JPH02128172A - プリント配線基板検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】

この発明は、プリント配線基板の検査方法に間する。

【従来の技術】

プリント配線基板の、配線良、不良を検査する装置が知
られている。 この検査装置は、プリント配線基板に形成される端子電
極に対し、検査装置のプローブ電極を接触させ、プリン
ト配線基板の端子電極間の導通検査を行なうものである
。 この種の検査装置のプローブ電極は、汎用制を持たせる
ため、プリント配線基板の端子電極の形成間隔に応じた
距離例えば２．５４ｍｍ間隔で、第４図で○印で示すよ
うに格子状の位置１に配列されている。このような格子
をオングリッドと呼んでいる。そして、実際の検査に当
たっては、プリント配線基板の端子位置は判っているの
で、その端子位置とプローブ電極との間にプローブピン
を立てて、必要な１０−ブ電極だけが使用されるように
なっている。 第５図は、その使用態様を示す図で、２はガラスエポキ
シ樹脂などの絶縁板からなるベースプレートである。こ
のベースグレート２には、前述した２、５４市間隔で格
子状の孔が穿かれ、この孔にはソケット３がはめ込まれ
、このソケット３にプローブ電極ピン４がそれぞれはめ
込まれている。 このプローブ電極ビン４は、そのヘッド部４Ａがバネ４
Ｂにより上下方向に変移可能とされており、ヘッド部４
Ａと１０−ブピン９との接触が確実となるようにされて
いる。この場合、プローブを極ピン４のヘッド部４Ａに
は凹部が形成され、また、プローブピン９の、ヘッド部
４Ａとの接触部は、この凹部に対応した形状とされてい
る。 各プローブ電極ピン４は接続ケーブル５と接続される。 接続ケーブル５はソケット３により、かしめられて止め
られている。そして、各プローブ電極ピン４から導出さ
れたケーブル５はスイッチング素子に接続される。スイ
ッチング素子は、例えば、縦、横８個毎の６４個のプロ
ーブ電極ピンに対するものが、ひとまとめにされてスイ
ッチングカードと呼ばれるブロック構成とされる。スイ
ッチングカードの各スイッチング素子は、スイッチング
コントローラによりスイッチング制御されるようにされ
ている。 ベースプレート２の上方には、スペーサ６を介して、ベ
ースグレート２のプローブ電極の格子状配列に対応した
孔が穿かれているオングリッドプレート７が配置される
。そして、このオングリッドプレート７のうち、検査す
るプリント配線基板８の端子電極位置に対応する孔を通
してプローブピン９が挿入される。さらに、スペーサ１
０を介して、オングリッドの孔が穿かれたアクリルプレ
ート１１が設けられている。プローブピン９は、このア
クリルプレート１１の対応する孔より若干突き出るよう
に位置付けられている。被検査プリント配線基板８はこ
のアクリルグレート１１の上に載置され、各プローブピ
ン９の先端と、各端子！極が接触されるようにされる。 そして、スイッチングコントローラにより、スイッチン
グ素子が制御され例えば１個のプローブ電極に電圧を与
えたとき、プローブ電極ピン４プローブビン９−プリン
ト配線基板８の対応端子電極−プリント配線基板８の配
線部−他の端子電極−他の１０−ブピン９−ｆｌ！１の
プローブ電極ピン４−ｆｌ！！のスイッチング素子とい
う電流路が形成されるので、電流量を検知することによ
り配線部、不良が検知できる。 ところで、最近は、電子機器の高性能化、多機能化など
に伴い、プリント配線基板に高密度微細パターンが形成
されることが多くなってきている。 このような高密度微細パターンの場合の、プリント配線
基板の端子ｔ［ｉはオングリッドの位置よりも、さらに
細かい位置に形成される。このための、従来のようなオ
ングリッド配列の１０−プ電極だけでは、この高密度ｍ
細パターンのプリント配線基板の検査は行なえなくなっ
てきている。 そこで、第６図に示すように、オングリッドの各格子位
置１の対角線の交点の位！１３に、新たなプローブ電極
を配設して、オングリッドの２倍のプローブ電極数のベ
ースプレートを有する倍密度の検査装置が提供されてい
る。

【発明が解決しようとする課Ｕ］ この倍密度の検査装置の場合は、プローブ電極数が、オ
ングリッドの検査装置の２＠であるので、スイッチング
素子も２＠必要になる。このため、ベースグレートの面
積を、広くして広い面積の被検査プリント配線基板の検
査を行なおうとすると、装置が大型になるとともに、大
幅なコスト高となってしまう欠点がある。 この発明は、以上の欠点を改善した検査方法を提供しよ
うするものである。 【課頭を解決するための手段】 この発明においては、 被検査プリント配線基板の測定領域を、ピン配列ピッチ
を基準に複数領域に分割し、それぞれの領域に対応した
ピッチのプローブ電極配列体を用意し、それぞれの測定
領域に対応して切り換えて検査するようにする。

【作用】

広い第１の領域にオングリッド位置のプローブ電極を配
設したときのスイッチング素子数のスイッチングカード
が設けられている。したがって、広い第１の領域を使用
するときは、オングリッド位置のプローブ電極のみを用
いて、広領域の検査ができる。 そして、第１の領域内の狭い第２の領域を使用するとき
は、同じスイッチングカードによって倍密度の検査が可
能になる。

【実施例】

第１図はこの発明の一実施例の検査方法に用いられるベ
ースプレートの１０−ブ電極の配列領域を示すものであ
り、第２図は、第１図で点線Ｒで囲んで示す部分の拡大
図である。 第１図で実線２０で囲んで示す斜線領域Ｂには、第２図
に示すように、オングリッドの位置、つまり、２．５４
ｎｕｎ間隔の格子状位置２１と、これら格子状位置２１
の対角線の交点位置２２とに、それぞれ第４図例と同様
の１０−プを極ピン４が設けられている。 また、斜線領域Ｂを含む実線３０で囲んで示す領域Ａに
は、領域Ｂのオングリッド位置２１に延長するようにし
て、第２図に示すようにオングリッド位置２１にのみプ
ローブ電極ピン４が設けられている。 この例の場合、第１図に示すように領域Ａには、プロー
ブ電極ピン４が横方向には２００ビン設けられ、縦方向
には１９２ピン設けられている。 また、領域Ｂには、領域Ａの横方向の中央部において１
６０ピン、縦方向は、一方の端部（作業者側）から１２
０ピン、プローブ′ｒｊｈ極ピン４が設けられている。 この場合、領域Ｂでのオングリッド位［２１のプローブ
電極ピン４の数は１６０　ｘ１２０　＝１９２００ビン
、領域Ａでのそれは３８４００ビンでＴ度１：２の関係
にあり、領域Ｂでは、対角線交点位置２２の１０−ブ電
極ピンを加えると、領域Ａのプローブ電極数と等しくな
る。 そして、第３図の接続概念図に示すように、領域Ｂのオ
ングリッド位置２１のプローブ電極ピン４から導出され
るケーブル４１は、スイッチングカード群５１に接続さ
れ、領域Ａのうち領域Ｂを除く領域のオングリッド位置
２１のプローブ電極ピン４から導出されるケーブル４２
はスイッチングカード群５２に接続され、両者は別個の
スイッチングカード群に接続されている。そして、領域
Ｂの対角線交点位置２２の１０−ブ電極ビン４から導出
されるケーブル４３は、変換ボード４４により、領域Ａ
のうちの領域Ｂのものを除くオングリッド位置の１０−
ブ電極ビン４からのケーブル４２と、それぞれ対とされ
て、スイッチングカード５２の各スイッチング素子に接
続されるようになっている。領域Ｂの対角線交点位置の
どの１０−ブ電極ピンと、領域Ｂを除く領域Ａのどのオ
ングリッド位置のプローブ電極ビンとが対とされるかは
定められている。しかし、これは、一定の対応関係があ
ればよいものであって、その対のプローブピンの定め方
はどのようにしてもよい、つまり、スイッチングコント
ローラ側で、どれとどれが対かが予め判っていればよい
のである。 スイッチングカード群５１及び５２はスイッチングコン
トローラ５３によりスイッチング制御される。そして、
変換ボード４４は領域Ａを用いる検査と、領域Ｂを用い
る検査とでケーブル４２と４３とを切り替え制御される
。 領域Ａを用いてプリント配線基板の検査を行なうときは
、変換ボード４４はケーブル４２１ＦＪを選択するよう
に制御される。したがって、スイッチングカード群５１
及び５２を用いてオングリッド位置２１のプローブ電極
を使用した検査が行われる。 そして、領域Ｂを用いてプリント配線基板の検査を行な
うときは、変換ボード４４はケーブル４３ｒｐＪを選択
するように制御される。したがって、同じスイッチング
カード群５１及び５２を用いて倍密度のプローブ電極を
用いた検査が行われる。 なお、領域Ｂの領域Ａ内の位置は、第１図例に限られる
ものではなく、また、用途に応じて倍密度の領域Ｂは２
以上の領域に分けて、領域Ａ内に分散して設けてもよい
。 なお、小領域のプローブ電極ピンをオングリッド位置の
他に、さらに２ピン以上増やして３倍密度以上にした場
合には、オングリッドのプローブ電極数が、領域Ａの１
／３．１／４・・・の小領域を領域Ｂとすることにより
、この発明は通用できる。もちろん、領域Ｂのピン数は
オングリッド位置のピンの整数倍でなくてもこの発明は
適用可能である。 【発明の効果］ この発明によれば、広い第１の領ｊｉＡのオングリッド
位置のプローブ電極に対し設けられるスイッチング素子
の一部が、領域Ａ内の狭い領域Ｂのオングリッド位置で
ないプローブ電極に対して共通に用いられるので、オン
グリッドの第１の領域Ａ用のスイッチングカードを用い
るだけで、広領域のオングリッド位置のプローブ電極に
よる検査と、小領域の倍密度のプローブ電極による検査
を行なうことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図〜第３図はこの発明の一実綿例を説明するための
図、第４図はプローブ電極のオングリッド配列を示す図
、第５図はプリント配線板の検査時の説明図、第６図は
倍密度のプローブ電極配列を示す図である。 ４；プローブ電極ビン　　３０：第１の領域Ａ２０；第
２の領域Ｂ　　　２１；格子状配列位置２２；格子状配
列位置の対角線交点位置５１．５２；スイッチングカー
ド群 代理人　弁理士　佐　藤　正　美 プローブ寄手セー配首擾イグリ 第１図 第２図 第 図 才〉り′ソッド龜己夕１ｊ　を、示す６］第４図 ７ａ１８％の説明図 第５図 ○ ○ ○ ○ イ各＠膚アローフ”電箱 第６図 ○ ！！！列

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 被検査プリント配線基板の測定領域を、ピン配列ピッチ
   を基準に複数領域に分割し、それぞれの領域に対応した
   ピッチのプローブ電極配列体を用意し、それぞれの測定
   領域に対応して切り換えて検査するようにしたプリント
   配線基板検査方法。