JP4571517B2 - プローブ組立体 - Google Patents
プローブ組立体 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4571517B2 JP4571517B2 JP2005030700A JP2005030700A JP4571517B2 JP 4571517 B2 JP4571517 B2 JP 4571517B2 JP 2005030700 A JP2005030700 A JP 2005030700A JP 2005030700 A JP2005030700 A JP 2005030700A JP 4571517 B2 JP4571517 B2 JP 4571517B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- region
- probe
- probe assembly
- slit
- needle tip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
ており、突出部88は長円形の先端部に形成されている。突出部88の下端面90は、先端側の箇所ほど下方となるように水平面に対し傾斜されて、先端を被検査体の電極への接触部とされている。
12 支持体
14 プローブ
16 ガイドバー
18 スリットバー
20 ガイド部材
22 サイドカバー
30 中央領域
32,34 針先領域
40 第1の領域
42 第2の領域
44 第3の領域
46,48 凹欠部
50,80,88 突出部
52 凹欠部(第2の凹欠部)
54,82,86,90 下端面
60 スリット
62,92 凹所
64,94,96,98,100,102 弾性体
66 貫通穴
84 凸部
Claims (14)
- 支持体と、帯状の取り付け領域と該取り付け領域の先端から前方に延びる前記取り付け領域の幅寸法より小さい幅寸法を有する帯状の針先領域とを備える複数のプローブであって、前記取り付け領域の幅方向が上下方向となる状態に前記支持体の下側に前記取り付け領域を対向させて並列的に配置された複数のプローブと、前記取り付け領域をこれの厚さ方向に貫通して延びかつ前記支持体に支持された細長いガイドバーと、前記支持体の先端側に配置されて前記ガイドバーの長手方向へ延びるスリットバーであって、これの長手方向に間隔をおきかつ下方に開放する複数のスリットを有するスリットバーと、前記取り付け領域と前記支持体との間に配置されて前記スリットバーの長手方向に延びる少なくとも1つの弾性体とを含み、前記プローブは、前記針先領域を前記スリットに受け入れられている、プローブ組立体。
- 少なくとも2つの前記弾性体を含み、1つの弾性体は前記スリットバーと前記針先領域との間に配置されており、他の1つの弾性体は前記取り付け領域と前記支持体との間に配置されている、請求項1に記載のプローブ組立体。
- 前記スリットバーは、さらに、これの長手方向に延びて下方に開放する凹所を有し、前記一方の弾性体は前記凹所に配置されている、請求項2に記載のプローブ組立体。
- 前記プローブの長手方向に間隔をおいた2つの前記弾性体を含み、両弾性体は前記取り付け領域と前記支持体との間に配置されている、請求項1に記載のプローブ組立体。
- 前記針先領域は、前記取り付け領域の先端部から延びる第1の領域と、該第1の領域の先端部から延びる第2の領域であって、前記取り付け領域の下端縁よりも下方側に突出する突出部を備える第2の領域とを含む、請求項1に記載のプローブ組立体。
- 前記第1の領域は上方に開放するU字状の凹欠部を備える、請求項5に記載のプローブ組立体。
- 前記第1の領域の前記凹欠部が形成された箇所の幅寸法は、他の箇所の幅寸法より小さい、請求項6に記載のプローブ組立体。
- 前記突出部の下面は逆台形の下向き面とされている、請求項5に記載のプローブ組立体。
- 前記突出部は、下方側の箇所ほど先端側となるように傾けられており、また先端側ほど上方となる下端面を備える、請求項5に記載のプローブ組立体。
- 前記突出部は、さらに、前記突出部から前記取り付け領域の長手方向に間隔をおいた凸部であって、下方側の箇所ほど先端側となるように傾けられた凸部を含み、該凸部は先端側ほど上方となる下端面を備える、請求項9に記載のプローブ組立体。
- 前記プローブは、さらに、前記第2の領域の先端部から延びる第3の領域を備え、該第3の領域は、上方側の箇所ほど前記第2の領域側となるように傾斜した先端面を有し、前記プローブは前記先端面を前記スリットから前方に突出させている、請求項5に記載のプローブ組立体。
- 前記第2の領域は長円形の形状を有しており、前記突出部は前記長円形の先端部に形成されている、請求項5に記載のプローブ組立体。
- 前記第2の領域は、上方側の箇所ほど前記第1の領域側となるように傾斜した先端面を有し、前記プローブは前記先端面を前記スリットから前方に突出させている、請求項12に記載のプローブ組立体。
- 前記プローブは、さらに、前記針先領域の先端から下方に突出する針先を備える、請求項5に記載のプローブ組立体。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005030700A JP4571517B2 (ja) | 2004-10-19 | 2005-02-07 | プローブ組立体 |
TW094112699A TWI277740B (en) | 2004-10-19 | 2005-04-21 | Probe assembly |
KR1020050041136A KR100661208B1 (ko) | 2004-10-19 | 2005-05-17 | 프로브 조립체 |
CNB2005100731313A CN100439925C (zh) | 2004-10-19 | 2005-05-31 | 探针组装体 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004303770 | 2004-10-19 | ||
JP2005030700A JP4571517B2 (ja) | 2004-10-19 | 2005-02-07 | プローブ組立体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006145514A JP2006145514A (ja) | 2006-06-08 |
JP4571517B2 true JP4571517B2 (ja) | 2010-10-27 |
Family
ID=36625366
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005030700A Active JP4571517B2 (ja) | 2004-10-19 | 2005-02-07 | プローブ組立体 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4571517B2 (ja) |
KR (1) | KR100661208B1 (ja) |
CN (1) | CN100439925C (ja) |
TW (1) | TWI277740B (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008256410A (ja) | 2007-04-02 | 2008-10-23 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ組立体 |
JP5459646B2 (ja) * | 2007-05-08 | 2014-04-02 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブユニット及び検査装置 |
JP4909803B2 (ja) * | 2007-05-16 | 2012-04-04 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ組立体及び検査装置 |
KR100896916B1 (ko) * | 2007-08-17 | 2009-05-12 | 우리마이크론(주) | 프로브카드용 니들 밴딩장치 |
KR101158763B1 (ko) * | 2010-10-19 | 2012-06-22 | 주식회사 코디에스 | 블레이드타입 프로브블록 |
US8963571B2 (en) | 2011-08-24 | 2015-02-24 | Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Inspection device for glass substrate |
CN102289090B (zh) * | 2011-08-24 | 2013-07-24 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 玻璃基板的检测装置 |
JP5328958B2 (ja) * | 2012-05-07 | 2013-10-30 | 株式会社日本マイクロニクス | 通電試験用プローブ組立体 |
KR101558256B1 (ko) * | 2015-05-18 | 2015-10-12 | 주식회사 기가레인 | 고정 가능한 프로브 핀 및 프로브 핀 고정 어셈블리 |
KR101907447B1 (ko) | 2017-01-13 | 2018-10-12 | 주식회사 이엘피 | 표시 패널 검사 장치 |
KR20230122727A (ko) | 2022-02-15 | 2023-08-22 | 주식회사 산흥이지 | 회전식 자가발전기능을 갖는 차량 주차 스톱퍼 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000214184A (ja) * | 1999-01-26 | 2000-08-04 | Micronics Japan Co Ltd | プロ―ブ装置 |
JP2002062314A (ja) * | 2000-08-18 | 2002-02-28 | Mitsubishi Materials Corp | コンタクトプローブ |
JP2002228685A (ja) * | 2001-01-30 | 2002-08-14 | Mitsubishi Materials Corp | プローブ装置 |
JP2003004765A (ja) * | 2001-06-22 | 2003-01-08 | Soushiyou Tec:Kk | プローブユニットの加圧接触構造 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5068601A (en) * | 1991-02-11 | 1991-11-26 | Credence Systems Corporation | Dual function cam-ring system for DUT board parallel electrical inter-connection and prober/handler docking |
JP2668653B2 (ja) * | 1994-05-17 | 1997-10-27 | 日東精工株式会社 | 導通接触端子 |
JP3750831B2 (ja) * | 1996-10-28 | 2006-03-01 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ組立体 |
JPH11344510A (ja) * | 1998-06-02 | 1999-12-14 | Advantest Corp | プローブカード、プローブ及び半導体試験装置 |
DE19951501A1 (de) * | 1999-10-26 | 2001-05-23 | Atg Test Systems Gmbh | Prüfstift für eine Vorrichtung zum Testen von Leiterplatten |
-
2005
- 2005-02-07 JP JP2005030700A patent/JP4571517B2/ja active Active
- 2005-04-21 TW TW094112699A patent/TWI277740B/zh active
- 2005-05-17 KR KR1020050041136A patent/KR100661208B1/ko active IP Right Grant
- 2005-05-31 CN CNB2005100731313A patent/CN100439925C/zh active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000214184A (ja) * | 1999-01-26 | 2000-08-04 | Micronics Japan Co Ltd | プロ―ブ装置 |
JP2002062314A (ja) * | 2000-08-18 | 2002-02-28 | Mitsubishi Materials Corp | コンタクトプローブ |
JP2002228685A (ja) * | 2001-01-30 | 2002-08-14 | Mitsubishi Materials Corp | プローブ装置 |
JP2003004765A (ja) * | 2001-06-22 | 2003-01-08 | Soushiyou Tec:Kk | プローブユニットの加圧接触構造 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1763550A (zh) | 2006-04-26 |
TW200613741A (en) | 2006-05-01 |
KR20060046076A (ko) | 2006-05-17 |
JP2006145514A (ja) | 2006-06-08 |
KR100661208B1 (ko) | 2006-12-22 |
CN100439925C (zh) | 2008-12-03 |
TWI277740B (en) | 2007-04-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4571517B2 (ja) | プローブ組立体 | |
JP3750831B2 (ja) | プローブ組立体 | |
US20100022104A1 (en) | Electrical connecting apparatus | |
JP2005203606A (ja) | 電気的接続装置 | |
KR20060124562A (ko) | 통전시험용 프로브 | |
KR100966499B1 (ko) | 프로브 조립체 | |
KR20000052281A (ko) | 프로브 장치 | |
JP4313565B2 (ja) | プローブ装置 | |
KR20090041315A (ko) | 접촉자 및 이를 이용한 전기적 접속 장치 | |
JP4916763B2 (ja) | プローブ組立体 | |
JP2004156993A (ja) | プローブ及びこれを用いた電気的接続装置 | |
JP2005055343A (ja) | フラットパネルディスプレイ検査用プローブ装置 | |
JP5396104B2 (ja) | プローブ組立体 | |
KR100692179B1 (ko) | 평판디스플레이 검사를 위한 프로브 조립체 | |
JP2011133462A (ja) | プローブ装置 | |
JP4369201B2 (ja) | プローブ組立体 | |
JP4235280B2 (ja) | プローブ組立体 | |
JP2010245009A (ja) | 接続装置 | |
JP4916766B2 (ja) | プローブおよびプローブ組立体 | |
JP2006098278A (ja) | プローブ及びプローブ組立体 | |
JP2010160083A (ja) | プローブ組立体 | |
JP2005025969A (ja) | 電気部品用ソケット | |
CN100439924C (zh) | 用于检测平面显示屏的探测装置的探针组件 | |
JP2011112491A (ja) | プローブ装置 | |
JP5491790B2 (ja) | プローブ装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080107 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100513 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100525 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100702 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100727 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100812 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130820 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4571517 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |