JP2953039B2 - プラズマディスプレイの特性検査装置 - Google Patents
プラズマディスプレイの特性検査装置Info
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- JP2953039B2 JP2953039B2 JP30743390A JP30743390A JP2953039B2 JP 2953039 B2 JP2953039 B2 JP 2953039B2 JP 30743390 A JP30743390 A JP 30743390A JP 30743390 A JP30743390 A JP 30743390A JP 2953039 B2 JP2953039 B2 JP 2953039B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- electrode
- plasma display
- unit
- side edge
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明はプラズマディスプレイの特性検査装置に係
り、詳しくは、プレートの側縁部に設けられた多数個の
電極部間の特性検査を、作業性よく行うための装置に関
する。
り、詳しくは、プレートの側縁部に設けられた多数個の
電極部間の特性検査を、作業性よく行うための装置に関
する。
（従来の技術） ワープロの表示パネルなどに使用されるプラズマディ
スプレイは、プレートの一方の側縁部に沿って電極部を
並設し、また他方の側縁部に沿って、複数個のこれらの
電極部に対応するブロック電極部を並設し、且つこの電
極部とブロック電極部を透明電極部により接続して構成
されている。そして２枚のプレートを対面接合させて、
選択された電極部に電圧を印加することにより、互いに
対向する透明電極部の交差部においてプラズマ放電を発
生させ、所望の表示を行うようになっている。
スプレイは、プレートの一方の側縁部に沿って電極部を
並設し、また他方の側縁部に沿って、複数個のこれらの
電極部に対応するブロック電極部を並設し、且つこの電
極部とブロック電極部を透明電極部により接続して構成
されている。そして２枚のプレートを対面接合させて、
選択された電極部に電圧を印加することにより、互いに
対向する透明電極部の交差部においてプラズマ放電を発
生させ、所望の表示を行うようになっている。
ところで、各種電気素子の特性検査は、一般に、電極
部にプローブを接触させ、電極部間を導通させることに
より行われる。
部にプローブを接触させ、電極部間を導通させることに
より行われる。
（発明が解決しようとする課題） プラズマディスプレイの上記電極部は小ピッチできわ
めて多数（例えば640個）並設されている。したがって
上記従来手段により、その特性検査を行うためには、検
査装置は電極部に対応するきわめて多数（すなわち例え
ば640個）のプローブを備えていなければならない。
めて多数（例えば640個）並設されている。したがって
上記従来手段により、その特性検査を行うためには、検
査装置は電極部に対応するきわめて多数（すなわち例え
ば640個）のプローブを備えていなければならない。
ところがこのようにきわめて多数のプローブを検査装
置に設けることは実際上困難であり、また仮に設けたと
しても、これらのプローブを各々の電極部に一括的に確
実に接触させることは困難である。このため、従来、プ
ラズマディスプレイを自動検査できる装置は実現してお
らず、作業者が目視検査を行っている実情にあった そこで本発明は、プラズマディスレイの特性検査を作
業性よく行える装置を提供することを目的とする。
置に設けることは実際上困難であり、また仮に設けたと
しても、これらのプローブを各々の電極部に一括的に確
実に接触させることは困難である。このため、従来、プ
ラズマディスプレイを自動検査できる装置は実現してお
らず、作業者が目視検査を行っている実情にあった そこで本発明は、プラズマディスレイの特性検査を作
業性よく行える装置を提供することを目的とする。
（課題を解決するための手段） 本発明は、複数個の電極部に接触するプローブを備え
た第１のプローブ部と、ブロック電極部から延出する端
子に一括して接触するプローブを備えた第２のプローブ
部と、この第１のプローブ部を、プレートの側縁部に沿
って相対的に横方向に移動させながら、そのプローブを
上記電極部に接離させる移動手段とからプラズマディス
プレイの特性検査装置を構成している。
た第１のプローブ部と、ブロック電極部から延出する端
子に一括して接触するプローブを備えた第２のプローブ
部と、この第１のプローブ部を、プレートの側縁部に沿
って相対的に横方向に移動させながら、そのプローブを
上記電極部に接離させる移動手段とからプラズマディス
プレイの特性検査装置を構成している。
（作用） 上記構成によれば、第２のプローブ部をブロック電極
部の端子に接触させ、また移動手段を駆動して、第１の
プローブ部をプレートの側縁部にそって移動させながら
電極部に接触させて、両電極部間を導通させることによ
り、電極部間の特性を作業よく検査できる。
部の端子に接触させ、また移動手段を駆動して、第１の
プローブ部をプレートの側縁部にそって移動させながら
電極部に接触させて、両電極部間を導通させることによ
り、電極部間の特性を作業よく検査できる。
（実施例） 次に図面を参照しながら本発明の実施例を説明する。
第１図は特性検査装置の斜視図である。
図中、１はプラズマディスプレイであって、検査用の
ステージ２に載置されている。３はプラズマディスレイ
１をこのステージ２に搬入するための搬送手段、４は検
査が終了したプラズマディスプレイ１を搬出するための
搬出手段である。ステージ２には、ボールねじ５が螺合
している。モータ６が駆動すると、ステージ２はＹ方向
に移動し、プラズマディスプレイ１のＹ方向の位置を調
整する。
ステージ２に載置されている。３はプラズマディスレイ
１をこのステージ２に搬入するための搬送手段、４は検
査が終了したプラズマディスプレイ１を搬出するための
搬出手段である。ステージ２には、ボールねじ５が螺合
している。モータ６が駆動すると、ステージ２はＹ方向
に移動し、プラズマディスプレイ１のＹ方向の位置を調
整する。
第２図はプラズマディスプレイ１の平面図である。こ
のプラズマディスクプレイ１はプレート７から成ってい
る。このプレート７の一方の側縁部に沿って、電極部A1
〜A50が小ピッチで多数個並設されている。また他方の
側縁部に沿って、ロジック信号入出力用ブロック電極部
B1〜B5が並設されている。複数個（本実施例では10個）
の電極部A1〜A10,A11〜A20・・・A41〜A50と、１個のブ
ロック電極部B1,B2・・・B5は、透明電極部C1〜C50によ
り接続されている。このブロック電極部B1〜B5は、ICか
ら成っている。D1〜D5は、各々のブロック電極部B1〜B5
から、プレート７の一側部に延出する端子である。
のプラズマディスクプレイ１はプレート７から成ってい
る。このプレート７の一方の側縁部に沿って、電極部A1
〜A50が小ピッチで多数個並設されている。また他方の
側縁部に沿って、ロジック信号入出力用ブロック電極部
B1〜B5が並設されている。複数個（本実施例では10個）
の電極部A1〜A10,A11〜A20・・・A41〜A50と、１個のブ
ロック電極部B1,B2・・・B5は、透明電極部C1〜C50によ
り接続されている。このブロック電極部B1〜B5は、ICか
ら成っている。D1〜D5は、各々のブロック電極部B1〜B5
から、プレート７の一側部に延出する端子である。
第１図において、10は第１のプローブ部であって、10
個の電極部Ａに一括して接離できるように、10個のピン
状のプローブ11を有している。このプローブ10は、ナッ
ト12に支持されている。13はナット12に螺合する垂直な
ボールねじであり、モータ14が駆動すると、プローブ部
10は上下動し、プローブ11は電極部Ａに接離する。
個の電極部Ａに一括して接離できるように、10個のピン
状のプローブ11を有している。このプローブ10は、ナッ
ト12に支持されている。13はナット12に螺合する垂直な
ボールねじであり、モータ14が駆動すると、プローブ部
10は上下動し、プローブ11は電極部Ａに接離する。
このナット12は、ナット15に支持されている。16はナ
ット15に螺合する水平なボールねじであり、モータ17が
駆動すると、プローブ部10はＸ方向に移動する。すなわ
ち上記各部品12〜17は、プローブ部10の移動手段を構成
している。
ット15に螺合する水平なボールねじであり、モータ17が
駆動すると、プローブ部10はＸ方向に移動する。すなわ
ち上記各部品12〜17は、プローブ部10の移動手段を構成
している。
20は第２のプローブ部であって、ブロック電極部B1〜
B5の端子D1〜D5に一括して接触できるように、５本のプ
ローブ21を有している。このプローブ部20は、ナット2
2,23、XY方向のボールねじ24,25,26、モータ27,28,29に
よりXYZ方向にその位置を調整できるようになってい
る。
B5の端子D1〜D5に一括して接触できるように、５本のプ
ローブ21を有している。このプローブ部20は、ナット2
2,23、XY方向のボールねじ24,25,26、モータ27,28,29に
よりXYZ方向にその位置を調整できるようになってい
る。
本装置は上記のような構成より成り、次に検査方法を
説明する。
説明する。
第２のプローブ部20のプローブ21を、端子D1〜D5に一
括接触させる。端子D1〜D5の位置は、プラズマディスプ
レイ１の品種により異なっており、したがってモータ2
7,28を駆動して、プローブ部20の位置のXY方向に微調整
したうえで、モータ29を駆動して、プローブ21を端子D1
〜D5に接触させる。
括接触させる。端子D1〜D5の位置は、プラズマディスプ
レイ１の品種により異なっており、したがってモータ2
7,28を駆動して、プローブ部20の位置のXY方向に微調整
したうえで、モータ29を駆動して、プローブ21を端子D1
〜D5に接触させる。
次にモータ17を駆動して、第１のプローブ部10のＸ方
向の位置を調整し、次いでモータ14を駆動して、プロー
ブ部10を下降させ、10本のプローブ11を10個の電極部A1
〜A10に一括接触させるとともに、この電極部A1〜A10に
対応するブロック電極部B1を駆動し、電極部A1〜A10と
ブロック電極部B1間に通電して、電極部間の特性を検査
する。
向の位置を調整し、次いでモータ14を駆動して、プロー
ブ部10を下降させ、10本のプローブ11を10個の電極部A1
〜A10に一括接触させるとともに、この電極部A1〜A10に
対応するブロック電極部B1を駆動し、電極部A1〜A10と
ブロック電極部B1間に通電して、電極部間の特性を検査
する。
次いでモータ14,17を駆動して、プローブ部10を次の1
0個の電極部A11〜A20に接触させるとともに、この電極
部A11〜A20に対応するブロック電極部B2を駆動し、これ
らの電極部間の特性を検査する。以下、同様にして、電
極部A21〜A30,A31〜A40,A41〜A50と、ブロック電極部B3
B4,B5間の特性を検査する。この間、第２のプローブ部2
0は、端子D1〜D5に接触した状態を保持する。
0個の電極部A11〜A20に接触させるとともに、この電極
部A11〜A20に対応するブロック電極部B2を駆動し、これ
らの電極部間の特性を検査する。以下、同様にして、電
極部A21〜A30,A31〜A40,A41〜A50と、ブロック電極部B3
B4,B5間の特性を検査する。この間、第２のプローブ部2
0は、端子D1〜D5に接触した状態を保持する。
以上のように本装置によれば、多数の電極部A1〜A50
とブロック電極部B1〜B5を有するプラズマディスレイの
特性検査を、作業性よく行うことができる。
とブロック電極部B1〜B5を有するプラズマディスレイの
特性検査を、作業性よく行うことができる。
（発明の効果） 以上説明したように本発明は、複数個の電極部は接触
するプローブを備えた第１のプローブ部と、ブロック電
極部から延出する複数個の端子に一括して接触するプロ
ーブを備えた第２のプローブ部と、この第１のプローブ
部を、プレートの側縁部に沿って相対的に横方向に移動
させながら、そのプローブを上記電極部に接離させる移
動手段とからプラズマディスレイの特性検査装置を構成
しているので、多数の電極部間の特性を作業性よく検査
することができる。
するプローブを備えた第１のプローブ部と、ブロック電
極部から延出する複数個の端子に一括して接触するプロ
ーブを備えた第２のプローブ部と、この第１のプローブ
部を、プレートの側縁部に沿って相対的に横方向に移動
させながら、そのプローブを上記電極部に接離させる移
動手段とからプラズマディスレイの特性検査装置を構成
しているので、多数の電極部間の特性を作業性よく検査
することができる。
図は本発明の実施例を示すものであって、第１図は特性
検査装置の斜視図、第２図はプラズマディスプレイの平
面図である。 ７……プレート 10……第１のプローブ部 11……プローブ 12〜17……移動手段 20……第２のプローブ部 21……プローブ A1〜A50……電極部 B1〜B5……ブロック電極部 C1〜C50……透明電極部 D1〜D5……端子
検査装置の斜視図、第２図はプラズマディスプレイの平
面図である。 ７……プレート 10……第１のプローブ部 11……プローブ 12〜17……移動手段 20……第２のプローブ部 21……プローブ A1〜A50……電極部 B1〜B5……ブロック電極部 C1〜C50……透明電極部 D1〜D5……端子
Claims (1)
- 【請求項１】プレートの一方の側縁部と他方の側縁部に
電極部とブロック電極部が設けられ、複数個の電極部と
１個のブロック電極部を透明電極部で接続して成るプラ
ズマディスプレイの特性検査装置であって、 上記複数個の電極部に接触するプローブを備えた第１の
プローブ部と、上記ブロック電極部から延出する端子に
一括して接触するプローブを備えた第２のプローブ部
と、この第１のプローブ部を、上記プレートの側縁部に
沿って相対的に横方向に移動させながら、そのプローブ
を上記電極部に接離させる移動手段とから成ることを特
徴とするプラズマディスプレイの特性検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30743390A JP2953039B2 (ja) | 1990-11-13 | 1990-11-13 | プラズマディスプレイの特性検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30743390A JP2953039B2 (ja) | 1990-11-13 | 1990-11-13 | プラズマディスプレイの特性検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04179029A JPH04179029A (ja) | 1992-06-25 |
| JP2953039B2 true JP2953039B2 (ja) | 1999-09-27 |
Family
ID=17969015
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30743390A Expired - Fee Related JP2953039B2 (ja) | 1990-11-13 | 1990-11-13 | プラズマディスプレイの特性検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2953039B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7355434B2 (en) | 2003-10-01 | 2008-04-08 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Lighting inspection device for plasma display panel and display panel producing method |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3361945B2 (ja) * | 1996-12-19 | 2003-01-07 | 株式会社日立製作所 | 平面ディスプレイパネルの製造方法およびプラズマディスプレイパネルの製造方法 |
| KR20010106963A (ko) * | 2000-05-24 | 2001-12-07 | 은탁 | 타이머ｉｃ에 의한 비접촉식 프로브를 이용한 비접촉스캔방식의 ｐｄｐ전극패턴 검사장치 및 방법 |
| KR100358484B1 (ko) * | 2000-07-04 | 2002-10-30 | 마이크로 인스펙션 주식회사 | 플라즈마 디스플레이 패널의 전극패턴 검사장치 및 그작동방법 |
| KR100472918B1 (ko) * | 2002-06-27 | 2005-03-10 | 대한민국(서울대학총장) | 주파수 특성을 이용한 분기선 및 ｐｄｐ 전극 검사 방법 |
| JP4808135B2 (ja) * | 2006-11-09 | 2011-11-02 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ位置合わせ方法及び可動式プローブユニット機構並びに検査装置 |
-
1990
- 1990-11-13 JP JP30743390A patent/JP2953039B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7355434B2 (en) | 2003-10-01 | 2008-04-08 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Lighting inspection device for plasma display panel and display panel producing method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04179029A (ja) | 1992-06-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |