JP4627446B2 - 電流測定装置、試験装置、電流測定方法、および試験方法 - Google Patents
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Description
また、加算器145は、電圧調整部160が出力する電圧を更に基準供給電圧に加えることにより、基準供給電圧を調整する。
これにより、入力端子25がリセットの基準となるしきい値電圧より低下する前に電流測定部40から電子デバイス20に電流を供給させることができ、電子デバイス20がリセットされるのを防ぐことができる。
電子デバイス20が受け取る電流が端子電圧に依存する場合、端子電圧Vddが変わると測定部124または測定部132により測定される静止電流も変化してしまう。
ただし、X1 = RL / (Rm + RL・(1+G))
ただし、kはボルツマン定数、tは使用環境における絶対温度を示す。
20 電子デバイス
25 入力端子
30 電流測定部
35 スイッチ制御部
40 電流測定部
50 コンデンサ
60 コンデンサ
70 抵抗
90 試験制御部
100 コンデンサ
102 スイッチ
104 抵抗
110 電流供給部
112 差分増幅器
113 抵抗
114 抵抗
116 ボルテージフォロア
118 抵抗
119 コンデンサ
120 電流測定部
122 差分演算器
124 測定部
126 電圧源
128 ローパスフィルタ
130 差分増幅器
132 測定部
140 補正部
141 スイッチ
142 抵抗
143 コンデンサ
144 スイッチ
145 加算器
146 コンデンサ
147 抵抗
148 スイッチ
150 電源
152 スイッチ
155 電流測定部
160 電圧調整部
162 電圧源
163 スイッチ
164 抵抗
165 コンデンサ
166 スイッチ
170 スイッチ
172 ボルテージフォロア
174 スイッチ
180 測定無効検出部
182 電圧源
184 差分演算器
186 無効記録部
200 トランジスタ
210 トランジスタ
502 パターン発生部
504 信号入力部
506 電源部
508 判定部
Claims (13)
- 電子デバイスが入力端子から受け取る電流を測定する電流測定装置であって、
電流測定中に前記電子デバイスに供給する電圧の基準となる基準供給電圧を蓄積する第1コンデンサと、
電流測定前に電源を前記第1コンデンサに接続して前記基準供給電圧を蓄積させ、電流測定中に前記電源を前記第1コンデンサから切断する第1スイッチと、
電流測定中に、前記第1コンデンサに蓄積された前記基準供給電圧および前記入力端子の端子電圧に基づく電流を前記電子デバイスに供給する電流供給部と、
前記電子デバイスに供給した供給電流を測定する第1電流測定部とを備え、
前記電流供給部は、
前記基準供給電圧から前記端子電圧を引いた差を増幅して、前記基準供給電圧に加えた電圧を出力する第1差分増幅器と、
前記第1差分増幅器の出力と前記入力端子との間に接続され、前記第1差分増幅器の出力電圧および前記端子電圧の差に応じた前記供給電流を前記入力端子に供給する抵抗とを有し、
前記第1電流測定部は、
前記抵抗における前記第1差分増幅器側の出力電圧から前記抵抗における前記入力端子側の前記端子電圧を減じた差分電圧を出力する差分演算器と、
前記差分電圧に基づいて前記供給電流を測定する第1測定部と、
予め設定された測定用基準電圧を出力する電圧源と、
前記差分電圧および前記測定用基準電圧の差を増幅した差分増幅電圧を出力する第2差分増幅器と、
前記差分増幅電圧に基づいて前記供給電流を測定する第2測定部と、
を有する、
電流測定装置。 - 前記第1電流測定部は、前記電圧源および前記第2差分増幅器の間に接続されたローパスフィルタを更に有する請求項1に記載の電流測定装置。
- 前記差分電圧に応じた補正電圧を前記基準供給電圧に加えることにより前記基準供給電圧を補正する補正部を更に備え、
前記電流供給部は、電流測定中に、前記補正部により補正された前記基準供給電圧および前記端子電圧に基づく電流を前記電子デバイスに供給する、
請求項1に記載の電流測定装置。 - 前記補正部は、
前記差分電圧に応じた前記補正電圧を前記基準供給電圧に加える加算器と、
前記加算器の出力電圧を蓄積して前記第1差分増幅器に供給する第2コンデンサと
を有する請求項3に記載の電流測定装置。 - 前記補正部は、前記加算器の出力と前記第2コンデンサとの間に設けられ、電流測定開始から予め定められた期間の間前記加算器の出力に前記第2コンデンサを接続して前記加算器の出力電圧を蓄積させ、前記予め定められた期間の経過後に前記加算器の出力および前記第2コンデンサの間を切断する第2スイッチを更に有する請求項4に記載の電流測定装置。
- 電流測定前に前記基準供給電圧を前記第1コンデンサおよび前記入力端子に供給する電源と、
電流測定中に前記電源を前記第1コンデンサおよび前記入力端子から切断する第3スイッチと、
電流測定中に前記第1コンデンサに蓄積された前記基準供給電圧に予め定められたオフセット電圧を加えて前記電流供給部に供給することにより、電流測定中における前記端子電圧を電流測定前の前記端子電圧と比較し高くする電圧調整部と、
を更に備える請求項1から5のいずれか一項に記載の電流測定装置。 - 前記第3スイッチは、
前記電源と前記入力端子の間の配線、および、前記第1スイッチにおける前記第1コンデンサが接続されていない端部および前記電源の間の配線の接点と、前記電源の出力端子との間に設けられ、
前記電源の出力端子と前記接点との間に、オフとなった場合に、前記電源の出力端子側から前記接点側への電流を遮断する第1トランジスタと、前記接点側から前記電源の出力端子側への電流を遮断する第2トランジスタとを直列に有する、
請求項6に記載の電流測定装置。 - 前記第3スイッチの前記入力端子側の端子と、前記第1差分増幅器との間に設けられた第4スイッチと、
前記抵抗の前記入力端子側の端部と、前記入力端子との間に設けられた第5スイッチと、
前記電源が前記入力端子に対して供給する電流を測定する第2電流測定部と、
前記電子デバイスが動作中に受け取る動作電流を測定する動作電流試験および前記電子デバイスが静止中に受け取る静止電流を測定する静止電流試験を制御する試験制御部とを更に備え、
前記試験制御部は、
前記動作電流試験において、前記第3スイッチをオンとし、前記第4スイッチおよび前記第5スイッチをオフとし、前記電源が前記入力端子に対して供給する電流を前記第2電流測定部により前記動作電流として測定させ、
前記静止電流試験において、前記第3スイッチをオフとし、前記第4スイッチおよび前記第5スイッチをオンとし、前記第1コンデンサに蓄積された前記基準供給電圧および前記端子電圧に基づいて前記電子デバイスに供給された電流を前記第1電流測定部により前記静止電流として測定させる、
請求項6又は7に記載の電流測定装置。 - 電流測定中に、前記第1電流測定部が測定した前記供給電流が、予め設定されたしきい値電流より大きくなった場合に、当該電流測定が無効であることを検出する測定無効検出部を更に備える請求項6から8のいずれか一項に記載の電流測定装置。
- 前記測定無効検出部は、前記電流測定が無効であることを検出した場合に、前記第3スイッチをオンとして前記電源から前記電子デバイスに電流を供給させる
請求項9に記載の電流測定装置。 - 電子デバイスを試験する試験装置であって、
電流測定中に前記電子デバイスに供給する電圧の基準となる基準供給電圧を蓄積する第1コンデンサと、
電流測定前に電源を前記第1コンデンサに接続して前記基準供給電圧を蓄積させ、電流測定中に前記電源を前記第1コンデンサから切断する第1スイッチと、
電流測定中に、前記第1コンデンサに蓄積された前記基準供給電圧および前記電子デバイスの入力端子の端子電圧に基づく電流を前記電子デバイスに供給する電流供給部と、
前記電子デバイスに供給した供給電流を測定する第1電流測定部とを備え、
前記電流供給部は、
前記基準供給電圧から前記端子電圧を引いた差を増幅して、前記基準供給電圧に加えた電圧を出力する第1差分増幅器と、
前記第1差分増幅器の出力と前記入力端子との間に接続され、前記第1差分増幅器の出力電圧および前記端子電圧の差に応じた前記供給電流を前記入力端子に供給する抵抗とを有し、
前記第1電流測定部は、
前記抵抗における第1差分増幅器側の出力電圧から前記抵抗における入力端子側の端子電圧を減じた差分電圧を出力する差分演算器と、
前記差分電圧に基づいて前記供給電流を測定する第1測定部と、
予め設定された測定用基準電圧を出力する電圧源と、
前記差分電圧および前記測定用基準電圧の差を増幅した差分増幅電圧を出力する第2差分増幅器と、
前記差分増幅電圧に基づいて前記供給電流を測定する第2測定部とを有する、
試験装置。 - 電子デバイスが入力端子から受け取る電流を測定する電流測定方法であって、
電流測定中に前記電子デバイスに供給する電圧の基準となる基準供給電圧を第1コンデンサに蓄積する基準供給電圧蓄積段階と、
電流測定前に電源を前記第1コンデンサに接続して前記基準供給電圧を蓄積させ、電流測定中に前記電源を前記第1コンデンサから切断するように第1スイッチを制御する段階と、
電流測定中に、前記第1コンデンサに蓄積された前記基準供給電圧および前記入力端子の端子電圧に基づく電流を前記電子デバイスに供給する電流供給段階と、
前記電子デバイスに供給した供給電流を測定する第1電流測定段階とを備え、
前記電流供給段階は、
前記基準供給電圧から前記端子電圧を引いた差を増幅して、前記基準供給電圧に加えた電圧を出力する第1差分増幅段階と、
前記第1差分増幅段階で得られた出力を抵抗を介して前記入力端子に供給し、前記第1差分増幅段階の出力電圧および前記端子電圧の差に応じた前記供給電流を前記入力端子に供給する段階とを有し、
前記第1電流測定段階は、
前記抵抗の両端に発生する電圧を減じた差分電圧を出力する段階と、
前記差分電圧に基づいて前記供給電流を測定する段階と、
予め設定された測定用基準電圧を出力する段階と、
前記差分電圧および前記測定用基準電圧の差を増幅した差分増幅電圧を出力する第2差分増幅段階と、
前記差分増幅電圧に基づいて前記供給電流を測定する段階とを有する、
電流測定方法。 - 電子デバイスを試験する試験方法であって、
電流測定中に前記電子デバイスに供給する電圧の基準となる基準供給電圧を第1コンデンサに蓄積する基準供給電圧蓄積段階と、
電流測定前に電源を前記第1コンデンサに接続して前記基準供給電圧を蓄積させ、電流測定中に前記電源を前記第1コンデンサから切断するように第1スイッチを制御する第1スイッチ制御段階と、
電流測定中に、前記第1コンデンサに蓄積された前記基準供給電圧および前記電子デバイスの入力端子の端子電圧に基づく電流を前記電子デバイスに供給する電流供給段階と、
前記電子デバイスに供給した供給電流を測定する第1電流測定段階とを備え、
前記電流供給段階は、
前記基準供給電圧から前記端子電圧を引いた差を増幅して、前記基準供給電圧に加えた電圧を出力する第1差分増幅段階と、
前記第1差分増幅段階で得られた出力を抵抗を介して前記入力端子に供給し、前記第1差分増幅段階の出力電圧および前記端子電圧の差に応じた前記供給電流を前記入力端子に供給する段階とを有し、
前記第1電流測定段階は、
前記抵抗の両端に発生する電圧を減じた差分電圧を出力する段階と、
前記差分電圧に基づいて前記供給電流を測定する段階と、
予め設定された測定用基準電圧を出力する段階と、
前記差分電圧および前記測定用基準電圧の差を増幅した差分増幅電圧を出力する第2差分増幅段階と、
前記差分増幅電圧に基づいて前記供給電流を測定する段階とを有する、
試験方法。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005050071A JP4627446B2 (ja) | 2005-02-25 | 2005-02-25 | 電流測定装置、試験装置、電流測定方法、および試験方法 |
PCT/JP2006/303198 WO2006090752A1 (ja) | 2005-02-25 | 2006-02-22 | 電流測定装置、試験装置、電流測定方法、および試験方法 |
CN2006800060665A CN101128742B (zh) | 2005-02-25 | 2006-02-22 | 电流测量装置、测试装置、电流测量方法、及测试方法 |
EP06714338A EP1865333A1 (en) | 2005-02-25 | 2006-02-22 | Current measuring device, testing device, current measuring method and testing method |
KR1020077021248A KR101207604B1 (ko) | 2005-02-25 | 2006-02-22 | 전류 측정 장치, 시험 장치, 전류 측정 방법, 및 시험 방법 |
TW095106268A TWI380029B (en) | 2005-02-25 | 2006-02-24 | Current-measuring device, testing device, current-measuring method and testing method |
US11/755,746 US7576555B2 (en) | 2005-02-25 | 2008-07-30 | Current measuring apparatus, test apparatus, current measuring method and test method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005050071A JP4627446B2 (ja) | 2005-02-25 | 2005-02-25 | 電流測定装置、試験装置、電流測定方法、および試験方法 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010083046A Division JP5038454B2 (ja) | 2010-03-31 | 2010-03-31 | 電流測定装置、試験装置、電流測定方法、および試験方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006234599A JP2006234599A (ja) | 2006-09-07 |
JP4627446B2 true JP4627446B2 (ja) | 2011-02-09 |
Family
ID=36927390
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005050071A Expired - Fee Related JP4627446B2 (ja) | 2005-02-25 | 2005-02-25 | 電流測定装置、試験装置、電流測定方法、および試験方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7576555B2 (ja) |
EP (1) | EP1865333A1 (ja) |
JP (1) | JP4627446B2 (ja) |
KR (1) | KR101207604B1 (ja) |
CN (1) | CN101128742B (ja) |
TW (1) | TWI380029B (ja) |
WO (1) | WO2006090752A1 (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008287549A (ja) * | 2007-05-18 | 2008-11-27 | Advantest Corp | 電圧生成装置およびそれを用いた直流試験装置 |
US8893015B2 (en) | 2008-07-03 | 2014-11-18 | Ebay Inc. | Multi-directional and variable speed navigation of collage multi-media |
US9639505B2 (en) | 2008-07-03 | 2017-05-02 | Ebay, Inc. | System and methods for multimedia “hot spot” enablement |
US10282391B2 (en) | 2008-07-03 | 2019-05-07 | Ebay Inc. | Position editing tool of collage multi-media |
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KR101628401B1 (ko) * | 2010-12-03 | 2016-06-22 | 현대자동차주식회사 | 하이브리드 자동차 및 전기자동차의 인버터 고장 검출 방법 |
CN102012453A (zh) * | 2010-12-27 | 2011-04-13 | 东莞易步机器人有限公司 | 一种电流检测电路 |
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-
2005
- 2005-02-25 JP JP2005050071A patent/JP4627446B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-02-22 CN CN2006800060665A patent/CN101128742B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2006-02-22 WO PCT/JP2006/303198 patent/WO2006090752A1/ja active Application Filing
- 2006-02-22 KR KR1020077021248A patent/KR101207604B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2006-02-22 EP EP06714338A patent/EP1865333A1/en not_active Withdrawn
- 2006-02-24 TW TW095106268A patent/TWI380029B/zh not_active IP Right Cessation
-
2008
- 2008-07-30 US US11/755,746 patent/US7576555B2/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004245651A (ja) * | 2003-02-12 | 2004-09-02 | Hitachi Ltd | 電圧電流特性測定回路および半導体試験装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR101207604B1 (ko) | 2012-12-03 |
CN101128742A (zh) | 2008-02-20 |
TWI380029B (en) | 2012-12-21 |
TW200632329A (en) | 2006-09-16 |
KR20070112195A (ko) | 2007-11-22 |
US7576555B2 (en) | 2009-08-18 |
US20090021239A1 (en) | 2009-01-22 |
CN101128742B (zh) | 2010-05-19 |
EP1865333A1 (en) | 2007-12-12 |
JP2006234599A (ja) | 2006-09-07 |
WO2006090752A1 (ja) | 2006-08-31 |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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