JPH0568545B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0568545B2
JPH0568545B2 JP59079231A JP7923184A JPH0568545B2 JP H0568545 B2 JPH0568545 B2 JP H0568545B2 JP 59079231 A JP59079231 A JP 59079231A JP 7923184 A JP7923184 A JP 7923184A JP H0568545 B2 JPH0568545 B2 JP H0568545B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plasma generation
metal
containing substance
ions
thin film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP59079231A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS60221566A (ja
Inventor
Mamoru Sato
Koichi Yamaguchi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Corp
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
Agency of Industrial Science and Technology
Kyocera Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Agency of Industrial Science and Technology, Kyocera Corp filed Critical Agency of Industrial Science and Technology
Priority to JP59079231A priority Critical patent/JPS60221566A/ja
Priority to US06/724,188 priority patent/US4657774A/en
Publication of JPS60221566A publication Critical patent/JPS60221566A/ja
Priority to US06/822,814 priority patent/US4676194A/en
Publication of JPH0568545B2 publication Critical patent/JPH0568545B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/221Ion beam deposition

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、イオン照射手段と真空蒸着手段とを
具備した薄膜形成装置の改良に関するものであ
る。
(従来技術) 本発明者等は、先に特開昭58−2022号にイオン
照射手段と真空蒸着手段を組み合わせて成る新規
な薄膜形成方法を提案した。この方法は基体表面
に金属または金属化合物薄膜を形成するに当た
り、イオン照射法に基づき、加速したイオンを基
体へ照射すると同時又は交互に真空蒸着法に基づ
き金属含有物質の蒸気を基体に蒸着するというも
のである。
この方法によれば、加速されたイオンの持つ電
荷や運動エネルギーを利用して蒸着物質とイオン
とを化学的に結合させ、新規な材料に基体上に形
成することができる。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、上記方法に基づく薄膜形成装置
によれば、プラズマ発生領域にてイオン生成用ガ
スを導入してイオンを発生させるのに伴つて、同
時に発生した電子はすべて装置の壁面を通つてア
ースに流れており、その結果、電子の高エネルギ
ーを無駄に排出していた。
(発明の目的) 従つて、本発明は、叙上に鑑みて完成されたも
のであり、その目的はプラズマ発生領域で生成し
た電子を装置内部で有効利用し、エネルギー消費
量を減少せしめた薄膜形成装置を提供することに
ある。
(問題点を解決するための手段) 本発明の薄膜形成装置は、金属含有物質を備え
た蒸発源、イオン生成用ガスをイオンと電子に解
離するプラズマ発生領域を形成するためのプラズ
マ発生手段、該プラズマ発生領域より発生したイ
オンを加速させてイオンビームを形成するための
手段および基体とをこの順序で配置してなるもの
であつて、前記金属含有物質に正の電圧を印加
し、前記プラズマ発生領域にて発生した電子を前
記金属含有物質に照射することにより、これを前
記金属含有物質の加熱蒸発手段として利用したこ
とを特徴とするものである。
以下、本発明を図面により詳細に説明する。
第1図は、本発明の薄膜形成装置の概略図であ
る。第1図によれば、まず、装置は大きくプラズ
マ発生室1と反応室2により構成される。詳細に
は、金属含有物質を備えた蒸発源、イオン生成用
ガスをイオンと電子に解離するプラズマ発生領域
を形成するためのプラズマ発生手段、該プラズマ
発生領域より発生したイオンを加速させてイオン
ビームを形成するための手段および基体とがこの
順序で配置されている。また、第1図によれば、
蒸発源から基体まで一直線上に配置されている。
即ち、プラズマ発生室1内の底部には、銅ハー
スなどの保持機構3により金属または金属化合物
などの金属含有物質4が保持された蒸発源が設置
されており、その蒸発源の金属含有物質4が蒸発
する側には、プラズマ発生領域5が形成されてい
る。プラズマ発生室1には、ガス導入管6を介し
てイオン生成用ガスが導入される。そして、導入
されたイオン生成用ガスはプラズマ発生領域にお
いてフイラメント7からの熱電子の放出により電
子とイオンに解離され、さらにプラズマ発生用マ
グネツトコイル8によりそのプラズマ発生効率が
高められる。
一方、プラズマ発生室1と反応室2との連結部
には、引き出し電極9が設けられている。この引
き出し電極9には、負の電圧が印加されており、
プラズマ発生室1のプラズマ発生領域5において
生成されたイオンが引き出し電極9により反応室
2に引き出される。また反応室2内に設けられた
基体10には直流電源11により負の電圧が印加
されており、これによりイオンは加速され、原子
当たり0.1keV〜40keVの高いエネルギーを有し
て基体10に照射される。
なお、第1図中、12はガス排出口であり、ガ
ス吸引用のターボポンプ(図示せず)に接続さ
れ、薄膜形成時において反応室2内の圧力は
10-4Torr以下の高真空に維持されている。
上記構成において蒸発源に設置された金属含有
物質は、通常は別途設けられた電子ビームなどに
より加熱して蒸発されるが、本発明によれば、プ
ラズマ発生領域5において生成された電子を電子
ビームの供給源として用い、この電子を蒸発源に
照射することにより蒸発源を加熱し蒸着物質を蒸
発させることが大きな特徴である。
即ち、本発明の薄膜形成装置によれば、プラズ
マ発生室1内に設けられた蒸発源と基体10との
間を直流電源11により蒸発源側が正になるよう
に電圧印加することにより、プラズマ発生領域5
にて生成された電子は蒸発源に誘引され、さらに
電子収束用マグネツトコイル13によつてビーム
化され金属含有物質4へ照射され、これにより金
属含有物質4が加熱されて蒸発する。そして、蒸
発した金属含有物質のほとんどは、プラズマ発生
室1から反応室1へ作動排気され基体上に蒸着さ
れる。
なお、上記構成において直流電源11はアース
を介在してイオン加速用負電源と電子加速用電源
に分けることができる。
上記構成によれば、イオン生成用ガスがプラズ
マ発生領域5でイオンと電子に解離され、生成さ
れたイオンは反応室2内で加速され基体10に照
射される。一方、プラズマ発生領域5にて生成さ
れた電子の照射により蒸発した金属含有物質4
は、プラズマ発生領域5を通過する際にその一部
がイオン化して活性化され、反応室2に排気さ
れ、基体10上に蒸着される。
そして、イオンの電荷や運動エネルギーにより
蒸着された金属含有物質とイオンが化学結合し、
基体10表面に酸化物、窒素化合物、炭素化合
物、ホウ素化合物、ケイ素化合物などの薄膜が形
成される。
(発明の効果) 上述の通り、本発明の薄膜形成装置において
は、プラズマ発生領域において生成された電子を
蒸着源を加熱する電子ビームの供給源とし、金属
含有物質の加熱手段として用いることにより、イ
オン照射に伴つて生成した電子を装置内部で有効
利用することができる。そのため、蒸着源を加熱
するための電子供給電源が不要であり、装置のエ
ネルギー消費量を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の薄膜形成装置の概略図であ
る。 1……プラズマ発生室、2……反応室、4……
金属含有物質、5……プラズマ発生領域、8……
プラズマ発生用マグネツトコイル、9……引き出
し電極、10……基体、11……直流電源。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 金属含有物質を備えた蒸発源、イオン生成用
    ガスをイオンと電子に解離するプラズマ発生領域
    を形成するためのプラズマ発生手段、該プラズマ
    発生領域より発生したイオンを加速させてイオン
    ビームを形成するための手段および基体とをこの
    順序で配置してなる薄膜形成装置において、前記
    蒸発源に正の電圧を印加し、前記プラズマ発生領
    域にて発生した電子を前記金属含有物質に照射す
    ることを特徴とする薄膜形成装置。
JP59079231A 1984-04-18 1984-04-18 薄膜形成装置 Granted JPS60221566A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59079231A JPS60221566A (ja) 1984-04-18 1984-04-18 薄膜形成装置
US06/724,188 US4657774A (en) 1984-04-18 1985-04-17 Method for thin film formation
US06/822,814 US4676194A (en) 1984-04-18 1986-01-27 Apparatus for thin film formation

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59079231A JPS60221566A (ja) 1984-04-18 1984-04-18 薄膜形成装置

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6780485A Division JPS60223113A (ja) 1985-03-30 1985-03-30 薄膜形成方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60221566A JPS60221566A (ja) 1985-11-06
JPH0568545B2 true JPH0568545B2 (ja) 1993-09-29

Family

ID=13684105

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59079231A Granted JPS60221566A (ja) 1984-04-18 1984-04-18 薄膜形成装置

Country Status (2)

Country Link
US (2) US4657774A (ja)
JP (1) JPS60221566A (ja)

Families Citing this family (58)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4782267A (en) * 1986-02-07 1988-11-01 Applied Electron Corporation In-situ wide area vacuum ultraviolet lamp
US5135607A (en) * 1986-04-11 1992-08-04 Canon Kabushiki Kaisha Process for forming deposited film
KR900005118B1 (ko) * 1986-07-14 1990-07-19 미쓰비시전기주식회사 박막 형성장치
US4800840A (en) * 1986-09-24 1989-01-31 Rockwell International Corporation Method and apparatus for vapor stream discrimination
US4882198A (en) * 1986-11-26 1989-11-21 Optical Coating Laboratory, Inc. System and method for vacuum deposition of thin films
JPS63215578A (ja) * 1987-02-28 1988-09-08 株式会社豊田中央研究所 セラミツク材料表面への固体潤滑被膜の形成方法
US4876984A (en) * 1987-06-12 1989-10-31 Ricoh Company, Ltd. Apparatus for forming a thin film
US4816291A (en) * 1987-08-19 1989-03-28 The Regents Of The University Of California Process for making diamond, doped diamond, diamond-cubic boron nitride composite films
DE3844630C2 (ja) * 1987-11-25 1990-11-22 Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo, Jp
US4902572A (en) * 1988-04-19 1990-02-20 The Boeing Company Film deposition system
US4883686A (en) * 1988-05-26 1989-11-28 Energy Conversion Devices, Inc. Method for the high rate plasma deposition of high quality material
US5133849A (en) * 1988-12-12 1992-07-28 Ricoh Company, Ltd. Thin film forming apparatus
US4951604A (en) * 1989-02-17 1990-08-28 Optical Coating Laboratory, Inc. System and method for vacuum deposition of thin films
JPH03111578A (ja) * 1989-06-29 1991-05-13 Toshiba Corp 薄膜形成方法及び薄膜形成装置
DE3931565C1 (ja) * 1989-09-22 1991-01-24 Dornier Luftfahrt Gmbh, 8000 Muenchen, De
US5114559A (en) * 1989-09-26 1992-05-19 Ricoh Company, Ltd. Thin film deposition system
JP2786283B2 (ja) * 1989-12-22 1998-08-13 株式会社日立製作所 表面改質方法およびその装置並びに表面改質基材
DE4126851A1 (de) * 1991-08-14 1993-02-18 Krupp Widia Gmbh Werkzeug mit verschleissfester schneide aus kubischem bornitrid oder polykristallinem kubischem bornitrid, verfahren zu dessen herstellung sowie dessen verwendung
DE4128547A1 (de) * 1991-08-28 1993-03-04 Leybold Ag Verfahren und vorrichtung fuer die herstellung einer entspiegelungsschicht auf linsen
DE4204650C1 (ja) * 1992-02-15 1993-07-08 Hoffmeister, Helmut, Dr., 4400 Muenster, De
US6475333B1 (en) * 1993-07-26 2002-11-05 Nihon Shinku Gijutsu Kabushiki Kaisha Discharge plasma processing device
US5975912A (en) * 1994-06-03 1999-11-02 Materials Research Corporation Low temperature plasma-enhanced formation of integrated circuits
US5665640A (en) * 1994-06-03 1997-09-09 Sony Corporation Method for producing titanium-containing thin films by low temperature plasma-enhanced chemical vapor deposition using a rotating susceptor reactor
US5628829A (en) * 1994-06-03 1997-05-13 Materials Research Corporation Method and apparatus for low temperature deposition of CVD and PECVD films
WO1995034092A1 (en) * 1994-06-03 1995-12-14 Materials Research Corporation A method of nitridization of titanium thin films
US5518780A (en) * 1994-06-16 1996-05-21 Ford Motor Company Method of making hard, transparent amorphous hydrogenated boron nitride films
JPH09112448A (ja) * 1995-10-18 1997-05-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd スクロール圧縮機
US6827824B1 (en) * 1996-04-12 2004-12-07 Micron Technology, Inc. Enhanced collimated deposition
US5885666A (en) * 1997-05-06 1999-03-23 General Motors Corporation Conversion of hexagonal-like BN to cubic-like BN by ion implantation
JP3599564B2 (ja) 1998-06-25 2004-12-08 東京エレクトロン株式会社 イオン流形成方法及び装置
US6200649B1 (en) * 1999-07-21 2001-03-13 Southwest Research Institute Method of making titanium boronitride coatings using ion beam assisted deposition
US20050208218A1 (en) * 1999-08-21 2005-09-22 Ibadex Llc. Method for depositing boron-rich coatings
US6452338B1 (en) 1999-12-13 2002-09-17 Semequip, Inc. Electron beam ion source with integral low-temperature vaporizer
JP4504511B2 (ja) 2000-05-26 2010-07-14 忠弘 大見 プラズマ処理装置
JP4621333B2 (ja) * 2000-06-01 2011-01-26 ホーチキ株式会社 薄膜形成方法
TW521386B (en) * 2000-06-28 2003-02-21 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Hexagonal boron nitride film with low dielectric constant, layer dielectric film and method of production thereof, and plasma CVD apparatus
US6596399B2 (en) 2000-12-04 2003-07-22 Guardian Industries Corp. UV absorbing/reflecting silver oxide layer, and method of making same
JP4078084B2 (ja) * 2002-01-28 2008-04-23 キヤノン株式会社 イオン化成膜方法及び装置
KR100476370B1 (ko) * 2002-07-19 2005-03-16 주식회사 하이닉스반도체 배치형 원자층증착장치 및 그의 인시튜 세정 방법
US7421973B2 (en) * 2003-11-06 2008-09-09 Axcelis Technologies, Inc. System and method for performing SIMOX implants using an ion shower
CN103170447B (zh) 2005-08-30 2015-02-18 先进科技材料公司 使用替代的氟化含硼前驱体的硼离子注入和用于注入的大氢化硼的形成
US20100112795A1 (en) * 2005-08-30 2010-05-06 Advanced Technology Materials, Inc. Method of forming ultra-shallow junctions for semiconductor devices
EP1947210A1 (fr) * 2007-01-16 2008-07-23 ARCELOR France Procede de revetement d'un substrat, installation de mise en oeuvre du procede et dispositif d'alimentation en metal d'une telle installation
US20110021011A1 (en) 2009-07-23 2011-01-27 Advanced Technology Materials, Inc. Carbon materials for carbon implantation
TW201110831A (en) * 2009-09-03 2011-03-16 Chunghwa Picture Tubes Ltd Plasma apparatus and method of fabricating nano-crystalline silicon thin film
US8138071B2 (en) * 2009-10-27 2012-03-20 Advanced Technology Materials, Inc. Isotopically-enriched boron-containing compounds, and methods of making and using same
US8062965B2 (en) * 2009-10-27 2011-11-22 Advanced Technology Materials, Inc. Isotopically-enriched boron-containing compounds, and methods of making and using same
US8598022B2 (en) 2009-10-27 2013-12-03 Advanced Technology Materials, Inc. Isotopically-enriched boron-containing compounds, and methods of making and using same
US8779383B2 (en) 2010-02-26 2014-07-15 Advanced Technology Materials, Inc. Enriched silicon precursor compositions and apparatus and processes for utilizing same
TWI582836B (zh) 2010-02-26 2017-05-11 恩特葛瑞斯股份有限公司 用以增進離子植入系統中之離子源的壽命及性能之方法與設備
US9205392B2 (en) 2010-08-30 2015-12-08 Entegris, Inc. Apparatus and method for preparation of compounds or intermediates thereof from a solid material, and using such compounds and intermediates
US8828504B2 (en) * 2010-12-17 2014-09-09 International Business Machines Corporation Deposition of hydrogenated thin film
TWI583442B (zh) 2011-10-10 2017-05-21 恩特葛瑞斯股份有限公司 B2f4之製造程序
US20130098871A1 (en) 2011-10-19 2013-04-25 Fei Company Internal Split Faraday Shield for an Inductively Coupled Plasma Source
CN103122449B (zh) * 2011-11-21 2017-02-15 管炜 离化装置及应用离化装置的镀膜装置
KR20210070400A (ko) 2012-02-14 2021-06-14 엔테그리스, 아이엔씨. 주입 빔 및 소스 수명 성능 개선을 위한 탄소 도판트 기체 및 동축류
JP2016534560A (ja) 2013-08-16 2016-11-04 インテグリス・インコーポレーテッド 基板へのシリコン注入およびそのためのシリコン前駆体組成物の提供
US9287085B2 (en) * 2014-05-12 2016-03-15 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. Processing apparatus and method of treating a substrate

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5435920B2 (ja) * 1974-06-10 1979-11-06
GB1483966A (en) * 1974-10-23 1977-08-24 Sharp Kk Vapourized-metal cluster ion source and ionized-cluster beam deposition
US4161418A (en) * 1975-06-27 1979-07-17 Futaba Denshi Kogyo K. K. Ionized-cluster-beam deposition process for fabricating p-n junction semiconductor layers
US4218495A (en) * 1975-07-18 1980-08-19 Futaba Denshi Kogyo K.K. Schottky barrier type solid-state element
DE3064353D1 (en) * 1979-02-23 1983-09-01 Seikisui Chemical Co Ltd A process for producing a magnetic recording medium

Also Published As

Publication number Publication date
JPS60221566A (ja) 1985-11-06
US4657774A (en) 1987-04-14
US4676194A (en) 1987-06-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0568545B2 (ja)
JP2859479B2 (ja) ボロンイオンを生成するためのイオン源
JP2849771B2 (ja) スパッタ型イオン源
JP3186777B2 (ja) プラズマ源
JPH03104881A (ja) 鉄‐窒化鉄薄膜形成方法
JP2566602B2 (ja) イオン源
KR900008155B1 (ko) 박막형성방법 및 그 장치
JPS59190357A (ja) 過飽和電子型イオンプレ−テイング法
JPS594045Y2 (ja) 薄膜生成用イオン化装置
JP3409881B2 (ja) Rf放電型イオン源
JPH089776B2 (ja) イオンプレーティング方法および装置
JPH0645871B2 (ja) 反応性イオンプレーティング方法
JPS60125368A (ja) 薄膜蒸着装置
JP2594961B2 (ja) ガスイオン源装置
JP2760399B2 (ja) 表面改質装置および表面改質方法
JP3105931B2 (ja) 電子ビーム照射装置及び電子ビーム照射方法
JPH0586474B2 (ja)
JP2791083B2 (ja) 負イオン源
JPH0735569B2 (ja) 薄膜形成装置
JPS595732Y2 (ja) イオンプレ−ティング装置
JPS6254076A (ja) イオンプレ−テイング装置
JPS6167766A (ja) イオンプレ−テイング装置
JPS6230315A (ja) 電子銃装置
JPH0963494A (ja) カーボンクラスターイオン生成方法
JPS61170564A (ja) 加工物の表層改質方法および装置

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term