JPS63215578A - セラミツク材料表面への固体潤滑被膜の形成方法 - Google Patents
セラミツク材料表面への固体潤滑被膜の形成方法Info
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- JPS63215578A JPS63215578A JP62045987A JP4598787A JPS63215578A JP S63215578 A JPS63215578 A JP S63215578A JP 62045987 A JP62045987 A JP 62045987A JP 4598787 A JP4598787 A JP 4598787A JP S63215578 A JPS63215578 A JP S63215578A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、セラミック材料表面への固体@滑被換の形成
方法、更に詳しくは半導体表造機器、電子機器、宇宙機
器等の各楕精密機器において使用される、上2ミック製
の軸受、ベアリング等の摺動部品に固体7+41滑被膜
を形成する方法に関する本のである。
方法、更に詳しくは半導体表造機器、電子機器、宇宙機
器等の各楕精密機器において使用される、上2ミック製
の軸受、ベアリング等の摺動部品に固体7+41滑被膜
を形成する方法に関する本のである。
セラミック摺動部品に潤滑性を持たせる丸め、従来、セ
ラミック材料表面に固体潤滑剤の被覆処理がなされてい
る。この場合、固体鯛渭剤としては、二硫化モリブデン
、ニセレン化タングステン、黒鉛、酸化鉛などの層状構
造を有する物質が用いられ、具体的な方法としてはたと
えばこれらの固体潤滑剤粒子を有機もしくは無機の結合
剤と混合したものを部品表面に塗布した後、焼付は処理
を行って固体調滑被腺とする方法がある。
ラミック材料表面に固体潤滑剤の被覆処理がなされてい
る。この場合、固体鯛渭剤としては、二硫化モリブデン
、ニセレン化タングステン、黒鉛、酸化鉛などの層状構
造を有する物質が用いられ、具体的な方法としてはたと
えばこれらの固体潤滑剤粒子を有機もしくは無機の結合
剤と混合したものを部品表面に塗布した後、焼付は処理
を行って固体調滑被腺とする方法がある。
ところで、精密@器に使用する摺動部品の固体潤滑被膜
としては、極力薄くしかも長寿命のものが望ましい。精
密機器においては、摺動部といえども高い寸法精度の維
持が要求されるからである。固体潤滑被覆処理において
、最も重要な要素の一つは被膜と基体との密着性である
。
としては、極力薄くしかも長寿命のものが望ましい。精
密機器においては、摺動部といえども高い寸法精度の維
持が要求されるからである。固体潤滑被覆処理において
、最も重要な要素の一つは被膜と基体との密着性である
。
なぜなら、密着性が高いほど、被膜の寿命が長くなるか
らである。従って、同じ寿命t−得るのに、密着性が高
いはど被膜厚さは小さくて済む。
らである。従って、同じ寿命t−得るのに、密着性が高
いはど被膜厚さは小さくて済む。
一方、V機樹脂を所望の材料に被覆して後、イオン照射
を行い炭素被膜を形成できることは公知である。たとえ
ば、パーナート ニー、マシグアーらは、公開特許公報
昭60−159168号に示しているように1この方法
を金属表面に用いて耐傷付性を改善する方法を提供して
いる。
を行い炭素被膜を形成できることは公知である。たとえ
ば、パーナート ニー、マシグアーらは、公開特許公報
昭60−159168号に示しているように1この方法
を金属表面に用いて耐傷付性を改善する方法を提供して
いる。
マタ、パーナート ニー、マシグアーらは、炭素膜と基
体金属との密着性を高める丸めイオン照射において第1
のエネルギーのイオン照射後、第1のエネルギーよプも
小さい第2のエネルギーのイオン照射を行うという多重
照射の方法を提供している。この方法において重要なこ
とは、パーナート ニー、マシヴアーらが指通している
ように、この方法で得られる炭素被膜は冶金学的、すな
わち化学的に適合する表面でのみ有用であることである
。この意味は、炭素との化合物を生成する金属であると
いうことであシ、鉄基合金などが辷れに相当する。
体金属との密着性を高める丸めイオン照射において第1
のエネルギーのイオン照射後、第1のエネルギーよプも
小さい第2のエネルギーのイオン照射を行うという多重
照射の方法を提供している。この方法において重要なこ
とは、パーナート ニー、マシヴアーらが指通している
ように、この方法で得られる炭素被膜は冶金学的、すな
わち化学的に適合する表面でのみ有用であることである
。この意味は、炭素との化合物を生成する金属であると
いうことであシ、鉄基合金などが辷れに相当する。
しかしながら、このような方法は、被後処理に多くの工
程を必要とするとともに1良好な被膜を得るのに各工程
で微妙な調整が必要である。
程を必要とするとともに1良好な被膜を得るのに各工程
で微妙な調整が必要である。
また、被膜が長寿命であ暮こと、すなわち多数回の摺動
に耐え得る罠は、膜厚は通常〜10μm以上必要である
。
に耐え得る罠は、膜厚は通常〜10μm以上必要である
。
一方、セラミック表面に有機樹脂を塗布した後、イオン
照射した場合、たとえ多重照射法を採用しても、密着性
は不十分である。これは、一つには、炭素膜とセラミッ
ク材料とが冶金学的になじまないととKよると考えられ
る。しかし、本発明者らは、鋭意検討の結果、さらに一
つの理由は、あらかじめ塗布などの方法で被覆した有機
樹脂をイオン照射によって炭化すると樹脂被覆は大きな
装置変化(収縮)’にきたし、形成された炭素膜と基体
との界面に大きな歪応力が発生する九めであることを見
い出した。従って、界面の歪応力の発生を極力抑えるこ
とができるならばセラミック表面といえどもイオン照射
によって密着性の高い炭素膜を形成できるであろうと予
想される。
照射した場合、たとえ多重照射法を採用しても、密着性
は不十分である。これは、一つには、炭素膜とセラミッ
ク材料とが冶金学的になじまないととKよると考えられ
る。しかし、本発明者らは、鋭意検討の結果、さらに一
つの理由は、あらかじめ塗布などの方法で被覆した有機
樹脂をイオン照射によって炭化すると樹脂被覆は大きな
装置変化(収縮)’にきたし、形成された炭素膜と基体
との界面に大きな歪応力が発生する九めであることを見
い出した。従って、界面の歪応力の発生を極力抑えるこ
とができるならばセラミック表面といえどもイオン照射
によって密着性の高い炭素膜を形成できるであろうと予
想される。
このような考えに基いて、本発明者らは鋭意研究の結果
、有機物の堆積とイオン照射とを同時に行うとセツミッ
ク表面にもvM着性の良い炭素膜を形成できることを見
い出し・た。
、有機物の堆積とイオン照射とを同時に行うとセツミッ
ク表面にもvM着性の良い炭素膜を形成できることを見
い出し・た。
本発明は、上記従来技術における問題点を解決するため
のものであり、その目的とするところは良好な固体潤滑
性を有する被膜材料を有機物質t−原料としてイオン照
射によって簡便に製造し、それと同時にセラミック表面
に密着性良く被覆する方法を提供することにある。
のものであり、その目的とするところは良好な固体潤滑
性を有する被膜材料を有機物質t−原料としてイオン照
射によって簡便に製造し、それと同時にセラミック表面
に密着性良く被覆する方法を提供することにある。
すなわち本発明のセラミック材料表面への固体潤滑被膜
の形成方法は、10 Torrよp本真空度の高い真
空雰囲気下におかれた七2ミック材料の表面に、室温で
10 Torr以下の蒸気圧を有する有機物質を該真
空雰囲気下で加熱蒸着すると同時に該セラミック材料の
表面に、 1 keV以上のエネルギーを有する気体元
素のイオンを1×10 個/d以上照射することを特徴
とする。
の形成方法は、10 Torrよp本真空度の高い真
空雰囲気下におかれた七2ミック材料の表面に、室温で
10 Torr以下の蒸気圧を有する有機物質を該真
空雰囲気下で加熱蒸着すると同時に該セラミック材料の
表面に、 1 keV以上のエネルギーを有する気体元
素のイオンを1×10 個/d以上照射することを特徴
とする。
ま九、本発明の好ましい実施態様としてはたとえば、
(1)気体元素が窒素、ヘリウム、ネオン、アルゴン、
クリプトン又はキセノンである方法、および (II) セラミック材料がセラミック摺動体である
方法、 が挙げられる。
クリプトン又はキセノンである方法、および (II) セラミック材料がセラミック摺動体である
方法、 が挙げられる。
本発明者らは、高エネルギーのイオン照射が一般に被膜
と基体との密着性を高めるのに有用であること、および
炭素a膜が摺動部品間の化学反応を防止する働らきt−
Wすること、さらに有機物にイオン照射を行うと、一般
に炭化が起こシ、炭素を高密度に官有する無機質の物質
に変わること、等を考慮して鋭意研究の結果、本発明を
成すに至った。
と基体との密着性を高めるのに有用であること、および
炭素a膜が摺動部品間の化学反応を防止する働らきt−
Wすること、さらに有機物にイオン照射を行うと、一般
に炭化が起こシ、炭素を高密度に官有する無機質の物質
に変わること、等を考慮して鋭意研究の結果、本発明を
成すに至った。
以下に本発明の方法を史に詳しく述べる。第1図に示さ
れるように、被億処理用真空容器1に1公知の高エネル
ギーのイオンビーム発生装を接続する。部品ホルダー4
に処理すべきセラミック部品5を取シ付ける。真全容器
1内において被覆すべきセラミック部品50表面が見え
る位置に炉6を取シ付ける。炉6に蒸発源の有機物質7
t−入れ、炉6を加熱し有機物質7を蒸発させる。この
とき炉6より蒸発する蒸気をシャッター8によシ遮断し
ておく。炉6が適切な温fKまで加熱されたならばシャ
ッター8を開くと同時にイオンビーム3の照射を開始す
る。
れるように、被億処理用真空容器1に1公知の高エネル
ギーのイオンビーム発生装を接続する。部品ホルダー4
に処理すべきセラミック部品5を取シ付ける。真全容器
1内において被覆すべきセラミック部品50表面が見え
る位置に炉6を取シ付ける。炉6に蒸発源の有機物質7
t−入れ、炉6を加熱し有機物質7を蒸発させる。この
とき炉6より蒸発する蒸気をシャッター8によシ遮断し
ておく。炉6が適切な温fKまで加熱されたならばシャ
ッター8を開くと同時にイオンビーム3の照射を開始す
る。
セラミックζP:、5の表面に被榎される炭素膜の厚さ
はシャッター8を開いている時間によ多制御できる。ま
た、照射するイオンビームのエネルギー、a類、照射量
も自由に選択できるから形成される炭素族の戻素¥1!
!度を制御できる。高い炭素密度の被膜を得るKは、全
照射量を多くすればよい。一定時間内での全照射量の調
節はイオンビームの電流密度を制御することによシ可能
である。
はシャッター8を開いている時間によ多制御できる。ま
た、照射するイオンビームのエネルギー、a類、照射量
も自由に選択できるから形成される炭素族の戻素¥1!
!度を制御できる。高い炭素密度の被膜を得るKは、全
照射量を多くすればよい。一定時間内での全照射量の調
節はイオンビームの電流密度を制御することによシ可能
である。
本発#iにおいて蒸発源として使用する有機物質は、イ
オン照射を同時に行う必要から真壁容器内に置かれる。
オン照射を同時に行う必要から真壁容器内に置かれる。
イオン照射には、真空度が10 Torr以上の高真
空が必要である。このため、蒸発源有機物質としては、
塞温での蒸気圧が10 ’fo11以下のものを使用
しなければならない。このような有機物質としては、常
温で液体状のものや固体状のものなど多くの種類のもの
がある。例えば液体状のものとしては、真空ポンプのオ
イルとして使用されているシリコーン系オイル、炭化水
素糸オイル、6るいはl4fy#油として使われている
7ツ索糸オイル等かある。
空が必要である。このため、蒸発源有機物質としては、
塞温での蒸気圧が10 ’fo11以下のものを使用
しなければならない。このような有機物質としては、常
温で液体状のものや固体状のものなど多くの種類のもの
がある。例えば液体状のものとしては、真空ポンプのオ
イルとして使用されているシリコーン系オイル、炭化水
素糸オイル、6るいはl4fy#油として使われている
7ツ索糸オイル等かある。
トくに、メチルフェニルシロキサン(シリコーン系オイ
ル)やアルキルナフタレン(炭化水素系オイル)、パ
70ロホリエーテル(7ツ索糸オイル)は代表的なもの
である。固体状のものとしては、例えば、ナフタレン、
アントラセン、7タロシアニンなどが使用できる。これ
らのものは単独でも、あるいは組み合わせて使用しても
よい。
ル)やアルキルナフタレン(炭化水素系オイル)、パ
70ロホリエーテル(7ツ索糸オイル)は代表的なもの
である。固体状のものとしては、例えば、ナフタレン、
アントラセン、7タロシアニンなどが使用できる。これ
らのものは単独でも、あるいは組み合わせて使用しても
よい。
照射すべきイオンビームとしては、有機物質の分解・炭
化を引き起し得るものであればよくHe以上の質量を有
するイオン種が使用できる。
化を引き起し得るものであればよくHe以上の質量を有
するイオン種が使用できる。
しかし、イオンビームの生成の容易さから気体元素、と
< K、 He、 N、 Ne、 Ar、 Kr、 X
eが望ましい。これらの元素のイオンは、形成される炭
素膜と反応して膜質を変えることがない点も好都合であ
る。
< K、 He、 N、 Ne、 Ar、 Kr、 X
eが望ましい。これらの元素のイオンは、形成される炭
素膜と反応して膜質を変えることがない点も好都合であ
る。
イオンのエネルギーは、有機物を十分に分路・炭化でき
る程度であればよく通常j keV以上であれはよい。
る程度であればよく通常j keV以上であれはよい。
良好な固体潤滑性を有する炭素M全製造するために必要
なイオンの照射量は、用いるイオンの抛類によるが、H
eイオンの場合、lX10”個/−1その他のイオンの
場合にll1lx10”1固/cm2以上が望ましい。
なイオンの照射量は、用いるイオンの抛類によるが、H
eイオンの場合、lX10”個/−1その他のイオンの
場合にll1lx10”1固/cm2以上が望ましい。
照射量が上記値よシ少ないと、炭素族の良好な密着性が
得られない。また、炭素以外の元素、すなわち水素等の
有機物構成元素をかなシ多量に含んだ換が得られ、これ
らは、化学的に不安定であることが多く好ましくない。
得られない。また、炭素以外の元素、すなわち水素等の
有機物構成元素をかなシ多量に含んだ換が得られ、これ
らは、化学的に不安定であることが多く好ましくない。
本発明の作用を、蒸発源の有機物質として、液体状のベ
ンタフェニルトリメチルトリシロキい、Arイオンを照
射して窒化珪素(Sj3iN4) セラミック表面KR
素被換を形成する場合を例にして説明する。
ンタフェニルトリメチルトリシロキい、Arイオンを照
射して窒化珪素(Sj3iN4) セラミック表面KR
素被換を形成する場合を例にして説明する。
ペンタフェニルトリメチルトリシロキサンを真空容器内
の蒸発源用の炉に入れ、真全容器を1Q Tart程
度にまで真空引きした後、炉を加熱し、炉温か80℃程
度となったところでシャッターを開くと84@N4表面
にペンタフェニルトリメチルトリシロキサンが付着する
。このとき、ペンタフェニルトリメチルトリシロキサン
は分子状もしくはクラスター状で飛、来してセラミック
表面に付着すると考えられる。シャッターを開くと同時
に、たとえばIQOkeVに加速しfcArイオンを照
射するとペンタフェニルトリメチル+ トリシロキサン分子にArイオンが衝突し該分子を分解
する。このとき分子中の化学結合の弱い部分が最も多く
分解する。ペンタフェニルトリメチルトリシロキサンで
は、C−f(結合が切断され、水素原子が分子から解放
される。これらの水素原子は大部分互いに結合して水素
分子となって放出される。従って、炭素と珪素および酸
素を含んだ物質がセラミック表面に残る。仁の初期被膜
は引き続くイオン照射によシ、水素のみならず酸素も放
出し炭素と珪素よシ成る物質に変わってゆく。このよう
にイオン照射は、有機物質を高密度にR素を含む無機質
の物質に変えるわけであるが、この過程におかて、大き
な収縮(体積変化もしくは密度変化)を伴う。
の蒸発源用の炉に入れ、真全容器を1Q Tart程
度にまで真空引きした後、炉を加熱し、炉温か80℃程
度となったところでシャッターを開くと84@N4表面
にペンタフェニルトリメチルトリシロキサンが付着する
。このとき、ペンタフェニルトリメチルトリシロキサン
は分子状もしくはクラスター状で飛、来してセラミック
表面に付着すると考えられる。シャッターを開くと同時
に、たとえばIQOkeVに加速しfcArイオンを照
射するとペンタフェニルトリメチル+ トリシロキサン分子にArイオンが衝突し該分子を分解
する。このとき分子中の化学結合の弱い部分が最も多く
分解する。ペンタフェニルトリメチルトリシロキサンで
は、C−f(結合が切断され、水素原子が分子から解放
される。これらの水素原子は大部分互いに結合して水素
分子となって放出される。従って、炭素と珪素および酸
素を含んだ物質がセラミック表面に残る。仁の初期被膜
は引き続くイオン照射によシ、水素のみならず酸素も放
出し炭素と珪素よシ成る物質に変わってゆく。このよう
にイオン照射は、有機物質を高密度にR素を含む無機質
の物質に変えるわけであるが、この過程におかて、大き
な収縮(体積変化もしくは密度変化)を伴う。
このような変化が、ある基体表面で起きるとき、変化す
る物質が1分子層もしくは数分子層程度の極く薄い段階
で起こるならば、収縮は拘束を受けず自由に生じる。従
って生成した無機質極薄層と基体界面には歪応力はほと
んど発生しない。有機物質の蒸発とイオン照射とを同時
に行うことは、炭素膜の極薄層の堆積を連続的に行うこ
とに他ならない。従って、本発明の方法で形成される炭
素被膜には、農を数μm8i度の厚さまで形成しても歪
応力はほとんどきまれない。
る物質が1分子層もしくは数分子層程度の極く薄い段階
で起こるならば、収縮は拘束を受けず自由に生じる。従
って生成した無機質極薄層と基体界面には歪応力はほと
んど発生しない。有機物質の蒸発とイオン照射とを同時
に行うことは、炭素膜の極薄層の堆積を連続的に行うこ
とに他ならない。従って、本発明の方法で形成される炭
素被膜には、農を数μm8i度の厚さまで形成しても歪
応力はほとんどきまれない。
それゆえ、歪応力に起因する密着性の低下を防止できる
。本発明の方法によって形成したセラミック表面の炭素
族の^い密層性は、上述のように被膜中に残留歪の少な
いことが大きな理由である。
。本発明の方法によって形成したセラミック表面の炭素
族の^い密層性は、上述のように被膜中に残留歪の少な
いことが大きな理由である。
固体@滑被換に要求されるものは、長寿命とともに1被
換が良好な潤滑性をMすることである。本発明による炭
素被膜を被膜したセ′yξツク部材は、後に実施例にお
いて示すように、他のセラミックや金属およびグラスチ
ック材料との摺動において低い**係数を与える。炭素
よシ成る物質、たとえば黒鉛やダイヤモンドは、化学的
にかなシ安定である。従って、摺動する二つの物質量に
このような物質が介在すると二物質間の化学結合を防止
し、その結果それら二物質問の摺動は低摩擦、低摩耗と
なる。本発明の方法によシ形成される炭素被膜は、高密
度に炭素を含有することは上述の説明から明らかである
が、さらに、この被膜には、炭素の六員環が多く含まれ
ておル、これらの六員環はグラ2アイトの微結晶を形成
すると考えられる。事実、透過電子頭倣餉観祭によシ、
グラファイトの微結晶が含まれていることが証明された
。すなわち、本発明によシ形成される炭素被膜は、グラ
ファイト微結晶を甘む非晶質炭素であるといえる。ペン
タフェニルトリメチルトリシロキサンを蒸発源物質とじ
九場合、8iや0、さらに、おそら〈Hも形成された被
膜中に若干11れる。
換が良好な潤滑性をMすることである。本発明による炭
素被膜を被膜したセ′yξツク部材は、後に実施例にお
いて示すように、他のセラミックや金属およびグラスチ
ック材料との摺動において低い**係数を与える。炭素
よシ成る物質、たとえば黒鉛やダイヤモンドは、化学的
にかなシ安定である。従って、摺動する二つの物質量に
このような物質が介在すると二物質間の化学結合を防止
し、その結果それら二物質問の摺動は低摩擦、低摩耗と
なる。本発明の方法によシ形成される炭素被膜は、高密
度に炭素を含有することは上述の説明から明らかである
が、さらに、この被膜には、炭素の六員環が多く含まれ
ておル、これらの六員環はグラ2アイトの微結晶を形成
すると考えられる。事実、透過電子頭倣餉観祭によシ、
グラファイトの微結晶が含まれていることが証明された
。すなわち、本発明によシ形成される炭素被膜は、グラ
ファイト微結晶を甘む非晶質炭素であるといえる。ペン
タフェニルトリメチルトリシロキサンを蒸発源物質とじ
九場合、8iや0、さらに、おそら〈Hも形成された被
膜中に若干11れる。
これらの含有元素は少量であシ、形成被膜の同体潤滑性
能にはとんど影響しないと考えられる。
能にはとんど影響しないと考えられる。
以下の実施例において本発明f:巣に詳細に説明する。
なお、本発明は下記実施例に限定されるものではない。
なお、装置は第1図に示すものを使用した。
実施例1
厚さ5M、直径301mのディスク(円!1)状の8i
、N、焼結体の表面(表面荒さ〜0.1μm)に、ペン
タフェニルトリメチルトリシロキサンを70℃に加熱し
て蒸着しつつ、同時に100 keV Arイオンを照
射した。イオン電流密度は〜1μA/cdであった。蒸
着とイオン照射を約5a分行なった。イオンの全照射量
は1x10 イオン数/−であった。得られた炭素族の
厚さを、俊方散跣法と表面荒さ針を用いて測定した。両
方の測定値とも(12±CLO2μmであった。
、N、焼結体の表面(表面荒さ〜0.1μm)に、ペン
タフェニルトリメチルトリシロキサンを70℃に加熱し
て蒸着しつつ、同時に100 keV Arイオンを照
射した。イオン電流密度は〜1μA/cdであった。蒸
着とイオン照射を約5a分行なった。イオンの全照射量
は1x10 イオン数/−であった。得られた炭素族の
厚さを、俊方散跣法と表面荒さ針を用いて測定した。両
方の測定値とも(12±CLO2μmであった。
この処理ディスクと、球状(直径5調φンの86N4焼
結体のビンとの摩擦・摩耗特性をビンオンディスク式摩
擦試鋏機を用いて評価した。
結体のビンとの摩擦・摩耗特性をビンオンディスク式摩
擦試鋏機を用いて評価した。
第2図は、摩擦係数μと摺動回数の関係を示したもので
、処理ディスクと未処理ディスクの場合とを比較して示
しである。試験条件は、空気中、無潤滑、M温であシ、
ビンの荷重はα2〜、ディスク回転数は80 rpmで
ある。また、第3図は、ピン材質を5UJ2(′Js材
)に変えた場合の結果を示したものである。第5図には
、比軟のために電子ビーム蒸着法を用いて黒鉛を溶解し
、St、N4デイスクに、厚さく115μmの炭素膜被
蝋処理を施こした場合と、さらに1!子ビ一ム蒸層によ
る(115μm厚の炭素膜被覆処理後100k eV
A(イオンを1×10 イオン数/cd照射した場合の
結果も示しである。第2図と第3図より、本発明による
炭素膜被覆処理を施こした8isN4セ2ミツクが、摺
動相手材がセラミックと金塊のいずれの場合にも、すぐ
れた固体潤滑性を有することがわかる。また、第3図よ
シ、単に炭素t−直接的にセラミック表向に蒸宥した場
合や、さらに炭素蒸着後イオン照射処理を施とし7’(
場合と比較して、本発明の方法で製造したものが著しく
すぐれた固体潤滑性を有することがわかる。
、処理ディスクと未処理ディスクの場合とを比較して示
しである。試験条件は、空気中、無潤滑、M温であシ、
ビンの荷重はα2〜、ディスク回転数は80 rpmで
ある。また、第3図は、ピン材質を5UJ2(′Js材
)に変えた場合の結果を示したものである。第5図には
、比軟のために電子ビーム蒸着法を用いて黒鉛を溶解し
、St、N4デイスクに、厚さく115μmの炭素膜被
蝋処理を施こした場合と、さらに1!子ビ一ム蒸層によ
る(115μm厚の炭素膜被覆処理後100k eV
A(イオンを1×10 イオン数/cd照射した場合の
結果も示しである。第2図と第3図より、本発明による
炭素膜被覆処理を施こした8isN4セ2ミツクが、摺
動相手材がセラミックと金塊のいずれの場合にも、すぐ
れた固体潤滑性を有することがわかる。また、第3図よ
シ、単に炭素t−直接的にセラミック表向に蒸宥した場
合や、さらに炭素蒸着後イオン照射処理を施とし7’(
場合と比較して、本発明の方法で製造したものが著しく
すぐれた固体潤滑性を有することがわかる。
実施例2
S g Co A40g r Z rOl (3モル
% ノY@ Os を宮む)の焼結体ディスク表面に、
ペンタフェニルトリメチルトリシロキサンを約80℃に
加熱して蒸着させ、同時K 1.5 MeV A「イオ
ンを照射して、各ディスク表面に厚さ約I Amの炭素
M1機処理を施した。蒸着とイオン照射の時間は約1時
間で1りシ、照射中のイ゛オンビームit流密度は2μ
A15+#、全照射量は5×10 イオン数/−であっ
た。ビンオンディスク法を用い、これらの処理デ42り
と、SiC,AJ103. ZrO2,5UJ2゜高密
度ポリエチレンのビンとの摩擦試験を行なった。試験条
件は、実施例1の@曾と同じである。第1表VCJ91
I擦係数μ、ビン材料の比摩耗量、被膜寿命(μ≧[L
3となるまでの摩擦同数)K。
% ノY@ Os を宮む)の焼結体ディスク表面に、
ペンタフェニルトリメチルトリシロキサンを約80℃に
加熱して蒸着させ、同時K 1.5 MeV A「イオ
ンを照射して、各ディスク表面に厚さ約I Amの炭素
M1機処理を施した。蒸着とイオン照射の時間は約1時
間で1りシ、照射中のイ゛オンビームit流密度は2μ
A15+#、全照射量は5×10 イオン数/−であっ
た。ビンオンディスク法を用い、これらの処理デ42り
と、SiC,AJ103. ZrO2,5UJ2゜高密
度ポリエチレンのビンとの摩擦試験を行なった。試験条
件は、実施例1の@曾と同じである。第1表VCJ91
I擦係数μ、ビン材料の比摩耗量、被膜寿命(μ≧[L
3となるまでの摩擦同数)K。
ついて、未処理の場合の結果と比較して示した。
第1表よシ、本発明による処理を施した場合、摺動相手
材がセラミック、金属、グラスチックいずれの場合にも
、M操係数は[L1〜α15Kまで低下すること、およ
びピン材の比摩耗量が一桁程度低減することがわかる。
材がセラミック、金属、グラスチックいずれの場合にも
、M操係数は[L1〜α15Kまで低下すること、およ
びピン材の比摩耗量が一桁程度低減することがわかる。
また、J#さ1μmの被膜で、10回以上の摩擦同数に
耐えることがわかる。
耐えることがわかる。
実施例3
Si、N4焼結体表面に、ペンタフェニル) IJメチ
ルトリシロキサン″fニア0℃に加熱して蒸着し、同時
にイオンを照射して炭素被膜を形成した。
ルトリシロキサン″fニア0℃に加熱して蒸着し、同時
にイオンを照射して炭素被膜を形成した。
照射するイオンとして、Het Ne Nes Arを
用いたときの照射条件の例と、形成された被膜の向体潤
Iv特性を第2表に示す。摩擦係数および寿命は、8υ
J2のビンと摺動したときの値であシ、実施例1と同じ
方法で評価したものである。
用いたときの照射条件の例と、形成された被膜の向体潤
Iv特性を第2表に示す。摩擦係数および寿命は、8υ
J2のビンと摺動したときの値であシ、実施例1と同じ
方法で評価したものである。
実施例4
照射用イオンとして100 keV Arイオンを用い
、蒸発源物質としてアントラセン、ナフタレン、エイコ
シルナフタレン、アルキルナフタレン、メチルシリコー
ンを用い、5iBN4焼結体ディスク表面に炭素膜被積
処理を行った。処理条件の例を第3衣に示す。また、そ
れぞれの処理ディスクと5UJ2のピンとの摺動におけ
る摩擦特性を実施例1の場合と同じ方法で評価し九。そ
の結果も第5表に示した。
、蒸発源物質としてアントラセン、ナフタレン、エイコ
シルナフタレン、アルキルナフタレン、メチルシリコー
ンを用い、5iBN4焼結体ディスク表面に炭素膜被積
処理を行った。処理条件の例を第3衣に示す。また、そ
れぞれの処理ディスクと5UJ2のピンとの摺動におけ
る摩擦特性を実施例1の場合と同じ方法で評価し九。そ
の結果も第5表に示した。
上述のように本発明のセラミック材料表面への固体潤滑
被膜の形成方法は、高真空下でセラミック材料の表面に
有機物質を蒸着すると同時にイオン照射を行なうため、
セラミック材料表面に優れた潤a特性を有する固体被膜
を形成することができる。
被膜の形成方法は、高真空下でセラミック材料の表面に
有機物質を蒸着すると同時にイオン照射を行なうため、
セラミック材料表面に優れた潤a特性を有する固体被膜
を形成することができる。
しかして、本発明の方法によればセラミック表面に被覆
する炭素膜の厚さを微細に制御できる。なぜなら、分子
状もしくはクラスター状で有機分子を堆積させると同時
にイオン照射によって炭素被膜とするものであるから有
機物の蒸着量を変えることによって膜淳を制御できる。
する炭素膜の厚さを微細に制御できる。なぜなら、分子
状もしくはクラスター状で有機分子を堆積させると同時
にイオン照射によって炭素被膜とするものであるから有
機物の蒸着量を変えることによって膜淳を制御できる。
従って、本発明の方法は精密機器に使用するセラミック
摺動部品の固体潤滑被膜形成方法として好ましい。
摺動部品の固体潤滑被膜形成方法として好ましい。
また、本発明の方法による炭素膜被覆処理を施したセラ
ミック摺動部材は、他のセラミックや金属およびプラス
チック材料との摺動において良好な潤滑性すなわち、低
い摩擦係数と相手材の摩耗を抑える効果を有する。しか
も、このような効果は長時間持続する。本発明の方法に
よれば、〜1μmの厚さの被覆処理によって、無潤滑下
で106回以上の摩擦回数に対しても有効な固体111
1滑被膜を得ることができる。すなわち本発明の方法は
、セラミック製の摺動部品に適用でき、摺動部の低摩擦
・低摩耗化や焼付防止、摺動面の初期なじみの形成に利
用できる。
ミック摺動部材は、他のセラミックや金属およびプラス
チック材料との摺動において良好な潤滑性すなわち、低
い摩擦係数と相手材の摩耗を抑える効果を有する。しか
も、このような効果は長時間持続する。本発明の方法に
よれば、〜1μmの厚さの被覆処理によって、無潤滑下
で106回以上の摩擦回数に対しても有効な固体111
1滑被膜を得ることができる。すなわち本発明の方法は
、セラミック製の摺動部品に適用でき、摺動部の低摩擦
・低摩耗化や焼付防止、摺動面の初期なじみの形成に利
用できる。
本発明の被膜処理を施したセラミック製摺動部品はたと
えば、半導体製造装置、陰極線管、宇宙機器など清浄な
環境あるいは真空環境で使用される機器のセラミック軸
受などの摺動部品として非常に優れている。また、本発
明の方法はセラミック製のディーゼルエンジンやターボ
チャージャーの摺動面や軸受部処も適用できる。
えば、半導体製造装置、陰極線管、宇宙機器など清浄な
環境あるいは真空環境で使用される機器のセラミック軸
受などの摺動部品として非常に優れている。また、本発
明の方法はセラミック製のディーゼルエンジンやターボ
チャージャーの摺動面や軸受部処も適用できる。
さらに、セラミック製人工関節の摺動面に使用できる。
このように本発明の方法は工業や医療など広範な分野に
おいて広く使用することができ、いずれの分野において
も優れた特性を有する摺動部材などの有用な材料を提供
することができる。
おいて広く使用することができ、いずれの分野において
も優れた特性を有する摺動部材などの有用な材料を提供
することができる。
第1図は本発明のセラミック材料表面への固体潤滑被膜
の形成方法に使用する装置の一例の概略構成図、 第2図は本発明の方法を使用した処理ディスク(S:、
N、焼結体)と未処理ディスクの、摺動回数と摩擦係数
との関係を示すグラフ、第5図は本発明の方法を使用し
た処理ディスクと未処理ディスク及び他の方法を使用し
た処理ディスクの、摺動回数と摩擦係数との関係を示す
グラスである。 図中、 1・・・真空容器 2・・・イオンビーム発生装置 5
・・・イオンビーム 4・・・部品ホルダー 5・・・
セラミック部品 6・・・炉 7・・・有機物質 8・
・・シャッター 第1図 第2図 摺動回数(ロ) 第3図 2肋回転(回)
の形成方法に使用する装置の一例の概略構成図、 第2図は本発明の方法を使用した処理ディスク(S:、
N、焼結体)と未処理ディスクの、摺動回数と摩擦係数
との関係を示すグラフ、第5図は本発明の方法を使用し
た処理ディスクと未処理ディスク及び他の方法を使用し
た処理ディスクの、摺動回数と摩擦係数との関係を示す
グラスである。 図中、 1・・・真空容器 2・・・イオンビーム発生装置 5
・・・イオンビーム 4・・・部品ホルダー 5・・・
セラミック部品 6・・・炉 7・・・有機物質 8・
・・シャッター 第1図 第2図 摺動回数(ロ) 第3図 2肋回転(回)
Claims (3)
- (1)10^−^4Torrよりも真空度の高い真空雰
囲気下におかれたセラミック材料の表面に、室温で10
^−^4Torr以下の蒸気圧を有する有機物質を該真
空雰囲気下で加熱蒸着すると同時に該セラミック材料の
表面に、1keV以上のエネルギーを有する気体元素の
イオンを1×10^1^5個/cm^2以上照射するこ
とを特徴とするセラミック材料表面への固体潤滑被膜の
形成方法。 - (2)気体元素が窒素、ヘリウム、ネオン、アルゴン、
クリプトン又はキセノンであることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載のセラミック材料表面への固体潤滑
被膜の形成方法。 - (3)セラミック材料がセラミック摺動体であることを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載のセラミック材料
表面への固体潤滑被膜の形成方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62045987A JPS63215578A (ja) | 1987-02-28 | 1987-02-28 | セラミツク材料表面への固体潤滑被膜の形成方法 |
US07/161,104 US4917953A (en) | 1987-02-28 | 1988-02-26 | Method of forming solid lubricaitng film on ceramic material and product produced by the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62045987A JPS63215578A (ja) | 1987-02-28 | 1987-02-28 | セラミツク材料表面への固体潤滑被膜の形成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63215578A true JPS63215578A (ja) | 1988-09-08 |
JPH0323510B2 JPH0323510B2 (ja) | 1991-03-29 |
Family
ID=12734504
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62045987A Granted JPS63215578A (ja) | 1987-02-28 | 1987-02-28 | セラミツク材料表面への固体潤滑被膜の形成方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4917953A (ja) |
JP (1) | JPS63215578A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5215823A (en) * | 1990-04-24 | 1993-06-01 | Kabushiki Kaisha Toyota Chuo Kenkyusho | Process for forming solid lubricating film on iron-base alloy substrate and sliding member having the solid lubricating film |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2631832B1 (fr) * | 1988-05-24 | 1994-05-27 | Unirec | Procede pour reduire le coefficient de frottement et l'usure entre une piece metallique et une piece a base d'un polymere ou copolymere organique et son application a des protheses articulaires |
IL93399A (en) * | 1989-02-16 | 1994-06-24 | De Beers Ind Diamond | Epithelium of a diamond or a layer of diamond figures |
JP2786283B2 (ja) * | 1989-12-22 | 1998-08-13 | 株式会社日立製作所 | 表面改質方法およびその装置並びに表面改質基材 |
US5264295A (en) * | 1990-08-03 | 1993-11-23 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Combined body of ceramics and metal |
US5221411A (en) * | 1991-04-08 | 1993-06-22 | North Carolina State University | Method for synthesis and processing of continuous monocrystalline diamond thin films |
US5934236A (en) * | 1992-11-12 | 1999-08-10 | Ford Global Technologies, Inc. | Low friction valve train |
US5239951A (en) * | 1992-11-12 | 1993-08-31 | Ford Motor Company | Valve lifter |
US6167856B1 (en) | 1992-11-12 | 2001-01-02 | Ford Global Technologies, Inc. | Low friction cam shaft |
US6111314A (en) | 1998-08-26 | 2000-08-29 | International Business Machines Corporation | Thermal cap with embedded particles |
US6426125B1 (en) * | 1999-03-17 | 2002-07-30 | General Electric Company | Multilayer article and method of making by ARC plasma deposition |
US8350236B2 (en) * | 2010-01-12 | 2013-01-08 | Axcelis Technologies, Inc. | Aromatic molecular carbon implantation processes |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3318790A (en) * | 1964-04-29 | 1967-05-09 | Texas Instruments Inc | Production of thin organic polymer by screened glow discharge |
US3406040A (en) * | 1964-06-24 | 1968-10-15 | Ibm | Vapor deposition method for forming thin polymeric films |
US3776762A (en) * | 1971-10-18 | 1973-12-04 | Kote Corp Du | Dry lubrication |
JPS57108259A (en) * | 1980-12-25 | 1982-07-06 | Ulvac Corp | Black carbon-coated parts for decoration |
JPS60221566A (ja) * | 1984-04-18 | 1985-11-06 | Agency Of Ind Science & Technol | 薄膜形成装置 |
JPS61213221A (ja) * | 1985-03-19 | 1986-09-22 | Japan Synthetic Rubber Co Ltd | プラズマ重合膜の製法 |
JPS61238961A (ja) * | 1985-04-12 | 1986-10-24 | Sachiko Okazaki | 基材表面の改質方法 |
US4756977A (en) * | 1986-12-03 | 1988-07-12 | Dow Corning Corporation | Multilayer ceramics from hydrogen silsesquioxane |
-
1987
- 1987-02-28 JP JP62045987A patent/JPS63215578A/ja active Granted
-
1988
- 1988-02-26 US US07/161,104 patent/US4917953A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5215823A (en) * | 1990-04-24 | 1993-06-01 | Kabushiki Kaisha Toyota Chuo Kenkyusho | Process for forming solid lubricating film on iron-base alloy substrate and sliding member having the solid lubricating film |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0323510B2 (ja) | 1991-03-29 |
US4917953A (en) | 1990-04-17 |
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