク・システム拳レファレンスTV900
4000J ’) 14図は乾燥部のためのサブルー
チンの動作を示す流れ図である。前テシオメータを操作
することにより、オペレータはこの処理装置制御パネル
上の待機温度T1を選定し、そしてこれは、アナログ・
デジタル変換の後、RAMセルTIRAMK配憶される
。オペレー月言また乾燥部作業温度T2を設定し、その
デジタル値カーメモ1ノセIL’ T2RAMに記憶さ
れる。マイクロプロセッサ蚤マ乾燥部内の実際の空気温
度TAを測定し、そしてこの値をT RAMに記憶″f
ろ。もしフィルムh′−な(・ならば、マイクロプロセ
ッサは待機TlRAMとメモリセルT RAMを、方程
式(1)ΔT = TARAM −T1RAM Kよつ
て、比較する。もしΔTがゼロより大きいならば、マイ
クロプロセッサはIRラランを消えたままにしておく。
「シダネテイツク・システム拳レファレンスTV900
4000J ’) 14図は乾燥部のためのサブルー
チンの動作を示す流れ図である。前テシオメータを操作
することにより、オペレータはこの処理装置制御パネル
上の待機温度T1を選定し、そしてこれは、アナログ・
デジタル変換の後、RAMセルTIRAMK配憶される
。オペレー月言また乾燥部作業温度T2を設定し、その
デジタル値カーメモ1ノセIL’ T2RAMに記憶さ
れる。マイクロプロセッサ蚤マ乾燥部内の実際の空気温
度TAを測定し、そしてこの値をT RAMに記憶″f
ろ。もしフィルムh′−な(・ならば、マイクロプロセ
ッサは待機TlRAMとメモリセルT RAMを、方程
式(1)ΔT = TARAM −T1RAM Kよつ
て、比較する。もしΔTがゼロより大きいならば、マイ
クロプロセッサはIRラランを消えたままにしておく。
もしΔTがゼロより小さいならば。
10個の主周期をサンプリングすることにより。
マイクロプロセッサは、1ランプ電力供給周期(オン)
に始まり9中断周期(オフ)まで、ランプを徐々に点燈
する。次の段階では、すなわち10個の主周期の後、も
し前記状態(4T(0)が持続しているな−らば、オン
/オフ関係が変更され、10に2fr力供給周期が実行
され、以後このように動作が行なわれる。ある時刻tに
おいて。
に始まり9中断周期(オフ)まで、ランプを徐々に点燈
する。次の段階では、すなわち10個の主周期の後、も
し前記状態(4T(0)が持続しているな−らば、オン
/オフ関係が変更され、10に2fr力供給周期が実行
され、以後このように動作が行なわれる。ある時刻tに
おいて。
乾燥部空気の実際の温度TA−1!1″−設定待機湛度
T1を越える。すなわち、TA>T’lとなるであろう
。Nをランプを制御するためのサンプリング周期の数(
いまの場合10)とし、M工を活動周期の数。
T1を越える。すなわち、TA>T’lとなるであろう
。Nをランプを制御するためのサンプリング周期の数(
いまの場合10)とし、M工を活動周期の数。
M、を非活動周期の数とする。したがって。
(21M1+M、eN=10である。したがって、前記
時刻tに* (31Mi + 4 == N =10で
ある。ここで。
時刻tに* (31Mi + 4 == N =10で
ある。ここで。
tは主周期の倍数である。次の主周期において。
(41M!+1+ ui+J = N テア7)。TA
カT□ヨリ小す<ナルマで、マイクロプロセッサは関係
式(5)Mド1 =uX −1および(6) MX+1
= M’F;、 ” 1を設定する。もし湿度変化に対
するこの装置の惰性が非常に大きく1条件TA>T1が
少なくとも2秒間(5011zで10サイクル周期tc
に対応する)続くならば、マイクロプロセッサはランプ
が消えている状態を設定する。すなわち、前期関係式(
5)およヒ(6)に従って引続く段階に対しM1=0お
よびMQ = 10を設定する。(流れ図に示されてい
るように、ゼロ以下である関係式(5)の結果はぜ6に
等しいとして読取られるということであり、そして10
以上の結果は10に等しいとして読をられるとい゛うこ
とである。)もしフィルムがあるならば。
カT□ヨリ小す<ナルマで、マイクロプロセッサは関係
式(5)Mド1 =uX −1および(6) MX+1
= M’F;、 ” 1を設定する。もし湿度変化に対
するこの装置の惰性が非常に大きく1条件TA>T1が
少なくとも2秒間(5011zで10サイクル周期tc
に対応する)続くならば、マイクロプロセッサはランプ
が消えている状態を設定する。すなわち、前期関係式(
5)およヒ(6)に従って引続く段階に対しM1=0お
よびMQ = 10を設定する。(流れ図に示されてい
るように、ゼロ以下である関係式(5)の結果はぜ6に
等しいとして読取られるということであり、そして10
以上の結果は10に等しいとして読をられるとい゛うこ
とである。)もしフィルムがあるならば。
マイクロプロセッサは前記関係式において温度T0を温
度T2で置換え、しかし1次の制約が付加される。すな
わち、温度TA > Ttに対し、関係式(7)M、
= k(この場合には5に等しい)が成り立つ。
度T2で置換え、しかし1次の制約が付加される。すな
わち、温度TA > Ttに対し、関係式(7)M、
= k(この場合には5に等しい)が成り立つ。
考察している装置において、:′前記制約は10にパー
セント(こめ場合には50パーセント)に等しい最小電
力供給閾値な導入することに対応する。
セント(こめ場合には50パーセント)に等しい最小電
力供給閾値な導入することに対応する。
「乾燥器制御」プログラムは乾燥以外の処理の制御部分
としてつくられた主プログラム(その詳細は記述されな
い)のサブルーチンとして記述された。このような乾燥
器制御プログラムは、フィルムがある場合に、温度が許
容できる最小レベル(T2)よりも低いという信号に基
づいて電力を付加供給するように、ランプへの電力出力
を最低に保つ機能を有する。フィルムがない場合には、
この乾燥器制御プログラムは、温度が設定された待機温
度(T1)よりも低い場合には次第に大きな電力を、ま
たは温度がより高い場合には次第に減少する電力(次第
にゼロに近づく電力)をランプに供給する機能を有する
。主プログラムの第1段階であるスイッチング・オンの
さいに、条件オン−〇およびオフ=10が設定されるこ
とを特に示すため3に、この主プログラムはそのサブル
ーチン乾燥器制御についてのみ記述された。このような
制御プログラムは1次の条件1+3=4およびo−E=
oに応答して、1に等しいかまたは1より大きい数(E
lと共に動作する。ON 、OFF 、 SON 。
としてつくられた主プログラム(その詳細は記述されな
い)のサブルーチンとして記述された。このような乾燥
器制御プログラムは、フィルムがある場合に、温度が許
容できる最小レベル(T2)よりも低いという信号に基
づいて電力を付加供給するように、ランプへの電力出力
を最低に保つ機能を有する。フィルムがない場合には、
この乾燥器制御プログラムは、温度が設定された待機温
度(T1)よりも低い場合には次第に大きな電力を、ま
たは温度がより高い場合には次第に減少する電力(次第
にゼロに近づく電力)をランプに供給する機能を有する
。主プログラムの第1段階であるスイッチング・オンの
さいに、条件オン−〇およびオフ=10が設定されるこ
とを特に示すため3に、この主プログラムはそのサブル
ーチン乾燥器制御についてのみ記述された。このような
制御プログラムは1次の条件1+3=4およびo−E=
oに応答して、1に等しいかまたは1より大きい数(E
lと共に動作する。ON 、OFF 、 SON 。
8OFF%T 、RAM 、 T2RAM 、 TAB
AMは転送するデータを有するメモリセルである。8O
Nおよび8OFFは、それぞれ、関与するメモリセルに
よって記憶される時、オン時間およびオフ時間を示す。
AMは転送するデータを有するメモリセルである。8O
Nおよび8OFFは、それぞれ、関与するメモリセルに
よって記憶される時、オン時間およびオフ時間を示す。
このサブ、ルーチンプログラムは、第1−PS−夕取入
れ部と、フィルムの有無に依る第2決定部と、第3演算
部とに事実上分割される。プログラムは次の順序で進行
し、そして指示される変更された順序で進行する。すな
わち、ゾロツク1では、このシステムはT工設定(待機
)のためのアナログチャンネルを選定し、これはアナロ
グ・デジタル変換を実行し、そしてこのデジタル値をメ
モリセルTlRAM K 配憶する。ゾロツク2はブロ
ック1と同じように1作し、そしてT2がメモリセルT
2RAMに記憶される。ゾロツク3では、乾燥部の空気
に対する温度センサのためのアナログチャンネルが選定
され、アナログ・デジタル変換が実行され。
れ部と、フィルムの有無に依る第2決定部と、第3演算
部とに事実上分割される。プログラムは次の順序で進行
し、そして指示される変更された順序で進行する。すな
わち、ゾロツク1では、このシステムはT工設定(待機
)のためのアナログチャンネルを選定し、これはアナロ
グ・デジタル変換を実行し、そしてこのデジタル値をメ
モリセルTlRAM K 配憶する。ゾロツク2はブロ
ック1と同じように1作し、そしてT2がメモリセルT
2RAMに記憶される。ゾロツク3では、乾燥部の空気
に対する温度センサのためのアナログチャンネルが選定
され、アナログ・デジタル変換が実行され。
そしてこの値がメモリセルTABAMに記憶される。
ゾロツク4では、入口センサ装置により、マイクロプロ
セッサはフィルムの有無を検出し、そしてこの機械のサ
イクル時間が終了するまで(最後に入れられたフィルム
が出てくるまで)、この記憶された状態を保つ。
セッサはフィルムの有無を検出し、そしてこの機械のサ
イクル時間が終了するまで(最後に入れられたフィルム
が出てくるまで)、この記憶された状態を保つ。
フィルムがもしないならば、プログラムはブロック5に
進む。ゾロツク5ではT RAM < T1RAMであ
るかどうかを検査する。もしこの条件が満されているな
らば、プログラムはゾロツク6およびブロック7に進む
。ゾロツク6およびゾロツク7では8ONが10を越え
る値を持つことがで鎗ないという条件が導入される。ゾ
ロ゛ツク8では、ランプ点燈時間に対する1の増加(O
N + 1 )が決定され、それに対応して中断時間の
減少(OFF −1)が決定され、そしてこれらの変動
でえられた値(SONおよび5opp )が記憶される
。ゾロツク12では、マイクロプロセッサは主電圧がゼ
ロを通過するのを判定する。主電圧が讐口を通過する時
。
進む。ゾロツク5ではT RAM < T1RAMであ
るかどうかを検査する。もしこの条件が満されているな
らば、プログラムはゾロツク6およびブロック7に進む
。ゾロツク6およびゾロツク7では8ONが10を越え
る値を持つことがで鎗ないという条件が導入される。ゾ
ロ゛ツク8では、ランプ点燈時間に対する1の増加(O
N + 1 )が決定され、それに対応して中断時間の
減少(OFF −1)が決定され、そしてこれらの変動
でえられた値(SONおよび5opp )が記憶される
。ゾロツク12では、マイクロプロセッサは主電圧がゼ
ロを通過するのを判定する。主電圧が讐口を通過する時
。
プログラムはゾロツク13に進み、このブロック13で
SONがRAMセル内でゼロに等しいかどうかの検査が
行なわれる。ブロック8でみたように。
SONがRAMセル内でゼロに等しいかどうかの検査が
行なわれる。ブロック8でみたように。
このことは可能ではない(ON = OFF +1≠0
)。
)。
この時、プログラムはブロック16に進ム。ブロック1
6では、負荷、すなわち、ランプが作動し。
6では、負荷、すなわち、ランプが作動し。
そしてそれと共にファンが作動する6(ファンはランプ
電力を制御するON /酵?関係とは独立に付勢され、
そしてONがゼロに等しい時に消勢される。)ブロック
18では、 8ONメモリセルが1だけ減じられる。
電力を制御するON /酵?関係とは独立に付勢され、
そしてONがゼロに等しい時に消勢される。)ブロック
18では、 8ONメモリセルが1だけ減じられる。
それから、このプログラムはゾロツク12に戻り、この
ブロック12は前記のように動作し、そしてそれからブ
ロック13に進み。
ブロック12は前記のように動作し、そしてそれからブ
ロック13に進み。
以下同様である。ブロック13では、条件8ON =
0が得られるまでサイクルが繰返される。
0が得られるまでサイクルが繰返される。
この条件が得られた時、プログラムはブロック14に進
む。ブロック14内では、 RAMメモリセル内で8O
FF = 0であるかどうかが検査される。もしこの条
件が成り立っていないならば、プログラムはゾロツク1
7およびブロック19に進む。ゾロツク17ではIRラ
ンクは消燈され、そしてブロック19では8OFFメモ
リ□セルは1だけ減じられる。それからゾロツク1゛2
に戻り、ゾロツク12からゾロツク13に進む。ゾロツ
ク13では。
む。ブロック14内では、 RAMメモリセル内で8O
FF = 0であるかどうかが検査される。もしこの条
件が成り立っていないならば、プログラムはゾロツク1
7およびブロック19に進む。ゾロツク17ではIRラ
ンクは消燈され、そしてブロック19では8OFFメモ
リ□セルは1だけ減じられる。それからゾロツク1゛2
に戻り、ゾロツク12からゾロツク13に進む。ゾロツ
ク13では。
この状態を変えることは何も起っていないから。
5oN= Oである。この時、プログラムは直接ブロッ
ク14に進む。この状態では、制御は主プログラムに進
む。ゾロツク8において、Φ件8ON+0FF=10が
常に存在することを断っておく・したがって、前記記述
から、 IRう/ゾは8ONに等しい数の周期の間付勢
されたま\で、あり、そして10−8ON周期の間消勢
されたま\である。ブロック゛8を最初に通る時は、8
ONは1に等しく、そシー’(8OFFは9に等しいで
あろう。2回目に通る時には、プログラムはゾロツク5
およびゾロツク6から生ずる(温度が上昇する)と常に
仮定して。
ク14に進む。この状態では、制御は主プログラムに進
む。ゾロツク8において、Φ件8ON+0FF=10が
常に存在することを断っておく・したがって、前記記述
から、 IRう/ゾは8ONに等しい数の周期の間付勢
されたま\で、あり、そして10−8ON周期の間消勢
されたま\である。ブロック゛8を最初に通る時は、8
ONは1に等しく、そシー’(8OFFは9に等しいで
あろう。2回目に通る時には、プログラムはゾロツク5
およびゾロツク6から生ずる(温度が上昇する)と常に
仮定して。
8ONは2に等しくそして8OFFは8に等しいであろ
う。もしブロック5およびブロック6によって製鎖され
る通りならば、値BON = 10および8OFF =
0を得ることができ、これは100係電力供給に対応
する。平衡条件はここではT RAM≧TlRAMのよ
うに仮定され、とれは例え・ば8ON = 7および8
OFF = 3の時に得られ、この時プログラムはゾロ
ツク5からゾロツク9に進む。
う。もしブロック5およびブロック6によって製鎖され
る通りならば、値BON = 10および8OFF =
0を得ることができ、これは100係電力供給に対応
する。平衡条件はここではT RAM≧TlRAMのよ
うに仮定され、とれは例え・ば8ON = 7および8
OFF = 3の時に得られ、この時プログラムはゾロ
ツク5からゾロツク9に進む。
これらの条件の下で、eOyは1だけ減少し、 8OF
Fは1だけ増加し、そしてそれからプログラムはブロッ
ク12に進む。8ON g 6および5orF= 4
K対して既に見た状態か繰返され、そしてプログラムは
主プログラムに戻る。ゾロツク5に存在する条件に従っ
て、このことが周期的に繰返される。
Fは1だけ増加し、そしてそれからプログラムはブロッ
ク12に進む。8ON g 6および5orF= 4
K対して既に見た状態か繰返され、そしてプログラムは
主プログラムに戻る。ゾロツク5に存在する条件に従っ
て、このことが周期的に繰返される。
したがって、前記記述に従って、電力供給が変化するで
あろう。(フィルムがない場合には、8ONはゼロに等
しくすることができる。)もしフィルムがあるならば1
判定ゾロツク4はプログラムをブロック10に進める。
あろう。(フィルムがない場合には、8ONはゼロに等
しくすることができる。)もしフィルムがあるならば1
判定ゾロツク4はプログラムをブロック10に進める。
ゾロツク10では。
TABAM < T2RAMの関係が検査される。もし
この不等式が成立するならば、プログラムはブロック8
に進み、電力の変調が前述のように継続して行なわれる
。前記不等式が成立している間、この状態が持続する。
この不等式が成立するならば、プログラムはブロック8
に進み、電力の変調が前述のように継続して行なわれる
。前記不等式が成立している間、この状態が持続する。
条件’f’ARAM≧’!’2RAMが成立する時。
マイクロプロセッサはプログラムを?ロック11ニ進め
る。?ロック11では、パーマネント条件SON =
5.8OFF = 5が設定される。これらの条件の下
では、ゾロツク6、ゾロツク7およびゾロツク8が除外
され、プログラムはゾロツク12に直接進み、1ランプ
は全電力の50憾で付勢される。実効的に1本出願人に
よりつくり上げられた機械では、安全上の理由により、
10周期のサイクルは1つの固定された休止周期を有す
ることが好ましく、シたがって、利用可會ヒな最大電力
(ま理論上可能な最大電力の90憾である。(fロック
線図では1点6および点7において1条件[ON =
10 ?、0N=94はしたがって条件[ON = 9
? 、ON = 8 J K変更された。)明らかに
実験上の目的のために、ゾロツク11の8ON値は第4
図の流れ図で示された実施例では5に等しいけれども(
すなわち、最小閾値電力は利用可能電力の50係に等し
い)、それに異なる値を与えることができ、前記一般則
(特に8OFF=10−8ON )はなお成立している
。
る。?ロック11では、パーマネント条件SON =
5.8OFF = 5が設定される。これらの条件の下
では、ゾロツク6、ゾロツク7およびゾロツク8が除外
され、プログラムはゾロツク12に直接進み、1ランプ
は全電力の50憾で付勢される。実効的に1本出願人に
よりつくり上げられた機械では、安全上の理由により、
10周期のサイクルは1つの固定された休止周期を有す
ることが好ましく、シたがって、利用可會ヒな最大電力
(ま理論上可能な最大電力の90憾である。(fロック
線図では1点6および点7において1条件[ON =
10 ?、0N=94はしたがって条件[ON = 9
? 、ON = 8 J K変更された。)明らかに
実験上の目的のために、ゾロツク11の8ON値は第4
図の流れ図で示された実施例では5に等しいけれども(
すなわち、最小閾値電力は利用可能電力の50係に等し
い)、それに異なる値を与えることができ、前記一般則
(特に8OFF=10−8ON )はなお成立している
。
第5図は第6図および第4図のシステムと類似の方法で
動作する制御システムの概略電気回路図である。しかし
、この回路図にはマイクロプロセッサは含まれていない
。この概略図において。
動作する制御システムの概略電気回路図である。しかし
、この回路図にはマイクロプロセッサは含まれていない
。この概略図において。
IC1はナショナル=±々コンダクタNB 555集積
回路、IC2,Xc3S1c4およびxa 5は−E)
ローラμ741演算増幅器、8はそトローラMT102
瀉度デローデ、pziはフィリップス9 cvlツxす
ダイオ−y、plgよびD 2 )j ITT lN
914ダイオ−)y、opxはフェアチャイルド4N2
6光電アイソレータ、 TFIはナショナル・セミコン
ダクタ 2N2905)ランジスタ、およびTRIAC
はフィリップス BT 137 )ライアックであ
る。Rは抵抗器を示し、そしてCはコンデンサを示す。
回路、IC2,Xc3S1c4およびxa 5は−E)
ローラμ741演算増幅器、8はそトローラMT102
瀉度デローデ、pziはフィリップス9 cvlツxす
ダイオ−y、plgよびD 2 )j ITT lN
914ダイオ−)y、opxはフェアチャイルド4N2
6光電アイソレータ、 TFIはナショナル・セミコン
ダクタ 2N2905)ランジスタ、およびTRIAC
はフィリップス BT 137 )ライアックであ
る。Rは抵抗器を示し、そしてCはコンデンサを示す。
工C1は単安定回路として動作する。この回路は、もし
fン4が12Vの正電源電圧に保たれているならば、−
ン2に負電圧が入ると始動する。単安定の持続時間は1
0回路の時定数によって定まる。この持続時間は10主
サイクルに等しいように、すなわち、(50)1zの周
波数の場合に) 200 msに設定される。再びT
およびT02.の定義を思い出せば’ Tc”Ton
”n T =200ミリ秒である。IC1の一ン6のとf
f ころに、直線出力電圧ランプが生じ、この電圧ランデは
t = 2Q Q msで最大値に達し、そして−ン2
の主同期がゼロを通る時に開始する。IC1のfン3は
rc’l&ll力を供給し、これは前記ランプとR7の
可動接点の電圧との間にヒステリシスをもつ比較器とし
て接続される。前記可動接点の位置は最小取出電力閾値
を決定する。ブリッヂPがないならば1発生したランプ
は工C2に電力を供給し、その出力は光アイソレータe
P1を作動させ、そしてIRクランプ電力を供給するT
RI AC8を制御する。中央のR7接触子によって散
出された電圧がランプ電圧以下になって比較器IC’l
が作動されなくなるまで、この状態が持続する。1ラン
プ電圧がゼロに戻る時、IC2の出力はそれが電力の供
給を受けないためにゼロのままである。
fン4が12Vの正電源電圧に保たれているならば、−
ン2に負電圧が入ると始動する。単安定の持続時間は1
0回路の時定数によって定まる。この持続時間は10主
サイクルに等しいように、すなわち、(50)1zの周
波数の場合に) 200 msに設定される。再びT
およびT02.の定義を思い出せば’ Tc”Ton
”n T =200ミリ秒である。IC1の一ン6のとf
f ころに、直線出力電圧ランプが生じ、この電圧ランデは
t = 2Q Q msで最大値に達し、そして−ン2
の主同期がゼロを通る時に開始する。IC1のfン3は
rc’l&ll力を供給し、これは前記ランプとR7の
可動接点の電圧との間にヒステリシスをもつ比較器とし
て接続される。前記可動接点の位置は最小取出電力閾値
を決定する。ブリッヂPがないならば1発生したランプ
は工C2に電力を供給し、その出力は光アイソレータe
P1を作動させ、そしてIRクランプ電力を供給するT
RI AC8を制御する。中央のR7接触子によって散
出された電圧がランプ電圧以下になって比較器IC’l
が作動されなくなるまで、この状態が持続する。1ラン
プ電圧がゼロに戻る時、IC2の出力はそれが電力の供
給を受けないためにゼロのままである。
この状態は工C1のぎン2に次の9電圧が入ると繰返さ
れる。TRIA(!の固有の性質は半波で動作すること
であるために、5の股階においてlR11力を変えるこ
とが可能であり、そのおのおのは全体で10波の中の半
波に対応する。けれども、もしブリッヂPが接続されて
いるならば、実際には接続すしているのである。6z、
、zロープ8は空気m度T に逆比例する電圧を牛する
。IC3とxc4ki人 直列接続された増幅器であって、IC4%丁Δv =
5、− M −+ T = 0−50℃のような出力電
圧を有している。IC5は増*@%および単位加算器で
ある。もしデローデによって測定された温度カーR22
によって設定された作業温度よりも高−・ならば、I(
!5の出力は負になり、そしてその出力にダイオ−yが
あるために、ランプ制御回路に影響を与えることはなく
、ランプ制御回路+! I(7によって設定された最小
電力を供給されるままである。もし逆にこのような温度
がより低(・なら1イ。
れる。TRIA(!の固有の性質は半波で動作すること
であるために、5の股階においてlR11力を変えるこ
とが可能であり、そのおのおのは全体で10波の中の半
波に対応する。けれども、もしブリッヂPが接続されて
いるならば、実際には接続すしているのである。6z、
、zロープ8は空気m度T に逆比例する電圧を牛する
。IC3とxc4ki人 直列接続された増幅器であって、IC4%丁Δv =
5、− M −+ T = 0−50℃のような出力電
圧を有している。IC5は増*@%および単位加算器で
ある。もしデローデによって測定された温度カーR22
によって設定された作業温度よりも高−・ならば、I(
!5の出力は負になり、そしてその出力にダイオ−yが
あるために、ランプ制御回路に影響を与えることはなく
、ランプ制御回路+! I(7によって設定された最小
電力を供給されるままである。もし逆にこのような温度
がより低(・なら1イ。
IC5の出力は温度差に比例した量だけ正になる。
発生した電圧は選定された最小電力に関して加算的であ
る。その結果、l1122の位置に基づきIC5によっ
て決定された電力で、XC2およびOPlを経由して、
ランプはTRlAC3により雷カカ1供給される。
る。その結果、l1122の位置に基づきIC5によっ
て決定された電力で、XC2およびOPlを経由して、
ランプはTRlAC3により雷カカ1供給される。
実施例1
6M医療用X線フィルム タイプ R2および3M医療
用X線トリマックス フイ′ルムXDが。
用X線トリマックス フイ′ルムXDが。
3、y XAD 90 / M現像液および3MX
F2定着液を用いて、第1図、第2図、933図および
第4図に言e蓼された機械で処理された。第4図の流れ
図の?ロック11の8ONと8OFFに異なる値を選定
することにより、赤外線ランプに対し異なる最小乾燥電
力閾値を設定して検査が行なわれた。同じ実験上の理由
により、温度TlおよびT2すなわち、待機温度と作業
温度が電力の供給を受けるランプの位置により変えられ
た。特に、第4図のゾロツク11において8ONを2に
等しく置くことにより(最小電力閾値が利用可址雷力の
20係である)1位置L3.L4.L7およびR8にあ
る4個のランプが対で電力の供給を受ける場合に、そし
て温度Tユが60°C1そして温度T、が′58℃であ
る場合に、実験(a)が行なわれた。フォーマット30
X120crrLの6MタイプR2レントゲンフィルム
がこの機械の中に入れられた。フィルムが入る前に、乾
燥部温度は作業温度に到達していた。
F2定着液を用いて、第1図、第2図、933図および
第4図に言e蓼された機械で処理された。第4図の流れ
図の?ロック11の8ONと8OFFに異なる値を選定
することにより、赤外線ランプに対し異なる最小乾燥電
力閾値を設定して検査が行なわれた。同じ実験上の理由
により、温度TlおよびT2すなわち、待機温度と作業
温度が電力の供給を受けるランプの位置により変えられ
た。特に、第4図のゾロツク11において8ONを2に
等しく置くことにより(最小電力閾値が利用可址雷力の
20係である)1位置L3.L4.L7およびR8にあ
る4個のランプが対で電力の供給を受ける場合に、そし
て温度Tユが60°C1そして温度T、が′58℃であ
る場合に、実験(a)が行なわれた。フォーマット30
X120crrLの6MタイプR2レントゲンフィルム
がこの機械の中に入れられた。フィルムが入る前に、乾
燥部温度は作業温度に到達していた。
フィルムが通過するさい、赤外線ランプはパルス的に電
力の供給を受け1色を発するのが見られた。
力の供給を受け1色を発するのが見られた。
フィルムは乾燥しない領域をもって乾燥部を出ていった
。作業温度を40℃にあげ穴場合、タイプR2フィルム
は全く同じように振舞った。同じフォーマットのタイプ
XDフィルムがまたこの2つの温度で処理された。38
℃の温度では、前記の場合よりは小さな節回であったが
、不完全乾燥領域があった。一方、40℃の湿度では、
不完全乾燥領域の他にわずかのグレージングがあった。
。作業温度を40℃にあげ穴場合、タイプR2フィルム
は全く同じように振舞った。同じフォーマットのタイプ
XDフィルムがまたこの2つの温度で処理された。38
℃の温度では、前記の場合よりは小さな節回であったが
、不完全乾燥領域があった。一方、40℃の湿度では、
不完全乾燥領域の他にわずかのグレージングがあった。
最小電力閾値を30係に増すと(第4図の流れ図のゾロ
ツク11においてBONを3と置いた場合)、XDに対
し改良された乾燥結果が得られ(40°Cで存在してい
たグレージングもなくs38℃で乾燥された)、シかし
R2に対してはこのような改良された乾燥結果は得られ
なかった。最小電力閾値を504に増し、そしてT2を
68℃に保った場合。
ツク11においてBONを3と置いた場合)、XDに対
し改良された乾燥結果が得られ(40°Cで存在してい
たグレージングもなくs38℃で乾燥された)、シかし
R2に対してはこのような改良された乾燥結果は得られ
なかった。最小電力閾値を504に増し、そしてT2を
68℃に保った場合。
R2フィルムとXDフィルムの両方に対し優れた結果(
グレージングのない完全乾燥)が得られた。
グレージングのない完全乾燥)が得られた。
50係最小電力閾値でこの他の検査が行なわれた。
この検査は位置L2.L4.L6およびL8の4個のラ
ンプに電力が供給された場合、および待機温度が30℃
の場合について行なわれた。′r2を32℃に保った場
合、2つのタイプのフィルムはこの機械を出てきた時な
お湿っていた。T2が35°Oの場合には、フィルムX
Dは乾燥して出てきたが、フィルムR2は湿ったままで
出てきた。
ンプに電力が供給された場合、および待機温度が30℃
の場合について行なわれた。′r2を32℃に保った場
合、2つのタイプのフィルムはこの機械を出てきた時な
お湿っていた。T2が35°Oの場合には、フィルムX
Dは乾燥して出てきたが、フィルムR2は湿ったままで
出てきた。
T2が68°Cの場合には、2種のフィルムは乾燥して
そしてグレージングもなく出てきた。しかし、T、 が
4o℃の場合には、XDはわずかのグレージングがあっ
た。
そしてグレージングもなく出てきた。しかし、T、 が
4o℃の場合には、XDはわずかのグレージングがあっ
た。
実施例2
本発明のXP 507処理機槻(220vの電源から付
勢される直列接続された3群から成る6個のlR400
W/110Vランゾを有、する)の中K(本発明のXP
510処理機械の中にあるタイプの)@気機械温度制
御によって、待機温度が30℃に設定された。第5図の
装置はまたこの機械に適合してお贋、そしてフィルム入
口で作動するセンサ装置によって運転された。(前記セ
ンサ装置は前記ホトリーダを構成する装置と同じような
6個の発光素子とそれぞれ搾取付けられた3個の受光素
子を崩している)、ゾローデのところの温度計によって
測られた作業温度は、可変抵抗器R22により、68℃
に近い値に設定された。最小電力閾値は、可変抵抗器R
Tにより、最大電力の50%に設、定された。タイプR
2、XDおよびM+7)3Mレンl’ンフイルムがこの
機械の中を通過すると、それらは乾燥してそしてグレー
ジングなしに出てきた。最初の実験r−夕に′よれば、
対で付勢されるランプの数を6個から4個に減らすこと
が可能−c、l、したがって、機械のコストを下げるこ
とができる。
勢される直列接続された3群から成る6個のlR400
W/110Vランゾを有、する)の中K(本発明のXP
510処理機械の中にあるタイプの)@気機械温度制
御によって、待機温度が30℃に設定された。第5図の
装置はまたこの機械に適合してお贋、そしてフィルム入
口で作動するセンサ装置によって運転された。(前記セ
ンサ装置は前記ホトリーダを構成する装置と同じような
6個の発光素子とそれぞれ搾取付けられた3個の受光素
子を崩している)、ゾローデのところの温度計によって
測られた作業温度は、可変抵抗器R22により、68℃
に近い値に設定された。最小電力閾値は、可変抵抗器R
Tにより、最大電力の50%に設、定された。タイプR
2、XDおよびM+7)3Mレンl’ンフイルムがこの
機械の中を通過すると、それらは乾燥してそしてグレー
ジングなしに出てきた。最初の実験r−夕に′よれば、
対で付勢されるランプの数を6個から4個に減らすこと
が可能−c、l、したがって、機械のコストを下げるこ
とができる。
第5図に用いられた記号の値と意味は次の通りである。
R1=2.2にΩ R2=470にΩ 、R
3= 680にΩ R4=10にΩR5=10
xΩ R6=22[1ΩR7=220Ω
R8=22QΩR9=1.りKΩ R1
0=IKΩR11= I KΩ R12=2
20ΩR13=470Ω R14=100
にΩR15= 1.7 KΩ R16=22’
OΩR17=220Ω R18= 1.8
ΩR19=3<SΩ R20= 22 K
ΩR21=330Ω R22=220ΩR
23= 22 KΩ R24= ’E 2
KΩR25=IQKΩ R26= 1.8
KΩc l =1 0 nF C2=
220nFc、、:3 = 10OnF
C4= 100nFDZ1= C9VIフイリツゾス DI=IN914ITT D2=IN914IT
’rapl = 4N26フエアチヤイルPTr =
2N2905ナショナル TRIAC= BT 137フイリツゾスIC1=NE
555ナシヨナル IC2=μ741モトローラIC3=μ741モトロー
ラIC4−μ741モトローラ■C5=μ741モトロ
ーラ8=M’riQ2モトローラ 実施例6 同じ処理浴を有する実施例1の処理機械がLl、L3、
L5およびL7の位置に赤外線ランプを持ち、そして5
0パーセントの最小閾値電力をもつようにつくられた。
3= 680にΩ R4=10にΩR5=10
xΩ R6=22[1ΩR7=220Ω
R8=22QΩR9=1.りKΩ R1
0=IKΩR11= I KΩ R12=2
20ΩR13=470Ω R14=100
にΩR15= 1.7 KΩ R16=22’
OΩR17=220Ω R18= 1.8
ΩR19=3<SΩ R20= 22 K
ΩR21=330Ω R22=220ΩR
23= 22 KΩ R24= ’E 2
KΩR25=IQKΩ R26= 1.8
KΩc l =1 0 nF C2=
220nFc、、:3 = 10OnF
C4= 100nFDZ1= C9VIフイリツゾス DI=IN914ITT D2=IN914IT
’rapl = 4N26フエアチヤイルPTr =
2N2905ナショナル TRIAC= BT 137フイリツゾスIC1=NE
555ナシヨナル IC2=μ741モトローラIC3=μ741モトロー
ラIC4−μ741モトローラ■C5=μ741モトロ
ーラ8=M’riQ2モトローラ 実施例6 同じ処理浴を有する実施例1の処理機械がLl、L3、
L5およびL7の位置に赤外線ランプを持ち、そして5
0パーセントの最小閾値電力をもつようにつくられた。
作業温度は、3L(タイプRフィルム、6MタイゾXD
フィルムおよび6MタイfSフィルム等のいろいろなX
線フィルムをいろいろな速さで処理し、乾燥するために
、いろいろな値に設定された2次の4つの乾燥温度値(
および対応する乾燥時間)により、4つの異なる対応す
る速さで、良好な乾燥が得られた。
フィルムおよび6MタイfSフィルム等のいろいろなX
線フィルムをいろいろな速さで処理し、乾燥するために
、いろいろな値に設定された2次の4つの乾燥温度値(
および対応する乾燥時間)により、4つの異なる対応す
る速さで、良好な乾燥が得られた。
cm/s 1.0 2.0 2.4 3
.2’C3035−374()−4244〜46秒
42.0 21.0 17.5 1
3.1前記のように、X線フィルム処理機械における乾
燥段階は現像段階、定着段階、水洗段階および乾燥段階
を含む全処理段階の中の一部分である。全処理時間は、
近代的xIm不イルム処理機械では、180秒以下であ
る、より好ましくは120秒以下である。このような時
間は、処理機械それ自身の中のフィルムめ速さを変える
ことによシ、変えることが可能であることがまた要求さ
れる。−現像時間と定着時間は温度を少し変えることに
よって大幅に変えることが可能であるが(実施例乙の処
理機械では、現像浴の温度を60℃から67℃まで7℃
変え、そして定着浴の温度を2℃変えると、対応する速
さは1α/Sから3.2cm/Sに変わる)、乾燥時間
は、もし本発明に従って乾燥が行なわれるのでなければ
、対応して変えることはできず、もし無理に変えるなら
ばフィルムに重大な損傷を与えることになる。
.2’C3035−374()−4244〜46秒
42.0 21.0 17.5 1
3.1前記のように、X線フィルム処理機械における乾
燥段階は現像段階、定着段階、水洗段階および乾燥段階
を含む全処理段階の中の一部分である。全処理時間は、
近代的xIm不イルム処理機械では、180秒以下であ
る、より好ましくは120秒以下である。このような時
間は、処理機械それ自身の中のフィルムめ速さを変える
ことによシ、変えることが可能であることがまた要求さ
れる。−現像時間と定着時間は温度を少し変えることに
よって大幅に変えることが可能であるが(実施例乙の処
理機械では、現像浴の温度を60℃から67℃まで7℃
変え、そして定着浴の温度を2℃変えると、対応する速
さは1α/Sから3.2cm/Sに変わる)、乾燥時間
は、もし本発明に従って乾燥が行なわれるのでなければ
、対応して変えることはできず、もし無理に変えるなら
ばフィルムに重大な損傷を与えることになる。
本発明の乾燥器を有する処理機械により、506Cよシ
大幅に高い温度を用いることなく、25℃以下の対応す
る温度でもって、50秒〜10秒の範囲の時間でレント
ケ9ンフイルムを円滑に乾燥することができる。
大幅に高い温度を用いることなく、25℃以下の対応す
る温度でもって、50秒〜10秒の範囲の時間でレント
ケ9ンフイルムを円滑に乾燥することができる。
本発明の処理機械は、50℃−j30℃の作業温度で1
2秒〜45秒め時間範囲内で、より好ましくは35°C
〜40℃の温度で22秒以下の時間内に、乾燥を実行す
る乾燥器を有することが好ましい。
2秒〜45秒め時間範囲内で、より好ましくは35°C
〜40℃の温度で22秒以下の時間内に、乾燥を実行す
る乾燥器を有することが好ましい。
もちろん、乾燥時間が定まるとそれに応じてこのような
限界内の1つの温度値が選定される。温度値が高くなる
のに対応して時間値は小さくなる。
限界内の1つの温度値が選定される。温度値が高くなる
のに対応して時間値は小さくなる。
同様に、それぞれの乾燥時間に対し、もし大量の水を含
んだフィルムが処理されるのでないならば、温度は指定
された範囲内でより低く選定することができる。
んだフィルムが処理されるのでないならば、温度は指定
された範囲内でより低く選定することができる。
もし基準点として6MフイルムタイゾSをとるならば、
そしてこのフィルムが市販されている他の3Mフィルム
より多くの水を含んでいるならば(もつと正確にいえば
32〜65グラム/平方メートル、一方3Mフイルムタ
イゾRおよびタイプXDの水の量はそれぞれ29〜60
グラム/平方メートルおよび26〜25グラム/平方メ
ートルである。)、約68℃の温度で約20秒の乾燥時
間がそれを乾燥させるのに十分である。もし15〜16
グラム/平方メートルの水分をもつ3Mフィルムタイプ
Mを基準点としてとるならば、十分な乾燥を行なうだめ
の温度値およびまたは時間値は前記値より大幅に小さく
なるであろう。けれども、現在市販されている各フィル
ムを処理するための乾燥条件を設定することは、この技
術の分野では普通である。本発明によるフィルム乾燥を
実行する時、前記のように、当業者により時々提出され
る緊急の要請が容易に満足されるであろう。
そしてこのフィルムが市販されている他の3Mフィルム
より多くの水を含んでいるならば(もつと正確にいえば
32〜65グラム/平方メートル、一方3Mフイルムタ
イゾRおよびタイプXDの水の量はそれぞれ29〜60
グラム/平方メートルおよび26〜25グラム/平方メ
ートルである。)、約68℃の温度で約20秒の乾燥時
間がそれを乾燥させるのに十分である。もし15〜16
グラム/平方メートルの水分をもつ3Mフィルムタイプ
Mを基準点としてとるならば、十分な乾燥を行なうだめ
の温度値およびまたは時間値は前記値より大幅に小さく
なるであろう。けれども、現在市販されている各フィル
ムを処理するための乾燥条件を設定することは、この技
術の分野では普通である。本発明によるフィルム乾燥を
実行する時、前記のように、当業者により時々提出され
る緊急の要請が容易に満足されるであろう。
第1図は本発明による処理機械の全体断面図、第2図は
第1′図の線A’−Aに沿っての部分断面図、 第3図は乾燥部の動作を示したブロック線図・第4図は
CPU(中央処理装置)またはマイクロゾロ七′ツサの
動作方法を示した流れ図、第5図は従来の装置(ただし
、コンぎユータはない)で制御される乾燥部の動作を説
明する概略電気回路図である。 5 乾燥室 運搬装置 L1〜L8 赤外線放射源 9 空気循環装置 6 温度測定装置 代理人 浅 村 皓 外4名 14而のrI’ 、!)(内容に変更なし)[ 一4 手続補正書(方式) 昭和Sり年70月27日 特許庁長官殿 1、事件の表示 昭和57年特特許第1ρ529σ 号 2、発明の名称 ′与1(づイ1しに重し糧、嗜しt 3、袖1Fをする者 中性との関係 特許出願人 4、代理人 5、補正命令の日付 昭和67年2 月28曲 6、補正により増加する発明の数 7、補正の対象 図面’J+:1.!: (1’l’+贋こ仄更なし)
290−
第1′図の線A’−Aに沿っての部分断面図、 第3図は乾燥部の動作を示したブロック線図・第4図は
CPU(中央処理装置)またはマイクロゾロ七′ツサの
動作方法を示した流れ図、第5図は従来の装置(ただし
、コンぎユータはない)で制御される乾燥部の動作を説
明する概略電気回路図である。 5 乾燥室 運搬装置 L1〜L8 赤外線放射源 9 空気循環装置 6 温度測定装置 代理人 浅 村 皓 外4名 14而のrI’ 、!)(内容に変更なし)[ 一4 手続補正書(方式) 昭和Sり年70月27日 特許庁長官殿 1、事件の表示 昭和57年特特許第1ρ529σ 号 2、発明の名称 ′与1(づイ1しに重し糧、嗜しt 3、袖1Fをする者 中性との関係 特許出願人 4、代理人 5、補正命令の日付 昭和67年2 月28曲 6、補正により増加する発明の数 7、補正の対象 図面’J+:1.!: (1’l’+贋こ仄更なし)
290−
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (11人口および出口を有する乾燥室と、前記乾燥室内
に少なくとも部分的に配置された運搬装置と。 フィルム運搬面と対面した細長い形の赤外線放射源と、
前記乾燥室内の空気の循環装置とを有し。 (イ)前記乾燥室内を循環する空気の温度の測定装置と
。 (ロ) 前記赤外線放射源に供給される電力を変えるた
めの装置と。 ・(ハ)前記空気温度の測定結果により、もし前@【〕
温度が予め定められた値よりも低いまたは高いことがわ
かったならば、前記供給電力をそれぞれ増加または減少
させる装置。 とを有することと、乾燥するべきフィルムが存在する場
合に前記ランプへの電力が減小しても実際の作業温度に
ある空気との組合せにおいて前記フィルムの乾燥を行な
うことができる与えられた最小電力閾値以下の値にはな
らないこととを特徴とする。水を含んだ写真フィルムの
乾燥装置。 (2) 特許請求の範囲第1項において、予め定めら
れた前記乾燥温度が35°C〜40°Cの範囲内にある
。水を含んだ写真フィルムの乾燥装置。 (3)特許請求の範囲第1項又は第2項において、乾燥
するべきフィルムが存在する場合に前記赤外線ランプに
供給できる前配最小雷力閾値が前記赤外線ランプに供給
できる最大電力の60〜80パーセントの範囲内の値に
対応するように前記赤外線ランプの全電力が選定される
。水を含んだ写真フィルムの乾燥装置。 (4) 前記フィルムのための多くの水を用いた処理
装置と、さらに乾燥装置とを有し、前記乾燥装置が特許
請求の範囲第1項〜第6項の何れかによる装置を有する
ことを特徴とする写真フィルム処理機械。 (5)特許請求の範囲第4項において、前記フィルムが
前記入口から前記乾燥装置に向って運搬される間赤外線
加熱により到達できる値の作業温度より低い予め定めら
れた侍機亀度を空気に与えるための装置を有することを
特徴とする処理機械。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
IT48720A/81 | 1981-06-19 | ||
IT48720/81A IT1142448B (it) | 1981-06-19 | 1981-06-19 | Dispositivo di asciugamento di pellicole fotografiche impregnate di acqua basato sulla cuombinazione di aria calda e raggi infrarossi emessi da sorgenti a potenza variabile |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5850538A true JPS5850538A (ja) | 1983-03-25 |
Family
ID=11268244
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57105254A Pending JPS5850538A (ja) | 1981-06-19 | 1982-06-18 | 写真フイルム乾燥装置 |
JP1990088449U Expired - Lifetime JPH055555Y2 (ja) | 1981-06-19 | 1990-08-27 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1990088449U Expired - Lifetime JPH055555Y2 (ja) | 1981-06-19 | 1990-08-27 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4495713A (ja) |
EP (1) | EP0068207B1 (ja) |
JP (2) | JPS5850538A (ja) |
CA (1) | CA1172491A (ja) |
DE (1) | DE3261936D1 (ja) |
IT (1) | IT1142448B (ja) |
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