JP4808135B2 - プローブ位置合わせ方法及び可動式プローブユニット機構並びに検査装置 - Google Patents
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Description
次に、以上のように構成された検査装置を用いたプローブ位置合わせ方法について説明する。
以上のように、前記プローブ位置合わせ工程で、前記プローブ6と前記電極4との位置合わせを行い、前記保持工程で、前記プローブ組立体5を前記ベース板15に保持し、前記基準位置特定工程で、液晶パネル3の基準位置を特定し、前記通常位置合わせ工程で、前記プローブ6と前記新たな液晶パネル3の電極4の位置を合わせるようにしたため、前記液晶パネル3に対して前記プローブ組立体5を容易に位置合わせすることができるようになる。その結果、検査の能率が向上する。
前記実施形態では、撮影手段19を各辺に1つだけ設けたが、プローブ組立体5の数が多い場合は、撮影手段19を2つ以上設けてもよい。
Claims (7)
- 検査対象板の検査を行うプローブユニットのベース板に対して移動可能に支持された複数のプローブ組立体と、前記ベース板に対して前記各プローブ組立体と平行に移動可能に支持された撮影手段とによって、前記検査対象板の電極と前記各プローブ組立体のプローブとの位置合わせを行うプローブ位置合わせ方法であって、
前記検査対象板を設定位置に設置して、前記撮影手段を適宜移動させて当該撮影手段で前記プローブ組立体のプローブ及び前記検査対象板の電極を撮影しながら、当該プローブ組立体を他のプローブ組立体から独立して移動させることにより、当該プローブと前記電極との位置合わせを行うプローブ位置合わせ工程と、
当該プローブ位置合わせ工程で前記プローブと電極との位置合わせをした状態で前記プローブ組立体の前記ベース板に対する相対位置を保持する保持工程と、
前記撮影手段を移動させて前記位置合わせ後の検査対象板のアライメントマークを当該撮影手段で撮影して前記位置合わせされた検査対象板の基準位置を特定する基準位置特定工程と、
当該基準位置特定工程により特定した前記基準位置に新たな検査対象板のアライメントマークを合わせることで前記プローブと前記新たな検査対象板の電極の位置合わせを行う通常位置合わせ工程とを含んで構成され、
前記撮影手段及び前記各プローブ組立体が互いに独立して移動すると共に、前記プローブ位置合わせ工程において、前記撮影手段と位置合わせ対象の前記プローブ組立体とを互いに連結して同時に移動させて、当該プローブ組立体のプローブと前記検査対象板の電極との位置合わせを行うことを特徴とするプローブ位置合わせ方法。 - 先端でプローブを支持して当該プローブを検査対象板の電極と接触させる複数のプローブ組立体と、
当該プローブ組立体のプローブ及び前記検査対象板の電極等を撮影する撮影手段と、
前記検査対象板の検査を行うプローブユニットのベース板に対して前記各プローブ組立体を、それぞれ独立して移動可能にかつ前記撮影手段に対しても独立して移動可能に支持して前記検査対象板の電極と前記各プローブ組立体のプローブとの位置合わせを行うプローブ組立体スライド機構と、
前記ベース板に対して前記撮影手段を、前記プローブ組立体のスライド方向と平行に移動可能に支持して、前記プローブ及び電極等の位置に適宜移動させる撮影手段スライド機構と、
当該撮影手段スライド機構に移動可能に支持された前記撮影手段に連結して当該撮影手段を適宜移動させる移動機構と、
前記検査対象板の電極と前記各プローブ組立体のプローブとの位置合わせをした状態で当該プローブ組立体の前記ベース板に対する相対位置を保持するロック機構とを備えて構成され、
前記撮影手段で前記プローブ組立体のプローブと前記検査対象板の電極とを撮影する際に、当該プローブ組立体及び撮影手段を互いに連結して当該撮影手段を移動させることで前記プローブの位置を調整する連結手段を備えたことを特徴とする可動式プローブユニット機構。 - 前記連結手段が、前記プローブ組立体又は撮影手段に設けられたガイド穴に嵌合するロッドと、前記撮影手段又はプローブ組立体に設けられて前記ロッドを出没させる出没機構とを備えて構成されたことを特徴とする、請求項2に記載の可動式プローブユニット機構。
- 前記ガイド穴が前記プローブ組立体に設けられると共に、前記出没機構が前記撮影手段に設けられ、
前記ロック機構が、前記出没機構から延出された前記ロッドが前記ガイド穴に嵌合することで解除され、引き抜かれることでロックされることを特徴とする、請求項3に記載の可動式プローブユニット機構。 - 前記撮影手段が、CCDまたはCMOSからなるイメージセンサを有するカメラを備えて構成され、
前記検査対象板が液晶表示板であることを特徴とする、請求項2乃至4のいずれか1項に記載の可動式プローブユニット機構。 - 前記ベース板が、複数の枠板から構成されて、品種の違う検査対象板の異なる寸法に応じて、前記各枠板を移動させて前記検査対象板の寸法に調整するための可動枠機構を備えて構成されたことを特徴とする、請求項2乃至5のいずれか1項に記載の可動式プローブユニット機構。
- プローブ組立体のプローブを検査対象板の電極に接触させて検査を行う検査装置であって、
前記プローブ組立体のプローブと前記検査対象板の電極とを互いに位置合わせするための機構として、前記請求項2乃至6のいずれか1項に記載の可動式プローブユニット機構を備えたことを特徴とする検査装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006304085A JP4808135B2 (ja) | 2006-11-09 | 2006-11-09 | プローブ位置合わせ方法及び可動式プローブユニット機構並びに検査装置 |
KR1020070111411A KR100923658B1 (ko) | 2006-11-09 | 2007-11-02 | 프로브 위치 맞춤 방법 및 가동식 프로브 유닛 기구 및검사장치 |
TW096142027A TWI356173B (en) | 2006-11-09 | 2007-11-07 | Probe positioning method, movable probe unit mecha |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006304085A JP4808135B2 (ja) | 2006-11-09 | 2006-11-09 | プローブ位置合わせ方法及び可動式プローブユニット機構並びに検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008122145A JP2008122145A (ja) | 2008-05-29 |
JP4808135B2 true JP4808135B2 (ja) | 2011-11-02 |
Family
ID=39507062
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006304085A Active JP4808135B2 (ja) | 2006-11-09 | 2006-11-09 | プローブ位置合わせ方法及び可動式プローブユニット機構並びに検査装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4808135B2 (ja) |
KR (1) | KR100923658B1 (ja) |
TW (1) | TWI356173B (ja) |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100813 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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R250 | Receipt of annual fees |
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