JP6316232B2 - マイクロ波デバイス - Google Patents

マイクロ波デバイス Download PDF

Info

Publication number
JP6316232B2
JP6316232B2 JP2015057936A JP2015057936A JP6316232B2 JP 6316232 B2 JP6316232 B2 JP 6316232B2 JP 2015057936 A JP2015057936 A JP 2015057936A JP 2015057936 A JP2015057936 A JP 2015057936A JP 6316232 B2 JP6316232 B2 JP 6316232B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin substrate
multilayer resin
hole
signal
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2015057936A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2016178221A (ja
Inventor
幸宣 垂井
幸宣 垂井
実人 木村
実人 木村
石田 清
清 石田
勝巳 宮脇
勝巳 宮脇
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2015057936A priority Critical patent/JP6316232B2/ja
Publication of JP2016178221A publication Critical patent/JP2016178221A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6316232B2 publication Critical patent/JP6316232B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48135Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/48137Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49175Parallel arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16152Cap comprising a cavity for hosting the device, e.g. U-shaped cap

Landscapes

  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)

Description

本発明は、マイクロ波を伝搬するマイクロ波デバイスに係る。
従来、集積回路をパッケージする技術が提案されている(例えば、特許文献1参照)。加えて、マイクロ波IC(Integrated Circuit)を金属材料でパッケージする技術も知られている。
特許第3780222号公報
しかしながら、マイクロ波ICを金属材料でパッケージする従来の技術では、デバイスの外部スルー端子からRF(Radio Frequency)電磁波が放射され、放射されたRF電磁波が当該デバイスを含むモジュールの他のデバイスの入出力信号と結合して発振が生じたり、マイクロ波の伝搬特性が劣化したりするという課題がある。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、デバイス外部への電磁波の放射を抑制するマイクロ波デバイスを得ることを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係るマイクロ波デバイスは、第一の多層樹脂基板と、前記第一の多層樹脂基板の上面側に設けられたマイクロ波回路と、前記第一の多層樹脂基板の上面に設けられた信号線路と、前記マイクロ波回路及び前記信号線路を覆う電磁シールドカバーと、前記第一の多層樹脂基板の底面に設けられた第二の多層樹脂基板と、前記第一の多層樹脂基板及び前記第二の多層樹脂基板の内部に設けられており、前記信号線路と接続する第一の内部スルーホールと、前記第一の多層樹脂基板及び前記第二の多層樹脂基板の内部に設けられており、前記電磁シールドカバーと接続し、前記第一の内部スルーホールを囲む第二の内部スルーホールと、前記第二の多層樹脂基板の底面の側に設けられており、前記第二の内部スルーホールと接続する筐体とを有する。前記第二の多層樹脂基板は、前記筐体の上面に取り付けられている。
本発明によれば、デバイス外部への電磁波の放射を抑制することができるという効果を奏する。
本実施の形態に係るマイクロ波デバイスの断面を示す図 図1のマイクロ波デバイスにおける出力増幅デバイスの上面を示す図 図1のマイクロ波デバイスの出力増幅デバイスにおける第一の多層樹脂基板の断面を示す図 図1のマイクロ波デバイスの出力増幅デバイスにおける第一の多層樹脂基板の底面を示す図 図1のマイクロ波デバイスにおける第二の多層樹脂基板の上面を示す図
以下に、本発明の実施の形態に係るマイクロ波デバイスを図面に基づいて詳細に説明する。なお、本実施の形態により本発明が限定されるものではない。
実施の形態.
まず、本発明の実施の形態に係るマイクロ波デバイス500の構成を説明する。図1は、本実施の形態に係るマイクロ波デバイス500の断面を示す図である。図1に示すように、本実施の形態に係るマイクロ波デバイス500は、第一の多層樹脂基板1を有する出力増幅デバイス100と、第一の多層樹脂基板1の底面102に設けられた第二の多層樹脂基板2と、第二の多層樹脂基板2の底面202の側に設けられた筐体3とを有する。
出力増幅デバイス100は、例えばリフローによって第二の多層樹脂基板2の上面201に取り付けられた第一の多層樹脂基板1と、第一の多層樹脂基板1の上面101に設けられた金属プレート11と、金属プレート11の上面に設けられたマイクロ波回路4とを有する。つまり、マイクロ波回路4は、第一の多層樹脂基板1の上面101の側に設けられている。加えて、出力増幅デバイス100は、第一の多層樹脂基板1の上面101に設けられた信号線路300と、金属プレート11及び信号線路300を覆う電磁シールドカバー8とを有する。信号線路300については、図2を用いて後述する。
図2は、図1のマイクロ波デバイス500における出力増幅デバイス100の上面501を示す図である。なお、図2では、電磁シールドカバー8は示されていない。本実施の形態では、金属プレート11は、銅又はモリブデン等によって形成された熱膨張係数整合用のプレートであって、接着又は半田付けによって第一の多層樹脂基板1の上面101に取り付けられている。
マイクロ波回路4は、本実施の形態では、高出力増幅器(HPA:High Power Amplifier)であって、金属プレート11の上面に配置されたトランジスタチップ5と、入力整合回路6と、出力整合回路7とを有する。トランジスタチップ5は、入力整合回路6と出力整合回路7とによって挟まれた状態で金属プレート11の上面に配置されており、トランジスタチップ5、入力整合回路6及び出力整合回路7は、接着又は半田付けによって金属プレート11の上面に取り付けられている。トランジスタチップ5は、第一のボンディングワイヤ45によって入力整合回路6と接続していると共に、第二のボンディングワイヤ46によって出力整合回路7と接続している。
本実施の形態では、マイクロ波回路4は、トランジスタチップ5に電界効果トランジスタ(FET:Field Effect Transistor)を用いたHPAを例示するが、マイクロ波回路4の種類は限定されない。マイクロ波回路4は、HPA以外の増幅器、スイッチ又は移相器といった回路であってもよい。また本実施の形態では、マイクロ波回路4は、ハイブリッドマイクロ波集積回路(HMIC:Hybrid Microwave Integrated Circuit)のHPAであるが、モノリシックマイクロ波集積回路(MMIC:Monolithic Microwave Integrated Circuit)であってもよい。
第一の多層樹脂基板1の上面101には、信号線路300が設けられている。信号線路300は、入力RF線路20と、マイクロ波回路4にゲートバイアスを供給するゲートバイアス供給線路22と、出力RF線路30と、マイクロ波回路4にドレインバイアスを供給するドレインバイアス供給線路32とを有する。加えて、第一の多層樹脂基板1の上面101には、マイクロ波回路4が設けられた金属プレート11、入力RF線路20、ゲートバイアス供給線路22、出力RF線路30及びドレインバイアス供給線路32が設けられている位置よりも外側の位置に、第一のグランドパターン10が設けられている。
つまり、第一のグランドパターン10は、マイクロ波回路4、入力RF線路20、ゲートバイアス供給線路22、出力RF線路30及びドレインバイアス供給線路32を囲むように、第一の多層樹脂基板1の上面101に設けられている。電磁シールドカバー8は、第一のグランドパターン10に取り付けられていて、マイクロ波回路4が設けられた金属プレート11、入力RF線路20、ゲートバイアス供給線路22、出力RF線路30及びドレインバイアス供給線路32を覆っている。入力整合回路6は第三のボンディングワイヤ47によって入力RF線路20と接続しており、出力整合回路7は第四のボンディングワイヤ48によって出力RF線路30と接続している。
ゲートバイアス供給線路22には、RF駆動周波数でショートとなる第一のチップキャパシタ42及び発振抑圧用のチップ抵抗43を含むゲートバイアス回路24が設けられている。ドレインバイアス供給線路32には、RF駆動周波数でショートとなる第二のチップキャパシタ44を含むドレインバイアス回路34が設けられている。第一の多層樹脂基板1の上面101には、入力RF線路20及び出力RF線路30から出力増幅デバイス100の外部へ直流電流が漏れ出すのを遮断するDC(Direct Current)カットキャパシタ41も設けられている。
ゲートバイアス回路24、ドレインバイアス回路34、DCカットキャパシタ41及びマイクロ波回路4を電磁的に遮蔽するために、電磁シールドカバー8が接着又は半田付けによって第一のグランドパターン10に取り付けられている。
図3は、図1のマイクロ波デバイス500の出力増幅デバイス100における第一の多層樹脂基板1の断面を示す図である。図3の第一の多層樹脂基板1の断面は図2の出力増幅デバイス100の上面501と平行な面である。図3に示すように、第一の多層樹脂基板1の内部には、入力RF線路20と接続する第一の入力RF信号スルーホール21と、ゲートバイアス供給線路22と接続する第一のゲート制御信号スルーホール23とが設けられている。加えて、第一の多層樹脂基板1の内部には、出力RF線路30と接続する第一の出力RF信号スルーホール31と、ドレインバイアス供給線路32と接続する第一のドレイン信号スルーホール33とが設けられている。
さらに、第一の多層樹脂基板1の内部には、第一のグランドパターン10と接続する複数の第一のグランドスルーホール17が設けられている。複数の第一のグランドスルーホール17は、第一の入力RF信号スルーホール21、第一のゲート制御信号スルーホール23、第一の出力RF信号スルーホール31及び第一のドレイン信号スルーホール33が設けられている位置よりも外側の位置に設けられている。つまり、複数の第一のグランドスルーホール17は、第一の入力RF信号スルーホール21、第一のゲート制御信号スルーホール23、第一の出力RF信号スルーホール31及び第一のドレイン信号スルーホール33を囲むように、第一の多層樹脂基板1の内部に設けられている。複数の第一のグランドスルーホール17のうちの隣り合う二つは、λの4分の1以下の間隔で設けられている。λはRF駆動信号の波長である。
第一の多層樹脂基板1の内部には、金属プレート11と接続する第一の放熱用埋め込み部材15も設けられている。第一の放熱用埋め込み部材15は、第一の入力RF信号スルーホール21、第一のゲート制御信号スルーホール23、第一の出力RF信号スルーホール31及び第一のドレイン信号スルーホール33によって囲まれるように、平面視で第一の多層樹脂基板1の内部の中央部に設けられている。第一の放熱用埋め込み部材15は銅、アルミニウム又はアルミニウム合金といった金属によって形成されており、本実施の形態では、第一の放熱用埋め込み部材15の形状は円柱又は四角柱である。第一の放熱用埋め込み部材15は、発熱量によっては複数の放熱用のスルーホールに置き換えられてもよい。
第一の多層樹脂基板1の内部には、第一のゲート制御信号スルーホール23と接続する第一のRF信号抑圧フィルタ25と、第一のドレイン信号スルーホール33に接続する第二のRF信号抑圧フィルタ35とが設けられている。
図4は、図1のマイクロ波デバイス500の出力増幅デバイス100における第一の多層樹脂基板1の底面102を示す図である。図4に示すように、第一の多層樹脂基板1の底面102には、第一の入力RF信号スルーホール21の底面終端端子である第一の入力RF信号端子26と、第一のゲート制御信号スルーホール23の底面終端端子である第一のゲート制御端子27とが設けられている。加えて、第一の多層樹脂基板1の底面102には、第一の出力RF信号スルーホール31の底面終端端子である第一の出力RF信号端子36と、第一のドレイン信号スルーホール33の底面終端端子である第一のドレイン電源端子37とが設けられている。さらに、第一の多層樹脂基板1の底面102には、複数の第一のグランドスルーホール17の底面終端端子である複数の第一のグランド端子18と、第一の放熱用埋め込み部材15の底面終端端子である第一のグランドパッド19とが設けられている。
次に、出力増幅デバイス100が取り付けられた第二の多層樹脂基板2を説明する。図1に示す通り、第二の多層樹脂基板2は、第一の多層樹脂基板1の底面102に設けられている。図5は、図1のマイクロ波デバイス500における第二の多層樹脂基板2の上面201を示す図である。図1及び図5から理解できる通り、第二の多層樹脂基板2の内部には、第一の入力RF信号スルーホール21と接続する第二の入力RF信号スルーホール61と、第一のゲート制御信号スルーホール23と接続する第二のゲート制御信号スルーホール63とが設けられている。加えて、第二の多層樹脂基板2の内部には、第一の出力RF信号スルーホール31と接続する第二の出力RF信号スルーホール71と、第一のドレイン信号スルーホール33と接続する第二のドレイン電源スルーホール73とが設けられている。
第一の多層樹脂基板1の内部に設けられた第一の入力RF信号スルーホール21、第一のゲート制御信号スルーホール23、第一の出力RF信号スルーホール31及び第一のドレイン信号スルーホール33と、第二の多層樹脂基板2の内部に設けられた第二の入力RF信号スルーホール61、第二のゲート制御信号スルーホール63、第二の出力RF信号スルーホール71及び第二のドレイン電源スルーホール73とによって、第一の内部スルーホール81が構成されている。第一の内部スルーホール81は、第一の多層樹脂基板1及び第二の多層樹脂基板2の内部に設けられており、信号線路300と接続している。
さらに、第二の多層樹脂基板2の内部には、第一の多層樹脂基板1の内部に設けられた複数の第一のグランドスルーホール17と接続する複数の第二のグランドスルーホール57が設けられている。複数の第二のグランドスルーホール57は、第二の入力RF信号スルーホール61、第二のゲート制御信号スルーホール63、第二の出力RF信号スルーホール71及び第二のドレイン電源スルーホール73が設けられている位置よりも外側の位置に設けられている。つまり、複数の第二のグランドスルーホール57は、第二の入力RF信号スルーホール61、第二のゲート制御信号スルーホール63、第二の出力RF信号スルーホール71及び第二のドレイン電源スルーホール73を囲み、かつ第二の多層樹脂基板2の内部に設けられている。
第一の多層樹脂基板1の内部に設けられた複数の第一のグランドスルーホール17と、第二の多層樹脂基板2の内部に設けられた複数の第二のグランドスルーホール57とによって、第二の内部スルーホール82が構成されている。第二の内部スルーホール82は、第一の多層樹脂基板1及び第二の多層樹脂基板2の内部に設けられており、電磁シールドカバー8と接続し、第一の内部スルーホール81を囲んでいる。
第二の多層樹脂基板2の内部には、第一の放熱用埋め込み部材15と接続する第二の放熱用埋め込み部材55も設けられている。第二の放熱用埋め込み部材55は、第二の入力RF信号スルーホール61、第二のゲート制御信号スルーホール63、第二の出力RF信号スルーホール71及び第二のドレイン電源スルーホール73によって囲まれるように、平面視で第二の多層樹脂基板2の内部の中央部に設けられている。第二の放熱用埋め込み部材55は銅、アルミニウム又はアルミニウム合金といった金属によって形成されており、本実施の形態では、第二の放熱用埋め込み部材55の形状は円柱又は四角柱である。
第二の多層樹脂基板2の内部には、第二の入力RF信号スルーホール61に接続する入力RF信号線路60と、第二のゲート制御信号スルーホール63に接続するゲート制御信号線62と、第二の出力RF信号スルーホール71に接続する出力RF信号線路70と、第二のドレイン電源スルーホール73に接続するドレイン電源線72とが設けられている。図1に示す通り、第二の多層樹脂基板2の上面201の周縁部203には第二のグランドパターン50が設けられている。入力RF信号線路60は第二のグランドパターン50をグランドとするストリップ線路で構成されている。第二の多層樹脂基板2の底面202には第三のグランドパターン53が設けられている。出力RF信号線路70は第三のグランドパターン53をグランドとするストリップ線路で構成されている。
電磁波の放射が抑制される形態であれば、入力RF信号線路60及び出力RF信号線路70の形態はどのようなものであってもよい。本実施の形態において、入力RF信号線路60及び出力RF信号線路70は、ストリップ線路であるが、これに限定されない。ゲート制御信号線62及びドレイン電源線72は、本形態では内層に構成されているが、第一の多層樹脂基板1のゲートバイアス回路24、ドレインバイアス回路34、第一のRF信号抑圧フィルタ25及び第二のRF信号抑圧フィルタ35によりRF重畳信号が十分に減衰されていれば、第二の多層樹脂基板2の上面201に露出してもよい。
第二の多層樹脂基板2の上面201には、第二の入力RF信号スルーホール61の終端端子である第二の入力RF信号端子66と、第二のゲート制御信号スルーホール63の終端端子である第二のゲート制御端子67と、第二の出力RF信号スルーホール71の終端端子である第二の出力RF信号端子76と、第二のドレイン電源スルーホール73の終端端子である第二のドレイン電源端子77とが設けられている。加えて、第二の多層樹脂基板2の上面201には、複数の第二のグランドスルーホール57の終端端子である複数の第二のグランド端子58と、第二の放熱用埋め込み部材55と接続する第二のグランドパッド59とが形成されている。
第二の入力RF信号端子66は第一の多層樹脂基板1の底面102の第一の入力RF信号端子26に対向する位置に設けられている。第二のゲート制御端子67は第一の多層樹脂基板1の底面102の第一のゲート制御端子27に対向する位置に設けられている。第二の出力RF信号端子76は第一の多層樹脂基板1の底面102の第一の出力RF信号端子36に対向する位置に設けられている。第二のドレイン電源端子77は第一の多層樹脂基板1の底面102の第一のドレイン電源端子37に対向する位置に設けられている。複数の第二のグランド端子58は第一の多層樹脂基板1の底面102の複数の第一のグランド端子18に対向する位置に設けられている。第二のグランドパッド59は第一の多層樹脂基板1の底面102の第一のグランドパッド19に対向する位置に設けられている。
第一の多層樹脂基板1の底面102の第一の入力RF信号端子26、第一のゲート制御端子27、第一の出力RF信号端子36、第一のドレイン電源端子37、複数の第一のグランド端子18及び第一のグランドパッド19と、第二の多層樹脂基板2の上面201の第二の入力RF信号端子66、第二のゲート制御端子67、第二の出力RF信号端子76、第二のドレイン電源端子77、複数の第二のグランド端子58及び第二のグランドパッド59とが、半田によって接続されている。半田による接続により、出力増幅デバイス100は第二の多層樹脂基板2の上面201に取り付けられている。なお、第一の多層樹脂基板1の底面102の各端子と第二の多層樹脂基板2の上面201の各端子とは、半田ボールを挟んだBGA(Ball Grid Array)方式の接合方式によって接合されてもよい。
上述のように第一の多層樹脂基板1が第二の多層樹脂基板2の上面201に取り付けられた状態において、出力増幅デバイス100と第二の多層樹脂基板2との間では、接続されている各端子を介して各RF信号及び制御信号が伝搬する。
上述の通り、第二の多層樹脂基板2の底面202には第三のグランドパターン53が設けられている。第三のグランドパターン53は第二の放熱用埋め込み部材55及び複数の第二のグランドスルーホール57と接続している。本実施の形態では、第二の多層樹脂基板2は、第三のグランドパターン53が筐体3の上面301に接触した状態で、筐体3の上面301にねじ止めによって取り付けられている。つまり、複数の第二のグランドスルーホール57は、筐体3と接続している。更に言うと、筐体3は第二の内部スルーホール82と接続している。
次に、本発明の実施の形態に係るマイクロ波デバイス500の動作を説明する。ゲートバイアスが、第二の多層樹脂基板2のゲート制御信号線62から第二のゲート制御信号スルーホール63、第二のゲート制御端子67、第一の多層樹脂基板1の第一のゲート制御端子27、第一のゲート制御信号スルーホール23、第一のRF信号抑圧フィルタ25、ゲートバイアス供給線路22及びゲートバイアス回路24を通って入力RF線路20によりマイクロ波回路4に印加される。同様に、ドレインバイアスが、ドレイン電源線72から第二のドレイン電源スルーホール73、第二のドレイン電源端子77、第一の多層樹脂基板1の第一のドレイン電源端子37、第一のドレイン信号スルーホール33、第二のRF信号抑圧フィルタ35及びドレインバイアス回路34を通って出力RF線路30によりマイクロ波回路4に印加される。
上述の状態で第二の多層樹脂基板2の入力RF信号線路60を伝搬したRF信号は、第二の入力RF信号スルーホール61、第二の入力RF信号端子66を介して出力増幅デバイス100の内部に伝搬する。出力増幅デバイス100の内部に伝搬したRF信号は、第一の多層樹脂基板1の第一の入力RF信号端子26、第一の入力RF信号スルーホール21、DCカットキャパシタ41及び入力RF線路20を通って、第三のボンディングワイヤ47を介してマイクロ波回路4に伝搬し、マイクロ波回路4によって増幅される。同様に、第四のボンディングワイヤ48を介して出力RF線路30に伝搬したRF信号は、DCカットキャパシタ41及び第一の出力RF信号スルーホール31を通って第一の出力RF信号端子36から出力増幅デバイス100の外に出力される。出力増幅デバイス100の外に出力されたRF信号は、第二の多層樹脂基板2の第二の出力RF信号端子76、第二の出力RF信号スルーホール71及び出力RF信号線路70を介してマイクロ波デバイス500の外部に出力される。
マイクロ波回路4のトランジスタチップ5で発生する熱は、金属プレート11と、第一の多層樹脂基板1の内部の第一の放熱用埋め込み部材15と、第二の多層樹脂基板2の内部の第二の放熱用埋め込み部材55とを経由して筐体3に排出される。なお、第一の放熱用埋め込み部材15とトランジスタチップ5との間には熱膨張の差異があるため、トランジスタチップ5の大きさによって金属プレート11の採用の要否が決定される。
筐体3、第二の多層樹脂基板2の内部の複数の第二のグランドスルーホール57、複数の第二のグランド端子58、第一の多層樹脂基板1の内部の複数の第一のグランド端子18、複数の第一のグランドスルーホール17、第一のグランドパターン10、及び第一のグランドパターン10に設けられた電磁シールドカバー8は接合され、電位は同一のグランド電位である。
次に、本実施の形態の効果を説明する。入力RF信号線路60及び出力RF信号線路70を除き、RF信号スルーホールと、RF信号端子と、RF線路と、ボンディングワイヤで接続されたマイクロ波回路4とはすべて、筐体3、第二の多層樹脂基板2の内部の複数の第二のグランドスルーホール57、複数の第二のグランド端子58、第一の多層樹脂基板1の内部の複数の第一のグランド端子18、複数の第一のグランドスルーホール17、第一のグランドパターン10、及び第一のグランドパターン10の上に設けられた電磁シールドカバー8によって構成された疑似グランド筐体の内部に納められている。
疑似グランド筐体により、マイクロ波デバイス500からの電磁波の外部への放射、及び外部からマイクロ波デバイス500への電磁波の結合を抑制することが可能となる。これにより、マイクロ波デバイス500からの出力信号とマイクロ波デバイス500を含むモジュールを構成する他のマイクロ波デバイスの出力信号とが結合することによる発振及びマイクロ波の伝搬特性の劣化を回避することができる。
マイクロ波デバイス500では、電磁シールドカバー8が設けられているので、マイクロ波回路4は中空キャディ内で動作する。つまりマイクロ波回路4は空気中で動作する。したがって、誘電損失を有するモールド樹脂を用いた場合に生じるマイクロ波の伝搬特性の劣化を回避することができる。
マイクロ波デバイス500では、第一の放熱用埋め込み部材15が第一の多層樹脂基板1の内部に設けられていると共に、第二の放熱用埋め込み部材55が第二の多層樹脂基板2の内部に設けられている。したがって、マイクロ波デバイス500は、マイクロ波回路4のトランジスタチップ5から発生した熱を、金属プレート11と、第一の多層樹脂基板1の内部の第一の放熱用埋め込み部材15と、第二の多層樹脂基板2の内部の第二の放熱用埋め込み部材55とを介して筐体3に効果的に排出することができる。
従来の金属パッケージで構成されたHPAのデバイスでは外部にバイアス回路を設ける必要があったのに対し、マイクロ波デバイス500は内部にゲートバイアス回路24及びドレインバイアス回路34を有している。したがって、マイクロ波デバイス500は従来のHPAを含むデバイスよりも小型化されている。加えて、従来のデバイスでは外部のバイアス回路で生じる反射波成分によりHPA特性の変動が生じる場合があるが、マイクロ波デバイス500は内部にゲートバイアス回路24及びドレインバイアス回路34を有しているので、HPA特性の変動を抑制することができる。
マイクロ波デバイス500は、入出力バイアス回路、ゲート制御信号線及びドレイン電源スルーホール、基板界面のゲート制御端子及びドレイン電源端子を、疑似グランド筐体内に収めている。したがって、マイクロ波デバイス500は、各回路パターン、スルーホール及び端子に重畳する電磁波の放射又は結合を抑制することができる。
さらに、ゲートバイアス回路24及びドレインバイアス回路34から漏えいする電磁波は、第一のチップキャパシタ42、発振抑圧用のチップ抵抗43及び第二のチップキャパシタ44で減衰されるだけでなく、第一のRF信号抑圧フィルタ25及び第二のRF信号抑圧フィルタ35でも抑制される。したがって、ゲート制御信号線62及びドレイン電源線72に重畳してマイクロ波デバイス500の外部に対して放射又は接合する電磁波を抑制することができる。マイクロ波デバイス500の外部に対して放射又は接合する電磁波が抑制されるので、マイクロ波デバイス500を含むモジュールを構成する他のマイクロ波デバイスとの間において、ゲート制御信号及びドレイン電源線を介して電磁波が結合することによる発振と、マイクロ波の特性の劣化とを回避することができる。
マイクロ波デバイス500では安価な第一の多層樹脂基板1を用いることができるため、従来の金属パッケージと比較してマイクロ波デバイス500を低コストで製造することができる。また、第一の多層樹脂基板1はリフロー工程により第二の多層樹脂基板2に取り付けられている。リフロー工程が用いられているので、従来の金属パッケージで構成されたHPAを筐体にねじ締めした後に入出力RF端子を外部線路とリボンボンド又は半田付けにより接続する場合と比較して、マイクロ波デバイス500あるいはマイクロ波デバイス500を含むモジュールを低コストで製造することができる。
マイクロ波デバイス500では、第一の多層樹脂基板1と第二の多層樹脂基板2とは同種の樹脂基板であってもよい。第一の多層樹脂基板1と第二の多層樹脂基板2とが同種の樹脂基板である場合、従来の金属パッケージ又はセラミックパッケージで構成されたデバイスを多層樹脂基板に取り付ける場合と比較して、出力増幅デバイス100と第二の多層樹脂基板2との熱膨張係数差を小さくすることができる。したがって、マイクロ波デバイス500は、自己発熱による温度の変化又は環境に起因する温度の変化がある場合でも、出力増幅デバイス100と第二の多層樹脂基板2との接合部の接合信頼性を高く保つことができる。
実施の形態に示した構成は、本発明の内容の一例を示すものであり、別の公知の技術と組み合わせることも可能であるし、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、構成の一部を省いたり変更したりすることも可能である。
1 第一の多層樹脂基板、2 第二の多層樹脂基板、3 筐体、4 マイクロ波回路、8 電磁シールドカバー、81 第一の内部スルーホール、82 第二の内部スルーホール、300 信号線路、500 マイクロ波デバイス。

Claims (6)

  1. 第一の多層樹脂基板と、
    前記第一の多層樹脂基板の上面側に設けられたマイクロ波回路と、
    前記第一の多層樹脂基板の上面に設けられた信号線路と、
    前記マイクロ波回路及び前記信号線路を覆う電磁シールドカバーと、
    前記第一の多層樹脂基板の底面に設けられた第二の多層樹脂基板と、
    前記第一の多層樹脂基板及び前記第二の多層樹脂基板の内部に設けられており、前記信号線路と接続する第一の内部スルーホールと、
    前記第一の多層樹脂基板及び前記第二の多層樹脂基板の内部に設けられており、前記電磁シールドカバーと接続し、前記第一の内部スルーホールを囲む第二の内部スルーホールと、
    前記第二の多層樹脂基板の底面の側に設けられており、前記第二の内部スルーホールと接続する筐体とを備え
    前記第二の多層樹脂基板は、前記筐体の上面に取り付けられてい
    ことを特徴とするマイクロ波デバイス。
  2. 前記第一の多層樹脂基板の上面において、前記マイクロ波回路及び前記信号線路が設けられている位置よりも外側の位置である第一の周縁部に設けられているグランドパターンを更に備え、
    前記信号線路は、前記第一の多層樹脂基板の上面に設けられた入力RF線路と、前記第一の多層樹脂基板の上面に設けられており、前記マイクロ波回路にゲートバイアスを供給するゲートバイアス供給線路と、前記第一の多層樹脂基板の上面に設けられた出力RF線路と、前記第一の多層樹脂基板の上面に設けられており、前記マイクロ波回路にドレインバイアスを供給するドレインバイアス供給線路とを有し、
    前記電磁シールドカバーは、前記グランドパターンに取り付けられており、
    前記第一の内部スルーホールは、前記第一の多層樹脂基板の内部に設けられていて、前記入力RF線路と接続する第一の入力RF信号スルーホールと、前記第一の多層樹脂基板の内部に設けられていて、前記ゲートバイアス供給線路と接続する第一のゲート制御信号スルーホールと、前記第一の多層樹脂基板の内部に設けられていて、前記出力RF線路と接続する第一の出力RF信号スルーホールと、前記第一の多層樹脂基板の内部に設けられていて、前記ドレインバイアス供給線路と接続する第一のドレイン信号スルーホールと、前記第二の多層樹脂基板の内部に設けられていて、前記第一の入力RF信号スルーホールと接続する第二の入力RF信号スルーホールと、前記第二の多層樹脂基板の内部に設けられていて、前記第一のゲート制御信号スルーホールと接続する第二のゲート制御信号スルーホールと、前記第二の多層樹脂基板の内部に設けられていて、前記第一の出力RF信号スルーホールと接続する第二の出力RF信号スルーホールと、前記第二の多層樹脂基板の内部に設けられていて、前記第一のドレイン信号スルーホールと接続する第二のドレイン信号スルーホールとを有し、
    前記第二の内部スルーホールは、前記第一の多層樹脂基板の内部において前記第一の入力RF信号スルーホール、前記第一のゲート制御信号スルーホール、前記第一の出力RF信号スルーホール及び前記第一のドレイン信号スルーホールが設けられている位置よりも外側の位置に設けられていて、前記グランドパターンと接続している第一のグランドスルーホールと、前記第二の多層樹脂基板の内部において前記第二の入力RF信号スルーホール、前記第二のゲート制御信号スルーホール、前記第二の出力RF信号スルーホール及び前記第二のドレイン信号スルーホールが設けられている各位置よりも外側の位置に設けられており、前記第一のグランドスルーホールと接続している第二のグランドスルーホールとを有する
    ことを特徴とする請求項1に記載のマイクロ波デバイス。
  3. 前記第一の多層樹脂基板の上面に設けられた金属プレートと、
    前記第一の多層樹脂基板の内部に設けられており、前記金属プレートと接続する第一の放熱用埋め込み部材と、
    前記第二の多層樹脂基板の内部に設けられており、前記第一の放熱用埋め込み部材及び前記筐体と接続する第二の放熱用埋め込み部材とを更に備え、
    前記マイクロ波回路は、前記金属プレートの上面に設けられている
    ことを特徴とする請求項1又は2に記載のマイクロ波デバイス。
  4. 前記ゲートバイアス供給線路に設けられ、RF駆動周波数でショートとなる第一のチップキャパシタ及び発振抑圧用のチップ抵抗を含むゲートバイアス回路と、
    前記ドレインバイアス供給線路に設けられ、RF駆動周波数でショートとなる第二のチップキャパシタを含むドレインバイアス回路と
    を更に備えることを特徴とする請求項2に記載のマイクロ波デバイス。
  5. 前記第一の多層樹脂基板の上面又は内部に設けられたRF信号抑圧フィルタを更に備えることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載のマイクロ波デバイス。
  6. 前記第一の多層樹脂基板と前記第二の多層樹脂基板とは、同種の樹脂基板であることを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載のマイクロ波デバイス。
JP2015057936A 2015-03-20 2015-03-20 マイクロ波デバイス Active JP6316232B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015057936A JP6316232B2 (ja) 2015-03-20 2015-03-20 マイクロ波デバイス

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015057936A JP6316232B2 (ja) 2015-03-20 2015-03-20 マイクロ波デバイス

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2016178221A JP2016178221A (ja) 2016-10-06
JP6316232B2 true JP6316232B2 (ja) 2018-04-25

Family

ID=57071527

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015057936A Active JP6316232B2 (ja) 2015-03-20 2015-03-20 マイクロ波デバイス

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6316232B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021028965A1 (ja) * 2019-08-09 2021-02-18 三菱電機株式会社 半導体装置
CN111132458B (zh) * 2019-12-26 2021-06-01 航天科工微***技术有限公司 一种印制电路板间的微波信号垂直互连结构及互连方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1167959A (ja) * 1997-08-20 1999-03-09 Nec Corp 半導体装置
JP3780222B2 (ja) * 2001-08-31 2006-05-31 三菱電機株式会社 中空封着パッケージおよびその製造方法
JP2003100937A (ja) * 2001-09-26 2003-04-04 Hitachi Ltd 高周波モジュール
JP4653005B2 (ja) * 2006-04-17 2011-03-16 富士通株式会社 電子部品パッケージ
JP2009212309A (ja) * 2008-03-04 2009-09-17 Mitsubishi Electric Corp 半導体パッケージ
JP2012099609A (ja) * 2010-11-01 2012-05-24 Toshiba Corp 高周波半導体装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2016178221A (ja) 2016-10-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4188373B2 (ja) 多層誘電体基板および半導体パッケージ
JP6400108B2 (ja) 高周波モジュール
JP6173611B1 (ja) 高周波回路
JP5521862B2 (ja) 半導体装置の製造方法
US11984380B2 (en) Semiconductor package, semiconductor device, semiconductor package-mounted apparatus, and semiconductor device-mounted apparatus
JP2007073849A (ja) 電子回路モジュールとその製造方法
JP2011165931A (ja) 高周波回路モジュール
US8035994B2 (en) High frequency storing case and high frequency module
JP6139585B2 (ja) 高周波モジュール及びマイクロ波送受信装置
JPWO2019167908A1 (ja) 高周波モジュール
JP5577694B2 (ja) 部品内蔵モジュール
JP4475582B2 (ja) 多層高周波回路
JP4173308B2 (ja) Sawフィルタ
JP6316232B2 (ja) マイクロ波デバイス
JP2011187812A (ja) 高周波モジュール
JP2011029446A (ja) 高周波モジュール及び高周波モジュールの製造方法
JP2015023194A (ja) 半導体装置
JP2013098200A (ja) 半導体モジュール
JP2003179181A (ja) 樹脂製配線基板
JP2020088468A (ja) 増幅器及び増幅装置
JP7162725B2 (ja) 半導体装置
JP7131933B2 (ja) 半導体装置用パッケージおよび半導体装置
JP2010272585A (ja) フリップチップ実装構造
JP4537969B2 (ja) 高周波パッケージモジュール
JP2021027292A (ja) 半導体装置及び電子機器

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170110

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20171004

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20171017

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20171204

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180227

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180327

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6316232

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250