JPS5833580Y2 - 回路基板の検査装置 - Google Patents
回路基板の検査装置Info
- Publication number
- JPS5833580Y2 JPS5833580Y2 JP12562578U JP12562578U JPS5833580Y2 JP S5833580 Y2 JPS5833580 Y2 JP S5833580Y2 JP 12562578 U JP12562578 U JP 12562578U JP 12562578 U JP12562578 U JP 12562578U JP S5833580 Y2 JPS5833580 Y2 JP S5833580Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- row
- circuit board
- column
- contacts
- lead wire
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は回路基板の検査装置に関する。
電子機器にはプリント配線された回路基板が多数使用さ
れているが、その回路基板製造工程においては基板上の
配線パターンが正確に形成されたか否かを検査する必要
がある。
れているが、その回路基板製造工程においては基板上の
配線パターンが正確に形成されたか否かを検査する必要
がある。
第1図は従来の検査方法を示すもので、1は回路基板、
2は検査板であり、この検査板2には回路基板1の端子
孔ピッチと同一ピッチでマ) IJクス状に配列された
多数の接触子3,3.・・・が突設され、これら各接触
子3. 3.・・・には一本ずつリード線4,4・・・
が接続されている。
2は検査板であり、この検査板2には回路基板1の端子
孔ピッチと同一ピッチでマ) IJクス状に配列された
多数の接触子3,3.・・・が突設され、これら各接触
子3. 3.・・・には一本ずつリード線4,4・・・
が接続されている。
そして上記各リード線4,4.・・・はインタフェース
5を介して電子計算機6に接続されている。
5を介して電子計算機6に接続されている。
この様にして検査板2を回路基板1に押し当てると、電
子計算機6はメモリに記憶したシーケンスに従って各接
触ピン間の導通状態を調べ、その結果を予め定められた
導通状態を示すデータと比較し不良箇所を送出する様に
なっている。
子計算機6はメモリに記憶したシーケンスに従って各接
触ピン間の導通状態を調べ、その結果を予め定められた
導通状態を示すデータと比較し不良箇所を送出する様に
なっている。
しかしながらこの様な従来の方法では、接触子3.3.
・・・の数だけのリード線が必要(数千本以上)である
ため、配線処理やインタフェースが複雑となるという欠
点がある。
・・・の数だけのリード線が必要(数千本以上)である
ため、配線処理やインタフェースが複雑となるという欠
点がある。
特に1台の電子計算機で数台の検査板を制御する場合は
大きな障害となっていた。
大きな障害となっていた。
この考案は上記の点に鑑みてなされたもので、回路基板
の検査装置において、検査板からのリード線数を大幅に
減少させ、装置全体の簡素化を計り得る回路基板の検査
装置を提供することを目的とする。
の検査装置において、検査板からのリード線数を大幅に
減少させ、装置全体の簡素化を計り得る回路基板の検査
装置を提供することを目的とする。
以下この考案の一実施例を図面を参照して説明する。
第2図において、11は検査されるべき回路基板、12
は検査板であり、この検査板12には回路基板11の端
子孔ピッチと同一ピッチで多数の接触子13□1〜13
mrl”マトリクス状に突設されている。
は検査板であり、この検査板12には回路基板11の端
子孔ピッチと同一ピッチで多数の接触子13□1〜13
mrl”マトリクス状に突設されている。
そして、このマトリクス状に突設された接触子13□1
〜13mnの各1列に2本のリード線Aly Blt
A2t B2? ・・・、An、Bnが引出されてい
る。
〜13mnの各1列に2本のリード線Aly Blt
A2t B2? ・・・、An、Bnが引出されてい
る。
これらリード線群はインタフェース14を介して電子計
算機′15に接続される。
算機′15に接続される。
また第2図において、16はレーザ光源、17はビーム
スキャナ、18はスキャナドライバで、このレーザ光源
16及びビームスキャナ17は上記検査板12の下端面
に対向配置されている。
スキャナ、18はスキャナドライバで、このレーザ光源
16及びビームスキャナ17は上記検査板12の下端面
に対向配置されている。
上記ビームスキャナ1Tは、インタフェース14及びス
キャナドライバ18を介して電子計算機15から送られ
て(る指令により制御され、この指令に従ってレーザビ
ーム17aの照射スポットを移動設定するものである。
キャナドライバ18を介して電子計算機15から送られ
て(る指令により制御され、この指令に従ってレーザビ
ーム17aの照射スポットを移動設定するものである。
しかして、上記リード線AI = B 1 t A2*
R2・・・・e An+ Bnと接触子1311〜13
mnの各1列毎の接続関係は第3図の様になっている。
R2・・・・e An+ Bnと接触子1311〜13
mnの各1列毎の接続関係は第3図の様になっている。
ここでは説明の都合上、リード線A I + B 1と
それに対向する1列の接触子、つまり接触子1311s
1312・・・・、131nとの接続関係及びリード
線A35B3とそれに対応する1列の接触子、つまり接
触子133□t13a2+ ・・・、133nとの接続
関係のみを第3図atbに示すが、他のリード線と対応
する接触子との接続関係も同様である。
それに対向する1列の接触子、つまり接触子1311s
1312・・・・、131nとの接続関係及びリード
線A35B3とそれに対応する1列の接触子、つまり接
触子133□t13a2+ ・・・、133nとの接続
関係のみを第3図atbに示すが、他のリード線と対応
する接触子との接続関係も同様である。
第3図a+bにおいて、P D 11.P D 12s
・・・s P D lfi及びPD31.PD32.
・・・* P D 3nはそれぞれフォトダイオード、
D11+ D12t ”0y Dln及びD31jD3
2t・・・、D3nはダイオードであり、リード線A1
はフォトダイオードP D 111 P D 121
+++、 P D tnを図示極性で介して各接触
子13□1,13□2+ ””g131nに接続され、
リード線B1はダイオードD11y Dl。
・・・s P D lfi及びPD31.PD32.
・・・* P D 3nはそれぞれフォトダイオード、
D11+ D12t ”0y Dln及びD31jD3
2t・・・、D3nはダイオードであり、リード線A1
はフォトダイオードP D 111 P D 121
+++、 P D tnを図示極性で介して各接触
子13□1,13□2+ ””g131nに接続され、
リード線B1はダイオードD11y Dl。
、・・・*D1nを図示極性で介して各接触子13H−
1312,・・・、13□。
1312,・・・、13□。
に接続される。またリード線A3*B3も上記同様それ
ぞれフォトダイオードPD31.PD32.・・・PD
3n、ダイオードD 31? D 32t ・・・s
D3nを介して各接触子1331.133゜、・・・、
133nに接続される。
ぞれフォトダイオードPD31.PD32.・・・PD
3n、ダイオードD 31? D 32t ・・・s
D3nを介して各接触子1331.133゜、・・・、
133nに接続される。
そしてこれらのリード線A1.B工、リード線A3゜B
3及びその他ここでは説明を省略した他のリード線は上
記した様にインタフェース14を介して電子計算機15
に接続される。
3及びその他ここでは説明を省略した他のリード線は上
記した様にインタフェース14を介して電子計算機15
に接続される。
この様な構成において、回路基板11に検査板12を押
し当てて今、電子計算機15からの指令により、リード
線B1に所定の信号が送出されると、それに対応する列
の接触子13□1* 1312’・・・、131nの
全てに上記信号が供給される。
し当てて今、電子計算機15からの指令により、リード
線B1に所定の信号が送出されると、それに対応する列
の接触子13□1* 1312’・・・、131nの
全てに上記信号が供給される。
次に電子計算機15からの指令により、レーザビーム1
7aを接触子133□、133゜、・・・、133nに
接続されたフォトダイオードPD3□、PD3゜、・・
・。
7aを接触子133□、133゜、・・・、133nに
接続されたフォトダイオードPD3□、PD3゜、・・
・。
PD3nに順次照射する。
このとき、接触子13□1゜13.2.・・・ 13.
nの何れかと接触子1331゜1332t・・・ 13
3nの何れかが回路基板11に形成されているパターン
により接続されていれば、リード線B1から入った信号
は上記パターンを介してリード線A3から取り出すこと
ができる。
nの何れかと接触子1331゜1332t・・・ 13
3nの何れかが回路基板11に形成されているパターン
により接続されていれば、リード線B1から入った信号
は上記パターンを介してリード線A3から取り出すこと
ができる。
たとえば、レーザビーム17aをフォトダイオードPD
3□に当てると、このフォトダイオードPD31が接続
された接触子133□が接触子1311,1312゜・
・・、13□。
3□に当てると、このフォトダイオードPD31が接続
された接触子133□が接触子1311,1312゜・
・・、13□。
の何れかと回路基板の回路を介して導通していれば、リ
ード線A3かも出力を得るれるものである。
ード線A3かも出力を得るれるものである。
以下、レーザビーム17aをPD3゜e PD33*
PD34.・・・という様に順次走査し、それに同期し
てリード線A3の出力をサンプリングして検出してゆけ
ば、接触子13.1゜13□2.・・・、13□。
PD34.・・・という様に順次走査し、それに同期し
てリード線A3の出力をサンプリングして検出してゆけ
ば、接触子13.1゜13□2.・・・、13□。
の何れかと個々の接触子133□、133゜、・・・、
133nとの導通状態、すなわち回路基板11のパター
ンの接続状態を調べることができる。
133nとの導通状態、すなわち回路基板11のパター
ンの接続状態を調べることができる。
そして、この様な検査を各列同志で行なってゆくことに
より、回路基板11の全パターンの状態を調べることが
できる。
より、回路基板11の全パターンの状態を調べることが
できる。
また回路基板11を90 回転させ、上記同様な検査を
行なえばさらに信頼性の高い検査が可能となる。
行なえばさらに信頼性の高い検査が可能となる。
なお、本実施例では、受光動作形スイッチ素子としてフ
ォトダイオードを使用したが、フォトトランジスタを用
いてもよい。
ォトダイオードを使用したが、フォトトランジスタを用
いてもよい。
また受光動作形スイッチ素子に光を当てる手段としてレ
ーザ光線とその発振装置を使用したが、これは他のもの
を使用しても差支えない。
ーザ光線とその発振装置を使用したが、これは他のもの
を使用しても差支えない。
以上説明した様にこの考案によれ+f、回路基板の検査
装置において、回路基板の各端子孔に対応する様にマト
リクス状に設けられた多数の接触子を有する検査板から
のリード線は上記接触子の1列毎に2本で良いので、イ
ンタフェースを介して電子計算機に接続されるリード線
の数は従来に比べて大幅に減少させることができ、装置
全体が簡素化され、電子計算機に多数の検査板を接続す
ることも可能となるなど、種々の優れた効果が得られ、
その実用的価値は大なるものがある。
装置において、回路基板の各端子孔に対応する様にマト
リクス状に設けられた多数の接触子を有する検査板から
のリード線は上記接触子の1列毎に2本で良いので、イ
ンタフェースを介して電子計算機に接続されるリード線
の数は従来に比べて大幅に減少させることができ、装置
全体が簡素化され、電子計算機に多数の検査板を接続す
ることも可能となるなど、種々の優れた効果が得られ、
その実用的価値は大なるものがある。
第1図は従来の検査の一例を示す構成図、第2図はこの
考案の一実施例の構成図、第3図as bは同実施例の
要部を詳細に示す図である。 11・・・・・・回路基板、12・・・・・・検査板、
13・・・・・・接触子、14・・・・・・インタフェ
ース、15・・・・・・電子計算機、16・・・・・・
レーザ光源、17・・・・・・ビームスキャナ、18・
・・・・・スキャナドライバ。
考案の一実施例の構成図、第3図as bは同実施例の
要部を詳細に示す図である。 11・・・・・・回路基板、12・・・・・・検査板、
13・・・・・・接触子、14・・・・・・インタフェ
ース、15・・・・・・電子計算機、16・・・・・・
レーザ光源、17・・・・・・ビームスキャナ、18・
・・・・・スキャナドライバ。
Claims (1)
- 回路基板の端子孔の間隔に対応してマトリクス状に配置
された複数個の電気的な接触子と、この各々の接触子の
それぞれに対応して設けられた受光動作形のスイッチ素
子及び整流素子と、上記各各の接触子の1行または1列
を1つの単位とし、その行または列毎に上記スイッチ素
子を介して一端がその行または列を構成する各接触子に
接続された複数本の第1のリード線と、上記行または列
毎に上記整流素子を介して一端がその行または列を構成
する接触子に接続された複数本の第2のリード線と、上
記各スイッチ素子に対して選択的に連続して光スポット
を照射する手段と、任意の列または行の第2のリード線
に所定の信号を与え、他の列または行の第1のリード線
からその信号を取出すことにより回路基板のパターン間
の接続状態を検査する手段とを具備したことを特徴とす
る回路基板の検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12562578U JPS5833580Y2 (ja) | 1978-09-13 | 1978-09-13 | 回路基板の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12562578U JPS5833580Y2 (ja) | 1978-09-13 | 1978-09-13 | 回路基板の検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5542174U JPS5542174U (ja) | 1980-03-18 |
JPS5833580Y2 true JPS5833580Y2 (ja) | 1983-07-27 |
Family
ID=29086703
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12562578U Expired JPS5833580Y2 (ja) | 1978-09-13 | 1978-09-13 | 回路基板の検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5833580Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60167926U (ja) * | 1984-04-18 | 1985-11-07 | 株式会社東芝 | 加熱調理装置 |
JPS60167925U (ja) * | 1984-04-18 | 1985-11-07 | 株式会社東芝 | 加熱調理装置 |
-
1978
- 1978-09-13 JP JP12562578U patent/JPS5833580Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5542174U (ja) | 1980-03-18 |
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