JPH037882Y2 - - Google Patents

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JPH037882Y2
JPH037882Y2 JP1984122622U JP12262284U JPH037882Y2 JP H037882 Y2 JPH037882 Y2 JP H037882Y2 JP 1984122622 U JP1984122622 U JP 1984122622U JP 12262284 U JP12262284 U JP 12262284U JP H037882 Y2 JPH037882 Y2 JP H037882Y2
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sample
sample moving
ball
small balls
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JP1984122622U
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JPS6136954U (ja
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Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案は電子顕微鏡等における試料移動装置の
改良に関する。
[従来の技術] 従来の電子顕微鏡の試料移動装置としては、対
物レンズの上ヨーク上面に光軸を中心にして等間
隔に置かれた3個のブツシユを固定し、このブツ
シユ上に試料が装着される試料移動台をバネによ
り押圧した状態で載置し、この試料移動台の側面
に当接した2組の駆動棒を操作することにより試
料を水平方向に移動するようになした構造のもの
が広く使用されている。
[考案が解決しようとする問題点] この様な装置においては試料移動台の移動をス
ムーズに行うために、ブツシユの上面はテフロン
(登録商標)コーテイングされ、更に、このテフ
ロン上にグリス等を多少塗布した状態で使用して
いる。
しかし乍ら試料室の圧力が例えば10-8Torr以
上の高真空の状態で使用する場合には、グリスを
使用してもあまり問題が無いが、試料室の圧力が
10-8Torr以下の超高真空を必要とする場合には
グリス等を使用することができないため、試料移
動台の動きが悪くなる。その上超高真空を得るた
めには、試料室内壁、試料移動台や対物レンズの
レンズヨーク等の各部材を数100度以上の高温に
加熱し、各部材に吸蔵されているガスを放出しな
ければならない。従つてテフロンも同時に加熱さ
れるため、テフロンの表面が損傷し、試料移動台
の動きが更に悪くなる恐れが生ずる。
本考案は上述した問題点を考慮し、超高真空を
得るために加熱焼き出し(ベークアウト)等を加
えた場合であつても、滑かに移動を行なうことの
できる電子顕微鏡における試料移動装置を提供す
ることを目的としている。
[問題点を解決するための手段] 本考案の構成は、試料が装着される試料移動台
を基台上に移動可能に載置するに際し、両者間に
前記基台に固定されたリテーナ内の環状V字溝に
回転可能に置かれた数個の小ボールとこれらの小
ボールによつて支持され、且つ前記試料移動台に
接触する大ボールとから構成されるボール軸受を
少なくとも3個設置したことを特徴とするもので
ある。
[実施例] 第1図は本考案を試料を光軸方向から挿入する
タイプの試料装置に使用した場合の一実施例を示
す縦断面図で、1は電子顕微鏡の対物レンズであ
り、上磁極片2と下磁極片3とを非磁性体のスペ
ーサ4により一体化されたポールピース5、レン
ズヨーク6及び励磁コイル7から構成されてい
る。8a乃至8c(8cは図示せず)はレンズヨ
ーク6の上部に光軸Zを中心にして等間隔に固定
された3個のボール軸受で、これらの各軸受は第
2図及び第3図にその拡大図を示すように底部に
環状のガイド溝9を形成した筒状のリテーナ10
と該リテーナのガイド溝9に回転可能に、且つ互
いに接触するように配置された例えば8個の小ボ
ール11a乃至11hと該各小ボールによつて支
持された大ボール12とから構成されている。前
記リテーナに形成したガイド溝9は断面がV字状
に加工され、この溝と小ボール11a乃至11h
との接触面積をできるだけ少なくすることにより
小ボールのころがり抵抗を小さくなしてある。
13は前記3個のボール軸受8a乃至8c上に
配置された環状の試料移動台で、中央部に載せ台
14を介して試料15を保持した試料筒16が着
脱可能に装着されている。又、該試料移動台13
の前記各ボール軸受8a乃至8cとの接触部分に
は鏡面仕上されたブツシユ17a乃至17cが
夫々埋設してある。このブツシユ17a乃至17
c及び前記ボール軸受8a乃至8cは超硬合金等
の軸受材料で形成されている。
しかして、試料移動台13が水平移動すること
により大ボール12が回転すると共にそれに追従
して小ボール11a乃至11hが回転するため、
試料移動台をスムーズに動かすことができる。こ
のとき、大ボール12は多数の小ボール11a乃
至11hで支持されているため、点接触であり、
又、小ボールも断面V字状の環状のガイド溝9で
支持されているため、同じく点接触となり、結果
的に、ボール軸受のころがり抵抗を非常に小さく
することができると共に、試料台の支持に適した
一定の位置に大ボールの位置を維持することがで
きる。
第4図は本考案の他の実施例を示す縦断面図
で、3個のボール軸受8a乃至8cをレンズヨー
ク6に固定する際、各リテーナ10の上面を第1
図のように水平に配置するのではなく、ある角度
(例えば15度)傾けた状態で固定したものである。
このときの各ボール軸受の傾き方向は、各リテー
ナ10の上面が夫々光軸Zに向うような方向に傾
けられている。
この様になせば、リテーナ10に対する数個の
小ボール11a乃至11hの接触抵抗が弱まるた
め、試料移動台13の移動に基づく大ボール12
の回転に追従する小ボール11a乃至11hの回
転が滑かとなり、試料移動台13の動きは第1図
の構造のものに比べて更にスムーズとなる。
前記の説明では、試料を光軸方向から挿入する
タイプの試料装置に実施した場合について述べた
が、これに限定されることなく、試料を光軸と直
交する方向から挿入するタイプ、つまり試料移動
台の側面に試料ホルダを装着することにより試料
を光軸Z上に配置するような試料装置にも同様に
実施することができることは言うまでない。又、
走査電子顕微鏡の試料移動装置等にも実施するこ
とができる。この場合、ボール軸受は試料室の底
部又は試料室内壁に固定されたステージ等の基台
に固定することになる。
[考案の効果] 上述したように、本考案によれば、試料が装着
される試料移動台を基台上に移動可能に載置する
際に、両者間に前記基台に固定されたリテーナ内
の環状V字溝に回転可能に置かれた数個の小ボー
ルとこれらの小ボールによつて支持され、且つ前
記試料移動台に接触する大ボールとから構成され
るボール軸受を少なくとも3個設置したことによ
り、大ボールと小ボール及び小ボールとV字状の
ガイド溝との接触が夫々点接触となりボール軸受
の転がり抵抗を非常に小さくすることができると
共に、大ボールの位置を試料台の支持に適した一
定位置に維持することができるので、超高真空を
得るために加熱焼き出し(ベークアウト)等を加
えた場合であつても、何等の障害もなく滑かに且
つ試料面のゆれ等を生じさせることなく試料台の
移動を行なうことができる。
また、ボール軸受の転がり抵抗が非常に小さく
なることから、試料台とボール軸受との間に加え
る押圧力を従来に比べて増大することができるた
め、耐振性の向上をも図ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例を示す縦断面図、第
2図及び第3図は本考案で使用されるボール軸受
の縦断面図及び平面断面図、第4図は本考案の他
の実施例を示す縦断面図である。 1:対物レンズ、5:ポールピース、6:レン
ズヨーク、7:励磁コイル、8a乃至8c:ボー
ル軸受、9:ガイド溝、10:リテーナ、11a
乃至11h:小ボール、12:大ボール、13:
試料移動台、14:載せ台、15:試料、16:
試料筒、17a乃至17c:ブツシユ。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 試料が装着される試料移動台を基台上に移動
    可能に載置する際に、両者間に前記基台に固定
    されたリテーナ内の環状V字溝に回転可能に置
    かれた数個の小ボールとこれらの小ボールによ
    つて支持され、且つ前記試料移動台に接触する
    大ボールとから構成されるボール軸受を少なく
    とも3個設置したことを特徴とする電子顕微鏡
    等における試料移動装置。 (2) 前記ボール軸受の基台への固定に際し、リテ
    ーナの上面が夫々光軸方向に向くように傾けて
    固定したことを特徴とする実用新案登録請求の
    範囲第1項記載の電子顕微鏡等における試料移
    動装置。
JP12262284U 1984-08-10 1984-08-10 電子顕微鏡等における試料移動装置 Granted JPS6136954U (ja)

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JP12262284U JPS6136954U (ja) 1984-08-10 1984-08-10 電子顕微鏡等における試料移動装置

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JP12262284U JPS6136954U (ja) 1984-08-10 1984-08-10 電子顕微鏡等における試料移動装置

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Publication Number Publication Date
JPS6136954U JPS6136954U (ja) 1986-03-07
JPH037882Y2 true JPH037882Y2 (ja) 1991-02-27

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ID=30681378

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JP12262284U Granted JPS6136954U (ja) 1984-08-10 1984-08-10 電子顕微鏡等における試料移動装置

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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6394486B2 (ja) * 2015-05-08 2018-09-26 株式会社島津製作所 X線発生装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS564237A (en) * 1979-06-26 1981-01-17 Jeol Ltd Method of moving sample stage in exposure to electron beam
JPS5611842A (en) * 1979-07-09 1981-02-05 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Sample shifting device

Patent Citations (2)

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JPS564237A (en) * 1979-06-26 1981-01-17 Jeol Ltd Method of moving sample stage in exposure to electron beam
JPS5611842A (en) * 1979-07-09 1981-02-05 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Sample shifting device

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Publication number Publication date
JPS6136954U (ja) 1986-03-07

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