JPH0732770B2 - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
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- JPH0732770B2 JPH0732770B2 JP2296326A JP29632690A JPH0732770B2 JP H0732770 B2 JPH0732770 B2 JP H0732770B2 JP 2296326 A JP2296326 A JP 2296326A JP 29632690 A JP29632690 A JP 29632690A JP H0732770 B2 JPH0732770 B2 JP H0732770B2
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 3
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 claims description 2
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- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は,X線CT装置，特にＸ線管の熱特性の変化から
生じるＸ線強度の変動によるＸ線検出器の各チャンネル
毎の出力変動を補正できるようにしたＸ線CT装置に関す
る。
生じるＸ線強度の変動によるＸ線検出器の各チャンネル
毎の出力変動を補正できるようにしたＸ線CT装置に関す
る。
［従来の技術］ Ｘ線CT装置としてＸ線管と検出器が同時に回転する，い
わゆる第３世代Ｘ線CT装置が現在では多く用いられてい
る。この第３世代Ｘ線CT装置では，被検体が置かれる空
間を隔ててＸ線管とそれと対向配置された円弧方向に多
数のチャンネルを有する円弧上の検出器と，これらＸ線
管と多チャンネルＸ線検出器とを上記被検体が置かれる
空間を中心に一体に回転させる回転機構とから構成され
ている。このタイプのＸ線CT装置は，検出器の出力変動
に敏感で，各チャンネルごとの出力変動にばらつきがあ
ると，再構成画像にリング状のアーチファクトを生じ
る。この各チャンネルごとの出力変動および，そのばら
つきは，様々な要因により生じるものであるが,X線管の
熱特性の変化に伴うＸ線強度の変動，及びＸ線強度の変
動に伴う検出器の各チャンネルごとの出力特性の相違が
主な原因の一つとされている。
わゆる第３世代Ｘ線CT装置が現在では多く用いられてい
る。この第３世代Ｘ線CT装置では，被検体が置かれる空
間を隔ててＸ線管とそれと対向配置された円弧方向に多
数のチャンネルを有する円弧上の検出器と，これらＸ線
管と多チャンネルＸ線検出器とを上記被検体が置かれる
空間を中心に一体に回転させる回転機構とから構成され
ている。このタイプのＸ線CT装置は，検出器の出力変動
に敏感で，各チャンネルごとの出力変動にばらつきがあ
ると，再構成画像にリング状のアーチファクトを生じ
る。この各チャンネルごとの出力変動および，そのばら
つきは，様々な要因により生じるものであるが,X線管の
熱特性の変化に伴うＸ線強度の変動，及びＸ線強度の変
動に伴う検出器の各チャンネルごとの出力特性の相違が
主な原因の一つとされている。
そのため，従来よりＸ線強度の変動に伴う検出器の出力
変動を補正する対策として,X線が被検体を透過しない位
置，例えば検出器の両端に補正用のチャンネル（リファ
レンスチャンネル）を設け，この補正用チャンネルであ
らかじめ測定した基準データと撮影時に得られたデータ
との差によって，各チャンネルごとの出力変動を補正す
る，いわゆるリファレンス補正が行われていた。
変動を補正する対策として,X線が被検体を透過しない位
置，例えば検出器の両端に補正用のチャンネル（リファ
レンスチャンネル）を設け，この補正用チャンネルであ
らかじめ測定した基準データと撮影時に得られたデータ
との差によって，各チャンネルごとの出力変動を補正す
る，いわゆるリファレンス補正が行われていた。
［発明が解決しようとする課題］ しかしながら，このようなリファレンス補正は，検出器
のすべてのチャンネルの出力がＸ線強度の変動に伴い補
正用チャンネルの出力と同様に変動することを，前提と
するため，検出器の各チャンネルごとの出力変動のばら
つきを完全に，補正し得なかった。
のすべてのチャンネルの出力がＸ線強度の変動に伴い補
正用チャンネルの出力と同様に変動することを，前提と
するため，検出器の各チャンネルごとの出力変動のばら
つきを完全に，補正し得なかった。
この発明は,X線強度による各チャンネル出力特性を考慮
することにより,X線管の熱特性の変化に起因するＸ線強
度の変動に伴う検出器の各チャンネルごとの出力変動の
ばらつきまでも補正できるようにしたＸ線CT装置を提供
することを目的とする。
することにより,X線管の熱特性の変化に起因するＸ線強
度の変動に伴う検出器の各チャンネルごとの出力変動の
ばらつきまでも補正できるようにしたＸ線CT装置を提供
することを目的とする。
［課題を解決するための手段］ この発明によるＸ線CT装置は,X線管の蓄積熱容量に応じ
てあらかじめ測定された多チャンネルＸ線検出器の各チ
ャンネルごとの補正データを記憶回路に記憶させてお
き，この記憶されたデータで撮影時に得られる多チャン
ネルＸ線検出器の各チャンネルごとの出力を補正するよ
うにしたものである。
てあらかじめ測定された多チャンネルＸ線検出器の各チ
ャンネルごとの補正データを記憶回路に記憶させてお
き，この記憶されたデータで撮影時に得られる多チャン
ネルＸ線検出器の各チャンネルごとの出力を補正するよ
うにしたものである。
［作 用］ あらかじめＸ線管の各熱特性ごとに（例えばＸ線管のヒ
ートユニットの値ごとに）Ｘ線検出器の各チャンネルの
出力と当該各チャンネルの基準値の出力（例えばＸ線管
のヒートユニットの値が０の時の各チャンネルの出力
値）との差が補正値として補正用データメモリに記憶さ
れる。撮影時の各チャンネルの出力から当該撮影時のＸ
線管のヒートユニットの値に対応する各チャンネルの補
正値を引けば,X線強度の変動に伴う検出器の各チャンネ
ルごとの出力変動のばらつきを補正することができる。
この補正されたデータを用いて画像再構成すればリング
状のアーチファクトを解消でき，優れた画質の再構成画
像が得られる。
ートユニットの値ごとに）Ｘ線検出器の各チャンネルの
出力と当該各チャンネルの基準値の出力（例えばＸ線管
のヒートユニットの値が０の時の各チャンネルの出力
値）との差が補正値として補正用データメモリに記憶さ
れる。撮影時の各チャンネルの出力から当該撮影時のＸ
線管のヒートユニットの値に対応する各チャンネルの補
正値を引けば,X線強度の変動に伴う検出器の各チャンネ
ルごとの出力変動のばらつきを補正することができる。
この補正されたデータを用いて画像再構成すればリング
状のアーチファクトを解消でき，優れた画質の再構成画
像が得られる。
［実施例］ 以下，この発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第１図は，この発明の一実施例の構成を示した概略ブロ
ック図である。
ック図である。
第１図において,X線管１と多チャンネルＸ線検出器２と
が対向配置されており，それらの間の空間に，被検体３
が挿入される。これらＸ線管１と多チャンネルＸ線検出
器２とは，図示しない回転機構により，被検体３の周囲
を一体になって回転するように構成されている。この回
転中，電圧発生装置４から供給される所望の電圧によっ
てＸ線管１から発生されたＸ線が被検体３を透過して，
多チャンネルＸ線検出器２の各チャンネルに入射し，各
チャンネルの出力が，データ収集装置５に送られる。デ
ータ収集装置５により得られた各チャンネルのデータ
は，メモリ６に格納され，画像再構成演算装置７により
コンボルーションやバックプロジェクションなどの処理
を受け，その結果得られた画像が，表示装置８により表
示される。補正用データメモリ９は,X線管の熱特性に応
じてあらかじめ収集された，補正用データを記憶するた
めのものであり，補正回路10は撮影時に得られた各チャ
ンネルのデータを，補正用データメモリ９に記憶された
補正用データを用いて後述のように補正する。HOSTコン
ピュータ11は，これらの各処理を制御するものである。
が対向配置されており，それらの間の空間に，被検体３
が挿入される。これらＸ線管１と多チャンネルＸ線検出
器２とは，図示しない回転機構により，被検体３の周囲
を一体になって回転するように構成されている。この回
転中，電圧発生装置４から供給される所望の電圧によっ
てＸ線管１から発生されたＸ線が被検体３を透過して，
多チャンネルＸ線検出器２の各チャンネルに入射し，各
チャンネルの出力が，データ収集装置５に送られる。デ
ータ収集装置５により得られた各チャンネルのデータ
は，メモリ６に格納され，画像再構成演算装置７により
コンボルーションやバックプロジェクションなどの処理
を受け，その結果得られた画像が，表示装置８により表
示される。補正用データメモリ９は,X線管の熱特性に応
じてあらかじめ収集された，補正用データを記憶するた
めのものであり，補正回路10は撮影時に得られた各チャ
ンネルのデータを，補正用データメモリ９に記憶された
補正用データを用いて後述のように補正する。HOSTコン
ピュータ11は，これらの各処理を制御するものである。
実際の撮影に先だって，あらかじめＸ線管の熱特性に対
応する，各チャンネルの出力データを測定し，かかるデ
ータより補正用データを求め，補正用データメモリ９に
記憶しておく。
応する，各チャンネルの出力データを測定し，かかるデ
ータより補正用データを求め，補正用データメモリ９に
記憶しておく。
本実施例では,X線管の熱特性として,X線管のヒートユニ
ット（熱容量HU）を用いる。Ｘ線管のヒートユニットの
値は,X線管の蓄積発熱量と放熱量の差により求めること
ができる。ここでＸ線管の発熱量は，管電圧，管電流，
電圧の印加時間により定まる。例えば，管電圧120kV,管
電流800mA,2秒scanでは，一回の撮影で Ｑ＝120000×0.08×２＝19.2kJ の発熱量が蓄積されることになる。又，時間変化に伴う
放熱量Ｅ（ｔ）は,X線管の種類によって異なり，例え
ば,Eimac製Ｓ−785では， Ｅ（ｔ）＝731.897/（１＋0.6148t）−217.893 として，具体的に求めることができる。
ット（熱容量HU）を用いる。Ｘ線管のヒートユニットの
値は,X線管の蓄積発熱量と放熱量の差により求めること
ができる。ここでＸ線管の発熱量は，管電圧，管電流，
電圧の印加時間により定まる。例えば，管電圧120kV,管
電流800mA,2秒scanでは，一回の撮影で Ｑ＝120000×0.08×２＝19.2kJ の発熱量が蓄積されることになる。又，時間変化に伴う
放熱量Ｅ（ｔ）は,X線管の種類によって異なり，例え
ば,Eimac製Ｓ−785では， Ｅ（ｔ）＝731.897/（１＋0.6148t）−217.893 として，具体的に求めることができる。
補正用データの収集は，被検体３を挿入しない状態で行
い，まずＸ線管のヒートユニットが０の状態で,X線を曝
射し各チャンネルのデータ（第２図）を基準値として，
補正回路10内のメモリに記憶させる。次にこのＸ線CT装
置が使用し得るであろうＸ線管のヒートユニットを下限
から，上限まですこしづつ変え，（例えば０から750kV
まで10kV毎に75点）それぞれのヒートユニット毎に,X線
を曝射し各チャンネルで得られたデータ（第３図，イ，
ロ，ハ）から，上述の基準値を補正回路10によって，各
チャンネルごとに差し引き，その差分値（第４図，イ，
ロ，ハ）を各ヒートユニット毎の補正データとして，補
正用データメモリ９に記憶させることにより行う。
い，まずＸ線管のヒートユニットが０の状態で,X線を曝
射し各チャンネルのデータ（第２図）を基準値として，
補正回路10内のメモリに記憶させる。次にこのＸ線CT装
置が使用し得るであろうＸ線管のヒートユニットを下限
から，上限まですこしづつ変え，（例えば０から750kV
まで10kV毎に75点）それぞれのヒートユニット毎に,X線
を曝射し各チャンネルで得られたデータ（第３図，イ，
ロ，ハ）から，上述の基準値を補正回路10によって，各
チャンネルごとに差し引き，その差分値（第４図，イ，
ロ，ハ）を各ヒートユニット毎の補正データとして，補
正用データメモリ９に記憶させることにより行う。
次に，実際に被検体３を挿入した状態で,X線管１と多チ
ャンネルＸ線検出器２とを上記被検体が置かれる空間を
中心に一体に回転させ，被検体３のＸ線透過データを収
集して断層像を再構成する場合，まずHOSTコンピュータ
は，撮影に際してＸ線曝射直前の,X線管球のヒートユニ
ットの値を補正回路10に与え，補正回路10は当該ヒート
ユニットの値に対応する補正用データ（第５図）を補正
用データメモリ９から読み出し，自己の回路内のメモリ
に記憶する。撮影時のＸ線管のヒートユニットの値に対
応する補正用データがない場合には，補正回路10は，補
正用データメモリ９からその前後のデータから補完（例
えば線形補完）により各チャンネルごとに求め自己の回
路内のメモリに記憶する。実際の撮影で，被検体３を透
過したデータは，メモリ６から読み出された後，補正回
路10で各チャンネルごとに補正用データが差し引かれ，
画像再構成演算装置７で，コンボルーションやバックプ
ロジェクションなどの処理を受け，その結果得られた画
像が，表示装置８によって表示される。
ャンネルＸ線検出器２とを上記被検体が置かれる空間を
中心に一体に回転させ，被検体３のＸ線透過データを収
集して断層像を再構成する場合，まずHOSTコンピュータ
は，撮影に際してＸ線曝射直前の,X線管球のヒートユニ
ットの値を補正回路10に与え，補正回路10は当該ヒート
ユニットの値に対応する補正用データ（第５図）を補正
用データメモリ９から読み出し，自己の回路内のメモリ
に記憶する。撮影時のＸ線管のヒートユニットの値に対
応する補正用データがない場合には，補正回路10は，補
正用データメモリ９からその前後のデータから補完（例
えば線形補完）により各チャンネルごとに求め自己の回
路内のメモリに記憶する。実際の撮影で，被検体３を透
過したデータは，メモリ６から読み出された後，補正回
路10で各チャンネルごとに補正用データが差し引かれ，
画像再構成演算装置７で，コンボルーションやバックプ
ロジェクションなどの処理を受け，その結果得られた画
像が，表示装置８によって表示される。
この様に，補正されたデータを用いて画像再構成を行え
ば,X線管のヒートユニットの変動によるＸ線強度の変動
に伴う検出器の各チャンネルごとの出力変動のばらつき
を補正することができ，再構成画像におけるリング状の
アーチファクトを解消できる。
ば,X線管のヒートユニットの変動によるＸ線強度の変動
に伴う検出器の各チャンネルごとの出力変動のばらつき
を補正することができ，再構成画像におけるリング状の
アーチファクトを解消できる。
尚，本実施例では,X線管の熱特性として，ヒートユニッ
トを用いたが,X線管の温度を用いてもよい。かかる場
合,X線管の温度は，温度センサーなどで測定する。又，
補正用データの収集は被検体３を挿入しない状態で行っ
たが，実際の被検体と類似の形状,X線吸収係数を有する
ファントムを用いれば，尚正確なＸ線管のヒートユニッ
トの変動によるＸ線強度の変動に伴う検出器の各チャン
ネルごとの出力変動のばらつきの補正が可能となる。
トを用いたが,X線管の温度を用いてもよい。かかる場
合,X線管の温度は，温度センサーなどで測定する。又，
補正用データの収集は被検体３を挿入しない状態で行っ
たが，実際の被検体と類似の形状,X線吸収係数を有する
ファントムを用いれば，尚正確なＸ線管のヒートユニッ
トの変動によるＸ線強度の変動に伴う検出器の各チャン
ネルごとの出力変動のばらつきの補正が可能となる。
［発明の効果］ この発明のＸ線CT装置によれば,X線管の熱特性（ヒート
ユニット）の変動によるＸ線強度の変動に伴う検出器の
各チャンネルごとの出力変動のばらつきを各チャンネル
ごとの特性を考慮して，補正をすることができ，再構成
画像におけるリング状のアーチファクトを解消した優れ
た画質の画像を得ることができる。
ユニット）の変動によるＸ線強度の変動に伴う検出器の
各チャンネルごとの出力変動のばらつきを各チャンネル
ごとの特性を考慮して，補正をすることができ，再構成
画像におけるリング状のアーチファクトを解消した優れ
た画質の画像を得ることができる。
第１図はこの発明の一実施例のブロック図，第２図はＸ
線管のヒートユニットが０のときの検出器の出力特性を
示す図，第３図イ，ロ，ハは，各検出器のＸ線管のヒー
トユニットに対する出力特性を示す図，第４図イ，ロ，
ハは，補正用データメモリに記憶される各ヒートユニッ
トに対する補正用データを示す図，第５図は，実際の撮
影時に補正用データメモリから読みだされた所定のヒー
トユニットに対する補正用データを示す図である。 １……Ｘ線管球,2……多チャンネルＸ線検出器,3……被
検体,4……高圧発生装置,5……データ収集装置,6……メ
モリ,7……画像再構成演算装置,8……表示装置,9……補
正用データメモリ,10……補正回路,11……HOSTコンピュ
ータ
線管のヒートユニットが０のときの検出器の出力特性を
示す図，第３図イ，ロ，ハは，各検出器のＸ線管のヒー
トユニットに対する出力特性を示す図，第４図イ，ロ，
ハは，補正用データメモリに記憶される各ヒートユニッ
トに対する補正用データを示す図，第５図は，実際の撮
影時に補正用データメモリから読みだされた所定のヒー
トユニットに対する補正用データを示す図である。 １……Ｘ線管球,2……多チャンネルＸ線検出器,3……被
検体,4……高圧発生装置,5……データ収集装置,6……メ
モリ,7……画像再構成演算装置,8……表示装置,9……補
正用データメモリ,10……補正回路,11……HOSTコンピュ
ータ
Claims (1)
- 【請求項１】被検体が置かれる空間を隔てて対向配置さ
れたＸ線管と多数のチャンネルを有する多チャンネルＸ
線検出器とを上記被検体が置かれる空間を中心に一体に
回転させるようにしたＸ線CT装置において、 前記Ｘ線管の発熱量と放熱量の差から前記Ｘ線管の蓄積
熱容量を測定する熱容量測定手段と、 前記Ｘ線管の蓄積熱容量に応じてあらかじめ測定された
多チャンネルＸ線検出器の各チャンネル毎の補正データ
を記憶する記憶回路と、 撮影時に得られる多チャンネルＸ線検出器の各チャンネ
ル毎の出力と、前記熱容量測定手段によって測定された
前記撮影時のＸ線管の蓄積熱容量に対応する前記記憶回
路に記憶された各チャンネル毎の補正データとを演算処
理する補正回路と、 を備えたことを特徴とするＸ線CT装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2296326A JPH0732770B2 (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2296326A JPH0732770B2 (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04166137A JPH04166137A (ja) | 1992-06-12 |
| JPH0732770B2 true JPH0732770B2 (ja) | 1995-04-12 |
Family
ID=17832090
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2296326A Expired - Fee Related JPH0732770B2 (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0732770B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5268343B2 (ja) * | 2007-12-18 | 2013-08-21 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | Ｘ線ｃｔ装置 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62207437A (ja) * | 1986-03-07 | 1987-09-11 | 株式会社 日立メデイコ | Ｘ線ｃｔ装置の温度特性補正装置 |
| JPS62231628A (ja) * | 1986-03-31 | 1987-10-12 | ジーイー横河メディカルシステム株式会社 | Ｘ線断層撮影装置 |
| JPS6331644A (ja) * | 1986-07-25 | 1988-02-10 | 横河メディカルシステム株式会社 | Ｘ線断層撮影装置 |
| JPH0184609U (ja) * | 1987-11-27 | 1989-06-06 |
-
1990
- 1990-10-31 JP JP2296326A patent/JPH0732770B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04166137A (ja) | 1992-06-12 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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