JPS5833580Y2

JPS5833580Y2 - 回路基板の検査装置

Info

Publication number: JPS5833580Y2
Application number: JP12562578U
Authority: JP
Inventors: 悦四鈴木
Original assignee: 株式会社東芝
Priority date: 1978-09-13
Filing date: 1978-09-13
Publication date: 1983-07-27
Also published as: JPS5542174U

Description

【考案の詳細な説明】この考案は回路基板の検査装置に関する。

電子機器にはプリント配線された回路基板が多数使用さ
れているが、その回路基板製造工程においては基板上の
配線パターンが正確に形成されたか否かを検査する必要
がある。

第１図は従来の検査方法を示すもので、１は回路基板、
２は検査板であり、この検査板２には回路基板１の端子
孔ピッチと同一ピッチでマ）ＩＪクス状に配列された
多数の接触子３，３．・・・が突設され、これら各接触
子３．３．・・・には一本ずつリード線４，４・・・
が接続されている。

そして上記各リード線４，４．・・・はインタフェース
５を介して電子計算機６に接続されている。

この様にして検査板２を回路基板１に押し当てると、電
子計算機６はメモリに記憶したシーケンスに従って各接
触ピン間の導通状態を調べ、その結果を予め定められた
導通状態を示すデータと比較し不良箇所を送出する様に
なっている。

しかしながらこの様な従来の方法では、接触子３．３．
・・・の数だけのリード線が必要（数千本以上）である
ため、配線処理やインタフェースが複雑となるという欠
点がある。

特に１台の電子計算機で数台の検査板を制御する場合は
大きな障害となっていた。

この考案は上記の点に鑑みてなされたもので、回路基板
の検査装置において、検査板からのリード線数を大幅に
減少させ、装置全体の簡素化を計り得る回路基板の検査
装置を提供することを目的とする。

以下この考案の一実施例を図面を参照して説明する。

第２図において、１１は検査されるべき回路基板、１２
は検査板であり、この検査板１２には回路基板１１の端
子孔ピッチと同一ピッチで多数の接触子１３□１〜１３
ｍｒｌ”マトリクス状に突設されている。

そして、このマトリクス状に突設された接触子１３□１
〜１３ｍｎの各１列に２本のリード線ＡｌｙＢｌｔ
Ａ２ｔＢ２？・・・、Ａｎ、Ｂｎが引出されてい
る。

これらリード線群はインタフェース１４を介して電子計
算機′１５に接続される。

また第２図において、１６はレーザ光源、１７はビーム
スキャナ、１８はスキャナドライバで、このレーザ光源
１６及びビームスキャナ１７は上記検査板１２の下端面
に対向配置されている。

上記ビームスキャナ１Ｔは、インタフェース１４及びス
キャナドライバ１８を介して電子計算機１５から送られ
て（る指令により制御され、この指令に従ってレーザビ
ーム１７ａの照射スポットを移動設定するものである。

しかして、上記リード線ＡＩ＝Ｂ１ｔＡ２＊
Ｒ２・・・・ｅＡｎ＋Ｂｎと接触子１３１１〜１３
ｍｎの各１列毎の接続関係は第３図の様になっている。

ここでは説明の都合上、リード線ＡＩ＋Ｂ１と
それに対向する１列の接触子、つまり接触子１３１１ｓ
１３１２・・・・、１３１ｎとの接続関係及びリード
線Ａ３５Ｂ３とそれに対応する１列の接触子、つまり接
触子１３３□ｔ１３ａ２＋・・・、１３３ｎとの接続
関係のみを第３図ａｔｂに示すが、他のリード線と対応
する接触子との接続関係も同様である。

第３図ａ＋ｂにおいて、ＰＤ１１．ＰＤ１２ｓ
・・・ｓＰＤｌｆｉ及びＰＤ３１．ＰＤ３２．
・・・＊ＰＤ３ｎはそれぞれフォトダイオード、
Ｄ１１＋Ｄ１２ｔ ”０ｙＤｌｎ及びＤ３１ｊＤ３
２ｔ・・・、Ｄ３ｎはダイオードであり、リード線Ａ１
はフォトダイオードＰＤ１１１ＰＤ１２１
＋＋＋、ＰＤｔｎを図示極性で介して各接触
子１３□１，１３□２＋ ””ｇ１３１ｎに接続され、
リード線Ｂ１はダイオードＤ１１ｙＤｌ。

、・・・＊Ｄ１ｎを図示極性で介して各接触子１３Ｈ−
１３１２，・・・、１３□。

に接続される。またリード線Ａ３＊Ｂ３も上記同様それ
ぞれフォトダイオードＰＤ３１．ＰＤ３２．・・・ＰＤ
３ｎ、ダイオードＤ３１？Ｄ３２ｔ・・・ｓ
Ｄ３ｎを介して各接触子１３３１．１３３゜、・・・、
１３３ｎに接続される。

そしてこれらのリード線Ａ１．Ｂ工、リード線Ａ３゜Ｂ
３及びその他ここでは説明を省略した他のリード線は上
記した様にインタフェース１４を介して電子計算機１５
に接続される。

この様な構成において、回路基板１１に検査板１２を押
し当てて今、電子計算機１５からの指令により、リード
線Ｂ１に所定の信号が送出されると、それに対応する列
の接触子１３□１＊１３１２’・・・、１３１ｎの
全てに上記信号が供給される。

次に電子計算機１５からの指令により、レーザビーム１
７ａを接触子１３３□、１３３゜、・・・、１３３ｎに
接続されたフォトダイオードＰＤ３□、ＰＤ３゜、・・
・。

ＰＤ３ｎに順次照射する。

このとき、接触子１３□１゜１３．２．・・・１３．
ｎの何れかと接触子１３３１゜１３３２ｔ・・・１３
３ｎの何れかが回路基板１１に形成されているパターン
により接続されていれば、リード線Ｂ１から入った信号
は上記パターンを介してリード線Ａ３から取り出すこと
ができる。

たとえば、レーザビーム１７ａをフォトダイオードＰＤ
３□に当てると、このフォトダイオードＰＤ３１が接続
された接触子１３３□が接触子１３１１，１３１２゜・
・・、１３□。

の何れかと回路基板の回路を介して導通していれば、リ
ード線Ａ３かも出力を得るれるものである。

以下、レーザビーム１７ａをＰＤ３゜ｅＰＤ３３＊
ＰＤ３４．・・・という様に順次走査し、それに同期し
てリード線Ａ３の出力をサンプリングして検出してゆけ
ば、接触子１３．１゜１３□２．・・・、１３□。

の何れかと個々の接触子１３３□、１３３゜、・・・、
１３３ｎとの導通状態、すなわち回路基板１１のパター
ンの接続状態を調べることができる。

そして、この様な検査を各列同志で行なってゆくことに
より、回路基板１１の全パターンの状態を調べることが
できる。

また回路基板１１を９０回転させ、上記同様な検査を
行なえばさらに信頼性の高い検査が可能となる。

なお、本実施例では、受光動作形スイッチ素子としてフ
ォトダイオードを使用したが、フォトトランジスタを用
いてもよい。

また受光動作形スイッチ素子に光を当てる手段としてレ
ーザ光線とその発振装置を使用したが、これは他のもの
を使用しても差支えない。

以上説明した様にこの考案によれ＋ｆ、回路基板の検査
装置において、回路基板の各端子孔に対応する様にマト
リクス状に設けられた多数の接触子を有する検査板から
のリード線は上記接触子の１列毎に２本で良いので、イ
ンタフェースを介して電子計算機に接続されるリード線
の数は従来に比べて大幅に減少させることができ、装置
全体が簡素化され、電子計算機に多数の検査板を接続す
ることも可能となるなど、種々の優れた効果が得られ、
その実用的価値は大なるものがある。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の検査の一例を示す構成図、第２図はこの
考案の一実施例の構成図、第３図ａｓｂは同実施例の
要部を詳細に示す図である。１１・・・・・・回路基板、１２・・・・・・検査板、
１３・・・・・・接触子、１４・・・・・・インタフェ
ース、１５・・・・・・電子計算機、１６・・・・・・
レーザ光源、１７・・・・・・ビームスキャナ、１８・
・・・・・スキャナドライバ。

Claims

【実用新案登録請求の範囲】

回路基板の端子孔の間隔に対応してマトリクス状に配置
された複数個の電気的な接触子と、この各々の接触子の
それぞれに対応して設けられた受光動作形のスイッチ素
子及び整流素子と、上記各各の接触子の１行または１列
を１つの単位とし、その行または列毎に上記スイッチ素
子を介して一端がその行または列を構成する各接触子に
接続された複数本の第１のリード線と、上記行または列
毎に上記整流素子を介して一端がその行または列を構成
する接触子に接続された複数本の第２のリード線と、上
記各スイッチ素子に対して選択的に連続して光スポット
を照射する手段と、任意の列または行の第２のリード線
に所定の信号を与え、他の列または行の第１のリード線
からその信号を取出すことにより回路基板のパターン間
の接続状態を検査する手段とを具備したことを特徴とす
る回路基板の検査装置。