JP3818299B2 - 電子回路検査装置 - Google Patents
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Description
また、被検査回路の異常によって一般的に発生する変化を指標として異常を判定しているので、汎用性のある電子回路検査装置が提供できる。
図1は本発明の実施の形態1における自動電子回路検査装置の計測回路図、図2はパルス信号源15から出力されるステップ信号波形を示す図、図3はパルス信号源15から出力される矩形波信号波形を示す図、図4および図5はトランス3の2次側3bで測定される出力過渡応答波形を示す図である。図1に示す被検査回路は、具体的にはチョークコイル電流制御型一石自励インバータ回路のうち、本発明の検査方法に関連する電子回路素子を抜粋したものである。パルス信号源15は、検査を行うために被検査回路にパルス信号を供給するためのもので、被検査回路の過渡応答は、トランス2次側3bの両端から電圧波形変化として測定するものである。
本実施の形態は、マイクロプロセッサ12による過渡応答波形の演算処理と判定の具体的方法を説明するものである。実施の形態1にあげたダイオードの接続不良の例では、正常波形と異常波形の違いが主として振動波形の継続時間の違いとして現れる。このような場合には、過渡応答波形の実効値あるいは整流値を積分し、その積分値の大小によって振動波形の継続時間の違いを判定する方法が適している。また、実効値回路、整流回路、積分回路等のアナログ演算処理回路をアナログデジタル変換器11の前に設けて、マイクロプロセッサ12による演算の替りにアナログ信号処理として行うようにすれば、マイクロプロセッサ12の演算処理を軽減することができ、判定処理時間を短縮することができる。また、マイクロプロセッサによる演算処理に比べて、より高速な応答波形の演算処理が可能となる。
Claims (1)
- 被検査回路にパルス信号を印加するパルス信号源と、前記被検査回路の前記パルス信号に対する過渡応答信号をアナログデジタル変換するアナログデジタル変換器と、前記デジタル変換された過渡応答信号を演算処理し、過渡応答信号波形の包絡線が、正常回路の応答波形にもとづいて予め設定した範囲内にあるかどうかにより、前記被検査回路の異常を判定するマイクロプロセッサと、前記被検査回路の検査結果を表示する表示装置とを備えた電子回路検査装置。
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