JPH103796A - センスアンプ回路 - Google Patents

センスアンプ回路

Info

Publication number
JPH103796A
JPH103796A JP17562196A JP17562196A JPH103796A JP H103796 A JPH103796 A JP H103796A JP 17562196 A JP17562196 A JP 17562196A JP 17562196 A JP17562196 A JP 17562196A JP H103796 A JPH103796 A JP H103796A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
gate
power supply
sense amplifier
voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP17562196A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyuki Matsubara
宏行 松原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP17562196A priority Critical patent/JPH103796A/ja
Priority to US08/851,513 priority patent/US5847583A/en
Priority to KR1019970024588A priority patent/KR100276150B1/ko
Publication of JPH103796A publication Critical patent/JPH103796A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/06Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/06Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
    • G11C7/067Single-ended amplifiers

Landscapes

  • Read Only Memory (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】電源電圧が変動しても影響を受けず、誤動作を
防止するようにしたセンスアンプ回路の提供。 【解決手段】ディジット線の電位変化を反転増幅する手
段とその増幅信号をゲート入力とし、ディジット線への
電流を制御するトランジスタ(Tr2)を備えたリードオ
ンメモリにおいて反転増幅手段として、ドレインがTr2
のゲートに接続されている2つのトランジスタ(Tr3、
Tr4)を備え、Tr3のソースは電源に、Tr4のソースは
接地され、Tr4のゲートはTr2のソースに接続され、Tr
3のゲートと、電源端子Vcc間にはコンデンサとトラン
ジスタ(Tr5)が接続され、Tr3のゲートには抵抗を介
して接地されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】本発明は、センスアンプ回路に関し、特に
半導体記憶装置の読み出し時の誤動作を抑えるための回
路を付加したセンスアンプ回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の半導体記憶装置におけるセンスア
ンプ回路の構成の一例を図3に示す。
【0003】図3を参照すると、従来のセンスアンプ回
路は、ソースが電源Vccに接続されゲートとドレイン
が互いに接続されて出力端子SAに接続されたPchト
ランジスタTr1と、ドレインが出力端子SAに接続さ
れソースがセル部100に接続されたNchトランジス
タTr2と、ソースが電源Vccに接続されドレインが
NchトランジスタTr2のゲートに接続されたPch
トランジスタTr3と、ドレインがPchトランジスタ
Tr3のドレインに接続されソースが接地されたNch
トランジスタTr4と、を備え、PchトランジスタT
r3とNchトランジスタTr4のゲートは共に節点S
A1(NchトランジスタTr2のソース)に接続さ
れ、PchトランジスタTr3とNchトランジスタT
r4は、NchトランジスタTr2のソース電位を入力
としその反転出力をNchトランジスタTr2のゲート
(接点SA3)に供給するCMOSインバータを構成し
ている。
【0004】この従来のセンスアンプ回路の動作を説明
する。
【0005】このセンスアンプ回路は、セル部100に
電流が流れている状態(セル部オン状態)と電流が流れ
ていない状態(セル部オフ状態)を検知して出力する回
路である。
【0006】セル部オンの状態(セル部100の選択さ
れたメモリセルが導通)の時には、セル部100に電流
が流れるため、節点(ノード)SA1の電圧レベルが下
がり、インバータを構成するトランジスタTr3、Tr
4の出力ノードSA3の電圧レベルが上がる。
【0007】すると、NchトランジスタTr2はオン
状態となり、電源Vccから電流Idが供給され、Nc
hトランジスタTr2に電流が流れると、トランジスタ
Tr2のドレインに接続された出力端子SAの論理レベ
ルはロウ(Low)レベルとなる。これが、セル部オン
状態の時の正常の動作である。
【0008】一方、セル部オフ状態の時には、セル部1
00に電流が流れないため、NchトランジスタTr4
がオン状態となりNchトランジスタTr2のゲート電
位がGND(接地)レベルとなり、Nchトランジスタ
Tr2は導通せず、出力端子SAの論理レベルはハイ
(High)レベルとなる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】ところで、電源電圧V
ccがノイズなどにより変動し、電源電圧レベルが下が
ると、トランジスタTr3、Tr4からなるインバータ
の出力SA3の電位も下がり、セル部オン状態の時にお
いて、オン状態にあるNchトランジスタTr2はオフ
状態となる。
【0010】すると、NchトランジスタTr2に流れ
ていた電流Idは流れなくなり、センスアンプの出力端
子SAの電圧レベルは上昇し、セル部オフ状態の電圧信
号を出力してしまう。
【0011】これがセンスアンプの誤動作であり、従来
のセンスアンプ回路の問題点となっている。
【0012】従って、本発明は、上記事情に鑑みてなさ
れたものであって、その目的は、電源電圧が変動しても
影響を受けず、電源電圧変動による誤動作の発生を回避
するようにしたセンスアンプ回路を提供することにあ
る。
【0013】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明のセンスアンプ回路は、ディジット線の電位
変化を反転増幅するインバータと、該反転増幅信号をゲ
ート入力とし前記ディジット線への電流を制御する第1
のトランジスタと、を含むセンスアンプ回路において、
前記インバータは、第1の電源と第2の電源間に直列形
態に接続され、その接続点を前記第1のトランジスタの
ゲートに接続してなる第2及び第3のトランジスタを備
え、前記第2のトランジスタに流れる電流が電源電圧変
動に依存しないように前記第2のトランジスタのゲート
をバイアス制御する手段を備えたことを特徴とする。
【0014】また本発明は、前記バイアス制御手段が、
前記第1の電源と前記第2のトランジスタのゲートとの
間に、コンデンサと、該コンデンサに並列に接続され
た、少なくとも一つのダイオード接続されたトランジス
タを含むことを特徴とする。
【0015】さらに、本発明はディジット線の電位変化
を反転増幅する手段と、該反転増幅信号をゲート入力と
し前記ディジット線への電流を制御する第1のトランジ
スタ(Tr2)と、を含むセンスアンプ回路において、
前記反転増幅手段が、第1の電源(Vcc)と第2の電
源(GND)間に直列形態に接続され、その接続点を前
記第1のトランジスタ(Tr2)のゲートに接続してな
る第2及び第3のトランジスタ(Tr3、Tr4)を備
え、前記2のトランジスタ(Tr3)のゲートと前記第
1の電源(Vcc)間にはコンデンサ(C)と第4のト
ランジスタ(Tr5)が互いに並列形態に接続され、前
記第2のトランジスタ(Tr3)のゲートと前記コンデ
ンサ(C)と前記第4のトランジスタ(Tr5)の接続
点(SA2)と前記第2の電源(GND)間に抵抗
(R)を接続して構成される。
【0016】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について図面
を参照して以下に説明する。
【0017】図1は、本発明の第1の実施の形態の構成
を示す図である。図1を参照すると、本発明の第1の実
施の形態に係るセンスアンプ回路は、ソースが電源Vc
cに接続されゲートとドレインが互いに接続されて出力
端子SAに接続されたPchトランジスタTr1と、ド
レインが出力端子SAに接続されソースがセル部100
に接続された節点SA1に接続されたNchトランジス
タTr2と、ソースが電源Vccに接続されドレインが
節点SA3においてNchトランジスタTr2のゲート
に接続されたPchトランジスタTr3と、ドレインが
PchトランジスタTr3のドレインに接続され、ゲー
トが節点SA1(NchトランジスタTr2のソース)
に接続され、ソースが接地されたNchトランジスタT
r4と、ソースが電源Vccに接続され、ゲートとドレ
インが互いに接続されてPchトランジスタTr3のゲ
ート(節点SA2)に接続されたPchトランジスタT
r5と、電源端子VccとPchトランジスタTr3の
ゲート(節点SA2)との間に接続されたコンデンサC
と、PchトランジスタTr5のドレイン(節点SA
2)と接地間に接続された抵抗Rと、を備えて構成され
ている。
【0018】このセンスアンプ回路は、トランジスタT
r5と抵抗Rにより、節点SA2は、{(電源電圧Vc
c)−(トランジスタTr5の閾値電圧Vth)}、な
る電位に保たれる。
【0019】セル部オン状態の場合について動作を説明
する。
【0020】セル部100に電流が流れると、節点SA
1の電圧レベルが下がり、NchトランジスタTr4が
より高い抵抗状態となり、節点SA3の電圧レベルが上
がる。
【0021】これにより、NchトランジスタTr2は
オン状態となり、電源端子Vccから電流Idが供給さ
れる。トランジスタTr2に電流が流れると、Nchト
ランジスタTr2のドレインに接続された出力端子SA
の電圧レベルはロウレベルとなる。
【0022】一方、セル部オフ状態の場合は、セル部1
00に電流が流れないため、セル部オン状態と逆の動作
が起こる。これにより、端子SAの電圧レベルはハイレ
ベルとなる。
【0023】ここで、電源電圧Vccがノイズなどによ
り変動し、電源電圧が下がった場合について説明する。
【0024】電源電圧が変動すると、コンデンサC及び
トランジスタTr5により、節点SA2に、その変動が
同期して伝達され、節点SA2の電圧レベルは、常に、
{(電源電圧Vcc)−(トランジスタTr5の閾値V
th)}、に保たれる。
【0025】このため、PchトランジスタTr3のゲ
ート・ソース間電圧Vgsとしては、常に一定の電圧が
加わり、PchトランジスタTr3は飽和領域で動作す
る。したがって、PchトランジスタTr3に流れる電
流も一定となり、PchトランジスタTr3のドレイン
である節点SA3の電圧レベルもほぼ一定に保たれる。
【0026】この節点SA3は、NchトランジスタT
r2のゲートに接続されているため、Nchトランジス
タTr2のゲートとソース間にかかる電圧Vgsは、ほ
ぼ一定に保たれ、NchトランジスタTr2に流れる電
流Idの変動を抑えることができる。
【0027】その結果、本発明の第1の実施の形態にお
いては、電源電圧低下時に、電流Idが流れなくなって
セル部オフ状態の電圧信号を出力するという事態を防止
することができる。
【0028】図2は、本発明の第2の実施の形態の構成
を示す図である。図2を参照すると、図1を参照して説
明した前記第1の実施の形態に、PchトランジスタT
r6を追加し、これをPchトランジスタTr5と直列
に接続した点が相違している。
【0029】本発明の第2の実施の形態に係るセンスア
ンプ回路の動作は、前記第1の実施の形態で説明したも
のと同様であるが、PchトランジスタTr5、Tr6
が設けられているため、節点SA2の電圧レベルは、
{Vcc−(トランジスタTr5の閾値)−(トランジ
スタTr6の閾値)}、となり、PchトランジスタT
r3のゲート・ソース間に掛かる電圧が大きくなり、P
chトランジスタTr3は常にオン状態で動作する。
【0030】したがって、前記第1の実施の形態と比べ
て、PchトランジスタTr3の相互コンダクタンスg
mが良くなり、PchトランジスタTr3に流れる電流
が安定し、節点SA3のレベルは、電源電圧の変動に対
して、より安定する。
【0031】これにより、NchトランジスタTr2に
流れる電流Idがより安定する。
【0032】なお、上記実施例にはリードオンリーメモ
リの読み出し系におけるセンスアンプ回路を例に説明し
たが、本発明はこの種のメモリに限定されるものではな
い。
【0033】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
電源電圧が変動しても、出力端とセル部100との間に
挿入されたトランジスタTr2のゲート電圧(SA3)
を一定にするように制御する手段を備えたことにより、
トランジスタTr2に流れる電流を一定にし、その結
果、出力端子のレベルを安定させて、センスアンプの誤
動作を防止することができる効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態に係るセンスアンプ
の回路構成を示す図である。
【図2】本発明の第2の実施の形態に係るセンスアンプ
の回路構成を示す図である。
【図3】従来のセンスアンプ回路の構成の一例を示す図
である。
【符号の説明】
Tr1(P)、Tr3(P)、Tr5(P)、Tr6
(P) Pチャネルトランジスタ Tr2(N)、Tr4(N) Nチャネルトランジスタ 100 セル部

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ディジット線の電位変化を反転増幅するイ
    ンバータと、 該反転増幅信号をゲート入力とし前記ディジット線への
    電流を制御する第1のトランジスタと、を含むセンスア
    ンプ回路において、 前記インバータは、第1の電源と第2の電源間に直列形
    態に接続され、その接続点を前記第1のトランジスタの
    ゲートに接続してなる第2及び第3のトランジスタを備
    え、前記第2のトランジスタに流れる電流が電源電圧変
    動に依存しないように前記第2のトランジスタのゲート
    をバイアス制御する手段を備えたことを特徴とするセン
    スアンプ回路。
  2. 【請求項2】前記バイアス制御手段が、前記第1の電源
    と前記第2のトランジスタのゲートとの間に、コンデン
    サと、該コンデンサに並列に接続された、少なくとも一
    つのダイオード接続されたトランジスタを含むことを特
    徴とする請求項1に記載のセンスアンプ回路。
  3. 【請求項3】ディジット線の電位変化を反転増幅する手
    段と、 該反転増幅信号をゲート入力とし前記ディジット線への
    電流を制御する第1のトランジスタと、を含むセンスア
    ンプ回路において、 前記反転増幅手段が、第1の電源と第2の電源間に直列
    形態に接続され、その接続点を前記第1のトランジスタ
    のゲートに接続してなる第2及び第3のトランジスタを
    備え、 前記2のトランジスタのゲートと前記第1の電源間には
    コンデンサと第4のトランジスタが互いに並列形態に接
    続され、 前記第2のトランジスタのゲートと前記コンデンサと前
    記第4のトランジスタの接続点と前記第2の電源間に抵
    抗を接続して構成されてなることを特徴とするセンスア
    ンプ回路。
  4. 【請求項4】前記第1の電源と前記第2のトランジスタ
    のゲートとの間に前記第4のトランジスタに直列形態に
    更に別のトランジスタを接続したことを特徴とする請求
    項3記載のセンスアンプ回路。
JP17562196A 1996-06-14 1996-06-14 センスアンプ回路 Pending JPH103796A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17562196A JPH103796A (ja) 1996-06-14 1996-06-14 センスアンプ回路
US08/851,513 US5847583A (en) 1996-06-14 1997-05-05 Sense amplifier circuit in which erroneous read operation can be prevented
KR1019970024588A KR100276150B1 (ko) 1996-06-14 1997-06-13 오판독 동작을 방지할 수 있는 감지 증폭기 회로

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17562196A JPH103796A (ja) 1996-06-14 1996-06-14 センスアンプ回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH103796A true JPH103796A (ja) 1998-01-06

Family

ID=15999295

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17562196A Pending JPH103796A (ja) 1996-06-14 1996-06-14 センスアンプ回路

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5847583A (ja)
JP (1) JPH103796A (ja)
KR (1) KR100276150B1 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6437605B1 (en) * 2001-01-22 2002-08-20 Xilinx, Inc. Dynamic sense amplifier for low-power applications
US7026843B1 (en) * 2004-01-16 2006-04-11 Spansion Llc Flexible cascode amplifier circuit with high gain for flash memory cells
US7116594B2 (en) * 2004-09-03 2006-10-03 International Business Machines Corporation Sense amplifier circuits and high speed latch circuits using gated diodes
EP2494594B1 (en) * 2009-10-29 2020-02-19 Semiconductor Energy Laboratory Co. Ltd. Semiconductor device
KR102538172B1 (ko) * 2016-08-30 2023-05-31 삼성전자주식회사 데이터 출력 장치

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4435658A (en) * 1981-02-17 1984-03-06 Burroughs Corporation Two-level threshold circuitry for large scale integrated circuit memories
KR100304813B1 (ko) * 1992-12-28 2001-11-22 사와무라 시코 부성저항회로와이를사용한슈미트트리거회로
US5495191A (en) * 1994-03-25 1996-02-27 Sun Microsystems, Inc. Single ended dynamic sense amplifier

Also Published As

Publication number Publication date
KR100276150B1 (ko) 2000-12-15
US5847583A (en) 1998-12-08
KR980004951A (ko) 1998-03-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR920005257B1 (ko) 정전류원 회로
KR100190763B1 (ko) 차동 증폭기
JP3323119B2 (ja) 半導体集積回路装置
US7724076B2 (en) Internal voltage generator of semiconductor integrated circuit
US5369614A (en) Detecting amplifier with current mirror structure
JPH11154832A (ja) 差動増幅回路及びオペアンプ回路
US5523978A (en) Supply voltage detecting circuit of a semiconductor memory device
US6028458A (en) Differential amplifier with input signal determined standby state
JP2002260393A (ja) 昇圧電圧発生回路
JPH103796A (ja) センスアンプ回路
US6954102B2 (en) Fast dynamic mirror sense amplifier with separate comparison equalization and evaluation paths
JP2001022455A (ja) レギュレータ回路
US6005379A (en) Power compensating voltage reference
JP2005204069A (ja) 半導体装置
JPH10134574A (ja) 半導体メモリ装置
JP2851211B2 (ja) 入力バッファ回路
US5694073A (en) Temperature and supply-voltage sensing circuit
KR100280461B1 (ko) 저전압검출회로
JP3935266B2 (ja) 電圧検知回路
JP2001229676A (ja) 集積回路
US7015731B2 (en) CMOS output buffer circuit
JPH07234735A (ja) 内部電源回路
KR0130154B1 (ko) 차동 증폭기
JP3673190B2 (ja) 電圧発生回路、半導体装置及び電圧発生回路の制御方法
JPH03222195A (ja) センス増幅回路

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20000704