JP5430500B2 - 回路基板検査装置 - Google Patents
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Description
2 電圧検出手段(電圧計)
3 電流検出手段(電流計)
5 リード線
10 制御部
20 測定部
31,32 可動アーム
41,42 移動機構
A 回路基板
P1,P2 電流プローブ
P3,P4 電圧プローブ
C1〜C4 同軸ケーブル
IL 内部導体
S 外部導体(シールド被覆線)
FC 帰還制御回路
DUT 被測定試料
Claims (3)
- 測定信号源および電圧検出手段を含む測定部と、上記測定信号源と被測定試料との間の測定電流径路に含まれる第1,第2の電流プローブおよび上記電圧検出手段と上記被測定試料との間の電圧検出径路に含まれる第1,第2の電圧プローブと、所定の上記プローブが取り付けられ、移動機構により任意方向に駆動される第1,第2の可動アームと、上記測定部からの測定信号に基づいて上記被測定試料のパラメータ解析および/または良否判別を行うとともに、上記移動機構を介して上記各可動アームの動きを制御する制御部とを備えている回路基板検査装置において、
上記第1の可動アーム側に、上記第1の電流プローブおよび上記第1の電圧プローブが支持され、上記第2の可動アーム側に、上記第2の電流プローブおよび上記第2の電圧プローブが支持され、上記各電流プローブおよび上記各電圧プローブの上記測定部に至る電気配線に同軸ケーブルが用いられ、4端子対法により上記各同軸ケーブルの外部導体のすべてが上記プローブの基端付近でリード線により接続されており、
上記制御部は、上記各可動アームの間隔を常にそれらの間に掛け渡されている上記リード線の配線長の範囲内として、上記移動機構を介して上記各可動アームの移動を制御することを特徴とする回路基板検査装置。 - 上記第1の可動アーム側に支持される上記第1の電流プローブおよび上記第1の電圧プローブがともに高電位側で、上記第2の可動アーム側に支持される上記第2の電流プローブおよび上記第2の電圧プローブがともに低電位側であることを特徴とする請求項1に記載の回路基板検査装置。
- 上記可動アームの間隔が、上記リード線の配線長以上に広がらないようにするため、上記可動アーム間に、上記リード線の配線長よりも短いワイヤ等の上記リード線よりも強靱な連結手段が設けられていることを特徴とする請求項1または2に記載の回路基板検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010133733A JP5430500B2 (ja) | 2010-06-11 | 2010-06-11 | 回路基板検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2010133733A JP5430500B2 (ja) | 2010-06-11 | 2010-06-11 | 回路基板検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2011257340A JP2011257340A (ja) | 2011-12-22 |
JP5430500B2 true JP5430500B2 (ja) | 2014-02-26 |
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ID=45473651
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010133733A Expired - Fee Related JP5430500B2 (ja) | 2010-06-11 | 2010-06-11 | 回路基板検査装置 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP5430500B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019130411A1 (ja) * | 2017-12-26 | 2019-07-04 | 株式会社Fuji | 測定装置 |
JP7221026B2 (ja) * | 2018-11-06 | 2023-02-13 | 日置電機株式会社 | インピーダンス測定装置 |
JP7315372B2 (ja) * | 2019-05-10 | 2023-07-26 | 日置電機株式会社 | インピーダンス測定システム及びインピーダンス測定方法 |
CN113341913A (zh) * | 2021-05-24 | 2021-09-03 | 无锡职业技术学院 | 一种电器控制盒综合检测装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2698615B2 (ja) * | 1988-07-05 | 1998-01-19 | 日本ヒューレット・パッカード株式会社 | 回路素子測定装置 |
JP3862783B2 (ja) * | 1996-06-27 | 2006-12-27 | アジレント・テクノロジーズ・インク | インピーダンス測定装置 |
JP4448732B2 (ja) * | 2004-05-14 | 2010-04-14 | 日置電機株式会社 | 回路基板検査装置 |
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2010
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011257340A (ja) | 2011-12-22 |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131025 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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R250 | Receipt of annual fees |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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