JP4596834B2 - 電子回路検査装置および電子回路検査方法 - Google Patents
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Description
2,2A 測定部
3,3A 判別部
21,22 電子回路
f3,f4,f6,f7 所定の周波数
Z インピーダンスの絶対値
θ 位相差
Claims (8)
- 検査対象の電子回路に所定の周波数の検査用信号を供給しつつ当該電子回路を流れる交流電流と当該検査用信号の交流電圧との間の位相差を測定する測定部と、当該電子回路の良否を判別する判別部とを備え、
前記測定部は、前記所定の周波数の検査用信号として、良品の前記電子回路が有する共振周波数よりも低い周波数の検査用信号および当該共振周波数よりも高い周波数の検査用信号を供給し、
前記判別部は、前記各検査用信号の供給時に測定された前記各位相差の極性の違いの有無に基づいて前記電子回路の良否を判別する電子回路検査装置。 - 検査対象の電子回路に所定の周波数の検査用信号を供給しつつ当該電子回路を流れる交流電流と当該検査用信号の交流電圧との間の位相差を測定する測定部と、当該電子回路の良否を判別する判別部とを備え、
前記測定部は、前記所定の周波数の検査用信号として、良品の前記電子回路が有する共振周波数よりも低い周波数の検査用信号および当該共振周波数よりも高い周波数の検査用信号を供給し、
前記判別部は、前記各検査用信号の供給時に測定された前記各位相差の極性が互いに異なるときに前記電子回路が良品であると判別する電子回路検査装置。 - 検査対象の電子回路に所定の周波数の検査用信号を供給しつつ当該電子回路を流れる交流電流および当該検査用信号の交流電圧間の位相差を測定する測定部と、当該電子回路の良否を判別する判別部とを備え、
前記測定部は、前記所定の周波数の検査用信号として、良品の前記電子回路が有する共振周波数よりも低い周波数の検査用信号および当該共振周波数よりも高い周波数の検査用信号を供給し、
前記判別部は、前記各検査用信号の供給時に測定された前記各位相差の極性が互いに異なり、かつ当該各位相差のうちの一方の極性が予め規定された極性と一致するときに前記電子回路が良品であると判別する電子回路検査装置。 - 検査対象の電子回路に対して、この順に周波数が高くなると共に、良品の前記電子回路が有する共振周波数がいずれかの周波数間に位置する第1、第2および第3の検査用信号のいずれか1つを供給しつつ当該電子回路を流れる交流電流および当該検査用信号の交流電圧間の位相差および当該電子回路のインピーダンスの絶対値を測定する測定部と、当該電子回路の良否を判別する判別部とを備え、
前記測定部は、前記第1および第2の検査用信号の各周波数間に前記共振周波数が位置するときには、前記第1および第2の検査用信号の供給時において前記各位相差を測定すると共に、前記第2および第3の検査用信号の供給時において前記各インピーダンスの絶対値を測定し、前記第2および第3の検査用信号の各周波数間に前記共振周波数が位置するときには、前記第2および第3の検査用信号の供給時において前記各位相差を測定すると共に、前記第1および第2の検査用信号の供給時において前記各インピーダンスの絶対値を測定し、
前記判別部は、前記各位相差の極性が互いに異なり、かつ前記各インピーダンスの絶対値の差分の極性が予め規定された極性と一致するときに前記電子回路が良品であると判別する電子回路検査装置。 - 検査対象の電子回路に対して、良品の前記電子回路が有する共振周波数よりも低い周波数の検査用信号および当該共振周波数よりも高い周波数の検査用信号を供給し、前記各検査用信号の供給時に測定された前記電子回路を流れる交流電流と当該検査用信号の交流電圧との間の各位相差の極性の違いの有無に基づいて前記電子回路の良否を判別する電子回路検査方法。
- 検査対象の電子回路に対して、良品の前記電子回路が有する共振周波数よりも低い周波数の検査用信号および当該共振周波数よりも高い周波数の検査用信号を供給し、前記各検査用信号の供給時に測定された前記電子回路を流れる交流電流と当該検査用信号の交流電圧との間の各位相差の極性が互いに異なるときに前記電子回路が良品であると判別する電子回路検査方法。
- 検査対象の電子回路に対して、良品の前記電子回路が有する共振周波数よりも低い周波数の検査用信号および当該共振周波数よりも高い周波数の検査用信号を供給し、前記各検査用信号の供給時に測定された前記電子回路を流れる交流電流と当該検査用信号の交流電圧との間の各位相差の極性が互いに異なり、かつ当該各位相差のうちの一方の極性が予め規定された極性と一致するときに前記電子回路が良品であると判別する電子回路検査方法。
- 検査対象の電子回路に対して、この順に周波数が高くなると共に、良品の前記電子回路が有する共振周波数がいずれかの周波数間に位置する第1、第2および第3の検査用信号のいずれか1つを供給し、
前記第1および第2の検査用信号の各周波数間に前記共振周波数が位置するときには、前記第1および第2の検査用信号の供給時において前記電子回路を流れる交流電流および当該供給した検査用信号の交流電圧との間の各位相差を測定すると共に、前記第2および第3の検査用信号の供給時において前記電子回路についての各インピーダンスの絶対値を測定し、前記第2および第3の検査用信号の各周波数間に前記共振周波数が位置するときには、前記第2および第3の検査用信号の供給時において前記各位相差を測定すると共に、前記第1および第2の検査用信号の供給時において前記各インピーダンスの絶対値を測定し、
前記各位相差の極性が互いに異なり、かつ前記各インピーダンスの絶対値の差分の極性が予め規定された極性と一致するときに前記電子回路が良品であると判別する電子回路検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2004200028A JP4596834B2 (ja) | 2004-07-07 | 2004-07-07 | 電子回路検査装置および電子回路検査方法 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2004200028A JP4596834B2 (ja) | 2004-07-07 | 2004-07-07 | 電子回路検査装置および電子回路検査方法 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006023138A JP2006023138A (ja) | 2006-01-26 |
JP4596834B2 true JP4596834B2 (ja) | 2010-12-15 |
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ID=35796514
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country | Link |
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JP (1) | JP4596834B2 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012189354A (ja) * | 2011-03-09 | 2012-10-04 | Hioki Ee Corp | コンデンサの実装状態判別装置およびコンデンサの実装状態判別方法 |
JP2013117482A (ja) * | 2011-12-05 | 2013-06-13 | Hioki Ee Corp | 電子回路検査装置、電子回路検査方法、回路基板検査装置および回路基板検査方法 |
JP5959204B2 (ja) * | 2012-01-12 | 2016-08-02 | 日置電機株式会社 | 実装状態判別装置および実装状態判別方法 |
JP2013161849A (ja) * | 2012-02-02 | 2013-08-19 | Hioki Ee Corp | 実装状態判別装置および実装状態判別方法 |
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-
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JP2000242746A (ja) * | 1999-02-23 | 2000-09-08 | Hitachi Ltd | 非接触式icカードの検査装置およびその方法 |
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JP2006023138A (ja) | 2006-01-26 |
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