JP5041751B2 - X線検査装置およびx線検査プログラム - Google Patents
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Description
本実施形態のX線検査装置10は、図1に示すように、食品等の商品の生産ラインにおいて品質検査を行う装置の1つである。X線検査装置10は、連続的に搬送されてくる商品に対してX線を照射し、商品を透過したX線量に基づいて商品に異物が混入しているか否かの検査を行う。
シールドボックス11は、商品Gの入口側と出口側の双方の面に、商品を搬出入するための開口11aを有している。このシールドボックス11の中に、コンベア12、X線照射器13、X線ラインセンサ14、制御コンピュータ20などが収容されている。
コンベア12は、シールドボックス11内において商品Gを所定の方向へ搬送するものであって、図4の制御ブロックに含まれるコンベアモータ12fによって駆動される。コンベア12による搬送速度は、作業者が入力した設定速度になるように、制御コンピュータ20によるコンベアモータ12fのインバータ制御によって細かく制御される。
X線照射器13は、図3に示すように、コンベア12の上方に配置されており、コンベアフレーム12bに形成された開口部12cを介して、コンベア12の下方に配置されたX線ラインセンサ(ラインセンサ)14に向かって扇形形状にX線を照射する(図3の斜線部参照)。
X線ラインセンサ14は、コンベア12(開口部12c)の下方に配置されており、商品Gやコンベアベルト12aを透過してくるX線を検出する。このX線ラインセンサ14は、図3および図5に示すように、コンベア12による搬送方向に直交する向きに一直線に水平配置された複数の画素14aから構成されている。
モニタ26は、フルドット表示の液晶ディスプレイである。また、モニタ26は、タッチパネル機能を有しており、初期設定や不良判断に関するパラメータ入力などを促す画面を表示する。
制御コンピュータ20は、CPU21において、制御プログラムに含まれる画像処理ルーチン、検査判定処理ルーチンなどを実行する。また、制御コンピュータ20は、CF(コンパクトフラッシュ:登録商標)25等の記憶部に、不良商品に対応するX線画像や検査結果、X線画像の補正用データ等を保存蓄積する。
本実施形態では、上述した制御コンピュータ20において、CPU21がX線検査プログラムを読み込んで実行される図7に示すフローに従って、コンベア12の各停止位置における状態を判定した後、X線ラインセンサ14の各画素14aの感度誤差のキャリブレーションを実行する。
(1)
本実施形態のX線検査装置10は、図3に示すように、コンベア12上に載置された商品Gに対して照射されたX線の透過光をX線ラインセンサ14において検出することで商品Gに含まれる異物の有無を検出する装置であって、X線ラインセンサ14に含まれる複数の画素14aのキャリブレーションを行う際には、X線検査装置10に搭載された制御コンピュータ20において形成される各種制御ブロック(図6参照)によって、コンベア12におけるキャリブレーションを実施するために適した位置を探して、その位置においてX線ラインセンサ14が検出した結果に基づいてキャリブレーションを行う。
本実施形態のX線検査装置10では、コンベア12の状態の判定を行う際には、図7のステップS4に示すように、コンベア12を1周させて各位置において検出データを取得する。
本実施形態のX線検査装置10では、コンベア12の状態の判定を行う際には、図7のステップS5に示すように、各停止位置においてX線ラインセンサ14の各画素14aによって取得された検出結果に基づいて、図6に示すヒストグラム作成部20cが図10(a)〜図10(c)に示すようなヒストグラムを作成する。そして、図7のステップS6に示すように、ヒストグラムの中心を求め、この中心の明るさと各停止位置における検出結果との差の大きさに応じて、キャリブレーションを実施するために適した位置であるか否かの判定を行う。
本実施形態のX線検査装置10では、図7のステップS9に示すように、キャリブレーション実行部20bが、判定部20aにおいてキャリブレーションを実施するために適していると判定されたコンベア12の位置における検出結果を用いて、キャリブレーションを行う。
本実施形態のX線検査装置10では、図6に示す搬送制御部20dが、上述した判定部20aにおける判定結果としてキャリブレーションに適していないと判定されたコンベア12の位置には商品Gを載置しないようにコンベア12を制御する。
本実施形態のX線検査装置10では、上述したコンベア12の状態を判定した後でキャリブレーションを実行した後、実際に商品Gをコンベア12によって搬送しながら照射されたX線を検出して画像作成部20e(図6参照)においてX線画像を作成し、画像処理部20f(図6参照)が、画像作成部20eにおいて作成されたX線画像から背景部分を除去する際には、上記判定用に取得した検出結果を用いる。
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
上記実施形態では、図7に示すように、コンベア12の各停止位置におけるX線ラインセンサ14の検出結果に基づいて作成されたヒストグラムの中央値とオフセット値とを比較して、コンベア12の各位置の状態を判定する例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
上記実施形態では、コンベア12における適正な位置を特定するために複数の位置において取得された検出データをそのまま用いてキャリブレーションを行う例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
上記実施形態では、キャリブレーションを行うために不適正な位置を特定するために、コンベア12を1周させて複数の位置においてX線ラインセンサ14によって検出データを取得する例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
上記実施形態では、キャリブレーションを行うために適していないと判定されたコンベア12の位置に商品Gが載置されないようにするために、搬送制御部20dがコンベア12を制御する例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
上記実施形態では、1052個の画素を含むX線ラインセンサ14を例として挙げて説明した。
11 シールドボックス
11a 開口
12 コンベア(搬送コンベア)
12a コンベアベルト
12b コンベアフレーム
12c 開口部
12f コンベアモータ
12g ロータリーエンコーダ
13 X線照射器(X線照射部)
14 X線ラインセンサ(ラインセンサ)
14a 画素
15 光電センサ
16 遮蔽カーテン
20 制御コンピュータ(判定部、キャリブレーション実行部、ヒストグラム作成部、制御部、画像作成部、画像処理部)
20a 判定部
20b キャリブレーション実行部
20c ヒストグラム作成部
20d 搬送制御部(制御部)
20e 画像作成部
20f 画像処理部
21 CPU
22 ROM
23 RAM
24 USB
25 CF(コンパクトフラッシュ:登録商標)
26 モニタ
G 商品
Claims (7)
- 被検査物に対して照射されたX線の透過光を検出して前記被検査物の検査を行うX線検査装置であって、
前記被検査物を所定の方向に搬送する搬送コンベアと、
前記搬送コンベアによって搬送される前記被検査物に対してX線を照射するX線照射部と、
前記X線照射部から照射されたX線を、前記搬送コンベアを介して検出する複数の画素を含むラインセンサと、
前記搬送コンベアに前記被検査物を載置しない状態で前記搬送コンベアの各位置ごとに取得された前記X線照射器から照射されたX線の前記ラインセンサにおける検出結果に基づいて、前記搬送コンベアの各位置が前記ラインセンサのキャリブレーションを行うのに適した位置であるか否かを判定する判定部と、
前記判定部において前記キャリブレーションを行うのに適した位置と判定された位置において前記ラインセンサの検出結果に基づいて前記キャリブレーションを行うキャリブレーション実行部と、
を備え、
前記搬送コンベアの各位置において、前記ラインセンサに含まれる各画素ごとに取得された検出データに基づいてヒストグラムを作成するヒストグラム作成部をさらに備えており、
前記判定部は、前記ヒストグラムの中心を基準として前記判定を行う、
X線検査装置。 - 前記搬送コンベアの各位置が前記ラインセンサの前記キャリブレーションを行うのに適した位置であるか否かを判定するためのデータを取得する際には、前記搬送コンベアを1周させる、
請求項1に記載のX線検査装置。 - 前記キャリブレーション実行部は、前記判定部における判定用に取得された前記ラインセンサにおける検出結果を用いて、前記キャリブレーションを実行する、
請求項1または2に記載のX線検査装置。 - 前記キャリブレーション実行部は、前記判定部における判定後に、前記ラインセンサにおいて前記キャリブレーション用のデータを新たに取得する、
請求項1または2に記載のX線検査装置。 - 前記搬送コンベアを制御する制御部をさらに備えており、
前記制御部は、前記判定部において不適と判定された位置に前記被検査物を搬入しないように前記搬送コンベアを制御する、
請求項1から4のいずれか1項に記載のX線検査装置。 - 前記被検査物に対して照射されたX線の前記ラインセンサにおける検出結果に基づいてX線画像を作成する画像作成部と、
前記被検査物の検査を行う場合には、前記判定を行うために前記ラインセンサにおいて取得された検出データに基づいて、前記画像作成部において作成された前記X線画像に対して減算処理を行う画像処理部と、
をさらに備えている、
請求項1から5のいずれか1項に記載のX線検査装置。 - 被検査物に対して照射されたX線の透過光を検出して前記被検査物の検査を行うX線検査プログラムであって、
搬送コンベアに前記被検査物を載置しない状態で前記搬送コンベアの各位置ごとに取得されたX線のラインセンサによる検出結果に基づいて、前記搬送コンベアの各位置が前記ラインセンサのキャリブレーションを行うのに適した位置であるか否かを判定する第1のステップと、
前記第1のステップにおいて前記キャリブレーションを行うのに適した位置と判定された位置における前記ラインセンサの検出結果に基づいてキャリブレーションを行う第2のステップと、
を備え、
前記第1のステップにおいては、前記搬送コンベアの各位置において、前記ラインセンサに含まれる各画素ごとに取得された検出データに基づいてヒストグラムを作成すし、前記ヒストグラムの中心を基準として前記判定を行う、
X線検査方法をコンピュータに実行させるX線検査プログラム。
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JP5559471B2 (ja) * | 2008-11-11 | 2014-07-23 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出装置、放射線画像取得システム、放射線検査システム、及び放射線検出方法 |
JP5709721B2 (ja) * | 2011-02-16 | 2015-04-30 | 新日本非破壊検査株式会社 | ベルトコンベアのベルトの検査装置 |
EP2711694A1 (en) * | 2012-09-21 | 2014-03-26 | Mettler-Toledo Safeline X-Ray Limited | Method of operating a radiographic inspection system with a modular conveyor chain |
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EP2818898B1 (en) * | 2013-06-27 | 2016-04-27 | Mettler-Toledo Safeline X-Ray Limited | Method of operating a radiographic inspection system with a modular conveyor chain |
JP6387647B2 (ja) * | 2014-03-28 | 2018-09-12 | 株式会社島津製作所 | 感度補正係数算出システム及びx線分析装置 |
JP6397690B2 (ja) * | 2014-08-11 | 2018-09-26 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | X線透過検査装置及び異物検出方法 |
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CN108982552A (zh) * | 2017-06-01 | 2018-12-11 | 群创光电股份有限公司 | 光检测装置以及其操作方法 |
JP6717784B2 (ja) * | 2017-06-30 | 2020-07-08 | アンリツインフィビス株式会社 | 物品検査装置およびその校正方法 |
US11830179B2 (en) * | 2018-01-31 | 2023-11-28 | Nichirei Foods Inc. | Food inspection assisting system, food inspection assisting apparatus and computer program |
JP7153525B2 (ja) * | 2018-10-12 | 2022-10-14 | アンリツ株式会社 | X線検査装置 |
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Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4366382B2 (en) * | 1980-09-09 | 1997-10-14 | Scanray Corp | X-ray line scan system for use in baggage inspection |
US4530006A (en) * | 1982-06-03 | 1985-07-16 | North American Philips Corporation | Intrinsic object sensing in a digital fan beam X-ray inspection system |
JPH03116299A (ja) * | 1989-09-29 | 1991-05-17 | Hitachi Medical Corp | X線荷物検査装置 |
JPH07103743A (ja) * | 1993-10-06 | 1995-04-18 | Toshiba Corp | X線透視検査装置および方法 |
JP3116299B2 (ja) * | 1995-02-28 | 2000-12-11 | 日本鋼管株式会社 | 渦流式レベル計 |
JP3658908B2 (ja) * | 1997-01-31 | 2005-06-15 | 株式会社島津製作所 | X線撮像装置 |
JP3852102B2 (ja) | 1997-06-10 | 2006-11-29 | 株式会社島津製作所 | X線回折装置 |
JP2001004560A (ja) * | 1999-06-16 | 2001-01-12 | Shimadzu Corp | X線検査装置 |
JP4130055B2 (ja) * | 2000-08-31 | 2008-08-06 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | 加算断層画像作成方法およびx線ct装置 |
JP3955558B2 (ja) * | 2003-09-12 | 2007-08-08 | アンリツ産機システム株式会社 | X線検査装置 |
JP4491602B2 (ja) * | 2004-06-11 | 2010-06-30 | 株式会社イシダ | X線検査装置 |
JP4669250B2 (ja) * | 2004-09-01 | 2011-04-13 | 株式会社イシダ | X線検査装置 |
JP3943108B2 (ja) * | 2004-12-13 | 2007-07-11 | アンリツ産機システム株式会社 | X線異物検出装置 |
DE102004061367A1 (de) * | 2004-12-21 | 2006-07-06 | Phoenix Ag | Einrichtung zur zerstörungsfreien Inspektion eines Fördergurtes |
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